JPS62298780A - 電子部品の耐候試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ＩＣ又はトランジスターやレーザダイオード
等の電子部品において、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性
等の耐候性能を試験するための装置に関するものである
。

〔従来の技術〕

ＩＣ又はトランジスターやレーザダイオード等の電子部
品においては、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性等の耐候
性能を試験することが行なわれており、この耐候性能の
試験は、試験しようとする多数個の電子部品をテストボ
ードに、各電子部品が当該テストボードの一側部におけ
る差し込み部に設けた端子に各々電気的に接続するよう
にして取付けし、このようにして各々複数個の電子部品
試験槽内に、当該試験槽内に設けたコネクタに各テスト
ボードにおける端子付き差し込み部を着脱自在に各々差
し込むようにして装填し、次いで試験槽内を所定の温度
又は湿度に保った状態で各テストボードの各々に取付く
各電子部品の性能を調べることによって行なわれるのが
一般的であった。

そして、従来の試験装置は、前記試験槽における少なく
とも一側面の全体を開放し、この開放部を大きい扉によ
って開閉する構成にし、各テストボードの試験槽内への
装着及び試験槽がらの取り出しを、前記大きい扉を開い
て行うように構成している。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、このように各テストボードを試験槽に対して出
し入れするに際して、その都度、試験槽の一側面におけ
る開放部に対する大きい扉を開くことは、試験槽内にお
ける熱気又は冷気若しくは湿気が総て逃げることになり
、次の試験に際して試験槽内が所定の温度又は湿度にな
るまでには可成りの時間がかかることになるから、試験
に要する時間が長くなると共に、試験に際して無駄に消
費する電力が増大するのである。

その上、従来の試験装置は、試験槽内における各コネク
タの各々に対するテストボードの差し込み及び引き抜き
を、作業者の手作業によって行うようにしているが、コ
ネクタに対するテストボードの差し込み及び引き抜きに
は可成りの力が必要で、作業者の疲労が大であるから、
前記試験に要する時間が長くなることと相俟って極めて
非能率的であり、特に、耐熱試験に際しては、大きい扉
を開いたとき、試験槽内における高温の熱気が総て一度
に試験槽の開放部から出て来て、作業者がこの熱気を浴
びることになるから、可成り危険を伴うのであった。

本発明は、電子部品における耐候性能の試験に際して、
前記の問題を解消することを目的とするものである。

Ｃ問題を解決するための手段〕 このため本発明は、少なくとも一側面を開放した箱型試
験槽に、その一側面における開放部を密閉するための扉
を開閉自在に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電
子部品が取付くテストボードを着脱自在に差し込むため
のコネクタを複数個を設けて成る試験装置において、前
記試験槽の開放部に対する扉又は試験槽における他の側
面には、一つのテストボードを試験槽に対して出し入れ
するための出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設ける
と共に、該各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設
ける一方、前記試験槽内には、テストボードをコネクタ
に差し込む方向に押圧するための差し込み部材と、前記
テストボードをコネクタより引き抜く方向に押圧するた
めの引き抜き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設け
、該差し込み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対して
、当該小扉を開いたとき引き抜き部材がテストボードを
コネクタから引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたとき
差し込み部材がテストボードをコネクタに差し込む方向
に作動するように連動連結した構成にしたものである。

〔作　　用〕

この構成において、複数個の電子部品を取付けたテスト
ボードを、各出入口より試験槽内に挿入したのち、当該
各出入口における小扉を閉じると、各出入口から挿入し
た各テストボードは、小扉に連動する差し込み部材によ
ってその各々のコネクタに対して自動的に差し込もこと
ができる。

そして、試験槽内での耐候性能の試験が終わると、各出
入口の各々に対する小扉を開くと、試験槽内における各
テストボードは、各小扉に連動する引き抜き部材によっ
てコネクタから自動的に引き抜くことができ、以後テス
トボードを、各コネクタの箇所ごとにおける出入口より
出し入れすることができるから、複数枚のテストボード
を試験槽に対して出し入れするに際して、その都度、試
験槽の一側面における大きい扉を開閉する必要がないと
共に、テストボードをコネクタに差し込んだりコネクタ
から引き抜いたりする動作を、当該テストボードを試験
槽内に出入するための小扉の開閉に連動して自動的に行
うことができるのである。

＝６− 〔実施例〕 以下本発明を実施例（耐熱検査装置）を図面について説
明すると、図において１は一側面を開放し、該開放部に
対して開閉自在な扉２を設けて成る箱型の試験槽を示し
、該試験槽１内の上部には当該試験槽１内の空気を所定
の温度に加熱し、且つ、加熱空気を循環するための加熱
循環装置３が設けられ（但し、耐寒試験の場合には、こ
の加熱循環装置３に代えて冷却循環装置を、耐湿試験の
場合には、調湿循環装置を使用する）、更に、試験槽１
内には、テストボード４を装着するためのコネクタ５が
、上下方向に適宜間隔で複数個設けられている。

前記テストボード４の後端４ａには、当該テストボード
４に取付けた多数個の電子部品６の各々に導通する端子
７を備えた差込み部４ｂを備え、該差込み部４ｂを前記
コネクタ５に差し込むように構成されている。

前記試験槽１内には、前記テストボード４をコネクタ５
に対して差し込んだりコネクタ５から引き抜いたりする
方向にガイドするための左右一対のガイド部材８．８を
、前記各コネクタ５の箇所ごとに設ける。

一方、前記試験槽１における開放部に対する扉２には、
一つのテストボード４を試験槽１に対して出し入れする
ための出入口９を前記各コネクタ５の箇所ごとに設ける
と共に、該各自入口９を各々閉鎖するための小扉１０を
、ピン１１にて開閉自在に枢着する。

なお、この各小扉１０は、図示しない空気圧シリンダ又
は油圧シリンダ等により動力的に開閉作動するように構
成されている。

図中符号１２は、前記試験槽１内において前記各コネク
タ５の箇所ごとに設けたテストボード用抜き差し機構を
示し、該抜き差し機構１２は、前記左右一対のガイド部
材８，８と直角方向に配設した前後一対の回転自在な軸
１３．１４を備え、該両軸１３．１４のうち前記コネク
タ５に近い部位に・おける後部軸１４には、前記テスト
ボード４における後端４ａに接当する左右一対の引き抜
き部材１５．１５を、前部軸１３には、前記テストボー
ド４における前端４Ｃに接当する左右一対の差し込み部
材１６．１６を各々固着する一方、前部軸１３と後部軸
１４とを、その各々に固着したレバー１７．１８の先端
間をリンク杆１９にて連結することにより、両軸１３，
１４が同時に同じ方向に回動するように連動連結する。

このとき、差し込み部材１６．１６がテストボード４に
おける前ｆｉ４ｃから離れる方向に逃げ回動すると引き
抜き部材１５．１５がテストボード４における後端４ａ
に接近する方向に回動し、逆に差し込み部材１６．１６
がテストボード４における前端４Ｃに接近する方向に回
動すると引き抜き部材１５．１５がテストボード４にお
ける後端４ａから離れる方向に逃げ回動するように構成
する。なお、前記レバー１７には、その回動位置に保持
するためのばね２２を備えている。

そして、前記前部軸１３におけるレバー１７の他端に連
結したリンク杆２０の先端を、前記小扉１０に対して着
脱自在に構成したピン２１にて連動連結することにより
、小扉１０を閉じ回動すると、差し込み部材１６．１６
がテストボード４における前端４ｃに接近する方向に回
動し、逆に小扉１０を開き回動すると、引き抜き部材１
５，１５がテストボード４における後端４ａに接近する
方向に回動するように構成する。

この構成において、予め多数個の電子部品６を取付けた
テストボード４を、小扉１０を開いた状態でその出入口
９より試験槽１内に挿入し、次いで小扉１０を閉じると
、出入口９が密閉されると同時に、小扉１０の閉じ回動
に連動して、引き抜き部材１５．１５がテストボード４
における後端４ａから離れる方向に逃げ回動すると共に
、差し込み部材１６．１６がテストボード４における前
端４Ｃに接近する方向に回動することにより、テストボ
ード４は、差し込み部材１６．１６の回動によって第１
図に矢印（Ａ）で示すように後方に向って押圧移動され
て、当該テストボード４における差し込み部４ｂがコネ
クタ５に対して自動的に差し込まれることになる。

そして、耐熱性の試験後において、小扉１０を開き回動
すると、これに連動して差し込み部材１６．１６がテス
トボード４における前端４Ｃから離れる方向に逃げ回動
すると同時に、引き抜き部材１５．１５がテストボード
４における後端４ａに接近する方向に回動することによ
り、テストボード４は、引き抜き部材１５．１５の回動
によって第１図に矢印（Ｂ）で示すように前方の出入口
９に向って押圧移動してコネクタ５から自動的に引き抜
かれることになるから、以後は、出入口９からテストボ
ード４の出し入れを行うのである。

また、各小扉１０と抜き差し機構１２とを連結するため
の各ピン２１を各々抜けば、各小扉１０と抜き差し機構
１２との連結状態が解除され、複数の小扉１０が取付く
大きい扉２を開くことができるから、試験槽１内の全体
に対する修理等のメンテナンスが、大きい扉２を開いた
状態で容易に行うことができる。

なお、前記実施例は、試験槽１へのテストボード４の出
し入れ行うための各出入口９、及び該缶出入口９に対す
る小扉１０を、前記試験槽１における大きい扉２に対し
て設けた場合を示したが、前記各出入口９及び小扉１０
は、試験槽１における大きい扉２に対して設けることに
代えて、試験槽１を構成する他の側面に設けても良いの
であり、前記実施例は、耐熱試験の場合であったが、同
様にして耐寒試験又は耐湿試験の場合にも適用できるこ
とは言うまでもない。

〔発明の効果〕

以上の通り本発明によると、試験槽に対するテストボー
ドの出し入れの都度、試験槽における大きい扉を開く必
要がなく、コネクタの箇所ダごとに設けた出入口からテ
ストボードの出し入れ行うことができて、テストボード
の出し入れに伴う熱気、冷気又は湿気の逃げを僅少に留
めることができるから、試験槽内を所定の温度又は湿度
にするまでの無駄な時間を短縮できると共に、消費電力
を節減することができ、しかも、作業者が浴びる熱気を
低減できるから、作業の安全性を向上できるのである。

その上、本発明によると、テストボードのコネクタに対
する差し込み、及びコネクタからの引き抜きを、前記出
入口に対する小扉の開閉に連動して自動的に行うことが
できるから、前記のように試験槽内を所定の温度又は湿
度にするまでの無駄な時間を短縮できるこ壱と相俟って
、試験の能率を著しく向上することができる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例を示し、第１図は要部を示す縦断
正面図で第３図の１−■視拡大断面図、第２図は第１図
のｕ−ｎ視断面図、第３図は全体の斜視図、第４図はテ
ストボードの抜き差し機構の斜視図である。 １・・・・試験槽、２・・・・扉、３・・・・加熱循環
装置、４・・・・テストボード、５・・・・コネクタ、
６・・・・電子部品、８・・・・ガイド部材、９・・・
・出入口、１０・・・・小扉、１２・・・・抜き差し機
構、１３．１４・・・・軸、１５・・・・引き抜き部材
、１６・・・・差し込み部材、１７．１Ｂ・・・・レバ
ー、１９．２０・・・・リンク杆、２１・・・・連結ピ
ン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）、少なくとも一側面を開放した箱型試験槽に、そ
   の一側面における開放部を密閉するための扉を開閉自在
   に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電子部品が取
   付くテストボードを着脱自在に差し込むためのコネクタ
   を複数個を設けて成る試験装置において、前記試験槽の
   開放部に対する扉又は試験槽における他の側面には、一
   つのテストボードを試験槽に対して出し入れするための
   出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設けると共に、該
   各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設ける一方、
   前記試験槽内には、前記テストボードをコネクタに差し
   込む方向に押圧するための差し込み部材と、テストボー
   ドをコネクタより引き抜く方向に押圧するための引き抜
   き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設け、該差し込
   み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対して、当該小扉
   を開いたとき引き抜き部材がテストボードをコネクタか
   ら引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたとき差し込み部
   材がテストボードをコネクタに差し込む方向に作動する
   ように連動連結したことを特徴とする電子部品の耐候試
   験装置。