JPS63292204A - プログラマブル・コントロ−ラの劣化診断装置 - Google Patents
プログラマブル・コントロ−ラの劣化診断装置Info
- Publication number
- JPS63292204A JPS63292204A JP62127755A JP12775587A JPS63292204A JP S63292204 A JPS63292204 A JP S63292204A JP 62127755 A JP62127755 A JP 62127755A JP 12775587 A JP12775587 A JP 12775587A JP S63292204 A JPS63292204 A JP S63292204A
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- JP
- Japan
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- output pattern
- input
- deterioration
- mode
- programmable controller
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- Pending
Links
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 28
- 230000008569 process Effects 0.000 description 21
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Programmable Controllers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の分野)
この発明は、プログラマブル・コン[・ローラにおける
外部機器の劣化診断装置に関する。
外部機器の劣化診断装置に関する。
(発明の概要)
この発明では、既存のプログラマブル・コントローラに
対して、劣化診断装置を接続するだけで、ユーザプログ
ラム上に外部機器の劣化診断用プログラムを作成せずど
もプログラマブル・コントローラに接続された外部機器
の劣化診断を可能としたものでおる。
対して、劣化診断装置を接続するだけで、ユーザプログ
ラム上に外部機器の劣化診断用プログラムを作成せずど
もプログラマブル・コントローラに接続された外部機器
の劣化診断を可能としたものでおる。
(従来技術とその問題点)
従来、この種のプログラマブル・コントローラにおける
外部機器の故障診断は、故障時に起こり得る入出力条件
を予めユーザ自身が調べ、これをユーザプログラム内に
組込むという手法がとられるため、故障条件の設定、プ
ログラミング等の煩雑な作業を必要とし、既に完成され
たユーザプログラムが存在するような場合、これに故障
診断プログラムを付加するのは極めて面倒であった。
外部機器の故障診断は、故障時に起こり得る入出力条件
を予めユーザ自身が調べ、これをユーザプログラム内に
組込むという手法がとられるため、故障条件の設定、プ
ログラミング等の煩雑な作業を必要とし、既に完成され
たユーザプログラムが存在するような場合、これに故障
診断プログラムを付加するのは極めて面倒であった。
ましてや、故障には至らないものの、何れかの機器に劣
化が生じたことを診断するなどということは、従来の診
断装置では全く不可能に近かった。
化が生じたことを診断するなどということは、従来の診
断装置では全く不可能に近かった。
(発明の目的)
この発明の目的は、ユーザ自身による劣化診断プログラ
ムの作成等を要することなく、プログラマブル・コント
ローラで制御し得る外部機器の劣化を容易に診断可能な
劣化診断装置を提供することにある。
ムの作成等を要することなく、プログラマブル・コント
ローラで制御し得る外部機器の劣化を容易に診断可能な
劣化診断装置を提供することにある。
(発明の構成と効果)
この発明は上記の目的を達成するために、動作モードを
教示モードと診断モードとに切替設定可能なモード設定
手段と、 教示モードへの設定を条件として、プログラマブル・コ
ントローラの出力パターンを監視し、それか変化するた
びに変化俊の入出力パターンを順次記憶させる教示動作
制御手段と、 診断モードへの設定を条件として、記憶された入出力パ
ターン列を構成する各入出力パターンがそれぞれ設定さ
れた監視時間内に到来するかを判定し、到来しないとき
には制御対象機器に劣化が生じたと判断してその時点の
入出力パターンと教示された入出力パターンとの不一致
箇所を劣化相関箇所として報知する診断動作制御手段と
、を具備することを特徴とするものでおる。
教示モードと診断モードとに切替設定可能なモード設定
手段と、 教示モードへの設定を条件として、プログラマブル・コ
ントローラの出力パターンを監視し、それか変化するた
びに変化俊の入出力パターンを順次記憶させる教示動作
制御手段と、 診断モードへの設定を条件として、記憶された入出力パ
ターン列を構成する各入出力パターンがそれぞれ設定さ
れた監視時間内に到来するかを判定し、到来しないとき
には制御対象機器に劣化が生じたと判断してその時点の
入出力パターンと教示された入出力パターンとの不一致
箇所を劣化相関箇所として報知する診断動作制御手段と
、を具備することを特徴とするものでおる。
このような構成によれば、ユーザ自身による劣化診断プ
ログラムの作成等を要することなく、プログラマブル・
コントローラで制御される機器の劣化を容易に診断でき
るという効果がおる。
ログラムの作成等を要することなく、プログラマブル・
コントローラで制御される機器の劣化を容易に診断でき
るという効果がおる。
(実施例の説明)
第1図は本発明が適用されたごルティング・ブロック・
タイプのプログラマブル・コントローラ全体のシステム
構成を示すブロック図である。
タイプのプログラマブル・コントローラ全体のシステム
構成を示すブロック図である。
同図に示す如く、このプログラマブル・コントローラの
全体はシステムバス1に対してCPUユニット2.複数
のI10ユニット3,3・・・及び本発明に係る劣化診
断ユニット4を接続して構成されている。なお電源ユニ
ットその他は図示を省略している。
全体はシステムバス1に対してCPUユニット2.複数
のI10ユニット3,3・・・及び本発明に係る劣化診
断ユニット4を接続して構成されている。なお電源ユニ
ットその他は図示を省略している。
第2図に示す如く、劣化診断ユニット4はマイクロプロ
セッサを主体として構成される演算部41、RAMを主
体として構成される記憶部42゜基準クロックやカウン
タ等を主体として構成される計時部43.劣化相関箇所
に相当する入出力及び劣化発生を表示可能な表示部44
及びモード切替、起動等の指令を発する機能を備えた操
作部45とから構成されている。
セッサを主体として構成される演算部41、RAMを主
体として構成される記憶部42゜基準クロックやカウン
タ等を主体として構成される計時部43.劣化相関箇所
に相当する入出力及び劣化発生を表示可能な表示部44
及びモード切替、起動等の指令を発する機能を備えた操
作部45とから構成されている。
また、演算部41はインターフェース46を介してシス
テムバスに接続可能になっている。
テムバスに接続可能になっている。
第3図のゼネラルフローチャートに示されるように、劣
化診断装置4の動作は、操作部45の七−ド切替が教示
上−ドに設定されているか(ステップ300肖定)、ま
たは診断モードに設定されているか(ステップ301肖
定)に応じて、教示動作制御処理(ステップ302)と
診断動作制御処理(ステップ303)とを択一的に実行
するようになされている。
化診断装置4の動作は、操作部45の七−ド切替が教示
上−ドに設定されているか(ステップ300肖定)、ま
たは診断モードに設定されているか(ステップ301肖
定)に応じて、教示動作制御処理(ステップ302)と
診断動作制御処理(ステップ303)とを択一的に実行
するようになされている。
また、操作部制御処理としてキー人力の制御等を行なう
処理も有している(ステップ304)。
処理も有している(ステップ304)。
なお、この処理は他の処理と並行して実行される。
第4図に示されるように、教示動作制御処理が開始され
ると、まず教示動作中かの確認がなされ(ステップ40
0)、教示動作中でな(プれば(ステップ400否定)
、開始指示がおるかの確認を行なう(ステップ401)
。
ると、まず教示動作中かの確認がなされ(ステップ40
0)、教示動作中でな(プれば(ステップ400否定)
、開始指示がおるかの確認を行なう(ステップ401)
。
開始指示があれば(ステップ401肯定)、教示動作中
フラグをセットし、工程力1クンタ5TEP(第8図参
照)を初期値Oにし、そのときの入出力パターンを工程
Oとして登録する(第8図参照)。
フラグをセットし、工程力1クンタ5TEP(第8図参
照)を初期値Oにし、そのときの入出力パターンを工程
Oとして登録する(第8図参照)。
同時に、監視時間計測用のタイマをスタートし、工程カ
ウンタ5TEPを更新して処理を続行する(ステップ4
02〜406)。
ウンタ5TEPを更新して処理を続行する(ステップ4
02〜406)。
次回の教示動作制御処理が呼出されると、教示動作中の
ため(ステップ400肯定)、終了指示があるかくステ
ップ407)確認し、指示がなければ(ステップ407
否定)、登録した入出力パターンのうちの出力パターン
に変化かあるか確認(ステップ408)L、、変化があ
れば(ステップ408肯定)、監視タイマデータを登録
(ステツプ409)し、タイマスタート、入出力パター
ンの登録、工程カウンタ5TEPの更新処理を続行する
(ステップ404〜406)。
ため(ステップ400肯定)、終了指示があるかくステ
ップ407)確認し、指示がなければ(ステップ407
否定)、登録した入出力パターンのうちの出力パターン
に変化かあるか確認(ステップ408)L、、変化があ
れば(ステップ408肯定)、監視タイマデータを登録
(ステツプ409)し、タイマスタート、入出力パター
ンの登録、工程カウンタ5TEPの更新処理を続行する
(ステップ404〜406)。
なお、ここで入出力パターンをサンプルすルタイミング
として出力パターンの変化時点を採用しているのは、入
カバターンの変化時点を基準とすると変化数が多くなり
過ぎること、及び入力変化は必ずしも一定しないことが
多いからである。
として出力パターンの変化時点を採用しているのは、入
カバターンの変化時点を基準とすると変化数が多くなり
過ぎること、及び入力変化は必ずしも一定しないことが
多いからである。
このとき監視タイマデータの登録の仕方には、計測した
データを一定倍する方法や、一定値を加える方法、この
一定値の内容をシステムが決定する方法、更にはニー1
1にキーボードより入力させる方法等が考えられるが、
何れの方法でもよい。
データを一定倍する方法や、一定値を加える方法、この
一定値の内容をシステムが決定する方法、更にはニー1
1にキーボードより入力させる方法等が考えられるが、
何れの方法でもよい。
すなわち、プログラマブル・コントローラの制御対象と
してはモータ、油圧シリンダ駆動用の電磁弁、ソレノイ
ドプランジV等の種々のものがあるが、これらに劣化が
生ずると動作の緩慢性、不定性等が生じ、これに起因し
て入出力パターン間の遷移時間のバラツキが大きくなる
。
してはモータ、油圧シリンダ駆動用の電磁弁、ソレノイ
ドプランジV等の種々のものがあるが、これらに劣化が
生ずると動作の緩慢性、不定性等が生じ、これに起因し
て入出力パターン間の遷移時間のバラツキが大きくなる
。
従って、予めこのバラツキの最大許容値とじて監視タイ
マデータを登録することにより、俊速する診断動作にお
いて制御対象に劣化が生じたことを自動診断できるので
ある。
マデータを登録することにより、俊速する診断動作にお
いて制御対象に劣化が生じたことを自動診断できるので
ある。
一方、出力パターンに変化がなければ(ステップ408
否定)、何も処理を行なわずに次の処理に移る。
否定)、何も処理を行なわずに次の処理に移る。
今仮に第6図に示されるように、入力1,2及び出力1
のみが変化するようなユーザプログラムを想定すると、
ユーザプログラムの各スキャンt1、t2・・・におい
て出力が変化する結果、第7図の表に示されるように、
記憶部42内の各S T EP値に対応する記憶エリア
には、変化後の入出力パターンと、監視タイマデータが
順次記憶されることになる。
のみが変化するようなユーザプログラムを想定すると、
ユーザプログラムの各スキャンt1、t2・・・におい
て出力が変化する結果、第7図の表に示されるように、
記憶部42内の各S T EP値に対応する記憶エリア
には、変化後の入出力パターンと、監視タイマデータが
順次記憶されることになる。
なお、このようにして得られた教示データを操作部45
よりの指令により、フロッピーディスク等の外部メモリ
に記憶することも可能であることは言うまでもない。
よりの指令により、フロッピーディスク等の外部メモリ
に記憶することも可能であることは言うまでもない。
次に、診断動作制御処理では、第5図に示されるように
、まず診断動作中かの確認を行ないくステップ500)
、診断動作中でなければ(ステップ500否定)、診
断動作開始指示を待機する状態となる(ステップ501
否定)。
、まず診断動作中かの確認を行ないくステップ500)
、診断動作中でなければ(ステップ500否定)、診
断動作開始指示を待機する状態となる(ステップ501
否定)。
開始指示が操作部45から与えられると(ステップ50
0否定、501fA定)、診断動作中フラグをセットし
た後(ステップ502> 、工程カウンタS’TEP、
一致フラグをリセットした後(ステップ503.504
>、1所動作が開始される。
0否定、501fA定)、診断動作中フラグをセットし
た後(ステップ502> 、工程カウンタS’TEP、
一致フラグをリセットした後(ステップ503.504
>、1所動作が開始される。
この診断動作では、現5TEP値で指定する工程に登録
されている入出力パターン(第8図参照)を基準パター
ンとしてセットする動作(ステップ505)、監視時間
を基準時間として監視タイマにセットした後、監視タイ
マを起動する動作(ステップ506)を経た後、監視タ
イマのタイムアツプ前に現出力パターンと基準量カバタ
ーンが一致することを待機する(ステップ507否定、
508否定)。
されている入出力パターン(第8図参照)を基準パター
ンとしてセットする動作(ステップ505)、監視時間
を基準時間として監視タイマにセットした後、監視タイ
マを起動する動作(ステップ506)を経た後、監視タ
イマのタイムアツプ前に現出力パターンと基準量カバタ
ーンが一致することを待機する(ステップ507否定、
508否定)。
監視タイマのタイムアツプ前に(ステップ508否定)
、現出ノコパターンと基準量カバターンの一致が確認さ
れれば(ステップ507肯定)、一致フラグをセットし
くステップ511)、警報出力フラグをオフした後(ス
テップ512>、カウンタS、TEPを更新して(ステ
ップ513>、次の5TEP値について以上の動作を繰
り返す。
、現出ノコパターンと基準量カバターンの一致が確認さ
れれば(ステップ507肯定)、一致フラグをセットし
くステップ511)、警報出力フラグをオフした後(ス
テップ512>、カウンタS、TEPを更新して(ステ
ップ513>、次の5TEP値について以上の動作を繰
り返す。
なお、この次の5TEP値からは、診断停止指示がある
まで(ステップ509)、繰り返し出力パターンの一致
の有無により(ステップ510肯定、否定)、次パター
ンの登録(ステップ504゜505)またはパターン一
致の待機(ステップ507)を繰り返す。
まで(ステップ509)、繰り返し出力パターンの一致
の有無により(ステップ510肯定、否定)、次パター
ンの登録(ステップ504゜505)またはパターン一
致の待機(ステップ507)を繰り返す。
これに対し、監視タイマのタイムアツプ前に、現出力パ
ターンと基準量カバターンとの一致が確認されない場合
には外部機器の劣化と判断され、監視タイマのタイムア
ツプとともに(ステップ508肯定)、現入出力パター
ンとIn’=入出力パターンとの排他的論理和がとられ
(ステップ516)、その結果を警報出力(ブザー等)
とともに(ステップ517>、表示部44に表示させる
。
ターンと基準量カバターンとの一致が確認されない場合
には外部機器の劣化と判断され、監視タイマのタイムア
ツプとともに(ステップ508肯定)、現入出力パター
ンとIn’=入出力パターンとの排他的論理和がとられ
(ステップ516)、その結果を警報出力(ブザー等)
とともに(ステップ517>、表示部44に表示させる
。
この結果表示部44には環入出力パターンと基準入出力
パターンとの不一致箇所が外部機器の劣化相関箇所とし
て視覚的に報知される。
パターンとの不一致箇所が外部機器の劣化相関箇所とし
て視覚的に報知される。
第1図は本発明が適用されたプログラマ1ル・コン1〜
ローラを示すブロック図、第2図は劣化診断ユニットの
詳細を示すブロック図、第3図は劣化診断ユニットのゼ
ネラルフローチャート、第4図は教示動作制御処理の詳
細を示すフローチャート、第5図は診断動作制御処理の
詳細を示すフローチャート、第6図は入出力パターンの
遷移例を示す説明図、第7図は記憶部の内容(特に基準
となる入出力パターン)を示すメモリマツプ、第8図は
記憶部の全体構成を示すメモリマツプである。 1・・・システムバス 2・・・CPUユニット 3・・・I10ユニット 4・・・劣化診断ユニット 41・・・演算部 42・・・記憶部 43・・・計時部 44・・・表示部 45・・・操作部 46・・・インターフェース 特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 和 1)成 間 第2図 第3図 第4図 第6図 第8図 第7図
ローラを示すブロック図、第2図は劣化診断ユニットの
詳細を示すブロック図、第3図は劣化診断ユニットのゼ
ネラルフローチャート、第4図は教示動作制御処理の詳
細を示すフローチャート、第5図は診断動作制御処理の
詳細を示すフローチャート、第6図は入出力パターンの
遷移例を示す説明図、第7図は記憶部の内容(特に基準
となる入出力パターン)を示すメモリマツプ、第8図は
記憶部の全体構成を示すメモリマツプである。 1・・・システムバス 2・・・CPUユニット 3・・・I10ユニット 4・・・劣化診断ユニット 41・・・演算部 42・・・記憶部 43・・・計時部 44・・・表示部 45・・・操作部 46・・・インターフェース 特許出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 和 1)成 間 第2図 第3図 第4図 第6図 第8図 第7図
Claims (1)
- (1)動作モードを教示モードと診断モードとに切替設
定可能なモード設定手段と、 教示モードへの設定を条件として、プログラマブル・コ
ントローラの出力パターンを監視し、それが変化するた
びに変化後の入出力パターンを順次記憶させる教示動作
制御手段と、 診断モードへの設定を条件として、記憶された入出力パ
ターン列を構成する各入出力パターンがそれぞれ設定さ
れた監視時間内に到来するかを判定し、到来しないとき
には制御対象機器に劣化が生じたと判断してその時点の
入出力パターンと教示された入出力パターンとの不一致
箇所を劣化相関箇所として報知する診断動作制御手段と
、を具備することを特徴とするプログラマブル・コント
ローラの劣化診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62127755A JPS63292204A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | プログラマブル・コントロ−ラの劣化診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62127755A JPS63292204A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | プログラマブル・コントロ−ラの劣化診断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63292204A true JPS63292204A (ja) | 1988-11-29 |
Family
ID=14967889
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62127755A Pending JPS63292204A (ja) | 1987-05-25 | 1987-05-25 | プログラマブル・コントロ−ラの劣化診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63292204A (ja) |
-
1987
- 1987-05-25 JP JP62127755A patent/JPS63292204A/ja active Pending
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