JPS63131726A - A/d変換器試験装置 - Google Patents
A/d変換器試験装置Info
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- JPS63131726A JPS63131726A JP27825886A JP27825886A JPS63131726A JP S63131726 A JPS63131726 A JP S63131726A JP 27825886 A JP27825886 A JP 27825886A JP 27825886 A JP27825886 A JP 27825886A JP S63131726 A JPS63131726 A JP S63131726A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 101100008046 Caenorhabditis elegans cut-2 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000003360 curve fit method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、A/D変換器試験装置に関するものであり、
詳しくは、カーブフィツト法により試験を行う装置の改
良に関するものである。
詳しくは、カーブフィツト法により試験を行う装置の改
良に関するものである。
(従来の技術)
A/D変換器の試験方法の一つに、カーブフィツト法が
ある。
ある。
第3図は、このような試験方法で用いられる装置の一例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
第3図において、1は高純度正弦波信号発生器であり、
f(t)−ACO8(I)st+Bs1nωSt 、
・(+)で表される角周波数がωSの正弦波信号を出力
する。この出力信りは測定対象A/D変換器(以下DL
ITという)2に加えられている。3はDUT2の変換
データを格納するメモリであり、予め設定されたサンプ
ル数のデータを格納するためのエリアが確保されている
。4は角周波数がωCのクロックを発生するりOツク発
生器であり、DLJT2にサンプリングクロックとして
加えられるとともに、メモリ3にストローブクロックと
して加えられている。なお、このクロック発生器4と高
純度正弦波信号発生器1は、同期した出力信号が得られ
るようにU単発振器を共有している。5はデータ処理部
であり、メモリ3に格納された変換データに対して離散
的フーリエ変換(discreat fourier
transform ;以下DFTという)処理を施し
、CUT2に加えられる入力信号に相当する理想正弦波
信号の位相データと振幅データを求めるものである。
・(+)で表される角周波数がωSの正弦波信号を出力
する。この出力信りは測定対象A/D変換器(以下DL
ITという)2に加えられている。3はDUT2の変換
データを格納するメモリであり、予め設定されたサンプ
ル数のデータを格納するためのエリアが確保されている
。4は角周波数がωCのクロックを発生するりOツク発
生器であり、DLJT2にサンプリングクロックとして
加えられるとともに、メモリ3にストローブクロックと
して加えられている。なお、このクロック発生器4と高
純度正弦波信号発生器1は、同期した出力信号が得られ
るようにU単発振器を共有している。5はデータ処理部
であり、メモリ3に格納された変換データに対して離散
的フーリエ変換(discreat fourier
transform ;以下DFTという)処理を施し
、CUT2に加えられる入力信号に相当する理想正弦波
信号の位相データと振幅データを求めるものである。
このような構成において、CUT2でサンプリングされ
変換されたデータをメモリ3のエリア一杯に格納する。
変換されたデータをメモリ3のエリア一杯に格納する。
そして、これら格納された変換データに対してデータ処
理部5でDF丁処理を施し、DtJT2に加えられる入
力信号に相当する理想正弦波信号の位相データと振幅デ
ータを求める。なお、理想正弦波信号の周波数は、高純
度正弦波信号発生器1とクロック発生器4が同期して駆
動されていることから、理論値と一致することになる。
理部5でDF丁処理を施し、DtJT2に加えられる入
力信号に相当する理想正弦波信号の位相データと振幅デ
ータを求める。なお、理想正弦波信号の周波数は、高純
度正弦波信号発生器1とクロック発生器4が同期して駆
動されていることから、理論値と一致することになる。
これにより、これら理想正弦波信号データと変換データ
との誤差を求めることができ、DLIT2の各種特性を
評価することができる。
との誤差を求めることができ、DLIT2の各種特性を
評価することができる。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、このような従来の構成によれば、高純度正弦波
信号発生器1とクロック発生器4は基準発振器を共有し
ていることから、各発生器の出力信号の周波数設定のた
めの回路構成が複雑になり、自由度が制限されることに
なる。
信号発生器1とクロック発生器4は基準発振器を共有し
ていることから、各発生器の出力信号の周波数設定のた
めの回路構成が複雑になり、自由度が制限されることに
なる。
このような回路構成や周波a設定に伴う欠点は高純度正
弦波信号発生器1とクロック発生器4をそれぞれ独立し
た専用回路として構成することにより解決できる。その
結果、2つの発生器は非同期で駆動されるさことになる
。
弦波信号発生器1とクロック発生器4をそれぞれ独立し
た専用回路として構成することにより解決できる。その
結果、2つの発生器は非同期で駆動されるさことになる
。
ところが、高純度正弦波信号発生器1とクロック発生器
4を非同期で駆動すると、入力信号の周波数と理想正弦
波信号の周波数との間に誤差を生じる可能性は極めて大
きい。そして、このmL yfは丈ンプル点数倍に拡大
されて、 27r−n−に−δ/ N (rad )
・・12)ただし、 n−サンプルした番号、0≦n≦N−1に=サンプル波
数 δ−周波数誤差 N=サンプル点数 で表されるザンプル位相のflA差になる。
4を非同期で駆動すると、入力信号の周波数と理想正弦
波信号の周波数との間に誤差を生じる可能性は極めて大
きい。そして、このmL yfは丈ンプル点数倍に拡大
されて、 27r−n−に−δ/ N (rad )
・・12)ただし、 n−サンプルした番号、0≦n≦N−1に=サンプル波
数 δ−周波数誤差 N=サンプル点数 で表されるザンプル位相のflA差になる。
なお、この場合のAの推定値は
となり、Bの推定値は
となる。
本発明は、このような点に着目したものであって、その
目的は、測定対IA/D変換器に加えられる正弦波信号
とクロックが非同期の場合の入力信号の周波数と理想正
弦波信号の周波数との間の誤差を小さくでき、高精度の
試験が行えるA/D変換器試験装置を提供することにあ
る。
目的は、測定対IA/D変換器に加えられる正弦波信号
とクロックが非同期の場合の入力信号の周波数と理想正
弦波信号の周波数との間の誤差を小さくでき、高精度の
試験が行えるA/D変換器試験装置を提供することにあ
る。
(問題点を解決するための手段)
このような問題点を解決した本発明は、高純度正弦波発
生器から測定対象A/D変検品に正弦波信号を加え、測
定対象A/D変換器から出力される変換データをメモリ
に格納し、メモリに格納された変換データを離散的フー
リエ変換することにより入力信号に相当する理想正弦波
信号の位相と振幅を求め、これら理想正弦波信号データ
と変換データとの誤差を求めるA/D変換器試験装置に
おいて、 測定対象A/D変換器に加えられる入力信号の周波数お
よびクロックの周波数を測定する手段を設け、 これら測定周波数に基づいて理想正弦波信号の周波数を
演算することを特徴とする。
生器から測定対象A/D変検品に正弦波信号を加え、測
定対象A/D変換器から出力される変換データをメモリ
に格納し、メモリに格納された変換データを離散的フー
リエ変換することにより入力信号に相当する理想正弦波
信号の位相と振幅を求め、これら理想正弦波信号データ
と変換データとの誤差を求めるA/D変換器試験装置に
おいて、 測定対象A/D変換器に加えられる入力信号の周波数お
よびクロックの周波数を測定する手段を設け、 これら測定周波数に基づいて理想正弦波信号の周波数を
演算することを特徴とする。
(実施例)
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、第
3図と同一部分には同一符号を付けている。第1図にお
いて、高純度正弦波信号発生器1とクロック発生器4は
非同期で駆動されている。
3図と同一部分には同一符号を付けている。第1図にお
いて、高純度正弦波信号発生器1とクロック発生器4は
非同期で駆動されている。
6はDLJT2に加えられる入力信号の周波数ωSおよ
びクロックの周波数ωC(ωc−2π/τ)を測定する
ためのカウンタであり、各周波数の測定植はデータ処理
部5に加えられている。
びクロックの周波数ωC(ωc−2π/τ)を測定する
ためのカウンタであり、各周波数の測定植はデータ処理
部5に加えられている。
このように構成された装置の動作について説明する。
前述の(1)式で表される入力信号f(t>は、f(む
)−Acos2πωst+Bs1n2πωst+D
・・・(3)と表すことができる
。そして、サンプル点数をNとすると、サンプルデータ
f n (n−0−N −1)は、 fn三f(nで) ・・・(4)にな
る。
)−Acos2πωst+Bs1n2πωst+D
・・・(3)と表すことができる
。そして、サンプル点数をNとすると、サンプルデータ
f n (n−0−N −1)は、 fn三f(nで) ・・・(4)にな
る。
ここで、従来のカーブフィツトの問題は、(3)式のA
、B、Dを未知数としてfnのデータからA。
、B、Dを未知数としてfnのデータからA。
[3,Dの値を推定することに帰着する。
そこで、A、B、Dの推定値をそれぞれA、B。
石とすると、推定値A、B、Dは、以下により演算でき
る BO37五」れ儒〜r I 11@ D o = Nジ。♂2 γ−ωS /ωC とする。なお、これらの演算に用いる周波数としては、
カウンタ6による測定値を用いる。
る BO37五」れ儒〜r I 11@ D o = Nジ。♂2 γ−ωS /ωC とする。なお、これらの演算に用いる周波数としては、
カウンタ6による測定値を用いる。
また、K、Htjはγ、Nの関数であり、これらの間に
は次の関係が成立する。
は次の関係が成立する。
・・・(6)
K=1 02 ’ 2G+ ” +2G+ ’ G2
・・・(7)ただし、G+=上、5μ吐
・・・(8)154λY G2.L、u9懇と ・・・(9)1
C−フにr α−2π(N−1)γ ・・・(10)なお、周波
数比γは、あるNについてKがOになる値が存在するこ
とになり、その周波数比γではカーブフィツトは不可能
である。
・・・(7)ただし、G+=上、5μ吐
・・・(8)154λY G2.L、u9懇と ・・・(9)1
C−フにr α−2π(N−1)γ ・・・(10)なお、周波
数比γは、あるNについてKがOになる値が存在するこ
とになり、その周波数比γではカーブフィツトは不可能
である。
第2図はこのような一連の演算処理の流れを示すフロー
チャートであり、(a)は周波数校正の流れを示し、(
b)は校正結果に基づいて行なう測定の流れを示してい
る。
チャートであり、(a)は周波数校正の流れを示し、(
b)は校正結果に基づいて行なう測定の流れを示してい
る。
周波数校正にあたっては、まず入力信号の周波数fsお
よびクロックの周波数fCをカウンタ6で測定する(ス
テップ■)。次に、周波数の測定結果から得られる周波
数比f s / f cに基づいて角サンプリング点に
対応したsinテーブル(Sn)およびCOSテーブル
(On)を作成する(ステップ■)。その後、(6)式
に従って[HLJ ]を演算するとともに、(7)式に
従ってKを演算する(ステップ■)。
よびクロックの周波数fCをカウンタ6で測定する(ス
テップ■)。次に、周波数の測定結果から得られる周波
数比f s / f cに基づいて角サンプリング点に
対応したsinテーブル(Sn)およびCOSテーブル
(On)を作成する(ステップ■)。その後、(6)式
に従って[HLJ ]を演算するとともに、(7)式に
従ってKを演算する(ステップ■)。
測定にあたっては、メモリ3を起動してサンプルデータ
fnを測定する(ステップ■)。次に、fn、On、
Sn、におよびHt J &−基づいてA。
fnを測定する(ステップ■)。次に、fn、On、
Sn、におよびHt J &−基づいてA。
B、Dを演算する(ステップ■)。その後、A。
B、Dに基づいてカーブフィツトのエラー分E nを、
En−fn−(ACn+BSn+D)−(11)で演算
する(ステップ■)。
する(ステップ■)。
このようにしてエラー分Enを演算した後、必要に応じ
て統計処理(ステップ■)や、SN比の演算などを行う
〈ステップ■)。
て統計処理(ステップ■)や、SN比の演算などを行う
〈ステップ■)。
このように構成することにより、高純度正弦波信号発生
器とクロック発生器を非同期で駆動させていることから
、各発生器の回路構成は簡単になり、それぞれの出力周
波数の設定についての自由度は高くなる。
器とクロック発生器を非同期で駆動させていることから
、各発生器の回路構成は簡単になり、それぞれの出力周
波数の設定についての自由度は高くなる。
また、各発生器の出力周波数の測定結果に基づいて理想
正弦波信号の周波数を演算していることから、精度の高
い測定が行える。
正弦波信号の周波数を演算していることから、精度の高
い測定が行える。
さらに、このような手順によれば、メモリ3に格納され
たデータのsin成分、 COS成分だけではなく、直
流成分についても補正処理を行うことができる。
たデータのsin成分、 COS成分だけではなく、直
流成分についても補正処理を行うことができる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、測定対IA/D
変換器に加えられる正弦波信号とクロックが非同期の場
合の入力信号の周波数と理想正弦波信号の周波数との間
の誤差を小さくでき、高精度の試験が行えるAID変換
器試験装置が実現でき、実用上の効果は大ぎい。
変換器に加えられる正弦波信号とクロックが非同期の場
合の入力信号の周波数と理想正弦波信号の周波数との間
の誤差を小さくでき、高精度の試験が行えるAID変換
器試験装置が実現でき、実用上の効果は大ぎい。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の装置の信号処理の流れを示すフローヂャート、
第3図は従来の装置の一例を示すブロック図である。 1・・・高M度正弦波信号発生器、2・・・測定対象A
/D変換器(OUT)、3・・・メモリ、4・・・クロ
ック光土器、5・・・データ処理部、6・・・カウンタ
。 第1図 第3図
第1図の装置の信号処理の流れを示すフローヂャート、
第3図は従来の装置の一例を示すブロック図である。 1・・・高M度正弦波信号発生器、2・・・測定対象A
/D変換器(OUT)、3・・・メモリ、4・・・クロ
ック光土器、5・・・データ処理部、6・・・カウンタ
。 第1図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 高純度正弦波発生器から測定対象A/D変換器に正弦波
信号を加え、測定対象A/D変換器から出力される変換
データをメモリに格納し、メモリに格納された変換デー
タを離散的フーリエ変換することにより入力信号に相当
する理想正弦波信号の位相と振幅を求め、これら理想正
弦波信号データと変換データとの誤差を求めるA/D変
換器試験装置において、 測定対象A/D変換器に加えられる入力信号の周波数お
よびクロックの周波数を測定する手段を設け、 これら測定周波数に基づいて理想正弦波信号の周波数を
演算することを特徴とするA/D変換器試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27825886A JPS63131726A (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | A/d変換器試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27825886A JPS63131726A (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | A/d変換器試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63131726A true JPS63131726A (ja) | 1988-06-03 |
JPH0436607B2 JPH0436607B2 (ja) | 1992-06-16 |
Family
ID=17594828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27825886A Granted JPS63131726A (ja) | 1986-11-21 | 1986-11-21 | A/d変換器試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63131726A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006266837A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | 試験装置 |
US8936022B2 (en) | 2007-03-23 | 2015-01-20 | 3M Innovative Properties Company | Air delivery apparatus for respirator hood |
US9868001B2 (en) | 2007-10-05 | 2018-01-16 | 3M Innovative Properties Company | Respirator flow control apparatus and method |
US10137320B2 (en) | 2007-03-23 | 2018-11-27 | 3M Innovative Properties Company | Respirator flow control apparatus and method |
US10391337B2 (en) | 2007-11-12 | 2019-08-27 | 3M Innovative Properties Company | Respirator assembly with air flow direction control |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5767327A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-23 | Nissin Electric Co Ltd | Error testing device |
JPS58174861A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-13 | Sony Tektronix Corp | アナログ・デジタル変換器の特性測定装置 |
JPS59211320A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | コ−ド化装置 |
-
1986
- 1986-11-21 JP JP27825886A patent/JPS63131726A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5767327A (en) * | 1980-10-15 | 1982-04-23 | Nissin Electric Co Ltd | Error testing device |
JPS58174861A (ja) * | 1982-04-07 | 1983-10-13 | Sony Tektronix Corp | アナログ・デジタル変換器の特性測定装置 |
JPS59211320A (ja) * | 1983-05-17 | 1984-11-30 | Mitsubishi Electric Corp | コ−ド化装置 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006266837A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | 試験装置 |
US8936022B2 (en) | 2007-03-23 | 2015-01-20 | 3M Innovative Properties Company | Air delivery apparatus for respirator hood |
US10137320B2 (en) | 2007-03-23 | 2018-11-27 | 3M Innovative Properties Company | Respirator flow control apparatus and method |
US11130008B2 (en) | 2007-03-23 | 2021-09-28 | 3M Innovative Properties Company | Respirator flow control apparatus and method |
US9868001B2 (en) | 2007-10-05 | 2018-01-16 | 3M Innovative Properties Company | Respirator flow control apparatus and method |
US10391337B2 (en) | 2007-11-12 | 2019-08-27 | 3M Innovative Properties Company | Respirator assembly with air flow direction control |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0436607B2 (ja) | 1992-06-16 |
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