JPS63135870A - 周波数測定装置 - Google Patents
周波数測定装置Info
- Publication number
- JPS63135870A JPS63135870A JP28394186A JP28394186A JPS63135870A JP S63135870 A JPS63135870 A JP S63135870A JP 28394186 A JP28394186 A JP 28394186A JP 28394186 A JP28394186 A JP 28394186A JP S63135870 A JPS63135870 A JP S63135870A
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- Japan
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- circuit
- division ratio
- frequency division
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 21
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、被測定信号の周期を基準クロックを計数し
て測定し、この周期から被測定信号の周波数を求める周
波数測定装置に関する。
て測定し、この周期から被測定信号の周波数を求める周
波数測定装置に関する。
この発明は、被測定信号の周期を基準クロックを計数し
て測定し、この周期から被測定信号の周波数を求める周
波数測定装置において、目標となる周波数と許容誤差と
に基づき被測定信号の分周比を最適に設定することによ
り、測定時間を短縮させるようにしたものである。
て測定し、この周期から被測定信号の周波数を求める周
波数測定装置において、目標となる周波数と許容誤差と
に基づき被測定信号の分周比を最適に設定することによ
り、測定時間を短縮させるようにしたものである。
電子機器の調整を行う際、その回路から所望の発振周波
数の出力信号が得られているか、所望の周波数の信号が
入力されているか等の検査を行うのに周波数測定装置が
用いられている。このような周波数測定装置としては、
被測定信号を波形整形し、一定時間当たりのパルス信号
の繰り返しを計数して周波数を求めるもの、或いは、被
測定信号の周期を基準クロックを計数して求め、この周
期から周波数を求めるものが良く用いられている。
数の出力信号が得られているか、所望の周波数の信号が
入力されているか等の検査を行うのに周波数測定装置が
用いられている。このような周波数測定装置としては、
被測定信号を波形整形し、一定時間当たりのパルス信号
の繰り返しを計数して周波数を求めるもの、或いは、被
測定信号の周期を基準クロックを計数して求め、この周
期から周波数を求めるものが良く用いられている。
つまり、第３図に示すように、一定時間Ｔ１゜例えば、
１秒間の長さのゲートパルスＧ Ｐ ＋。を第３図Ａに
示すように形成し、このゲートパルスＧＰ１゜によりゲ
ートを開かせ、このゲートを介して波形整形された被測
定信号５ＩＯ（第３図Ｂ）をカウンタに供給し、一定時
間ＴＩＯ当たりの波形整形された被測定信号Ｓ、。のパ
ルス数をカウントする。
１秒間の長さのゲートパルスＧ Ｐ ＋。を第３図Ａに
示すように形成し、このゲートパルスＧＰ１゜によりゲ
ートを開かせ、このゲートを介して波形整形された被測
定信号５ＩＯ（第３図Ｂ）をカウンタに供給し、一定時
間ＴＩＯ当たりの波形整形された被測定信号Ｓ、。のパ
ルス数をカウントする。
このカウント値をに、。とすると、被測定信号Ｓ、。
の周波数ｆ、。は、
として求められる。
また、第４図に示すように、波形整形された被測定信号
Ｓａ＋ （第４図Ａ）の立上がり時点ｔ１１から次の立
上がり時点ｔ１□までの間ゲートを開き、時点ｔｌｌ〜
ｔ＋ｚまでの間、基準クロックＲＣＫＩ。
Ｓａ＋ （第４図Ａ）の立上がり時点ｔ１１から次の立
上がり時点ｔ１□までの間ゲートを開き、時点ｔｌｌ〜
ｔ＋ｚまでの間、基準クロックＲＣＫＩ。
（第４図Ｂ）をゲートを介してカウンタに供給し、時点
ｔｌｌ’＝ｔ１２までの間の基準クロックＲＣＫ ＋
＋をカウントする。このカウント値から被測定信号Ｓ、
の周期がわかり、これにより被測定信号Ｓ１１の周波数
がわかる。つまり、基準クロックＲＣＫ■の周波数をｆ
ｃｋ、、、カウント数をＫ１１とすると、被測定信号Ｓ
１１の周波数ｆ１１は、Ｉ Ｋ目 ｆｚ ｆＣｋ、。
ｔｌｌ’＝ｔ１２までの間の基準クロックＲＣＫ ＋
＋をカウントする。このカウント値から被測定信号Ｓ、
の周期がわかり、これにより被測定信号Ｓ１１の周波数
がわかる。つまり、基準クロックＲＣＫ■の周波数をｆ
ｃｋ、、、カウント数をＫ１１とすると、被測定信号Ｓ
１１の周波数ｆ１１は、Ｉ Ｋ目 ｆｚ ｆＣｋ、。
として求められる。
ところで、上述の第４図に示すように時点ｔｌｌ〜ｔｉ
ｔまでの間ゲートを開き、この間の基準クロックをカウ
ントして周波数を求めるようにした場合、基準クロック
の周波数が一定であるとすると、被測定信号の周波数が
高くなると、その周期が短くなるため、測定誤差が大き
くなる。そこで、従来の周波数測定装置においては、被
測定信号を分周して、この分周した信号によりゲートを
開くことができるようになされている。すなわち、被測
定信号をＮ分周すれば、周期がＮ倍により、その背側定
精度が向上される。ところが、このように被測定信号を
Ｎ分周すれば、これに伴って測定時間が長く必要になる
。
ｔまでの間ゲートを開き、この間の基準クロックをカウ
ントして周波数を求めるようにした場合、基準クロック
の周波数が一定であるとすると、被測定信号の周波数が
高くなると、その周期が短くなるため、測定誤差が大き
くなる。そこで、従来の周波数測定装置においては、被
測定信号を分周して、この分周した信号によりゲートを
開くことができるようになされている。すなわち、被測
定信号をＮ分周すれば、周期がＮ倍により、その背側定
精度が向上される。ところが、このように被測定信号を
Ｎ分周すれば、これに伴って測定時間が長く必要になる
。
電子機器の調整を行う際には、目標周波数と許容誤差と
が決められている０例えばＮＴＳＣ方式のカラーサブキ
ャリア周波数の信号が出力される回路を調整する場合に
おいて、目標周波数が３．５７９５４５ Ｍ Ｈｚ 、
許容誤差が±１０Ｈｚと定められていたとすれば、その
回路の出力信号を３．５７９５５ＭＨｚから３．５７９
５３５ＭＨｚの間に調整すれば良い。したがって、周波
数測定装置の表示も、これに対応する精度で表示できれ
ば十分である。
が決められている０例えばＮＴＳＣ方式のカラーサブキ
ャリア周波数の信号が出力される回路を調整する場合に
おいて、目標周波数が３．５７９５４５ Ｍ Ｈｚ 、
許容誤差が±１０Ｈｚと定められていたとすれば、その
回路の出力信号を３．５７９５５ＭＨｚから３．５７９
５３５ＭＨｚの間に調整すれば良い。したがって、周波
数測定装置の表示も、これに対応する精度で表示できれ
ば十分である。
ところが、従来の周波数測定装置では、測定時間を長く
とることにより分周比Ｎを大きくし、測定精度を上げる
ようにしていたため、許容誤差内の精度で周波数表示を
行うようにすると、余分な桁数まで周波数表示がなされ
てしまい、測定時間に無駄が生じるという問題があった
。多数の電子機器の調整を行う場合には、一台当たりの
測定時間の無駄が大きな問題となる。
とることにより分周比Ｎを大きくし、測定精度を上げる
ようにしていたため、許容誤差内の精度で周波数表示を
行うようにすると、余分な桁数まで周波数表示がなされ
てしまい、測定時間に無駄が生じるという問題があった
。多数の電子機器の調整を行う場合には、一台当たりの
測定時間の無駄が大きな問題となる。
したがって、この発明の目的は、目標とする周波数と許
容誤差とに応じて分周比Ｎを最適に設定することにより
、計測時間を短縮できる周波数測定装置を提供すること
にある。
容誤差とに応じて分周比Ｎを最適に設定することにより
、計測時間を短縮できる周波数測定装置を提供すること
にある。
この発明は、被測定信号を分周し、分周された信号によ
りゲートを開き、ゲートが開いている間に基準クロック
を計数して被測定信号の周波数を求めるようにした周波
数測定装置において、目標となる周波数を許容誤差とに
基づいてゲートを開く時間を決定するようにした周波数
測定装置である。
りゲートを開き、ゲートが開いている間に基準クロック
を計数して被測定信号の周波数を求めるようにした周波
数測定装置において、目標となる周波数を許容誤差とに
基づいてゲートを開く時間を決定するようにした周波数
測定装置である。
目標とする周波数の最高値をｆｍｓ＊、許容誤差をｆ
ｕ、、ｉい基準クロック周波数をｆｃｋとすると、分周
比Ｎを に設定することにより、測定時間に無駄のない測定が可
能となり、然も、許容誤差の範囲内の表示を正確に行え
る。
ｕ、、ｉい基準クロック周波数をｆｃｋとすると、分周
比Ｎを に設定することにより、測定時間に無駄のない測定が可
能となり、然も、許容誤差の範囲内の表示を正確に行え
る。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第１図において１が入力端子を示し、入力端子１に第２
図Ａに示すような被測定信号Ｓｌが供給される。この被
測定信号Ｓ１が波形整形回路２で第２図Ｂに示すように
波形整形され、この波形整形回路２の出力が分周回路３
に供給される。
図Ａに示すような被測定信号Ｓｌが供給される。この被
測定信号Ｓ１が波形整形回路２で第２図Ｂに示すように
波形整形され、この波形整形回路２の出力が分周回路３
に供給される。
分周回路３には、演算回路７から分周比Ｎが与えられる
。この分周比Ｎは、後に詳述するように、端子８から供
給される目標とする周波数の最高値ｆ□８と許容誤差ｆ
ｕｎｉ＆に基づいて決定される。
。この分周比Ｎは、後に詳述するように、端子８から供
給される目標とする周波数の最高値ｆ□８と許容誤差ｆ
ｕｎｉ＆に基づいて決定される。
波形整形回路２の出力が第２図Ｃに示すようにｌ／Ｎ分
周（第２図ではＡ分周）され、分周回路３の出力がカウ
ンタ４に供給されると共にラッチ回路６及び演算回路７
に供給される。
周（第２図ではＡ分周）され、分周回路３の出力がカウ
ンタ４に供給されると共にラッチ回路６及び演算回路７
に供給される。
カウンタ４には、基準クロック発生回路５から第２図り
に示す基準クロックＲＣＫが供給される。
に示す基準クロックＲＣＫが供給される。
カウンタ４は、この基準クロックＲＣＫを計数する。第
２図Ｂに示す分周回路３の出力の立上がりでのカウンタ
４の値がラッチ回路６に供給されると共に演算回路７に
供給される０分周回路３の出力の次の立上がりで、ラッ
チ回路６の出力が演算回路７に供給される。例えば時点
ｔ２でのカウント値がカウンタ４から演算回路７に供給
される時、ラッチ回路６から時点１．でのカウンタ４の
カウント値が出力される。演算回路７でこの時点ｔ８で
のカウンタ４のカウント値から時点ｔ、でのカウンタ４
のカウント値が減算され、時点ｔ１から時点１ｔまでの
カウント値が求められる。このカウント値から分周回路
３の出力信号の周期が求められ、更に分周回路３の周期
を１／Ｎすることにより被測定信号ＳＩの周期が求めら
れる。この被測定信号ＳＩの周期の逆数をとることによ
り、被測定信号Ｓ、の周波数ｆ、が求められる。つまり
、被測定信号Ｓ１の周波数ｆ１は、分周比をＮ、基準ク
ロックＲＣＫの周波数をｆｅｋ、時点ｔ、から時点ｔ２
までのカウント値をＫとすると、入 として求められる。
２図Ｂに示す分周回路３の出力の立上がりでのカウンタ
４の値がラッチ回路６に供給されると共に演算回路７に
供給される０分周回路３の出力の次の立上がりで、ラッ
チ回路６の出力が演算回路７に供給される。例えば時点
ｔ２でのカウント値がカウンタ４から演算回路７に供給
される時、ラッチ回路６から時点１．でのカウンタ４の
カウント値が出力される。演算回路７でこの時点ｔ８で
のカウンタ４のカウント値から時点ｔ、でのカウンタ４
のカウント値が減算され、時点ｔ１から時点１ｔまでの
カウント値が求められる。このカウント値から分周回路
３の出力信号の周期が求められ、更に分周回路３の周期
を１／Ｎすることにより被測定信号ＳＩの周期が求めら
れる。この被測定信号ＳＩの周期の逆数をとることによ
り、被測定信号Ｓ、の周波数ｆ、が求められる。つまり
、被測定信号Ｓ１の周波数ｆ１は、分周比をＮ、基準ク
ロックＲＣＫの周波数をｆｅｋ、時点ｔ、から時点ｔ２
までのカウント値をＫとすると、入 として求められる。
演算回路７で求められた周波数ｆ、が出力端子９から取
り出され、表示装置（図示せず）に表示される。なお、
被測定信号Ｓ１にジッターを含む場合等では、求められ
た周波数の所定回数毎の平均値が求められ、この平均値
が表示装置に表示される。
り出され、表示装置（図示せず）に表示される。なお、
被測定信号Ｓ１にジッターを含む場合等では、求められ
た周波数の所定回数毎の平均値が求められ、この平均値
が表示装置に表示される。
被測定信号Ｓｌの周波数ｆ、を高い精度で求めるために
は、基準クロックＲＣＫの周波数が一定なら、分周比Ｎ
を大きい値に設定した方が有利である。そころが、分周
比Ｎを大きい値に設定しようとすると、測定時間が長く
必要になる。
は、基準クロックＲＣＫの周波数が一定なら、分周比Ｎ
を大きい値に設定した方が有利である。そころが、分周
比Ｎを大きい値に設定しようとすると、測定時間が長く
必要になる。
そこで、この一実施例では、目標とする周波数の最高値
ｆ□８と許容誤差ｆ０１とから最適な分周比Ｎを求め、
この分周比Ｎが分周回路３に設定されるようになされて
いる。これにより、測定に無駄な時間が住ぜず、然も、
所望の許容誤差までの測定が可能となる。
ｆ□８と許容誤差ｆ０１とから最適な分周比Ｎを求め、
この分周比Ｎが分周回路３に設定されるようになされて
いる。これにより、測定に無駄な時間が住ぜず、然も、
所望の許容誤差までの測定が可能となる。
つまり、目標とする周波数の最高値をｆ□８、許容誤差
をｆ□五い基準クロック周波数をｆｃｋとすると、分周
比Ｎが ｆ Ｃ１１ｌｌ に設定される。これにより、測定時間に無駄のない測定
が行える。
をｆ□五い基準クロック周波数をｆｃｋとすると、分周
比Ｎが ｆ Ｃ１１ｌｌ に設定される。これにより、測定時間に無駄のない測定
が行える。
この発明に依れば、目標闇波数と許容誤差とに基づいて
分周比が最適に設定されるので、許容誤差の測定精度で
もって、最短時間で周波数測定を行うことができる。
分周比が最適に設定されるので、許容誤差の測定精度で
もって、最短時間で周波数測定を行うことができる。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図はこ
の発明の一実施例の説明に用いる波形図、第３図及び第
４図は従来の周波数測定装置の説明に用いる波形図であ
る。 図面における主要な符号の説明 １：入力端子、 ３：分周回路、 ４：カウンタ、７：
演算回路。 代理人 弁理士 杉 浦 正 知 第１図 、Ｌ形図 詠吟Ｍ当「；すのへ°ルス＆６１９闇液登１禾η４第３
図 彫Ｉ對包、ｔｆｆｌ流数１求均み 第４図
の発明の一実施例の説明に用いる波形図、第３図及び第
４図は従来の周波数測定装置の説明に用いる波形図であ
る。 図面における主要な符号の説明 １：入力端子、 ３：分周回路、 ４：カウンタ、７：
演算回路。 代理人 弁理士 杉 浦 正 知 第１図 、Ｌ形図 詠吟Ｍ当「；すのへ°ルス＆６１９闇液登１禾η４第３
図 彫Ｉ對包、ｔｆｆｌ流数１求均み 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定信号を分周し、上記分周された信号によりゲート
を開き、上記ゲートが開いている間に基準クロックを計
数して被測定信号の周波数を求めるようにした周波数測
定装置において、 目標となる周波数と許容誤差とに基づいて上記ゲートを
開く時間を決定するようにした周波数測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61283941A JP2674016B2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 周波数測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61283941A JP2674016B2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 周波数測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63135870A true JPS63135870A (ja) | 1988-06-08 |
| JP2674016B2 JP2674016B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=17672200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61283941A Expired - Fee Related JP2674016B2 (ja) | 1986-11-28 | 1986-11-28 | 周波数測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2674016B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02198293A (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-06 | Hitachi Ltd | データ処理装置 |
| JPH0329589A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-07 | Canon Inc | 通信装置 |
| JPH07162273A (ja) * | 1993-09-21 | 1995-06-23 | Lg Electron Inc | ディジタル選局装置及び選局制御方法 |
| JP2007010593A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
| JP2015031680A (ja) * | 2013-08-07 | 2015-02-16 | 三菱電機株式会社 | 周波数検出器 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55117973A (en) * | 1979-03-05 | 1980-09-10 | Advantest Corp | Period measuring unit |
| JPS5847270A (ja) * | 1981-09-15 | 1983-03-18 | Anritsu Corp | 計数装置 |
-
1986
- 1986-11-28 JP JP61283941A patent/JP2674016B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55117973A (en) * | 1979-03-05 | 1980-09-10 | Advantest Corp | Period measuring unit |
| JPS5847270A (ja) * | 1981-09-15 | 1983-03-18 | Anritsu Corp | 計数装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02198293A (ja) * | 1989-01-27 | 1990-08-06 | Hitachi Ltd | データ処理装置 |
| JPH0329589A (ja) * | 1989-06-27 | 1991-02-07 | Canon Inc | 通信装置 |
| JPH07162273A (ja) * | 1993-09-21 | 1995-06-23 | Lg Electron Inc | ディジタル選局装置及び選局制御方法 |
| JP2007010593A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Yokogawa Electric Corp | 周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器 |
| JP2015031680A (ja) * | 2013-08-07 | 2015-02-16 | 三菱電機株式会社 | 周波数検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2674016B2 (ja) | 1997-11-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |