JPS629854B2 - - Google Patents
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- JPS629854B2 JPS629854B2 JP21192481A JP21192481A JPS629854B2 JP S629854 B2 JPS629854 B2 JP S629854B2 JP 21192481 A JP21192481 A JP 21192481A JP 21192481 A JP21192481 A JP 21192481A JP S629854 B2 JPS629854 B2 JP S629854B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/56—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
- G01N25/66—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
- G01N25/68—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point by varying the temperature of a condensing surface
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光学式の露点検出装置に関する。一
般に、気体中で物体を冷却していつて表面に露が
できはじめるときの表面の温度を測定することに
より、気体の露点を求めることができる。この露
点を検知する装置としては、光学式の露点検出装
置が多く用いられている。
般に、気体中で物体を冷却していつて表面に露が
できはじめるときの表面の温度を測定することに
より、気体の露点を求めることができる。この露
点を検知する装置としては、光学式の露点検出装
置が多く用いられている。
光学式の露点検出装置には、被測定気体中にサ
ーモモジユールなどで電子冷却し温度調節されて
いる金属鏡などの光反射体を配置して、この光反
射体に光を投射し、被測定気体の水分が光反射体
表面に結露しはじめて反射光量が低下するときの
光反射体の温度を測定することにより、被測定気
体の露点を測定することが行われている。
ーモモジユールなどで電子冷却し温度調節されて
いる金属鏡などの光反射体を配置して、この光反
射体に光を投射し、被測定気体の水分が光反射体
表面に結露しはじめて反射光量が低下するときの
光反射体の温度を測定することにより、被測定気
体の露点を測定することが行われている。
このように光学式露点検出装置では、結露によ
る反射光量の低下を検知するものであり、装置の
感度を向上させるためには、結露による反射光量
の低下が顕著に出力されることが望まれる。
る反射光量の低下を検知するものであり、装置の
感度を向上させるためには、結露による反射光量
の低下が顕著に出力されることが望まれる。
本発明は上記に鑑みなされたものであり、従来
の光学式露点検出装置の光反射体に代え透明物体
を用い、この透明物体に光を投射して該物体の光
の入・出側両表面の結露によつて生じる光の散乱
の度合を大きくし、結果として透過光量の低下分
を顕著に出力するようにして感度を向上せしめる
ようにしたものである。
の光学式露点検出装置の光反射体に代え透明物体
を用い、この透明物体に光を投射して該物体の光
の入・出側両表面の結露によつて生じる光の散乱
の度合を大きくし、結果として透過光量の低下分
を顕著に出力するようにして感度を向上せしめる
ようにしたものである。
以下、添付図により従来装置と対比して本発明
を詳しく説明する。
を詳しく説明する。
第１図は従来の光学式露点検出装置の一例を示
す系統図である。被測定気体を入れるケース１内
に、金属鏡などの光反射体４，５を配置し、一方
の光反射体４のみサーモモジユールなどの温度調
節装置２で電子冷却し、測温体３で光反射体４の
表面の温度を測定する。発光ダイオードやランプ
などの光源６，７からの光をそれぞれ光反射体
４，５に投射し、各反射光をホトダイオードやホ
トトランジスタなどの光検出器８，９でそれぞれ
受光し、各受光量を比較増幅器１０で比較・増幅
し出力する。被測定気体をケース１内に導入した
状態で光反射体４を徐々に冷却すると、光反射体
表面に結露が生じ反射光量が減少し、光検出器
８，９の受光量のバランスがくずれ、比較増幅器
１０に出力が生じる。そのときの光反射体４の温
度を測温体３で測定して露点としている。
す系統図である。被測定気体を入れるケース１内
に、金属鏡などの光反射体４，５を配置し、一方
の光反射体４のみサーモモジユールなどの温度調
節装置２で電子冷却し、測温体３で光反射体４の
表面の温度を測定する。発光ダイオードやランプ
などの光源６，７からの光をそれぞれ光反射体
４，５に投射し、各反射光をホトダイオードやホ
トトランジスタなどの光検出器８，９でそれぞれ
受光し、各受光量を比較増幅器１０で比較・増幅
し出力する。被測定気体をケース１内に導入した
状態で光反射体４を徐々に冷却すると、光反射体
表面に結露が生じ反射光量が減少し、光検出器
８，９の受光量のバランスがくずれ、比較増幅器
１０に出力が生じる。そのときの光反射体４の温
度を測温体３で測定して露点としている。
第２図は本発明の光学式露点検出装置の一例を
示す系統図である。被測定気体を入れるケース２
１内には、石英、ガラスなどの棒状の透明物体２
４，２５をそれぞれ銅、黄銅など熱伝導性のよい
金属体３１，３２内に挿入・配置している。一方
の金属体３１をサーモモジユールなどの温度調節
装置２２で電子冷却して透明物体２４を冷却し、
その表面の温度を測温体２３で測定する。透明物
体２４，２５の両端面３３，３４と３５，３６は
いずれも平面研磨され、発光ダイオード、ランプ
などの光源２６，２７からの光を端面３３，３５
にそれぞれ投射し、透明物体２４，２５を透過し
た光をホトダイオード、ホトトランジスタなどの
光検出器２８，２９でそれぞれ受光し、各受光量
を比較増幅器３０で比較・増幅し出力する。
示す系統図である。被測定気体を入れるケース２
１内には、石英、ガラスなどの棒状の透明物体２
４，２５をそれぞれ銅、黄銅など熱伝導性のよい
金属体３１，３２内に挿入・配置している。一方
の金属体３１をサーモモジユールなどの温度調節
装置２２で電子冷却して透明物体２４を冷却し、
その表面の温度を測温体２３で測定する。透明物
体２４，２５の両端面３３，３４と３５，３６は
いずれも平面研磨され、発光ダイオード、ランプ
などの光源２６，２７からの光を端面３３，３５
にそれぞれ投射し、透明物体２４，２５を透過し
た光をホトダイオード、ホトトランジスタなどの
光検出器２８，２９でそれぞれ受光し、各受光量
を比較増幅器３０で比較・増幅し出力する。
いま、温度調節装置２２によつて金属体３１を
介して透明物体２４を徐々に冷却すると、端面３
３，３４に結露が生じる。光源２６からの光は入
射側の端面３３の結露によつて散乱された後、更
に出射側の端面３４の結露によつて散乱されるの
で、透明物体の透過光は２度にわたる散乱現象を
経たことになる。その結果、光検出器２８の受光
量は従来の反射体を用いる場合に比較してほゞ半
減し、出力バランスしてある比較増幅器３０の出
力差は大きくなり、露点をより高い感度で検出す
ることができる。
介して透明物体２４を徐々に冷却すると、端面３
３，３４に結露が生じる。光源２６からの光は入
射側の端面３３の結露によつて散乱された後、更
に出射側の端面３４の結露によつて散乱されるの
で、透明物体の透過光は２度にわたる散乱現象を
経たことになる。その結果、光検出器２８の受光
量は従来の反射体を用いる場合に比較してほゞ半
減し、出力バランスしてある比較増幅器３０の出
力差は大きくなり、露点をより高い感度で検出す
ることができる。
上述したように、本発明は透明物体の両端面で
の結露による二度にわたる光の散乱現象による透
過光量の低下分を検出する方式であるので、従来
の鏡面反射形式の一度の散乱現象による反射光量
の低下分を検出するのに比較して、感度よく露点
を検知することができ、その効果は極めて大き
い。
の結露による二度にわたる光の散乱現象による透
過光量の低下分を検出する方式であるので、従来
の鏡面反射形式の一度の散乱現象による反射光量
の低下分を検出するのに比較して、感度よく露点
を検知することができ、その効果は極めて大き
い。
第１図は従来の光学式露点検出装置の一例を示
す系統図、第２図は本発明の露点検出装置の一例
を示す系統図である。 図中の符号：１，２１…ケース、４，５…光反
射体、２，２２…温度調節装置、２４，２５…透
明物体、３，２３…測温体、６，７，２６，２７
…光源、８，９，２８，２９…光検出器、３１，
３２…金属体、１０，３０…比較増幅器、３３，
３４，３５，３６…端面。
す系統図、第２図は本発明の露点検出装置の一例
を示す系統図である。 図中の符号：１，２１…ケース、４，５…光反
射体、２，２２…温度調節装置、２４，２５…透
明物体、３，２３…測温体、６，７，２６，２７
…光源、８，９，２８，２９…光検出器、３１，
３２…金属体、１０，３０…比較増幅器、３３，
３４，３５，３６…端面。
Claims (1)
- １ 露点を測定しようとする気体を入れる包囲空
間内に配置した透明物体、この透明物体に光を投
射する光源及び前記の透明物体を透過した光を受
け、そして透明物体の温度降下につれて該物体の
光の入・出側表面が結露して透過光量が減少する
ことを検知する装置を備えたことを特徴とする露
点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21192481A JPS58113840A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 露点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21192481A JPS58113840A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 露点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58113840A JPS58113840A (ja) | 1983-07-06 |
| JPS629854B2 true JPS629854B2 (ja) | 1987-03-03 |
Family
ID=16613918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21192481A Granted JPS58113840A (ja) | 1981-12-28 | 1981-12-28 | 露点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58113840A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02156574A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 結露検知素子 |
| GB9525823D0 (en) * | 1995-12-18 | 1996-02-21 | Protimeter Plc | Apparatus for dewpoint determination |
| US7736051B2 (en) | 2004-03-30 | 2010-06-15 | Yamatake Corporation | Thermoelectric device and mirror surface state detection device |
| JP2008144638A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Across Corp | ピストン |
-
1981
- 1981-12-28 JP JP21192481A patent/JPS58113840A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58113840A (ja) | 1983-07-06 |
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