JPS624683B2 - - Google Patents

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JPS624683B2
JPS624683B2 JP11826679A JP11826679A JPS624683B2 JP S624683 B2 JPS624683 B2 JP S624683B2 JP 11826679 A JP11826679 A JP 11826679A JP 11826679 A JP11826679 A JP 11826679A JP S624683 B2 JPS624683 B2 JP S624683B2
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JP
Japan
Prior art keywords
optical waveguide
optical
glass
layer
refractive index
Prior art date
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Expired
Application number
JP11826679A
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English (en)
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JPS5642203A (en
Inventor
Hiroyasu Sugiki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5642203A publication Critical patent/JPS5642203A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光通信等に使用する光固体回路の製造
方法に関するものである。
最近の光フアイバは低損失となり伝送に使用で
きる波長領域が広くなつた。従つて波長の異なる
光を同一のフアイバ中に伝送させる光波長多重伝
送が可能になる。光フアイバに波長の異なる複数
の光信号を伝送する光多重伝送では、その光信号
を目的に応じた伝送系の要所で二つ以上の光フア
イバに分波分岐したり、または逆に二つ以上の光
フアイバからの光を1本のフアイバに合波結合さ
ることは不可欠な問題である。
また、同一波長の光を分岐・結合する光カプラ
は、モニタする使に方以外に、同一波長の光源を
用いる双方向通信には不可欠のデバイスであり、
また多分岐のカプラは1つの場所より多数の場所
へ信号を伝送するのに大変有効な光デバイスであ
る。そのため、このような機能を持つ光の集積回
路の発展性が半導体のIC化と同様に期待され
る。しかし、光集積形光回路を実現するには、横
断面内で二次完方向に光を閉じこめる光導波路構
造にする必要がある。
従来、光集積回路の製造はガラスのスパツタリ
ング等による導路形を形成する試みがされている
が、伝送損失が大きかつたり、あるいは膜厚が薄
くマルチモード伝送向きでなかつた。
本発明は上述の欠点に鑑みなされたもので、低
損失な光フアイバのコア部と同程度の大きさの光
導波路を基板の溝内にうめこんだ形で形成し、光
導波路間の結合量を増すため、および光導波路間
のギヤツプ及び結合長さを制御するのに便利なよ
うに裏面側より表面層に形成した光の導波路と対
向するように所定パターンの溝を形成し、表面層
に形成された光の導波路の低屈折率ガラス膜を介
して表面側の光導波路と接する光導波路を裏面側
から形成する光結合線路の製造方法を提供するも
のである。
本発明はシリコン(Si)、石英ガラス、水晶
(SiC2)、サフアイヤ(Al2O3)、その他の材料の
基板を用いて、基板の表面及び裏面に所定パター
ンの溝を形成し、その溝内に光導波路を、光導波
路のクラツドとなる低屈折率ガラス膜を介して表
面と裏面側の光導波路が互いに部分的な領域で接
するように形成するものである。
以下本発明の実施例について、図面を用いて詳
細な説明を行う。
第1図は本発明の方法によるSi基板とする光結
合線路の製造工程の例を順次に示したものであ
る。
第1図aに示すごとく{100}面を表面とする
Siウエハ1を準備する。Si基板の厚さは約250μ
m程度である。bはこのSi基板を熱酸化して形成
したシリコン酸化膜にホトレジストを用いてパタ
ーニングを行なつたシリコン酸化膜(SiO2)2を
保護膜としてSi基板1をKOH水容液中で異方性
エツチングを行い、開き角70.53゜のV溝もしく
は台形状の溝を形成したものである。次にcに示
すごとくSi基板の溝に光の導波路をつくるため、
光導波路のクラツドとなるガラス層(以後クラツ
ド層と呼ぶ)3aを形成もる。Si基板1に溝を形
成した後、基板表面全面にCVD法等によりクラ
ツド層となるSiO2もしくは屈折率を低下させる
ようなドーバントを含むシリカガラス層3aを形
成する。なおクラツド層3aの厚さは光を伝搬さ
せるに必要な膜厚でよい。次に、dに示すごと
く、クラツド層3aの上面に、クラツド層3aよ
り屈折率の大きな、光の導波路のコア層となる
P2O2、GeO2、B2O3等のドーパントを含むシリカ
ガラス層4aをCVD法等により堆積させる。ガ
ラス層4を以後コアガラス層と呼ぶ。コアガラス
層4の堆積厚さはマルチモード用の場合60μm以
上が適当である。次いでeに示すごとくSi基板1
の溝部に堆積した部分の7ラツド層3a及びコア
ガラス層4aを残し、他の部分に堆積した層をエ
ツチング等の方法により除去して表面を平坦にす
る。ただし、場合により表面に凹凸を形成しても
差支えない。次いでfに示すごとく、eで形成し
た基板の上にクラツド層3bをCVD法等により
堆積させ、光導波路のコアガラス層4aをくるみ
光導波路を形成する。次にgまたはjに示すごと
く裏面より表面層に形成した光導波路と対向する
ように所定パターンの溝を形成し、表面層に形成
した光導波路の低屈折率ガラス膜3aの底面か側
面かいずれかのガラス膜面を露出させる。次いで
裏面にも同様の方法で、低屈折率ガラス膜3aを
介して表面側の光導波路と接する光の導波路を形
成する。h,kは裏面より形成した溝内にクラツ
ド層3dを形成したものである。i,lはクラツ
ド層3dの上面にコアガラス層4bを堆積させ、
Si基板1の溝部に堆積した部分のクラツド層3d
及びコアガラス層4bを残し、他の部分に堆積し
たガラス層を除去して表面を平坦にし、次いで
CVD法等によりクラツド層3eを堆積させ、光
導波路を形成したものである。
g〜iは背面結合形の光結合線路を構成する例
であり、j〜lは側面結合形の光結合線路を構成
する例である。
このようにして形成される光の結合線路は2つ
の導波路間のギヤツプを堆積させるクラツド層
(3a+3d)の厚さを変えることにより任意に制御
することができ、光の結合量を変えることができ
る。また、光導波路の損失が小さく実用上極めて
有効なものである。
なお、光導波路のクラツド層を形成する低屈折
率ガラスとしては例えば、CVD法等により堆積
させたSiO2ガラス、SiO2−B2O3ガラス、フツ素
をドーブしたSiO2ガラス等を用いてもよい。光
導波路のコアを形成する高屈折率ガラスとして
は、例えば、CVD法等により堆積させたP2O5
GeO2、B2O3等をドーブしたドーブドシリカガラ
ス、リン酸系ガラス等の低損失ガラスを用いるこ
とができるが、これに限るものではなくアルコー
ル等の液体中に分散させたガラスの微粉末を基板
上に沈澱させ、これを乾燥、焼成、溶融してコア
ガラス層を形成しても良い。またZnCl2等の低損
失な誘電体材料を用いてもよい。光導波路を形成
する基板としてガラスを用いる場合には光導波路
を形成するとき、基板温度が余り上昇しない高周
波スパツタリングを用いて行えばよい。
第2図は本発明の方法により製作した光固体回
路と光フアイバを結合する一実施例を示す概略図
である。第2図aは光合波の場合の一例で、光フ
アイバ5,6,7からそれぞれ出射された波長λ
,λ,λの光波は光導波,,に結合
され、光導波路,,を伝搬し、光導波路
,,と裏面側に形成された光導波路との
結合部A,B,Cで結合がおこり、光導波路中
で波長λ,λ,λの光波が合波され、フア
イバ8に結合される。逆に光分岐を行う場合には
フアイバ8から出射された波長λ,λ,λ
,λの光波は、裏面に形成された光導波路
に結合され光導波路を伝搬し、光導波路と表
面に形成された光導波路,,との結合部分
C,B,Aで結合がおこる。波長λの光波はC
部分で光導波路に結合されてフアイバ7に出射
される。波長λの光波はB部分で光導波路に
結合されてフアイバ6に出射される。波長λ
光波はA部分で光導波路に結合されてフアイバ
5に出射される。波長λの光波は光導波路中
をそのまま伝搬しフアイバ9に出射される。第2
図bは光合成の場合の他の例で、光フアイバ1
0,11から出射された波長λ,λの光波は
それぞれ光導波路,に結合される。裏面側に
形成された光導波路を伝搬する波長λの光波
は、表面側に形成された光導波路との結合部
A′で結合がおこり、光導波V中で波長λ,λ
の光波が合波され、フアイバ12に出射され
る。
なお、結合部A′で結合されなかつた波長λ
の光波はそのまま光導波路中を伝搬し、フアイ
バ13に出射されるものでモニタ等として利用で
きる。
波長選択、結合量の調節は、表面側に形成され
た光導波路と裏面側に形成された光導波路の結合
部の結合の長さ及びギヤツプを制御することによ
り行う。
以上の説明から明らかなように、本発明の光回
路はCVD法等により堆積させた光導波路からな
り、光の減衰が少なく、かつ複数の光導波路を同
時に形成でき、さらに光の分岐、結合などの光固
体回路を同時に形成することができる利点があ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の光回路製造工程を示
す断面図、第2図は実施例で製作した光固体回路
と光フアイバを結合する概略図である。 1:Si基板、2:保護板、3a〜3e:クラツ
ド層、4a,4b:コア層、5〜13:光フアイ
バ、〜:光導波路、A:光導波路及びの
結合部、B:光導波路及びの結合部、C:光
導波路及びの結合部、A′:光導波路及び
の結合部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 基板表面に所定パターンの溝を形成し、該溝
    をガラス膜で被覆し、その上から上記ガラス膜よ
    りも高屈折率のガラス層を堆積して上記溝をう
    め、しかる後基板表面から余分のガラス層を除去
    し、その表面上に溝内に堆積したガラスよりも低
    屈折率のガラス膜を被着させて光導波路を形成し
    た後、裏面より表面層に形成した光の導波路と対
    向するように所定のパターンの溝を形成し、表面
    層に形成した光導波路の低屈折率ガラス膜面の少
    なくとも一部を露出させ、該低屈折率ガラス層を
    介して表面側の光導波路と接する光の導波路を裏
    面側に形成することを特徴とする光結合線路の製
    造方法。
JP11826679A 1979-09-14 1979-09-14 Production of photocoupling line Granted JPS5642203A (en)

Priority Applications (1)

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JP11826679A JPS5642203A (en) 1979-09-14 1979-09-14 Production of photocoupling line

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JP11826679A JPS5642203A (en) 1979-09-14 1979-09-14 Production of photocoupling line

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JPS5642203A JPS5642203A (en) 1981-04-20
JPS624683B2 true JPS624683B2 (ja) 1987-01-31

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JPS59171907A (ja) * 1983-03-18 1984-09-28 Agency Of Ind Science & Technol 光ガイドの製造方法
JPS60156014A (ja) * 1983-12-27 1985-08-16 Omron Tateisi Electronics Co 埋込形光導波路装置の製造方法
JPS636506A (ja) * 1986-06-27 1988-01-12 Fujitsu Ltd 光導波路の製造方法

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JPS5642203A (en) 1981-04-20

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