JPS6358028B2 - - Google Patents
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- JPS6358028B2 JPS6358028B2 JP56040054A JP4005481A JPS6358028B2 JP S6358028 B2 JPS6358028 B2 JP S6358028B2 JP 56040054 A JP56040054 A JP 56040054A JP 4005481 A JP4005481 A JP 4005481A JP S6358028 B2 JPS6358028 B2 JP S6358028B2
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- JP
- Japan
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- transistor
- resistor
- switch means
- power generation
- emitter
- Prior art date
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 17
- 238000010248 power generation Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 12
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Charge By Means Of Generators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、車輛用充電装置に係り異常時におけ
る誤動作の防止を実現するものである。
る誤動作の防止を実現するものである。
第1図に示す充電装置の回路構成はこれまで本
発明者等が提案してきたものである。
発明者等が提案してきたものである。
第1図において、電圧調整器2内の各回路の動
作に必要な電源はバツテリ3、キースイツチ4を
介して端子204より電源線27を通して供給さ
れる。この端子204がはずれた場合、電源はバ
ツテリ3→キースイツチ4→チヤージランプ5→
端子205→トランジスタ250内のダイオード
255→電源線27の経路で供給されることにな
る。この時の電源線27の電圧は、電圧調整器2
内の各回路が消費する電流が変化することによ
り、チヤージランプ5を流れる電流が変化し、チ
ヤージランプ5の両端に生ずる電圧降下も変化す
るため、非常に不安定になる。例えば、トランジ
スタ24が導通した場合と非導通である場合とで
は、電源線27の電圧が大きく異なることは明ら
かである。この様に電源線27の電圧が不安定に
なると、電圧調整器2内の各回路は誤動作を生じ
やすくなり、交流発電機1の発電制御が不能にな
る場合もあり好ましくない。
作に必要な電源はバツテリ3、キースイツチ4を
介して端子204より電源線27を通して供給さ
れる。この端子204がはずれた場合、電源はバ
ツテリ3→キースイツチ4→チヤージランプ5→
端子205→トランジスタ250内のダイオード
255→電源線27の経路で供給されることにな
る。この時の電源線27の電圧は、電圧調整器2
内の各回路が消費する電流が変化することによ
り、チヤージランプ5を流れる電流が変化し、チ
ヤージランプ5の両端に生ずる電圧降下も変化す
るため、非常に不安定になる。例えば、トランジ
スタ24が導通した場合と非導通である場合とで
は、電源線27の電圧が大きく異なることは明ら
かである。この様に電源線27の電圧が不安定に
なると、電圧調整器2内の各回路は誤動作を生じ
やすくなり、交流発電機1の発電制御が不能にな
る場合もあり好ましくない。
前記の様な不具合を解消するためには、第1図
の構成におけるトランジスタ250のかわりに第
2,3,4図に示した各トランジスタ2501,
2502及び2503を使用することも考えられ
る。しかし、これらは下記に述べる様にそれぞれ
欠点がある。まず、第2図のトランジスタ250
1を使用した場合はトランジスタ250と比べ電
流増幅率が著しく小さいので発電検出回路23内
にトランジスタ250を使用した場合に比べて一
層増幅率の大きい電流増幅回路を必要とする。第
3図のトランジスタ2502を使用した場合は電
流増幅率の点ではトランジスタ250より優れて
いるが、微少な漏洩電流によつても導通してしま
うという様に誤動作を生じやすい。この漏洩電流
による誤動作はエミツタ端子256とベース端子
258の間に外付け抵抗を接続することによつて
ある程度は防止することができる。しかし、トラ
ンジスタ2502が非導通のときトランジスタ2
502内のトランジスタ252のベース端子には
安定した電位が与えられないため、コレクタ・エ
ミツタ間の逆方向降伏電圧がトランジスタ250
と比べ低下する。第4図のトランジスタ2503
を使用した場合は、電流増幅率及び漏洩電流によ
る誤動作、降伏電圧のいずれもトランジスタ25
0と同率であり、しかもトランジスタ250の場
合と異なりダイオード255が無いので前記の様
な不具合も生じない。しかし、トランジスタ25
03の様な構成を1つのシリコンチツプ内に作り
込むためには、トランジスタ250の場合と比べ
て複雑な工程を必要とするか、もしくはトランジ
スタ250と同様の工程で作り込む場合は、トラ
ンジスタ2503内の抵抗254をトランジスタ
250内の抵抗254と同じ抵抗値とするために
一層大きなチツプ面積を必要とする。
の構成におけるトランジスタ250のかわりに第
2,3,4図に示した各トランジスタ2501,
2502及び2503を使用することも考えられ
る。しかし、これらは下記に述べる様にそれぞれ
欠点がある。まず、第2図のトランジスタ250
1を使用した場合はトランジスタ250と比べ電
流増幅率が著しく小さいので発電検出回路23内
にトランジスタ250を使用した場合に比べて一
層増幅率の大きい電流増幅回路を必要とする。第
3図のトランジスタ2502を使用した場合は電
流増幅率の点ではトランジスタ250より優れて
いるが、微少な漏洩電流によつても導通してしま
うという様に誤動作を生じやすい。この漏洩電流
による誤動作はエミツタ端子256とベース端子
258の間に外付け抵抗を接続することによつて
ある程度は防止することができる。しかし、トラ
ンジスタ2502が非導通のときトランジスタ2
502内のトランジスタ252のベース端子には
安定した電位が与えられないため、コレクタ・エ
ミツタ間の逆方向降伏電圧がトランジスタ250
と比べ低下する。第4図のトランジスタ2503
を使用した場合は、電流増幅率及び漏洩電流によ
る誤動作、降伏電圧のいずれもトランジスタ25
0と同率であり、しかもトランジスタ250の場
合と異なりダイオード255が無いので前記の様
な不具合も生じない。しかし、トランジスタ25
03の様な構成を1つのシリコンチツプ内に作り
込むためには、トランジスタ250の場合と比べ
て複雑な工程を必要とするか、もしくはトランジ
スタ250と同様の工程で作り込む場合は、トラ
ンジスタ2503内の抵抗254をトランジスタ
250内の抵抗254と同じ抵抗値とするために
一層大きなチツプ面積を必要とする。
本発明は上記した様な欠点を解消するためにな
されたものである。
されたものである。
以下、第6図に示す本発明の実施例について具
体的に説明する。本発明の各回路は半導体集積化
を意図して構成されたものである。1は整流器を
備えた交流発電機、2は電圧調整器で、この電圧
調整器2は交流発電機1の励磁電流を制御するト
ランジスタ21と、交流発電機1のバツテリ3へ
の充電電圧を端子201で検出し、これによつて
トランジスタ21を制御する電圧調整回路22の
他に、負荷をなすチヤージランプ5を駆動する第
2の半導体スイツチ手段をなすトランジスタ24
と、負荷6を駆動する第1の半導体スイツチ手段
をなすトランジスタ25、及び交流発電機1の発
電電圧を端子203で検出し、これにより、トラ
ンジスタ24及び25を制御する発電検出回路2
3を備える。ダイオード26は周知の還流ダイオ
ードである。電源線27は端子204、キースイ
ツチ4を介してバツテリ3の正極側に接続され、
これによつて電圧調整器2に含まれる各回路に電
源が供給される。トランジスタ25は、第5図に
示す如く、1つの半導体チツプ内に2つのpnp型
トランジスタ251及び252と1つの抵抗25
3を作り込み、2つのトランジスタ251及び2
52をダーリントン接続とし、前段のトランジス
タ251のベース・エミツタ間に抵抗253を接
続したものである。抵抗28はトランジスタ25
のエミツタ端子256とベース端子258の間に
接続される。
体的に説明する。本発明の各回路は半導体集積化
を意図して構成されたものである。1は整流器を
備えた交流発電機、2は電圧調整器で、この電圧
調整器2は交流発電機1の励磁電流を制御するト
ランジスタ21と、交流発電機1のバツテリ3へ
の充電電圧を端子201で検出し、これによつて
トランジスタ21を制御する電圧調整回路22の
他に、負荷をなすチヤージランプ5を駆動する第
2の半導体スイツチ手段をなすトランジスタ24
と、負荷6を駆動する第1の半導体スイツチ手段
をなすトランジスタ25、及び交流発電機1の発
電電圧を端子203で検出し、これにより、トラ
ンジスタ24及び25を制御する発電検出回路2
3を備える。ダイオード26は周知の還流ダイオ
ードである。電源線27は端子204、キースイ
ツチ4を介してバツテリ3の正極側に接続され、
これによつて電圧調整器2に含まれる各回路に電
源が供給される。トランジスタ25は、第5図に
示す如く、1つの半導体チツプ内に2つのpnp型
トランジスタ251及び252と1つの抵抗25
3を作り込み、2つのトランジスタ251及び2
52をダーリントン接続とし、前段のトランジス
タ251のベース・エミツタ間に抵抗253を接
続したものである。抵抗28はトランジスタ25
のエミツタ端子256とベース端子258の間に
接続される。
また、発電検出回路23とトランジスタ24及
び25の作動についてさらに詳しく述べると、発
電検出回路23は、交流発電機1の発電電圧を端
子203で検出し、この発電電圧が所定の値以下
では、トランジスタ24を導通、トランジスタ2
4を導通、トランジスタ25を非導通とし、発電
電圧が所定の値以上では、トランジスタ24を非
導通、トランジスタ25を導通とする様作動す
る。これによつて、交流発電機1の発電電圧が所
定の値以下ではチヤージランプ5は点灯し、負荷
6は駆動されず、この発電電圧が所定の値以上に
なるとチヤージランプ5は消灯し、負荷6が駆動
される。
び25の作動についてさらに詳しく述べると、発
電検出回路23は、交流発電機1の発電電圧を端
子203で検出し、この発電電圧が所定の値以下
では、トランジスタ24を導通、トランジスタ2
4を導通、トランジスタ25を非導通とし、発電
電圧が所定の値以上では、トランジスタ24を非
導通、トランジスタ25を導通とする様作動す
る。これによつて、交流発電機1の発電電圧が所
定の値以下ではチヤージランプ5は点灯し、負荷
6は駆動されず、この発電電圧が所定の値以上に
なるとチヤージランプ5は消灯し、負荷6が駆動
される。
上記の構成によれば、端子204が外れた場
合、電源線27への電源の供給は完全に絶たれる
ので、電圧調整器2内の各回路の動作は確実停止
し、トランジスタ21は非導通状態を維持する。
このため交流発電機1は確実に発電を停止するこ
とができる。また抵抗28により、漏洩電流によ
る誤動作を防止することができ、かつトランジス
タ25内のトランジスタ252のベース端子は、
同じくトランジスタ25内の抵抗253により非
導通の場合も安定な電位が与えられるので、コレ
クタ・エミツタ間の逆方向降伏電圧が低下するこ
ともない。
合、電源線27への電源の供給は完全に絶たれる
ので、電圧調整器2内の各回路の動作は確実停止
し、トランジスタ21は非導通状態を維持する。
このため交流発電機1は確実に発電を停止するこ
とができる。また抵抗28により、漏洩電流によ
る誤動作を防止することができ、かつトランジス
タ25内のトランジスタ252のベース端子は、
同じくトランジスタ25内の抵抗253により非
導通の場合も安定な電位が与えられるので、コレ
クタ・エミツタ間の逆方向降伏電圧が低下するこ
ともない。
なお、第7図は発電検出回路23の一具体例で
あり、図中の各端子a,b,c,d,eは第6図
においてブロツク23中に示す記号と対応させて
ある。つまり、コンパレータ231は平滑電圧を
基準電圧と比較し、未発電時にはトランジスタ2
32,233はOFFさせる構成にしてある。
あり、図中の各端子a,b,c,d,eは第6図
においてブロツク23中に示す記号と対応させて
ある。つまり、コンパレータ231は平滑電圧を
基準電圧と比較し、未発電時にはトランジスタ2
32,233はOFFさせる構成にしてある。
また、以上に述べた実施例では、pnp型のトラ
ンジスタを使用した場合について述べたが、npn
型のトランジスタを使用した場合も同様なことが
いえる。
ンジスタを使用した場合について述べたが、npn
型のトランジスタを使用した場合も同様なことが
いえる。
ここで、第5図に示す如く、入力段トランジス
タ251のエミツタ・ベース間のみに、抵抗25
3を接続することで、1つの半導体チツプの面積
を、第4図に示す回路に対して、著しく小さくで
きる点(従来の技術に記載されている点)につい
て、以下により詳しく説明する。
タ251のエミツタ・ベース間のみに、抵抗25
3を接続することで、1つの半導体チツプの面積
を、第4図に示す回路に対して、著しく小さくで
きる点(従来の技術に記載されている点)につい
て、以下により詳しく説明する。
通常、PNP型のダーリントントランジスタは
入力段トランジスタと出力段トランジスタの共通
コレクタ領域となるP型シリコン基板に、入力段
及び出力段それぞれのベース領域となるN型拡散
領域をそれぞれ形成し、その各そのN型拡散領域
の内側に入力段及び出力段のエミツタ領域となる
P型拡散領域を形成して構成する。このダーリン
トントランジスタの同一チツプ内に製造工程を増
加させることなく入力段あるいは出力段のベー
ス・エミツタ間に抵抗を設けようとする場合はベ
ース領域となるN型拡散領域の一部あるいはエミ
ツタ領域となるP型拡散領域の一部のいずれかを
所定の抵抗値が得られるようパターン形成して構
成するしかない。(共通コレクタ領域となるP型
シリコン基板部は一部を分離独立してパターン形
成することができないので抵抗を設けることはで
きない。) また、トランジスタに要求される特性から、ベ
ース領域となるN型拡散領域は、エミツタ領域と
なるP型拡散領域に比べて、不純物濃度が著しく
低い(比抵抗が著しく大きい)。従つて、ベース
領域となるN型拡散領域の一部に抵抗を形成する
場合に比べて、エミツタ領域となるP型拡散領域
の一部に同一の抵抗値を持つ抵抗を形成しようと
すると著しく大きなパターン面積が必要となる。
入力段トランジスタと出力段トランジスタの共通
コレクタ領域となるP型シリコン基板に、入力段
及び出力段それぞれのベース領域となるN型拡散
領域をそれぞれ形成し、その各そのN型拡散領域
の内側に入力段及び出力段のエミツタ領域となる
P型拡散領域を形成して構成する。このダーリン
トントランジスタの同一チツプ内に製造工程を増
加させることなく入力段あるいは出力段のベー
ス・エミツタ間に抵抗を設けようとする場合はベ
ース領域となるN型拡散領域の一部あるいはエミ
ツタ領域となるP型拡散領域の一部のいずれかを
所定の抵抗値が得られるようパターン形成して構
成するしかない。(共通コレクタ領域となるP型
シリコン基板部は一部を分離独立してパターン形
成することができないので抵抗を設けることはで
きない。) また、トランジスタに要求される特性から、ベ
ース領域となるN型拡散領域は、エミツタ領域と
なるP型拡散領域に比べて、不純物濃度が著しく
低い(比抵抗が著しく大きい)。従つて、ベース
領域となるN型拡散領域の一部に抵抗を形成する
場合に比べて、エミツタ領域となるP型拡散領域
の一部に同一の抵抗値を持つ抵抗を形成しようと
すると著しく大きなパターン面積が必要となる。
従つて、抵抗を設ける場合はベース領域となる
N型拡散領域の一部に抵抗をパターン形成する方
がチツプ面積の点から有利であるが、これを出力
段のベース・エミツタ間に接続すると必然的にN
型拡散領域が出力段トランジスタのエミツタと接
続されることになり、P型シリコン基板すなわち
ダーリントントランジスタの共通コレクタとの間
にPN接合ダイオードが形成される(これが第1
図に示す250に相当する)。以上のことから明
らかなように、第4図に示す2503のように、
ダーリントントランジスタの同一チツプ内に共通
コレクタと出力段トランジスタのエミツタとの間
にダイオードを形成することなしに、出力段トラ
ンジスタのベース・エミツタ間に抵抗を設けるに
は、チツプ面積が大きくなるエミツタ領域の一部
に抵抗を形成するか、この抵抗形成のために工程
を追加することになつてしまうのである。
N型拡散領域の一部に抵抗をパターン形成する方
がチツプ面積の点から有利であるが、これを出力
段のベース・エミツタ間に接続すると必然的にN
型拡散領域が出力段トランジスタのエミツタと接
続されることになり、P型シリコン基板すなわち
ダーリントントランジスタの共通コレクタとの間
にPN接合ダイオードが形成される(これが第1
図に示す250に相当する)。以上のことから明
らかなように、第4図に示す2503のように、
ダーリントントランジスタの同一チツプ内に共通
コレクタと出力段トランジスタのエミツタとの間
にダイオードを形成することなしに、出力段トラ
ンジスタのベース・エミツタ間に抵抗を設けるに
は、チツプ面積が大きくなるエミツタ領域の一部
に抵抗を形成するか、この抵抗形成のために工程
を追加することになつてしまうのである。
また、以上に述べた実施例では、第1のスイツ
チング手段に、PNP型のトランジスタを使用し
た場合について述べたが、NPN型のトランジス
タを使用した場合も同様なことがいえる。
チング手段に、PNP型のトランジスタを使用し
た場合について述べたが、NPN型のトランジス
タを使用した場合も同様なことがいえる。
また、負荷となすチヤージランプ5が他の負
荷、例えばコイル、抵抗、発光ダイオード等の負
荷であつても同様なことがいえる。
荷、例えばコイル、抵抗、発光ダイオード等の負
荷であつても同様なことがいえる。
以上述べたように本発明では、バツテリに2つ
の負荷が直列に接続され、この2つの負荷を、交
流発電機の発電、非発電に応じて、発電の場合は
一方の負荷を駆動し、非発電の場合は他方の負荷
を駆動するというように、相反する駆動をするた
めに、第1、第2の半導体スイツチ手段をバツテ
リと接地側端子の間に直列に接続し、これら第
1、第2の半導体スイツチ手段の互いの接続点と
前記2つの負荷の互いの接続点とを結線した構成
において、バツテリ側に接続されている第1の半
導体スイツチ手段として、1つの半導体チツプ内
に入力段トランジスタ、出力段トランジスタとの
ダーリントン接続とし、かつ入力段トランジスタ
のベース・エミツタ間のみに抵抗を接続すること
によつて、第1の半導体スイツチ手段は、電流増
幅率や漏洩電流による誤動作、降伏電圧、製造工
程及びチツプ面積のいずれもこれまでのものとほ
ぼ同等とすることができ、かつ、前記負荷と前記
第1の半導体スイツチ手段との間の結線が外れた
場合、誤動作が生じることもないという優れた効
果が得られる。
の負荷が直列に接続され、この2つの負荷を、交
流発電機の発電、非発電に応じて、発電の場合は
一方の負荷を駆動し、非発電の場合は他方の負荷
を駆動するというように、相反する駆動をするた
めに、第1、第2の半導体スイツチ手段をバツテ
リと接地側端子の間に直列に接続し、これら第
1、第2の半導体スイツチ手段の互いの接続点と
前記2つの負荷の互いの接続点とを結線した構成
において、バツテリ側に接続されている第1の半
導体スイツチ手段として、1つの半導体チツプ内
に入力段トランジスタ、出力段トランジスタとの
ダーリントン接続とし、かつ入力段トランジスタ
のベース・エミツタ間のみに抵抗を接続すること
によつて、第1の半導体スイツチ手段は、電流増
幅率や漏洩電流による誤動作、降伏電圧、製造工
程及びチツプ面積のいずれもこれまでのものとほ
ぼ同等とすることができ、かつ、前記負荷と前記
第1の半導体スイツチ手段との間の結線が外れた
場合、誤動作が生じることもないという優れた効
果が得られる。
第1図乃至第4図は本発明者等がこれまでに提
案した事例を示す電気回路図、第5図、第6図及
び第7図は本発明の一実施例を示す電気回路図で
ある。 1……交流発電機、2……電圧調整器、3……
バツテリ、5……チヤージランプ、6……負荷、
22……電圧調整回路、23……発電検出回路、
24,25……トランジスタ、28……外付け抵
抗、251,252……ダーリントン構成のトラ
ンジスタ、253……抵抗。
案した事例を示す電気回路図、第5図、第6図及
び第7図は本発明の一実施例を示す電気回路図で
ある。 1……交流発電機、2……電圧調整器、3……
バツテリ、5……チヤージランプ、6……負荷、
22……電圧調整回路、23……発電検出回路、
24,25……トランジスタ、28……外付け抵
抗、251,252……ダーリントン構成のトラ
ンジスタ、253……抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 発電機の発電状態を検出してそれに応じた信
号を発生する発電検出回路と、 キースイツチを介してバツテリに並列接続され
た、第1の半導体スイツチ手段及び第2の半導体
スイツチ手段からなる直列回路と、 前記キースイツチの一端と前記第1、第2の半
導体スイツチ手段の接続点との間に設けられた負
荷とを含み、 かつ前記第1の半導体スイツチ手段は、ダーリ
ントン構造となる出力段トランジスタと入力段ト
ランジスタとからなり、この入力段トランジスタ
のベース・エミツタ間のみに抵抗を設けると共
に、前記出力段、入力段トランジスタおよび抵抗
は1つの半導体チツプ内に形成され、 しかも前記入力段トランジスタのベース側と前
記出力段トランジスタのエミツタ側との間に外付
け抵抗を設けてなり、 前記第1、第2の半導体スイツチ手段を前記発
電検出回路の信号に応じて駆動するように構成し
たことを特徴とする車輛用充電装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4005481A JPS57153538A (en) | 1981-03-18 | 1981-03-18 | Charger for vehicle |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4005481A JPS57153538A (en) | 1981-03-18 | 1981-03-18 | Charger for vehicle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS57153538A JPS57153538A (en) | 1982-09-22 |
JPS6358028B2 true JPS6358028B2 (ja) | 1988-11-14 |
Family
ID=12570197
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4005481A Granted JPS57153538A (en) | 1981-03-18 | 1981-03-18 | Charger for vehicle |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS57153538A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62233031A (ja) * | 1986-04-02 | 1987-10-13 | 株式会社日立製作所 | 充電発電機の電圧調整装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5523747A (en) * | 1978-08-03 | 1980-02-20 | Nippon Denso Co | Automotive generator generating indicator |
-
1981
- 1981-03-18 JP JP4005481A patent/JPS57153538A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5523747A (en) * | 1978-08-03 | 1980-02-20 | Nippon Denso Co | Automotive generator generating indicator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57153538A (en) | 1982-09-22 |
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