JPS63211406A - 自動制御装置の回路等検査装置 - Google Patents
自動制御装置の回路等検査装置Info
- Publication number
- JPS63211406A JPS63211406A JP62046157A JP4615787A JPS63211406A JP S63211406 A JPS63211406 A JP S63211406A JP 62046157 A JP62046157 A JP 62046157A JP 4615787 A JP4615787 A JP 4615787A JP S63211406 A JPS63211406 A JP S63211406A
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- Japan
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- control
- checker
- connector
- control circuit
- selecting
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 7
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 7
- 239000010903 husk Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Harvester Elements (AREA)
- Guiding Agricultural Machines (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、自動制御装置の検査方式に関するもので、
複数の制御機能毎の制御回路をチェッカーによって検査
する際等に利用できる。
複数の制御機能毎の制御回路をチェッカーによって検査
する際等に利用できる。
従来の技術、および発明が解決しようとする問題点
従来から自動制御装置の制御回路にはコンピュータを利
用しているものが多くその入出力インターフェースへの
接続回線が繁雑なために、これらを集合させた制御コネ
クターにより一括して連結するようにしているものが多
い、この制御コネクターは複数の制御回路においても同
一の形状のものを使用するのが普通であり、この複数の
制御回路の作動状態をチェッカーにより検査を行う場合
、通常各制御回路の制御コネクターとチェッカーのチェ
ックコネクターとを順次差替え連結し、同時にチェッカ
ーの検査機能もこれと対応させるべくνJ替スイッチ等
により切替えて検査を行うのであるが、この検査の際に
切替スイッチの操作を忘れたりまた間違ったりして誤っ
た結果に悩まされることがしばしばある。
用しているものが多くその入出力インターフェースへの
接続回線が繁雑なために、これらを集合させた制御コネ
クターにより一括して連結するようにしているものが多
い、この制御コネクターは複数の制御回路においても同
一の形状のものを使用するのが普通であり、この複数の
制御回路の作動状態をチェッカーにより検査を行う場合
、通常各制御回路の制御コネクターとチェッカーのチェ
ックコネクターとを順次差替え連結し、同時にチェッカ
ーの検査機能もこれと対応させるべくνJ替スイッチ等
により切替えて検査を行うのであるが、この検査の際に
切替スイッチの操作を忘れたりまた間違ったりして誤っ
た結果に悩まされることがしばしばある。
そこでこのようなチェッカーによる検査結果を、如何な
る状態にあっても常に誤りのない結果が得られるように
しようとするものである。
る状態にあっても常に誤りのない結果が得られるように
しようとするものである。
問題点を解決するための手段
この発明は、複数の制御機能を有する自動制御装δにお
いてこの各rtJ制御機能毎の制御回路に連絡する各制
御コネクター(1)と、この自動制御装置の各制御機能
を検査するチェッカー(2)にあって該何れの制御コネ
クター(1)とも差替えて連結自在のチェックコネクタ
ー(3)との間に、これら相連結せる各制御コネクター
(1)の制御回路を選択して該チェッカー(2)へ連絡
する選択端子(4)を設けてなる自動制御装置の検査方
式の構成とする。
いてこの各rtJ制御機能毎の制御回路に連絡する各制
御コネクター(1)と、この自動制御装置の各制御機能
を検査するチェッカー(2)にあって該何れの制御コネ
クター(1)とも差替えて連結自在のチェックコネクタ
ー(3)との間に、これら相連結せる各制御コネクター
(1)の制御回路を選択して該チェッカー(2)へ連絡
する選択端子(4)を設けてなる自動制御装置の検査方
式の構成とする。
発明の作用、および効果
自動制御装置において、複数の制御機能毎の制御回路の
作動状態を各別にチェッカー(2)により検査を行う場
合、この各制御回路の入出力インターフェースへ外部か
らの入出力回線を一括して連結連絡する同一形状の各制
御コネクター(1)と該チェッカー(2)のチェックコ
ネクター(3)とを各々差替え連結し順次検査を行うの
であるが、この差替え連結時に、例えば該制御コネクタ
ー(1)の端子の一部を各制御回路を選択するための選
択端子(4)として使用することにより、該チェッカー
(2)を自動的にこの選択端子(4)により選択された
制御回路に対応する検査機能に切替えるようにするもの
である。
作動状態を各別にチェッカー(2)により検査を行う場
合、この各制御回路の入出力インターフェースへ外部か
らの入出力回線を一括して連結連絡する同一形状の各制
御コネクター(1)と該チェッカー(2)のチェックコ
ネクター(3)とを各々差替え連結し順次検査を行うの
であるが、この差替え連結時に、例えば該制御コネクタ
ー(1)の端子の一部を各制御回路を選択するための選
択端子(4)として使用することにより、該チェッカー
(2)を自動的にこの選択端子(4)により選択された
制御回路に対応する検査機能に切替えるようにするもの
である。
このように各制御回路へ外部から連結連絡する該制御コ
ネクター(1)の端子の一部を該選択端子(4)とする
ことによって、該チェッカー(2)を自動的に各制御回
路に対応した検査機能に切替えて各制御回路毎の作動状
態の検査を行うことができるので、従来のように検査機
能の切替えを忘れたりまた間違ったりして誤った結果に
悩まされるようなこともなく、該両コネクター(1)(
3)の差替え連結による必要最小限の単純な操作によっ
て、常に誤りのない結果を得られるようにするものであ
る。
ネクター(1)の端子の一部を該選択端子(4)とする
ことによって、該チェッカー(2)を自動的に各制御回
路に対応した検査機能に切替えて各制御回路毎の作動状
態の検査を行うことができるので、従来のように検査機
能の切替えを忘れたりまた間違ったりして誤った結果に
悩まされるようなこともなく、該両コネクター(1)(
3)の差替え連結による必要最小限の単純な操作によっ
て、常に誤りのない結果を得られるようにするものであ
る。
実施例
なお図例において、穀稈の刈取や脱穀を行うコンバイン
等における自動制御装置として、立毛殻稈に沿ってコン
バイン機体(5)を直進制御する倣い直進制御回路(6
)と、立毛殻稈の刈取高さを調節制御する刈高さ制御回
路(7)と、刈取った殻稈の脱穀部への供給深さを調節
制御する供給深さ制御回路(8)とを各々設け、この該
各制御回路(6)(7)(8)の入出力インターフェー
スへ外部回路の各入出力回線(9) (10) (
11)を各々一括して連結i絡する同一形状の各制御コ
ネクターCIA)(1B)(IG)を設け、この各制御
コネクター(IA)(IB)(IC)は各々受口部(イ
)と差込部(ロ)とにより分割構成し、該受口部(イ)
を各々該各制御回路(6)(7)(8)側へまた該差込
部(ロ)を各々該各人出力回線(β) (10)
(11)側へ配設する。またコンバインとは別に、該各
制御回路(6)(7)(8)および外部回路の該容入出
力回線(9)(10) (,11)の作動状態を検査
する携帯移動自在で箱形構成のチェッカー(2)を設け
、このチェッカー(2)から検査用の入出力回線(12
)を任意延長して設け、この入出力回線(12)の先端
側を二股に分岐させ、その一方側に該各制御コネクター
(IA)(IB)(IC)の受口部(イ)と差替え連
結するチェックコネクター(3)の差込部(ハ)を、他
方側に該各制御コネクター(IA)(IB)(IC)の
差込部(ロ)と差替え連結する該チェックコネクター(
3)の受口部(ニ)とを各々設ける。また該各制御コネ
クター(IA)(IB)(IC)は多数の連結用端子(
13)を並列に配置構成し、この連結用端子(13)の
うち該倣い直進制御回路(6)を選択する端子として選
択端子(4A)をアースさせ、次に該刈高さ制御回路(
7)を選択する端子として選択端子(4B)をアースさ
せ、更に該供給深さ制御回路(8)を選択する端子とし
て選択端子(4c)をアースさせる。また該チェッカー
(2)は該各選択端子(4A)(4B)(4C) を各
々選択確認スルコとによって、該各選択端子(4A)(
4B)(4C)に各々対応した検査機能に自動的に切替
わるように構成する。
等における自動制御装置として、立毛殻稈に沿ってコン
バイン機体(5)を直進制御する倣い直進制御回路(6
)と、立毛殻稈の刈取高さを調節制御する刈高さ制御回
路(7)と、刈取った殻稈の脱穀部への供給深さを調節
制御する供給深さ制御回路(8)とを各々設け、この該
各制御回路(6)(7)(8)の入出力インターフェー
スへ外部回路の各入出力回線(9) (10) (
11)を各々一括して連結i絡する同一形状の各制御コ
ネクターCIA)(1B)(IG)を設け、この各制御
コネクター(IA)(IB)(IC)は各々受口部(イ
)と差込部(ロ)とにより分割構成し、該受口部(イ)
を各々該各制御回路(6)(7)(8)側へまた該差込
部(ロ)を各々該各人出力回線(β) (10)
(11)側へ配設する。またコンバインとは別に、該各
制御回路(6)(7)(8)および外部回路の該容入出
力回線(9)(10) (,11)の作動状態を検査
する携帯移動自在で箱形構成のチェッカー(2)を設け
、このチェッカー(2)から検査用の入出力回線(12
)を任意延長して設け、この入出力回線(12)の先端
側を二股に分岐させ、その一方側に該各制御コネクター
(IA)(IB)(IC)の受口部(イ)と差替え連
結するチェックコネクター(3)の差込部(ハ)を、他
方側に該各制御コネクター(IA)(IB)(IC)の
差込部(ロ)と差替え連結する該チェックコネクター(
3)の受口部(ニ)とを各々設ける。また該各制御コネ
クター(IA)(IB)(IC)は多数の連結用端子(
13)を並列に配置構成し、この連結用端子(13)の
うち該倣い直進制御回路(6)を選択する端子として選
択端子(4A)をアースさせ、次に該刈高さ制御回路(
7)を選択する端子として選択端子(4B)をアースさ
せ、更に該供給深さ制御回路(8)を選択する端子とし
て選択端子(4c)をアースさせる。また該チェッカー
(2)は該各選択端子(4A)(4B)(4C) を各
々選択確認スルコとによって、該各選択端子(4A)(
4B)(4C)に各々対応した検査機能に自動的に切替
わるように構成する。
コンバインの自動制御装置の作動状態を検査するには、
まずチェッカー(2)の準備を行い、最初に倣い直進制
御回路(6)の制御コネクター(IA)の受口部(イ)
から差込部(ロ)を引抜き、代りに該受口部(イ)に該
チェッカー(2)のチェックコネクター(3)の差込部
(ハ)を差込み連結し、この連結により該制御コネクタ
ー(IA)の選択端子(4A)の選択確認されて該チェ
ッカー(2)の検査機能が自動的に切替わり該倣い直進
制御回路(6)の作動状態の検査を行う。
まずチェッカー(2)の準備を行い、最初に倣い直進制
御回路(6)の制御コネクター(IA)の受口部(イ)
から差込部(ロ)を引抜き、代りに該受口部(イ)に該
チェッカー(2)のチェックコネクター(3)の差込部
(ハ)を差込み連結し、この連結により該制御コネクタ
ー(IA)の選択端子(4A)の選択確認されて該チェ
ッカー(2)の検査機能が自動的に切替わり該倣い直進
制御回路(6)の作動状態の検査を行う。
また次に該制御コネクター(IA)の受口部(イ)から
該チェックコネクター(3)の差込部(ハ)を引抜き、
今度は該チェックコネクター(3)の受口部(ニ)に該
制御コネクター(IA)の差込部(ロ)を差込み連結し
、この連結により該制御コネクター(IA)の選択端子
(4A)が選択確認されて該チェッカー(2)の検査機
能が自動的に切替わり該倣い直進制御回路(6)の外部
回路入出力回線(9)の作動状態の検査を行う、以下前
記の要領に準じて順次刈高さ制御回路(7)とその外部
回路入出力回線(10)、供給深さ制御回路(8)とそ
の外部回路入出力回線(11)の作動状態の検査を行う
。
該チェックコネクター(3)の差込部(ハ)を引抜き、
今度は該チェックコネクター(3)の受口部(ニ)に該
制御コネクター(IA)の差込部(ロ)を差込み連結し
、この連結により該制御コネクター(IA)の選択端子
(4A)が選択確認されて該チェッカー(2)の検査機
能が自動的に切替わり該倣い直進制御回路(6)の外部
回路入出力回線(9)の作動状態の検査を行う、以下前
記の要領に準じて順次刈高さ制御回路(7)とその外部
回路入出力回線(10)、供給深さ制御回路(8)とそ
の外部回路入出力回線(11)の作動状態の検査を行う
。
また前記の如き該各制御コネクター(IA)(1B)(
Ic)の選択端子(4A)(4B)(4C)を利用する
ことによって、該制御コネクター(IA)(IB)(I
C)の各受口部(イ)と各差込部(ロ)との差込み連結
を間違った場合には該各制御回路(6)(7)(8)に
ランプおよびホーン等を設けることによって警報を発す
るようにしてもよい。
Ic)の選択端子(4A)(4B)(4C)を利用する
ことによって、該制御コネクター(IA)(IB)(I
C)の各受口部(イ)と各差込部(ロ)との差込み連結
を間違った場合には該各制御回路(6)(7)(8)に
ランプおよびホーン等を設けることによって警報を発す
るようにしてもよい。
図はこの発明の実施例を示すもので、第1図は斜面図、
第2図は一部の機能図である。 図中、符号(1)は制御コネクター、(2)はチェッカ
ー、(3)はチェックコネクター、(4)は選択端子を
示す。
第2図は一部の機能図である。 図中、符号(1)は制御コネクター、(2)はチェッカ
ー、(3)はチェックコネクター、(4)は選択端子を
示す。
Claims (1)
- 複数の制御機能を有する自動制御装置においてこの各制
御機能毎の制御回路に連絡する各制御コネクター(1)
と、この自動制御装置の各制御機能を検査するチェッカ
ー(2)にあって該何れの制御コネクター(1)とも差
替えて連結自在のチェックコネクター(3)との間に、
これら相連結せる各制御コネクター(1)の制御回路を
選択して該チェッカー(2)へ連絡する選択端子(4)
を設けてなる自動制御装置の検査方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62046157A JPH083744B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 自動制御装置の回路等検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62046157A JPH083744B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 自動制御装置の回路等検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63211406A true JPS63211406A (ja) | 1988-09-02 |
JPH083744B2 JPH083744B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=12739161
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62046157A Expired - Fee Related JPH083744B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 自動制御装置の回路等検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH083744B2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5847904U (ja) * | 1981-09-28 | 1983-03-31 | 株式会社小松製作所 | 電子制御装置における信号の集中計測装置 |
JPS5971514A (ja) * | 1982-10-18 | 1984-04-23 | Hitachi Ltd | 制御回路シ−ケンステスト装置 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP62046157A patent/JPH083744B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5847904U (ja) * | 1981-09-28 | 1983-03-31 | 株式会社小松製作所 | 電子制御装置における信号の集中計測装置 |
JPS5971514A (ja) * | 1982-10-18 | 1984-04-23 | Hitachi Ltd | 制御回路シ−ケンステスト装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH083744B2 (ja) | 1996-01-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |