JPS63243782A - 放射線デ−タ収集処理装置 - Google Patents
放射線デ−タ収集処理装置Info
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- JPS63243782A JPS63243782A JP62075860A JP7586087A JPS63243782A JP S63243782 A JPS63243782 A JP S63243782A JP 62075860 A JP62075860 A JP 62075860A JP 7586087 A JP7586087 A JP 7586087A JP S63243782 A JPS63243782 A JP S63243782A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 13
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Radiation (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「発明の目的」
(産業上の利用分野)
被検体に放射線を照射して、この被検体を透過した放射
線量を測定して被検体の検査等を行なう装置に用いる放
射線データ収集処理装置に関する。
線量を測定して被検体の検査等を行なう装置に用いる放
射線データ収集処理装置に関する。
(従来の技術)
従来、放射線データ収集処理装置は例えばCT (Co
mputerized Tomography )ス
キャナ装置に用いられる場合には、第7図に示すように
通常放射線データ収集処理装置としての放射線検出器1
10a、110a、・・・、を多数並設して一体に構成
した放射線検出部110として用いられていた。
mputerized Tomography )ス
キャナ装置に用いられる場合には、第7図に示すように
通常放射線データ収集処理装置としての放射線検出器1
10a、110a、・・・、を多数並設して一体に構成
した放射線検出部110として用いられていた。
この放射線検出部110は温度変化によって、その出力
特性が変化するため通常、温度コントロール装[117
によって内部温度が一定に保たれた断熱箱113に内装
されて使用されていた。
特性が変化するため通常、温度コントロール装[117
によって内部温度が一定に保たれた断熱箱113に内装
されて使用されていた。
この温度コントロール装置117は、上記放射線検出部
110の近傍に配設した温度センサ1゜7によって検出
される検出温度を一定に保つように冷部空気を断熱箱1
13内を循環させて、放射線検出部110の温度を定温
状態に保つものである。
110の近傍に配設した温度センサ1゜7によって検出
される検出温度を一定に保つように冷部空気を断熱箱1
13内を循環させて、放射線検出部110の温度を定温
状態に保つものである。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、多数の放射線検出器110a。
110a、・・・、からなる放射線検出部110を断熱
箱113に内装する方法は装置全体が大型化し、さらに
発熱する放射線検出部110全体の温度を均一に保つた
めには温度コントロール装置117の能力を大型にして
余裕を持たせるようにしなければならなかった。また個
々の放射線検出器11Qa、110a、・・・、の温度
変化に対する出力特性がそれぞれ微妙に異なることもあ
って、全ての放射線検出器110a 、 110a 、
・・・、に適した温度コントロールを行なうことは、困
難である等の問題も有していた。
箱113に内装する方法は装置全体が大型化し、さらに
発熱する放射線検出部110全体の温度を均一に保つた
めには温度コントロール装置117の能力を大型にして
余裕を持たせるようにしなければならなかった。また個
々の放射線検出器11Qa、110a、・・・、の温度
変化に対する出力特性がそれぞれ微妙に異なることもあ
って、全ての放射線検出器110a 、 110a 、
・・・、に適した温度コントロールを行なうことは、困
難である等の問題も有していた。
本発明は上記に鑑みてなされたもので、その目的として
は、装置全体を小型化し、かつ1度コントロール装置に
依存しない放射線データ収集処理装置を提供することに
ある。
は、装置全体を小型化し、かつ1度コントロール装置に
依存しない放射線データ収集処理装置を提供することに
ある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成するため、本発明は、放!>I Ill
に関するデータを収集する放射線検出手段と、この放射
線検出手段のデータ出力を増幅する出力増幅手段と、温
セを検出する温度センサと、この温度センサの検出した
温度データに基いて上記放射線検出手段の収集した放射
線データの補正を行なうデータ補正手段とを有して構成
した。
に関するデータを収集する放射線検出手段と、この放射
線検出手段のデータ出力を増幅する出力増幅手段と、温
セを検出する温度センサと、この温度センサの検出した
温度データに基いて上記放射線検出手段の収集した放射
線データの補正を行なうデータ補正手段とを有して構成
した。
く作用)
本発明における放射線データ収集処理装置においては、
データ補正手段は、放射線検出手段が収集した放射線に
関するデータ出力を、出力増幅手段によって増幅した後
に、温度センサが検出した放射線検出手段や出力増幅手
段等の温度データに基いて、補正するようにしたので、
放射線検出手段等の周囲の温度が変化しても、適正な値
の放射線に関するデータを収集することができる。
データ補正手段は、放射線検出手段が収集した放射線に
関するデータ出力を、出力増幅手段によって増幅した後
に、温度センサが検出した放射線検出手段や出力増幅手
段等の温度データに基いて、補正するようにしたので、
放射線検出手段等の周囲の温度が変化しても、適正な値
の放射線に関するデータを収集することができる。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を図面を参考にして説明する。
本実施例の全体の構成の概略は第2図の構成図に示すよ
うに、ファン状放射線Bを水平方向に放射する放射線源
Sと、被検体2を載置して垂直軸を中心に被検体2を所
定方向に回転する回転テーブル21と、上記放射線源S
から放射されたファン状放射線Bを検出するための多数
の検出器ユニット10a、10a、・・・、を放射線源
Sに対向させて水平に並設してなる放射線検出部10と
、この放射線検出部10から並列的に出力された多数の
投影データを並列的に収集し、順次出力するデータ収集
部4と、各種演算や機器の制御を行・なうCPU (中
央処理演算部)等を含み上記データ収集部4から入力し
た投影データにオフセット補正やビームハードニング補
正等の各種前処理を施すデータ処理部6と、このデータ
処理部6の出力データにコンボリューション処理、バッ
クプロジェクション処理を施し、上記被、検体2の特定
断面の断層画像を再構成する画像再構成部8と、上記放
射線検出部1oのリファレンスを補正する際の基本デー
タとなるリファレンスデータを収集するリファレンス検
出器9とからなる。
うに、ファン状放射線Bを水平方向に放射する放射線源
Sと、被検体2を載置して垂直軸を中心に被検体2を所
定方向に回転する回転テーブル21と、上記放射線源S
から放射されたファン状放射線Bを検出するための多数
の検出器ユニット10a、10a、・・・、を放射線源
Sに対向させて水平に並設してなる放射線検出部10と
、この放射線検出部10から並列的に出力された多数の
投影データを並列的に収集し、順次出力するデータ収集
部4と、各種演算や機器の制御を行・なうCPU (中
央処理演算部)等を含み上記データ収集部4から入力し
た投影データにオフセット補正やビームハードニング補
正等の各種前処理を施すデータ処理部6と、このデータ
処理部6の出力データにコンボリューション処理、バッ
クプロジェクション処理を施し、上記被、検体2の特定
断面の断層画像を再構成する画像再構成部8と、上記放
射線検出部1oのリファレンスを補正する際の基本デー
タとなるリファレンスデータを収集するリファレンス検
出器9とからなる。
次に放射線検出部10を構成する検出器ユニット10a
の構成について説明する。
の構成について説明する。
本実施例の検出器ユニット10aの構成は第1図に示す
ように放射線Bを一端から入射して、この放射線量に応
じた光量を発光するシンチレータ1と、このシンチレー
タダ1の発光量を検出する光センサ3と、この先センサ
3の検出信号を増幅しインピーダンスマツチング等の処
理を施す増幅部5と、この増幅部5と上記シンチレータ
1の上部にそれぞれ添設した温度センサ7A、7Bと、
この温度センサ7A、7Bと上記増幅部5の出力信号を
一方から並列に入力し、他方から順次出力するマルチプ
レクサ9と、上記シンチレータ1や増幅部5等を載設す
るユニット基台11と、このユニット基台11全体の上
部を覆うシールドケース13とからなる。
ように放射線Bを一端から入射して、この放射線量に応
じた光量を発光するシンチレータ1と、このシンチレー
タダ1の発光量を検出する光センサ3と、この先センサ
3の検出信号を増幅しインピーダンスマツチング等の処
理を施す増幅部5と、この増幅部5と上記シンチレータ
1の上部にそれぞれ添設した温度センサ7A、7Bと、
この温度センサ7A、7Bと上記増幅部5の出力信号を
一方から並列に入力し、他方から順次出力するマルチプ
レクサ9と、上記シンチレータ1や増幅部5等を載設す
るユニット基台11と、このユニット基台11全体の上
部を覆うシールドケース13とからなる。
次に本実施例における温度補正の手順を第3図および第
4図のフローチャートを参照して説明する。
4図のフローチャートを参照して説明する。
第3図は実際に被検体2を測定する前に実施される空気
データの収集の手順を示し、第4図は被検体2の特定断
面の断層画像を再構成するために被検体2を回転して行
なうスキャニングによって収集するスキャンデータ収集
の手順を示す。
データの収集の手順を示し、第4図は被検体2の特定断
面の断層画像を再構成するために被検体2を回転して行
なうスキャニングによって収集するスキャンデータ収集
の手順を示す。
最初に空気データの収集について説明する(第3図参照
)。
)。
放射線検出部10を用いた空気データの収集の際には、
空気データのリファレンス補正を行なうためのリファレ
ンスデータの収集をリファレンス検出器9を用いて並行
して行なう。
空気データのリファレンス補正を行なうためのリファレ
ンスデータの収集をリファレンス検出器9を用いて並行
して行なう。
まず、オフセットデータの収集を行なうと共に、増幅部
5の温度ToAとシンチレータ1の温度ToB(常態で
ToA=ToB)を温度センサ7Aによって検出する(
ステップ531)。次に放射線Bの照射を開始して1、
空気データの収集を行なうと共に増幅部5の温度T1A
を温度センサ7A。
5の温度ToAとシンチレータ1の温度ToB(常態で
ToA=ToB)を温度センサ7Aによって検出する(
ステップ531)。次に放射線Bの照射を開始して1、
空気データの収集を行なうと共に増幅部5の温度T1A
を温度センサ7A。
シンチレータ1の温度T+ 8を温度センサ7Bを用い
てそれぞれ検出しくステップ532)、この内助幅部5
の温度データTIAと前記温度データToAを基に前記
オフごットデータの温度補正を行った後に(ステップ5
33)、対数変換処理を施すくステップ534)ととも
に上記シンチレータ1の温度データTI B 、 To
Aを基にゲインの温度補正を行なう(ステップ535
)。
てそれぞれ検出しくステップ532)、この内助幅部5
の温度データTIAと前記温度データToAを基に前記
オフごットデータの温度補正を行った後に(ステップ5
33)、対数変換処理を施すくステップ534)ととも
に上記シンチレータ1の温度データTI B 、 To
Aを基にゲインの温度補正を行なう(ステップ535
)。
一方前記オフセットデータの収集時に、増幅部5のリフ
レンスに関するオフセットデータHOAの収集を行なっ
て(ステップ541)、同様に前記空気データ収集時に
収集したリファレンスデータの収集時に得た温度データ
H+A、HU8に基いた補正(ステップS43.545
)をそれぞれ行ない、この補正値をもってリファレンス
補正を行なって空気データを得て、放射線Bの照射を停
止する。
レンスに関するオフセットデータHOAの収集を行なっ
て(ステップ541)、同様に前記空気データ収集時に
収集したリファレンスデータの収集時に得た温度データ
H+A、HU8に基いた補正(ステップS43.545
)をそれぞれ行ない、この補正値をもってリファレンス
補正を行なって空気データを得て、放射線Bの照射を停
止する。
次に被検体2に関するスキャン収集を行なう(第4図参
照)。
照)。
オフセットデータの収集とリファレンスのオフセットデ
ータの収集とそれぞれの温度tQA、tgB、hoAの
検出を行ない(ステップs61゜571)、次に放射線
の照射を再開してから被検体2の投影データの収集時に
、増幅器5とシンチレータ1の温度データtl A、t
、Bの収集(ステップ562)とリファレンス検出器9
の温度データhI A、hlaの収集(ステップ572
)を行なう。次にオフセットデータをもとにしてスキャ
ンデータのオフセット補正(ステップS63゜873)
および増幅部5の温度データtlAを基にオフセットデ
ータの温度補正を行ない、さらに対数変換処理を行なう
(ステップ864.874)と共にゲイン補正(ステッ
プ865.875)を行ない、このときシンチレータ1
の温度データ【1Bを基にゲインの温度補正も行なう。
ータの収集とそれぞれの温度tQA、tgB、hoAの
検出を行ない(ステップs61゜571)、次に放射線
の照射を再開してから被検体2の投影データの収集時に
、増幅器5とシンチレータ1の温度データtl A、t
、Bの収集(ステップ562)とリファレンス検出器9
の温度データhI A、hlaの収集(ステップ572
)を行なう。次にオフセットデータをもとにしてスキャ
ンデータのオフセット補正(ステップS63゜873)
および増幅部5の温度データtlAを基にオフセットデ
ータの温度補正を行ない、さらに対数変換処理を行なう
(ステップ864.874)と共にゲイン補正(ステッ
プ865.875)を行ない、このときシンチレータ1
の温度データ【1Bを基にゲインの温度補正も行なう。
さらにリファレンス補正(ステップ866)を行なう。
次にこのステップS66で得られたリファレンス補正デ
ータに前記空気データによる空気補正(ステップ$67
)を行なってスキャンデータを得る。
ータに前記空気データによる空気補正(ステップ$67
)を行なってスキャンデータを得る。
第5図は増幅部5のオフセット出力Ioの温度特性を示
し、例えば前記ステップ861におけるオフセットデー
タ収集時の増幅部5の温度tQAがデータ収集時(ステ
ップ562)に温度tIAに上昇したときのオフセット
出力Ioの増加分ΔIOの補正を行なうことを示すもの
である。
し、例えば前記ステップ861におけるオフセットデー
タ収集時の増幅部5の温度tQAがデータ収集時(ステ
ップ562)に温度tIAに上昇したときのオフセット
出力Ioの増加分ΔIOの補正を行なうことを示すもの
である。
第6図はシンチレータ1の温度変化によるゲイン変動を
示し、例えば前記ステップS61におけるオフセットデ
ータ収集時のシンチレータ1の温度To Bがデータ収
集時(ステップ562)に温度tlBに上昇したときの
ゲインの変動分Δηの補正を行なうことを示すものであ
る。
示し、例えば前記ステップS61におけるオフセットデ
ータ収集時のシンチレータ1の温度To Bがデータ収
集時(ステップ562)に温度tlBに上昇したときの
ゲインの変動分Δηの補正を行なうことを示すものであ
る。
本実施例においては放射線検出手段として、シンチレー
タと光センサを用いた検出方法を説明したが、これに限
定されることなく例えば電離箱を用いても本願の目的を
達し得られ本願の要旨を逸脱するものではない。
タと光センサを用いた検出方法を説明したが、これに限
定されることなく例えば電離箱を用いても本願の目的を
達し得られ本願の要旨を逸脱するものではない。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によればシンチレータある
いは増幅部毎に異なる温度特性を、温度センサの検出温
度をもとに補正するようにしたので、精度の良い放射線
の投影データを得ることができる。
いは増幅部毎に異なる温度特性を、温度センサの検出温
度をもとに補正するようにしたので、精度の良い放射線
の投影データを得ることができる。
第1図乃至第6図は本発明の一実施例を示し、第1図は
本実施例の検出器ユニットの構成を示す構成図、第2図
は本実施例装置を含む全体の概略の構成を示す構成図、
第3図、第4図はデータの補正手順を示すフローチャー
ト、第5図は増幅部のオフセット出力の温度特性、第6
図はシンチレータのゲインの温度特性、第7図は従来の
概略構成図をそれぞれ示す。 1・・・シンチレータ 3・・・光センナ5・・・
増幅部 7・・・温度センサ9・・・マルチ
プレクサ B・・・放射線
本実施例の検出器ユニットの構成を示す構成図、第2図
は本実施例装置を含む全体の概略の構成を示す構成図、
第3図、第4図はデータの補正手順を示すフローチャー
ト、第5図は増幅部のオフセット出力の温度特性、第6
図はシンチレータのゲインの温度特性、第7図は従来の
概略構成図をそれぞれ示す。 1・・・シンチレータ 3・・・光センナ5・・・
増幅部 7・・・温度センサ9・・・マルチ
プレクサ B・・・放射線
Claims (2)
- (1)放射線に関するデータを収集する放射線検出手段
と、この放射線検出手段のデータ出力を増幅する出力増
幅手段と、温度を検出する温度センサと、この温度セン
サの検出した温度データに基いて上記放射線検出手段の
収集した放射線データの補正を行なうデータ補正手段と
を有することを特徴とする放射線データ収集処理装置。 - (2)前記放射線検出手段は、入射した放射線量に応じ
た光量を発光するシンチレータとこのシンチレータの発
光量を検出する光センサとからなり、前記温度センサは
、上記シンチレータと前記出力増幅手段の少なく共、一
方の温度を検出することを特徴とする特許請求の範囲第
1項に記載の放射線データ収集処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62075860A JPS63243782A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 放射線デ−タ収集処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62075860A JPS63243782A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 放射線デ−タ収集処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63243782A true JPS63243782A (ja) | 1988-10-11 |
Family
ID=13588416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62075860A Pending JPS63243782A (ja) | 1987-03-31 | 1987-03-31 | 放射線デ−タ収集処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63243782A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008126064A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | General Electric Co <Ge> | データ取得システムをセンサ・アレイに熱的に結合するインタフェイス・アセンブリ |
JP2014021040A (ja) * | 2012-07-23 | 2014-02-03 | Rigaku Corp | 温度補正方法及び放射線測定装置 |
JP2015000102A (ja) * | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
US8946644B2 (en) | 2010-12-20 | 2015-02-03 | Fujifilm Corporation | Radiation detector, method of manufacturing radiation detector, and radiographic image capturing apparatus incorporating radiation detector |
-
1987
- 1987-03-31 JP JP62075860A patent/JPS63243782A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008126064A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | General Electric Co <Ge> | データ取得システムをセンサ・アレイに熱的に結合するインタフェイス・アセンブリ |
US8946644B2 (en) | 2010-12-20 | 2015-02-03 | Fujifilm Corporation | Radiation detector, method of manufacturing radiation detector, and radiographic image capturing apparatus incorporating radiation detector |
JP2014021040A (ja) * | 2012-07-23 | 2014-02-03 | Rigaku Corp | 温度補正方法及び放射線測定装置 |
JP2015000102A (ja) * | 2013-06-13 | 2015-01-05 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
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