JP2838391B2 - レンズメーター - Google Patents
レンズメーターInfo
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Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、累進多焦点レンズ
の光学特性を測定可能なレンズメーターに関する。 【0002】 【従来の技術】近年、中高年の初期の老眼矯正用とし
て、境目のない累進多焦点レンズの需要が増加してい
る。この累進多焦点レンズは遠用部、近用部及び両者を
結ぶ累進帯部が複雑な非球面で連続的に構成されている
ため、従来の二重焦点レンズのように外観だけで遠用屈
折特性測定部や近用部屈折特性測定部を知ることができ
ない。ここで屈折特性とは、球面度数、円柱度数、円柱
軸角度、及びプリズム度数を総称した定義として使われ
る。このため、各レンズメーカーは、眼鏡店に納品す
る、眼鏡フレームのレンズ枠に入れる前のアンカットレ
ンズに種々のマーキングを施すことにより、眼鏡店にお
ける屈折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時のレン
ズ加工の便宜を図っている。図18はその一例を示すも
ので、310は水平基準線、311はダイヤマーク、3
15は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、312は
フィッティングマーク、313は遠用屈折特性測定部指
示マーク、316は近用屈折特性測定部指示マーク、3
14は近用加入度数表示、317はメーカーマークをそ
れぞれ示している。そしてレンズメーカーでこのレンズ
の遠用部屈折特性を測定するときは、313のマークの
○印内にレンズメーターの測定光軸が位置してレンズメ
ーターのレンズ受けの中心に313のマークが合致する
ようにレンズをセットする。また近用屈折特性測定時
は、316のマークの丸印をレンズ受けに合致させるよ
うにレンズをセットする。さらに必要に応じ、フィッテ
ィングマーク312が示す位置における屈折特性を知り
たいときは、マーク312の交点312aをレンズ受け
の中心に合致させるようにレンズをセットする。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】上述したような解決を
もつ現在の累進多焦点レンズは、前述したように累進帯
及び近用部周辺が複雑な非球面構造をもつため、近用部
に正確に被装用者眼が位置するようにレンズを眼鏡フレ
ームに枠入れする必要がある。ところが、眼鏡フレーム
に枠入れされた後のレンズにおいては、ダイヤマーク3
11、近用加入度表示314、及びメーカーマーク31
7以外はすべて消される。しかし、累進多焦点レンズ
は、その屈折面が高次の関数曲面となっているため、そ
の非点収差分布、及び近用加入度数分布の等屈折力値分
布曲線は、複雑な形状となる。このため、トライ−アン
ド−エラーで近用測定部位置を決定することが極めて困
難であるばかりか、例えば近用測定部位置が、レンズに
よっては加入度最大位置及び/または非点収差(円柱
度)最小位置でない場所を指定しているものもある。従
って、トライ−アンド−エラー方式で測定部を決定する
ことはもちろん延いてはその位置に印点することもまっ
たく不可能なことがあった。この対策として、各レンズ
メーカーはチェックカードを用いる。図18の各種マー
クを図示したカードを別品で用意し、チェックカードの
ダイヤマークと枠入れされたレンズに残っているダイヤ
マーク311を合わせるようにチェックカードをレンズ
に貼る。そしてチェックカード上の遠用及び近用屈折特
性測定部指示マークをもとにレンズ上に該マークにそっ
てマーカーペン等でマーキングしたのち、そのマーキン
グされたメガネを被装用者に装用してもらう。遠用作業
時及び近用作業時の被装用者眼の位置とマーキングされ
た指示マーク位置との位置関係から、レンズが正しく枠
入れされているか否か、あるいは眼鏡フレームのフィッ
ティングが正確か否かを判断しており、この判断には極
めて繁雑な作業を強いられていた。 【0004】さらに、このチェックカードは、すべての
眼鏡店にすべてのレンズメーカーのものが保管されてい
るとは限らず、所定のチェックカードがないときは、こ
の判断のためにまったく手の打ちようがないというのが
現状であった。さらにたとえチェックカードがあったと
しても、前記マークはレンズに極めて薄く表示されてい
るため、このマークを見つけること自体極めてむづかし
いという問題があった。さらにチェックカードを利用し
て、遠用部及び近用部にマーキングまたは印点する場
合、レンズ上のダイヤマークとレンズの遠用測定部1
3、近用測定部16のそれぞれの位置が個々のレンズに
より、バラツキがない、すなわち個体差がないことが前
提である。それゆえ、もしレンズメーカーのレンズ製作
上のミスでこれら三者の位置関係に誤差が生じた場合
は、もはや、正確に測定部の位置を決め、マーキングや
印点を高精度に行うことができない。このように従来方
法では、レンズの近用測定部すなわちレンズ装用者が近
用作業時にその部分を通して見ることを指定されている
部分の領域を知ることができず、装用者がはたして正し
く屈折矯正される近用部を利用しうるようにメガネを装
用しているか否かをまったく判定することができなかっ
た。 【0005】本件発明の目的は、この従来技術の問題点
を解決し、累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を容
易にかつ明確に知ることができるレンズメーターを提供
することにある。 【0006】 【課題を解決するための手段】本発明は、測定光源から
の光束を遠用部及び近用部を有する累進多焦点レンズを
介して受光することにより屈折特性を求めるレンズメー
ターにおいて、前記累進多焦点レンズの異なる位置での
屈折特性を測定する測定手段と、測定位置を順次移動さ
せて屈折特性を測定してその測定値を順次記憶する記憶
手段と、上記記憶された各測定値の差に基づいて被検レ
ンズの加入度数の分布状態を演算するための演算手段と
を有することを特徴とするレンズメーターである。 【0007】本発明によれば、累進多焦点レンズの加入
度数の分布を容易に知ることができる効果を有する。 【0008】 【発明の実施の形態】 第1実施例 装置の機械構成 図1は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の機
械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61年
2月27日に同一出願人により出願された発明の名称
「披検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。この自動印
点装置は、図1に示すように、被検レンズまたは該レン
ズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、移動させるた
めの支持機構部10と、被検レンズを押さえるためのレ
ンズ押え部20と、被検レンズに印点するための印点部
30と、被検レンズを受けるレンズ受け台40とから大
略構成されている。支持機構部10はパルスモーターか
らなるY軸モータ11Mを有し、このモータ11Mの回
動によりX軸送り機構部12を、例えば送りネジ機構で
Y軸方向にそって移動させるY軸送り機構11と、パル
スモータ12Mを有し、その回動により、例えば送りネ
ジ機構によりX軸方向にそってハンド開閉部13を移動
させるX軸送り機構12とを有する。ハンド開閉部13
は、例えば直流モータからなるハンドモータ13Mによ
り回動される駆動プーリーと、従動プーリーと、両プー
リー間に掛けわたされた無端ベルトから構成された駆動
部の該ベルトに取り付けられ、モータ13Mの回動によ
り矢印131、132にそって互いに反対方向に移動す
る2つのハンド支持座とから構成される。 【0009】ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印1
33、134方向にそって所定範囲内に上下動すなわち
Z軸方向にそって移動可能にハンドテーブル135、1
36が取付けられている。ハンドテーブルのアーム13
7、138には、アンカットレンズのコバ面に挟持する
ための内側当接面141、151と、図示するように眼
鏡フレームFのテンプルTと当接する外側当接面14
2、152とを有する左、右のハンド14、15が軸1
43、153に回動自動に取付けられている。レンズ受
け台40は、本発明の自動印点装置が組込まれるレンズ
メーターの測定光学系の光軸Oが貫通する開口41を有
する円筒部材42と、その円筒部材42の上端部に植設
された3本のレンズ受けピン43とから構成されてい
る。レンズ押え部20は直流モータからなるレンズ押え
モータ20MによりZ軸方向にそってレンズ押えテーブ
ル21を上下動するためのレンズ押え送り機構22を有
し、レンズ押えテーブル21のアーム23から下方に張
出した支柱24の先端に3本のレンズ押えピン25を有
するレンズ押え座26を有している。レンズ押えテーブ
ル21には印点部30の送り機構31が固定されてい
る。送り機構31には印点ベース32を矢印33方向に
移動するためのパルスモーターからなる印点移動モータ
30Mが組みこまれている。印点ベース32には、ムー
ビングコイル34によりZ軸方向に押し出される印点ピ
ン35が取付けられている。印点ベース32が初期位置
にあるとき、印点ピン35の下方にはインク壺36が設
置されている。 制御駆動回路系 図2は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示すブ
ロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出願
を参照されたい。X軸モータ12M、Y軸モータ11
M、及び印点移動モータ30Mは、パルス発生器(図示
せず)と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路200に接続されている。レン
ズ押えモータ30Mと、ハンドモータ13Mは、定電流
制御回路201に接続されて一定電流で駆動するため、
レンズの押え圧及びハンド14、15によるフレームF
の保持圧は一定に保たれる。印点ムービングコイル34
はドライバ回路202に接続されている。 【0010】上記パルスドライバ回路200、定電流制
御回路201、ドライバ回路202は、マイクロコンピ
ュータから成るシーケンサ203に接続され、その制御
をうける。シーケンサ203には、被検レンズの保持や
眼鏡フレームFの初期の保持及び位置付けのコントロー
ルをするための初期コントロール回路204と、比較回
路206、検出器1からの情報に基づき被検レンズの屈
折特性を決定する屈折特性測定値処理部と、RAM(ラ
ンダム アクセス メモリ)211と演算回路209
と、プログラムメモリ213と、アライメント選択スイ
ッチ205とが接続されている。レンズの屈折特性測定
値を表示するための例えばCRTディスプレイまたは液
晶ディスプレイから成る表示器208が処理部207に
接続されている。RAM211は、比較回路206と、
演算回路209とシーケンサ203と、初期コントロー
ル回路204とに接続されている。このRAM211に
は遠用近用位置入力キーボード210が接続されてい
る。ROM(リードオンリーメモリ)212は演算回路
209と初期コントロール回路204に接続されてい
る。 作動シーケンス 眼鏡フレームのセット 図3は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れし
た眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャートで
ある。 〈ステップS−1〉初期コントロール回路204は、プ
ログラムメモリ213のプログラムに従って定電流制御
回路201を介してハンドモータ13Mを作動させ、ハ
ンド14、15を閉じさせる。 〈ステップS−2〉測定者は閉じられたハンド14、1
5上に印点したい眼鏡レンズを枠入れした眼鏡フレーム
Fを載置する。 〈ステップS−3〉初期コントロール回路204は定電
流制御回路201を介してハンドモータ13Mを反転さ
せ、ハンド14、15を開かせ、フレームFのテンプル
Tに外側当接面142、152を一定圧力で当接させて
フレームFを保持する。 〈ステップS−4〉初期コントロール回路204は右眼
の印点が終了しているか否かを判断し、YESの場合
は、ステップS−8へ、NOの場合は次ステップS−5
へ移行する。 〈ステップS−5〉右眼レンズを測定光学系1の光軸O
上に位置させるために、初期コントロール回路24はR
OM212に予めメモリされている指定PD値の半分の
距離に相当するパルス数を読み出し、パルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを回転させてハンド
開閉部13を移動させる。 〈ステップS−6〉初期コントロール回路204は定電
流制御回路201を介してレンズ押えモータ30Mを作
動させ、レンズ押えテーブル21を下降させる。これに
よりレンズ押えピン25が右眼レンズを押える。 【0011】すなわち、右眼レンズは、レンズ受け台4
0のレンズ受けピン43とレンズ押えピン25で挟まれ
る。また、フレームFはハンド14、15によっても保
持されるため十分な安定性をもって保持される。 〈ステップS−7〉後に詳述する印点サブルーチンによ
り印点された後ステップS−4にリターンし、ここで右
眼終了か否かを判定し、右眼終了と判定されて次ステッ
プS−8へ移行する。 〈ステップS−8〉初期コントロール回路204はモー
タ20Mを反転し、レンズ押え部20を初期位置へ復帰
させた後、前記ステップS−5とは逆方向にX軸モータ
12Mを回転させ、ROM212にメモリされている所
定PD値に相当する距離だけハンド開閉部13を移動さ
せる。 〈ステップS−9〉及び〈ステップS−10〉それぞれ
前記ステップS−6及び前記ステップS−7と同じ動作
を実行する。 印点サブルーチン 次に、前記ステップS−7の印点サブルーチンを図4に
基づいて詳説する。 〈ステップ1〉測定者はアライメント選択スイッチ20
5を操作して、「光学中心」基準で印点するか「フレー
ム幾何学中心」基準で印点するかを選択する。「フレー
ム幾何学中心」基準は、例えばプリズムシーニング加工
が施されたレンズであって、遠用光学中心がレンズ外に
あるようなレンズが被検レンズとなった場合に選択され
る。「光学中心」基準が選択されたときは次ステップ2
に移行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場
合はステップ4に移行する。 〈ステップ2〉測定者はメーカーマーク317(図18
参照)を調べることにより製品名を知り、レンズメーカ
ー発行のマニアルから予め遠用測定部313及び近用測
定部316の光学中心(または幾何学中心)315から
の距離A、B、Cがわかっている場合は、遠用・近用位
置入力キーボード210を操作してその値を入力する。
入力データはRAM211に記憶される。 【0012】距離データA、B、Cの入力がない場合
は、ROM212に予めメモリされている距離データ、
例えばマーケットシェアの高いレンズの距離データが利
用される。 〈ステップ3〉シーケンサ203は検出器1を作動さ
せ、レンズの遠用プリズム度数を測定する。検出器から
の検出データは処理部207で逐時プリズム度数データ
に変換処理され、比較回路に入力される。比較回路20
6はROM212に記憶されている判定基準プリズム度
数|PX |=0.03及び|PY |=0.03を読み出し、
これと処理部207からのプリズム度数測定データとを
比較し、その結果をシーケンサ203に入力する。シー
ケンサ203はプリズム測定データPX 、PY が|PX
|<0.03、|P Y |<0.03となるまでパルスドライ
バ回路200を介してX軸12M、Y軸モータ11Mを
作動させてレンズを移動し、比較回路206が|PX |
<0.03及び|PY |<0.03と判定したレンズ移動位
置を、図19に示すように光学中心位置(OX 、OY )
としてRAM211へ記憶させる。その後ステップ10
へ移行する。 〈ステップ4〉前述のステップ1で「フレーム幾何学中
心」基準が選択された場合、測定者は左右眼の被検レン
ズ間のPD値(幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔
間距離)を入力する。PD値の入力がないときは、標準
値として予め定められROM212に記憶されているP
D値を利用する。 〈ステップ5〉前述ステップ2と同様の動作を実行す
る。 〈ステップ6〉初期コントロール回路204はステップ
3のPD値に基づいてパルスドライバ回路200を介し
てX軸モータ12Mを作動させ、指定PD位置すなわち
測定点が光軸O上にくるようにレンズを移動する。例え
ばステップ2の入力PD値が68m/mであり、本印点
装置のROM212に記憶設定されていた標準PD値が
64m/mの場合、前記ステップS−5でPD64m/
mの標準位置に位置付けられているから、(68−6
4)÷2=2m/m分ハンド開閉部を移動させることに
より指定PD位置が光軸O上に位置される。 〈ステップ7〉シーケンサ203は検出器1を作動させ
ると同時にパルスドライバ回路200を介してY軸モー
タ11Mを作動させ、レンズをY軸方向に移動させる。
そしてフレームFのレンズ枠LFの上側リムUL(図1
9参照)が光軸O上に位置し、検出器1による測定が不
能になるまでのY軸モータ11Mへのパルス供給数をR
AM211に一時的に記憶させる。 〈ステップ8〉シーケンサ203はパルスドライバ回路
200を制御してY軸モータ11Mを反転させ、下側リ
ムLLが光軸O上に位置するまでのY軸モータ11Mへ
の供給パルス数をRAM211に一時的に記憶させる。 〈ステップ9〉前記ステップ7とステップ8で得られた
上側リムUL及び下側リムLL検出までのY軸モータ1
1Mへの供給パルス数間の差の半分の値を計算し、その
結果及び前記ステップ6の位置から図19に示すように
フレーム幾何学的中心(GX 、GY )を決定する。 〈ステップ10〉シーケンサ203はRAM211から
前記ステップ2またはステップ4で入力された遠用測定
部距離A(入力がない場合は、ROM212に記憶され
ている所定値、以下同じ)を読み出し、パルスドライバ
回路200を介してY軸モータ11Mを作動させる。ス
テップ1で「光学中心」基準を指定した場合はサブステ
ップ1で決定された光学中心(OX 、OY )、またはス
テップ1で「幾何中心」基準を指定した時はサブステッ
プ2で決定された幾何学中心(GX 、GY )から距離だ
けレンズを移動させ、遠用測定部313を測定光学系1
の光軸Oと一致させる。(ステップ2または5でのAの
入力がない場合は、レンズ本来の遠用測定部313と光
軸Oとは一致しない。) 〈ステップ11〉シーケンサ203は検出器1と処理部
207を作動させて遠用測定部313の屈折特性を測定
し、その結果を表示器208で表示するとともに、その
結果を基準遠用球面度数MS、基準遠用円柱度数MCと
してRAM211に記憶させる。 〈ステップ12〉シーケンサ203はRAM211から
ステップ2またはステップ4で入力された近用測定部距
離B、Cを読み出し、パルスドライバ回路200を介し
てX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを作動させレン
ズの近用測定部316を光軸O上に移動させる。(ステ
ップ2または5でB、Cの入力がない場合は、レンズ本
来の近用測定部316と光軸Oは一致しない。) 〈ステップ13〉シーケンサ203はパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させ、レンズ
を鼻側及び耳側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレ
ンズの屈折特性値S(球面度数)及びC(円柱度数)を
処理部207から演算回路209へ入力させる。処理部
207から演算回路209へ入力させる。処理部207
は、基準遠用球面度数MSと、基準遠用円柱度数MC
と、時々刻々の近用屈折特性測定値S及びCとから近用
加入度ADDを 【0013】 【数1】 として計算し、比較回路206に入力する。比較回路2
06は、処理部207から時々刻々入力されるADD値
からその最大の値ADDM をもつレンズの移動位置K1(
Xk1,yk1)を決定し、シーケンサ203にその位置情報を
出力する。これと同時に最大近用加入度数ADDM をR
AM211に記憶させる。シーケンサ203は、その位
置情報K1(Xk1,yk1)に基づいてX軸モータ12M及びY
軸モータ11Mを作動させ、レンズを位置K1(Xk1,yk 1)
に移動させる。 〈ステップ14〉演算回路209は、RAM211に記
憶されている最大近用加入度数ADDMとROM212
に予め記憶させている定数群とから遠用部加入度数境界
値Ae 、遠用部円柱度数境界値Ce 、近用部加入度数境
界値Ak 、及び近用部円柱度数境界値Ck を、例えば 【0014】 【数2】 から計算し、この各境界値Ae 、Ce 、Ak 、Ck をR
AM211に記憶させる。 〈ステップ15〉シーケンサ203はパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させ、図9に
示すようにレンズをK1 位置から鼻側と耳側に順次移動
させる。演算回路209はレンズ移動中の時々刻々変化
する測定点毎の処理部207からの測定円柱度数CとR
AM211に記憶されている基準遠用円柱度MCとから
(C−MC)を計算し、その結果を比較回路206へ入
力する。処理部207は上記(a)式にしたがって加入
度数ADDを演算し、その値を比較回路206へ入力す
る。比較回路206は処理部207からのADD値及び
演算回路209からのC−MC値とRAM211に記憶
させた境界値Ak 、及びCk とを時々刻々に比較し、レ
ンズの鼻側及び耳側の両方で 【0015】 【数3】 が成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ203へ入力する。 〈ステップ16〉尚ステップ15で式成立測定点が鼻
側と耳側両方にあると比較回路206が判定したとき
は、図9に示すようにシーケンサ203はX軸モータ1
2Mを再度作動させレンズを耳側に移動し、鼻側の式
が成立する測定点K2(Xk2,yk1)に移動する。次に、ドラ
イバ回路202を作動させ印点部30の中央の印点針3
5のムービングコイル34を励磁し、印点針35をイン
クツボ36に浸した後、パルスドライバ回路200を介
して、印点部移動モータ30Mを作動させて印点ベース
32を降下させ、中央印点針35を光軸O上に位置させ
る。その後ドライバ回路202を介してムービングコイ
ル34を励磁し、レンズ上に印点をする。〈ステップ1
7〉シーケンサ203は次に印点移動モータ30Mを反
転させて、印点ベース32を初期位置に復帰された後、
X軸モータ12Mを反転させてレンズを鼻側へ移動し、
レンズの耳側で式が成立する測定点K3(Xk3,yk1)へ移
動し、以下ステップ16と同様の動作で、その測定点K
3 へ印点する。 〈ステップ18〉シーケンサ203は近用加入度ADD
最大位置K1(Xk1,yk1)のx座標値Xk1 をRAM211か
ら読み出し、パルスドライバ回路200を介してXモー
タ12Mを駆動してレンズをK1 位置へ復帰させる。 〈ステップ19〉シーケンサ203は、次にY軸モータ
11Mを作動させ、レンズを近用方向に移動させ、レン
ズの遠用方向よりの近用部分に測定点を求める。時々刻
々移動中のレンズの屈折特性は処理部207から比較回
路206に入力され、比較回路206は上記式の条件
を満足するか否かを判定し、その結果をシーケンサ20
3に入力する。シーケンサ203は比較回路206から
条件式を「満足する」旨指令が入力されると、Y軸モ
ータ11Mの作動を停止すると同時に、図9に示すよう
に測定点K5(Xk5,yk5)に印点する。 【0016】または、これと同時に印点位置K5(
Xk5,yk5)のX−Y座標値はRAM211で記憶される。 〈ステップ20〉演算回路209はRAM211から位
置K1 と印点位置K5 のy座標yk1 、及びyk5 を読み出
し、 【0017】 【数4】 のy座標を有し、x座標は Xk5(=Xk5)をもつ移動位置K
6(Xk5,yk6)≡K6(Xk6,yk 6)を演算で求める。このデータ
を基にシーケンサ203はY軸モータ11Mを作動さ
せ、移動位置K6 が光軸Oと一致するようにレンズを移
動させる。 〈ステップ21〉前記ステップ16及びステップ17と
同様の動作により図9に示すようにK7、K8 を印点す
る。その後前記位置K5 へ復帰する。 〈ステップ22〉前記ステップ16で比較回路206が
条件式を耳側・鼻側の両側で「満足しない」と判定し
たときは、図10に示すように、シーケンサ203はX
軸モータ12Mを作動させ、RAM211の位置K1 の
座標データ(Xk1,yk1)を基にレンズをK1 へ移動させ
る。 〈ステップ23〉次にシーケンサ203はY軸モータ1
1Mを作動させ、条件の式を満足するまでレンズを遠用
方向へ移送させ、条件式を満足する測定点K9(
Xk9,yk9)が光軸Oと一致したときY軸モータ11Mを停
止させ、ドライバ回路202を介して測定点K9 に印点
する。 〈ステップ24〉図10に示すように印点位置K9 のx
座標Xk9 に予め定めた距離aをROM212から読み出
し、演算回路209で( Xk9-a)をx座標とする位置K
10( Xk9- a,yk9)≡K10( Xk10,yk10)を演算させ、シーケ
ンサ203はレンズをK10へ移動するためにパルスドラ
イバ回路200を介してX軸モータ12Mを作動させ
る。 〈ステップ25〉レンズを位置K10に移動させた後、シ
ーケンサ203はY軸モータ11Mを作動させ、レンズ
の近用方向に測定点を求めるためにレンズを移動させ、
近用部加入度数境界値Ak と近用部円柱度数境界値Ck
に対し、レンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測
定値に基づく処理部207からの加入度数ADD及び近
用円柱度数C−MCが 【0018】 【数5】 を満たすまで測定点をY軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件式を満足する位置へ移動したら、次にシー
ケンサ203はY軸モータ11Mを反転させてレンズの
遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、その
移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記条件
式を満足する測定点K11(Xk11,yk11)にレンズ移動
し、測定点K11に印点する。これと同時に印点位置K11
(Xk11,yk11)の座標データをRAM211に記憶させ
る。 〈ステップ26〉演算回路209はRAM211の印点
位置K11の座標データ(Xk11,yk11)のx座標Xk11を読み
出し、これにROM212に予め定数として記憶されて
いる距離データaを基にして(Xk11+2a)≡Xk12を演算す
る。この演算結果に基づいてシーケンサ203はX軸モ
ータ12Mを作動させ、(Xk11+2a,yk11) を位置座標と
する移動位置K12が光軸Oと一致するようにレンズを移
動させる。 〈ステップ27〉前記ステップ25と同様の動作で位置
K13に印点する。 〈ステップ28〉比較回路206は印点位置K9 、K11
及びK13の各y座標yk9 、yk11、yk13の大小を比較し、
図10のように|yk11|>|yk9 |<|yk13|すなわち
中央の印点位置K9 がもっとも遠用方向側にあるときは
次ステップ30へ移行させる。比較回路206が|yk11
|>|yk9 |<|yk13|、すなわち図11に示すよう
に、耳側の印点位置K13がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ31へ移動する。さらに比較
回路206が|yk11|<|yk9 |<|yk13|、すなわち
図12に示すように、鼻側の印点位置K11がもっとも遠
用方向よりにあると判定したときはステップ38へ移行
する。 〈ステップ30〉シーケンサ203は、パルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12M及びY軸モータ1
1Mを、RAM211に記憶されている印点位置K9(
Xk9,yk9)の座標データに基づいて駆動制御し、印点位置
K9 にレンズを復帰させる。 〈ステップ31〉演算回路209はRAM211に記憶
されている位置K1 のx座標Xk1 にROM212に予め
定数として記憶してある距離bを加算し、新たに移動位
置K14( Xk1-b ,yk13)≡K14( Xk14,yk14)を求める。こ
の位置K14の座標データに基づいてシーケンサ203は
X軸モータ12Mを作動させ、レンズを鼻側に移動し、
図11に示すようにK14に光軸Oが位置するようにレン
ズを移動させる。 〈ステップ32〉前述のステップ25と同様の動作を実
行し、位置K15に印点する。 〈ステップ33〉比較回路206は、ステップ25で印
点された印点位置K11と前ステップ32で印点された印
点位置K15の座標yk11とyk15の大小を比較する。比較回
路206が|yk15|<|yk11|と判定したとき(図11
に×印でK'15 のように印点されたとき)は次ステップ
34へ移行し、|yk15|>|yk11|と判定したときはス
テップ35へ移行する。 〈ステップ34〉シーケンサ203はRAM211の印
点位置K11(Xk11,yk11)の座標データを読み取り、X軸
モータ12M及びY軸モータ11Mを駆動制御し、レン
ズを印点位置K13に復帰させる。 〈ステップ35〉演算回路203はROM212に予め
定数として記憶されている距離データc(c>b)を読
み込み、新たな移動位置K16( Xk1-c ,yk15)≡K16(
Xk16,yk16)を求める。シーケンサ203はこのK16の座
標データに基づいてX軸モータ12Mを駆動制御し、位
置K16にレンズを移動する。 〈ステップ36〉前述のステップ25と同様の動作を実
行し、K17に印点する。 〈ステップ37〉シーケンサ203はレンズをK13に復
帰させる。 〈ステップ38〉演算回路209はROM212に記憶
されている定数bを読み出し、図12に示すように新た
な移動位置K18( Xk1+b ,yk11)≡K18( Xk18,yk18)を求
め、シーケンサ203は位置K18にレンズを移動させ
る。 〈ステップ39〉前述のステップ32ないしステップ3
7と同様の動作を実行し、図12に示すように位置
K19、K21にそれぞれ印点する。なお、本ステップでは
印点位置K19のy座標yk19と印点位置K13のy座標、
yk13の大小を比較する。|yk19|>|yk13|のとき、新
たな位置、K20はK20( Xk1+c ,yk19)≡K20( Xk
20,yk20)を求める点か前述のステップ32ないしステッ
プ37と相違する。その後、印点位置K11にレンズを復
帰させる。 【0019】以上にて近用部の印点を終了し、次ステッ
プ40以降遠用部の印点へ移行する。 〈ステップ40〉前述のステップ21の復帰後の印点位
置K5 、ステップ30が実行されたときは復帰位置
K9 、ステップ34または37が実行されたときは復帰
位置K13、ステップ39が実行されたときは復帰位置K
11を起点として、図9に示すようにシーケンサ203に
パルスドライバ回路200を介してY軸モータ11Mを
作動させる。これらによりレンズは近用方向に移動し、
レンズの遠用方向側に測定点を求める。処理部207か
らはレンズ移動中時々刻々の測定点屈折特性値すなわち
測定遠用加入度数ADDが比較回路206に入力され、
一方測定円柱度数C、は演算回路209に入力される。
演算回路209はRAM211に記憶されていた前述の
ステップ11で得られた基準遠用円柱度数MCを入力さ
れた測定円柱度数Cから減算し、その結果(C−MC)
を比較回路206へ入力する。比較回路206は、RA
M211に入力されていた遠用加入度数境界値Aeと遠
用円柱度数境界値Ceを読み出し、演算回路209から
の入力値(C−MC)と処理部207からの遠用加入度
数ADDとから、移動中のレンズの測定点の加入度数A
DDと円柱度数差(C−MC)が 【0020】 【数6】 を満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ20
3にその旨を指令する。 〈ステップ41〉シーケンサ203は比較回路206か
らの「条件満足」の信号を受けると、パルスドライバ
回路200を介してY軸モータ11Mを反転させ、レン
ズの近用方向が測定点となるようにレンズを前回とは逆
に移動させる。この反転移動中の処理部207からの時
々刻々の測定点毎の加入度数ADDと円柱度数Cとは上
述と同様に演算回路209で円柱度数差(C−MC)が
演算される。比較回路206は加入度数ADDと円柱度
数差(C−MC)を遠用加入度数境界値Ae及び遠用円
柱度数境界値Ceと比較して 【0021】 【数7】 が成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ203に出力する。シーケンサ203は比較回路
206からの指令を受けるとY軸モータ11Mを停止さ
せレンズ移動を止めるとともに、ドライバ回路202を
介して条件式の成立測定点位置E1 に印点する。それ
とともにE1 の座標 (XE1,YE1)をRAM211に記憶さ
せる。 〈ステップ42〉シーケンサ203はROM212から
予め定数として記憶されている距離dを読み出し、X軸
モータ12Mを作動し、その距離dだけレンズの鼻側が
測定点となるようにレンズを耳側に移動し、移動位置E
2 を測定点とする。 〈ステップ43〉前述のステップ40及びステップ41
と同様の動作を実行し、条件式を満足する測定点E3
を印点する。 〈ステップ44〉シーケンサ203はROM212に記
憶されている距離dの2倍の2dだけレンズを鼻側へ移
動し、E4 を測定点とした後、前述のステップ40及び
41と同様の動作を実行し、測定点E5 に印点する。 〈ステップ45〉ステップ41ないしステップ44で印
点されたE1 、E3 及びE5 の各々のy座
標YE1 、YE3 、YE5 、YE5 と近用部の印点位置K5 (ま
たはK1 、K11あるいはK13) のy座標YE5 とのY軸方
向距離YE1、YE3、YE5を演算回路209で演算する。
この演算結果を比較回路206に出力する。比較回路2
06はYE3≧Y E1≦YE5のとき、すなわち中央の印点位
置E1 がもっとも近用方向よりのときは次ステップ46
に移行し、図13に示すように、YE3<YE1<YE5のと
きはステップ48へ移行し、図14に示すようにYE3>
YE1>YE3のときはステップ49へ移行する。 〈ステップ46〉図9に示すように、距離dだけさらに
耳側方向へ測定点を移動させE6 を測定点とする。その
後、ステップ40及び41と同様な動作を実行し、E7
印点する。その後E7 点から距離4dだけレンズを耳側
に移動し、E8 を測定点としたのち、ステップ40及び
41と同様の動作を実行し、測定点E9 を印点する。 〈ステップ48〉図13に示すように、印点位置E5 か
ら距離3dだけレンズをY軸方向にそって耳側へ移動
し、鼻側の測定点E10を得る。その後、ステップ40、
41と同様の動作を実行し、測定点E11に印点し、さら
に距離Lだけ鼻側に測定点を移動し、E12を測定点とし
ステップ40、41と同様の動作を実行し、測定点E13
を印点する。 〈ステップ49〉図14に示すように印点位置E5 から
距離dさらに耳側の測定点E14を得た後、ステップ4
0、41と同様の動作を実行しE15に印点する。さらに
耳側の測定点E16へ移動し、ステップ40、41と同様
の動作から測定点E17に印点する。 【0022】以上の印点動作により、図15に示すよう
に、条件式、すなわち測定加入度数ADDが近用加入
度数境界値Ak に対し、ADD≦Ak となるか、または
測定円柱度数Cと遠用部円柱度数MCとの差(C−M
C)が近用円柱度数境界値Ckに対し(C−MC)≧C
k となる境界線401上に印点される。このことは境界
線401に囲まれた領域401は「ADD≧Ak 及び
(C−MC)≦Ck 」の領域となる。この領域410は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数1.00Dのレンズでは、例えば(b)式より 【0023】 【数8】 とあたえられる。従って、領域410は、加入度数0.7
5D以上でかつ円柱度数0.25D以下の領域となる。そ
してこの領域には必ずレンズメーカー指定の近用測定部
316が含まれる。また、図15に示すように、条件
式で、すなわち測定加入度数ADDが遠用加入度数境界
値Ae以上か、または測定円柱度数差(C−MC)が遠
用円柱度数境界値Ceより大きい境界線402上にも印
点される。この境界線402より遠用方向側はADD≦
Aeかつ(C−MC)≦Ceの領域420となり、遠用
作業が楽にできる領域である。例えば加入度数ADDM
が1.00Dのレンズを例に、例えば(b)式を境界値と
すると、 【0024】 【数9】 となるから、領域420は、加入度数が0.33D以下で
かつ円柱度数差が0.33D以下の領域となる。この領域
420内には必ずレンズメーカー指定の遠用測定部31
3が入いる。 第2実施例 次に図16及び図17に基づいて本発明の第2の実施例
を説明する。本実施例は前述の第1実施例と装置構成は
同様で図3に示したフローチャートの印点サブルーチン
(ステップS−7及びステップS−10)のみ相異す
る。図16はその印点サブルーチンのみを示している。
以下この第2実施例の印点サブルーチンを説明する。 〈ステップ2−1〉前述の第1実施例の印点サブルーチ
ンのステップ1ないし14を実行する。 〈ステップ2−2〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12MとY軸モータ11
Mに互いに同期させて同時にパルスを供給し、位置K1
を起点として測定点を鼻側に45°方向に移動させる。 【0025】レンズ移動中の時々刻々の処理部207か
らの測定加入度数ADD及び測定円柱度数Cを基に演算
回路209及び比較回路206は前述のステップ15
(第1実施例)と同様の動作で条件式が成立する測定
点K2 を探し、シーケンサ203はパルスドライバ回路
200を介して印点移動モータ30Mを作動し、その後
ドライバ回路202を介してその測定点K2 に印点す
る。 〈ステップ2−3〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200がX軸モータ12Mを作動させ、測定点を耳
側に図17に示すように距離e移動させる。なお、距離
eはROM212に定数として予め記憶されている。 〈ステップ2−4〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12MとY軸モータ11
Mに互いに同期させてパルスを供給し、駆動することに
より近用方向に45°方向にそって測定点を移動させ
る。この測定点移動中の時々刻々の処理部207からの
測定加入度数ADDと円柱度数Cとから演算回路209
と比較回路206は前述のステップ25(第1実施例)
と同様に条件式を満足する測定点を探す。 〈ステップ2−5〉シーケンサ203は次に、X軸モー
タ12MとY軸11Mを逆転させ、前記ステップ2−4
の移動ルートを逆方向に同一ルートにそって条件式を
満足する測定点を探す。 【0026】条件式を満足する測定点のx座標とRA
M211に記憶させておいた加入度数最大位置K1 のx
座標Xk1 との差(x−xk1) を演算回路209で演算
し、(x−xk1) の正負を比較回路206で判定させ
る。この判定が「正」のときはステップ2−7に移行
し、「負」または「等しい」ときはステップ2−6へ移
行する。 〈ステップ2−6〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介して印点移動モータ30Mを駆動し、印
点ベース32を下降させた後、ドライバ回路202を介
してムービングコイル34を励磁し、中央の印点針35
で測定点Kn を印点する。 〈ステップ2−7〉シーケンサ203は位置K1 のX1y
座標値( Xk1,yk1)をRAM211から読み取り、その値
に基づいてX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを駆動
してレンズ移動し、加入度数最大位置K1 に測定点を復
帰させる。 〈ステップ2−8〉シーケンサ203は、X軸モータ1
2M、Y軸モータ11Mに同数のパルスを同期させ供給
し、測定点を耳側に45°方向に移動させる。そしてレ
ンズ移動中に時々刻々の測定加入度数ADDと測定円柱
度数から条件式を満足する測定を探し、条件式を満
足する測定点K3 に印点する。 〈ステップ2−9〉前述のステップ2−4ないしステッ
プ2−6と同様の動作を実行し、条件式を満足する測
定点Ke(e=4、5or6)に印点する。ただし、本ス
テップでは前述のステップ2−5の「鼻側に45°移
動」ステップが「耳側に45°移動」となり、また「x
−xk1>0」の判定ステップが「x−xk1<0」に
なる点が相違する。以上のステップ2−1ないしステッ
プ2−9で近用部の印点を終了する。 〈ステップ2−10〉シーケンサ203は前述のステッ
プ2またはステップ5(第1実施例参照)で指定された
遠用指定位置E1 の座標値(XE1,YE1 )をRAM211
から読み取り、X軸モータ12M、Y軸モータ11Mを
駆動制御して測定点をE1 上に移動させるべくレンズを
移動させる。 〈ステップ2−11〉前記ステップ2−2と同様の動作
を実行し、測定点E2 に印点する。 〈ステップ2−12〉前記ステップ2−3と同様の動作
を実行し、測定点を耳側に移動させる。なお、このとき
移動距離は予めROM212に記憶されていたfとす
る。(f=eと定めてもよい)。 〈ステップ2−13〉シーケンサ203はX軸モータ1
2MとY軸モータ11Mを駆動制御して遠用方向に45
°方向にそって測定点を移動すべくレンズを移動させ
る。レンズ移動中の時々刻々の測定加入度数ADDと測
定円柱度数Cとから前述の条件式(第1実施例参照)
を満足する測定点を探す。 〈ステップ2−14〉条件式を満足する測定点をみつ
けたら、シーケンサ203はX軸モータ12M、Y軸モ
ータ11Mを反転させ、ステップ2−13の移動ルート
を逆に測定点を進め前述の条件式(第1実施例参照)
を満足する測定点を探す。 【0027】条件式を満足する測定点のx座標と指定
遠用位置E1 のx座標XE1 の差(x−XE1 )の正負を比
較回路206で判定し、「負」または、「等しい」とき
はステップ2−15に移行し、「正」のときはステップ
2−16に移行する。 〈ステップ2−15〉測定点En (n=4、6or 8) に
印点する。 〈ステップ2−16〉指定遠用位置E1 に測定点に復帰
させる。 〈ステップ2−17〉指定遠用位置E1 を起点として耳
側45°方向に測定点を移動すべくレンズを移動させ、
条件式を満足する測定点E3 に印点する。 〈ステップ2−18〉前記ステップ2−12ないしステ
ップ2−15と同様の動作を実行し、条件式を満足す
る測定点Ee(e=5、7or9)に印点する。ただし本
ステップでは前記ステップ2−12の「耳側」を「鼻
側」とし、ステップ2−14の「鼻側」を「耳側」と
し、「x−XE1 >0」を「x−XE1 <0」とする点が相
違する。 【0028】以上説明した第1及び第2の実施例では、
いずれも近用部と遠用部の両方に印点しているが、本発
明は必ずしもこれに限定されない。必要に応じ遠用部の
み、または近用部のみの印点シーケンスを実行するよう
にシーケンサ203の実行フローを選択できるように構
成してもよい。また上記実施例では、条件式ないし条
件式では測定加入度数ADDと測定円柱度数差(C−
MC)の両方について境界値と比較しているが、測定加
入度数についてのみ比較してもよい。さらに上述の実施
例では、条件式または式を満足する測定点上に測定
毎に印点したが、そのかわりにそれら条件を満足する測
定点座標データ一時的にRAM211に全て記憶させ
る。そして全測定点のデータ取り込み後、印点動作のみ
を集中的に実行してもよい。また、印点位置は測定点上
である必要は必ずしもなく、条件式を満足する領域内で
あれば測定点から所定距離隔てた点に印点してもよい。
このことは、印点マークがレンズ押えピン25によりレ
ンズ移動中に消されるのを防止するために、印点位置と
レンズ押えピン25の配位関係をレンズ移動に計算し、
次々に測定点、すなわち印点点を決定していくとき有効
である。
の光学特性を測定可能なレンズメーターに関する。 【0002】 【従来の技術】近年、中高年の初期の老眼矯正用とし
て、境目のない累進多焦点レンズの需要が増加してい
る。この累進多焦点レンズは遠用部、近用部及び両者を
結ぶ累進帯部が複雑な非球面で連続的に構成されている
ため、従来の二重焦点レンズのように外観だけで遠用屈
折特性測定部や近用部屈折特性測定部を知ることができ
ない。ここで屈折特性とは、球面度数、円柱度数、円柱
軸角度、及びプリズム度数を総称した定義として使われ
る。このため、各レンズメーカーは、眼鏡店に納品す
る、眼鏡フレームのレンズ枠に入れる前のアンカットレ
ンズに種々のマーキングを施すことにより、眼鏡店にお
ける屈折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時のレン
ズ加工の便宜を図っている。図18はその一例を示すも
ので、310は水平基準線、311はダイヤマーク、3
15は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、312は
フィッティングマーク、313は遠用屈折特性測定部指
示マーク、316は近用屈折特性測定部指示マーク、3
14は近用加入度数表示、317はメーカーマークをそ
れぞれ示している。そしてレンズメーカーでこのレンズ
の遠用部屈折特性を測定するときは、313のマークの
○印内にレンズメーターの測定光軸が位置してレンズメ
ーターのレンズ受けの中心に313のマークが合致する
ようにレンズをセットする。また近用屈折特性測定時
は、316のマークの丸印をレンズ受けに合致させるよ
うにレンズをセットする。さらに必要に応じ、フィッテ
ィングマーク312が示す位置における屈折特性を知り
たいときは、マーク312の交点312aをレンズ受け
の中心に合致させるようにレンズをセットする。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】上述したような解決を
もつ現在の累進多焦点レンズは、前述したように累進帯
及び近用部周辺が複雑な非球面構造をもつため、近用部
に正確に被装用者眼が位置するようにレンズを眼鏡フレ
ームに枠入れする必要がある。ところが、眼鏡フレーム
に枠入れされた後のレンズにおいては、ダイヤマーク3
11、近用加入度表示314、及びメーカーマーク31
7以外はすべて消される。しかし、累進多焦点レンズ
は、その屈折面が高次の関数曲面となっているため、そ
の非点収差分布、及び近用加入度数分布の等屈折力値分
布曲線は、複雑な形状となる。このため、トライ−アン
ド−エラーで近用測定部位置を決定することが極めて困
難であるばかりか、例えば近用測定部位置が、レンズに
よっては加入度最大位置及び/または非点収差(円柱
度)最小位置でない場所を指定しているものもある。従
って、トライ−アンド−エラー方式で測定部を決定する
ことはもちろん延いてはその位置に印点することもまっ
たく不可能なことがあった。この対策として、各レンズ
メーカーはチェックカードを用いる。図18の各種マー
クを図示したカードを別品で用意し、チェックカードの
ダイヤマークと枠入れされたレンズに残っているダイヤ
マーク311を合わせるようにチェックカードをレンズ
に貼る。そしてチェックカード上の遠用及び近用屈折特
性測定部指示マークをもとにレンズ上に該マークにそっ
てマーカーペン等でマーキングしたのち、そのマーキン
グされたメガネを被装用者に装用してもらう。遠用作業
時及び近用作業時の被装用者眼の位置とマーキングされ
た指示マーク位置との位置関係から、レンズが正しく枠
入れされているか否か、あるいは眼鏡フレームのフィッ
ティングが正確か否かを判断しており、この判断には極
めて繁雑な作業を強いられていた。 【0004】さらに、このチェックカードは、すべての
眼鏡店にすべてのレンズメーカーのものが保管されてい
るとは限らず、所定のチェックカードがないときは、こ
の判断のためにまったく手の打ちようがないというのが
現状であった。さらにたとえチェックカードがあったと
しても、前記マークはレンズに極めて薄く表示されてい
るため、このマークを見つけること自体極めてむづかし
いという問題があった。さらにチェックカードを利用し
て、遠用部及び近用部にマーキングまたは印点する場
合、レンズ上のダイヤマークとレンズの遠用測定部1
3、近用測定部16のそれぞれの位置が個々のレンズに
より、バラツキがない、すなわち個体差がないことが前
提である。それゆえ、もしレンズメーカーのレンズ製作
上のミスでこれら三者の位置関係に誤差が生じた場合
は、もはや、正確に測定部の位置を決め、マーキングや
印点を高精度に行うことができない。このように従来方
法では、レンズの近用測定部すなわちレンズ装用者が近
用作業時にその部分を通して見ることを指定されている
部分の領域を知ることができず、装用者がはたして正し
く屈折矯正される近用部を利用しうるようにメガネを装
用しているか否かをまったく判定することができなかっ
た。 【0005】本件発明の目的は、この従来技術の問題点
を解決し、累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を容
易にかつ明確に知ることができるレンズメーターを提供
することにある。 【0006】 【課題を解決するための手段】本発明は、測定光源から
の光束を遠用部及び近用部を有する累進多焦点レンズを
介して受光することにより屈折特性を求めるレンズメー
ターにおいて、前記累進多焦点レンズの異なる位置での
屈折特性を測定する測定手段と、測定位置を順次移動さ
せて屈折特性を測定してその測定値を順次記憶する記憶
手段と、上記記憶された各測定値の差に基づいて被検レ
ンズの加入度数の分布状態を演算するための演算手段と
を有することを特徴とするレンズメーターである。 【0007】本発明によれば、累進多焦点レンズの加入
度数の分布を容易に知ることができる効果を有する。 【0008】 【発明の実施の形態】 第1実施例 装置の機械構成 図1は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の機
械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61年
2月27日に同一出願人により出願された発明の名称
「披検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。この自動印
点装置は、図1に示すように、被検レンズまたは該レン
ズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、移動させるた
めの支持機構部10と、被検レンズを押さえるためのレ
ンズ押え部20と、被検レンズに印点するための印点部
30と、被検レンズを受けるレンズ受け台40とから大
略構成されている。支持機構部10はパルスモーターか
らなるY軸モータ11Mを有し、このモータ11Mの回
動によりX軸送り機構部12を、例えば送りネジ機構で
Y軸方向にそって移動させるY軸送り機構11と、パル
スモータ12Mを有し、その回動により、例えば送りネ
ジ機構によりX軸方向にそってハンド開閉部13を移動
させるX軸送り機構12とを有する。ハンド開閉部13
は、例えば直流モータからなるハンドモータ13Mによ
り回動される駆動プーリーと、従動プーリーと、両プー
リー間に掛けわたされた無端ベルトから構成された駆動
部の該ベルトに取り付けられ、モータ13Mの回動によ
り矢印131、132にそって互いに反対方向に移動す
る2つのハンド支持座とから構成される。 【0009】ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印1
33、134方向にそって所定範囲内に上下動すなわち
Z軸方向にそって移動可能にハンドテーブル135、1
36が取付けられている。ハンドテーブルのアーム13
7、138には、アンカットレンズのコバ面に挟持する
ための内側当接面141、151と、図示するように眼
鏡フレームFのテンプルTと当接する外側当接面14
2、152とを有する左、右のハンド14、15が軸1
43、153に回動自動に取付けられている。レンズ受
け台40は、本発明の自動印点装置が組込まれるレンズ
メーターの測定光学系の光軸Oが貫通する開口41を有
する円筒部材42と、その円筒部材42の上端部に植設
された3本のレンズ受けピン43とから構成されてい
る。レンズ押え部20は直流モータからなるレンズ押え
モータ20MによりZ軸方向にそってレンズ押えテーブ
ル21を上下動するためのレンズ押え送り機構22を有
し、レンズ押えテーブル21のアーム23から下方に張
出した支柱24の先端に3本のレンズ押えピン25を有
するレンズ押え座26を有している。レンズ押えテーブ
ル21には印点部30の送り機構31が固定されてい
る。送り機構31には印点ベース32を矢印33方向に
移動するためのパルスモーターからなる印点移動モータ
30Mが組みこまれている。印点ベース32には、ムー
ビングコイル34によりZ軸方向に押し出される印点ピ
ン35が取付けられている。印点ベース32が初期位置
にあるとき、印点ピン35の下方にはインク壺36が設
置されている。 制御駆動回路系 図2は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示すブ
ロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出願
を参照されたい。X軸モータ12M、Y軸モータ11
M、及び印点移動モータ30Mは、パルス発生器(図示
せず)と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路200に接続されている。レン
ズ押えモータ30Mと、ハンドモータ13Mは、定電流
制御回路201に接続されて一定電流で駆動するため、
レンズの押え圧及びハンド14、15によるフレームF
の保持圧は一定に保たれる。印点ムービングコイル34
はドライバ回路202に接続されている。 【0010】上記パルスドライバ回路200、定電流制
御回路201、ドライバ回路202は、マイクロコンピ
ュータから成るシーケンサ203に接続され、その制御
をうける。シーケンサ203には、被検レンズの保持や
眼鏡フレームFの初期の保持及び位置付けのコントロー
ルをするための初期コントロール回路204と、比較回
路206、検出器1からの情報に基づき被検レンズの屈
折特性を決定する屈折特性測定値処理部と、RAM(ラ
ンダム アクセス メモリ)211と演算回路209
と、プログラムメモリ213と、アライメント選択スイ
ッチ205とが接続されている。レンズの屈折特性測定
値を表示するための例えばCRTディスプレイまたは液
晶ディスプレイから成る表示器208が処理部207に
接続されている。RAM211は、比較回路206と、
演算回路209とシーケンサ203と、初期コントロー
ル回路204とに接続されている。このRAM211に
は遠用近用位置入力キーボード210が接続されてい
る。ROM(リードオンリーメモリ)212は演算回路
209と初期コントロール回路204に接続されてい
る。 作動シーケンス 眼鏡フレームのセット 図3は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れし
た眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャートで
ある。 〈ステップS−1〉初期コントロール回路204は、プ
ログラムメモリ213のプログラムに従って定電流制御
回路201を介してハンドモータ13Mを作動させ、ハ
ンド14、15を閉じさせる。 〈ステップS−2〉測定者は閉じられたハンド14、1
5上に印点したい眼鏡レンズを枠入れした眼鏡フレーム
Fを載置する。 〈ステップS−3〉初期コントロール回路204は定電
流制御回路201を介してハンドモータ13Mを反転さ
せ、ハンド14、15を開かせ、フレームFのテンプル
Tに外側当接面142、152を一定圧力で当接させて
フレームFを保持する。 〈ステップS−4〉初期コントロール回路204は右眼
の印点が終了しているか否かを判断し、YESの場合
は、ステップS−8へ、NOの場合は次ステップS−5
へ移行する。 〈ステップS−5〉右眼レンズを測定光学系1の光軸O
上に位置させるために、初期コントロール回路24はR
OM212に予めメモリされている指定PD値の半分の
距離に相当するパルス数を読み出し、パルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを回転させてハンド
開閉部13を移動させる。 〈ステップS−6〉初期コントロール回路204は定電
流制御回路201を介してレンズ押えモータ30Mを作
動させ、レンズ押えテーブル21を下降させる。これに
よりレンズ押えピン25が右眼レンズを押える。 【0011】すなわち、右眼レンズは、レンズ受け台4
0のレンズ受けピン43とレンズ押えピン25で挟まれ
る。また、フレームFはハンド14、15によっても保
持されるため十分な安定性をもって保持される。 〈ステップS−7〉後に詳述する印点サブルーチンによ
り印点された後ステップS−4にリターンし、ここで右
眼終了か否かを判定し、右眼終了と判定されて次ステッ
プS−8へ移行する。 〈ステップS−8〉初期コントロール回路204はモー
タ20Mを反転し、レンズ押え部20を初期位置へ復帰
させた後、前記ステップS−5とは逆方向にX軸モータ
12Mを回転させ、ROM212にメモリされている所
定PD値に相当する距離だけハンド開閉部13を移動さ
せる。 〈ステップS−9〉及び〈ステップS−10〉それぞれ
前記ステップS−6及び前記ステップS−7と同じ動作
を実行する。 印点サブルーチン 次に、前記ステップS−7の印点サブルーチンを図4に
基づいて詳説する。 〈ステップ1〉測定者はアライメント選択スイッチ20
5を操作して、「光学中心」基準で印点するか「フレー
ム幾何学中心」基準で印点するかを選択する。「フレー
ム幾何学中心」基準は、例えばプリズムシーニング加工
が施されたレンズであって、遠用光学中心がレンズ外に
あるようなレンズが被検レンズとなった場合に選択され
る。「光学中心」基準が選択されたときは次ステップ2
に移行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場
合はステップ4に移行する。 〈ステップ2〉測定者はメーカーマーク317(図18
参照)を調べることにより製品名を知り、レンズメーカ
ー発行のマニアルから予め遠用測定部313及び近用測
定部316の光学中心(または幾何学中心)315から
の距離A、B、Cがわかっている場合は、遠用・近用位
置入力キーボード210を操作してその値を入力する。
入力データはRAM211に記憶される。 【0012】距離データA、B、Cの入力がない場合
は、ROM212に予めメモリされている距離データ、
例えばマーケットシェアの高いレンズの距離データが利
用される。 〈ステップ3〉シーケンサ203は検出器1を作動さ
せ、レンズの遠用プリズム度数を測定する。検出器から
の検出データは処理部207で逐時プリズム度数データ
に変換処理され、比較回路に入力される。比較回路20
6はROM212に記憶されている判定基準プリズム度
数|PX |=0.03及び|PY |=0.03を読み出し、
これと処理部207からのプリズム度数測定データとを
比較し、その結果をシーケンサ203に入力する。シー
ケンサ203はプリズム測定データPX 、PY が|PX
|<0.03、|P Y |<0.03となるまでパルスドライ
バ回路200を介してX軸12M、Y軸モータ11Mを
作動させてレンズを移動し、比較回路206が|PX |
<0.03及び|PY |<0.03と判定したレンズ移動位
置を、図19に示すように光学中心位置(OX 、OY )
としてRAM211へ記憶させる。その後ステップ10
へ移行する。 〈ステップ4〉前述のステップ1で「フレーム幾何学中
心」基準が選択された場合、測定者は左右眼の被検レン
ズ間のPD値(幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔
間距離)を入力する。PD値の入力がないときは、標準
値として予め定められROM212に記憶されているP
D値を利用する。 〈ステップ5〉前述ステップ2と同様の動作を実行す
る。 〈ステップ6〉初期コントロール回路204はステップ
3のPD値に基づいてパルスドライバ回路200を介し
てX軸モータ12Mを作動させ、指定PD位置すなわち
測定点が光軸O上にくるようにレンズを移動する。例え
ばステップ2の入力PD値が68m/mであり、本印点
装置のROM212に記憶設定されていた標準PD値が
64m/mの場合、前記ステップS−5でPD64m/
mの標準位置に位置付けられているから、(68−6
4)÷2=2m/m分ハンド開閉部を移動させることに
より指定PD位置が光軸O上に位置される。 〈ステップ7〉シーケンサ203は検出器1を作動させ
ると同時にパルスドライバ回路200を介してY軸モー
タ11Mを作動させ、レンズをY軸方向に移動させる。
そしてフレームFのレンズ枠LFの上側リムUL(図1
9参照)が光軸O上に位置し、検出器1による測定が不
能になるまでのY軸モータ11Mへのパルス供給数をR
AM211に一時的に記憶させる。 〈ステップ8〉シーケンサ203はパルスドライバ回路
200を制御してY軸モータ11Mを反転させ、下側リ
ムLLが光軸O上に位置するまでのY軸モータ11Mへ
の供給パルス数をRAM211に一時的に記憶させる。 〈ステップ9〉前記ステップ7とステップ8で得られた
上側リムUL及び下側リムLL検出までのY軸モータ1
1Mへの供給パルス数間の差の半分の値を計算し、その
結果及び前記ステップ6の位置から図19に示すように
フレーム幾何学的中心(GX 、GY )を決定する。 〈ステップ10〉シーケンサ203はRAM211から
前記ステップ2またはステップ4で入力された遠用測定
部距離A(入力がない場合は、ROM212に記憶され
ている所定値、以下同じ)を読み出し、パルスドライバ
回路200を介してY軸モータ11Mを作動させる。ス
テップ1で「光学中心」基準を指定した場合はサブステ
ップ1で決定された光学中心(OX 、OY )、またはス
テップ1で「幾何中心」基準を指定した時はサブステッ
プ2で決定された幾何学中心(GX 、GY )から距離だ
けレンズを移動させ、遠用測定部313を測定光学系1
の光軸Oと一致させる。(ステップ2または5でのAの
入力がない場合は、レンズ本来の遠用測定部313と光
軸Oとは一致しない。) 〈ステップ11〉シーケンサ203は検出器1と処理部
207を作動させて遠用測定部313の屈折特性を測定
し、その結果を表示器208で表示するとともに、その
結果を基準遠用球面度数MS、基準遠用円柱度数MCと
してRAM211に記憶させる。 〈ステップ12〉シーケンサ203はRAM211から
ステップ2またはステップ4で入力された近用測定部距
離B、Cを読み出し、パルスドライバ回路200を介し
てX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを作動させレン
ズの近用測定部316を光軸O上に移動させる。(ステ
ップ2または5でB、Cの入力がない場合は、レンズ本
来の近用測定部316と光軸Oは一致しない。) 〈ステップ13〉シーケンサ203はパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させ、レンズ
を鼻側及び耳側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレ
ンズの屈折特性値S(球面度数)及びC(円柱度数)を
処理部207から演算回路209へ入力させる。処理部
207から演算回路209へ入力させる。処理部207
は、基準遠用球面度数MSと、基準遠用円柱度数MC
と、時々刻々の近用屈折特性測定値S及びCとから近用
加入度ADDを 【0013】 【数1】 として計算し、比較回路206に入力する。比較回路2
06は、処理部207から時々刻々入力されるADD値
からその最大の値ADDM をもつレンズの移動位置K1(
Xk1,yk1)を決定し、シーケンサ203にその位置情報を
出力する。これと同時に最大近用加入度数ADDM をR
AM211に記憶させる。シーケンサ203は、その位
置情報K1(Xk1,yk1)に基づいてX軸モータ12M及びY
軸モータ11Mを作動させ、レンズを位置K1(Xk1,yk 1)
に移動させる。 〈ステップ14〉演算回路209は、RAM211に記
憶されている最大近用加入度数ADDMとROM212
に予め記憶させている定数群とから遠用部加入度数境界
値Ae 、遠用部円柱度数境界値Ce 、近用部加入度数境
界値Ak 、及び近用部円柱度数境界値Ck を、例えば 【0014】 【数2】 から計算し、この各境界値Ae 、Ce 、Ak 、Ck をR
AM211に記憶させる。 〈ステップ15〉シーケンサ203はパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させ、図9に
示すようにレンズをK1 位置から鼻側と耳側に順次移動
させる。演算回路209はレンズ移動中の時々刻々変化
する測定点毎の処理部207からの測定円柱度数CとR
AM211に記憶されている基準遠用円柱度MCとから
(C−MC)を計算し、その結果を比較回路206へ入
力する。処理部207は上記(a)式にしたがって加入
度数ADDを演算し、その値を比較回路206へ入力す
る。比較回路206は処理部207からのADD値及び
演算回路209からのC−MC値とRAM211に記憶
させた境界値Ak 、及びCk とを時々刻々に比較し、レ
ンズの鼻側及び耳側の両方で 【0015】 【数3】 が成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ203へ入力する。 〈ステップ16〉尚ステップ15で式成立測定点が鼻
側と耳側両方にあると比較回路206が判定したとき
は、図9に示すようにシーケンサ203はX軸モータ1
2Mを再度作動させレンズを耳側に移動し、鼻側の式
が成立する測定点K2(Xk2,yk1)に移動する。次に、ドラ
イバ回路202を作動させ印点部30の中央の印点針3
5のムービングコイル34を励磁し、印点針35をイン
クツボ36に浸した後、パルスドライバ回路200を介
して、印点部移動モータ30Mを作動させて印点ベース
32を降下させ、中央印点針35を光軸O上に位置させ
る。その後ドライバ回路202を介してムービングコイ
ル34を励磁し、レンズ上に印点をする。〈ステップ1
7〉シーケンサ203は次に印点移動モータ30Mを反
転させて、印点ベース32を初期位置に復帰された後、
X軸モータ12Mを反転させてレンズを鼻側へ移動し、
レンズの耳側で式が成立する測定点K3(Xk3,yk1)へ移
動し、以下ステップ16と同様の動作で、その測定点K
3 へ印点する。 〈ステップ18〉シーケンサ203は近用加入度ADD
最大位置K1(Xk1,yk1)のx座標値Xk1 をRAM211か
ら読み出し、パルスドライバ回路200を介してXモー
タ12Mを駆動してレンズをK1 位置へ復帰させる。 〈ステップ19〉シーケンサ203は、次にY軸モータ
11Mを作動させ、レンズを近用方向に移動させ、レン
ズの遠用方向よりの近用部分に測定点を求める。時々刻
々移動中のレンズの屈折特性は処理部207から比較回
路206に入力され、比較回路206は上記式の条件
を満足するか否かを判定し、その結果をシーケンサ20
3に入力する。シーケンサ203は比較回路206から
条件式を「満足する」旨指令が入力されると、Y軸モ
ータ11Mの作動を停止すると同時に、図9に示すよう
に測定点K5(Xk5,yk5)に印点する。 【0016】または、これと同時に印点位置K5(
Xk5,yk5)のX−Y座標値はRAM211で記憶される。 〈ステップ20〉演算回路209はRAM211から位
置K1 と印点位置K5 のy座標yk1 、及びyk5 を読み出
し、 【0017】 【数4】 のy座標を有し、x座標は Xk5(=Xk5)をもつ移動位置K
6(Xk5,yk6)≡K6(Xk6,yk 6)を演算で求める。このデータ
を基にシーケンサ203はY軸モータ11Mを作動さ
せ、移動位置K6 が光軸Oと一致するようにレンズを移
動させる。 〈ステップ21〉前記ステップ16及びステップ17と
同様の動作により図9に示すようにK7、K8 を印点す
る。その後前記位置K5 へ復帰する。 〈ステップ22〉前記ステップ16で比較回路206が
条件式を耳側・鼻側の両側で「満足しない」と判定し
たときは、図10に示すように、シーケンサ203はX
軸モータ12Mを作動させ、RAM211の位置K1 の
座標データ(Xk1,yk1)を基にレンズをK1 へ移動させ
る。 〈ステップ23〉次にシーケンサ203はY軸モータ1
1Mを作動させ、条件の式を満足するまでレンズを遠用
方向へ移送させ、条件式を満足する測定点K9(
Xk9,yk9)が光軸Oと一致したときY軸モータ11Mを停
止させ、ドライバ回路202を介して測定点K9 に印点
する。 〈ステップ24〉図10に示すように印点位置K9 のx
座標Xk9 に予め定めた距離aをROM212から読み出
し、演算回路209で( Xk9-a)をx座標とする位置K
10( Xk9- a,yk9)≡K10( Xk10,yk10)を演算させ、シーケ
ンサ203はレンズをK10へ移動するためにパルスドラ
イバ回路200を介してX軸モータ12Mを作動させ
る。 〈ステップ25〉レンズを位置K10に移動させた後、シ
ーケンサ203はY軸モータ11Mを作動させ、レンズ
の近用方向に測定点を求めるためにレンズを移動させ、
近用部加入度数境界値Ak と近用部円柱度数境界値Ck
に対し、レンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測
定値に基づく処理部207からの加入度数ADD及び近
用円柱度数C−MCが 【0018】 【数5】 を満たすまで測定点をY軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件式を満足する位置へ移動したら、次にシー
ケンサ203はY軸モータ11Mを反転させてレンズの
遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、その
移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記条件
式を満足する測定点K11(Xk11,yk11)にレンズ移動
し、測定点K11に印点する。これと同時に印点位置K11
(Xk11,yk11)の座標データをRAM211に記憶させ
る。 〈ステップ26〉演算回路209はRAM211の印点
位置K11の座標データ(Xk11,yk11)のx座標Xk11を読み
出し、これにROM212に予め定数として記憶されて
いる距離データaを基にして(Xk11+2a)≡Xk12を演算す
る。この演算結果に基づいてシーケンサ203はX軸モ
ータ12Mを作動させ、(Xk11+2a,yk11) を位置座標と
する移動位置K12が光軸Oと一致するようにレンズを移
動させる。 〈ステップ27〉前記ステップ25と同様の動作で位置
K13に印点する。 〈ステップ28〉比較回路206は印点位置K9 、K11
及びK13の各y座標yk9 、yk11、yk13の大小を比較し、
図10のように|yk11|>|yk9 |<|yk13|すなわち
中央の印点位置K9 がもっとも遠用方向側にあるときは
次ステップ30へ移行させる。比較回路206が|yk11
|>|yk9 |<|yk13|、すなわち図11に示すよう
に、耳側の印点位置K13がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ31へ移動する。さらに比較
回路206が|yk11|<|yk9 |<|yk13|、すなわち
図12に示すように、鼻側の印点位置K11がもっとも遠
用方向よりにあると判定したときはステップ38へ移行
する。 〈ステップ30〉シーケンサ203は、パルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12M及びY軸モータ1
1Mを、RAM211に記憶されている印点位置K9(
Xk9,yk9)の座標データに基づいて駆動制御し、印点位置
K9 にレンズを復帰させる。 〈ステップ31〉演算回路209はRAM211に記憶
されている位置K1 のx座標Xk1 にROM212に予め
定数として記憶してある距離bを加算し、新たに移動位
置K14( Xk1-b ,yk13)≡K14( Xk14,yk14)を求める。こ
の位置K14の座標データに基づいてシーケンサ203は
X軸モータ12Mを作動させ、レンズを鼻側に移動し、
図11に示すようにK14に光軸Oが位置するようにレン
ズを移動させる。 〈ステップ32〉前述のステップ25と同様の動作を実
行し、位置K15に印点する。 〈ステップ33〉比較回路206は、ステップ25で印
点された印点位置K11と前ステップ32で印点された印
点位置K15の座標yk11とyk15の大小を比較する。比較回
路206が|yk15|<|yk11|と判定したとき(図11
に×印でK'15 のように印点されたとき)は次ステップ
34へ移行し、|yk15|>|yk11|と判定したときはス
テップ35へ移行する。 〈ステップ34〉シーケンサ203はRAM211の印
点位置K11(Xk11,yk11)の座標データを読み取り、X軸
モータ12M及びY軸モータ11Mを駆動制御し、レン
ズを印点位置K13に復帰させる。 〈ステップ35〉演算回路203はROM212に予め
定数として記憶されている距離データc(c>b)を読
み込み、新たな移動位置K16( Xk1-c ,yk15)≡K16(
Xk16,yk16)を求める。シーケンサ203はこのK16の座
標データに基づいてX軸モータ12Mを駆動制御し、位
置K16にレンズを移動する。 〈ステップ36〉前述のステップ25と同様の動作を実
行し、K17に印点する。 〈ステップ37〉シーケンサ203はレンズをK13に復
帰させる。 〈ステップ38〉演算回路209はROM212に記憶
されている定数bを読み出し、図12に示すように新た
な移動位置K18( Xk1+b ,yk11)≡K18( Xk18,yk18)を求
め、シーケンサ203は位置K18にレンズを移動させ
る。 〈ステップ39〉前述のステップ32ないしステップ3
7と同様の動作を実行し、図12に示すように位置
K19、K21にそれぞれ印点する。なお、本ステップでは
印点位置K19のy座標yk19と印点位置K13のy座標、
yk13の大小を比較する。|yk19|>|yk13|のとき、新
たな位置、K20はK20( Xk1+c ,yk19)≡K20( Xk
20,yk20)を求める点か前述のステップ32ないしステッ
プ37と相違する。その後、印点位置K11にレンズを復
帰させる。 【0019】以上にて近用部の印点を終了し、次ステッ
プ40以降遠用部の印点へ移行する。 〈ステップ40〉前述のステップ21の復帰後の印点位
置K5 、ステップ30が実行されたときは復帰位置
K9 、ステップ34または37が実行されたときは復帰
位置K13、ステップ39が実行されたときは復帰位置K
11を起点として、図9に示すようにシーケンサ203に
パルスドライバ回路200を介してY軸モータ11Mを
作動させる。これらによりレンズは近用方向に移動し、
レンズの遠用方向側に測定点を求める。処理部207か
らはレンズ移動中時々刻々の測定点屈折特性値すなわち
測定遠用加入度数ADDが比較回路206に入力され、
一方測定円柱度数C、は演算回路209に入力される。
演算回路209はRAM211に記憶されていた前述の
ステップ11で得られた基準遠用円柱度数MCを入力さ
れた測定円柱度数Cから減算し、その結果(C−MC)
を比較回路206へ入力する。比較回路206は、RA
M211に入力されていた遠用加入度数境界値Aeと遠
用円柱度数境界値Ceを読み出し、演算回路209から
の入力値(C−MC)と処理部207からの遠用加入度
数ADDとから、移動中のレンズの測定点の加入度数A
DDと円柱度数差(C−MC)が 【0020】 【数6】 を満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ20
3にその旨を指令する。 〈ステップ41〉シーケンサ203は比較回路206か
らの「条件満足」の信号を受けると、パルスドライバ
回路200を介してY軸モータ11Mを反転させ、レン
ズの近用方向が測定点となるようにレンズを前回とは逆
に移動させる。この反転移動中の処理部207からの時
々刻々の測定点毎の加入度数ADDと円柱度数Cとは上
述と同様に演算回路209で円柱度数差(C−MC)が
演算される。比較回路206は加入度数ADDと円柱度
数差(C−MC)を遠用加入度数境界値Ae及び遠用円
柱度数境界値Ceと比較して 【0021】 【数7】 が成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ203に出力する。シーケンサ203は比較回路
206からの指令を受けるとY軸モータ11Mを停止さ
せレンズ移動を止めるとともに、ドライバ回路202を
介して条件式の成立測定点位置E1 に印点する。それ
とともにE1 の座標 (XE1,YE1)をRAM211に記憶さ
せる。 〈ステップ42〉シーケンサ203はROM212から
予め定数として記憶されている距離dを読み出し、X軸
モータ12Mを作動し、その距離dだけレンズの鼻側が
測定点となるようにレンズを耳側に移動し、移動位置E
2 を測定点とする。 〈ステップ43〉前述のステップ40及びステップ41
と同様の動作を実行し、条件式を満足する測定点E3
を印点する。 〈ステップ44〉シーケンサ203はROM212に記
憶されている距離dの2倍の2dだけレンズを鼻側へ移
動し、E4 を測定点とした後、前述のステップ40及び
41と同様の動作を実行し、測定点E5 に印点する。 〈ステップ45〉ステップ41ないしステップ44で印
点されたE1 、E3 及びE5 の各々のy座
標YE1 、YE3 、YE5 、YE5 と近用部の印点位置K5 (ま
たはK1 、K11あるいはK13) のy座標YE5 とのY軸方
向距離YE1、YE3、YE5を演算回路209で演算する。
この演算結果を比較回路206に出力する。比較回路2
06はYE3≧Y E1≦YE5のとき、すなわち中央の印点位
置E1 がもっとも近用方向よりのときは次ステップ46
に移行し、図13に示すように、YE3<YE1<YE5のと
きはステップ48へ移行し、図14に示すようにYE3>
YE1>YE3のときはステップ49へ移行する。 〈ステップ46〉図9に示すように、距離dだけさらに
耳側方向へ測定点を移動させE6 を測定点とする。その
後、ステップ40及び41と同様な動作を実行し、E7
印点する。その後E7 点から距離4dだけレンズを耳側
に移動し、E8 を測定点としたのち、ステップ40及び
41と同様の動作を実行し、測定点E9 を印点する。 〈ステップ48〉図13に示すように、印点位置E5 か
ら距離3dだけレンズをY軸方向にそって耳側へ移動
し、鼻側の測定点E10を得る。その後、ステップ40、
41と同様の動作を実行し、測定点E11に印点し、さら
に距離Lだけ鼻側に測定点を移動し、E12を測定点とし
ステップ40、41と同様の動作を実行し、測定点E13
を印点する。 〈ステップ49〉図14に示すように印点位置E5 から
距離dさらに耳側の測定点E14を得た後、ステップ4
0、41と同様の動作を実行しE15に印点する。さらに
耳側の測定点E16へ移動し、ステップ40、41と同様
の動作から測定点E17に印点する。 【0022】以上の印点動作により、図15に示すよう
に、条件式、すなわち測定加入度数ADDが近用加入
度数境界値Ak に対し、ADD≦Ak となるか、または
測定円柱度数Cと遠用部円柱度数MCとの差(C−M
C)が近用円柱度数境界値Ckに対し(C−MC)≧C
k となる境界線401上に印点される。このことは境界
線401に囲まれた領域401は「ADD≧Ak 及び
(C−MC)≦Ck 」の領域となる。この領域410は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数1.00Dのレンズでは、例えば(b)式より 【0023】 【数8】 とあたえられる。従って、領域410は、加入度数0.7
5D以上でかつ円柱度数0.25D以下の領域となる。そ
してこの領域には必ずレンズメーカー指定の近用測定部
316が含まれる。また、図15に示すように、条件
式で、すなわち測定加入度数ADDが遠用加入度数境界
値Ae以上か、または測定円柱度数差(C−MC)が遠
用円柱度数境界値Ceより大きい境界線402上にも印
点される。この境界線402より遠用方向側はADD≦
Aeかつ(C−MC)≦Ceの領域420となり、遠用
作業が楽にできる領域である。例えば加入度数ADDM
が1.00Dのレンズを例に、例えば(b)式を境界値と
すると、 【0024】 【数9】 となるから、領域420は、加入度数が0.33D以下で
かつ円柱度数差が0.33D以下の領域となる。この領域
420内には必ずレンズメーカー指定の遠用測定部31
3が入いる。 第2実施例 次に図16及び図17に基づいて本発明の第2の実施例
を説明する。本実施例は前述の第1実施例と装置構成は
同様で図3に示したフローチャートの印点サブルーチン
(ステップS−7及びステップS−10)のみ相異す
る。図16はその印点サブルーチンのみを示している。
以下この第2実施例の印点サブルーチンを説明する。 〈ステップ2−1〉前述の第1実施例の印点サブルーチ
ンのステップ1ないし14を実行する。 〈ステップ2−2〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12MとY軸モータ11
Mに互いに同期させて同時にパルスを供給し、位置K1
を起点として測定点を鼻側に45°方向に移動させる。 【0025】レンズ移動中の時々刻々の処理部207か
らの測定加入度数ADD及び測定円柱度数Cを基に演算
回路209及び比較回路206は前述のステップ15
(第1実施例)と同様の動作で条件式が成立する測定
点K2 を探し、シーケンサ203はパルスドライバ回路
200を介して印点移動モータ30Mを作動し、その後
ドライバ回路202を介してその測定点K2 に印点す
る。 〈ステップ2−3〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200がX軸モータ12Mを作動させ、測定点を耳
側に図17に示すように距離e移動させる。なお、距離
eはROM212に定数として予め記憶されている。 〈ステップ2−4〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12MとY軸モータ11
Mに互いに同期させてパルスを供給し、駆動することに
より近用方向に45°方向にそって測定点を移動させ
る。この測定点移動中の時々刻々の処理部207からの
測定加入度数ADDと円柱度数Cとから演算回路209
と比較回路206は前述のステップ25(第1実施例)
と同様に条件式を満足する測定点を探す。 〈ステップ2−5〉シーケンサ203は次に、X軸モー
タ12MとY軸11Mを逆転させ、前記ステップ2−4
の移動ルートを逆方向に同一ルートにそって条件式を
満足する測定点を探す。 【0026】条件式を満足する測定点のx座標とRA
M211に記憶させておいた加入度数最大位置K1 のx
座標Xk1 との差(x−xk1) を演算回路209で演算
し、(x−xk1) の正負を比較回路206で判定させ
る。この判定が「正」のときはステップ2−7に移行
し、「負」または「等しい」ときはステップ2−6へ移
行する。 〈ステップ2−6〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介して印点移動モータ30Mを駆動し、印
点ベース32を下降させた後、ドライバ回路202を介
してムービングコイル34を励磁し、中央の印点針35
で測定点Kn を印点する。 〈ステップ2−7〉シーケンサ203は位置K1 のX1y
座標値( Xk1,yk1)をRAM211から読み取り、その値
に基づいてX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを駆動
してレンズ移動し、加入度数最大位置K1 に測定点を復
帰させる。 〈ステップ2−8〉シーケンサ203は、X軸モータ1
2M、Y軸モータ11Mに同数のパルスを同期させ供給
し、測定点を耳側に45°方向に移動させる。そしてレ
ンズ移動中に時々刻々の測定加入度数ADDと測定円柱
度数から条件式を満足する測定を探し、条件式を満
足する測定点K3 に印点する。 〈ステップ2−9〉前述のステップ2−4ないしステッ
プ2−6と同様の動作を実行し、条件式を満足する測
定点Ke(e=4、5or6)に印点する。ただし、本ス
テップでは前述のステップ2−5の「鼻側に45°移
動」ステップが「耳側に45°移動」となり、また「x
−xk1>0」の判定ステップが「x−xk1<0」に
なる点が相違する。以上のステップ2−1ないしステッ
プ2−9で近用部の印点を終了する。 〈ステップ2−10〉シーケンサ203は前述のステッ
プ2またはステップ5(第1実施例参照)で指定された
遠用指定位置E1 の座標値(XE1,YE1 )をRAM211
から読み取り、X軸モータ12M、Y軸モータ11Mを
駆動制御して測定点をE1 上に移動させるべくレンズを
移動させる。 〈ステップ2−11〉前記ステップ2−2と同様の動作
を実行し、測定点E2 に印点する。 〈ステップ2−12〉前記ステップ2−3と同様の動作
を実行し、測定点を耳側に移動させる。なお、このとき
移動距離は予めROM212に記憶されていたfとす
る。(f=eと定めてもよい)。 〈ステップ2−13〉シーケンサ203はX軸モータ1
2MとY軸モータ11Mを駆動制御して遠用方向に45
°方向にそって測定点を移動すべくレンズを移動させ
る。レンズ移動中の時々刻々の測定加入度数ADDと測
定円柱度数Cとから前述の条件式(第1実施例参照)
を満足する測定点を探す。 〈ステップ2−14〉条件式を満足する測定点をみつ
けたら、シーケンサ203はX軸モータ12M、Y軸モ
ータ11Mを反転させ、ステップ2−13の移動ルート
を逆に測定点を進め前述の条件式(第1実施例参照)
を満足する測定点を探す。 【0027】条件式を満足する測定点のx座標と指定
遠用位置E1 のx座標XE1 の差(x−XE1 )の正負を比
較回路206で判定し、「負」または、「等しい」とき
はステップ2−15に移行し、「正」のときはステップ
2−16に移行する。 〈ステップ2−15〉測定点En (n=4、6or 8) に
印点する。 〈ステップ2−16〉指定遠用位置E1 に測定点に復帰
させる。 〈ステップ2−17〉指定遠用位置E1 を起点として耳
側45°方向に測定点を移動すべくレンズを移動させ、
条件式を満足する測定点E3 に印点する。 〈ステップ2−18〉前記ステップ2−12ないしステ
ップ2−15と同様の動作を実行し、条件式を満足す
る測定点Ee(e=5、7or9)に印点する。ただし本
ステップでは前記ステップ2−12の「耳側」を「鼻
側」とし、ステップ2−14の「鼻側」を「耳側」と
し、「x−XE1 >0」を「x−XE1 <0」とする点が相
違する。 【0028】以上説明した第1及び第2の実施例では、
いずれも近用部と遠用部の両方に印点しているが、本発
明は必ずしもこれに限定されない。必要に応じ遠用部の
み、または近用部のみの印点シーケンスを実行するよう
にシーケンサ203の実行フローを選択できるように構
成してもよい。また上記実施例では、条件式ないし条
件式では測定加入度数ADDと測定円柱度数差(C−
MC)の両方について境界値と比較しているが、測定加
入度数についてのみ比較してもよい。さらに上述の実施
例では、条件式または式を満足する測定点上に測定
毎に印点したが、そのかわりにそれら条件を満足する測
定点座標データ一時的にRAM211に全て記憶させ
る。そして全測定点のデータ取り込み後、印点動作のみ
を集中的に実行してもよい。また、印点位置は測定点上
である必要は必ずしもなく、条件式を満足する領域内で
あれば測定点から所定距離隔てた点に印点してもよい。
このことは、印点マークがレンズ押えピン25によりレ
ンズ移動中に消されるのを防止するために、印点位置と
レンズ押えピン25の配位関係をレンズ移動に計算し、
次々に測定点、すなわち印点点を決定していくとき有効
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレンズ印点装置の機械的構成部を示す
斜視図、図2はレンズ印点装置の 【図2】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、 【図3】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、 【図4】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図5】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図6】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図7】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図8】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図9】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定点
の移動ルートとともに示す模式図、 【図10】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図11】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図12】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図13】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図14】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図15】第1実施例によるレンズへの印点の一例を遠
用領域及び近用領域とともに示す模式図、 【図16】印点サブルーチンの第2の実施例を示すフロ
ーチャート図、 【図17】第2実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、 【図18】未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一
例を示す図、 【図19】指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す模
式図。 【符号の説明】 1……測定光学系及び検出器 11……Y軸送り機構 12……X軸送り機構 14、15……ハンド 20……レンズ押え部 30……印点部 203……シーケンサ 206……比較回路 209……演算回路 211……RAM 212……ROM
斜視図、図2はレンズ印点装置の 【図2】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、 【図3】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、 【図4】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図5】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図6】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図7】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図8】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、 【図9】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定点
の移動ルートとともに示す模式図、 【図10】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図11】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図12】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図13】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図14】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、 【図15】第1実施例によるレンズへの印点の一例を遠
用領域及び近用領域とともに示す模式図、 【図16】印点サブルーチンの第2の実施例を示すフロ
ーチャート図、 【図17】第2実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、 【図18】未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一
例を示す図、 【図19】指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す模
式図。 【符号の説明】 1……測定光学系及び検出器 11……Y軸送り機構 12……X軸送り機構 14、15……ハンド 20……レンズ押え部 30……印点部 203……シーケンサ 206……比較回路 209……演算回路 211……RAM 212……ROM
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 1.測定光源からの光束を遠用部及び近用部を有する累
進多焦点レンズを介して受光することにより屈折特性を
求めるレンズメーターにおいて、 前記累進多焦点レンズの異なる位置での屈折特性を測定
する測定手段と、 測定位置を順次移動させて屈折特性を測定してその測定
値を順次記憶する記憶手段と、 前記記憶された各測定値の差に基づいて被検レンズの加
入度数の分布状態を演算するための演算手段とを有する
ことを特徴とするレンズメーター。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8068671A JP2838391B2 (ja) | 1986-03-13 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5586586 | 1986-03-13 | ||
JP61-55865 | 1986-03-13 | ||
JP8068671A JP2838391B2 (ja) | 1986-03-13 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61064430A Division JPH076868B2 (ja) | 1986-03-13 | 1986-03-22 | レンズメーター |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35143297A Division JP2915882B2 (ja) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | レンズメーター |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08247896A JPH08247896A (ja) | 1996-09-27 |
JP2838391B2 true JP2838391B2 (ja) | 1998-12-16 |
Family
ID=26396762
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8068671A Expired - Lifetime JP2838391B2 (ja) | 1986-03-13 | 1996-03-25 | レンズメーター |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2838391B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2804757B1 (fr) * | 2000-02-04 | 2002-05-03 | Luneau Sa | Procede et dispositif de centrage et de maintien automatiques des verres d'une lunette montee, pour appareil de mesure de la puissance de ces verres |
JP2002202219A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Topcon Corp | レンズメーター |
JP2005214701A (ja) * | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Topcon Corp | レンズメータ |
JP4756828B2 (ja) | 2004-04-27 | 2011-08-24 | 株式会社ニデック | レンズメータ |
EP2189777B1 (en) | 2007-08-31 | 2020-01-01 | Hoya Corporation | Method and device for evaluating graduated refraction power lens and method for manufacturing graduated refraction power lens |
CN105589215B (zh) * | 2016-03-08 | 2018-09-14 | 李国荣 | 热塑性内渐进镜片及其加工方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0240178B2 (ja) * | 1983-06-22 | 1990-09-10 | Sadayoshi Kamya | Kutsusetsuryokusokuteihohotosonosochi |
-
1996
- 1996-03-25 JP JP8068671A patent/JP2838391B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08247896A (ja) | 1996-09-27 |
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