JPS63266302A - レ−ザ測長装置 - Google Patents
レ−ザ測長装置Info
- Publication number
- JPS63266302A JPS63266302A JP10284787A JP10284787A JPS63266302A JP S63266302 A JPS63266302 A JP S63266302A JP 10284787 A JP10284787 A JP 10284787A JP 10284787 A JP10284787 A JP 10284787A JP S63266302 A JPS63266302 A JP S63266302A
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- Japan
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- light
- period
- distance
- laser light
- beam splitter
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- Pending
Links
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 24
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- 238000013139 quantization Methods 0.000 abstract description 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 230000035559 beat frequency Effects 0.000 description 2
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Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、たとえばX−Yステージの移動体を精密に位
置決めするときなどに用いるレーザ測長装置に関する。
置決めするときなどに用いるレーザ測長装置に関する。
光の干渉を利用した従来のレーザ測長器の構成例を第3
図に示す。この方法はHe −Neレーザ発振器20か
ら単一波長のレーザ光を射出させ、ビームスプリッタ4
によって2つに分岐し、一方の光ビームは基準光路を通
って参照鏡5に、他方の光ビームは移動ステージ11上
に固定した移動鏡6に黒山させ、それぞれの鏡からの反
射光をビームスプリッタ4を介してミキシングし、これ
によって生ずる干渉光を分割ミラー21を介して受光器
22・23に入射させ9位相が90°ずれた2つの波E
、Fを発生させる。この出力をプリアンプ24で増幅し
。
図に示す。この方法はHe −Neレーザ発振器20か
ら単一波長のレーザ光を射出させ、ビームスプリッタ4
によって2つに分岐し、一方の光ビームは基準光路を通
って参照鏡5に、他方の光ビームは移動ステージ11上
に固定した移動鏡6に黒山させ、それぞれの鏡からの反
射光をビームスプリッタ4を介してミキシングし、これ
によって生ずる干渉光を分割ミラー21を介して受光器
22・23に入射させ9位相が90°ずれた2つの波E
、Fを発生させる。この出力をプリアンプ24で増幅し
。
加速カウンタ25で、波Eの零クロス点で発生させたパ
ルスP1を移動方向によって波Fのプラス側で発生させ
たパルスP2の1または0との論理演算によって計測し
、距離演算回路26で移動量と移動方向を演算するもの
である。12はステージ移動用モータである。
ルスP1を移動方向によって波Fのプラス側で発生させ
たパルスP2の1または0との論理演算によって計測し
、距離演算回路26で移動量と移動方向を演算するもの
である。12はステージ移動用モータである。
しかるに、この方法では受光器からの干渉波によって得
られるパルス信号を、ステージの移動方向ごとにカウン
トするインクリメンタルな計測であるため、なんらかの
障害物が光路中を一瞬でも通過した場合、蓄積データが
更新されステージの位置情報を失なってしまい計測が不
能になる欠点があった。
られるパルス信号を、ステージの移動方向ごとにカウン
トするインクリメンタルな計測であるため、なんらかの
障害物が光路中を一瞬でも通過した場合、蓄積データが
更新されステージの位置情報を失なってしまい計測が不
能になる欠点があった。
また、使用しているレーザもガスレーザであるため形状
が大きく、光学系も複雑となり、装置が大型かつ高価に
なっている。
が大きく、光学系も複雑となり、装置が大型かつ高価に
なっている。
本発明の目的は、外乱ノイズに強くかつ、安価でコンパ
クトなレーザ測長装置を提供することにある。
クトなレーザ測長装置を提供することにある。
上記目的を達成するため1周波数を一定の周波数範囲内
で連続的に一定の割合で増減を繰り返すように変調させ
た半導体レーザ光を用い、参照鏡と被測定物の移動鏡に
照射し、それぞれの鏡から反射してきた光をミキシング
し、これによって参照鏡の基準光路長と移動鏡の測定光
路長との差に比例したビート波を発生させ、その周期を
計測することにより測定光路の絶対距離を検出するよう
にしている。
で連続的に一定の割合で増減を繰り返すように変調させ
た半導体レーザ光を用い、参照鏡と被測定物の移動鏡に
照射し、それぞれの鏡から反射してきた光をミキシング
し、これによって参照鏡の基準光路長と移動鏡の測定光
路長との差に比例したビート波を発生させ、その周期を
計測することにより測定光路の絶対距離を検出するよう
にしている。
したがって、障害物が光路中を一時的に通過するなどに
よってレーザ光が遮断されても、再び照射されたときに
、変調されたレーザ光によるビート波で絶対距離を検出
しているため9位置情報を失うことがなく、継続して精
密な測定が行える。
よってレーザ光が遮断されても、再び照射されたときに
、変調されたレーザ光によるビート波で絶対距離を検出
しているため9位置情報を失うことがなく、継続して精
密な測定が行える。
以下に本発明を実施例によって詳細に説明する。
第1図は本発明のレーザ測長器の構成を示す図である。
1は周波数変調回路で、半導体レーザ発振器2から射出
されるレーザ光の波長を一定の割合で連続的に変調させ
る。このため、半導体レーザ発振器2への注入電流を一
定割合で連続的に変化させる。3は半導体レーザ発振器
からの射出光を平行にするコリメータレンズ、4はレー
ザ光を参照鏡5と、移動鏡6の両方に分配し、またそれ
ぞれの鏡から反射してきた光をミキシングするためのビ
ームスプリッタ、7はミキシングにより生じるビート信
号を検出する受光器、8はビート信号の周期を十分に高
い周波数のクロックを用いて訃 計数する周期係数回路、9は周期データから移動鏡の位
置を演算する距離演算回路、10は出力回路。
されるレーザ光の波長を一定の割合で連続的に変調させ
る。このため、半導体レーザ発振器2への注入電流を一
定割合で連続的に変化させる。3は半導体レーザ発振器
からの射出光を平行にするコリメータレンズ、4はレー
ザ光を参照鏡5と、移動鏡6の両方に分配し、またそれ
ぞれの鏡から反射してきた光をミキシングするためのビ
ームスプリッタ、7はミキシングにより生じるビート信
号を検出する受光器、8はビート信号の周期を十分に高
い周波数のクロックを用いて訃 計数する周期係数回路、9は周期データから移動鏡の位
置を演算する距離演算回路、10は出力回路。
11は移動ステージ、12はステージ移動用モータであ
る。
る。
以下その動作について説明する。
半導体レーザ発振器2からレーザ光を射出させ。
歳
周波数変調回路1からの注入電會を半導体レーザ光の周
波数が急激に変化するモードホップを起こさない周波数
範囲内(0,1%以下)で直線的たとえば三角波状に変
化させると、注入電流に比例して、半導体レーザ光の周
波数が変化し1次式(1)で示される周波数fで周波数
変調される。
波数が急激に変化するモードホップを起こさない周波数
範囲内(0,1%以下)で直線的たとえば三角波状に変
化させると、注入電流に比例して、半導体レーザ光の周
波数が変化し1次式(1)で示される周波数fで周波数
変調される。
r= fo+ tt ・・・
・・・・・・(1)(ただしf。は変調開始点の周波数
、iは周波数変化率、tは時間) この、半導体レーザ光は、コリメータレンズ3を通りビ
ームスプリッタ4で2つに分岐され、方向が90°曲げ
られた一方の光ビームは基準光路の参照鏡5に当って反
射され、ビームスプリッタ4を通り、受光器7に入射す
る。この基準光Aは次式(2)で表わされる。
・・・・・・(1)(ただしf。は変調開始点の周波数
、iは周波数変化率、tは時間) この、半導体レーザ光は、コリメータレンズ3を通りビ
ームスプリッタ4で2つに分岐され、方向が90°曲げ
られた一方の光ビームは基準光路の参照鏡5に当って反
射され、ビームスプリッタ4を通り、受光器7に入射す
る。この基準光Aは次式(2)で表わされる。
Δ=A1exp (−2πj (fo+4t) t)
・+−+・−・(2)(ただしAIは初期の基準
光の強度) また、ビームスプリッタ4を通過した他方の光ビームは
、移動鏡6に当って反射し、ビームスプリッタ4で方向
が90°曲げられて受光器7に入射される。この測定光
Bは基準光Aに対する時間遅れをτ、光路差をRとすれ
ば次式(3)で表わされる。
・+−+・−・(2)(ただしAIは初期の基準
光の強度) また、ビームスプリッタ4を通過した他方の光ビームは
、移動鏡6に当って反射し、ビームスプリッタ4で方向
が90°曲げられて受光器7に入射される。この測定光
Bは基準光Aに対する時間遅れをτ、光路差をRとすれ
ば次式(3)で表わされる。
B=Biexp [2πj (f+f (t r)
)×(t−τ)] ・・・・・・・・
・(3)(ただし、Bは初期の測定光強度、τ=2R/
C,Cは光速) 受光器7では基準光Aと測定光Bがミキシングる。
)×(t−τ)] ・・・・・・・・
・(3)(ただし、Bは初期の測定光強度、τ=2R/
C,Cは光速) 受光器7では基準光Aと測定光Bがミキシングる。
V1= l A+B l =AI +B1 +
2 AIBtCos (2tt (fr +lr t、
rτ2) ) ・===・・I4)ただし、
?τ2<<frで、無視でき、また。
2 AIBtCos (2tt (fr +lr t、
rτ2) ) ・===・・I4)ただし、
?τ2<<frで、無視でき、また。
(4)式の交流分のみをとり出すと、受光器の出力v2
は次式(5)の信号となる。
は次式(5)の信号となる。
V2= 2AIBICos [2x (fr +fr
t) )・・・・・・・・・(5) (5)式の第2項目がビート信号の周波数fbとなり次
式(6)で表わされる。
t) )・・・・・・・・・(5) (5)式の第2項目がビート信号の周波数fbとなり次
式(6)で表わされる。
化=i−τ=i・2 R/C・・・・・・・・・(6)
(6)式かられかるようにビート周波数は光路差Rに比
例し、 R=c−rb/2iで表わされる。
(6)式かられかるようにビート周波数は光路差Rに比
例し、 R=c−rb/2iで表わされる。
しかし、ビート信号の周波数fbを計数する場合。
周波数偏位量をΔFとすればC/(4・ΔF)の量子化
誤差を生じ、ΔFが50GHzの場合はこの量子化誤差
が1.5mmになり、大きな誤差値となる。
誤差を生じ、ΔFが50GHzの場合はこの量子化誤差
が1.5mmになり、大きな誤差値となる。
このため1周波数fbを計数するかわりに、ビート信号
の周期Tb (= 1 /fb)を計測し、この周期デ
ータを距離演算回路9に与え、R=C/2?パTbによ
り、光路差Rを演算して出力回路10を介して距離に応
じた信号を出力させる。
の周期Tb (= 1 /fb)を計測し、この周期デ
ータを距離演算回路9に与え、R=C/2?パTbによ
り、光路差Rを演算して出力回路10を介して距離に応
じた信号を出力させる。
しかして、ビート周期Tcのクロックを用いて計数すれ
ばその量子化誤差ΔRは次式で表わされる。
ばその量子化誤差ΔRは次式で表わされる。
△R/R=Tc/Tb= 1/N
いま、R=10mmでN=105とすれば量子化誤差△
Rは0.1μmになる。
Rは0.1μmになる。
したがって、クロック周期Tcを、光路差Rが最大のと
きのビート周期Tbの1/N(たとえばN=10’〜1
05に相当するようにしておけば量子化誤差△Rを小さ
な値に保持でき精度の良い測定ができる。
きのビート周期Tbの1/N(たとえばN=10’〜1
05に相当するようにしておけば量子化誤差△Rを小さ
な値に保持でき精度の良い測定ができる。
本発明の他の応用例を第2図に示す。
この応用例はビームスプリッタ4と移動鏡6との間の光
路に定偏波光ファイバ13を設け、その端を移動鏡に対
向して固定させるようにしである。
路に定偏波光ファイバ13を設け、その端を移動鏡に対
向して固定させるようにしである。
定偏波光ファイバは光の位相情報を伝達でき、移動鏡の
位置をビームスプリッタに対向させる必要がなく、移動
ステージと光学系とを自由に配置することができる。
位置をビームスプリッタに対向させる必要がなく、移動
ステージと光学系とを自由に配置することができる。
なお、移動ステージを離すことにより測定光路が長くな
ると、ビート周期が短くなり1周期計数クロックとの比
から量子化誤差が増大する恐れがあるが、基準光路にも
定偏波光ファイバを用いて。
ると、ビート周期が短くなり1周期計数クロックとの比
から量子化誤差が増大する恐れがあるが、基準光路にも
定偏波光ファイバを用いて。
その先端部に全反射させるためのコーティング14を施
し、前記測定光路の定偏波光ファイバと同程度の長さに
することによってビート周波数を下げ。
し、前記測定光路の定偏波光ファイバと同程度の長さに
することによってビート周波数を下げ。
量子化誤差の増大を防止することができる。
このように1本発明によるとモードホップを起さない一
定範囲内で連続的に周波数変調した半導体レーザ光を用
い、距離に比例したビート信号の周期から絶対距離を演
算導出するため、たとえ障害物が光路中を一時的に通過
しても位置情報を失うことはなく9周期を計測するため
、測定クロックの周期を小さくして量子化誤差を小さく
することができ、精密な測定を行うことができ、さらに
。
定範囲内で連続的に周波数変調した半導体レーザ光を用
い、距離に比例したビート信号の周期から絶対距離を演
算導出するため、たとえ障害物が光路中を一時的に通過
しても位置情報を失うことはなく9周期を計測するため
、測定クロックの周期を小さくして量子化誤差を小さく
することができ、精密な測定を行うことができ、さらに
。
光学系も簡単であるため、小形で安価な測長装置を提供
できる効果がある。
できる効果がある。
第1図は本発明のレーザ測長装置の構成を示すブロック
図、第2図は2本発明の他の実施例の要部を示すブロッ
ク図、第3図は従来のレーザ測長器の構成を示すブロッ
ク図、第4図は従来装置による干渉光の波形とパルスの
タイムチャートである。 1は周波数変調回路、2は半導体レーザ発振器。 4はビームスプリッタ、5は参照鏡、6は移動鏡。 7は受光器、8は周期計数回路、9は距離演算回路、1
3は定偏波光ファイバを示す。 第 1 図 第 2 圓 第4図 円 ゛
図、第2図は2本発明の他の実施例の要部を示すブロッ
ク図、第3図は従来のレーザ測長器の構成を示すブロッ
ク図、第4図は従来装置による干渉光の波形とパルスの
タイムチャートである。 1は周波数変調回路、2は半導体レーザ発振器。 4はビームスプリッタ、5は参照鏡、6は移動鏡。 7は受光器、8は周期計数回路、9は距離演算回路、1
3は定偏波光ファイバを示す。 第 1 図 第 2 圓 第4図 円 ゛
Claims (1)
- レーザ光の光干渉を利用した測長装置において、モード
ポップを起さない範囲で周波数を連続的に一定割合の増
減を繰り返すように変調させた半導体レーザ光を2方向
に分岐し、一方の光ビームを基準光路端に設けた参照鏡
に他方の光ビームを被測定物に固定した反射鏡に照射し
て、それぞれの反射光をミキシングし、光の干渉によっ
て発生するビート波の周期により前記反射鏡の距離を演
算することを特徴とするレーザ測長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10284787A JPS63266302A (ja) | 1987-04-24 | 1987-04-24 | レ−ザ測長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10284787A JPS63266302A (ja) | 1987-04-24 | 1987-04-24 | レ−ザ測長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63266302A true JPS63266302A (ja) | 1988-11-02 |
Family
ID=14338341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10284787A Pending JPS63266302A (ja) | 1987-04-24 | 1987-04-24 | レ−ザ測長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63266302A (ja) |
-
1987
- 1987-04-24 JP JP10284787A patent/JPS63266302A/ja active Pending
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