JPS6327010B2 - - Google Patents
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- JPS6327010B2 JPS6327010B2 JP51095889A JP9588976A JPS6327010B2 JP S6327010 B2 JPS6327010 B2 JP S6327010B2 JP 51095889 A JP51095889 A JP 51095889A JP 9588976 A JP9588976 A JP 9588976A JP S6327010 B2 JPS6327010 B2 JP S6327010B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
- G06T11/006—Inverse problem, transformation from projection-space into object-space, e.g. transform methods, back-projection, algebraic methods
-
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S378/901—Computer tomography program or processor
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、物体をある断面において相互に異
なる方向に透過する電離性の放射線の測定された
全吸収値の分布から物体断層像を作成する装置で
あつて、放射線検出器が備えられ、これに測定値
変換器および各測定列の測定値の補正のために、
ないし測定列の畳込みおよび畳込みされた測定列
の加法的重ね合わせのために備えられた電子計算
機が所属されるようになつたものに関する。
なる方向に透過する電離性の放射線の測定された
全吸収値の分布から物体断層像を作成する装置で
あつて、放射線検出器が備えられ、これに測定値
変換器および各測定列の測定値の補正のために、
ないし測定列の畳込みおよび畳込みされた測定列
の加法的重ね合わせのために備えられた電子計算
機が所属されるようになつたものに関する。
この種の装置はＸ線断層撮影装置（トモグラフ
イ）として人体の断層像撮影に利用されているが
その対象は人体に限定されることなく広く種々の
物体の断層構造の決定に利用されるものである。
その一例として岩石の内部構造の決定が挙げられ
る。
イ）として人体の断層像撮影に利用されているが
その対象は人体に限定されることなく広く種々の
物体の断層構造の決定に利用されるものである。
その一例として岩石の内部構造の決定が挙げられ
る。
断層撮影ではＸ線源又はγ線源から放出された
平行束に近い放射線束が被検体の一つの断層に当
たり断層の一つの帯状区域の各点で一部を吸収さ
れながら断層を透過し、被検体の背後に置かれた
検出器に入る。放射線源と検出器とを一体にして
被検体に相対的に平行移動させると被検体の一つ
の断層が平行な帯状区域に分割されて順次に走査
される。続いて放射線源と検出器を断層面に垂直
な一つの軸の回りに所定の角度例えば1゜だけ傾け
た後平行移動により被検体断層を更めて照射し検
出器に投射する。この操作を繰り返すと断層内の
各素領域が種々の角度から放射線照射される。
平行束に近い放射線束が被検体の一つの断層に当
たり断層の一つの帯状区域の各点で一部を吸収さ
れながら断層を透過し、被検体の背後に置かれた
検出器に入る。放射線源と検出器とを一体にして
被検体に相対的に平行移動させると被検体の一つ
の断層が平行な帯状区域に分割されて順次に走査
される。続いて放射線源と検出器を断層面に垂直
な一つの軸の回りに所定の角度例えば1゜だけ傾け
た後平行移動により被検体断層を更めて照射し検
出器に投射する。この操作を繰り返すと断層内の
各素領域が種々の角度から放射線照射される。
線源と検出器の平行移動に際しての個別測定列
において求められた放射線の減衰値に適当な補正
を加えるとその時透過した帯状区域全体に亘る減
衰係数の和が求められる。補正された個別測定列
の測定値に畳込核を重ね合わせその結果から逆投
射によつて中間像を作る。逆投射に際して測定列
の各測定値は照射時の各部品の配置に従つて画像
面中の対応する帯状区域全体に一様に分布する。
最後に総ての照射方向においての中間像の簡単な
重ね合わせによつて断層像が得られる（この操作
についてはIEEE Transsaction on Nuclear
Science.NS−21、３、1974年６月、p.46〜49、
p.59〜63に記載されている）。
において求められた放射線の減衰値に適当な補正
を加えるとその時透過した帯状区域全体に亘る減
衰係数の和が求められる。補正された個別測定列
の測定値に畳込核を重ね合わせその結果から逆投
射によつて中間像を作る。逆投射に際して測定列
の各測定値は照射時の各部品の配置に従つて画像
面中の対応する帯状区域全体に一様に分布する。
最後に総ての照射方向においての中間像の簡単な
重ね合わせによつて断層像が得られる（この操作
についてはIEEE Transsaction on Nuclear
Science.NS−21、３、1974年６月、p.46〜49、
p.59〜63に記載されている）。
上記の方法により測定および操作に基づく誤差
を無視すれば各画素において現物に忠実な数値が
得られる。しかし実際には現物に忠実な画像だけ
ではなく、場合によつてコントラストを変えた断
層像が所望される。
を無視すれば各画素において現物に忠実な数値が
得られる。しかし実際には現物に忠実な画像だけ
ではなく、場合によつてコントラストを変えた断
層像が所望される。
この発明の目的は断層像のコントラスト特性を
選択的に任意に変化させることができる断層像形
成装置を提供することである。
選択的に任意に変化させることができる断層像形
成装置を提供することである。
この目的は本発明によれば、冒頭に述べたよう
な装置において、 (a) 電子計算機は、複数の各畳込核に対する記憶
場所および重価係数の格納のための記憶場所を
含み、 (b) 電子計算機は、付加的な選択された重価係数
の入力装置を備え、 (c) 電子計算機は選択された重価係数により重み
付けされた各個の畳込核の加法的重ね合わせか
ら形成される畳込核による畳込みのために備え
られている ことによつて達成される。
な装置において、 (a) 電子計算機は、複数の各畳込核に対する記憶
場所および重価係数の格納のための記憶場所を
含み、 (b) 電子計算機は、付加的な選択された重価係数
の入力装置を備え、 (c) 電子計算機は選択された重価係数により重み
付けされた各個の畳込核の加法的重ね合わせか
ら形成される畳込核による畳込みのために備え
られている ことによつて達成される。
断層像形成に際して複数の畳込み核を使用する
こと自体は***国特許出願公開第2504560号公報
によつて公知である。この公知例においては測定
値列中の測定値が急激に変化する場合粗い畳込核
が使用され、測定値の変化がゆるやかである場合
には微細な畳込核が使用される。これによつて畳
込核は被検体断層像内の雑音が抑圧され空間解像
度の低下ができるだけ小さくなるように測定列に
適合する。この発明の装置においてはいくつかの
畳込核を予め選定しておき、これらの核のそれぞ
れに重価係数を乗じて組合わせたものを測定値列
畳込核とすることにより断層像の個々の区域の輪
郭の鮮明度の外区域間の明度差も任意に変えるこ
とができる。
こと自体は***国特許出願公開第2504560号公報
によつて公知である。この公知例においては測定
値列中の測定値が急激に変化する場合粗い畳込核
が使用され、測定値の変化がゆるやかである場合
には微細な畳込核が使用される。これによつて畳
込核は被検体断層像内の雑音が抑圧され空間解像
度の低下ができるだけ小さくなるように測定列に
適合する。この発明の装置においてはいくつかの
畳込核を予め選定しておき、これらの核のそれぞ
れに重価係数を乗じて組合わせたものを測定値列
畳込核とすることにより断層像の個々の区域の輪
郭の鮮明度の外区域間の明度差も任意に変えるこ
とができる。
この発明による装置には選定された一次元畳込
核の全系列が常に呼出し可能の状態で固定記憶さ
れていることができる。この系列の核は硬度に細
分化された断層像が作られるように選ばれてい
る。このような核を使用すると高次微分可能の画
像パルス応答関数を作ることができる。
核の全系列が常に呼出し可能の状態で固定記憶さ
れていることができる。この系列の核は硬度に細
分化された断層像が作られるように選ばれてい
る。このような核を使用すると高次微分可能の画
像パルス応答関数を作ることができる。
以下図面についてこの発明の方法を更に詳細に
説明する。
説明する。
第１図から第５図までは本発明の各段階を図式
的に表したものである。第１図において輪郭を点
破線で示した物体２の一方の側に放射線源４があ
りその線束６は物体を一つの断層面に沿つて透過
する。８は断層の境界線である。線束６は断層中
で部分的に吸収された後検出器１０に達しこの検
出器から入射放射線の測定値が送り出される。こ
の測定値は図面に示されていない電子回路によつ
て電気信号に変換される。線源４と検出器１０を
位置ａから順次に位置ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，
ｈに平行移動させることにより物体断層中での平
行線束の減衰値が求められる。図面は一つの物体
要素１２を透視している状態を示している。図の
上部に物体要素１２に属する画像パルス関数１６
が示されているがその高さは物体要素１２の減衰
係数μの大きさを表している。
的に表したものである。第１図において輪郭を点
破線で示した物体２の一方の側に放射線源４があ
りその線束６は物体を一つの断層面に沿つて透過
する。８は断層の境界線である。線束６は断層中
で部分的に吸収された後検出器１０に達しこの検
出器から入射放射線の測定値が送り出される。こ
の測定値は図面に示されていない電子回路によつ
て電気信号に変換される。線源４と検出器１０を
位置ａから順次に位置ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，
ｈに平行移動させることにより物体断層中での平
行線束の減衰値が求められる。図面は一つの物体
要素１２を透視している状態を示している。図の
上部に物体要素１２に属する画像パルス関数１６
が示されているがその高さは物体要素１２の減衰
係数μの大きさを表している。
物体断層中の減衰係数μの分布を求めるには先
ず測定装置の位置ａ，ｂ，ｃ………，ｈのそれぞ
れにおいての減衰値ｆ(i)（ｉは測定位置を表す）
を測定し、必要があれば使用した放射線に対応し
た補正を加える。例えば測定装置位置ｄにおいて
は放射線が透過した物体部分１４中の放射線の減
衰が測定され測定値ｆ(d)が得られる。このように
して求めた測定値列ｆ(i)に畳込核関数Ｋを重ねる
ことにより畳込み測定値列fK(j)が得られる。この
測定値列fK(j)をそれぞれの測定において照射した
物体部分に対応する平行条帯に沿つて画像区域全
体に亘つて配置すると中間像が作られる。畳込み
測定値列の個個の値は対応する条帯上に一定値と
して分布する。最後にそれぞれの測定方向におい
ての中間像の総てを加法的に重ね合わせることに
より物体断層像が得られる。
ず測定装置の位置ａ，ｂ，ｃ………，ｈのそれぞ
れにおいての減衰値ｆ(i)（ｉは測定位置を表す）
を測定し、必要があれば使用した放射線に対応し
た補正を加える。例えば測定装置位置ｄにおいて
は放射線が透過した物体部分１４中の放射線の減
衰が測定され測定値ｆ(d)が得られる。このように
して求めた測定値列ｆ(i)に畳込核関数Ｋを重ねる
ことにより畳込み測定値列fK(j)が得られる。この
測定値列fK(j)をそれぞれの測定において照射した
物体部分に対応する平行条帯に沿つて画像区域全
体に亘つて配置すると中間像が作られる。畳込み
測定値列の個個の値は対応する条帯上に一定値と
して分布する。最後にそれぞれの測定方向におい
ての中間像の総てを加法的に重ね合わせることに
より物体断層像が得られる。
第２図のダイヤグラムは横軸に測定位置ａ乃至
ｈの番号ｉをとり、縦軸に補正した測定したｆ(i)
をとる。位置ｄにおいて測定値はｆ(d)である。補
正し畳込核関数Ｋと畳込んだ測定値fK(j)は次の式
で表される。
ｈの番号ｉをとり、縦軸に補正した測定したｆ(i)
をとる。位置ｄにおいて測定値はｆ(d)である。補
正し畳込核関数Ｋと畳込んだ測定値fK(j)は次の式
で表される。
fK(j)＝o
〓i=1
Ｋ（ｊ−ｉ）・ｆ(i)
ｉとｊは測定位置を表するもので１からｎまで
の整数とする。Ｋ(l)は予め準備されている畳込核
関数列である。この核関数は原点に対して対称な
離散関数であつてＫ(l)＝Ｋ（−ｌ）である。一つ
の測定値ｆ(d)と畳込核Ｋとの畳込みの結果は第３
図のダイヤグラムに示すように中心を位置ｄに移
した畳込核関数と測定値ｆ(d)との積で与えられ
る。
の整数とする。Ｋ(l)は予め準備されている畳込核
関数列である。この核関数は原点に対して対称な
離散関数であつてＫ(l)＝Ｋ（−ｌ）である。一つ
の測定値ｆ(d)と畳込核Ｋとの畳込みの結果は第３
図のダイヤグラムに示すように中心を位置ｄに移
した畳込核関数と測定値ｆ(d)との積で与えられ
る。
四つの一次元畳込核関数K1乃至K4を使用する
場合の数値例は次のようなものである。
場合の数値例は次のようなものである。
(a) K1（０）＝１、K1（±ｌ）＝−
１／（2l−１）（2l＋１）、 ｌ＝１、２、２、……… (b) K2（０）＝１、K2（±１）＝−１／２、K2（±ｌ
） ＝０、 ｌ＝２、３、４、……… (c) K3（０）＝１、K3（±１）＝−１／２−（２／３
）3 K3（±ｌ）＝Ｑ｛１／（2l−１）3−１／（2l＋１）3
｝、 ｌ＝２、３、４、……… Ｑ＝４／２−（２／３）3、 (d) K4（０）＝１、K4（±１）＝−２／３、K4（±２
） ＝１／６ K4（±ｌ）＝０、ｌ＝３、４、５……… ここではK1は前述の公知方法の畳込核関数で
ある。核関数K1とK3は原理的には無限個数の零
でない値を持つのに対してK2とK4は第３位置ま
たは第５位置だけで零でない値を持つ。場合によ
つてはこれらの蓄積された核関数中に一つだけを
畳込み操作に使用する方が有利である。例えば核
K2とK4の一つだけを使用すると核K1を使用する
場合と比べて畳込み操作が著しく簡単となる。従
つて複数の核関数を準備することにより核関数
K1を使用する畳込みの場合よりも畳込み計算手
続きを著しく低減することができる。
１／（2l−１）（2l＋１）、 ｌ＝１、２、２、……… (b) K2（０）＝１、K2（±１）＝−１／２、K2（±ｌ
） ＝０、 ｌ＝２、３、４、……… (c) K3（０）＝１、K3（±１）＝−１／２−（２／３
）3 K3（±ｌ）＝Ｑ｛１／（2l−１）3−１／（2l＋１）3
｝、 ｌ＝２、３、４、……… Ｑ＝４／２−（２／３）3、 (d) K4（０）＝１、K4（±１）＝−２／３、K4（±２
） ＝１／６ K4（±ｌ）＝０、ｌ＝３、４、５……… ここではK1は前述の公知方法の畳込核関数で
ある。核関数K1とK3は原理的には無限個数の零
でない値を持つのに対してK2とK4は第３位置ま
たは第５位置だけで零でない値を持つ。場合によ
つてはこれらの蓄積された核関数中に一つだけを
畳込み操作に使用する方が有利である。例えば核
K2とK4の一つだけを使用すると核K1を使用する
場合と比べて畳込み操作が著しく簡単となる。従
つて複数の核関数を準備することにより核関数
K1を使用する畳込みの場合よりも畳込み計算手
続きを著しく低減することができる。
画像範囲全体に対して畳込み測定値列fK(j)を逆
投射することにより条帯画像１５（第４図）が作
られる。それぞれの条帯の減衰度は斜線密度によ
つて示されている。第５図に示すように種々の方
向（第５図には４方向だけが示されている）にお
いての条帯画像を重ね合わせると画像要素１２中
の減衰係数μが求められる。蓄積されている別の
畳込核K2乃至K4を使用することにより画像要素
１２の画像パルス応答関数１７の回転対称伝搬に
対する負値が得られる。この画像パルス応答関数
は一つの中心パルス１８と図に同心円１９で示さ
れている回転対称関数部分から成る。負値は断層
像の細分化を高めコントラスト特性を変化させ
る。
投射することにより条帯画像１５（第４図）が作
られる。それぞれの条帯の減衰度は斜線密度によ
つて示されている。第５図に示すように種々の方
向（第５図には４方向だけが示されている）にお
いての条帯画像を重ね合わせると画像要素１２中
の減衰係数μが求められる。蓄積されている別の
畳込核K2乃至K4を使用することにより画像要素
１２の画像パルス応答関数１７の回転対称伝搬に
対する負値が得られる。この画像パルス応答関数
は一つの中心パルス１８と図に同心円１９で示さ
れている回転対称関数部分から成る。負値は断層
像の細分化を高めコントラスト特性を変化させ
る。
第１図乃至第５図に示した特定の画像要素１２
に対する例においてはこの画像要素と使用された
畳込核関数Ｋに属する画像パルス応答関数が求め
られる。ここで画像パルス応答関数というのは測
定値に畳込みを行つて得られる関数である。
に対する例においてはこの画像要素と使用された
畳込核関数Ｋに属する画像パルス応答関数が求め
られる。ここで画像パルス応答関数というのは測
定値に畳込みを行つて得られる関数である。
個々の畳込核関数Ｋの物体断層像の画像パルス
応答関数Ｂ（ｒ）との関係を第６図乃至第１０図
に示す。核Ｋからの逆投射により第６図に示した
数値ｋを持つ条帯像が作られる。この場合畳込核
は対称関数であつてＫ（±ｌ）＝ｋ、ｌ＝０、１、
２、３、………である。画像パルス応答関数応答
関数Ｂ（ｒ）は良い近似で半径r1乃至r5の同心円
に沿つた条帯像関数の積分をｒで除したものとな
る。最小積分路の半径r0は図に示されていない。
応答関数Ｂ（ｒ）との関係を第６図乃至第１０図
に示す。核Ｋからの逆投射により第６図に示した
数値ｋを持つ条帯像が作られる。この場合畳込核
は対称関数であつてＫ（±ｌ）＝ｋ、ｌ＝０、１、
２、３、………である。画像パルス応答関数応答
関数Ｂ（ｒ）は良い近似で半径r1乃至r5の同心円
に沿つた条帯像関数の積分をｒで除したものとな
る。最小積分路の半径r0は図に示されていない。
核K1に対する画像パルス応答関数B1（ｒ）の
形を第７図に示す。畳込核K1に対しては僅かの
負値部分があることが図示されている。この負値
部分は第８図の畳込核K2に対する画像パルス応
答関数B2（ｒ）、第９図の畳込核K3に対する画像
パルス応答関数B3（ｒ）および第１０図の畳込核
K4に対する画像パルス応答関数B4（ｒ）におい
て順次に拡がつている。これらの負値部分により
断層像の微分化が高まり、そのコントラスト特性
が変化する。これによつて第１１図に示すように
断層面５０中の種々の像区域４３，４５，４７お
よび４９の輪郭４２，４４，４６および４８の鮮
明度およびこれらの区域間の明度差を選択的に調
節することができる。図において明度の差異は斜
線密度によつて示されている。
形を第７図に示す。畳込核K1に対しては僅かの
負値部分があることが図示されている。この負値
部分は第８図の畳込核K2に対する画像パルス応
答関数B2（ｒ）、第９図の畳込核K3に対する画像
パルス応答関数B3（ｒ）および第１０図の畳込核
K4に対する画像パルス応答関数B4（ｒ）におい
て順次に拡がつている。これらの負値部分により
断層像の微分化が高まり、そのコントラスト特性
が変化する。これによつて第１１図に示すように
断層面５０中の種々の像区域４３，４５，４７お
よび４９の輪郭４２，４４，４６および４８の鮮
明度およびこれらの区域間の明度差を選択的に調
節することができる。図において明度の差異は斜
線密度によつて示されている。
この発明の方法を実施する装置において測定値
から断層像を構成する過程を第１２図に示す。４
は放射線源例えばＸ線管状、１０は検出器であ
る。断層像を作る物体は２０で示されている。こ
の物体には水を満たしたキヤツプ２２をかぶせ、
容器２４内に収めて多数回の測定中物体が移動し
ないようにする。検出器１０から測定値とに送り
出されたアナログ電気信号はアナログ・デイジタ
ル変換器２６を通してデイジタル信号となりデー
タ中間メモリ２８を通して電子計算機３０に送ら
れる。この計算機は減衰測定結果から被検断層の
減衰係数マトリツクスを計算する。その結果は例
えば電子印刷機によつて表示することができる。
から断層像を構成する過程を第１２図に示す。４
は放射線源例えばＸ線管状、１０は検出器であ
る。断層像を作る物体は２０で示されている。こ
の物体には水を満たしたキヤツプ２２をかぶせ、
容器２４内に収めて多数回の測定中物体が移動し
ないようにする。検出器１０から測定値とに送り
出されたアナログ電気信号はアナログ・デイジタ
ル変換器２６を通してデイジタル信号となりデー
タ中間メモリ２８を通して電子計算機３０に送ら
れる。この計算機は減衰測定結果から被検断層の
減衰係数マトリツクスを計算する。その結果は例
えば電子印刷機によつて表示することができる。
このような数字像は比較的判続し難いからこの
減衰係数マトリツクスに含まれる情報をデイジタ
ル・アナログ変換器３２を通して画像信号に変換
して視覚表示装置３４上に表示し、場合によつて
はその画像スクリーンを写真撮影する。
減衰係数マトリツクスに含まれる情報をデイジタ
ル・アナログ変換器３２を通して画像信号に変換
して視覚表示装置３４上に表示し、場合によつて
はその画像スクリーンを写真撮影する。
この公知装置にこの発明により一つの補助装置
３６を付設する（第１２図）。この装置は第２図
の補正された測定値列に対する畳込核として固定
記憶されている複数の畳込核関数の任意の線形結
合を使用することができるようにするものであ
る。例えば関数としてK1乃至K4を選ぶとその線
形結合は定数c1乃至c4を使用して Ｋ(l)＝c1・K1(l)＋c2・K2(l)＋c3・K3(l)＋c4・K4
(l) で表される。重価係数ciは補助装置３６の調節ノ
ブ３７乃至４０によつて所望の値に設定されこの
値が電子計算機３０の記憶装置に書き込まれる。
このように調節された畳込核関数を使用すると畳
込核K1乃至K4のそれぞれに対する画像パルス応
答関数B1乃至B4から同じ重価係数ciを使用して
構成した線形結合 Ｂ（ｒ）＝c1・B1（ｒ）＋c2・B2（ｒ）＋c3・B3（
ｒ）＋c4・B4（ｒ） で表される画像パルス応答関数Ｂ（ｒ）が作られ
る。
３６を付設する（第１２図）。この装置は第２図
の補正された測定値列に対する畳込核として固定
記憶されている複数の畳込核関数の任意の線形結
合を使用することができるようにするものであ
る。例えば関数としてK1乃至K4を選ぶとその線
形結合は定数c1乃至c4を使用して Ｋ(l)＝c1・K1(l)＋c2・K2(l)＋c3・K3(l)＋c4・K4
(l) で表される。重価係数ciは補助装置３６の調節ノ
ブ３７乃至４０によつて所望の値に設定されこの
値が電子計算機３０の記憶装置に書き込まれる。
このように調節された畳込核関数を使用すると畳
込核K1乃至K4のそれぞれに対する画像パルス応
答関数B1乃至B4から同じ重価係数ciを使用して
構成した線形結合 Ｂ（ｒ）＝c1・B1（ｒ）＋c2・B2（ｒ）＋c3・B3（
ｒ）＋c4・B4（ｒ） で表される画像パルス応答関数Ｂ（ｒ）が作られ
る。
数値式の断層像再生方法は補正された個別測定
値例の畳込核関数に関して無傷害重ね合わせの特
性を持つ、従つて重価係数ciが自由に選ばれるこ
とにより特定数の基本コントラスト種類の設定が
可能となるばかりでなくそれらを任意に混合する
ことも可能である。
値例の畳込核関数に関して無傷害重ね合わせの特
性を持つ、従つて重価係数ciが自由に選ばれるこ
とにより特定数の基本コントラスト種類の設定が
可能となるばかりでなくそれらを任意に混合する
ことも可能である。
多数の畳込核関数を特定の混合比で混合したも
のをそれぞれの調節ノブに与えておくことも可能
である。第１２図に示したように４個の調節ノブ
の代わりに例えば画像区域４３，４５，４７，４
９の輪郭４２，４４，４６および４８の鮮明度を
調節するノブ、隣り合つた区域の間の明度差を調
節するノブおよび区域４３，４５，４７と断層像
５０の下地との間の明度差を調節するノブを設け
ることができる。
のをそれぞれの調節ノブに与えておくことも可能
である。第１２図に示したように４個の調節ノブ
の代わりに例えば画像区域４３，４５，４７，４
９の輪郭４２，４４，４６および４８の鮮明度を
調節するノブ、隣り合つた区域の間の明度差を調
節するノブおよび区域４３，４５，４７と断層像
５０の下地との間の明度差を調節するノブを設け
ることができる。
この発明によれば任意の対象物の断層像を作る
ことができる。例えば材料の非破砕検査に対して
もこの発明は適している。
ことができる。例えば材料の非破砕検査に対して
もこの発明は適している。
第１図乃至第５図はこの発明の実施過程の五段
階を示し、第６図は一つの畳込核関数から画像パ
ルス応答関数が構成される情況を示し、第７図乃
至第１１図は画像のコントラストに対する畳込核
関数の影響を説明する図面であり、第１２図はこ
の発明による装置のブロツク図である。第１２図
においては４は放射線源、２０は被検体、１０は
放射線検出器、３０は電子計算機、３４は画像表
示装置、３６は重価係数入力装置である。
階を示し、第６図は一つの畳込核関数から画像パ
ルス応答関数が構成される情況を示し、第７図乃
至第１１図は画像のコントラストに対する畳込核
関数の影響を説明する図面であり、第１２図はこ
の発明による装置のブロツク図である。第１２図
においては４は放射線源、２０は被検体、１０は
放射線検出器、３０は電子計算機、３４は画像表
示装置、３６は重価係数入力装置である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 物体をある断面において相互に異なる方向に
透過する電離性の放射線の測定された全吸収値の
分布から物体断層像を作成する装置であつて、放
射線検出器が備えられ、これに測定値変換器２６
および各測定列の測定値の補正のために、ないし
測定列の畳込みおよび畳込みされた測定列の加法
的重ね合わせのために備えられた電子計算機３０
が所属されるようになつたものにおいて、 (a) 電子計算機３０は、複数の各畳込核（K1な
いしK4）に対する記憶場所および重価係数
（Ci）の格納のための記憶場所を含み、 (b) 電子計算機３０は、付加的な選択された重価
係数（Ci）の入力装置３６を備え、 (c) 電子計算機３０は選択された重価係数（Ci）
により重み付けされた各個の畳込み核の加法的
重ね合わせから形成される畳込核による畳込み
のために備えられていることを特徴とする物体
断層像作成装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2537333A DE2537333C3 (de) | 1975-08-21 | 1975-08-21 | Verfahren zum Herstellen eines Körperschnittbildes aus der Absorptionsverteilung ionisierender Strahlen nach dem Faltungsverfahren und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5242087A JPS5242087A (en) | 1977-04-01 |
| JPS6327010B2 true JPS6327010B2 (ja) | 1988-06-01 |
Family
ID=5954550
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51095889A Granted JPS5242087A (en) | 1975-08-21 | 1976-08-11 | Method and device for forming sectional body picture |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4149250A (ja) |
| JP (1) | JPS5242087A (ja) |
| DE (1) | DE2537333C3 (ja) |
| FR (1) | FR2321726A1 (ja) |
| GB (1) | GB1544131A (ja) |
| NL (1) | NL7605770A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4433380A (en) * | 1975-11-25 | 1984-02-21 | Philips Medical Systems, Inc. | Tomographic scanner |
| NL7612959A (nl) * | 1975-11-25 | 1977-05-27 | Philips Med Syst Inc | Werkwijze en inrichting voor tomografie met be- hulp van een komputer. |
| JPS5459856A (en) * | 1977-10-21 | 1979-05-14 | Hitachi Medical Corp | Xxray sectional image reproducer |
| GB1602071A (en) * | 1978-05-12 | 1981-11-04 | Emi Ltd | Processing arrangements for medical examination |
| GB1602072A (en) * | 1978-05-12 | 1981-11-04 | Emi Ltd | Processing arrangements for constructing representations of parts of bodies |
| US4222104A (en) * | 1978-11-02 | 1980-09-09 | E M I Limited | Radiography |
| US4323973A (en) * | 1979-12-20 | 1982-04-06 | Greenfield George B | Apparatus and method for enhancing radiographs |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3867634A (en) * | 1968-08-23 | 1975-02-18 | Emi Ltd | Body portion support for use with penetrating radiation examination apparatus |
| GB1283915A (en) * | 1968-08-23 | 1972-08-02 | Emi Ltd | A method of and apparatus for examination of a body by radiation such as x or gamma radiation |
| US3944833A (en) * | 1968-08-23 | 1976-03-16 | E M I Limited | Apparatus for examining a body by radiation such as X or gamma radiation |
| GB1471531A (en) * | 1973-04-25 | 1977-04-27 | Emi Ltd | Radiography |
| DE2504560A1 (de) * | 1973-04-25 | 1975-08-14 | Emi Ltd | System zur bestimmung der absorption einer strahlung |
| US3894181A (en) * | 1973-06-14 | 1975-07-08 | Wisconsin Alumni Res Found | Differential enhancement of periodically variable images |
| GB1505653A (en) * | 1974-07-11 | 1978-03-30 | Emi Ltd | Radiography |
| JPS522186A (en) * | 1974-11-29 | 1977-01-08 | Univ Leland Stanford Junior | Device for detecting and stopping divergent transmissive radiation and threeedimensional sectional camera device |
-
1975
- 1975-08-21 DE DE2537333A patent/DE2537333C3/de not_active Expired
-
1976
- 1976-05-28 NL NL7605770A patent/NL7605770A/xx not_active Application Discontinuation
- 1976-08-10 GB GB33317/76A patent/GB1544131A/en not_active Expired
- 1976-08-11 JP JP51095889A patent/JPS5242087A/ja active Granted
- 1976-08-18 US US05/715,507 patent/US4149250A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-08-19 FR FR7625256A patent/FR2321726A1/fr active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2321726A1 (fr) | 1977-03-18 |
| DE2537333A1 (de) | 1977-02-24 |
| DE2537333B2 (de) | 1979-02-08 |
| US4149250A (en) | 1979-04-10 |
| GB1544131A (en) | 1979-04-11 |
| DE2537333C3 (de) | 1982-10-28 |
| FR2321726B1 (ja) | 1981-11-27 |
| JPS5242087A (en) | 1977-04-01 |
| NL7605770A (nl) | 1977-02-23 |
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