JPS63113419A - レンズメーター - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明はレンズメーターとともに用いられる累進多焦点
レンズへの自動印点方法及び自動印点装置に関する。

（背景技術） 近年、中高年の初期の老視矯正用として、境目のない累
進多焦点レンズの需要が増加している。

この累進多焦点レンズは遠用部、近用部及び両者を結ぶ
累進帯部が複雑な非球面で連続的に構成されているため
、従来の二重焦点レンズのように外観だけで遠用屈折特
性測定部や近用屈折特性測定部を知ることができない。

ここで屈折特性とは、球面度数、円柱度数、円柱軸角度
、及びプリズム度数を総称した定義として使われる。こ
のため、各レンズメーカーは、眼鏡店に納品する、眼鏡
フレームのレンズ枠に入れるｎ訂のアンカットレンズに
種々のマーキングを施すことにより、眼鏡店における屈
折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時のレンズ加工
の便宜を図っている。第１３図はその一例を示すもので
、３１０は水平基準線、３１１はダイヤマーク、３１５
は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、３１２はフィ
ッティングマーク、３１３は遠用屈折特性測定部指示マ
ーク、３１６は近用屈折特性測定部指示マーク、３１４
は近用加入度数表示、３１７はメーカーマークをそれぞ
れ示している。そしてレンズメーターでこのレンズの遠
用屈折特性を測定するときは、３１３のマークの丸印内
にレンズメーターの測定光軸が位置してレンズメーター
のレンズ受けの中心に３１３のマークが合致するように
レンズをセットする。また近用屈折特性測定時は、３１
６のマークの丸印をレンズ受けに合致させるようにレン
ズをセットする。さらに必要に応じ、フィッティングマ
ーク３１２が示す位置における屈折特性を知りたいとき
は、マーク３１２の交点３１２ａをレンズ受けの中心に
合致させるようにレンズをセットする。

（本発明が解決しようとする問題点） 上述したような構成をもつ現在の累進多焦点レンズは、
前述したように累進帯部及び近用部周辺が複雑な非球面
構造をもつため、近用部に正確に被装用老眼が位置する
ようにレンズを眼鏡フレームに枠入れする必要がある。

ところが、眼鏡フレームに枠・入れされた後のレンズに
おいては、ダイヤマーク３１１、近用加入度数表示３１
４、及びメーカーマーク３１７以外はずべて消される。

しかし、累進多焦点レンズは、その屈折面が高次の関数
曲面となっているため、その非点収差分布、及び近用加
入度数分布の等屈折力値分布曲線は、複雑な形状となる
。このため、トライ−アンド−エラーで近用測定部位置
を決定することが極めて困難であるばかりか、例えば近
用測定部位置が、レンズによっては加入度最大位置及び
／または非点収差（円柱度）最小位置でない場所を指定
しているものもある。従って、トライ−アンド−エラ一
方式で測定部を決定することはもちろん延いてはその位
置に印点することもまったく不可能なことがあった。

この対策として、各レンズメーカーはチェックカードを
用いる。第１３図の各種マークを図示したカードを別品
で用意し、チェックカードのダイヤマークと枠入れされ
たレンズに残っているダイヤマーク３１１を合わせるよ
うにチェックカードをレンズに貼る。そしてチェックカ
ード上の遠用及び近用屈折特性測定部指示マークをもと
にレンズ上に該マークにそってマーカーベン等でマーキ
ングしたのち、そのマーキングされたメガネを被装用者
に装用してもらう。遠用作業時及び近用作業時の被装用
老眼の位置とマーキングされた指示マーク位置との位置
関係から、レンズが正しく枠入れされているか否か、あ
るいは眼鏡フレームのフィッティングが正確か否かを判
断しており、この判断には極めて繁雑な作業を強いられ
ていた。

さらに、このチェックカードは、すべての眼鏡店にすべ
てのレンズメーカーのものが保管されているとは限らず
、所定のチェックカードがないときは、この判断のため
にまったく手の打ちようがないというのが現状であった
。

さらにたとえチェックカードがあったと、しても、前記
マークはレンズに極めて薄く表示されているため、この
マークを見つけること自体極めてむづかしいという問題
があった。

さらに、チェックカードを利用して、遠用部及び近用部
にマーキングまたは印点する場合、レンズ上のダイヤマ
ークとレンズの遠用測定部１３、近用測定部１６のそれ
ぞれの位置が個々のレンズにより、バラツキがない、す
なわち個体差がないことが前提である。それゆえ、もし
レンズメーカーのレンズ製作上のミスでこれら王者の位
置関係に誤差が生じた場合は、もはや、正確に測定部の
位置を決め、マーキングや印点を高精度に行うことがで
きない。

このように従来方法では、レンズの近用測定部すなわち
レンズ装用者が近用作業時にその部分を通して見ること
を指定されている部分の位置に印点できないため、装用
者がはたして正しく屈折矯正される近用部を利用しつる
ようにメガネを装用しているか否かをまったく判定する
ことができなかった。

本発明の目的は累進多焦点レンズの屈折特性の測定及び
自動印点に係る上記従来の欠点を解消し、チェックカー
ドによることなくレンズの少なくとも近用部に、その加
入度数測定結果に基づいて印点できるレンズ印点方法及
びそのための装置を提供することにある。

〔発明の構成〕

（問題点を解決するための手段及び作用）本発明は、累
進多焦点レンズの少なくとも近用部の加入度数をある領
域内で測定し、その測定結果から最大加入度数を選定す
る段階と、この選定された最大加入度数に基づいて近用
部加入度数境界値を決定する段階と、近用部の複数の測
定点加入度数を測定する段階と、その加入度数測定結果
と前記境界値を比較し境界値より大きい加入度数をもつ
測定点上にまたはその近傍に印点する段階とからなるレ
ンズ印点方法である。

また本発明は、累進多焦点レンズの少なくとも近用部の
加入度数を複数の測定点で自動的に測定する測定手段と
、その測定結果から最大加入度数を求める選定手段と、
最大加入度数に基づいて近用部加入度数境界値を決定す
る決定手段と、前記測定点の６（ｑ定加入度数と前記最
大加入度数とを比較する比較手段と、測定加入度数が最
大加入度数より大きくなる領域内にある測定点上または
その近傍に印点する印点手段とから構成される。

（実施例） 第１実施例 装置の機械構成 第１図は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の
機械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和６１
年２月２７日に同一出願人により出願された発明の名称
「被検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。

この自動印点装置は、第１図に示すように、被検レンズ
または該レンズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、
移動させるための支持機構部ＩＯと、被検レンズを押さ
えるためのレンズ押え部２０と、被検レンズに印点する
ための印点部３０と、被検レンズを受けるレンズ受は台
４０とから大略構成されている。

支持機構部１０はパルスモータからなるＹ他モータ１１
Ｍを有し、このモータ１１Ｍの回動によりＸ軸送り機構
部１２を、例えば送りネジ機構でＹ軸方向にそって移動
させるＹ軸道り機構１１と、パルスモータ１２Ｍを有し
、その回動により、例えば送りネジ機構によりＸ軸方向
にそってハンド開閉部１３を移動させるＸ軸送り機構１
２とを有する。

ハンド開閉部１３は、例えば直流モータからなるハンド
モータ１３Ｍにより回動される駆動プーリーと、従動プ
ーリーと、両プーリー間に掛けわたされた無端ベルトか
ら構成された駆動部の該ベルトに取り付けられ、モータ
１３Ｍの回動により矢印１３１．１３２にそって互いに
反対方向に移動する２つのハンド支持座とから構成され
る。

ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印１３３．１３４
方向にそって所定範囲内に上下動すなわちＺ軸方向にそ
って移動可能にハンドテーブル１３５．１３６が取付け
られている。ハンドテーブルのアーム１３７．１３８に
は、゛ｒンカットレンズのコバ面を挟持するための内側
当接面１４１．１５１と、図示するように眼鏡フレーム
ＦのテンプルＴと当接する外側当接面１４２．１５２と
を有する左、右のハンド１４．１５が輔１４３．１５３
に回動自在に取付けられている。

レンズ受は台４０は、本発明の自動印点装置が組込まれ
るレンズメーターの測定光学系の光軸０が貫通ずる開口
４１を有する円筒部材４２と、その円筒部材４２の上端
部に植設された３本のレンズ受はビン４３とから構成さ
れている。

レンズ押え部２０は直流モータからなるレンズ押えモー
タ２０ＭによりＺ軸方向にそってレンズ押えテーブル２
１を上下動するためのレンズ押え送り機構２２を有し、
レンズ押えテーブル２１のアーム２３から下方に張出し
た支柱２４の先端に３本のレンズ押えピン２５を有する
レンズ押え座２６を有している。

レンズ押えテーブル２１には印点部３０の送り機構３１
が固定されている。送り機構３１には印点ベース３２を
矢印３３方向に移動するためのパルスモータからなる印
点移動モータ３０Ｍが組みこまれている。印点ベース３
２には、ムービングコイル３４によりＺ軸方向に押し出
される印点ピン３５が取付けられている。印点ベース３
２が初期位置にあるとき、印点ビン３５の下方にはイン
ク壺３６が設置されている。

制御駆動回路系 第２図は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示す
ブロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出
願を参照されたい。Ｘ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１
Ｍ、及び印点移動モータ３０Ｍは、パルス発生器（図示
せず）と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路２００に接続されている。レン
ズ押えモータ３０Ｍと、ハンドモータ１３Ｍは、定電流
制御回路２（１０）に接続されて一定電流で駆動するた
め、レンズの押え圧及びハンド１４．１５によるフレー
ムＦの保持圧は一定に保たれる。

印点ムービングコイル３４はドライバ回路２０２に接続
されている。

上記パルスドライバ回路２００、定電流制御回路２（１
０）、ドライバ回路２０２は、マイクロコンピュータか
ら成るシーケンサ２（１３）に接続され、その制御をう
ける。

シーケンサ２（１３）には、被検レンズの保持や眼鏡フ
レームＦの初期の保持及び位置付けのコントロールをす
るための初期コイトロール回路２（１２）と、比較回路
２０６、検出器１からの情報に基づき被検レンズの屈折
特性を決定する屈折特性測定値処理部と、ＲＡＭ　（ラ
ンダム　アクセス　メモリ）２１１と演算回路２０９と
、プログラムメモリ２１３と、アライメント選択スイッ
チ２０５とが接続されている。

レンズの屈折特性測定値を表示するための例えばＣＲＴ
ディスプレイまたは液晶ディスプレイから成る表示器２
０８が処理部２０７に接続されている。ＲＡＭ２１１は
、比較回路２０６と、演算回路２０９とシーケンサ２（
１３）と、初期コントロール回路２（１２）とに接続さ
れている。このＲＡＭ２１１には遠用近用位置入力キー
ボード２１０が接続されている。ＲＯＭ　（リードオン
リーメモリ）２１２は演算回路２０９と初期コントロー
ル回路２（１２）に接続されている。

第３図は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れ
した眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャート
である。

くステップＳ−１＞ 初期コントロール回路２（１２）は、プログラムメモリ
２１３のプログラムに従って定電流制御回路２（１０）
を介してハンドモータ１３Ｍを作動させ、ハンド１４．
１５を閉じさせる。

くステップＳ−２〉 測定者は閉じられたハンド１４．１５上に印点したい眼
鏡レンズを枠入れした眼鏡フレームＦを載置する。

くステップＳ−３〉 初期コントロール回路２（１２）は定電流制御回路２（
１０）を介してハンドモータ１３Ｍを反転させ、ハンド
１４．１５を開かせ、フレームＦのテンプルＴに外側当
接面１４２．１５２を一定圧力で当接させてフレームＦ
を保持する。

くステップＳ−４〉 初期コントロール回路２（１２）は右眼の印点が終了し
ているか否かを判断し、ＹＥＳの場合はステップＳ−８
へ、Ｎｏの場合は次ステツプＳ−５へ移行する。

くステップＳ−５〉 右眼レンズを測定光学系１の光軸０上に位置させるため
に、初期コントロール回路２４はＲＯＭ２１２に予めメ
モリされている指定ＰＤ値の半分の距離に相当するパル
ス数を読み出し、パルスドライバ回路２００を介してＸ
軸モーク１２Ｍを回転させてハンド開閉部１３を移動さ
せる。

くステップＳ−６〉 初期コントロール回路２（１２）は定電流制御回路２（
１０）を介してレンズ押えモータ３０Ｍを作動させ、レ
ンズ押えテーブル２１を下降させる。

これによりレンズ押えビン２５が右眼レンズを押える。

すなわち、右眼レンズは、レンズ受は台４０のレンズ受
はビン４３とレンズ押えビン２５で挟まれる。また、フ
レームＦはハンド１４．１５によっても保持されるため
十分な安定性をもって保持される。

くステップＳ−７〉 後に詳述する印点サブルーチンにより印点された後ステ
ップＳ−４にリターンし、ここで右眼終了か否かを判定
し、右眼終了と判定されて次ステツプＳ−８へ移行する
。

くステップＳ−８〉 初期コントロール回路２（１２）はモータ２０Ｍを反転
し、レンズ押え１ｆｆ１２０を初期位置へ復帰させた後
、前記ステップＳ−５とは逆方向にＸ軸子−タ１２Ｍを
回転させ、ＲＯＭ２１２にメモリされている所定ＰＤ値
に相当する距離だけハンド開閉部１３を移動させる。

くステップＳ−９〉及びくステップ５−１０＞それぞれ
前記ステップＳ−６及び前記ステップＳ−７と同じ動作
を実行する。

印点サブルーチン 次に、前記ステップＳ−７の印点サブルーチンを第４図
に基づいて詳説する。

くステップｌ〉 測定者はアライメント選択スイッチ２０５を操作して、
「光学中心」基準で印点するか「フレーム幾何学中心」
基準で印点するかを選択する。「フレーム幾何学中心」
基準は、例えばブリズムシーニング加工が施されたレン
ズであって、遠用光学中心がレンズ外にあるようなレン
ズが被検レンズとなった場合に選択される。

「光学中心」基準が選択されたときは次ステツプ２に移
行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場合は
ステップ４に移行する。

くステップ２〉 測定者はメーカーマーク３１７（第１３図参照）を調べ
ることにより製品名を知り、レンズメーカー発行のアニ
マルから予め遠用測定部３１３及び近用測定部３１６の
光学中心（または幾何学中心）３１５からの距ｍＡ、Ｂ
、Ｃがわかっている場合は、遠用・近用位置人カキーポ
ート２１０を操作してその値を人力する。人力データは
ＲＯＭ２１２に記憶される。

距離データΔ、Ｂ、Ｃの入力がない場合は、ＲＯＭ２１
２に予めメモリされている距離データ、例えばマーケッ
トシェアの高いレンズの距離データが利用される。

くステップ３〉 シーケンサ２（１３）は検出２Ｗ　１を作動させ、レン
ズの遠用プリズム度数を測定する。検出器からの検出デ
ータは処理部２０７で逐時プリズム度数データに変換処
理され、比較回路に人力される。比較回路２０６はＲＯ
Ｍ２１２に記憶されている判定基準プリズム度数Ｉ　Ｐ
、　　ｌ　＝　０．（１３）及びＩＰ、ｌ＝０．（１３
）を読み出し、これと処理部２０７からのプリズム度数
測定データとを比較し、その結果をシーケンサ２（１３
）に入力する。

シーケンサ２（１３）はプリズム測定データＰＸ　、Ｐ
、がｌＰ、１＜０．（１３）、ＩＰＹＩ＜０．（１３）
となるまでパルスドライバ回路２００を介してＸ軸１２
Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍを作動させてレンズを移動し、比
較回路２０６がｌ　Ｐｘ　　Ｉ　＜０．（１３）及びｌ
Ｐｖ　ｌ＜０．（１３）と判定したレンズ移動位置を、
第１４図に示すように光学中心位置（０，、○ｙ　）と
してＲＡＭ２１１へ記憶させる。その後ステップ１０へ
移行する。

くステップ４〉 前述のステップ１で「フレーム幾何学中心」基準が選択
された場合、測定者は左右眼の被検レンズ間のＰＤ値（
幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔間距離）を人力
する。ＰＤ値の人力がないときは、標準値として予め定
められＲＯＭ２１２に記憶されているＰＤ値を利用する
。

くステップ５〉 前述のステップ２と同様の動作を実行する。

〈ステップ６〉 初期コントロール回路２（１２）はステップ３のＰＤ値
に基づいてパルスドライバ回路２００ヲ介してＸ軸モー
タ１２Ｍを作動させ、指定ＰＤ位置すなわち測定点が光
軸Ｏ上にくるようにレンズを移動する。例えばステップ
２の人力ＰＤ値が６８ｍ／ｍであり、本印点装置のＲＯ
Ｍ２１２に記憶設定されていた標準ＰＤ値が６４ｍ／ｍ
の場合、前記ステップＳ−５でＰ　Ｄ　６４ｍ／ｍの標
準位置に位置付けられているから（６８−６４）÷２　
＝　２ｍ／ｍ分ハンド開閉部を移動させることにより指
定ＰＤ位置が光軸Ｏ上に位置される。

〈ステップ７〉 シーケンサ２（１３）は検出器１を作動させると同時に
パルスドライバ回路２００を介してＹ軸上−タ１１Ｍを
作動させ、レンズをＹ軸方向に移動させる。そしてフレ
ームＦのレンズ枠ＬＦの上側リムＵＬ（第１４図参照）
が光軸○上に位置し、検出器１による測定が不能になる
までのＹ軸モータ１１Ｍへのパルス供給数ヲＲ／Ｍ２１
１に一時的に記憶させる。

くステップ８〉 シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００を制
御してＹ軸上−タ１１Ｍを反転させ、下側リムＬＬが光
軸Ｏ上に位置するまでのＹ軸上−タ１１Ｍへの供給パル
ス数をＲＯＭ２１２に一時的に記憶させる。

くステップ９〉 前記ステップ７とステップ８で得られた上側リムＵＬ及
び下側リムＬＬ検出までのＹ軸上−タ１１Ｍへの供給パ
ルス数間の差の半分の値を計算し、その結果及び前記ス
テップ６の位置から第１４図に示すようにフレーム幾何
学中心（Ｇ、　、　Ｇｙ）を決定する。

くステップ１０〉 シーケンサ２（１３）はＲＡＭ２１１から前記ステップ
２またはステップ４で人力された遠用測定部距離Ａ（人
力がない場合は、ＲＯＭ２１２に記憶されている所定値
、以下同じ）を読み出し、パルスドライバ回路２００を
介してＹ軸モータｌＩＭを作動させる。ステップ１で「
光学中心」基準を指定した場合はサブステップ１で決定
された光学中心（０，、Ｏ，）、またステップ１で「幾
何中心」基準を指定した時はサブステップ２で決定され
た幾何学中心（Ｇ、、　　Ｇ、）から距離だけレンズを
移動させ、遠用測定部３１３を測定光学系１の光軸Ｏと
一致させる。

（ステップ２または５でＡの人力がない場合は、レンズ
本来の遠用測定部３１３と光軸Ｏとは一致しない。） くステップ１１〉 シーケンサ２（１３）は検出３１と処理ｇＢ２０７を作
動させて遠用測定部３１３の屈折特性を測定し、その結
果を表示器２０８で表示するとともに、その結果を基準
遠用球面度数ＭＳ、基準遠用円柱度数ＭＣとしてＲＡＭ
２１１に記憶させる。

くステップ１２〉 シーケンサ２（１３）はＲＡＭ２１１からステップ２ま
たはステップ４で人力された近用測定品距離Ｂ％Ｃを読
み出し、パルスドライバ回路２００を介してＸ軸モータ
１２Ｍ５Ｙ軸モータｌ１Ｍを作動させレンズの近用測定
部３１６を光軸０上に移動させる。（ステップ２または
５でＥＳＣの入力がない場合は、レンズ本来の近用測定
部３１６と光軸０は一致しない。）くステップ１３〉 シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００を介
してＸ軸モータ１２Ｍを作動させ、レンズを体側及び耳
側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレンズの屈折特
性値Ｓ（球面度数）及びＣ（円柱度数）を処理部２０７
から演算回路２０９へ入力させる。処理部２０７は、基
準遠用球面度数ＭＳと、基べに近用球面度数ＭＣと、時
々刻々の近用屈折特性測定値Ｓ及びＣとから近用加入度
ＡＤＤを として計算し、比較回路２０６に入力する。

比較回路２０６は、処理部２０７から時々刻々人力され
るＡＤＤ値からその最大の値へ〇〇。

をもつレンズの移動位置Ｋｌ　　（ＸＫＩ、　ｙＸｌ）
を決定し、シーケンサ２（１３）にその位置情報を出力
する。これと同時に最大近用加入度数へ〇〇、１をＲＡ
Ｍ２１１に記憶させる。シーケンサ２（１３）は、その
位置情報Ｋｌ（ＸＸＩ、ｙ、１）に基づいてＸ軸子−タ
１２Ｍ及びＹ軸モータ１１Ｍを作動させ、レンズを位置
Ｋ　ｌ　（Ｘ　Ｋ　ｌ、ｙ、１）に移動させる。

くステップ１４〉 演算回路２０９は、ＲΔＭ２１１に記憶されている最大
近用加入度数Ａ　Ｄ　Ｄ、とＲＯＭ２１２に予め記憶さ
せている定数群とから遠用部加入度数境界値Δｅ、遠用
部円柱度数境界値Ｃｅ。

近用部加入度数境界値ＡＫ１及び近用部円柱度数境界値
Ｃイを、例えば コ から計算し、この各境界値Δｅ、Ｃｅ、Δ８、ＣＫをＲ
ΔＭ２１１に記憶させる。

くステップ１５〉 シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００を介
してＸ軸モーター２Ｍを作動させ、第５図に示すように
レンズをに、位置から体側と耳側に順次移動させる。演
算回路２０９はレンズ移動中の時々刻々変化する測定点
毎の処理部２０７からの測定円柱度数ＣとＲＡＭ２１１
に記憶されている基準遠用円柱度数ＭＣとから（Ｃ−Ｍ
Ｃ）を計算し、その結果を比較回路２０６へ入力する。

処理部２０７は上記（ａ）式にしたがって加入度数ΔＤ
Ｄを演算し、その値を比較回路２０６へ人力する。

比較回路２０６は処理部２０７からのＡＤＤ値及び演算
回路２０９からのＣ−ＭＣ値とＲＡ　ＭｇＩ２に記憶さ
〔た境界値ＡＫｓ及びＣＫ　とを時々刻々に比較し、レ
ンズの体側及び耳側の両方で が成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ２（１３）へ人力する。

くステップ１６〉 尚ステップ１５で■式成立測定点が体側と耳側両方にあ
ると比較回路２０６が判定したときは、第５図に示すよ
うにシーケンサ２（１３）はＸ軸子−タ１２Ｍを再度作
動させレンズを耳側に移動し、体側の０式が成立する測
定点に２（Ｘ□、ｙＫｌ）に移動する。次に、ドライバ
回路２０２を作動させ印点部３０の中央の印点針３５の
ムービングコイル３４を励磁し、印点針３５をインクツ
ボ３６に浸した後、パルスドライバ回路２００を介して
、印点部移動モータ３０Ｍを作動させて印点ベース３２
を降下させ、中央印点針３５を光軸Ｏ上に位置させる。

その後ドライバ回路２０２を介してムービングコイル３
４を励磁し、レンズ」二に印点をする。

くステップ１７〉 シーケンサ２（１３）は次に印点移動モータ３０Ｍを反
転させて、印点ベース３２を初期位置に復帰させた後、
Ｘ軸子−タ１２Ｍを反転させてレンズを体側へ移動し、
レンズの耳側で０式が成立する測定点Ｋ　３　（ｘ工。

、’ｊｘ＋）へ移動し、以下ステップ１６と同様の動作
で、その測定点に３へ印点する。

くステップ１８〉 シーケンサ２（１３）は近用加入度ＡＤＤ最大位置に＋
（ｘＫ＋、　ｙａｔ’）のＸ座標値ＸＫＩをＲＡＭ２１
１から読み出し、パルスドライバ回路２００を介してＸ
モータ１２Ｍを駆動してレンズをに１位置へ復帰させる
。

くステップ１９〉 シーケンサ２（１３）は、次にＹ軸モータ１１Ｍを作動
させ、レンズを近用方向に移動させ、レンズの遠用方向
よりの近用部分に測定点を求める。時々刻々移動中のレ
ンズの屈折特性は処理部２０７から比較回路２０６に入
力され、比較回路２０６は上記０式の条件を満足するか
否かを判定し、その結果をシーケンサ２（１３）に入力
する。シーケンサ２（１３）は比較回路２０６から条件
０式を「満足する」旨指令が人力されると、Ｙ軸モータ
１１Ｍの作動を停止すると同時に、第５図に示すように
測定点に５（Ｘｘｓ、ｙ８５）に印点する。

また、これと同時に印点位置Ｋｊ（ＸＭＳ、ｙｇｓ）の
Ｘ−Ｙ座標値はＲＡＭ２１１で記憶される。

くステップ２０〉 演算回路２０９はＲＡＭ２１１から位置に１と印点位置
に、のｙ座４Ｍ　Ｖ　ｗ　＋、及びｙヨ、を読み出し、 のｙ座標を有し、Ｘ座標はｘＫｓ（＝ｘに１）をもつ移
動位置Ｋｓ（Ｘｘｓ、ｙＫ６　）　＝　Ｋ６（ＸＫ１１
、ｙＫ６）を演算で求める。このデータを基にシーケン
サ２（１３）はＹ軸モーター１Ｍを作動させ、移動位置
に、が光軸０と一致するようにレンズを移動させる。

くステップ２１〉 前記ステップ１６及びステップ１７と同様の動作により
第５図に示すようにに１、Ｋ、を印点する。その後前記
位置に、へ復帰する。

くステップ２２〉 前記ステップ１６で比較回路２０６が条件０式を耳側・
体側の両側で「満足しない」と判定したときは、第６図
に示すように、シーケンサ２（１３）はＸ軸モーター２
Ｍを作動させ、ＲＡＭ２１１の位置に１　の座標データ
（ｘ、１、ｙＫｌ）を基にレンズをに１　へ移動させる
。

くステップ２３〉 次にシーケンサ２（１３）はＹ軸モータ１１Ｍを作動さ
せ、条件の式を満足するまでレンズを遠用方向へ移動さ
せ、条件０式を満足する測定点に９（ＸＫ９、ｙＫ９）
が光軸０と一致したときＹ軸モータ１１Ｍを停止させ、
ドライバ回路２０２を介して測定点に、に印点する。

〈ステップ２４〉 第６図に示すように印点位Ｕｔ、　Ｋ　ｓのＸ座標ｘｔ
ｔｓに予め定めた距離ａをＲＯＭ２１２から読み出し、
演算回路２０９で（Ｘｋｓ　　ａ）をＸ座標とする位置
ＫＩＯ（ＸＭ９　　ａｓ　ｙｇｓ）　＝Ｋｒａ（ＸＫＩ
Ｏ１ｙａｔ。）を演算させ、シーケンサ２（１３）はレ
ンズをＫＩＯへ移動するためにパルスドライバ回路２０
０を介してＸ軸モータ１２Ｍを作動させる。

くステップ２５〉 レンズを位置ＫＩＱに移動させた後、シーケンサ２（１
３）はＹ軸モータ１１Ｍを作動させ、レンズの近用方向
に測定点を求めるためにレンズを移動させ、近用部加入
度数境界値ＡＫと近用部円柱度数境界値Ｃ１に対し、レ
ンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測定値に基づ
く処理部２０７からの加入度１＆ＡＤＤ及び近用円柱度
数Ｃ−ＭＣが を満たすまで測定点をＹ軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件０式を満足する位置へ移動したら、次にシー
ケンサ２（１３）はＹ軸モータ１１Ｍを反転させてレン
ズの遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、
その移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記
条件の式を満足するＩＪｔｑ定点Ｋｚ（Ｘ＊□、ｙに１
．）にレンズを移動し、測定点に、に印点する。これと
同時に印点位置Ｋ　＋＋　（ＸＫ１１　ｓ　ｙＭｌｌ　
　）の座標データをＲＡＭ２１１に記憶させる。

くステップ２６〉 演算回路２０９はＲＡＭ２１１の印点位置に、の座標デ
ータ（Ｘｘｚ　、’／＊ｚ　　）のＸ座標ＸＫ１１　を
読み出し、これにＲＯＭ２１２に予め定数として記ｔα
されている距離データａを基にして（ＸＫｚ　　＋２８
　）　＝　ＸＫ１２　を演算する。この演算結果に基づ
いてシーケンサ２（１３）はｘ　＋ｔｂモータ１２Ｍを
作動させ、（Ｘｘ＋２　＋２ａ、３’ＫＩ＋　　）を位
置座標とする移動位置Ｋ　Ｉ　２が光軸Ｏと一致するよ
うにレンズを移動させる。

くステップ２７〉 前記ステップ２５と同様の動作で位置ＫＩ３に印点する
。

くステップ２８〉 比較回路２０６は印点位置に９、Ｋ％＋い及びＫ１３の
各ｙ座標ｙＸ９、ｙ□１　、ｙ、３の大小を比較し、第
６図のようにｌ　ｙＸ１１　　１　＞　！　ｙｘｓｌ＜
ｌ　５’Ｋ１３　　ｌすなわち中央の印点位置に、がも
っとも遠用方向側にあるときは次ステツプ３０へ移行さ
せる。比較回路２０６がｉｙＫ、１〉ｌ　ｙｘｓ　ｌ　
＜　ｌ　ＶＸ＋３　１　、すなわち第７図に示すように
、耳側の印点位置Ｋ１３がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ３１へ移動する。さらに比較
回路２０６が１ｙｘｚｌ＜ＩｙＫＩｌｌ＜１ｙイ１，１
、すなわち第８図に示すように、微測の印点位２Ｋｚが
もっとも連用方向によりにあると判定したときはステッ
プ３８へ移行する。

くステップ３０〉 シーケンサ２（１３）は、パルスドライバ回路２００を
介してＸ他モータ１２Ｍ及びＹ他モータ１１Ｍを、ＲＯ
Ｍ２１２に記憶されている印点位置に９（ＸＫ１１、ｙ
Ｋ９）の座標データに基づいて駆動制御し、印点位置に
、にレンズを復帰させる。

〈ステップ３１〉 演算回路２０９はＲＡＭ２１１に記憶されている位置に
１　のＸ座４５．　Ｘ　Ｋ　ｌにＲＯＭ２１２に予め定
数として記憶しである距離すを加算し、新たに移動位置
Ｋ１４　（ＸＫＩ　　ｂ、　ｙＫＩ３　　）　＝ＫＩ４
（ＸＸ□４　、ＶＫ１４　　）を求める。この位置Ｋ１
４の座標データに基づいてシーケンサ２（１３）はＸ他
モータ１２Ｍを作動させ、レンズを微測に移動し、第７
図に示すようにＫ１４に光軸０が位置するようにレンズ
を移動させる。

くステップ３２〉 前述のステップ２５と同様の動作を実行し、位置Ｋ　＋
５に印点する。

くステップ３３〉 比較回路２０６は、ステップ２５で印点された印点位置
Ｋ　＋　＋と前ステップ３２で印点された印点位’１１
　Ｋ　＋　ｓのｙ座標ｙ□１　と３１’ＫＩ５　の大小
を比較する。比較回路２０６が１ｙイ１．ｌく１３／＊
ｚｌと判定したとき（第７図にＸ印でＫ　ｌ　５のよう
に印点されたとき）は次ステツプ３４へ移行し、１ｙイ
Ｉｓ　　ｌ　〉ｌ　ＶＫ１１　　１と判定したときはス
テップ３５へ移行する。

くステップ３４〉 シーケンサ２（１３）はＲＡＭ２１１の印点位置Ｋ　ｚ
　（ＸＫｚ　、ｙＸｌｌ　　）の座標データを読み取り
、Ｘ他モータ１２Ｍ及びＹ他モータ１１Ｍを駆動制御し
、レンズを印点位置Ｋ１３に復帰させる。

くステップ３５〉 演算回路２（１３）はＲＯＭ２１２に予め定数として記
憶されている距離データｃ　（ｃ＞ｂ）を読み込み、新
たな移動位置に＋５（ＸＫ＋Ｃ％ｙＫ＋ｓ　　）　＝に
＋ｓ　（ＸＫＩ６　、ｙｘ＋ｓ　　）を求める。

シーケンサ２（１３）はこのＫ１６の座標データに基づ
いてＸ他モータ１２Ｍを駆動制御し、位置Ｋ１６にレン
ズを移動する。

くステップ３６〉 前述のステップ２５と同様の動作を実行し、Ｋ　）　ｔ
に印点する。

くステップ３７〉 シーケンサ２（１３）はレンズをに＋３に復帰させる。

くステップ３８〉 演算回路２０９はＲＯＭ２１２に記憶されている定数す
を読み出し、第８図に示すように新たな移動位置Ｋ１８
　（ＸＫ１１　ｂＳＶＫＩ＋　　＞　＝Ｋ　＋ｅ　（Ｘ
Ｘ１８　、Ｖｙ＋ａ　　）を求め、シーケンサ２（１３
）は位置Ｋ１８にレンズを移動させる。

くステップ３９〉 前述のステップ３２ないしステップ３７と同様の動作を
実行し、第８図に示すように位置Ｋ１９、Ｋ２０ごそれ
ぞれ印点する。なお、本ステップでは印点位置Ｋ　ｌ　
９のｙ座標ｙ、１．と印点位置Ｋ　１３のｙ座標、ｙ□
、の大小を比較する。

ｌｙｘ＋ｓｌ＞ｌｙ□３１のとき、新たな位置、Ｋ２Ｏ
はに２Ｇ　（ＸＫＩ　＋　Ｃ＋　Ｖａｔｓ　）　＝に２
゜（Ｘｍｚｏ　Ｎ　ｙＫ２゜）を求める点か前述のステ
ップ３２ないしステップ３７と相違する。その後、印点
位ＲＫ　＋　＋にレンズを復帰させる。

以上にて近用部の印点を終了し、次ステップ４０以降遠
用部の印点へ移行する。

くステップ４０＞ 前述のステップ２１の復帰後の印点位置に５、ステップ
３０が実行されたときは復帰位置に９　、ステップ３４
または３７が実行されたときは復帰位置に１３、ステッ
プ３９が実行されたときは復帰位置Ｋｌ＋を起点として
、第５図に示すようにシーケンサ２（１３）はパルスド
ライバ回路２００を介してＹ軸モータｌ１Ｍを作動させ
る。

これによりレンズは近用方向に移動し、レンズの遠用方
向側に測定点を求める。処理部２０７からはレンズ移動
中時々刻々の測定点屈折特性値すなわち測定遠用加入度
数ＡＤＤが比較回路２０６る入力され、−力測定円柱度
数Ｃ１は演算回路２０９に人力される。演算回路２０９
はＲＡＭ２１１に記憶されていた前述のステップ１１で
得られた基準遠用円柱度数ＭＣを人力された測定円柱度
数Ｃから減算し、その結果（Ｃ−ＭＣ）を比較回路２０
６に入力する。

比較回路２０６は、ＲＡＭ２１１に人力されていた遠用
加入度数境界値Ａｅと遠用円柱度数境界値Ｃｅを読み出
し、演算回路２０９からの入力値（Ｃ−ＭＣ）と処理部
２０７からの遠用加入度数ＡＤＤとから、移動中のレン
ズの測定点の加入度数ＡＤＤと円柱度数差（Ｃ−ＭＣ）
が を満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ２（
１３）にその旨を指令する。

くステップ４１〉 シーケンサ２（１３）は比較回路２０Ｇからの「条件■
満足」の信号を受けると、パルスドライバ回路２００を
介してＹ軸モータ１１Ｍを反転させ、レンズの近用方向
が測定点となるようにレンズを前回とは逆に移動させる
。

この反転移動中の処理部２０７からの時々刻々の測定点
毎の加入度数ＡＤＤと円柱度数Ｃとは上述と同様に演算
回路２０９で円柱度数差（Ｃ−ＭＣ）が演算される。比
較回路２０６は加入度数ΔＤＤと円柱度数差（Ｃ−ＭＣ
）を遠用加入度数境界値Δｅ及び遠用円柱度数境界値Ｃ
ｅと比較して が成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ２（１３）に出力する。

シーケンサ２（１３）は比較回路２０６からの指令を受
けるとＹ軸モータ１１Ｍを停止させレンズ移動を止める
とともに、ドライバ回路２０２を介して条件０式の成立
測定点位置Ｅ１　　に印点スル。ソｆｔトトモニＥＩ（
Ｄ座ａ　（ＸＥＩ、３’ＥＩ　＞をＲＡＭ２１１に記憶
させる。

くステップ４２〉 シーケンサ２（１３）はＲＯＭ２１２から予め定数とし
て記憶されている距離ｄを読み出し、Ｘ軸モータ１２Ｍ
を作動し、その距離ｄだけレンズの扉側が測定点となる
ようにレンズを耳側に移動し、移動位置Ｅ２を測定点と
する。

〈ステップ４３〉 前述のステップ４０及びステップ４１と同様の動作を実
行し、条件０式を満足する測定点Ｅ３を印点する。

くステップ４４〉 シーケンサ２（１３）はＲＯＭ２１２に記憶されている
距離ｄの２倍２ｄだけレンズを体側へ移動し、Ｅ４　を
測定点とした後、前述のステップ４０及び４１と同様の
動作を実行し、測定点Ｅ５　に印点する。

くステップ４５〉 ステップ４１ないしステップ４４で印点されたＥ、　、
Ｅ、及びＥ、の各々のｙ座標ｙＥｌ、ｙｅｙ、’ｌＥｓ
と近用部の印点位置に、　　（またはに＋　、Ｋｚある
いはに、、）のｙ座標ｙｘｓとのＹ軸方向距離’／ｘ、
Ｖｓｓ、Ｗａｓを演算回路２０９で演算する。この演算
結果を比較回路２０６に出力する。比較回路２０６は、
’／ａ３≧７□≦７６゜のとき、すなわち中央の印点位
置Ｅ１　がもっとも近用方向よりのときは次ステツプ４
６に移行し、第９図に示すように、Ｖ＋：３＜　ＶＥ＋
　＜７１ｉ３のときはステップ４８へ移行し、第１０図
に示すようにＶｓｚ＞ｙ□〉７８３のときはステップ４
９へ移行する。

くステップ４６〉 第５図に示すように、距離ｄだけさらに耳側方向へ測定
点を移動させＥ６を測定点とする。

その後、ステップ４０及び４Ｉと同様な動作を実行し、
Ｅ７　印点する。その後Ｅ７　点から距離４ｄだけレン
ズを耳側に移動し、Ｅ８を測定点としたのち、ステップ
４０及び４１と同様の動作を実行し、測定点Ｅ、を印点
する。

くステップ４８〉 第９図に示すように、印点位置Ｅ、から距離３ｄだけレ
ンズをＹ軸方向にそって耳側へ移動し、体側の測定点Ｅ
ｇｏを得る。その後、ステップ４０．４１と同様の動作
を実行し、測定点Ｅ１冒こ印点し、さらに距離ｄだけ体
側に測定点を移動し、Ｅ１２を測定点としステップ４０
．４１と同様の動作を実行し、測定点Ｅ　１３を印点す
る。

くステップ４９〉 第１Ｏ図に示すように印点位置Ｅ５　から距離ｄさらに
耳側の測定点Ｅ　ｌ　４を得た後、ステップ４０．４Ｉ
と同様の動作を実行しＥｌｓに印点する。さらに耳側の
測定点Ｅ１６へ移動し、ステップ４０．４１と同様の動
作から測定点Ｅ　ｌ　？に印点する。

以上の印点動作により、第１１図に示すように、条件０
式、すなわち測定加入度数ＡＤＤが近用加入度数境界値
ＡＫ　に対し、△ＤＤ≦ＡＫ　となるか、または測定円
柱度数Ｃと遠用部円柱度数ＭＣとの差（Ｃ−ＭＣ）が近
用円柱度数境界値ＣＫに対しくＣ−ＭＣ）≧ＣＫ　とな
る境界線４（１０）上に印点される。このことは境界線
４（１０）に囲まれた領域４１０はｒＡＤＤ≧ＡＸ及び
（Ｃ−ＭＣ）≦ＣＸＪの領域となる。この領域４１０は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数１．ｏＯＤのレンズでは、例えばら 〕式よりコ とあたえられる。従って、領域４１０は、加入度数０．
７５　Ｄ以上でかつ円柱度数０．２５　Ｄ以下の領域と
なる。そしてこの領域には必ずレンズメーカー指定の近
用測定部３１６が含まれる。

また、第１１図に示すように、条件０式、すなわち測定
加入度数ＡＤＤが遠用加入度数境界値Ａｅ以上か、また
は測定円柱度数差（Ｃ−、Ｍ　Ｃ）が遠用円柱度数境界
値Ｃｅより大きい境界線４０２上にも印点される。この
境界線４０２より遠用方向側はＡＤＤ≦Ａｅかつ（（、
ＭＣ）≦Ｃｅの領域４２０となり、遠用作業が楽にげき
る領域である。例えば加入度数ＡＤＤ、が１．００　Ｄ
のレンズを例に、例えば（ｂ）式を境界値とすると、と
なるから、領域４２０は、加入度数が０．３３　Ｄ以下
でかつ円柱度数差が０．３３　Ｄ以下の領域となる。こ
の領域４２０内には必ずレンズメーカー指定の遠用測定
部３１３が人いる。

第２実施例 次に第１２図囚及び第１２図ＣＢ）に基づいて本発明の
第２の実施例を説明する。本実施例は前述の第１実施例
と装置構成は同様で第３図に示したフローチャートの印
点サブルーチン（ステップＳ−７及びステップＳ−１０
）のみ相異する。第１２図（Ａ）はその印点サブルーチ
ンのみを示している。

以下この第２実施例の印点サブルーチンを説明する。

くステップ２−１〉 前述の第１実施例の印点サブルーチンのステップ１ない
し１４を実行する。

くステップ２−２〉 シーケアｔ２（１３）はパルスドライバ回路２００を介
してＸ他モータ１２ＭとＹ他モータｌＩＭに互いに同期
させて同時にパルスを供給し、位置に１　を起点として
測定点を州側に４５°方向に移動させる。

レンズ移動中の時々刻々の処理部２０７からの測定加入
度数ΔＤＤ及び測定円柱度数Ｃを基に演算回路２０９及
び比較回路２０６は前述のステップ１５（第１実施例）
と同様の動作で条件０式が成立する測定点に２　を探し
、シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００を
介して印点移動モータ３０Ｍを作動し、その後ドライバ
回路２０２を介してその測定点に２　に印点する。

くステップ２−３〉 シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００がＸ
他モータ１２Ｍを作動させ、測定点を耳側に第１２図■
）に示すように距離ｅ移動させる。

なお、距離ｅはＲＯＭ２１２に定数として予め記憶され
ている。

くステップ２−４〉 シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００を介
してＸ他モータ１２ＭとＹ他モータｌＩＭに互いに同期
させてパルスを供給し、駆動することにより近用方向に
４５°方向にそって測定点を移動させる。

この測定点移動中の時々刻々の処理部２０７からの測定
加入度数ＡＤＤと円柱度数Ｃとから演算回路２０９と比
較回路２０６は前述のステップ２５（第１実施例）と同
様に条件０式を満足する測定点を探す。

くステップ２−５〉 シーケンサ２（１３）は次に、Ｘ他モータ１２ＭとＹ他
モータ１１Ｍを逆転させ、前記ステップ２−４の移動ル
ートを逆方向に同一ルートにそって条件０式を満足する
測定点を探す。

条件０式を満足する測定点のＸ座標とＲＡＭ２１１に記
憶させておいた加入度数最大位置に１　のＸ座標Ｘｋｌ
との差（ｘ　　ＸＫＩ）を演算回路２０９で演算し、（
Ｘ　　ＸＫＩ）の正負を比較回路２０６で判定させる。

この判定が「正」のときはステップ２−７に移行し、「
負」または「等しい」ときはステップ２−６へ移行する
。

くステップ２−６〉 シーケンサ２（１３）はパルスドライバ回路２００を介
して印点移動モータ３０Ｍを駆動し、印点ベース３２を
下降させた後、ドライバ回路２０２を介してムービング
コイル３４を励磁し、中央の印点針３５で測定点Ｋ。を
印点する。

くステップ２−７〉 シーケンサ２（１３）は位置に、のｘｌ　ｙ座標値（Ｘ
ＫＩ、ｙ、１）をＲＡＭ２１１から読み取り、その値に
基づいてＸ他モータ１２Ｍ、Ｙ他モータ１１Ｍを駆動し
てレンズ移動し、加入度数最大位置に１　　に測定点を
復帰させる。

くステップ２−８〉 シーケンサ２（１３）は、Ｘ他モータ１２Ｍ５Ｙ軸モー
タ１１Ｍに同数のパルスを同期させ供給し、測定点を耳
側に４５°方向に移動させる。

そしてレンズ移動中の時々刻々の測定加入度数ＡＤＤと
測定円柱度数から条件０式を満足する測定を探し、条件
０式を満足する測定点に３　に印点する。

〈ステップ２−９〉 前述のステップ２−４ないしステップ２−６と同様の動
作を実行し、条件０式を満足する測定点Ｋｅ　（ｅ＝４
．５．ｏｒ６）に印点する。ただし、本ステップでは前
述のステップ２−５の「州側に４５°移動」ステップが
「耳側に４５゜移動」となり、また「ｘ　　ｘｘ＋＞Ｏ
Ｊの判定ステップがｒｘ−ｘＫ＋＜ＯＪになる点が相違
する。

以上のステップ２−１ないしステップ２−９で近用部の
印点を終了する。

くステップ２−１０＞ シーケンサ２（１３）は前述のステップ２またはステッ
プ５（第１実施例参照）で指定された遠用指定位置Ｅ、
の座標値（ｘ６８、ｙ６１）をＲＡ　Ｍ２１１から読み
取り、Ｘ軸モータ１２ｔＶＩ、Ｙ軸モータ１１Ｍを駆動
制御して測定点をＥｌ　上に移動させるべくレンズを移
動させる。

くステップ２−１１＞ 前記ステップ２−２と同様の動作を実行し、測定点Ｅ２
　に印点する。

くステップ２−１２＞ 前記ステップ２−３と同様の動作を実行し、測定点を耳
側に移動させる。なお、このとき移動距離は予めＲＯＭ
２１２に記憶されていたｆとする。（ｆ＝ｅと定めても
よい）。

くステップ２−１３＞ シーケンサ２（１３）はＸ軸モータ１２ＭとＹ軸モータ
１１Ｍを駆動制御して遠用方向に４５″方向にそって測
定点を移動すべくレンズを移動させる。レンズ移動中の
時々刻々の測定加入度数ΔＤＤと測定円柱度数Ｃとから
前述の条件０式（第１実施例参照）を満足する測定点を
探す。

くステップ２−１４＞ 条件０式を満足する測定点をみつけたら、シーケンサ２
（１３）はＸ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍを反転
させ、ステップ２−１３の移動ルートを逆に測定点を進
め前述の条件０式（第１実施例参照）を満足する測定点
を探す。

条件０式を満足する測定点のＸ座標と指定遠用位置Ｅ、
のＸ座標Ｘｌ：ｌの差（ｘ　　Ｘｐ＋）の正負を比較回
路２０６で判定し、「負」または、「等しい」ときはス
テップ２−１５に移行し、「正」のときはステップ２−
１６に移行する。

くステップ２−１５＞ 測定点Ｅｎ　　（ｎ＝４　、６　、　ｏｒ　８　）に印
点する。

くステップ１−１６＞ 指定遠用位ＷＥ＋　　に測定点を復帰させる。

くステップ２−１７＞ 指定遠用位置Ｅ、を起点として耳側４５°方向に測定点
を移動すべくレンズを移動させ、条件０式を満足する測
定点Ｅ３　に印点する。

くステップ２−１８＞ 前記ステップ２−１２ないしステップ２−１５と同様の
動作を実行し、条件０式を満足する測定点Ｅｅ　（ｅ＝
５．７．ｏｒ９）に印点する。ただし本ステップでは前
記ステップ２−１２の「耳側」を「州側」とし、ステッ
プ２−１４の「機側」を「耳側」とし、ｒｘ　　Ｘｉ＋
＞ＯＪをｒｘ−ＸＥＩ＜ＯＪとする点が相違する。

以上説明した第１及び第２の実施例では、いずれも近用
部と遠用部の両方に印点しているが、本発明は必ずしも
これに限定されない。必要に応じ遠用部のみ、または近
用部のみの印点シーケンスを実行するようにシーケンサ
２（１３）の実行７０−を選択できるように構成しても
よい。また上記各実施例では、条件０式ないし条件０式
では測定加入度数ΔＤＤと測定円柱度数差（Ｃ−ＭＣ）
の両方について境界値と比較しているが、測定加入度数
についてのみ比較してもよい。

さらに上述の実施例では、条件０式または０式を満足す
る測定点上に測定毎に印点したが、そのかわりにこれら
条件を満足する測定点座標データー時的にＲＡＭ２１１
に全て記憶させる。そして全測定点のデータ取り込み後
、印点動作のみを集中的に実行してもよい。また、印点
位置は測定点上である必要は必ずしもなく、条件式を満
足する領域内であれば測定点から所定圧＃！、隔てた点
に印点してもよい。このことは、印点マークがレンズ押
えピン２５によりレンズ移動中に消されるのを防止する
ために、印点位置とレンズ押えピン２５の配位関係をレ
ンズ移動に計算し、次々に測定点、すなわち印点点を決
定していくとき有効である。

〔発明の効果〕

本発明によれば、レンズ上の印点により眼鏡装用者が近
用作業時に必要とする加入度数の分布領域を示すことが
できる。このため、この印点されたレンズを有する眼鏡
を装用させたときの装用眼の位置が、前記分布領域内に
あるか否かで正しくレンズが枠入れされた眼鏡であるか
否かを極めて容易に判別できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明のレンズ印点装置の機械的構成部を示
す斜視図、第２図はレンズ印点装置の電気制御系の回路
構成を示すブロック図、第３図はレンズ印点装置の作動
ルーチンを示すフローチャート図、第４図（Ａ）ないし
第４図＠）は第３図のフローチャートの印点サブルーチ
ンの第１の実施例を示すフローチャート図、第５図ない
し第１０図は第１実施例によるレンズへの印点状態を測
定点の移動ルートとともに示す模式図、第１０図は、第
１実施例によるレンズへの印点の一瞬を遠用領域及び近
用領域とともに示す模式図、第１２図（Ａ）は印点サブ
ルーチンの第２の実施例を示すフローチャート図、第１
２図山）は第２実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、第１３図は
未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一例を示す図
、第１４図は指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す
模式図。 ■・・・・・・測定光学系及び検出器 １１・・・・・・Ｙ軸道り機構 １２・・・・・・Ｘ軸送り機構 １４．１５・・・・・・ハンド ２０・・・・・・レンズ押え部　　、 ３０・・・・・・印点部 ２（１３）・・・す・シーケンサ ２０６・・・・・・比較回路 ２０９・・・・・・演算回路 ２１１・・・・・・ＲＡＭ ２１２・・・・・・ＲＯＭ 第３図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１○図 昭和　　年　　月　　日

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. （１）累進多焦点レンズの近用部のある領域内での加入
   度数を測定し、最大加入度数を求める第１の段階と； 前記近用部最大加入度数に基づいて少なくとも近用部加
   入度数境界値を決定する第２の段階と； 前記累進多焦点レンズの少なくとも近用部の複数の測定
   点の加入度数を測定する第３の段階と； 測定された前記近用部測定点における測定加入度数と前
   記近用部加入度数境界値とを比較して、前記測定加入度
   数が前記近用部加入度数境界値より大きくなる領域内に
   ある近用測定点上またはその近傍に印点する第４の段階
   と から成ることを特徴とするレンズ印点方法。
2. （２）前記第２の段階が、さらに前記近用部最大加入度
   数に基づいて近用部円柱度数境界値を決定し、 前記第３の段階が、さらに前記近用部測定点の円柱度数
   を測定し、 前記第４の段階が、さらに前記近用部測定点における測
   定円柱度数と前記近用部円柱度数境界値とが比較され、
   前記測定円柱度数が前記近用部円柱度数境界値より小さ
   くなる領域内にある前記近用測定点上またはその近傍に
   印点するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
   （１）項記載のレンズ印点方法。
3. （３）前記第４の段階が、前記測定加入度数が前記近用
   加入度数境界値より大きく、かつ前記測定円柱度数が前
   記近用円柱度数境界値より小さい領域内にある前記測定
   点上またはその近傍に印点することを特徴とする特許請
   求の範囲第（２）項記載のレンズ印点方法。
4. （４）累進多焦点レンズの近用部のある領域内での加入
   度数を測定し、最大加入度数を求める第１の段階と； 前記近用部最大加入度数に基づいて少なくとも近用部加
   入度数境界値を決定する第２の段階と； 前記累進多焦点レンズの少なくとも近用部の複数の測定
   点の加入度数を測定する第３の段階と； 測定された前記近用部測定点における測定加入度数と前
   記近用部加入度数境界値とを比較して、前記測定加入度
   数が前記近用部加入度数境界値より大きくなる領域内に
   ある近用測定点上またはその近傍に印点する第４の段階
   と； 前記近用部最大加入度数に基づいて遠用部加入度数境界
   値を算定する第５の段階と； 前記累進多焦点レンズの遠用部の複数の測定点の加入度
   数を測定する第６の段階と； 測定された前記遠用部測定点における測定加入度数と前
   記遠用部加入度数境界値を比較して、前記測定加入度数
   が前記遠用部加入度数境界値より小さくなる領域内にあ
   る前記遠用部測定点上またはその近傍に印点する第７の
   段階を有することを特徴とするレンズ印点方法。
5. （５）前記第５の段階が、さらに前記近用部最大加入度
   数に基づいて遠用部円柱度数境界値を決定し、 前記第６の段階が、さらに前記遠用測定点の円柱度数を
   測定し、 前記第７の段階が、さらに前記遠用部測定点における測
   定円柱度数と前記遠用部円柱度数境界値とが比較され、
   前記測定円柱度数が前記遠用部円柱度数境界値より小さ
   くなる領域内にある前記遠用部測定点上またはその近傍
   に印点することを特徴とする特許請求の範囲第（４）項
   記載のレンズ印点方法。
6. （６）前記第７の段階が、前記測定加入度数が前記遠用
   加入度数境界値より小さく、かつ測定円柱度数が前記遠
   用円柱度数境界値より小さい領域内にある前記測定点上
   またはその近傍に印点することを特徴とする特許請求の
   範囲第（５）項記載のレンズ印点方法。
7. （７）前記第７の段階の円柱度数境界値との比較が、該
   レンズが遠用円柱度数（ＭＣ）を有する場合は、測定円
   柱度数（Ｃ）から前記遠用円柱度数（ＭＣ）を引いた差
   （Ｃ−ＭＣ）に対してなされることを特徴とする特許請
   求の範囲第（５）項または第（６）項記載のレンズ印点
   方法。
8. （８）累進多焦点レンズの少なくとも近用部の複数の近
   用部測定点の加入度数を自動的に測定するための測定手
   段と； 前記測定手段により測定された前記近用部測定点の測定
   加入度数から近用最大加入度数を選定する選定手段と； 前記近用最大加入度数に基づいて近用部加入度数境界値
   を決定する境界値決定手段と； 前記測定加入度数と前記近用部加入度数境界値とを比較
   する比較手段と； 前記比較手段が前記近用部加入度数境界値より大きくな
   る領域内にあると判定した前記測定加入度数を有する前
   記近用部測定点上またはその近傍に印点するための印点
   手段とから構成されたことを特徴とするレンズ印点装置
   。
9. （９）前記測定手段が、さらに前記近用部測定点の円柱
   度数を測定するように構成されており、前記境界値決定
   手段が、さらに前記近用最大加入度数に基づいて近用部
   円柱度数境界値を決定するように構成されており、 前記比較手段が、さらに前記測定円柱度数と前記近用部
   円柱度数境界値とを比較するように構成されており、か
   つ 前記印点手段はさらに前記比較手段が前記近用部円柱度
   数境界値より小さくなる領域内にあると判定した前記測
   定円柱度数を有する前記近用部測定点上またはその近傍
   に印点するように構成されたことを特徴とする特許請求
   の範囲第（８）項記載のレンズ印点装置。
10. （１０）前記印点手段が、前記比較手段により、前記近
    用部測定加入度数が前記近用加入度数境界値より大きく
    、かつ前記近用部測定円柱度数が前記近用円柱度数境界
    値より小さい領域内にあると判定された前記近用測定点
    上またはその近傍に印点することを特徴とする特許請求
    の範囲第（９）項記載のレンズ印点装置。
11. （１１）前記測定手段が、さらに前記累進多焦点レンズ
    の遠用部の複数の測定点でその加入度数を測定するよう
    に構成されており、 前記境界値決定手段が、さらに前記近用最大加入度数に
    基づいて遠用部加入度数境界値を決定するように構成さ
    れており、 前記比較手段が、さらに前記遠用部測定点の測定加入度
    数と前記遠用部加入度数境界値とを比較するように構成
    されており、かつ 前記印点手段が、さらに前記比較手段が前記遠用部加入
    度数境界値より小さくなる領域内にあると判定した前記
    測定加入度数を有する前記遠用部測定点上またはその近
    傍に印点するように構成されたことを特徴とする特許請
    求の範囲第（８）項ないし第（１０）項いずれかに記載
    のレンズ印点装置。
12. （１２）前記測定手段が、さらに前記遠用部測定点の円
    柱度数を測定するように構成されており、前記境界値決
    定手段は、さらに前記近用最大加入度数に基づいて遠用
    部円柱度数境界値を決定するように構成されており、 前記比較手段が、さらに遠用部測定円柱度数と、前記遠
    用部円柱度数境界値とを比較するように構成されており
    、かつ 前記印点手段が、さらに前記比較手段が前記遠用部円柱
    度数境界値より小さくなる領域内にあると判定した前記
    遠用部測定円柱度数を有する前記遠用部測定点上または
    その近傍に印点するように構成したことを特徴とする特
    許請求の範囲第（１１）項記載のレンズ印点装置。
13. （１３）前記印点手段が、前記比較手段により前記遠用
    部測定加入度数が前記遠用加入度数境界値より小さく、
    かつ前記遠用部測定円柱度数が前記遠用円柱度数境界値
    より小さい領域内にあると判定された前記遠用部測定点
    上またはその近傍に印点することを特徴とする特許請求
    の範囲第（１２）項記載のレンズ印点装置。
14. （１４）前記比較手段が、該レンズが遠用円柱度数（Ｍ
    Ｃ）を有する場合は、前記近用円柱度数境界値を前記近
    用部測定円柱度数（Ｃ）から前記遠用円柱度数（ＭＣ）
    を引いた差（Ｃ−ＭＣ）とを比較するよう構成されたこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第（８）項ないし第（１
    ３）項いずれかに記載のレンズ印点装置。
15. （１５）前記比較手段が、該レンズが遠用円柱度数（Ｍ
    Ｃ）を有する場合は、前記遠用円柱度数境界値と、前記
    遠用部測定円柱度数（Ｃ）から前記遠用円柱度数（ＭＣ
    ）を引いた差（Ｃ−ＭＣ）とを比較するよう構成された
    ことを特徴とする特許請求の範囲第（１１）項ないし第
    （１４）項いずれかに記載のレンズ印点装置。