JPS628834B2 - - Google Patents

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JPS628834B2
JPS628834B2 JP57051750A JP5175082A JPS628834B2 JP S628834 B2 JPS628834 B2 JP S628834B2 JP 57051750 A JP57051750 A JP 57051750A JP 5175082 A JP5175082 A JP 5175082A JP S628834 B2 JPS628834 B2 JP S628834B2
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JP
Japan
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scanning
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JP57051750A
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JPS58168182A (ja
Inventor
Hiroshi Terada
Hiroshi Miki
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Panasonic System Solutions Japan Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Graphic Communication Systems Inc
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Publication date
Application filed by Matsushita Graphic Communication Systems Inc filed Critical Matsushita Graphic Communication Systems Inc
Priority to JP57051750A priority Critical patent/JPS58168182A/ja
Publication of JPS58168182A publication Critical patent/JPS58168182A/ja
Publication of JPS628834B2 publication Critical patent/JPS628834B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/01Details
    • G06K7/015Aligning or centering of the sensing device with respect to the record carrier

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、あらかじめ定められた様式に従つて
作成されたマークシート上に記入されたマーク
を、フアクシミリ装置等の走査型の光学読取装置
により読み取るマーク読取方式に関する。
通常、この種のマーク読取方式においては、例
えば第1図や第2図で示されるようなマークシー
ト1,2を読取装置に、順次走査により読み取ら
せ、これによつて得られた画信号に基づいて、ま
ず第1図中のスタート基準マーク3や、第2図中
のスタート基準マーク4およびストツプ基準マー
ク5を検出する。そして、次にそれらの検出位置
を基準にして、1走査線のうちのどの区間が各マ
ーク記入欄6,7に相当するかを割り出し(マー
クシート1,2上において、マーク記入欄6,7
は基準マーク3,4,5と予め定められた位置関
係にある)、その割り出された区間の画信号を参
照することにより、各マーク記入欄6,7にマー
クが記入されているか否かを判定する。
ここで、前記判定において参照された走査線
は、基準マークが検出された走査線のみである。
したがつて、従来は、第1図のマークシート1の
場合には、スタート基準マーク3が検出された走
査線の画信号を参照して前記判定が行われてい
た。また、第2図のマークシート2の場合には、
通常、スタート基準マーク4およびストツプ基準
マーク5の両方が同時に検出された走査線の画信
号を参照して、前記判定が行われていた。
しかし、フアクシミリ装置等の読取装置におい
ては、マークシートが正規の状態に対し傾いた状
態で読み取られることがりり、従来はこのような
場合には、前記判定に際し、参照する走査線数が
減少し、読取結果の信頼性が著しく低下してい
た。
前記マークシートの傾きに伴う信頼性低下を補
う1つの方法として、マーク記入欄を副走査方向
に十分長くする方法が考えられるが、そのように
した場合には、マーク記入上の能率を著しく低下
させるばかりでなく、マークシートの情報密度を
低下させるので、現実的でない。
また、別の方法として、第3図に示されるよう
に、マークシート13の先頭部分に傾き検出マー
ク14を設け、この傾き検出マーク14により、
前もつてマークシートの傾き角度とその方向を検
出しておき、マーク記入欄にマークが記入されて
いるか否かを判定する際、前記検出された傾き角
度とその方向に基づき、マークシート13の左半
分と右半分とで、参照する走査線を切り替える
(別の走査線を参照する)方法も従来より行われ
ている。
しかし、フアクシミリ装置等の読取装置におい
ては、マークシートが若干回転しながら走行する
ことにより、マークシートの傾き角度が読取開始
時から読取終了時までの間で変化する場合もあ
り、このような場合には、前記信頼性の低下を防
止することができない欠点があつた。
さらに別の方法として、読取装置から得られる
マークシート1枚分の画信号を一時的に記憶装置
に全て記憶させておき、各走査線読取時のマーク
シートの傾き角度に応じて、参照する走査線を最
適に切り替えるようにすれば、極めて精度の高い
マーク読み取りが可能になるであろう。しかし、
この方法によれば、大容量の記憶装置を必要と
し、読取装置が高価になる欠点が生じる。
本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなさ
れたもので、マーク記入欄の副走査方向(縦方
向)の寸法を長くすることなしに、マークシート
が走査時に傾いていても、また、そのマークシー
トの傾き角度が走査開始時から走査終了時までの
間に変化しても、極めて精度の高いマーク読み取
りを行うことができるマーク読取装置を提供する
ことを目的とする。
本発明によるマーク読取方式は、各走査線にお
いてスタート基準マークおよびストツプ基準マー
クがそれぞれ検出されたか否かを調べ、各走査線
における前記両基準マークの検出状態の遷移過程
から、前記マークシートの走査時の傾き方向を検
出するとともに、前記両基準マークのうちのいず
れか一方のみが検出された走査線が連続して現れ
た本数を調べることにより、それらの走査線に対
応する走査時点の前記マークシートの傾き角度を
検出し、前記各マーク記入欄にマークが記入され
ているか否かを判定するにあたつて、前記両基準
マークがいずれも検出されなかつた走査線につい
ては、その走査線の全区間を、前記判定のための
資料として用いず、前記両基準マークのうちのい
ずれか一方のみが検出された走査線については、
前記各マーク記入欄に対応する区間のうちの、前
記のようにして検出されたその走査線に対応する
前記マークシートの傾き方向および傾き角度に基
づいて定められる有効区間のみを、前記判定のた
めの資料として用い、前記マーク記入欄の同一の
行の両側にある前記両基準マークが共に検出され
た走査線については、前記各マーク記入欄に対応
する全ての区間を、前記判定のための資料として
用いるものである。
なお、従来のこの種のマーク読取方式において
は、1枚のマークシート1,2の全領域におい
て、前記基準マーク3,4の検索を、各走査線の
画信号の全区間について実施していた。したがつ
て、基準マーク3,4,5は、同一走査線上では
ユニークなパターンでなければならず、基準マー
ク3,4,5と区別することができないパターン
を有する他の画情報が基準マーク3,4,5と同
一走査線上に存在することは許されなかつた。
このため、例えば、第4図のように、マーク記
入欄8と、任意の図形および文字を記入すること
ができる記事欄9とが存在しており、前記記事欄
9中に、スタート基準マーク10およびストツプ
基準マーク11と区別できない図形等が記入され
る可能性があるマークシート12は、使用できな
いという欠点があつた。
しかるに、第4図のマークシート12のような
マークシートは、コード情報と画情報とを同時に
伝えることができる新しい形態の情報媒体とし
て、極めて有用である。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて説
明するが、この実施例は、上述のような、図形、
文字等を記入する欄とマーク記入欄とが混在して
いるマークシートをも使用することができるよう
にしたものである。
本実施例においては、前記第4図に示すマーク
シート12を用いる。このマークシート12につ
いてさらに詳しく説明すると、前記スタート基準
マーク10は、マークシート12の左端部付近に
おいて縦方向に並べて設けられている。他方、前
記ストツプ基準マーク11は、マークシート12
の右端部付近において縦方向に並べて設けられて
いる。そして、両基準マーク10,11はマーク
シート12において左右対称となる位置を占めて
いる。
前記両基準マーク10,11は、共に、縦4
mm、横3mmの長方形をなしており、フアクシミリ
装置等の読取装置で読取可能な色(例えば、黒)
にて前記長方形の内部まで、べたに印刷されてい
る。
また、前記マーク記入欄8の各行は、それぞれ
一対のスタート基準マーク10とストツプ基準マ
ーク11との間に挾まれる領域に設けられてい
る。これらのマーク記入欄8は、縦4mm、横1mm
の幅とされており、読取装置で読み取られない色
(例えば、淡い緑色)で白抜きに印刷されてい
る。そして、マーク記入欄8の横方向の間隔Aは
4mmとされている。なお、マーク記入欄8の各行
は、それぞれ、一対のスタート基準マーク10お
よびストツプ基準マーク11と一直線上に並んで
いる。
なお、基準マーク10,11およびマーク記入
欄8の寸法および問題を上述のように定めた場
合、マークシート12がA4判であるとすると、
次に説明する記事欄9を設けなければ、約1400個
(40列×35行)のマーク記入欄8を1枚のマーク
シート12に設定できる。
前記記事欄9は、スタート基準マーク10の列
とストツプ基準マーク11の列との間に挾まれる
領域に、マーク記入欄8と一緒に設けられてい
る。この記事欄9の形状および大きさは適当に定
めることができる。
第5図は、本実施例において、フアクシミリ装
置等の読取装置(図示せず)から得られる画信号
に基づいて各マーク記入欄8にマークが記入され
ているか否かを検出するマーク検出回路のブロツ
ク図を示す。同図において、15は読取装置によ
つて得られた画信号cを入力する画信号入力端
子、16は画信号cに完全に同期した画信号クロ
ツクパルスb(1クロツクパルスが1画素に対応
する)を読取装置から入力するクロツクパルス入
力端子、17は画信号区間信号aを読取装置から
入力する画信号区間信号入力端子、18は走査開
始信号pを読取装置から入力する走査開始信号入
力端子である。
19はこの回路の各部を制御する8ビツトの汎
用マイクロプロセツサであり、後述するこの回路
の主な動作は、ROM(Read Only Memory)2
0にあらかじめ記憶されているプログラムをマイ
クロプロセツサ19が実行することにより行われ
る。21はデータバス、22はアドレスバス、2
3は制御バスである。
24はRAM(Random Access Memory)35
に画信号を入力するための画像入力回路であり、
この画像入力回路24は、8ビツトのシリアル/
パラレル変換レジスタ25、データラツチ26、
1/8分周器27、アドレスカウンタ28、DMA制
御回路29およびステイタスレジスタ30からな
る。
なお、前記クロツクパルスbは前記シリアル/
パラレル変換レジスタ25および1/8分周器27
に入力される。また、1/8分周器27は画信号区
間信号aにより動作状態となうて、クロツクパル
スbを1/8分周したパルスを、ラツチパルス信号
dとしてデータラツチ26およびDMA制御回路
29へ送出する。
31は1走査線のうちの各マーク記入欄8に対
応する区間における黒画素の数を計数する黒画素
計数回路であり、この黒画素数計数回路31は、
1/8分周器32、8ビツトのパラレル/シリアル
変換レジスタ33および積算カウンタ34から構
成されている。
36は検出されたマークデータを外部のデータ
処理装置へ出力する出力回路であり、出力データ
ポート37、データ転送制御回路38および外部
インターフエイス39から構成されている。
第6図は前記RAM35のマツプ図(領域割り
当て図)、第7図は第6図の作業領域40内の割
り当て図、第8図は画像入力回路24内部の動作
タイミングチヤート、第9図は黒画素計数回路3
1内部の動作タイミングチヤート、第15図ない
し第17図はこのマーク検出回路の動作を示すフ
ローチヤートである。
次に、これらの図を参照しながらこのマーク検
出回路の動作を説明する。
読取装置に設けられている走査開始スイツチ
(図示せず)がオンされ、マークシート12が走
査開始位置に到達すると、走査開始信号pが
“1”になり、走査が開始される(この走査開始
信号pは、マークシート1を読取走査中は“1”
を保持し、それ以外の時は“0”となる)。マイ
クロプロセツサ19は、ステイタスレジスタ30
を通して、前記のように走査開始信号pが“1”
になつたことを検出すると、以下に述べる一連の
マーク検出のための動作を開始する。
また、前記走査開始信号pが“1”になると、
区間信号aが“1”になり、それに同期して画信
号cが入力端子15に入力される(なお、クロツ
クパルスbは常時入力端子17に入力されてい
る)。
そして、前記のように区間信号aが“1”にな
ると、画像入力回路24が動作可能な状態とな
り、第5図のタイミングチヤートに示されるよう
に、入力端子15を通してシリアル/パラレル変
換レジスタ25にシリアル入力する画信号cは、
同レジスタ25により8ビツトずつパラレル信号
に変換された上、データラツチ26へ転送され
る。このようにしてデータラツチ26へ転送され
た8ビツトずつの画信号は、その後、RAM35
へ直接メモリ・アクセス(以下DMAと言う)転
送され、同RAM35の第1の入力バツフア領域
41または第2の入力バツフア領域42内に順次
格納されて行く。
以上の動作は、区間信号aが“1”である間、
連続的に行われる。これにより、1走査線分の画
信号cが連続的に入力バツフア領域41または4
2に格納されて行く。
ここで、前記入力バツフア領域41,42は、
それぞれ1走査線分の容量を確保されており、処
理速度向上のため、一方の入力バツフア領域に格
納されたある走査線の画信号cについて後述する
種々の処理が行われている間に、他方の入力バツ
フア領域に次の走査線の画信号cが格納されて行
く。
なお、本実施例では、1走査線が2048ビツトで
構成されることとしているので、前記入力バツフ
ア領域41,42には、2048/8=256バイトの
容量がそれぞれ確保されている。
また、前記DMA転送は、DMA制御回路29と
プロセツサ19との間でDMA要求信号fとDMA
応答信号gのやりとりが行われた後、DMA制御
回路29からメモリ書込信号iとともにアドレス
有効信号hが出力され、このhにより、アドレス
バス22が有効にされると同時に、データラツチ
26上に保持された画信号がデータバス21上に
セツトアツプされることにより実現される。
以上のようにしてRAM35の入力バツフア領
域41または42は格納された画信号に対して
は、まず、基準マーク10,11の検索が行われ
る。次に、これを説明する。
本実施例では、読取装置は8ドツト/1mmの分
解能を持つものとしている。そして、前記のよう
に基準マーク10,11の横軸は3mmとされてい
るので、理想的には、1走査線上において、基準
マーク10,11はそれぞれ3×8=24ビツト連
続する黒信号として現れることになる。そこで、
本実施例では、マークシート12の印刷精度や読
取時のマークシート12の傾き当を考慮して、24
±3ビツト(すなわち、21ビツト以上、27ビツト
以下)黒信号が連続した場合、基準マーク10,
11を検出したものとする。
なお、入力バツフア領域41または42に格納
された画信号に対する処理は、RAM35の作業
領域40(第6および7図参照)を用いて行われ
るが、初期状態においては、この作業領域40の
各部はすべてクリアされている。
前記基準マーク10,11の検索動作は具体的
には、第16図のフローチヤートに従つて行われ
る。すなわち、マイクロプロセツサ19は、白画
信号の次に黒信号が読み出されると、RAMの作
業領域36の基準マーク横幅カウンタ48を用い
て黒信号が連続する数nを計数し、20<n<28と
なつたならば、基準マーク10,11を検出した
と判定する。
なお、1走査線の前半の部分で検出された基準
マークは、スタート基準マーク10とみなす一
方、1走査線の後半部分で検出された基準マーク
はストツプ基準マーク11とみなす。
本実施例では、前記検出された基準マーク1
0,11の後縁(すなわち、n個連続する黒画素
のうちの最後の黒画素)が基準位置とされ、この
基準位置を示す情報がRAMの作業領域36のス
タート基準マーク位置レジスタ46およびストツ
パ基準マーク位置レジスタ47に退避される。な
お、基準マーク位置レジスタ46,47の内容
は、それぞれ新たな基準マーク10,11が検出
される毎に更新される。
上述のようにして、最初の基準マーク10また
は11が検出されると(マークシート12が左に
傾いている場合には、ストツプ基準マーク11の
方がスタート基準マーク10より先に検出され
る)、RAMの作業領域36内の検索モードレジス
タ40がセツトされ、以後はそれまで全区間検索
モードから限定区間検索モードへ移行する。
ここで、前記全区間検索モードにおいては、前
記基準マーク10,11の検索動作は、各走査線
の画信号の全区間において行われる。しかし、最
初の基準マーク10または11が検出された後
は、他の基準マーク10,11が出現する区間を
予想できるようになるので、前記限定区間検索モ
ードにおいては、各走査線の限定された区間にお
いてのみ、前記基準マーク10,11の検索動作
が行われる。
すなわち、前記限定区間検索モードにおいて
は、最初に検出された基準マーク10もしくは1
1、またはその後に検出された基準マーク10も
しくは11の位置情報と、ROM20内にあらか
じめ登録されている両基準マーク10,11間の
距離とにより、次に検出するべき基準マークが出
現し得る走査線上の限定された区間を所定の基準
により割り出し、その限定された区間においての
み、次に検出するべき基準マークの検索動作を行
う。
なお、記事欄9の位置は、前記限定された区間
に含まれないように設定しておく。第11図は画
信号と前記限定された領域との関係を示すタイミ
ングチヤートである。
これにより、記事欄9に、基準マーク10,1
1と区別できない図形パターンが書き込まれてい
ても、そのパターンが基準マーク10,11とし
て誤検出される虞がなくなる。また、検索の対象
となるデータ数が少くなるので、処理速度が向上
される。
一方、前記のように最初の基準マーク10また
は11が検出されると、各マーク記入欄8にマー
クが記入されているか否かの検出動作が開始され
る。次に、これを説明する。
RAM35の作業領域40中の基準マーク検出
レジスタ45には、1走査線毎に、スタート基準
マーク10およびストツプ基準マーク11がそれ
ぞれ検出されたか否かがセツトされる(検出され
た場合には“1”、検出されなかつた場合には
“0”がセツトされる)。
ここにおいて、前記のように各走査線について
基準マーク10,11の検出動作が行われると、
各走査線について第11図に示すような4つの状
態が生じる。
すなわち、状態1は、1走査線においてスター
ト基準マーク10およびストツプ基準マーク11
のいずれもが検出されなかつた状態であり、基準
マーク検出レジスタ45上において(0、0)で
表される。
状態2は、1走査線において、スタート基準マ
ーク10またはストツプ基準マーク11のいずれ
か一方のみが検出された状態であり、レジスタ4
5上において(0、1)または(1、0)で表さ
れる。
状態3は、1走査線においてスタート基準マー
ク10およびストツプ基準マーク11のいずれも
が検出された状態であり、レジスタ45上におい
て(1、1)で表される。
状態4は、状態2と同じく、1走査線におい
て、スタート基準マーク10またはストツプ基準
マーク11のいずれか一方のみが検出された状態
であり、やはりレジスタ45上において(0、
1)または(1、0)で表される。ただし、この
状態4と状態2との相違点は、状態2が基準マー
ク10または11の上部を検出しているのに対
し、状態4は基準マーク10または11の下部を
検出している点にある。
原稿が傾いているか否か、および傾いている場
合におけるその傾き方向は、上述の4つの状態間
の遷移過程を見ることにより知ることができる。
すなわち、マークシート12が全く傾いていな
い状態で走査された場合、前記状態2および状態
4は発生しない。
また、マークシート12が傾いた状態で走査さ
れた場合には、状態1→状態2→状態3→状態4
と状態が遷移して行く。さらに詳しく言えば、マ
ークシート12が右に傾いた状態で走査された場
合、(0、0)→(1、0)→(1、1)→
(0、1)→(0、0)と状態が遷移して行く。
また、マークシート12が左に傾いた状態で走査
された場合には、(0、0)→(0、1)→
(1、1)→(1、0)→(0、0)と状態が遷
移して行く。
また、状態2の次に状態3を経ることなく状態
4になつたり、状態4の次に状態1を経ることな
く状態3になつた場合は、マークシート12が非
常に大きく傾いた状態で走査されたことを意味す
る(本実施例では、このような場合には異常処理
が実行される)。
さらに、マークシート12が異常に大きく傾い
ている場合を除いて、マーク記入欄8の各行の終
了時には、状態3または状態4から状態1に遷移
する。したがつて、本実施例では、そのような遷
移があつた場合には、マーク記入欄8の1行が終
了したものとみなし、後で詳しく説明する行デー
タ処理を実行する。
上述の各状態間の状態遷移図および状態遷移表
を第12図、第13図に示す。なお、第13図に
おいて、「状態」欄は前走査線の状態を示す一
方、「入力」欄は次走査線の状態を示す。
以上のことを踏まれて、本実施例では、各走査
線が前記4つの状態のいずれに該当するかを基準
マーク検出レジスタ45を通じて参照しながら、
マーク記入欄8上のマーク検出処理を行う。次
に、これを第7図および第14図を用いて説明す
る。
まず、状態1の走査線においては、マーク記入
欄8に対応する画信号は全く含まれていないの
で、マーク検出処理を実行しない。
状態2の走査線においては、検出されたいずれ
か一方の基準マークより基準位置を知り、その基
準位置から走査線を、あらかじめROM20に登
録されているマーク記入欄8の横方向の間隔A毎
に分割し、さらにその分割された区間内のマーク
記入欄8に対応する部分に含まれる黒画素数を黒
画素計数回路31に計数させる。
例えば、スタート基準マーク10の方が検出さ
れた場合、すなわち(1、0)の場合は、スター
ト基準マーク位置レジスタ46に退避された基準
位置情報を基準にして、その位置から走査線を4
mm毎に分割し、さらにこの分割された4mmの区間
内のマーク記入欄8に対応する部分にそれぞれ含
まれる黒画素数を黒画素計数回路31に計数させ
る。
ここで、黒画素計数回路31は、前記黒画素の
計数を具体的には次のようにして行う(第9図に
そのタイミングチヤートを示す)。
すなわち、マイクロプロセツサ19は起動パル
スrをパラレル/シリアル変換レジスタ33およ
び1/8分周器32へ送出すると同時に、マーク記
入欄8に対応する区間の画信号をRAM35から
データバスを通じてレジスタ33へ並列出力させ
る。1/8分周器32は、前記起動信号rを入力す
ると、データシフトパルスuをレジスタ33へ供
給し、同レジスタ33に前記画信号を積算カウン
タ34へシリアル出力させると同時に、前記画信
号が8画素分積算カウンタ34へ入力される間、
積算区間信号sを出力し、その間、積算カウンタ
34を動作状態とする。これにより、積算カウン
タ34は各マーク記入欄8に対応する区間中の黒
画素数を計数する。
一方、RAMの作業領域40上の8個のライン
レジスタ52(1)〜(8)1行のマーク記入欄
8の数40個に対応して、それぞれ40ビツトの容量
を有する。
そして今、初めて第2の状態となつた走査線に
ついて処理を行つているものとすると、マイクロ
プロセツサ19は、各マーク記入欄8に対応する
積算カウンタ34の計数結果をデータバス21を
通して入力し、所定閾値S1と比較し、前記計数
結果が閾値S1以上であれば、第1番目のライン
レジスタ52(1)のうちの対応するビツトに
“1”をセツトする一方、前記計数結果が前記閾
値S1より小さい場合には、前記対応するビツト
に“0”をセツトする。なお、本実施例では、閾
値S1は2に設定されている。
次に、同様にして、マイクロプロセツサ19
は、2番目に第2の状態となつた走査線について
も、各マーク記入欄8に対応する区間の黒画素数
の計数結果を閾値S1と比較し、その比較結果に
応じて、第2番目のラインレジスタ52(2)の
対応するビツトに“1”または“0”をセツト
し、以下第3番目以降に第2の状態となつた走査
線についても同様にして、対応するラインレジス
タ52(3)〜52(8)の対応するビツトに
“1”または“0”をセツトする。
ここで、本実施例において、ラインレジスタ5
2の数を8個としているのは、次の理由による。
連続して状態2となる走査線数は、マークシー
ト12の傾き角度に依存し、その最大走査線数K
はマークシート12の最大許容傾き角θによつて
決定される。本実施例では、状態2から必ず状態
3を経て状態4となることを前提としているの
で、1行のマーク記入欄8の両側に位置する基準
マーク10,11間の距離L1、基準マーク1
0,11の縦長をL2とすると、最大許容傾き角
θは、 θ=arctan(L2/L1) となる。
L1=160mm、L2=4mmとすると、θ≒1.4゜ となる。
そして、このときの最大走査線数Kは、画素密
度をDとすると、 K=L2/D となる。
したがつて、D=0.5(2本/mm)とすると、
K=8となる。よつて、本実施例では、ラインレ
ジスタ52の数を8個としているのである。
なお、本実施例では、連続して状態2となつた
走査線の数は、傾斜カウンタ51で順次計数され
る。そして、その総数は、既に述べたようにマー
クシート12の傾き角度を示している。
また、前記のようにしてラインレジスタ52
(1)〜52(8)に格納された状態2に対する
1行のマーク記入欄8に関するデータは、状態2
から状態3へ遷移する際に次のように処理され
る。
まず、ラインレジスタ52(1)〜52(8)
に格納された全データは、前記傾斜カウンタ51
の内容に従つて、有効データと無効データとに分
離される。すなわち、傾斜カウンタ51の内容に
より、第14図における有効領域(斜線を施され
た領域)とそれ以外の無効領域とを分離し、前記
有効領域内のデータを有効データとする。
一方、ビツトカウンタ53は、1行分のマーク
記入欄8と同数(40個)用意されており、それぞ
れ1行分のマーク記入欄8の1つに対応されてい
る。そして、これらのビツトカウンタ53(1)
〜53(40)を用いて、1行の各マーク記入欄
8に対して、有効データとしてラインレジスタ5
2(1)〜52(8)に“1”がセツトされてい
る数が計数される。
次に、状態3の走査線については、以下に示す
ような処理が行われる。
まず、状態2の走査線に対する場合と同様にし
て、黒画素計数回路31に、1行の各マーク記入
欄8に対応する区間における黒画素数を計数させ
る。なお、前記各マーク記入欄8に対応する区間
は、基準マーク位置レジスタ46および47に退
避された両基準マーク10,11の基準位置情報
に基づいて割り出される。
しかし、状態3においては、全ての画信号が前
記第14図に示されたような有効領域に含まれて
いるので、前記状態2の走査線についての処理と
異り、ビツトレジスタ52(1)〜52(8)は
動作させない。そして、各マーク記入欄8に対応
する区間に対する前記黒画素計数回路31の計数
結果を前記閾値S1と比較し、S1以上であれば、
直ちに、対応するビツトカウンタ53を+1する
一方、S1より小さければ、対応するビツトカウ
ンタ53をそのままの内容に保持する。
次に、状態4の走査線については、前記状態2
の走査線についての処理と同様の処理がなされ
る。
一方、スタート基準マーク縦長カウンタ49
は、「状態3→状態1」または「状態4→状態
1」の遷移があるまで(すなわち、マーク記入欄
8の1行が終了するまで)、スタート基準マーク
10を検出した走査線の数を計数する。同様にし
て、ストツプ基準マーク縦長カウンタ50は、
「状態3→状態1」または「状態4→状態1」の
遷移があるまで、ストツプ基準マーク11を検出
した走査線の数を計数する。
そして、両縦長カウンタ49,50の計数結果
が、基準マーク10,11の縦長に基づいて定め
られる所定の範囲にない場合は、対応するマーク
記入欄8の行については、次に説明する行データ
処理を行わない。これにより、マークシート12
に、基準マーク10,11と同一または類似する
幅を有するが、縦長は異なるマークまたは汚れが
あつても、基準マーク10,11と誤認される虞
がなくなる。
前記行データ処理は、前記「状態3→状態1」
または「状態4→状態1」の遷移があつた後、か
つ前記縦長カウンタ49,50の計数結果の確認
を行つた後、実行される。この行データ処理は、
状態2、状態3および状態4を通じて前記計数を
行つてきたビツトカウンタ53(1)〜53(4
0)の最終値を閾値S2と比較し、それぞれS2以
上であれば“1”を、S2より小さければ“0”
を、RAM35の出力バツフア領域39のうちの
対応するビツトにセツトすることを内容とする。
ここで、前記“1”はマーク記入欄8にマークが
記入されていると判定されたことを意味し、
“0”はマークが記入されていないと判定された
ことを意味する。なお、本実施例では、前記閾値
S2は、4に設定されている。
以上の動作はマーク記入欄8の各行毎に繰り返
され、各行に対するマーク検出結果が順次出力バ
ツフア領域39へ格納されて行く。
そして、走査開始信号pが“0”になると、以
上の動作は終了し、出力バツフア領域39に格納
された各マーク記入欄8対するマーク検出結果が
出力回路36を通して外部のデータ処理装置(図
示せず)へ転送される。なお、出力回路36は前
記マーク検出結果の他に、前記データ処理装置と
のインターフエイスのための制御信号を出力する
が、この出力回路36は前記データ処理装置の如
何に応じて設計される部分であるので、詳細な説
明は省略する。
このように本実施例では、左右一対の基準マー
ク10,11の検出の有無により表現される4つ
の状態に基づいて、マークシート12の傾き角度
およびその傾き方向を監視しながらマーク記入欄
8にマークが記入されているか否かを検出するの
で、マークシート12の傾き角度が走査開始から
走査終了までの間に変化した場合でも、前記傾き
角度を適正に補償し、極めて精度の高いマーク読
み取りを行うことができる。
なお、前記第5図のマーク検出回路は、読取装
置としてフアクシミリ装置を使用する場合には、
フアクシミリ送信装置に接続してもよいし、フア
クシミリ受信装置に接続してもよい。
また、本発明における光学読取装置は、フアク
シミリ装置に限られないことは言うまでもない。
さらに、前記実施例では、各走査線におけるス
タート基準マークおよびストツプ基準マークの検
出状態として、4つの状態のみが生じ得るものと
して処理を行つているが、さらに多数の状態、例
えば1走査線において、ある行のスタート基準マ
ークと次の行のストツプ基準マーク10とが検出
される状態等も生じ得るものとして処理を行え
ば、マークシートがさらに大きく傾いても、高精
度にマークを検出できる。
以上のように本発明によれば、マーク記入欄の
副走査方向(縦方向)の寸法を長くすることなし
に、マークシートが走査時に傾いていても、ま
た、そのマークシートの傾き角度が走査開始時か
ら走査終了時までの間に変換しても、極めて精度
の高いマーク読み取りを行うことができるという
優れた効果を得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のマークシートの一例の正面図、
第2図は従来のマークシートの他の例の正面図、
第3図は従来のマークシートのさらに他の例の正
面図、第4図は本発明によるマーク読取方式の一
実施例におけるマークシートの正面図、第5図は
前記実施例におけるマーク検出回路のブロツク
図、第6図は前記マーク検出回路におけるRAM
35のマツプ図、第7図は第6図の作業領域40
内の割り当て図、第8図は前記マーク検出回路に
おける画像入力回路24のタイミングチヤート、
第9図は前記マーク検出回路における黒画素計数
回路31のタイミングチヤート、第10図は前記
マーク検出回路における限定区間検索モード時の
基準マークの検出動作を示すタイミングチヤー
ト、第11図は前記実施例におけるスタート基準
マークおよびストツプ基準マークの検出の有無に
よる4つの状態を示す説明図、第12図は前記4
つの状態間の状態遷移図、第13図は前記4つの
状態間の状態遷移表、第14図は前記状態2に該
当する走査線における有効領域を示す説明図、第
15図ないし第17図は前記実施例のフローチヤ
ートである。 8……マーク記入欄、9……記事欄、10……
スタート基準マーク、11……ストツプ基準マー
ク、12……マークシート、19……マイクロプ
ロセツサ、24……画信号入力回路、31……黒
画素計数回路、36……出力回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数行のマーク記入欄と、これらのマーク記
    入欄の各行の両側にそれぞれ設けられたスタート
    基準マークおよびストツプ基準マークとを有する
    マークシートを、光学読取装置に、順次走査によ
    り読み取らせ、各走査線において前記スタート基
    準マークおよび前記ストツプ基準マークがそれぞ
    れ検出されたか否かを調べ、各走査線における前
    記両基準マークの検出状態の遷移過程から、前記
    マークシートの走査時の傾き方向を検出するとと
    もに、前記両基準マークのうちのいずれか一方の
    みが検出された走査線が連続して現れた本数を調
    べることにより、それらの走査線に対応する走査
    時点の前記マークシートの傾き角度を検出し、前
    記各マーク記入欄にマークが記入されているか否
    かを判定するにあたつて、前記両基準マークがい
    ずれも検出されなかつた走査線については、その
    走査線の全区間を、前記判定のための資料として
    用いず、前記両基準マークのうちのいずれか一方
    のみが検出された走査線については、前記各マー
    ク記入欄に対応する区間のうちの、前記のように
    して検出されたその走査線に対応する前記マーク
    シートの傾き方向および傾き角度に基づいて定め
    られる有効区間のみを、前記判定のための資料と
    して用い、前記マーク記入欄の同一の行の両側に
    ある前記両基準マークが共に検出された走査線に
    ついては、前記各マーク記入欄に対応する全ての
    区間を、前記判定のための資料として用いるマー
    ク読取方式。
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