JPS63113419A - レンズメーター - Google Patents
レンズメーターInfo
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- JPS63113419A JPS63113419A JP6443086A JP6443086A JPS63113419A JP S63113419 A JPS63113419 A JP S63113419A JP 6443086 A JP6443086 A JP 6443086A JP 6443086 A JP6443086 A JP 6443086A JP S63113419 A JPS63113419 A JP S63113419A
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- distance
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Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Eyeglasses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明はレンズメーターとともに用いられる累進多焦点
レンズへの自動印点方法及び自動印点装置に関する。
レンズへの自動印点方法及び自動印点装置に関する。
(背景技術)
近年、中高年の初期の老視矯正用として、境目のない累
進多焦点レンズの需要が増加している。
進多焦点レンズの需要が増加している。
この累進多焦点レンズは遠用部、近用部及び両者を結ぶ
累進帯部が複雑な非球面で連続的に構成されているため
、従来の二重焦点レンズのように外観だけで遠用屈折特
性測定部や近用屈折特性測定部を知ることができない。
累進帯部が複雑な非球面で連続的に構成されているため
、従来の二重焦点レンズのように外観だけで遠用屈折特
性測定部や近用屈折特性測定部を知ることができない。
ここで屈折特性とは、球面度数、円柱度数、円柱軸角度
、及びプリズム度数を総称した定義として使われる。こ
のため、各レンズメーカーは、眼鏡店に納品する、眼鏡
フレームのレンズ枠に入れるn訂のアンカットレンズに
種々のマーキングを施すことにより、眼鏡店における屈
折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時のレンズ加工
の便宜を図っている。第13図はその一例を示すもので
、310は水平基準線、311はダイヤマーク、315
は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、312はフィ
ッティングマーク、313は遠用屈折特性測定部指示マ
ーク、316は近用屈折特性測定部指示マーク、314
は近用加入度数表示、317はメーカーマークをそれぞ
れ示している。そしてレンズメーターでこのレンズの遠
用屈折特性を測定するときは、313のマークの丸印内
にレンズメーターの測定光軸が位置してレンズメーター
のレンズ受けの中心に313のマークが合致するように
レンズをセットする。また近用屈折特性測定時は、31
6のマークの丸印をレンズ受けに合致させるようにレン
ズをセットする。さらに必要に応じ、フィッティングマ
ーク312が示す位置における屈折特性を知りたいとき
は、マーク312の交点312aをレンズ受けの中心に
合致させるようにレンズをセットする。
、及びプリズム度数を総称した定義として使われる。こ
のため、各レンズメーカーは、眼鏡店に納品する、眼鏡
フレームのレンズ枠に入れるn訂のアンカットレンズに
種々のマーキングを施すことにより、眼鏡店における屈
折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時のレンズ加工
の便宜を図っている。第13図はその一例を示すもので
、310は水平基準線、311はダイヤマーク、315
は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、312はフィ
ッティングマーク、313は遠用屈折特性測定部指示マ
ーク、316は近用屈折特性測定部指示マーク、314
は近用加入度数表示、317はメーカーマークをそれぞ
れ示している。そしてレンズメーターでこのレンズの遠
用屈折特性を測定するときは、313のマークの丸印内
にレンズメーターの測定光軸が位置してレンズメーター
のレンズ受けの中心に313のマークが合致するように
レンズをセットする。また近用屈折特性測定時は、31
6のマークの丸印をレンズ受けに合致させるようにレン
ズをセットする。さらに必要に応じ、フィッティングマ
ーク312が示す位置における屈折特性を知りたいとき
は、マーク312の交点312aをレンズ受けの中心に
合致させるようにレンズをセットする。
(本発明が解決しようとする問題点)
上述したような構成をもつ現在の累進多焦点レンズは、
前述したように累進帯部及び近用部周辺が複雑な非球面
構造をもつため、近用部に正確に被装用老眼が位置する
ようにレンズを眼鏡フレームに枠入れする必要がある。
前述したように累進帯部及び近用部周辺が複雑な非球面
構造をもつため、近用部に正確に被装用老眼が位置する
ようにレンズを眼鏡フレームに枠入れする必要がある。
ところが、眼鏡フレームに枠・入れされた後のレンズに
おいては、ダイヤマーク311、近用加入度数表示31
4、及びメーカーマーク317以外はずべて消される。
おいては、ダイヤマーク311、近用加入度数表示31
4、及びメーカーマーク317以外はずべて消される。
しかし、累進多焦点レンズは、その屈折面が高次の関数
曲面となっているため、その非点収差分布、及び近用加
入度数分布の等屈折力値分布曲線は、複雑な形状となる
。このため、トライ−アンド−エラーで近用測定部位置
を決定することが極めて困難であるばかりか、例えば近
用測定部位置が、レンズによっては加入度最大位置及び
/または非点収差(円柱度)最小位置でない場所を指定
しているものもある。従って、トライ−アンド−エラ一
方式で測定部を決定することはもちろん延いてはその位
置に印点することもまったく不可能なことがあった。
曲面となっているため、その非点収差分布、及び近用加
入度数分布の等屈折力値分布曲線は、複雑な形状となる
。このため、トライ−アンド−エラーで近用測定部位置
を決定することが極めて困難であるばかりか、例えば近
用測定部位置が、レンズによっては加入度最大位置及び
/または非点収差(円柱度)最小位置でない場所を指定
しているものもある。従って、トライ−アンド−エラ一
方式で測定部を決定することはもちろん延いてはその位
置に印点することもまったく不可能なことがあった。
この対策として、各レンズメーカーはチェックカードを
用いる。第13図の各種マークを図示したカードを別品
で用意し、チェックカードのダイヤマークと枠入れされ
たレンズに残っているダイヤマーク311を合わせるよ
うにチェックカードをレンズに貼る。そしてチェックカ
ード上の遠用及び近用屈折特性測定部指示マークをもと
にレンズ上に該マークにそってマーカーベン等でマーキ
ングしたのち、そのマーキングされたメガネを被装用者
に装用してもらう。遠用作業時及び近用作業時の被装用
老眼の位置とマーキングされた指示マーク位置との位置
関係から、レンズが正しく枠入れされているか否か、あ
るいは眼鏡フレームのフィッティングが正確か否かを判
断しており、この判断には極めて繁雑な作業を強いられ
ていた。
用いる。第13図の各種マークを図示したカードを別品
で用意し、チェックカードのダイヤマークと枠入れされ
たレンズに残っているダイヤマーク311を合わせるよ
うにチェックカードをレンズに貼る。そしてチェックカ
ード上の遠用及び近用屈折特性測定部指示マークをもと
にレンズ上に該マークにそってマーカーベン等でマーキ
ングしたのち、そのマーキングされたメガネを被装用者
に装用してもらう。遠用作業時及び近用作業時の被装用
老眼の位置とマーキングされた指示マーク位置との位置
関係から、レンズが正しく枠入れされているか否か、あ
るいは眼鏡フレームのフィッティングが正確か否かを判
断しており、この判断には極めて繁雑な作業を強いられ
ていた。
さらに、このチェックカードは、すべての眼鏡店にすべ
てのレンズメーカーのものが保管されているとは限らず
、所定のチェックカードがないときは、この判断のため
にまったく手の打ちようがないというのが現状であった
。
てのレンズメーカーのものが保管されているとは限らず
、所定のチェックカードがないときは、この判断のため
にまったく手の打ちようがないというのが現状であった
。
さらにたとえチェックカードがあったと、しても、前記
マークはレンズに極めて薄く表示されているため、この
マークを見つけること自体極めてむづかしいという問題
があった。
マークはレンズに極めて薄く表示されているため、この
マークを見つけること自体極めてむづかしいという問題
があった。
さらに、チェックカードを利用して、遠用部及び近用部
にマーキングまたは印点する場合、レンズ上のダイヤマ
ークとレンズの遠用測定部13、近用測定部16のそれ
ぞれの位置が個々のレンズにより、バラツキがない、す
なわち個体差がないことが前提である。それゆえ、もし
レンズメーカーのレンズ製作上のミスでこれら王者の位
置関係に誤差が生じた場合は、もはや、正確に測定部の
位置を決め、マーキングや印点を高精度に行うことがで
きない。
にマーキングまたは印点する場合、レンズ上のダイヤマ
ークとレンズの遠用測定部13、近用測定部16のそれ
ぞれの位置が個々のレンズにより、バラツキがない、す
なわち個体差がないことが前提である。それゆえ、もし
レンズメーカーのレンズ製作上のミスでこれら王者の位
置関係に誤差が生じた場合は、もはや、正確に測定部の
位置を決め、マーキングや印点を高精度に行うことがで
きない。
このように従来方法では、レンズの近用測定部すなわち
レンズ装用者が近用作業時にその部分を通して見ること
を指定されている部分の位置に印点できないため、装用
者がはたして正しく屈折矯正される近用部を利用しつる
ようにメガネを装用しているか否かをまったく判定する
ことができなかった。
レンズ装用者が近用作業時にその部分を通して見ること
を指定されている部分の位置に印点できないため、装用
者がはたして正しく屈折矯正される近用部を利用しつる
ようにメガネを装用しているか否かをまったく判定する
ことができなかった。
本発明の目的は累進多焦点レンズの屈折特性の測定及び
自動印点に係る上記従来の欠点を解消し、チェックカー
ドによることなくレンズの少なくとも近用部に、その加
入度数測定結果に基づいて印点できるレンズ印点方法及
びそのための装置を提供することにある。
自動印点に係る上記従来の欠点を解消し、チェックカー
ドによることなくレンズの少なくとも近用部に、その加
入度数測定結果に基づいて印点できるレンズ印点方法及
びそのための装置を提供することにある。
(問題点を解決するための手段及び作用)本発明は、累
進多焦点レンズの少なくとも近用部の加入度数をある領
域内で測定し、その測定結果から最大加入度数を選定す
る段階と、この選定された最大加入度数に基づいて近用
部加入度数境界値を決定する段階と、近用部の複数の測
定点加入度数を測定する段階と、その加入度数測定結果
と前記境界値を比較し境界値より大きい加入度数をもつ
測定点上にまたはその近傍に印点する段階とからなるレ
ンズ印点方法である。
進多焦点レンズの少なくとも近用部の加入度数をある領
域内で測定し、その測定結果から最大加入度数を選定す
る段階と、この選定された最大加入度数に基づいて近用
部加入度数境界値を決定する段階と、近用部の複数の測
定点加入度数を測定する段階と、その加入度数測定結果
と前記境界値を比較し境界値より大きい加入度数をもつ
測定点上にまたはその近傍に印点する段階とからなるレ
ンズ印点方法である。
また本発明は、累進多焦点レンズの少なくとも近用部の
加入度数を複数の測定点で自動的に測定する測定手段と
、その測定結果から最大加入度数を求める選定手段と、
最大加入度数に基づいて近用部加入度数境界値を決定す
る決定手段と、前記測定点の6(q定加入度数と前記最
大加入度数とを比較する比較手段と、測定加入度数が最
大加入度数より大きくなる領域内にある測定点上または
その近傍に印点する印点手段とから構成される。
加入度数を複数の測定点で自動的に測定する測定手段と
、その測定結果から最大加入度数を求める選定手段と、
最大加入度数に基づいて近用部加入度数境界値を決定す
る決定手段と、前記測定点の6(q定加入度数と前記最
大加入度数とを比較する比較手段と、測定加入度数が最
大加入度数より大きくなる領域内にある測定点上または
その近傍に印点する印点手段とから構成される。
(実施例)
第1実施例
装置の機械構成
第1図は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の
機械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61
年2月27日に同一出願人により出願された発明の名称
「被検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。
機械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61
年2月27日に同一出願人により出願された発明の名称
「被検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。
この自動印点装置は、第1図に示すように、被検レンズ
または該レンズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、
移動させるための支持機構部IOと、被検レンズを押さ
えるためのレンズ押え部20と、被検レンズに印点する
ための印点部30と、被検レンズを受けるレンズ受は台
40とから大略構成されている。
または該レンズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、
移動させるための支持機構部IOと、被検レンズを押さ
えるためのレンズ押え部20と、被検レンズに印点する
ための印点部30と、被検レンズを受けるレンズ受は台
40とから大略構成されている。
支持機構部10はパルスモータからなるY他モータ11
Mを有し、このモータ11Mの回動によりX軸送り機構
部12を、例えば送りネジ機構でY軸方向にそって移動
させるY軸道り機構11と、パルスモータ12Mを有し
、その回動により、例えば送りネジ機構によりX軸方向
にそってハンド開閉部13を移動させるX軸送り機構1
2とを有する。
Mを有し、このモータ11Mの回動によりX軸送り機構
部12を、例えば送りネジ機構でY軸方向にそって移動
させるY軸道り機構11と、パルスモータ12Mを有し
、その回動により、例えば送りネジ機構によりX軸方向
にそってハンド開閉部13を移動させるX軸送り機構1
2とを有する。
ハンド開閉部13は、例えば直流モータからなるハンド
モータ13Mにより回動される駆動プーリーと、従動プ
ーリーと、両プーリー間に掛けわたされた無端ベルトか
ら構成された駆動部の該ベルトに取り付けられ、モータ
13Mの回動により矢印131.132にそって互いに
反対方向に移動する2つのハンド支持座とから構成され
る。
モータ13Mにより回動される駆動プーリーと、従動プ
ーリーと、両プーリー間に掛けわたされた無端ベルトか
ら構成された駆動部の該ベルトに取り付けられ、モータ
13Mの回動により矢印131.132にそって互いに
反対方向に移動する2つのハンド支持座とから構成され
る。
ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印133.134
方向にそって所定範囲内に上下動すなわちZ軸方向にそ
って移動可能にハンドテーブル135.136が取付け
られている。ハンドテーブルのアーム137.138に
は、゛rンカットレンズのコバ面を挟持するための内側
当接面141.151と、図示するように眼鏡フレーム
FのテンプルTと当接する外側当接面142.152と
を有する左、右のハンド14.15が輔143.153
に回動自在に取付けられている。
方向にそって所定範囲内に上下動すなわちZ軸方向にそ
って移動可能にハンドテーブル135.136が取付け
られている。ハンドテーブルのアーム137.138に
は、゛rンカットレンズのコバ面を挟持するための内側
当接面141.151と、図示するように眼鏡フレーム
FのテンプルTと当接する外側当接面142.152と
を有する左、右のハンド14.15が輔143.153
に回動自在に取付けられている。
レンズ受は台40は、本発明の自動印点装置が組込まれ
るレンズメーターの測定光学系の光軸0が貫通ずる開口
41を有する円筒部材42と、その円筒部材42の上端
部に植設された3本のレンズ受はビン43とから構成さ
れている。
るレンズメーターの測定光学系の光軸0が貫通ずる開口
41を有する円筒部材42と、その円筒部材42の上端
部に植設された3本のレンズ受はビン43とから構成さ
れている。
レンズ押え部20は直流モータからなるレンズ押えモー
タ20MによりZ軸方向にそってレンズ押えテーブル2
1を上下動するためのレンズ押え送り機構22を有し、
レンズ押えテーブル21のアーム23から下方に張出し
た支柱24の先端に3本のレンズ押えピン25を有する
レンズ押え座26を有している。
タ20MによりZ軸方向にそってレンズ押えテーブル2
1を上下動するためのレンズ押え送り機構22を有し、
レンズ押えテーブル21のアーム23から下方に張出し
た支柱24の先端に3本のレンズ押えピン25を有する
レンズ押え座26を有している。
レンズ押えテーブル21には印点部30の送り機構31
が固定されている。送り機構31には印点ベース32を
矢印33方向に移動するためのパルスモータからなる印
点移動モータ30Mが組みこまれている。印点ベース3
2には、ムービングコイル34によりZ軸方向に押し出
される印点ピン35が取付けられている。印点ベース3
2が初期位置にあるとき、印点ビン35の下方にはイン
ク壺36が設置されている。
が固定されている。送り機構31には印点ベース32を
矢印33方向に移動するためのパルスモータからなる印
点移動モータ30Mが組みこまれている。印点ベース3
2には、ムービングコイル34によりZ軸方向に押し出
される印点ピン35が取付けられている。印点ベース3
2が初期位置にあるとき、印点ビン35の下方にはイン
ク壺36が設置されている。
制御駆動回路系
第2図は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示す
ブロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出
願を参照されたい。X軸モータ12M、Y軸モータ11
M、及び印点移動モータ30Mは、パルス発生器(図示
せず)と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路200に接続されている。レン
ズ押えモータ30Mと、ハンドモータ13Mは、定電流
制御回路2(10)に接続されて一定電流で駆動するた
め、レンズの押え圧及びハンド14.15によるフレー
ムFの保持圧は一定に保たれる。
ブロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出
願を参照されたい。X軸モータ12M、Y軸モータ11
M、及び印点移動モータ30Mは、パルス発生器(図示
せず)と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路200に接続されている。レン
ズ押えモータ30Mと、ハンドモータ13Mは、定電流
制御回路2(10)に接続されて一定電流で駆動するた
め、レンズの押え圧及びハンド14.15によるフレー
ムFの保持圧は一定に保たれる。
印点ムービングコイル34はドライバ回路202に接続
されている。
されている。
上記パルスドライバ回路200、定電流制御回路2(1
0)、ドライバ回路202は、マイクロコンピュータか
ら成るシーケンサ2(13)に接続され、その制御をう
ける。
0)、ドライバ回路202は、マイクロコンピュータか
ら成るシーケンサ2(13)に接続され、その制御をう
ける。
シーケンサ2(13)には、被検レンズの保持や眼鏡フ
レームFの初期の保持及び位置付けのコントロールをす
るための初期コイトロール回路2(12)と、比較回路
206、検出器1からの情報に基づき被検レンズの屈折
特性を決定する屈折特性測定値処理部と、RAM (ラ
ンダム アクセス メモリ)211と演算回路209と
、プログラムメモリ213と、アライメント選択スイッ
チ205とが接続されている。
レームFの初期の保持及び位置付けのコントロールをす
るための初期コイトロール回路2(12)と、比較回路
206、検出器1からの情報に基づき被検レンズの屈折
特性を決定する屈折特性測定値処理部と、RAM (ラ
ンダム アクセス メモリ)211と演算回路209と
、プログラムメモリ213と、アライメント選択スイッ
チ205とが接続されている。
レンズの屈折特性測定値を表示するための例えばCRT
ディスプレイまたは液晶ディスプレイから成る表示器2
08が処理部207に接続されている。RAM211は
、比較回路206と、演算回路209とシーケンサ2(
13)と、初期コントロール回路2(12)とに接続さ
れている。このRAM211には遠用近用位置入力キー
ボード210が接続されている。ROM (リードオン
リーメモリ)212は演算回路209と初期コントロー
ル回路2(12)に接続されている。
ディスプレイまたは液晶ディスプレイから成る表示器2
08が処理部207に接続されている。RAM211は
、比較回路206と、演算回路209とシーケンサ2(
13)と、初期コントロール回路2(12)とに接続さ
れている。このRAM211には遠用近用位置入力キー
ボード210が接続されている。ROM (リードオン
リーメモリ)212は演算回路209と初期コントロー
ル回路2(12)に接続されている。
第3図は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れ
した眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャート
である。
した眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャート
である。
くステップS−1>
初期コントロール回路2(12)は、プログラムメモリ
213のプログラムに従って定電流制御回路2(10)
を介してハンドモータ13Mを作動させ、ハンド14.
15を閉じさせる。
213のプログラムに従って定電流制御回路2(10)
を介してハンドモータ13Mを作動させ、ハンド14.
15を閉じさせる。
くステップS−2〉
測定者は閉じられたハンド14.15上に印点したい眼
鏡レンズを枠入れした眼鏡フレームFを載置する。
鏡レンズを枠入れした眼鏡フレームFを載置する。
くステップS−3〉
初期コントロール回路2(12)は定電流制御回路2(
10)を介してハンドモータ13Mを反転させ、ハンド
14.15を開かせ、フレームFのテンプルTに外側当
接面142.152を一定圧力で当接させてフレームF
を保持する。
10)を介してハンドモータ13Mを反転させ、ハンド
14.15を開かせ、フレームFのテンプルTに外側当
接面142.152を一定圧力で当接させてフレームF
を保持する。
くステップS−4〉
初期コントロール回路2(12)は右眼の印点が終了し
ているか否かを判断し、YESの場合はステップS−8
へ、Noの場合は次ステツプS−5へ移行する。
ているか否かを判断し、YESの場合はステップS−8
へ、Noの場合は次ステツプS−5へ移行する。
くステップS−5〉
右眼レンズを測定光学系1の光軸0上に位置させるため
に、初期コントロール回路24はROM212に予めメ
モリされている指定PD値の半分の距離に相当するパル
ス数を読み出し、パルスドライバ回路200を介してX
軸モーク12Mを回転させてハンド開閉部13を移動さ
せる。
に、初期コントロール回路24はROM212に予めメ
モリされている指定PD値の半分の距離に相当するパル
ス数を読み出し、パルスドライバ回路200を介してX
軸モーク12Mを回転させてハンド開閉部13を移動さ
せる。
くステップS−6〉
初期コントロール回路2(12)は定電流制御回路2(
10)を介してレンズ押えモータ30Mを作動させ、レ
ンズ押えテーブル21を下降させる。
10)を介してレンズ押えモータ30Mを作動させ、レ
ンズ押えテーブル21を下降させる。
これによりレンズ押えビン25が右眼レンズを押える。
すなわち、右眼レンズは、レンズ受は台40のレンズ受
はビン43とレンズ押えビン25で挟まれる。また、フ
レームFはハンド14.15によっても保持されるため
十分な安定性をもって保持される。
はビン43とレンズ押えビン25で挟まれる。また、フ
レームFはハンド14.15によっても保持されるため
十分な安定性をもって保持される。
くステップS−7〉
後に詳述する印点サブルーチンにより印点された後ステ
ップS−4にリターンし、ここで右眼終了か否かを判定
し、右眼終了と判定されて次ステツプS−8へ移行する
。
ップS−4にリターンし、ここで右眼終了か否かを判定
し、右眼終了と判定されて次ステツプS−8へ移行する
。
くステップS−8〉
初期コントロール回路2(12)はモータ20Mを反転
し、レンズ押え1ff120を初期位置へ復帰させた後
、前記ステップS−5とは逆方向にX軸子−タ12Mを
回転させ、ROM212にメモリされている所定PD値
に相当する距離だけハンド開閉部13を移動させる。
し、レンズ押え1ff120を初期位置へ復帰させた後
、前記ステップS−5とは逆方向にX軸子−タ12Mを
回転させ、ROM212にメモリされている所定PD値
に相当する距離だけハンド開閉部13を移動させる。
くステップS−9〉及びくステップ5−10>それぞれ
前記ステップS−6及び前記ステップS−7と同じ動作
を実行する。
前記ステップS−6及び前記ステップS−7と同じ動作
を実行する。
印点サブルーチン
次に、前記ステップS−7の印点サブルーチンを第4図
に基づいて詳説する。
に基づいて詳説する。
くステップl〉
測定者はアライメント選択スイッチ205を操作して、
「光学中心」基準で印点するか「フレーム幾何学中心」
基準で印点するかを選択する。「フレーム幾何学中心」
基準は、例えばブリズムシーニング加工が施されたレン
ズであって、遠用光学中心がレンズ外にあるようなレン
ズが被検レンズとなった場合に選択される。
「光学中心」基準で印点するか「フレーム幾何学中心」
基準で印点するかを選択する。「フレーム幾何学中心」
基準は、例えばブリズムシーニング加工が施されたレン
ズであって、遠用光学中心がレンズ外にあるようなレン
ズが被検レンズとなった場合に選択される。
「光学中心」基準が選択されたときは次ステツプ2に移
行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場合は
ステップ4に移行する。
行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場合は
ステップ4に移行する。
くステップ2〉
測定者はメーカーマーク317(第13図参照)を調べ
ることにより製品名を知り、レンズメーカー発行のアニ
マルから予め遠用測定部313及び近用測定部316の
光学中心(または幾何学中心)315からの距mA、B
、Cがわかっている場合は、遠用・近用位置人カキーポ
ート210を操作してその値を人力する。人力データは
ROM212に記憶される。
ることにより製品名を知り、レンズメーカー発行のアニ
マルから予め遠用測定部313及び近用測定部316の
光学中心(または幾何学中心)315からの距mA、B
、Cがわかっている場合は、遠用・近用位置人カキーポ
ート210を操作してその値を人力する。人力データは
ROM212に記憶される。
距離データΔ、B、Cの入力がない場合は、ROM21
2に予めメモリされている距離データ、例えばマーケッ
トシェアの高いレンズの距離データが利用される。
2に予めメモリされている距離データ、例えばマーケッ
トシェアの高いレンズの距離データが利用される。
くステップ3〉
シーケンサ2(13)は検出2W 1を作動させ、レン
ズの遠用プリズム度数を測定する。検出器からの検出デ
ータは処理部207で逐時プリズム度数データに変換処
理され、比較回路に人力される。比較回路206はRO
M212に記憶されている判定基準プリズム度数I P
、 l = 0.(13)及びIP、l=0.(13
)を読み出し、これと処理部207からのプリズム度数
測定データとを比較し、その結果をシーケンサ2(13
)に入力する。
ズの遠用プリズム度数を測定する。検出器からの検出デ
ータは処理部207で逐時プリズム度数データに変換処
理され、比較回路に人力される。比較回路206はRO
M212に記憶されている判定基準プリズム度数I P
、 l = 0.(13)及びIP、l=0.(13
)を読み出し、これと処理部207からのプリズム度数
測定データとを比較し、その結果をシーケンサ2(13
)に入力する。
シーケンサ2(13)はプリズム測定データPX 、P
、がlP、1<0.(13)、IPYI<0.(13)
となるまでパルスドライバ回路200を介してX軸12
M、Y軸モータ11Mを作動させてレンズを移動し、比
較回路206がl Px I <0.(13)及びl
Pv l<0.(13)と判定したレンズ移動位置を、
第14図に示すように光学中心位置(0,、○y )と
してRAM211へ記憶させる。その後ステップ10へ
移行する。
、がlP、1<0.(13)、IPYI<0.(13)
となるまでパルスドライバ回路200を介してX軸12
M、Y軸モータ11Mを作動させてレンズを移動し、比
較回路206がl Px I <0.(13)及びl
Pv l<0.(13)と判定したレンズ移動位置を、
第14図に示すように光学中心位置(0,、○y )と
してRAM211へ記憶させる。その後ステップ10へ
移行する。
くステップ4〉
前述のステップ1で「フレーム幾何学中心」基準が選択
された場合、測定者は左右眼の被検レンズ間のPD値(
幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔間距離)を人力
する。PD値の人力がないときは、標準値として予め定
められROM212に記憶されているPD値を利用する
。
された場合、測定者は左右眼の被検レンズ間のPD値(
幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔間距離)を人力
する。PD値の人力がないときは、標準値として予め定
められROM212に記憶されているPD値を利用する
。
くステップ5〉
前述のステップ2と同様の動作を実行する。
〈ステップ6〉
初期コントロール回路2(12)はステップ3のPD値
に基づいてパルスドライバ回路200ヲ介してX軸モー
タ12Mを作動させ、指定PD位置すなわち測定点が光
軸O上にくるようにレンズを移動する。例えばステップ
2の人力PD値が68m/mであり、本印点装置のRO
M212に記憶設定されていた標準PD値が64m/m
の場合、前記ステップS−5でP D 64m/mの標
準位置に位置付けられているから(68−64)÷2
= 2m/m分ハンド開閉部を移動させることにより指
定PD位置が光軸O上に位置される。
に基づいてパルスドライバ回路200ヲ介してX軸モー
タ12Mを作動させ、指定PD位置すなわち測定点が光
軸O上にくるようにレンズを移動する。例えばステップ
2の人力PD値が68m/mであり、本印点装置のRO
M212に記憶設定されていた標準PD値が64m/m
の場合、前記ステップS−5でP D 64m/mの標
準位置に位置付けられているから(68−64)÷2
= 2m/m分ハンド開閉部を移動させることにより指
定PD位置が光軸O上に位置される。
〈ステップ7〉
シーケンサ2(13)は検出器1を作動させると同時に
パルスドライバ回路200を介してY軸上−タ11Mを
作動させ、レンズをY軸方向に移動させる。そしてフレ
ームFのレンズ枠LFの上側リムUL(第14図参照)
が光軸○上に位置し、検出器1による測定が不能になる
までのY軸モータ11Mへのパルス供給数ヲR/M21
1に一時的に記憶させる。
パルスドライバ回路200を介してY軸上−タ11Mを
作動させ、レンズをY軸方向に移動させる。そしてフレ
ームFのレンズ枠LFの上側リムUL(第14図参照)
が光軸○上に位置し、検出器1による測定が不能になる
までのY軸モータ11Mへのパルス供給数ヲR/M21
1に一時的に記憶させる。
くステップ8〉
シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を制
御してY軸上−タ11Mを反転させ、下側リムLLが光
軸O上に位置するまでのY軸上−タ11Mへの供給パル
ス数をROM212に一時的に記憶させる。
御してY軸上−タ11Mを反転させ、下側リムLLが光
軸O上に位置するまでのY軸上−タ11Mへの供給パル
ス数をROM212に一時的に記憶させる。
くステップ9〉
前記ステップ7とステップ8で得られた上側リムUL及
び下側リムLL検出までのY軸上−タ11Mへの供給パ
ルス数間の差の半分の値を計算し、その結果及び前記ス
テップ6の位置から第14図に示すようにフレーム幾何
学中心(G、 、 Gy)を決定する。
び下側リムLL検出までのY軸上−タ11Mへの供給パ
ルス数間の差の半分の値を計算し、その結果及び前記ス
テップ6の位置から第14図に示すようにフレーム幾何
学中心(G、 、 Gy)を決定する。
くステップ10〉
シーケンサ2(13)はRAM211から前記ステップ
2またはステップ4で人力された遠用測定部距離A(人
力がない場合は、ROM212に記憶されている所定値
、以下同じ)を読み出し、パルスドライバ回路200を
介してY軸モータlIMを作動させる。ステップ1で「
光学中心」基準を指定した場合はサブステップ1で決定
された光学中心(0,、O,)、またステップ1で「幾
何中心」基準を指定した時はサブステップ2で決定され
た幾何学中心(G、、 G、)から距離だけレンズを
移動させ、遠用測定部313を測定光学系1の光軸Oと
一致させる。
2またはステップ4で人力された遠用測定部距離A(人
力がない場合は、ROM212に記憶されている所定値
、以下同じ)を読み出し、パルスドライバ回路200を
介してY軸モータlIMを作動させる。ステップ1で「
光学中心」基準を指定した場合はサブステップ1で決定
された光学中心(0,、O,)、またステップ1で「幾
何中心」基準を指定した時はサブステップ2で決定され
た幾何学中心(G、、 G、)から距離だけレンズを
移動させ、遠用測定部313を測定光学系1の光軸Oと
一致させる。
(ステップ2または5でAの人力がない場合は、レンズ
本来の遠用測定部313と光軸Oとは一致しない。) くステップ11〉 シーケンサ2(13)は検出31と処理gB207を作
動させて遠用測定部313の屈折特性を測定し、その結
果を表示器208で表示するとともに、その結果を基準
遠用球面度数MS、基準遠用円柱度数MCとしてRAM
211に記憶させる。
本来の遠用測定部313と光軸Oとは一致しない。) くステップ11〉 シーケンサ2(13)は検出31と処理gB207を作
動させて遠用測定部313の屈折特性を測定し、その結
果を表示器208で表示するとともに、その結果を基準
遠用球面度数MS、基準遠用円柱度数MCとしてRAM
211に記憶させる。
くステップ12〉
シーケンサ2(13)はRAM211からステップ2ま
たはステップ4で人力された近用測定品距離B%Cを読
み出し、パルスドライバ回路200を介してX軸モータ
12M5Y軸モータl1Mを作動させレンズの近用測定
部316を光軸0上に移動させる。(ステップ2または
5でESCの入力がない場合は、レンズ本来の近用測定
部316と光軸0は一致しない。)くステップ13〉 シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を介
してX軸モータ12Mを作動させ、レンズを体側及び耳
側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレンズの屈折特
性値S(球面度数)及びC(円柱度数)を処理部207
から演算回路209へ入力させる。処理部207は、基
準遠用球面度数MSと、基べに近用球面度数MCと、時
々刻々の近用屈折特性測定値S及びCとから近用加入度
ADDを として計算し、比較回路206に入力する。
たはステップ4で人力された近用測定品距離B%Cを読
み出し、パルスドライバ回路200を介してX軸モータ
12M5Y軸モータl1Mを作動させレンズの近用測定
部316を光軸0上に移動させる。(ステップ2または
5でESCの入力がない場合は、レンズ本来の近用測定
部316と光軸0は一致しない。)くステップ13〉 シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を介
してX軸モータ12Mを作動させ、レンズを体側及び耳
側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレンズの屈折特
性値S(球面度数)及びC(円柱度数)を処理部207
から演算回路209へ入力させる。処理部207は、基
準遠用球面度数MSと、基べに近用球面度数MCと、時
々刻々の近用屈折特性測定値S及びCとから近用加入度
ADDを として計算し、比較回路206に入力する。
比較回路206は、処理部207から時々刻々人力され
るADD値からその最大の値へ〇〇。
るADD値からその最大の値へ〇〇。
をもつレンズの移動位置Kl (XKI、 yXl)
を決定し、シーケンサ2(13)にその位置情報を出力
する。これと同時に最大近用加入度数へ〇〇、1をRA
M211に記憶させる。シーケンサ2(13)は、その
位置情報Kl(XXI、y、1)に基づいてX軸子−タ
12M及びY軸モータ11Mを作動させ、レンズを位置
K l (X K l、y、1)に移動させる。
を決定し、シーケンサ2(13)にその位置情報を出力
する。これと同時に最大近用加入度数へ〇〇、1をRA
M211に記憶させる。シーケンサ2(13)は、その
位置情報Kl(XXI、y、1)に基づいてX軸子−タ
12M及びY軸モータ11Mを作動させ、レンズを位置
K l (X K l、y、1)に移動させる。
くステップ14〉
演算回路209は、RΔM211に記憶されている最大
近用加入度数A D D、とROM212に予め記憶さ
せている定数群とから遠用部加入度数境界値Δe、遠用
部円柱度数境界値Ce。
近用加入度数A D D、とROM212に予め記憶さ
せている定数群とから遠用部加入度数境界値Δe、遠用
部円柱度数境界値Ce。
近用部加入度数境界値AK1及び近用部円柱度数境界値
Cイを、例えば コ から計算し、この各境界値Δe、Ce、Δ8、CKをR
ΔM211に記憶させる。
Cイを、例えば コ から計算し、この各境界値Δe、Ce、Δ8、CKをR
ΔM211に記憶させる。
くステップ15〉
シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を介
してX軸モーター2Mを作動させ、第5図に示すように
レンズをに、位置から体側と耳側に順次移動させる。演
算回路209はレンズ移動中の時々刻々変化する測定点
毎の処理部207からの測定円柱度数CとRAM211
に記憶されている基準遠用円柱度数MCとから(C−M
C)を計算し、その結果を比較回路206へ入力する。
してX軸モーター2Mを作動させ、第5図に示すように
レンズをに、位置から体側と耳側に順次移動させる。演
算回路209はレンズ移動中の時々刻々変化する測定点
毎の処理部207からの測定円柱度数CとRAM211
に記憶されている基準遠用円柱度数MCとから(C−M
C)を計算し、その結果を比較回路206へ入力する。
処理部207は上記(a)式にしたがって加入度数ΔD
Dを演算し、その値を比較回路206へ人力する。
Dを演算し、その値を比較回路206へ人力する。
比較回路206は処理部207からのADD値及び演算
回路209からのC−MC値とRA MgI2に記憶さ
〔た境界値AKs及びCK とを時々刻々に比較し、レ
ンズの体側及び耳側の両方で が成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ2(13)へ人力する。
回路209からのC−MC値とRA MgI2に記憶さ
〔た境界値AKs及びCK とを時々刻々に比較し、レ
ンズの体側及び耳側の両方で が成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ2(13)へ人力する。
くステップ16〉
尚ステップ15で■式成立測定点が体側と耳側両方にあ
ると比較回路206が判定したときは、第5図に示すよ
うにシーケンサ2(13)はX軸子−タ12Mを再度作
動させレンズを耳側に移動し、体側の0式が成立する測
定点に2(X□、yKl)に移動する。次に、ドライバ
回路202を作動させ印点部30の中央の印点針35の
ムービングコイル34を励磁し、印点針35をインクツ
ボ36に浸した後、パルスドライバ回路200を介して
、印点部移動モータ30Mを作動させて印点ベース32
を降下させ、中央印点針35を光軸O上に位置させる。
ると比較回路206が判定したときは、第5図に示すよ
うにシーケンサ2(13)はX軸子−タ12Mを再度作
動させレンズを耳側に移動し、体側の0式が成立する測
定点に2(X□、yKl)に移動する。次に、ドライバ
回路202を作動させ印点部30の中央の印点針35の
ムービングコイル34を励磁し、印点針35をインクツ
ボ36に浸した後、パルスドライバ回路200を介して
、印点部移動モータ30Mを作動させて印点ベース32
を降下させ、中央印点針35を光軸O上に位置させる。
その後ドライバ回路202を介してムービングコイル3
4を励磁し、レンズ」二に印点をする。
4を励磁し、レンズ」二に印点をする。
くステップ17〉
シーケンサ2(13)は次に印点移動モータ30Mを反
転させて、印点ベース32を初期位置に復帰させた後、
X軸子−タ12Mを反転させてレンズを体側へ移動し、
レンズの耳側で0式が成立する測定点K 3 (x工。
転させて、印点ベース32を初期位置に復帰させた後、
X軸子−タ12Mを反転させてレンズを体側へ移動し、
レンズの耳側で0式が成立する測定点K 3 (x工。
、’jx+)へ移動し、以下ステップ16と同様の動作
で、その測定点に3へ印点する。
で、その測定点に3へ印点する。
くステップ18〉
シーケンサ2(13)は近用加入度ADD最大位置に+
(xK+、 yat’)のX座標値XKIをRAM21
1から読み出し、パルスドライバ回路200を介してX
モータ12Mを駆動してレンズをに1位置へ復帰させる
。
(xK+、 yat’)のX座標値XKIをRAM21
1から読み出し、パルスドライバ回路200を介してX
モータ12Mを駆動してレンズをに1位置へ復帰させる
。
くステップ19〉
シーケンサ2(13)は、次にY軸モータ11Mを作動
させ、レンズを近用方向に移動させ、レンズの遠用方向
よりの近用部分に測定点を求める。時々刻々移動中のレ
ンズの屈折特性は処理部207から比較回路206に入
力され、比較回路206は上記0式の条件を満足するか
否かを判定し、その結果をシーケンサ2(13)に入力
する。シーケンサ2(13)は比較回路206から条件
0式を「満足する」旨指令が人力されると、Y軸モータ
11Mの作動を停止すると同時に、第5図に示すように
測定点に5(Xxs、y85)に印点する。
させ、レンズを近用方向に移動させ、レンズの遠用方向
よりの近用部分に測定点を求める。時々刻々移動中のレ
ンズの屈折特性は処理部207から比較回路206に入
力され、比較回路206は上記0式の条件を満足するか
否かを判定し、その結果をシーケンサ2(13)に入力
する。シーケンサ2(13)は比較回路206から条件
0式を「満足する」旨指令が人力されると、Y軸モータ
11Mの作動を停止すると同時に、第5図に示すように
測定点に5(Xxs、y85)に印点する。
また、これと同時に印点位置Kj(XMS、ygs)の
X−Y座標値はRAM211で記憶される。
X−Y座標値はRAM211で記憶される。
くステップ20〉
演算回路209はRAM211から位置に1と印点位置
に、のy座4M V w +、及びyヨ、を読み出し、 のy座標を有し、X座標はxKs(=xに1)をもつ移
動位置Ks(Xxs、yK6 ) = K6(XK11
、yK6)を演算で求める。このデータを基にシーケン
サ2(13)はY軸モーター1Mを作動させ、移動位置
に、が光軸0と一致するようにレンズを移動させる。
に、のy座4M V w +、及びyヨ、を読み出し、 のy座標を有し、X座標はxKs(=xに1)をもつ移
動位置Ks(Xxs、yK6 ) = K6(XK11
、yK6)を演算で求める。このデータを基にシーケン
サ2(13)はY軸モーター1Mを作動させ、移動位置
に、が光軸0と一致するようにレンズを移動させる。
くステップ21〉
前記ステップ16及びステップ17と同様の動作により
第5図に示すようにに1、K、を印点する。その後前記
位置に、へ復帰する。
第5図に示すようにに1、K、を印点する。その後前記
位置に、へ復帰する。
くステップ22〉
前記ステップ16で比較回路206が条件0式を耳側・
体側の両側で「満足しない」と判定したときは、第6図
に示すように、シーケンサ2(13)はX軸モーター2
Mを作動させ、RAM211の位置に1 の座標データ
(x、1、yKl)を基にレンズをに1 へ移動させる
。
体側の両側で「満足しない」と判定したときは、第6図
に示すように、シーケンサ2(13)はX軸モーター2
Mを作動させ、RAM211の位置に1 の座標データ
(x、1、yKl)を基にレンズをに1 へ移動させる
。
くステップ23〉
次にシーケンサ2(13)はY軸モータ11Mを作動さ
せ、条件の式を満足するまでレンズを遠用方向へ移動さ
せ、条件0式を満足する測定点に9(XK9、yK9)
が光軸0と一致したときY軸モータ11Mを停止させ、
ドライバ回路202を介して測定点に、に印点する。
せ、条件の式を満足するまでレンズを遠用方向へ移動さ
せ、条件0式を満足する測定点に9(XK9、yK9)
が光軸0と一致したときY軸モータ11Mを停止させ、
ドライバ回路202を介して測定点に、に印点する。
〈ステップ24〉
第6図に示すように印点位Ut、 K sのX座標xt
tsに予め定めた距離aをROM212から読み出し、
演算回路209で(Xks a)をX座標とする位置
KIO(XM9 as ygs) =Kra(XKI
O1yat。)を演算させ、シーケンサ2(13)はレ
ンズをKIOへ移動するためにパルスドライバ回路20
0を介してX軸モータ12Mを作動させる。
tsに予め定めた距離aをROM212から読み出し、
演算回路209で(Xks a)をX座標とする位置
KIO(XM9 as ygs) =Kra(XKI
O1yat。)を演算させ、シーケンサ2(13)はレ
ンズをKIOへ移動するためにパルスドライバ回路20
0を介してX軸モータ12Mを作動させる。
くステップ25〉
レンズを位置KIQに移動させた後、シーケンサ2(1
3)はY軸モータ11Mを作動させ、レンズの近用方向
に測定点を求めるためにレンズを移動させ、近用部加入
度数境界値AKと近用部円柱度数境界値C1に対し、レ
ンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測定値に基づ
く処理部207からの加入度1&ADD及び近用円柱度
数C−MCが を満たすまで測定点をY軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件0式を満足する位置へ移動したら、次にシー
ケンサ2(13)はY軸モータ11Mを反転させてレン
ズの遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、
その移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記
条件の式を満足するIJtq定点Kz(X*□、yに1
.)にレンズを移動し、測定点に、に印点する。これと
同時に印点位置K ++ (XK11 s yMll
)の座標データをRAM211に記憶させる。
3)はY軸モータ11Mを作動させ、レンズの近用方向
に測定点を求めるためにレンズを移動させ、近用部加入
度数境界値AKと近用部円柱度数境界値C1に対し、レ
ンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測定値に基づ
く処理部207からの加入度1&ADD及び近用円柱度
数C−MCが を満たすまで測定点をY軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件0式を満足する位置へ移動したら、次にシー
ケンサ2(13)はY軸モータ11Mを反転させてレン
ズの遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、
その移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記
条件の式を満足するIJtq定点Kz(X*□、yに1
.)にレンズを移動し、測定点に、に印点する。これと
同時に印点位置K ++ (XK11 s yMll
)の座標データをRAM211に記憶させる。
くステップ26〉
演算回路209はRAM211の印点位置に、の座標デ
ータ(Xxz 、’/*z )のX座標XK11 を
読み出し、これにROM212に予め定数として記tα
されている距離データaを基にして(XKz +28
) = XK12 を演算する。この演算結果に基づ
いてシーケンサ2(13)はx +tbモータ12Mを
作動させ、(Xx+2 +2a、3’KI+ )を位
置座標とする移動位置K I 2が光軸Oと一致するよ
うにレンズを移動させる。
ータ(Xxz 、’/*z )のX座標XK11 を
読み出し、これにROM212に予め定数として記tα
されている距離データaを基にして(XKz +28
) = XK12 を演算する。この演算結果に基づ
いてシーケンサ2(13)はx +tbモータ12Mを
作動させ、(Xx+2 +2a、3’KI+ )を位
置座標とする移動位置K I 2が光軸Oと一致するよ
うにレンズを移動させる。
くステップ27〉
前記ステップ25と同様の動作で位置KI3に印点する
。
。
くステップ28〉
比較回路206は印点位置に9、K%+い及びK13の
各y座標yX9、y□1 、y、3の大小を比較し、第
6図のようにl yX11 1 > ! yxsl<
l 5’K13 lすなわち中央の印点位置に、がも
っとも遠用方向側にあるときは次ステツプ30へ移行さ
せる。比較回路206がiyK、1〉l yxs l
< l VX+3 1 、すなわち第7図に示すように
、耳側の印点位置K13がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ31へ移動する。さらに比較
回路206が1yxzl<IyKIll<1yイ1,1
、すなわち第8図に示すように、微測の印点位2Kzが
もっとも連用方向によりにあると判定したときはステッ
プ38へ移行する。
各y座標yX9、y□1 、y、3の大小を比較し、第
6図のようにl yX11 1 > ! yxsl<
l 5’K13 lすなわち中央の印点位置に、がも
っとも遠用方向側にあるときは次ステツプ30へ移行さ
せる。比較回路206がiyK、1〉l yxs l
< l VX+3 1 、すなわち第7図に示すように
、耳側の印点位置K13がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ31へ移動する。さらに比較
回路206が1yxzl<IyKIll<1yイ1,1
、すなわち第8図に示すように、微測の印点位2Kzが
もっとも連用方向によりにあると判定したときはステッ
プ38へ移行する。
くステップ30〉
シーケンサ2(13)は、パルスドライバ回路200を
介してX他モータ12M及びY他モータ11Mを、RO
M212に記憶されている印点位置に9(XK11、y
K9)の座標データに基づいて駆動制御し、印点位置に
、にレンズを復帰させる。
介してX他モータ12M及びY他モータ11Mを、RO
M212に記憶されている印点位置に9(XK11、y
K9)の座標データに基づいて駆動制御し、印点位置に
、にレンズを復帰させる。
〈ステップ31〉
演算回路209はRAM211に記憶されている位置に
1 のX座45. X K lにROM212に予め定
数として記憶しである距離すを加算し、新たに移動位置
K14 (XKI b、 yKI3 ) =KI4
(XX□4 、VK14 )を求める。この位置K1
4の座標データに基づいてシーケンサ2(13)はX他
モータ12Mを作動させ、レンズを微測に移動し、第7
図に示すようにK14に光軸0が位置するようにレンズ
を移動させる。
1 のX座45. X K lにROM212に予め定
数として記憶しである距離すを加算し、新たに移動位置
K14 (XKI b、 yKI3 ) =KI4
(XX□4 、VK14 )を求める。この位置K1
4の座標データに基づいてシーケンサ2(13)はX他
モータ12Mを作動させ、レンズを微測に移動し、第7
図に示すようにK14に光軸0が位置するようにレンズ
を移動させる。
くステップ32〉
前述のステップ25と同様の動作を実行し、位置K +
5に印点する。
5に印点する。
くステップ33〉
比較回路206は、ステップ25で印点された印点位置
K + +と前ステップ32で印点された印点位’11
K + sのy座標y□1 と31’KI5 の大小
を比較する。比較回路206が1yイ1.lく13/*
zlと判定したとき(第7図にX印でK l 5のよう
に印点されたとき)は次ステツプ34へ移行し、1yイ
Is l 〉l VK11 1と判定したときはス
テップ35へ移行する。
K + +と前ステップ32で印点された印点位’11
K + sのy座標y□1 と31’KI5 の大小
を比較する。比較回路206が1yイ1.lく13/*
zlと判定したとき(第7図にX印でK l 5のよう
に印点されたとき)は次ステツプ34へ移行し、1yイ
Is l 〉l VK11 1と判定したときはス
テップ35へ移行する。
くステップ34〉
シーケンサ2(13)はRAM211の印点位置K z
(XKz 、yXll )の座標データを読み取り
、X他モータ12M及びY他モータ11Mを駆動制御し
、レンズを印点位置K13に復帰させる。
(XKz 、yXll )の座標データを読み取り
、X他モータ12M及びY他モータ11Mを駆動制御し
、レンズを印点位置K13に復帰させる。
くステップ35〉
演算回路2(13)はROM212に予め定数として記
憶されている距離データc (c>b)を読み込み、新
たな移動位置に+5(XK+C%yK+s ) =に
+s (XKI6 、yx+s )を求める。
憶されている距離データc (c>b)を読み込み、新
たな移動位置に+5(XK+C%yK+s ) =に
+s (XKI6 、yx+s )を求める。
シーケンサ2(13)はこのK16の座標データに基づ
いてX他モータ12Mを駆動制御し、位置K16にレン
ズを移動する。
いてX他モータ12Mを駆動制御し、位置K16にレン
ズを移動する。
くステップ36〉
前述のステップ25と同様の動作を実行し、K ) t
に印点する。
に印点する。
くステップ37〉
シーケンサ2(13)はレンズをに+3に復帰させる。
くステップ38〉
演算回路209はROM212に記憶されている定数す
を読み出し、第8図に示すように新たな移動位置K18
(XK11 bSVKI+ > =K +e (X
X18 、Vy+a )を求め、シーケンサ2(13
)は位置K18にレンズを移動させる。
を読み出し、第8図に示すように新たな移動位置K18
(XK11 bSVKI+ > =K +e (X
X18 、Vy+a )を求め、シーケンサ2(13
)は位置K18にレンズを移動させる。
くステップ39〉
前述のステップ32ないしステップ37と同様の動作を
実行し、第8図に示すように位置K19、K20ごそれ
ぞれ印点する。なお、本ステップでは印点位置K l
9のy座標y、1.と印点位置K 13のy座標、y□
、の大小を比較する。
実行し、第8図に示すように位置K19、K20ごそれ
ぞれ印点する。なお、本ステップでは印点位置K l
9のy座標y、1.と印点位置K 13のy座標、y□
、の大小を比較する。
lyx+sl>ly□31のとき、新たな位置、K2O
はに2G (XKI + C+ Vats ) =に2
゜(Xmzo N yK2゜)を求める点か前述のステ
ップ32ないしステップ37と相違する。その後、印点
位RK + +にレンズを復帰させる。
はに2G (XKI + C+ Vats ) =に2
゜(Xmzo N yK2゜)を求める点か前述のステ
ップ32ないしステップ37と相違する。その後、印点
位RK + +にレンズを復帰させる。
以上にて近用部の印点を終了し、次ステップ40以降遠
用部の印点へ移行する。
用部の印点へ移行する。
くステップ40>
前述のステップ21の復帰後の印点位置に5、ステップ
30が実行されたときは復帰位置に9 、ステップ34
または37が実行されたときは復帰位置に13、ステッ
プ39が実行されたときは復帰位置Kl+を起点として
、第5図に示すようにシーケンサ2(13)はパルスド
ライバ回路200を介してY軸モータl1Mを作動させ
る。
30が実行されたときは復帰位置に9 、ステップ34
または37が実行されたときは復帰位置に13、ステッ
プ39が実行されたときは復帰位置Kl+を起点として
、第5図に示すようにシーケンサ2(13)はパルスド
ライバ回路200を介してY軸モータl1Mを作動させ
る。
これによりレンズは近用方向に移動し、レンズの遠用方
向側に測定点を求める。処理部207からはレンズ移動
中時々刻々の測定点屈折特性値すなわち測定遠用加入度
数ADDが比較回路206る入力され、−力測定円柱度
数C1は演算回路209に人力される。演算回路209
はRAM211に記憶されていた前述のステップ11で
得られた基準遠用円柱度数MCを人力された測定円柱度
数Cから減算し、その結果(C−MC)を比較回路20
6に入力する。
向側に測定点を求める。処理部207からはレンズ移動
中時々刻々の測定点屈折特性値すなわち測定遠用加入度
数ADDが比較回路206る入力され、−力測定円柱度
数C1は演算回路209に人力される。演算回路209
はRAM211に記憶されていた前述のステップ11で
得られた基準遠用円柱度数MCを人力された測定円柱度
数Cから減算し、その結果(C−MC)を比較回路20
6に入力する。
比較回路206は、RAM211に人力されていた遠用
加入度数境界値Aeと遠用円柱度数境界値Ceを読み出
し、演算回路209からの入力値(C−MC)と処理部
207からの遠用加入度数ADDとから、移動中のレン
ズの測定点の加入度数ADDと円柱度数差(C−MC)
が を満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ2(
13)にその旨を指令する。
加入度数境界値Aeと遠用円柱度数境界値Ceを読み出
し、演算回路209からの入力値(C−MC)と処理部
207からの遠用加入度数ADDとから、移動中のレン
ズの測定点の加入度数ADDと円柱度数差(C−MC)
が を満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ2(
13)にその旨を指令する。
くステップ41〉
シーケンサ2(13)は比較回路20Gからの「条件■
満足」の信号を受けると、パルスドライバ回路200を
介してY軸モータ11Mを反転させ、レンズの近用方向
が測定点となるようにレンズを前回とは逆に移動させる
。
満足」の信号を受けると、パルスドライバ回路200を
介してY軸モータ11Mを反転させ、レンズの近用方向
が測定点となるようにレンズを前回とは逆に移動させる
。
この反転移動中の処理部207からの時々刻々の測定点
毎の加入度数ADDと円柱度数Cとは上述と同様に演算
回路209で円柱度数差(C−MC)が演算される。比
較回路206は加入度数ΔDDと円柱度数差(C−MC
)を遠用加入度数境界値Δe及び遠用円柱度数境界値C
eと比較して が成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ2(13)に出力する。
毎の加入度数ADDと円柱度数Cとは上述と同様に演算
回路209で円柱度数差(C−MC)が演算される。比
較回路206は加入度数ΔDDと円柱度数差(C−MC
)を遠用加入度数境界値Δe及び遠用円柱度数境界値C
eと比較して が成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ2(13)に出力する。
シーケンサ2(13)は比較回路206からの指令を受
けるとY軸モータ11Mを停止させレンズ移動を止める
とともに、ドライバ回路202を介して条件0式の成立
測定点位置E1 に印点スル。ソftトトモニEI(
D座a (XEI、3’EI >をRAM211に記憶
させる。
けるとY軸モータ11Mを停止させレンズ移動を止める
とともに、ドライバ回路202を介して条件0式の成立
測定点位置E1 に印点スル。ソftトトモニEI(
D座a (XEI、3’EI >をRAM211に記憶
させる。
くステップ42〉
シーケンサ2(13)はROM212から予め定数とし
て記憶されている距離dを読み出し、X軸モータ12M
を作動し、その距離dだけレンズの扉側が測定点となる
ようにレンズを耳側に移動し、移動位置E2を測定点と
する。
て記憶されている距離dを読み出し、X軸モータ12M
を作動し、その距離dだけレンズの扉側が測定点となる
ようにレンズを耳側に移動し、移動位置E2を測定点と
する。
〈ステップ43〉
前述のステップ40及びステップ41と同様の動作を実
行し、条件0式を満足する測定点E3を印点する。
行し、条件0式を満足する測定点E3を印点する。
くステップ44〉
シーケンサ2(13)はROM212に記憶されている
距離dの2倍2dだけレンズを体側へ移動し、E4 を
測定点とした後、前述のステップ40及び41と同様の
動作を実行し、測定点E5 に印点する。
距離dの2倍2dだけレンズを体側へ移動し、E4 を
測定点とした後、前述のステップ40及び41と同様の
動作を実行し、測定点E5 に印点する。
くステップ45〉
ステップ41ないしステップ44で印点されたE、 、
E、及びE、の各々のy座標yEl、yey、’lEs
と近用部の印点位置に、 (またはに+ 、Kzある
いはに、、)のy座標yxsとのY軸方向距離’/x、
Vss、Wasを演算回路209で演算する。この演算
結果を比較回路206に出力する。比較回路206は、
’/a3≧7□≦76゜のとき、すなわち中央の印点位
置E1 がもっとも近用方向よりのときは次ステツプ4
6に移行し、第9図に示すように、V+:3< VE+
<71i3のときはステップ48へ移行し、第10図
に示すようにVsz>y□〉783のときはステップ4
9へ移行する。
E、及びE、の各々のy座標yEl、yey、’lEs
と近用部の印点位置に、 (またはに+ 、Kzある
いはに、、)のy座標yxsとのY軸方向距離’/x、
Vss、Wasを演算回路209で演算する。この演算
結果を比較回路206に出力する。比較回路206は、
’/a3≧7□≦76゜のとき、すなわち中央の印点位
置E1 がもっとも近用方向よりのときは次ステツプ4
6に移行し、第9図に示すように、V+:3< VE+
<71i3のときはステップ48へ移行し、第10図
に示すようにVsz>y□〉783のときはステップ4
9へ移行する。
くステップ46〉
第5図に示すように、距離dだけさらに耳側方向へ測定
点を移動させE6を測定点とする。
点を移動させE6を測定点とする。
その後、ステップ40及び4Iと同様な動作を実行し、
E7 印点する。その後E7 点から距離4dだけレン
ズを耳側に移動し、E8を測定点としたのち、ステップ
40及び41と同様の動作を実行し、測定点E、を印点
する。
E7 印点する。その後E7 点から距離4dだけレン
ズを耳側に移動し、E8を測定点としたのち、ステップ
40及び41と同様の動作を実行し、測定点E、を印点
する。
くステップ48〉
第9図に示すように、印点位置E、から距離3dだけレ
ンズをY軸方向にそって耳側へ移動し、体側の測定点E
goを得る。その後、ステップ40.41と同様の動作
を実行し、測定点E1冒こ印点し、さらに距離dだけ体
側に測定点を移動し、E12を測定点としステップ40
.41と同様の動作を実行し、測定点E 13を印点す
る。
ンズをY軸方向にそって耳側へ移動し、体側の測定点E
goを得る。その後、ステップ40.41と同様の動作
を実行し、測定点E1冒こ印点し、さらに距離dだけ体
側に測定点を移動し、E12を測定点としステップ40
.41と同様の動作を実行し、測定点E 13を印点す
る。
くステップ49〉
第1O図に示すように印点位置E5 から距離dさらに
耳側の測定点E l 4を得た後、ステップ40.4I
と同様の動作を実行しElsに印点する。さらに耳側の
測定点E16へ移動し、ステップ40.41と同様の動
作から測定点E l ?に印点する。
耳側の測定点E l 4を得た後、ステップ40.4I
と同様の動作を実行しElsに印点する。さらに耳側の
測定点E16へ移動し、ステップ40.41と同様の動
作から測定点E l ?に印点する。
以上の印点動作により、第11図に示すように、条件0
式、すなわち測定加入度数ADDが近用加入度数境界値
AK に対し、△DD≦AK となるか、または測定円
柱度数Cと遠用部円柱度数MCとの差(C−MC)が近
用円柱度数境界値CKに対しくC−MC)≧CK とな
る境界線4(10)上に印点される。このことは境界線
4(10)に囲まれた領域410はrADD≧AX及び
(C−MC)≦CXJの領域となる。この領域410は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数1.oODのレンズでは、例えばら 〕式よりコ とあたえられる。従って、領域410は、加入度数0.
75 D以上でかつ円柱度数0.25 D以下の領域と
なる。そしてこの領域には必ずレンズメーカー指定の近
用測定部316が含まれる。
式、すなわち測定加入度数ADDが近用加入度数境界値
AK に対し、△DD≦AK となるか、または測定円
柱度数Cと遠用部円柱度数MCとの差(C−MC)が近
用円柱度数境界値CKに対しくC−MC)≧CK とな
る境界線4(10)上に印点される。このことは境界線
4(10)に囲まれた領域410はrADD≧AX及び
(C−MC)≦CXJの領域となる。この領域410は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数1.oODのレンズでは、例えばら 〕式よりコ とあたえられる。従って、領域410は、加入度数0.
75 D以上でかつ円柱度数0.25 D以下の領域と
なる。そしてこの領域には必ずレンズメーカー指定の近
用測定部316が含まれる。
また、第11図に示すように、条件0式、すなわち測定
加入度数ADDが遠用加入度数境界値Ae以上か、また
は測定円柱度数差(C−、M C)が遠用円柱度数境界
値Ceより大きい境界線402上にも印点される。この
境界線402より遠用方向側はADD≦Aeかつ((、
MC)≦Ceの領域420となり、遠用作業が楽にげき
る領域である。例えば加入度数ADD、が1.00 D
のレンズを例に、例えば(b)式を境界値とすると、と
なるから、領域420は、加入度数が0.33 D以下
でかつ円柱度数差が0.33 D以下の領域となる。こ
の領域420内には必ずレンズメーカー指定の遠用測定
部313が人いる。
加入度数ADDが遠用加入度数境界値Ae以上か、また
は測定円柱度数差(C−、M C)が遠用円柱度数境界
値Ceより大きい境界線402上にも印点される。この
境界線402より遠用方向側はADD≦Aeかつ((、
MC)≦Ceの領域420となり、遠用作業が楽にげき
る領域である。例えば加入度数ADD、が1.00 D
のレンズを例に、例えば(b)式を境界値とすると、と
なるから、領域420は、加入度数が0.33 D以下
でかつ円柱度数差が0.33 D以下の領域となる。こ
の領域420内には必ずレンズメーカー指定の遠用測定
部313が人いる。
第2実施例
次に第12図囚及び第12図CB)に基づいて本発明の
第2の実施例を説明する。本実施例は前述の第1実施例
と装置構成は同様で第3図に示したフローチャートの印
点サブルーチン(ステップS−7及びステップS−10
)のみ相異する。第12図(A)はその印点サブルーチ
ンのみを示している。
第2の実施例を説明する。本実施例は前述の第1実施例
と装置構成は同様で第3図に示したフローチャートの印
点サブルーチン(ステップS−7及びステップS−10
)のみ相異する。第12図(A)はその印点サブルーチ
ンのみを示している。
以下この第2実施例の印点サブルーチンを説明する。
くステップ2−1〉
前述の第1実施例の印点サブルーチンのステップ1ない
し14を実行する。
し14を実行する。
くステップ2−2〉
シーケアt2(13)はパルスドライバ回路200を介
してX他モータ12MとY他モータlIMに互いに同期
させて同時にパルスを供給し、位置に1 を起点として
測定点を州側に45°方向に移動させる。
してX他モータ12MとY他モータlIMに互いに同期
させて同時にパルスを供給し、位置に1 を起点として
測定点を州側に45°方向に移動させる。
レンズ移動中の時々刻々の処理部207からの測定加入
度数ΔDD及び測定円柱度数Cを基に演算回路209及
び比較回路206は前述のステップ15(第1実施例)
と同様の動作で条件0式が成立する測定点に2 を探し
、シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を
介して印点移動モータ30Mを作動し、その後ドライバ
回路202を介してその測定点に2 に印点する。
度数ΔDD及び測定円柱度数Cを基に演算回路209及
び比較回路206は前述のステップ15(第1実施例)
と同様の動作で条件0式が成立する測定点に2 を探し
、シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を
介して印点移動モータ30Mを作動し、その後ドライバ
回路202を介してその測定点に2 に印点する。
くステップ2−3〉
シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200がX
他モータ12Mを作動させ、測定点を耳側に第12図■
)に示すように距離e移動させる。
他モータ12Mを作動させ、測定点を耳側に第12図■
)に示すように距離e移動させる。
なお、距離eはROM212に定数として予め記憶され
ている。
ている。
くステップ2−4〉
シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を介
してX他モータ12MとY他モータlIMに互いに同期
させてパルスを供給し、駆動することにより近用方向に
45°方向にそって測定点を移動させる。
してX他モータ12MとY他モータlIMに互いに同期
させてパルスを供給し、駆動することにより近用方向に
45°方向にそって測定点を移動させる。
この測定点移動中の時々刻々の処理部207からの測定
加入度数ADDと円柱度数Cとから演算回路209と比
較回路206は前述のステップ25(第1実施例)と同
様に条件0式を満足する測定点を探す。
加入度数ADDと円柱度数Cとから演算回路209と比
較回路206は前述のステップ25(第1実施例)と同
様に条件0式を満足する測定点を探す。
くステップ2−5〉
シーケンサ2(13)は次に、X他モータ12MとY他
モータ11Mを逆転させ、前記ステップ2−4の移動ル
ートを逆方向に同一ルートにそって条件0式を満足する
測定点を探す。
モータ11Mを逆転させ、前記ステップ2−4の移動ル
ートを逆方向に同一ルートにそって条件0式を満足する
測定点を探す。
条件0式を満足する測定点のX座標とRAM211に記
憶させておいた加入度数最大位置に1 のX座標Xkl
との差(x XKI)を演算回路209で演算し、(
X XKI)の正負を比較回路206で判定させる。
憶させておいた加入度数最大位置に1 のX座標Xkl
との差(x XKI)を演算回路209で演算し、(
X XKI)の正負を比較回路206で判定させる。
この判定が「正」のときはステップ2−7に移行し、「
負」または「等しい」ときはステップ2−6へ移行する
。
負」または「等しい」ときはステップ2−6へ移行する
。
くステップ2−6〉
シーケンサ2(13)はパルスドライバ回路200を介
して印点移動モータ30Mを駆動し、印点ベース32を
下降させた後、ドライバ回路202を介してムービング
コイル34を励磁し、中央の印点針35で測定点K。を
印点する。
して印点移動モータ30Mを駆動し、印点ベース32を
下降させた後、ドライバ回路202を介してムービング
コイル34を励磁し、中央の印点針35で測定点K。を
印点する。
くステップ2−7〉
シーケンサ2(13)は位置に、のxl y座標値(X
KI、y、1)をRAM211から読み取り、その値に
基づいてX他モータ12M、Y他モータ11Mを駆動し
てレンズ移動し、加入度数最大位置に1 に測定点を
復帰させる。
KI、y、1)をRAM211から読み取り、その値に
基づいてX他モータ12M、Y他モータ11Mを駆動し
てレンズ移動し、加入度数最大位置に1 に測定点を
復帰させる。
くステップ2−8〉
シーケンサ2(13)は、X他モータ12M5Y軸モー
タ11Mに同数のパルスを同期させ供給し、測定点を耳
側に45°方向に移動させる。
タ11Mに同数のパルスを同期させ供給し、測定点を耳
側に45°方向に移動させる。
そしてレンズ移動中の時々刻々の測定加入度数ADDと
測定円柱度数から条件0式を満足する測定を探し、条件
0式を満足する測定点に3 に印点する。
測定円柱度数から条件0式を満足する測定を探し、条件
0式を満足する測定点に3 に印点する。
〈ステップ2−9〉
前述のステップ2−4ないしステップ2−6と同様の動
作を実行し、条件0式を満足する測定点Ke (e=4
.5.or6)に印点する。ただし、本ステップでは前
述のステップ2−5の「州側に45°移動」ステップが
「耳側に45゜移動」となり、また「x xx+>O
Jの判定ステップがrx−xK+<OJになる点が相違
する。
作を実行し、条件0式を満足する測定点Ke (e=4
.5.or6)に印点する。ただし、本ステップでは前
述のステップ2−5の「州側に45°移動」ステップが
「耳側に45゜移動」となり、また「x xx+>O
Jの判定ステップがrx−xK+<OJになる点が相違
する。
以上のステップ2−1ないしステップ2−9で近用部の
印点を終了する。
印点を終了する。
くステップ2−10>
シーケンサ2(13)は前述のステップ2またはステッ
プ5(第1実施例参照)で指定された遠用指定位置E、
の座標値(x68、y61)をRA M211から読み
取り、X軸モータ12tVI、Y軸モータ11Mを駆動
制御して測定点をEl 上に移動させるべくレンズを移
動させる。
プ5(第1実施例参照)で指定された遠用指定位置E、
の座標値(x68、y61)をRA M211から読み
取り、X軸モータ12tVI、Y軸モータ11Mを駆動
制御して測定点をEl 上に移動させるべくレンズを移
動させる。
くステップ2−11>
前記ステップ2−2と同様の動作を実行し、測定点E2
に印点する。
に印点する。
くステップ2−12>
前記ステップ2−3と同様の動作を実行し、測定点を耳
側に移動させる。なお、このとき移動距離は予めROM
212に記憶されていたfとする。(f=eと定めても
よい)。
側に移動させる。なお、このとき移動距離は予めROM
212に記憶されていたfとする。(f=eと定めても
よい)。
くステップ2−13>
シーケンサ2(13)はX軸モータ12MとY軸モータ
11Mを駆動制御して遠用方向に45″方向にそって測
定点を移動すべくレンズを移動させる。レンズ移動中の
時々刻々の測定加入度数ΔDDと測定円柱度数Cとから
前述の条件0式(第1実施例参照)を満足する測定点を
探す。
11Mを駆動制御して遠用方向に45″方向にそって測
定点を移動すべくレンズを移動させる。レンズ移動中の
時々刻々の測定加入度数ΔDDと測定円柱度数Cとから
前述の条件0式(第1実施例参照)を満足する測定点を
探す。
くステップ2−14>
条件0式を満足する測定点をみつけたら、シーケンサ2
(13)はX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを反転
させ、ステップ2−13の移動ルートを逆に測定点を進
め前述の条件0式(第1実施例参照)を満足する測定点
を探す。
(13)はX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを反転
させ、ステップ2−13の移動ルートを逆に測定点を進
め前述の条件0式(第1実施例参照)を満足する測定点
を探す。
条件0式を満足する測定点のX座標と指定遠用位置E、
のX座標Xl:lの差(x Xp+)の正負を比較回
路206で判定し、「負」または、「等しい」ときはス
テップ2−15に移行し、「正」のときはステップ2−
16に移行する。
のX座標Xl:lの差(x Xp+)の正負を比較回
路206で判定し、「負」または、「等しい」ときはス
テップ2−15に移行し、「正」のときはステップ2−
16に移行する。
くステップ2−15>
測定点En (n=4 、6 、 or 8 )に印
点する。
点する。
くステップ1−16>
指定遠用位WE+ に測定点を復帰させる。
くステップ2−17>
指定遠用位置E、を起点として耳側45°方向に測定点
を移動すべくレンズを移動させ、条件0式を満足する測
定点E3 に印点する。
を移動すべくレンズを移動させ、条件0式を満足する測
定点E3 に印点する。
くステップ2−18>
前記ステップ2−12ないしステップ2−15と同様の
動作を実行し、条件0式を満足する測定点Ee (e=
5.7.or9)に印点する。ただし本ステップでは前
記ステップ2−12の「耳側」を「州側」とし、ステッ
プ2−14の「機側」を「耳側」とし、rx Xi+
>OJをrx−XEI<OJとする点が相違する。
動作を実行し、条件0式を満足する測定点Ee (e=
5.7.or9)に印点する。ただし本ステップでは前
記ステップ2−12の「耳側」を「州側」とし、ステッ
プ2−14の「機側」を「耳側」とし、rx Xi+
>OJをrx−XEI<OJとする点が相違する。
以上説明した第1及び第2の実施例では、いずれも近用
部と遠用部の両方に印点しているが、本発明は必ずしも
これに限定されない。必要に応じ遠用部のみ、または近
用部のみの印点シーケンスを実行するようにシーケンサ
2(13)の実行70−を選択できるように構成しても
よい。また上記各実施例では、条件0式ないし条件0式
では測定加入度数ΔDDと測定円柱度数差(C−MC)
の両方について境界値と比較しているが、測定加入度数
についてのみ比較してもよい。
部と遠用部の両方に印点しているが、本発明は必ずしも
これに限定されない。必要に応じ遠用部のみ、または近
用部のみの印点シーケンスを実行するようにシーケンサ
2(13)の実行70−を選択できるように構成しても
よい。また上記各実施例では、条件0式ないし条件0式
では測定加入度数ΔDDと測定円柱度数差(C−MC)
の両方について境界値と比較しているが、測定加入度数
についてのみ比較してもよい。
さらに上述の実施例では、条件0式または0式を満足す
る測定点上に測定毎に印点したが、そのかわりにこれら
条件を満足する測定点座標データー時的にRAM211
に全て記憶させる。そして全測定点のデータ取り込み後
、印点動作のみを集中的に実行してもよい。また、印点
位置は測定点上である必要は必ずしもなく、条件式を満
足する領域内であれば測定点から所定圧#!、隔てた点
に印点してもよい。このことは、印点マークがレンズ押
えピン25によりレンズ移動中に消されるのを防止する
ために、印点位置とレンズ押えピン25の配位関係をレ
ンズ移動に計算し、次々に測定点、すなわち印点点を決
定していくとき有効である。
る測定点上に測定毎に印点したが、そのかわりにこれら
条件を満足する測定点座標データー時的にRAM211
に全て記憶させる。そして全測定点のデータ取り込み後
、印点動作のみを集中的に実行してもよい。また、印点
位置は測定点上である必要は必ずしもなく、条件式を満
足する領域内であれば測定点から所定圧#!、隔てた点
に印点してもよい。このことは、印点マークがレンズ押
えピン25によりレンズ移動中に消されるのを防止する
ために、印点位置とレンズ押えピン25の配位関係をレ
ンズ移動に計算し、次々に測定点、すなわち印点点を決
定していくとき有効である。
本発明によれば、レンズ上の印点により眼鏡装用者が近
用作業時に必要とする加入度数の分布領域を示すことが
できる。このため、この印点されたレンズを有する眼鏡
を装用させたときの装用眼の位置が、前記分布領域内に
あるか否かで正しくレンズが枠入れされた眼鏡であるか
否かを極めて容易に判別できる。
用作業時に必要とする加入度数の分布領域を示すことが
できる。このため、この印点されたレンズを有する眼鏡
を装用させたときの装用眼の位置が、前記分布領域内に
あるか否かで正しくレンズが枠入れされた眼鏡であるか
否かを極めて容易に判別できる。
第1図は、本発明のレンズ印点装置の機械的構成部を示
す斜視図、第2図はレンズ印点装置の電気制御系の回路
構成を示すブロック図、第3図はレンズ印点装置の作動
ルーチンを示すフローチャート図、第4図(A)ないし
第4図@)は第3図のフローチャートの印点サブルーチ
ンの第1の実施例を示すフローチャート図、第5図ない
し第10図は第1実施例によるレンズへの印点状態を測
定点の移動ルートとともに示す模式図、第10図は、第
1実施例によるレンズへの印点の一瞬を遠用領域及び近
用領域とともに示す模式図、第12図(A)は印点サブ
ルーチンの第2の実施例を示すフローチャート図、第1
2図山)は第2実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、第13図は
未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一例を示す図
、第14図は指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す
模式図。 ■・・・・・・測定光学系及び検出器 11・・・・・・Y軸道り機構 12・・・・・・X軸送り機構 14.15・・・・・・ハンド 20・・・・・・レンズ押え部 、 30・・・・・・印点部 2(13)・・・す・シーケンサ 206・・・・・・比較回路 209・・・・・・演算回路 211・・・・・・RAM 212・・・・・・ROM 第3図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 第1○図 昭和 年 月 日
す斜視図、第2図はレンズ印点装置の電気制御系の回路
構成を示すブロック図、第3図はレンズ印点装置の作動
ルーチンを示すフローチャート図、第4図(A)ないし
第4図@)は第3図のフローチャートの印点サブルーチ
ンの第1の実施例を示すフローチャート図、第5図ない
し第10図は第1実施例によるレンズへの印点状態を測
定点の移動ルートとともに示す模式図、第10図は、第
1実施例によるレンズへの印点の一瞬を遠用領域及び近
用領域とともに示す模式図、第12図(A)は印点サブ
ルーチンの第2の実施例を示すフローチャート図、第1
2図山)は第2実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、第13図は
未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一例を示す図
、第14図は指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す
模式図。 ■・・・・・・測定光学系及び検出器 11・・・・・・Y軸道り機構 12・・・・・・X軸送り機構 14.15・・・・・・ハンド 20・・・・・・レンズ押え部 、 30・・・・・・印点部 2(13)・・・す・シーケンサ 206・・・・・・比較回路 209・・・・・・演算回路 211・・・・・・RAM 212・・・・・・ROM 第3図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図 第1○図 昭和 年 月 日
Claims (15)
- (1)累進多焦点レンズの近用部のある領域内での加入
度数を測定し、最大加入度数を求める第1の段階と; 前記近用部最大加入度数に基づいて少なくとも近用部加
入度数境界値を決定する第2の段階と; 前記累進多焦点レンズの少なくとも近用部の複数の測定
点の加入度数を測定する第3の段階と; 測定された前記近用部測定点における測定加入度数と前
記近用部加入度数境界値とを比較して、前記測定加入度
数が前記近用部加入度数境界値より大きくなる領域内に
ある近用測定点上またはその近傍に印点する第4の段階
と から成ることを特徴とするレンズ印点方法。 - (2)前記第2の段階が、さらに前記近用部最大加入度
数に基づいて近用部円柱度数境界値を決定し、 前記第3の段階が、さらに前記近用部測定点の円柱度数
を測定し、 前記第4の段階が、さらに前記近用部測定点における測
定円柱度数と前記近用部円柱度数境界値とが比較され、
前記測定円柱度数が前記近用部円柱度数境界値より小さ
くなる領域内にある前記近用測定点上またはその近傍に
印点するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
(1)項記載のレンズ印点方法。 - (3)前記第4の段階が、前記測定加入度数が前記近用
加入度数境界値より大きく、かつ前記測定円柱度数が前
記近用円柱度数境界値より小さい領域内にある前記測定
点上またはその近傍に印点することを特徴とする特許請
求の範囲第(2)項記載のレンズ印点方法。 - (4)累進多焦点レンズの近用部のある領域内での加入
度数を測定し、最大加入度数を求める第1の段階と; 前記近用部最大加入度数に基づいて少なくとも近用部加
入度数境界値を決定する第2の段階と; 前記累進多焦点レンズの少なくとも近用部の複数の測定
点の加入度数を測定する第3の段階と; 測定された前記近用部測定点における測定加入度数と前
記近用部加入度数境界値とを比較して、前記測定加入度
数が前記近用部加入度数境界値より大きくなる領域内に
ある近用測定点上またはその近傍に印点する第4の段階
と; 前記近用部最大加入度数に基づいて遠用部加入度数境界
値を算定する第5の段階と; 前記累進多焦点レンズの遠用部の複数の測定点の加入度
数を測定する第6の段階と; 測定された前記遠用部測定点における測定加入度数と前
記遠用部加入度数境界値を比較して、前記測定加入度数
が前記遠用部加入度数境界値より小さくなる領域内にあ
る前記遠用部測定点上またはその近傍に印点する第7の
段階を有することを特徴とするレンズ印点方法。 - (5)前記第5の段階が、さらに前記近用部最大加入度
数に基づいて遠用部円柱度数境界値を決定し、 前記第6の段階が、さらに前記遠用測定点の円柱度数を
測定し、 前記第7の段階が、さらに前記遠用部測定点における測
定円柱度数と前記遠用部円柱度数境界値とが比較され、
前記測定円柱度数が前記遠用部円柱度数境界値より小さ
くなる領域内にある前記遠用部測定点上またはその近傍
に印点することを特徴とする特許請求の範囲第(4)項
記載のレンズ印点方法。 - (6)前記第7の段階が、前記測定加入度数が前記遠用
加入度数境界値より小さく、かつ測定円柱度数が前記遠
用円柱度数境界値より小さい領域内にある前記測定点上
またはその近傍に印点することを特徴とする特許請求の
範囲第(5)項記載のレンズ印点方法。 - (7)前記第7の段階の円柱度数境界値との比較が、該
レンズが遠用円柱度数(MC)を有する場合は、測定円
柱度数(C)から前記遠用円柱度数(MC)を引いた差
(C−MC)に対してなされることを特徴とする特許請
求の範囲第(5)項または第(6)項記載のレンズ印点
方法。 - (8)累進多焦点レンズの少なくとも近用部の複数の近
用部測定点の加入度数を自動的に測定するための測定手
段と; 前記測定手段により測定された前記近用部測定点の測定
加入度数から近用最大加入度数を選定する選定手段と; 前記近用最大加入度数に基づいて近用部加入度数境界値
を決定する境界値決定手段と; 前記測定加入度数と前記近用部加入度数境界値とを比較
する比較手段と; 前記比較手段が前記近用部加入度数境界値より大きくな
る領域内にあると判定した前記測定加入度数を有する前
記近用部測定点上またはその近傍に印点するための印点
手段とから構成されたことを特徴とするレンズ印点装置
。 - (9)前記測定手段が、さらに前記近用部測定点の円柱
度数を測定するように構成されており、前記境界値決定
手段が、さらに前記近用最大加入度数に基づいて近用部
円柱度数境界値を決定するように構成されており、 前記比較手段が、さらに前記測定円柱度数と前記近用部
円柱度数境界値とを比較するように構成されており、か
つ 前記印点手段はさらに前記比較手段が前記近用部円柱度
数境界値より小さくなる領域内にあると判定した前記測
定円柱度数を有する前記近用部測定点上またはその近傍
に印点するように構成されたことを特徴とする特許請求
の範囲第(8)項記載のレンズ印点装置。 - (10)前記印点手段が、前記比較手段により、前記近
用部測定加入度数が前記近用加入度数境界値より大きく
、かつ前記近用部測定円柱度数が前記近用円柱度数境界
値より小さい領域内にあると判定された前記近用測定点
上またはその近傍に印点することを特徴とする特許請求
の範囲第(9)項記載のレンズ印点装置。 - (11)前記測定手段が、さらに前記累進多焦点レンズ
の遠用部の複数の測定点でその加入度数を測定するよう
に構成されており、 前記境界値決定手段が、さらに前記近用最大加入度数に
基づいて遠用部加入度数境界値を決定するように構成さ
れており、 前記比較手段が、さらに前記遠用部測定点の測定加入度
数と前記遠用部加入度数境界値とを比較するように構成
されており、かつ 前記印点手段が、さらに前記比較手段が前記遠用部加入
度数境界値より小さくなる領域内にあると判定した前記
測定加入度数を有する前記遠用部測定点上またはその近
傍に印点するように構成されたことを特徴とする特許請
求の範囲第(8)項ないし第(10)項いずれかに記載
のレンズ印点装置。 - (12)前記測定手段が、さらに前記遠用部測定点の円
柱度数を測定するように構成されており、前記境界値決
定手段は、さらに前記近用最大加入度数に基づいて遠用
部円柱度数境界値を決定するように構成されており、 前記比較手段が、さらに遠用部測定円柱度数と、前記遠
用部円柱度数境界値とを比較するように構成されており
、かつ 前記印点手段が、さらに前記比較手段が前記遠用部円柱
度数境界値より小さくなる領域内にあると判定した前記
遠用部測定円柱度数を有する前記遠用部測定点上または
その近傍に印点するように構成したことを特徴とする特
許請求の範囲第(11)項記載のレンズ印点装置。 - (13)前記印点手段が、前記比較手段により前記遠用
部測定加入度数が前記遠用加入度数境界値より小さく、
かつ前記遠用部測定円柱度数が前記遠用円柱度数境界値
より小さい領域内にあると判定された前記遠用部測定点
上またはその近傍に印点することを特徴とする特許請求
の範囲第(12)項記載のレンズ印点装置。 - (14)前記比較手段が、該レンズが遠用円柱度数(M
C)を有する場合は、前記近用円柱度数境界値を前記近
用部測定円柱度数(C)から前記遠用円柱度数(MC)
を引いた差(C−MC)とを比較するよう構成されたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第(8)項ないし第(1
3)項いずれかに記載のレンズ印点装置。 - (15)前記比較手段が、該レンズが遠用円柱度数(M
C)を有する場合は、前記遠用円柱度数境界値と、前記
遠用部測定円柱度数(C)から前記遠用円柱度数(MC
)を引いた差(C−MC)とを比較するよう構成された
ことを特徴とする特許請求の範囲第(11)項ないし第
(14)項いずれかに記載のレンズ印点装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5586586 | 1986-03-13 | ||
JP61-55865 | 1986-03-13 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8068671A Division JP2838391B2 (ja) | 1986-03-13 | 1996-03-25 | レンズメーター |
JP8068672A Division JP2779929B2 (ja) | 1986-03-13 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63113419A true JPS63113419A (ja) | 1988-05-18 |
JPH076868B2 JPH076868B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=13010962
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61064430A Expired - Lifetime JPH076868B2 (ja) | 1986-03-13 | 1986-03-22 | レンズメーター |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH076868B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0389417U (ja) * | 1989-12-27 | 1991-09-12 | ||
US6061123A (en) * | 1996-09-30 | 2000-05-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Lens meter |
JP2005214701A (ja) * | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Topcon Corp | レンズメータ |
JP2006053227A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-02-23 | Hoya Corp | 眼鏡レンズヘのマーキング方法および眼鏡レンズ |
JP2015504524A (ja) * | 2012-12-04 | 2015-02-12 | エシロール アンテルナシオナル (コンパニー ジェネラル ドプティック) | 眼鏡レンズの反射測定を実行するための支持体、装置及び方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54143245A (en) * | 1978-04-06 | 1979-11-08 | Rodenstock R | Lens for spectacles |
-
1986
- 1986-03-22 JP JP61064430A patent/JPH076868B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54143245A (en) * | 1978-04-06 | 1979-11-08 | Rodenstock R | Lens for spectacles |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0389417U (ja) * | 1989-12-27 | 1991-09-12 | ||
US6061123A (en) * | 1996-09-30 | 2000-05-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Lens meter |
JP2005214701A (ja) * | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Topcon Corp | レンズメータ |
EP1560014A3 (en) * | 2004-01-28 | 2007-09-05 | Kabushiki Kaisha TOPCON | Lens-refracting characteristic measuring apparatus |
US7301614B2 (en) | 2004-01-28 | 2007-11-27 | Kabushiki Kaisha Topcon | Lens-refracting characteristic measuring apparatus |
JP2006053227A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-02-23 | Hoya Corp | 眼鏡レンズヘのマーキング方法および眼鏡レンズ |
JP4537148B2 (ja) * | 2004-08-10 | 2010-09-01 | Hoya株式会社 | 眼鏡レンズへのマーキング方法 |
JP2015504524A (ja) * | 2012-12-04 | 2015-02-12 | エシロール アンテルナシオナル (コンパニー ジェネラル ドプティック) | 眼鏡レンズの反射測定を実行するための支持体、装置及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH076868B2 (ja) | 1995-01-30 |
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