JPS633254A - Ultrasonic flaw detector for square billet - Google Patents
Ultrasonic flaw detector for square billetInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、角ビレットの欠陥検出を行なう超音波探傷
装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an ultrasonic flaw detection device for detecting defects in square billets.
第1)図は例えば実開昭56−58453号公報に示さ
れた従来の角ビレット超音波探傷装置の探触子配置を示
す図であり9図において(1)は被検材である角ビレッ
ト、+2]は角ビレットfi+の四面に当接する如く配
置された垂直探触子、(3)は垂直探触子(2)を装置
した鞍型案内板、θ1 は垂直探触子12)の指向角、
Rは垂直探触子(2A)のビーム中心線(画線)である
。Figure 1) is a diagram showing the probe arrangement of a conventional square billet ultrasonic flaw detection device disclosed in, for example, Japanese Utility Model Application Publication No. 56-58453. , +2] is the vertical probe arranged so as to be in contact with the four sides of the square billet fi+, (3) is the saddle-shaped guide plate equipped with the vertical probe (2), and θ1 is the orientation of the vertical probe 12). corner,
R is the beam center line (image line) of the vertical probe (2A).
第12図は、第1)図と比較して角ビレット(1)のそ
れぞれの面に当接する垂直探触子(2)の数を多くした
ものである。tおθ2は垂直探触子(2)の指向角であ
る。In FIG. 12, the number of vertical probes (2) that come into contact with each surface of the square billet (1) is increased compared to FIG. 1). t and θ2 are the directivity angles of the vertical probe (2).
第13図は、第12図に比較して角ビレット+1)の四
面それぞれにおける平坦部のほぼ両端に縦波斜角探触子
(4)を加えたものであり、縦波斜角探触子(4)の超
音波ビームの中心は垂線RよりもθOだけ外側つまり相
対する面のコーナ部の方へ向くようにしである。Fig. 13 shows that, compared to Fig. 12, longitudinal wave angle probes (4) are added to almost both ends of the flat part on each of the four sides of the square billet +1). The center of the ultrasonic beam (4) is directed outward by θO from the perpendicular R, that is, toward the corner of the opposing surface.
次に動作について説明する。第1)図において。Next, the operation will be explained. 1) In figure 1).
垂直探触子(2)から角ビレット(1)内に入射された
超音波は、その伝播領域となる音場内に存在するパイプ
状欠陥、非金属介在物等の欠陥で反射されて再び垂直探
触子(2)に帰還し、この反射波を検出して欠陥の有無
を検査するものである。角ビレット+1)の面Aに当接
する2つの垂直探触子(2A)から入射される超音波に
より欠陥の有無を検査し得る領域は9面Aから反射され
る表面エコーの影響が薄れるあたり(面Aから4Q1)
m〜60鰭離れたあたり)より相対する而Cまでであり
、その領域を斜線部で示す。この場合において使用され
る垂直探触子(2A)の指向角θ1は、かなり大きいも
のが使用され9面A側の垂直探触子(2A)から入射さ
れる超音波ビームの拡がりは2両端が相対する面Cの両
側コーナ部まで、また内側は、角ビレット(1)の中心
付近で交差する程度とする。これを他の面、8面、0面
、9面に配置されている垂直探触子(2B) (2C)
(2D)につい℃も同様に行なうことにより、角ビレ
ット(1)の断面における探傷可能領域を略全域にわた
って形成することができる様にしたものである。Ultrasonic waves incident from the vertical probe (2) into the rectangular billet (1) are reflected by defects such as pipe-shaped defects and nonmetallic inclusions that exist in the sound field, which is the propagation region, and are returned to the vertical probe. The reflected wave is returned to the probe (2) and detected to inspect whether there is a defect. The area where the presence or absence of defects can be inspected by the ultrasonic waves incident from the two vertical probes (2A) that are in contact with the surface A of the square billet +1) is around the time when the influence of the surface echo reflected from the 9th surface A fades ( from side A to 4Q1)
(about 60 fins away) to the opposing point C, and that area is shown by the shaded area. The directivity angle θ1 of the vertical probe (2A) used in this case is quite large, and the spread of the ultrasonic beam incident from the vertical probe (2A) on the 9-plane A side is The corners on both sides of the opposing surfaces C and the inside thereof should be such that they intersect near the center of the square billet (1). Vertical probes placed on other surfaces, 8th, 0th, and 9th (2B) (2C)
(2D) in the same manner at °C, it is possible to form a testable area over almost the entire area in the cross section of the square billet (1).
第12図は、より小さな欠陥を対象として検査するため
、第1)図を改良したものである。すなわち、垂直探触
子(2)の指向角02が01に比べて小さいものを選び
、超音波ビームの拡がりを押えることにより、第1)図
と比較して、より小さな欠陥よで検出し得る様にするも
のである。この場合、垂直探触子1個あたりの探傷可能
領域は小さくなるので、各面に配置する垂直探触子の必
要数は当然ながら多くなる。FIG. 12 is an improved version of FIG. 1) in order to inspect smaller defects. In other words, by selecting a vertical probe (2) whose directivity angle 02 is smaller than 01 and suppressing the spread of the ultrasonic beam, it is possible to detect smaller defects than in Figure 1). It is intended to be used in various ways. In this case, since the flaw detectable area per vertical probe becomes smaller, the number of vertical probes required to be arranged on each surface naturally increases.
第13図は、角ビレット(1)のコーナ部も、より小さ
な欠陥を対象として検査するため、第12図をさらに改
良したものである。第12図の探触子配置では・角ビレ
ット(1)のコーナ部分を避けた水平部分より、相対す
る面に向かって指向角の鋭いビームを出して探傷しよう
とするため、各面の両端に配置されている垂直探触子の
超音波ビームはコーナ部まで拡がらず、コーナ部が未探
傷領域として残ってしまう。それを補うため、角ビレッ
トtl+のそれぞれの面の両端に、超音波ビームの中心
方向が垂線Rよりもθ0だけ外側を向いた縦波斜角探触
子(4)を追加配置させることにより、コーナ部におい
ても高い欠陥検出能を得るようにしたものである。FIG. 13 is a further improvement of FIG. 12 in order to also inspect the corners of the square billet (1) for smaller defects. In the probe arrangement shown in Figure 12, a beam with a sharp directional angle is emitted from the horizontal part of the square billet (1) toward the opposite surface, avoiding the corners, for flaw detection. The ultrasonic beam of the arranged vertical probe does not spread to the corner, leaving the corner as an undetected area. In order to compensate for this, by additionally placing longitudinal wave angle probes (4) on both ends of each surface of the square billet tl+, the center direction of the ultrasonic beam is directed outward by θ0 from the perpendicular R. It is designed to obtain high defect detection ability even in corner portions.
角ビレットの超音波探傷は、第1)図の基本的な探傷装
置から、より小さな欠陥まで検出しようとする最近の動
向では、第12図または第13図の探傷装置が主流とな
っている。In the ultrasonic flaw detection of square billets, from the basic flaw detection device shown in Fig. 1) to the flaw detection equipment shown in Fig. 12 or 13, which has recently become mainstream in attempts to detect even smaller defects.
従来の探触子配置では、断面中央部に大きな欠し超音波
散乱減衰が大きい被検材を探傷する場合。With conventional probe placement, there is a large chip in the center of the cross section, which is useful when detecting materials with high ultrasonic scattering attenuation.
垂直探触子(2)の探傷可能領域が、角ビレット(1)
の中心トr近より探触子が接材する面と相対する面まで
であるため、断面中央部に大きな欠陥のある被検材では
、その大きな欠陥に妨害されて相対する面に近い領域は
探傷できなかったり、また、内部組織が粗大化している
材料では、中央部を通過する超音波の減衰は大きくなり
、相対する面に近い領域では小さな欠陥は検出できなく
なる。よってこのような被検材を探傷しようとする場合
、意図した探傷可能領域を確保できないという問題点が
あった。The detection area of the vertical probe (2) is square billet (1)
From near the center of r to the surface opposite to the surface where the probe comes in contact with the material, in the case of a specimen with a large defect in the center of the cross section, the region near the opposite surface is obstructed by the large defect. In materials that cannot be detected or have coarse internal structures, the attenuation of ultrasonic waves passing through the center becomes large, making it impossible to detect small defects in areas close to opposing surfaces. Therefore, when trying to detect flaws on such a test material, there is a problem in that the intended flaw detectable area cannot be secured.
この発明は上記のようt問題点を解消するためになされ
たもので、断面中央部に大きな欠陥が存在する被検材や
、材料の内部組織が粗大化し、超音波散乱減衰の大きい
被検材について、意図した探傷可能領域を確保できる角
ビレット超音波探傷装置を得ることを目的とする。This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and is applicable to specimens with a large defect in the center of the cross section, or specimens with a coarse internal structure and large ultrasonic scattering attenuation. The purpose of this invention is to obtain a square billet ultrasonic flaw detection device that can secure the intended flaw detection area.
また、この発明の別の発明は、上記目的に加え角ビレッ
ト超音波探傷装置を得ることを目的とする。Another object of the present invention is to obtain a square billet ultrasonic flaw detection device in addition to the above object.
この発明に係る角ビレット超音波探傷装置は。 The square billet ultrasonic flaw detection device according to the present invention is as follows.
鞍型案内部に装着される超音波探触子とし℃、角ビレッ
トの四面それぞれにおける平坦部のほぼ両端に、超音波
ビームの中心方向が、垂線よりも3度〜10度外側を向
いた第1の縦波斜角探触子と。The ultrasonic probe is attached to a saddle-shaped guide.C, there are two corners at almost both ends of the flat part on each of the four sides of the square billet, with the center direction of the ultrasonic beam facing 3 to 10 degrees outward from the perpendicular. 1 longitudinal wave angle probe.
超音波ビームの中心方向が垂線よりも60°〜90゜内
側を向いた第2の縦波斜角探触子を配置させたものであ
る。A second longitudinal wave angle probe is arranged in which the center direction of the ultrasonic beam is oriented 60° to 90° inward from the perpendicular.
また、この発明の別の発明に係る角ビレット超音波探傷
装置は、角ビレットの四面それぞれにおける平坦部に垂
直探触子を追加配置し、さらにデータ処理部に、垂直探
触子と、第一の縦波斜角探触子と第二の縦波斜角探触子
の三種の超音波探触子から得られる探傷データをそれだ
れ使用するか否かを入力選択する切換操作スイッチを加
えたものである。In addition, in the square billet ultrasonic flaw detection device according to another aspect of the present invention, vertical probes are additionally arranged on the flat parts of each of the four sides of the square billet, and the data processing section is further provided with the vertical probes and the first Added a switch to select whether or not to use the flaw detection data obtained from three types of ultrasonic probes: the longitudinal wave angle probe and the second longitudinal wave angle probe. It is something.
この発明における角ビレット超音波探傷装置は。 The square billet ultrasonic flaw detection device in this invention is as follows.
二種類の縦波斜角探触子iこより、角ビレットの断面方
向については中心部の内部組織に影響されることなく、
中心部だけを除いた全断面にわたって探傷することがで
きる。With two types of longitudinal wave angle probes, the cross-sectional direction of the square billet is not affected by the internal structure of the center.
Flaws can be detected over the entire cross section except for the center.
また、この発明の別の発明においては、切換操作スイッ
チによる選択により、被検材として中心部を避けて探傷
したい角ビレットと、中心部の影響がなく従来通り全断
面探傷したい角ビレットが混在して搬送される検査ライ
ンにおいてほぼ全ての角ビレットについて探傷を実施す
ることができる。In addition, in another invention of the present invention, by selection using a changeover operation switch, a square billet that should be inspected for flaws while avoiding the center part, and a square billet that is desired to be inspected for flaws in its entire cross section as before without the influence of the center part are mixed as test materials. Almost all square billets can be inspected on the inspection line where they are transported.
第1図はこの発明の一実施例を示す角ビレット超音波探
傷装置における超音波探触子の配置図である。FIG. 1 is a layout diagram of an ultrasonic probe in a square billet ultrasonic flaw detection apparatus showing an embodiment of the present invention.
図において、(1)は被検材である角ビレット、(3)
は鞍型案内板、(4)は角ビレット(1]の四面それぞ
れにおける平坦部のほぼ両端に配置され、超音波ビーム
の中心が垂線よりも外側を向くようにした第1の縦波斜
角探触子(以下コーナ用探触子と呼ぶ)。In the figure, (1) is the square billet that is the material to be tested, (3)
(4) is a saddle type guide plate, and (4) is a first longitudinal wave bevel which is arranged at almost both ends of the flat part on each of the four sides of the square billet (1) so that the center of the ultrasonic beam is directed outward from the perpendicular line. Probe (hereinafter referred to as corner probe).
(5)はコーナ用探触子とほぼ同じ位置に配置され超音
波ビームの中心が垂線よりも内側を向くようにした第2
の縦波斜角探触子(以下1表皮下用探触子と呼ぶ)であ
る。(5) is a second probe placed at almost the same position as the corner probe so that the center of the ultrasound beam points inward from the perpendicular line.
This is a longitudinal wave angle probe (hereinafter referred to as 1 subepidermal probe).
第2図は、角ビレット(1)のA面側から見た超音波探
触子の配置図である。FIG. 2 is a layout diagram of the ultrasonic probe seen from the A side of the square billet (1).
第3図は、角ビット1)1のA面にあるコーナ用探触子
(4A)の探傷領域を示す図であり、超音波ビームの中
心が垂線Rよりもθ0だけ外側、つまり相対するmlの
コーナ部の方へ向くようにしである。Figure 3 is a diagram showing the flaw detection area of the corner probe (4A) on the A side of the corner bit 1) 1, where the center of the ultrasonic beam is θ0 outside the perpendicular R, that is, the opposite ml It should face towards the corner of the screen.
第4図は、角ビレット(1)の4つの面lこある全ての
コーナ用探触子(4)の探傷領域を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the flaw detection areas of all four corner probes (4) of the square billet (1).
第5図は、角ビレット(1)のA面にある表皮下用探触
子(5A)のうち、右側の探触子のみの探傷領域を示す
図であり、超音波ビームの中心が垂線Rよりもθ1だけ
内側を向くようになっている。Figure 5 shows the flaw detection area of only the right probe of the subcutaneous probe (5A) on side A of the square billet (1), and the center of the ultrasonic beam is on the perpendicular line R. It faces inward by θ1.
第6図は、角ビレット(1)の4つの面にある全ての表
皮下用探触子(5)の探傷領域を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing the flaw detection areas of all the subcutaneous probes (5) on the four sides of the square billet (1).
第7図は、角ビレット(1)の4つの面にある全℃のコ
ーナ用探触子(4)と表皮下用探触子の探傷領域を合わ
せた図である。FIG. 7 is a diagram showing the combined flaw detection areas of the corner probe (4) at all degrees centigrade and the subcutaneous probe on the four sides of the square billet (1).
第8図は、この発明の他の実施例を示す角ビレット超音
波探傷装置に8ける超音波探触子の配置を示す図であり
、第1図と比べて、垂直探触子(2)゛を追加配置しで
ある。FIG. 8 is a diagram showing the arrangement of ultrasonic probes in a rectangular billet ultrasonic flaw detection device showing another embodiment of the present invention.゛ is additionally placed.
第9図は、第8図を角ビレット(l)のAi側から見た
超音波探触子の配置図である。FIG. 9 is a layout diagram of the ultrasonic probe when FIG. 8 is viewed from the Ai side of the square billet (l).
第10図は、この発明の他の実施例に8ける角ビレット
超音波探傷装置のデータ処理系統を示すブロック図であ
る。FIG. 10 is a block diagram showing a data processing system of a rectangular billet ultrasonic flaw detection apparatus according to another embodiment of the present invention.
図において(6)は垂直探触子(2〕に対する送信およ
び受信増幅部171)1コーナ用探触子(4)に対する
送信および受信増幅部、(8)は表皮下用探触子(5)
に対する送信および受信増幅部、(9)はそれぞれの送
信及び受信増幅部[61,+7+、 +81から送られ
てきたデータをまとめて処理を行なうデータ処理部、α
1はデータ処理部(9)に3種類の探触子のうち表皮下
用探触子(5]とコーナ用探触子(4)のみのデータを
使用して処理するか、コーナ用探触子(4)と垂直探触
子(2)のデータのみを使って処理するかを切換える信
号を出力するための切換操作スイッチ、(lυは結果を
出力、記録する出力機器である。In the figure, (6) is the transmission and reception amplification unit 171 for the vertical probe (2), the transmission and reception amplification unit for the 1-corner probe (4), and (8) is the subepidermal probe (5).
(9) is a data processing unit, α, which collectively processes the data sent from the respective transmitting and receiving amplifying units [61, +7+, +81];
1, the data processing unit (9) uses and processes the data of only the subepidermal probe (5) and the corner probe (4) out of the three types of probes, or A changeover operation switch is used to output a signal for switching between processing using only data from the vertical probe (4) and the vertical probe (2), and (lυ is an output device that outputs and records the results).
次にこの発明である第1図の動作について説明する。第
1図に示すコーナ用探触子(4)の動作は第3図と第4
図にて説明する。第3図においてコーナ用探触子(4A
)は超音波ビームの中心が垂線Rに対して5度〜10度
外側を向(ようにしてあり。Next, the operation of this invention shown in FIG. 1 will be explained. The operation of the corner probe (4) shown in Figure 1 is shown in Figures 3 and 4.
This will be explained with a diagram. In Figure 3, the corner probe (4A
), the center of the ultrasound beam is oriented 5 to 10 degrees outward with respect to the perpendicular R.
超音波ビームは角ビレット(1)の中心部を通過するこ
となく、斜線部の探傷を行なうことができる。The ultrasonic beam can detect flaws in the shaded area without passing through the center of the square billet (1).
全てのコーナ用探触子の探傷可能領域をあわせたのが第
4図の斜線部である。第4図の探傷可能領域で抜けてい
るのは中心部を除(と、8部である。The shaded area in FIG. 4 is the combined area that can be detected by all the corner probes. In the detectable area in Figure 4, 8 parts are missing except for the center part.
8部を探傷するために従来のように垂直探触子を使用す
ると超音波が中心部を通過した後に8部に到達する探傷
方法であるため中心部に大きな欠陥があれば欠陥に妨害
されるし、内部組織が粗大化している材料では超音波が
十分到達できない。If a vertical probe is used as in the past to detect defects in part 8, the ultrasonic wave passes through the center and then reaches part 8, so if there is a large defect in the center, it will be blocked by the defect. However, ultrasonic waves cannot sufficiently reach materials with coarse internal structures.
よってこの発明では第5図に示すような表皮下用探触子
(5)を使用して第4図に示す8部を探傷する。第5図
において表皮下用探触子(5A)は超音波ビームの中心
が垂線Rに対して60度〜90度内側を向(ようにして
あり、超音波ビームは角ビレット(1)の中心部を通過
することな(0図の斜線部の探傷を行なうことができる
。全ての表皮下用探触子(5)の探傷可能領域をあわせ
たのが、第6図の斜線部である。Therefore, in the present invention, a subcutaneous probe (5) as shown in FIG. 5 is used to detect flaws in the 8 parts shown in FIG. 4. In Fig. 5, the subepidermal probe (5A) is oriented so that the center of the ultrasound beam is oriented 60 degrees to 90 degrees inward with respect to the perpendicular R, and the ultrasound beam is directed to the center of the square billet (1). It is possible to perform flaw detection in the shaded area in Figure 0 without passing through the area.The shaded area in Figure 6 is the combined area that can be detected by all subcutaneous probes (5).
よって第7図に示すように、角ビレット(1)のそれぞ
れの面の平坦部のほぼ両端にコーナー用探触子(4)と
9表皮下用探触子(5)を配置することにより。Therefore, as shown in FIG. 7, corner probes (4) and subepidermal probes (5) are placed at substantially both ends of the flat portion of each surface of the square billet (1).
中心部の状態に影響されずに、中心部以外の全面探傷を
行tうことができる。It is possible to perform flaw detection on the entire surface other than the center without being affected by the condition of the center.
次にこの発明の他の実施例である第8図〜第10図の動
作について説明する。第8図に示すよう1乙鞍型案内板
(3)には、垂直探触子(2)、コーナ用探触子+41
.Eよび表皮下用探触子(5]の三種類の超音波探触子
が装着されている。Next, the operations shown in FIGS. 8 to 10, which are other embodiments of the present invention, will be explained. As shown in Figure 8, the 1st saddle type guide plate (3) has a vertical probe (2), a corner probe +
.. Three types of ultrasound probes are attached: E and subcutaneous probe (5).
この実施例の動作を第10図に示す。図において、垂直
探触子(2)から得られたデータは垂直探触子用の送信
および受信増幅部(6)を経由して、データ処理部(9
)にはいる。同様にコーナ用探触子(4)から得られた
データはコーナ用探触子(4)の送信および受信増幅部
(7)を5表皮下用探触子(5)から得られたデータは
表皮下用探触子(5)の送信および受信増幅部(8)を
径で、データ処理部(9)にはいる。このときデータ処
理部(9)は、切換操作スイッチα1より。The operation of this embodiment is shown in FIG. In the figure, the data obtained from the vertical probe (2) is passed through the vertical probe transmitting and receiving amplifier section (6), and then the data processing section (9).
). Similarly, the data obtained from the corner probe (4) is the transmission and reception amplification section (7) of the corner probe (4).The data obtained from the subcutaneous probe (5) is The transmission and reception amplifier section (8) of the subepidermal probe (5) is inserted into the data processing section (9). At this time, the data processing section (9) operates from the changeover operation switch α1.
三種類の探触子のうち表皮下用探触子(5)とコーナ用
探触子(4)のみのデータを使用して、ビレットの中心
部を避けた探傷を行なうか、コーナ用探触子(4)と垂
直探触子(2)のデータのみを使用した従来の探傷方法
である全面探傷を行なうかの切換信号を受け、この切換
信号によりデータ処理部(9)はそれぞれの送信および
受信増幅H+61. +71. (81からのデータを
使いわけて処理を行ない、結果を出力機器aυに出力す
る。Of the three types of probes, use the data of only the subcutaneous probe (5) and the corner probe (4) to perform flaw detection while avoiding the center of the billet, or use the corner probe The data processing unit (9) receives a switching signal indicating whether to perform full-surface flaw detection, which is a conventional flaw detection method using only the data from the vertical probe (4) and the vertical probe (2). Reception amplification H+61. +71. (The data from 81 is used for processing, and the results are output to the output device aυ.
上記に示すように1表皮下用探触子(5ン、コーナ用探
触子(4)、垂直用探触子(2)の三種の探触子を使い
わけることにより9通常は全面探傷を行ないながら、中
心部を避けて探傷したい被検材の場合は。As shown above, by using three types of probes: 1 subcutaneous probe (5-inch, corner probe (4), and vertical probe (2))9, full-surface flaw detection is usually possible. If you want to detect defects while avoiding the center of the material.
切換操作で、中心部の影響を避けた探傷を行tうことが
できる。By switching operation, flaw detection can be performed while avoiding the influence of the center part.
なお上記実施例では、角ビレット(1)の各面の両端に
1個ずつ、コーナ用探触子(4)と表皮下用探触子(5
)を、配置した例を示したが、コーナ用探触子(4)ま
たは表皮下用探触子(5)の数を複数個にして。In the above embodiment, a corner probe (4) and a subcutaneous probe (5) are placed at both ends of each surface of the square billet (1).
), but a plurality of corner probes (4) or subepidermal probes (5) may be used.
さらに精度よ(、コーナ部または表皮下の探傷を行なう
ことも考えられる。また、鞍型案内板(3)に装着され
る表皮下用探触子(5)の位置は、各面の端である必要
はな(、配置される表皮下用探触子(5)の数および表
皮下用探触子(5ンの屈折角θ1の大きさによっては、
各面の端でなく、内側に表皮下用探触子(5)を配置す
ることも考えられる。また、三種類の探触子を切換信号
により使い分ける方法として0表皮下用探触子(5)の
みを使用/不使用とし。Furthermore, it is also possible to perform flaw detection at corners or under the epidermis.Also, the position of the subcutaneous probe (5) attached to the saddle-shaped guide plate (3) should be at the edge of each surface. (Depending on the number of subcutaneous probes (5) arranged and the size of the refraction angle θ1 of the subcutaneous probes (5),
It is also conceivable to arrange the subepidermal probe (5) not at the end of each surface but inside. In addition, as a method of selectively using three types of probes using a switching signal, only the 0 subepidermal probe (5) is used or not.
他の二種の探触子は常に使用するというケースも考えら
れるが、いずれも類似の結果を期待できるので、この発
明の適用はまぬがれない。Although it is conceivable that the other two types of probes are always used, similar results can be expected with both of them, so the application of the present invention is inevitable.
この発明は1以上説明したとおり、角ビレット探傷装置
における超音波探触子の配置として、角・ビレット各面
の平坦部の端付近に超音波ビームの中心が垂線よりも外
側を向くようにした第1の縦波斜角探触子と、超音波ビ
ームの中心が垂線よりも内側を向くようにした第2の縦
波斜角探触子を取り付けるという構成により、中心部に
太きt欠陥がある。または、内部組織が粗大化している
ようt角ビレットを探傷する場合に、中心部に影響され
ずに、中心部を除いた残りのほぼ全領域を探傷できると
いう効果がある。As explained in above 1, this invention arranges the ultrasonic probe in the corner billet flaw detection device so that the center of the ultrasonic beam is directed outward from the perpendicular line near the edge of the flat part of each corner and billet surface. By attaching the first longitudinal wave angle probe and the second longitudinal wave angle probe with the center of the ultrasound beam facing inward from the perpendicular line, a thick T defect is created in the center. There is. Alternatively, when testing a T-angle billet with a coarse internal structure, it is possible to detect almost the entire area other than the center without being affected by the center.
また、この発明の別の発明は角ビレット各面の平坦部に
垂直探触子を追加配置し、三種類の探触子のデータの使
いわけを指示する切換操作スイッチを加えた構成にする
ことにより1通常の全断面探傷をする場合には、垂直探
触子と超音波ビームの中心が垂線よりも外側を向いた第
1の縦波斜角探触子で探傷を行ない、中心部に大きな欠
陥があったり、または内部組織が粗大化している角ビレ
ットであり、中心部を除いて探傷したい場合には。Another invention of the present invention is to additionally arrange vertical probes on the flat portions of each side of the square billet, and add a switching operation switch to instruct the use of the data of the three types of probes. Therefore, when performing normal full cross-section flaw detection, the flaw detection is performed using a vertical probe and a first longitudinal wave angle probe with the center of the ultrasonic beam facing outward from the perpendicular line. If you have a square billet that has defects or a coarsened internal structure and you want to inspect it except for the center.
超音波ビームの中心が垂線よりも外側を向いた第1の縦
波斜角探触子と、超音波ビームの中心が垂線よりも内側
を向いた第2の縦波斜角探触子で探傷を行なうように、
被検材により使いわけることができ、結果としてほとん
どの角ビレットを対象に探傷できるという効果がある。Flaw detection is performed using a first longitudinal wave angle probe with the center of the ultrasonic beam facing outward from the perpendicular line and a second longitudinal wave angle probe with the center of the ultrasonic beam facing inward from the perpendicular line. As you do,
It can be used depending on the material to be inspected, and as a result, it has the effect of being able to detect flaws on most square billets.
第1図は、この発明の一実施例を示す角ビレット探傷装
置における超音波探触子の断面方向の配置を示す断面配
置図、第2図は角ビレットの長手方向の超音波探触子配
置を示す上面視図、第3図〜第7図はこの発明の実狗例
における超音波探触子の超音波ビーム概念図、第8図は
この発明の他の実施例を示す角ビレット探傷装置におけ
る超音波探触子の断面方向の配置を示す断面配置図、第
9図は第8図における長手方向の超音波探触子配置を示
す上面視図、第10図は、データ処理系統を示すブロッ
ク図、第1)図、第12図および第13図は従来の角ビ
レット探傷装置における超音波探触子の配置と超音波ビ
ームの概念図である。
図において、(1)は角ビレット、t2+は垂直探触子
。
(3)は鞍型案内板、(4)は第一の縦波斜角探触子、
(5)は第二の縦波斜角探触子、(6)は垂直探触子用
の送信および受信増幅部、(7)は第1の縦波斜角探触
子(4)用の送信および受信増幅部、(8)は第2の縦
波斜角探触子(5)用の送信および受信増幅部、(9)
はデータ処理部、α1は切換操作スイッチ、Uυは出力
機器である。
なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。Fig. 1 is a cross-sectional layout diagram showing the arrangement of ultrasonic probes in the cross-sectional direction in a square billet flaw detection device showing an embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a cross-sectional layout diagram showing the arrangement of the ultrasonic probes in the longitudinal direction of the square billet. FIGS. 3 to 7 are conceptual diagrams of the ultrasonic beam of an ultrasonic probe in an actual example of the present invention, and FIG. 8 is a square billet flaw detection device showing another embodiment of the present invention. 9 is a top view showing the arrangement of the ultrasound probes in the longitudinal direction in FIG. 8, and FIG. 10 is a data processing system. The block diagrams, Fig. 1), Fig. 12, and Fig. 13 are conceptual diagrams of the arrangement of ultrasonic probes and ultrasonic beams in a conventional square billet flaw detection device. In the figure, (1) is a square billet, and t2+ is a vertical probe. (3) is a saddle type guide plate, (4) is the first longitudinal wave angle probe,
(5) is the second longitudinal wave angle probe, (6) is the transmission and reception amplifier for the vertical probe, and (7) is the first longitudinal wave angle probe (4). Transmission and reception amplification section, (8) is transmission and reception amplification section for the second longitudinal wave angle probe (5), (9)
is a data processing unit, α1 is a changeover operation switch, and Uυ is an output device. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.
Claims (2)
する角ビレット探傷装置において、角ビレットの四面そ
れぞれの平坦部の両端付近に、超音波ビームの中心が垂
線よりも外側を向くようにした第1の縦波斜角探触子お
よび超音波ビームの中心が垂線よりも内側を向くように
した第2の縦波斜角探触子を配置したことを特徴とする
角ビレット超音波探傷装置。(1) In a square billet flaw detection device that detects flaws by contacting the four sides of a square billet with an ultrasonic probe, the center of the ultrasonic beam is directed outward from the perpendicular line near both ends of the flat part of each of the four sides of the square billet. A rectangular billet ultrasonic device characterized in that a first longitudinal wave angle probe is arranged as shown in FIG. Sonic flaw detection equipment.
する角ビレット探傷装置において、角ビレットの四面そ
れぞれの平坦部に垂直探触子と、角ビレットの四面それ
ぞれの平坦部の両端付近に、超音波ビームの中心が垂線
よりも外側を向くようにした第1の縦波斜角探触子と超
音波ビームの中心が垂線よりも内側を向くようにした第
2の縦波斜角探触子を配置し、さらに前記垂直探触子と
第1の縦波斜角探触子および第2の縦波斜角探触子の三
種の超音波探触子から得られる探傷データをそれぞれ使
用するか否かを入力選択する切換操作スイッチとを備え
たことを特徴とする角ビレット超音波探傷装置。(2) In a square billet flaw detection device that detects flaws by contacting the four sides of a square billet with an ultrasonic probe, a vertical probe is placed on the flat part of each of the four sides of the square billet, and a vertical probe is placed at both ends of the flat part of each of the four sides of the square billet. Nearby are a first longitudinal wave angle probe with the center of the ultrasound beam facing outward from the perpendicular line, and a second longitudinal wave angle probe with the center of the ultrasound beam facing inward from the perpendicular line. An angular probe is arranged, and flaw detection data obtained from three types of ultrasonic probes, the vertical probe, the first longitudinal wave angle probe, and the second longitudinal wave angle probe, is A rectangular billet ultrasonic flaw detection device characterized by comprising a changeover operation switch for inputting and selecting whether or not to use each of them.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61147671A JPS633254A (en) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | Ultrasonic flaw detector for square billet |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61147671A JPS633254A (en) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | Ultrasonic flaw detector for square billet |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS633254A true JPS633254A (en) | 1988-01-08 |
Family
ID=15435640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61147671A Pending JPS633254A (en) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | Ultrasonic flaw detector for square billet |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS633254A (en) |
Cited By (5)
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-
1986
- 1986-06-24 JP JP61147671A patent/JPS633254A/en active Pending
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