JPS6222075A - 交流計測装置 - Google Patents
交流計測装置Info
- Publication number
- JPS6222075A JPS6222075A JP16346585A JP16346585A JPS6222075A JP S6222075 A JPS6222075 A JP S6222075A JP 16346585 A JP16346585 A JP 16346585A JP 16346585 A JP16346585 A JP 16346585A JP S6222075 A JPS6222075 A JP S6222075A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- frequency
- sample
- circuit
- sampling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は閉鎖型配電盤等に使用される交流計測装置に
関するものである。
関するものである。
[従来の技術j
従来、この種の交流計測装置として第2図に示すものが
あった0図において、eは交流電圧信号、iは交流電流
信号、(1)は交流電流信号iを電圧信号に変換する電
流−電圧変換回路、(2)は2つの電圧信号を切り換え
るマルチプレクサ、(3)はこのマルチプレクサ(2)
からの出力を保持するサンプルホールド回路、(4)は
サンプルホールド回路(3)で保持されたアナログ信号
をデジタル信号に変換するA/D変挽回路、(5)はこ
のA/D変換回路(0のデジタル出力信号(サンプルデ
ータ)がサイクリックに書き込まれるサンプルメモリ、
(8)は後述するマイクロコンピュータ(7)がサンプ
ルメモリ(5)をアクセスしていない期間を検出し、そ
の期間にA/D変換回路(0のデジタル出力信号をサン
プルメモリ(5)にサイクリックに書き込むための記憶
制御回路、(7)はサンプルメモリ(5)のデータを読
みとって計測−出力用の演算処理や結果の出力等、全体
の制御を行うマイクロコンピュータである。
あった0図において、eは交流電圧信号、iは交流電流
信号、(1)は交流電流信号iを電圧信号に変換する電
流−電圧変換回路、(2)は2つの電圧信号を切り換え
るマルチプレクサ、(3)はこのマルチプレクサ(2)
からの出力を保持するサンプルホールド回路、(4)は
サンプルホールド回路(3)で保持されたアナログ信号
をデジタル信号に変換するA/D変挽回路、(5)はこ
のA/D変換回路(0のデジタル出力信号(サンプルデ
ータ)がサイクリックに書き込まれるサンプルメモリ、
(8)は後述するマイクロコンピュータ(7)がサンプ
ルメモリ(5)をアクセスしていない期間を検出し、そ
の期間にA/D変換回路(0のデジタル出力信号をサン
プルメモリ(5)にサイクリックに書き込むための記憶
制御回路、(7)はサンプルメモリ(5)のデータを読
みとって計測−出力用の演算処理や結果の出力等、全体
の制御を行うマイクロコンピュータである。
たとえば、交流電圧信号e、交流電流信号iが第3図の
ような入力信号の場合、この入力信号の1周期Tiの間
を、電圧e、主電流のそれぞれについてn回(n= l
O〜100)サンプリングする。第3図において、電
圧e、電流iのあるサンプリング時点から次のサンプリ
ング時点までの期間Tsはサンプリング周期である。上
記サンプリングは、電圧e、主電流を交互に行い、サン
プルデータは第4図に示すようにサンプルメモリ(5)
へサイクリックに格納するようになっている。
ような入力信号の場合、この入力信号の1周期Tiの間
を、電圧e、主電流のそれぞれについてn回(n= l
O〜100)サンプリングする。第3図において、電
圧e、電流iのあるサンプリング時点から次のサンプリ
ング時点までの期間Tsはサンプリング周期である。上
記サンプリングは、電圧e、主電流を交互に行い、サン
プルデータは第4図に示すようにサンプルメモリ(5)
へサイクリックに格納するようになっている。
次に上記構成の動作について説明する。
第2図において、交流電圧信号eは、マルチプレクサ(
2)を経てサンプルホールド回路(3)で保持され、A
/D変換回路(4)へ入力される。A/D変換回路(4
)は、入力されたアナログ信号に対応するデジタル信号
、すなわちサンプルデータを出力する。このサンプルデ
ータは、記憶制御回路(8)により、上述したように第
4図のサンプルメモリ(5)へサイクリックに書き込ま
れる。
2)を経てサンプルホールド回路(3)で保持され、A
/D変換回路(4)へ入力される。A/D変換回路(4
)は、入力されたアナログ信号に対応するデジタル信号
、すなわちサンプルデータを出力する。このサンプルデ
ータは、記憶制御回路(8)により、上述したように第
4図のサンプルメモリ(5)へサイクリックに書き込ま
れる。
一方、交流電流信号iは電流−電圧変換回路(1)で電
圧値に変換され、その後は上記交流電圧信号eの場合と
同様にして、サンプルメモリ(5)へサイクリックに書
き込まれる。
圧値に変換され、その後は上記交流電圧信号eの場合と
同様にして、サンプルメモリ(5)へサイクリックに書
き込まれる。
マイクロコンピュータ(7)はサンプルメモリ(5)へ
格納されてい°る電圧のサンプルデータel。
格納されてい°る電圧のサンプルデータel。
e2.・・・en、および電流のサンプルデータ il
。
。
12、・・・inを読みとり、これらのデータにもとづ
いて、あらかじめ設定されている入力信号の周期Tiの
単位で計測出力用の演算処理を行う。
いて、あらかじめ設定されている入力信号の周期Tiの
単位で計測出力用の演算処理を行う。
この演算処理は、第5図のフローチャートに示すように
、入力信号の1周期を単位として以下のように行われる
。
、入力信号の1周期を単位として以下のように行われる
。
電圧および電流の平均値を出力する場合には。
の演算処理を行ない、実効値を出力する場合は、
の演算処理を行なう。
また、平均電力の算出にあたっては、
の演算処理を行なう。
無効電力については、電流と電圧の位相を900ずらせ
て電力と同様の処理を行なう、すなわち、 で演算する。
て電力と同様の処理を行なう、すなわち、 で演算する。
また、力率については、
PF=W/ 、/;;”丁2
の演算を行ない、WH、VARHについては、順次、W
、VARの値を計測周期の間は一定とみなして積分の処
理を行う。
、VARの値を計測周期の間は一定とみなして積分の処
理を行う。
マイクロコンピュータ(7)としての処理は、上記計測
出力データ用の演算処理の他に、実際のデータ出力およ
び初期設定等の処理も行う。
出力データ用の演算処理の他に、実際のデータ出力およ
び初期設定等の処理も行う。
[発明が解決しようとする問題点]
上述した従来の交流計測装置にあっては、サンプリング
周期Tsが固定されているため、入力信号e、iが一定
周波数であれば問題はないが、入力信号e、iの周波数
が変動した場合には、この変動に関係なく一定の周期で
サンプリングしてしまう結果、次のような問題点が生じ
る。
周期Tsが固定されているため、入力信号e、iが一定
周波数であれば問題はないが、入力信号e、iの周波数
が変動した場合には、この変動に関係なく一定の周期で
サンプリングしてしまう結果、次のような問題点が生じ
る。
すなわち、入力信号e、iの周波数が大きくなった場合
(すなわち周期が小さくなった場合)、サンプリング周
期Tsが一定であれば、入力信号の1周期を越えて次の
1周期にまで入り込んで余分にサンプリングすることに
なり、他方1周波数が小さくなった場合(すなわち周期
が大きくなった場合)には、入力信号の1周期の終りま
でサンプリングが及ばなくなる。したがって、このよう
なサンプルデータにもとづいて算出された各種出力デー
タ値は、当然のことながら真の出力データ値とは異なっ
たものとなる。
(すなわち周期が小さくなった場合)、サンプリング周
期Tsが一定であれば、入力信号の1周期を越えて次の
1周期にまで入り込んで余分にサンプリングすることに
なり、他方1周波数が小さくなった場合(すなわち周期
が大きくなった場合)には、入力信号の1周期の終りま
でサンプリングが及ばなくなる。したがって、このよう
なサンプルデータにもとづいて算出された各種出力デー
タ値は、当然のことながら真の出力データ値とは異なっ
たものとなる。
このように、従来のものにおいては、入力信号の周波数
の変動により、計測誤差が大きくなるという問題点があ
った。
の変動により、計測誤差が大きくなるという問題点があ
った。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、入力信号の周波数変動に対しても高い精度が
得られる交流計測装置を提供することを目的としている
。
たもので、入力信号の周波数変動に対しても高い精度が
得られる交流計測装置を提供することを目的としている
。
[問題点を解決するための手段]
この発明にかかる交流計測装置は、交流入力信号を所定
のサンプル周波数でサンプリングする手段と、サンプリ
ングされたデータを格納する手段と、上記サンプリング
データにもとづいて演算処理を行い電気量を算出する演
算手段と、上記交流入力信号の周波数を計測する手段と
、計測された周波数に応じて上記サンプル周波数を制御
する手段とを備えたものである。
のサンプル周波数でサンプリングする手段と、サンプリ
ングされたデータを格納する手段と、上記サンプリング
データにもとづいて演算処理を行い電気量を算出する演
算手段と、上記交流入力信号の周波数を計測する手段と
、計測された周波数に応じて上記サンプル周波数を制御
する手段とを備えたものである。
[作用j
この発明においては、サンプル周波数が入力信号の周波
数に応じて制御されるから、入力信号の周波数が変動し
ても、それに追従して、常に一定のサンプル回数で入力
信号の1周期がサンプリングされる。
数に応じて制御されるから、入力信号の周波数が変動し
ても、それに追従して、常に一定のサンプル回数で入力
信号の1周期がサンプリングされる。
[実施例]
以下、この発明あ実施例を図面にしたがって説明する。
第1図において、eは交流電圧信号、iは交流電流信号
、(1)は交流電流信号iを電圧信号に変換する電流−
電圧変換回路、(2)は2つの電圧信号を切り換えるマ
ルチプレクサ、(3)はこのマルチプレクサ(2)から
の出力を保持するサンプルホールド回路、(0はサンプ
ルホールド回路(3)で保持されたアナログ信号をデジ
タル信号に変換するA/D変換回路、(5)はこのA/
D変換回路(4)のデジタル出力信号(サンプルデータ
)がサイクリックに書き込まれるサンプルメモリ、(6
)は後述するマイクロコンピュータ(7)がサンプルメ
モリ(5)をアクセスしていない期間にA/D変換回路
(4)のデジタル出力信号をサンプルメモリ(5)にサ
イクリックに書き込むための記憶制御回路、(7)はサ
ンプルメモリ(5)のデータを読みとって計測出力用の
演算処理や結果の出力等、全体の制御を行うマイクロコ
ンピュータで、以上の構成は第2図のものと同様である
。
、(1)は交流電流信号iを電圧信号に変換する電流−
電圧変換回路、(2)は2つの電圧信号を切り換えるマ
ルチプレクサ、(3)はこのマルチプレクサ(2)から
の出力を保持するサンプルホールド回路、(0はサンプ
ルホールド回路(3)で保持されたアナログ信号をデジ
タル信号に変換するA/D変換回路、(5)はこのA/
D変換回路(4)のデジタル出力信号(サンプルデータ
)がサイクリックに書き込まれるサンプルメモリ、(6
)は後述するマイクロコンピュータ(7)がサンプルメ
モリ(5)をアクセスしていない期間にA/D変換回路
(4)のデジタル出力信号をサンプルメモリ(5)にサ
イクリックに書き込むための記憶制御回路、(7)はサ
ンプルメモリ(5)のデータを読みとって計測出力用の
演算処理や結果の出力等、全体の制御を行うマイクロコ
ンピュータで、以上の構成は第2図のものと同様である
。
第2図と異なる点は、サンプル信号発生回路(8)と、
波形整形回路(3)とが新たに設けられていることであ
る。波形整形回路(3)は正弦波交流電圧信号eが入力
され、この信号を方形波信号に変換してその出力をマイ
クロコンピュータ(7)へ入力する。また、サンプル信
号発生回路(8)はマイクロコンピュータ(7)の出力
にしたがって、入力信号の周波数に対応したサンプル信
号を発生し、これを記憶制御回路(6)へ供給する。
波形整形回路(3)とが新たに設けられていることであ
る。波形整形回路(3)は正弦波交流電圧信号eが入力
され、この信号を方形波信号に変換してその出力をマイ
クロコンピュータ(7)へ入力する。また、サンプル信
号発生回路(8)はマイクロコンピュータ(7)の出力
にしたがって、入力信号の周波数に対応したサンプル信
号を発生し、これを記憶制御回路(6)へ供給する。
交流入力のサンプリング処理、演算処理については従来
の交流計測itと同様であるので、以下の説明ではサン
プル周波数の制御について述べる。
の交流計測itと同様であるので、以下の説明ではサン
プル周波数の制御について述べる。
第1図において、交流電圧信号eは波形整形回路(8)
に入力され、2倍の周波数の方形波に変換される。一方
、マイクロコンピュータ(7)ではこの方形波を取込ん
で、交流入力の周期Tiの間、M云1.かいに!!l抱
登堝塞の〃ロッ々ルカウント「、これにもとづいて入力
信号の周波数を算出する。
に入力され、2倍の周波数の方形波に変換される。一方
、マイクロコンピュータ(7)ではこの方形波を取込ん
で、交流入力の周期Tiの間、M云1.かいに!!l抱
登堝塞の〃ロッ々ルカウント「、これにもとづいて入力
信号の周波数を算出する。
さらにマイクロコンピュータ(7)では、算出された入
力周波数fiをもとにして、入力信号1周期のサンプル
回数Nsを算出し、このサンプリングを行うための制御
信号として、図示しないプリセットカウンタのプリセッ
ト値をサンプル信号発生回路(8)へ出力する。
力周波数fiをもとにして、入力信号1周期のサンプル
回数Nsを算出し、このサンプリングを行うための制御
信号として、図示しないプリセットカウンタのプリセッ
ト値をサンプル信号発生回路(8)へ出力する。
サンプル信号発生回路(8)では、水晶発振器によって
、サンプル周波数fsの数10〜数1o。
、サンプル周波数fsの数10〜数1o。
倍の高周波の安定信号を発生しており、これをマイクロ
コンピュータ(7)から送出されてきたプリセット値を
設定した分周用のプリセットカウンタで分周して、サン
プル周波数fsを得る。記憶制御回路(6)は、このサ
ンプル周波数fsにしたがって、A/D変換回路(0の
デジタール出方信号をサンプルメモリ(5)にサイクリ
ックに書き込んでゆく。
コンピュータ(7)から送出されてきたプリセット値を
設定した分周用のプリセットカウンタで分周して、サン
プル周波数fsを得る。記憶制御回路(6)は、このサ
ンプル周波数fsにしたがって、A/D変換回路(0の
デジタール出方信号をサンプルメモリ(5)にサイクリ
ックに書き込んでゆく。
すなわち、この実施例においては、サンプル周波数fs
を入力信号の周波数fiに応じて可変制御している点に
特徴がある。なお、サンプル漂妨数fsは、交流入力信
号の周波数の4の整数倍に選定されている。
を入力信号の周波数fiに応じて可変制御している点に
特徴がある。なお、サンプル漂妨数fsは、交流入力信
号の周波数の4の整数倍に選定されている。
サンプル周波数fsとサンプル回数Nsが固定されてい
ると、すでに述べたように、入力周波数の変動により、
演算の対象となるサンプリングブロック(Ns個のデー
タ)が入力周期の1周期を越えたり、不足したりする。
ると、すでに述べたように、入力周波数の変動により、
演算の対象となるサンプリングブロック(Ns個のデー
タ)が入力周期の1周期を越えたり、不足したりする。
定格周波数の波高値lの正弦波交流入力時のサンプル回
数をNt、実際のサンプル回数をNとすると、このとき
の平均値STは、 で算出できる。ここで、N=Ntで、 がA/D変換器で出力される1周期分のサンプルデータ
である。
数をNt、実際のサンプル回数をNとすると、このとき
の平均値STは、 で算出できる。ここで、N=Ntで、 がA/D変換器で出力される1周期分のサンプルデータ
である。
次に、上式にもとづいて、従来のものとこの発明のもの
との計測精度を比較してみると、従来のものでは、入力
周波数が変動した場合は、上式でNxNtとなり、Nが
Ntから±10%変動すると、Nt=40のとき、平均
値Sは−7,0%〜+4.0%も変動する。
との計測精度を比較してみると、従来のものでは、入力
周波数が変動した場合は、上式でNxNtとなり、Nが
Ntから±10%変動すると、Nt=40のとき、平均
値Sは−7,0%〜+4.0%も変動する。
これに対して、この発明のものでは、入力周波数に応じ
てサンプル周波数を制御し、入力信号の1周期でのサン
プル数Nを常に一定に保っているから、N=40のとき
、平均値Sは±0.2%以内の変動で測定することがで
きる。
てサンプル周波数を制御し、入力信号の1周期でのサン
プル数Nを常に一定に保っているから、N=40のとき
、平均値Sは±0.2%以内の変動で測定することがで
きる。
なお、上記実施例では、゛高周波信号を分周用のプリセ
ットカウンタで分周して、サンプル周波数fsを得る周
波数制御について述べたが、電圧制御発振回路等により
原発振回路の発振周波数を制御するようにしてもよい。
ットカウンタで分周して、サンプル周波数fsを得る周
波数制御について述べたが、電圧制御発振回路等により
原発振回路の発振周波数を制御するようにしてもよい。
また、上記実施例では単相交流信号について説明したが
・0の発明は多相交流信号″″9いても適 。
・0の発明は多相交流信号″″9いても適 。
用することができ、上記実施例と同様の効果を奏する。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、サンプリング周波数
を被測定信号の周波数により制御する構成にしたので、
入力周波数の変動により、サンプリングが入力信号の1
周期を越えたり、不足したりすることがなく、入力信号
の1周期でのサンプル数を常に一定に保つことができ、
これによって精度の高い交流計測装置が得られる効果が
ある。
を被測定信号の周波数により制御する構成にしたので、
入力周波数の変動により、サンプリングが入力信号の1
周期を越えたり、不足したりすることがなく、入力信号
の1周期でのサンプル数を常に一定に保つことができ、
これによって精度の高い交流計測装置が得られる効果が
ある。
第1図はこの発明による交流計測装置の実施例を示すブ
ロック図、第2図は従来の交流計測装置を示すブロック
図、第3図は入力信号の波形図、第4図はサンプルメモ
リへ格納されるサンプルデータの構成図、第5図はマイ
クロコンピュータの処理の概要を示すフローチャートで
ある。 i・・・交流電流信号、e・・・交流電圧信号、(2)
・・・マルチプレクサ、(3)・・・サンプルホールド
回路、(4)・・・A/D変換回路、(5)・・・サン
プルメモリ、(8)・・・記憶制御回路、(7)・・・
マイクロコンピュータ、(8)・・・サンプル信号発生
回路、(9)・・・波形整形回路。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
ロック図、第2図は従来の交流計測装置を示すブロック
図、第3図は入力信号の波形図、第4図はサンプルメモ
リへ格納されるサンプルデータの構成図、第5図はマイ
クロコンピュータの処理の概要を示すフローチャートで
ある。 i・・・交流電流信号、e・・・交流電圧信号、(2)
・・・マルチプレクサ、(3)・・・サンプルホールド
回路、(4)・・・A/D変換回路、(5)・・・サン
プルメモリ、(8)・・・記憶制御回路、(7)・・・
マイクロコンピュータ、(8)・・・サンプル信号発生
回路、(9)・・・波形整形回路。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- (1)交流入力信号を所定のサンプル周波数でサンプリ
ングする手段と、サンプリングされたデータを格納する
手段と、上記サンプリングデータにもとづいて演算処理
を行い電気量を算出する演算手段と、上記交流入力信号
の周波数を計測する手段と、計測された周波数に応じて
上記サンプル周波数を制御する手段とを備えたことを特
徴とする交流計測装置。 - (2)サンプル周波数が交流入力信号の周波数の4の整
数倍に選定されている特許請求の範囲第1項記載の交流
計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16346585A JPS6222075A (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 | 交流計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16346585A JPS6222075A (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 | 交流計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6222075A true JPS6222075A (ja) | 1987-01-30 |
Family
ID=15774389
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16346585A Pending JPS6222075A (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 | 交流計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6222075A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63221258A (ja) * | 1987-03-10 | 1988-09-14 | Kanagawa Pref Gov | ひずみ波交流特性測定装置 |
JPH01267464A (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-25 | Fuji Electric Co Ltd | 交流電気量の計測装置 |
JP2003248023A (ja) * | 2002-02-21 | 2003-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 電子式交流電流計 |
JP2008141935A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | C & S Kokusai Kenkyusho:Kk | 単相交流信号の基本波成分検出方法 |
JP2013040962A (ja) * | 2012-11-26 | 2013-02-28 | Hioki Ee Corp | 実効値測定装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6026410A (ja) * | 1983-07-25 | 1985-02-09 | 日新電機株式会社 | 電力系統用デイジタルリレ−のサンプリング装置 |
-
1985
- 1985-07-22 JP JP16346585A patent/JPS6222075A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6026410A (ja) * | 1983-07-25 | 1985-02-09 | 日新電機株式会社 | 電力系統用デイジタルリレ−のサンプリング装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63221258A (ja) * | 1987-03-10 | 1988-09-14 | Kanagawa Pref Gov | ひずみ波交流特性測定装置 |
JPH01267464A (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-25 | Fuji Electric Co Ltd | 交流電気量の計測装置 |
JP2003248023A (ja) * | 2002-02-21 | 2003-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 電子式交流電流計 |
JP2008141935A (ja) * | 2006-11-29 | 2008-06-19 | C & S Kokusai Kenkyusho:Kk | 単相交流信号の基本波成分検出方法 |
JP2013040962A (ja) * | 2012-11-26 | 2013-02-28 | Hioki Ee Corp | 実効値測定装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7447603B2 (en) | Power meter | |
Gonzalez et al. | Harmonic computation technique suitable for active power filters | |
US5487016A (en) | Apparatus for generating a signal representative of total harmonic distortion in waveforms of an A/C electrical system | |
WO2015085830A1 (zh) | 电子式电能表动态特性测试装置 | |
JPS6025745B2 (ja) | 電力測定方法 | |
CN113064021A (zh) | 用于实现电力电子化电网高次谐波抑制的测控装置和方法 | |
JPS6222075A (ja) | 交流計測装置 | |
JP2006098287A (ja) | 高調波成分測定装置 | |
Petrovic et al. | Digital method for power frequency measurement using synchronous sampling | |
Vujičić et al. | Concept of stochastic measurements in the Fourier domain | |
Petrovic et al. | New algorithm for measuring 50/60 Hz AC values based on the usage of slow A/D converters | |
JPH07325636A (ja) | 力率自動調整装置および交流電気量のディジタル量変換方法 | |
de Araújo et al. | Dedicated hardware implementation of a high precision power quality meter | |
Kung | Multirate digital power metering | |
JP3182777B2 (ja) | 電力量測定方法 | |
Dimitrijevic et al. | Non-Linear Load Characterisation Using Orthogonal Apparent Power Decompositions | |
KR950004833B1 (ko) | 전력계의 역률 계측 방법 및 그 장치 | |
JP3411474B2 (ja) | 指示計器 | |
Radonjić et al. | Stochastic Digital Measurement Method and Its Application in Signal Processing | |
Alekseev et al. | Measuring instrument of parameters of quality of electric energy | |
RU2096789C1 (ru) | Измеритель параметров режима электрической сети | |
Beljić et al. | Measurement over an interval method in measuring and monitoring of power quality | |
Masnicki et al. | Synthesis of Three-Phase Waveforms Using the Selected Microprocessor–Analysis of Constraints | |
Clarke et al. | Digital wattmeters for loss measurements of power transformers | |
Stenbakken et al. | NBS wideband sampling wattmeter |