JPS62298780A - 電子部品の耐候試験装置 - Google Patents
電子部品の耐候試験装置Info
- Publication number
- JPS62298780A JPS62298780A JP61141775A JP14177586A JPS62298780A JP S62298780 A JPS62298780 A JP S62298780A JP 61141775 A JP61141775 A JP 61141775A JP 14177586 A JP14177586 A JP 14177586A JP S62298780 A JPS62298780 A JP S62298780A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- connector
- test board
- door
- tank
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 139
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 23
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 23
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 10
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 abstract description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は、IC又はトランジスターやレーザダイオード
等の電子部品において、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性
等の耐候性能を試験するための装置に関するものである
。
等の電子部品において、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性
等の耐候性能を試験するための装置に関するものである
。
IC又はトランジスターやレーザダイオード等の電子部
品においては、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性等の耐候
性能を試験することが行なわれており、この耐候性能の
試験は、試験しようとする多数個の電子部品をテストボ
ードに、各電子部品が当該テストボードの一側部におけ
る差し込み部に設けた端子に各々電気的に接続するよう
にして取付けし、このようにして各々複数個の電子部品
試験槽内に、当該試験槽内に設けたコネクタに各テスト
ボードにおける端子付き差し込み部を着脱自在に各々差
し込むようにして装填し、次いで試験槽内を所定の温度
又は湿度に保った状態で各テストボードの各々に取付く
各電子部品の性能を調べることによって行なわれるのが
一般的であった。
品においては、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性等の耐候
性能を試験することが行なわれており、この耐候性能の
試験は、試験しようとする多数個の電子部品をテストボ
ードに、各電子部品が当該テストボードの一側部におけ
る差し込み部に設けた端子に各々電気的に接続するよう
にして取付けし、このようにして各々複数個の電子部品
試験槽内に、当該試験槽内に設けたコネクタに各テスト
ボードにおける端子付き差し込み部を着脱自在に各々差
し込むようにして装填し、次いで試験槽内を所定の温度
又は湿度に保った状態で各テストボードの各々に取付く
各電子部品の性能を調べることによって行なわれるのが
一般的であった。
そして、従来の試験装置は、前記試験槽における少なく
とも一側面の全体を開放し、この開放部を大きい扉によ
って開閉する構成にし、各テストボードの試験槽内への
装着及び試験槽がらの取り出しを、前記大きい扉を開い
て行うように構成している。
とも一側面の全体を開放し、この開放部を大きい扉によ
って開閉する構成にし、各テストボードの試験槽内への
装着及び試験槽がらの取り出しを、前記大きい扉を開い
て行うように構成している。
しかし、このように各テストボードを試験槽に対して出
し入れするに際して、その都度、試験槽の一側面におけ
る開放部に対する大きい扉を開くことは、試験槽内にお
ける熱気又は冷気若しくは湿気が総て逃げることになり
、次の試験に際して試験槽内が所定の温度又は湿度にな
るまでには可成りの時間がかかることになるから、試験
に要する時間が長くなると共に、試験に際して無駄に消
費する電力が増大するのである。
し入れするに際して、その都度、試験槽の一側面におけ
る開放部に対する大きい扉を開くことは、試験槽内にお
ける熱気又は冷気若しくは湿気が総て逃げることになり
、次の試験に際して試験槽内が所定の温度又は湿度にな
るまでには可成りの時間がかかることになるから、試験
に要する時間が長くなると共に、試験に際して無駄に消
費する電力が増大するのである。
その上、従来の試験装置は、試験槽内における各コネク
タの各々に対するテストボードの差し込み及び引き抜き
を、作業者の手作業によって行うようにしているが、コ
ネクタに対するテストボードの差し込み及び引き抜きに
は可成りの力が必要で、作業者の疲労が大であるから、
前記試験に要する時間が長くなることと相俟って極めて
非能率的であり、特に、耐熱試験に際しては、大きい扉
を開いたとき、試験槽内における高温の熱気が総て一度
に試験槽の開放部から出て来て、作業者がこの熱気を浴
びることになるから、可成り危険を伴うのであった。
タの各々に対するテストボードの差し込み及び引き抜き
を、作業者の手作業によって行うようにしているが、コ
ネクタに対するテストボードの差し込み及び引き抜きに
は可成りの力が必要で、作業者の疲労が大であるから、
前記試験に要する時間が長くなることと相俟って極めて
非能率的であり、特に、耐熱試験に際しては、大きい扉
を開いたとき、試験槽内における高温の熱気が総て一度
に試験槽の開放部から出て来て、作業者がこの熱気を浴
びることになるから、可成り危険を伴うのであった。
本発明は、電子部品における耐候性能の試験に際して、
前記の問題を解消することを目的とするものである。
前記の問題を解消することを目的とするものである。
C問題を解決するための手段〕
このため本発明は、少なくとも一側面を開放した箱型試
験槽に、その一側面における開放部を密閉するための扉
を開閉自在に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電
子部品が取付くテストボードを着脱自在に差し込むため
のコネクタを複数個を設けて成る試験装置において、前
記試験槽の開放部に対する扉又は試験槽における他の側
面には、一つのテストボードを試験槽に対して出し入れ
するための出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設ける
と共に、該各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設
ける一方、前記試験槽内には、テストボードをコネクタ
に差し込む方向に押圧するための差し込み部材と、前記
テストボードをコネクタより引き抜く方向に押圧するた
めの引き抜き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設け
、該差し込み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対して
、当該小扉を開いたとき引き抜き部材がテストボードを
コネクタから引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたとき
差し込み部材がテストボードをコネクタに差し込む方向
に作動するように連動連結した構成にしたものである。
験槽に、その一側面における開放部を密閉するための扉
を開閉自在に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電
子部品が取付くテストボードを着脱自在に差し込むため
のコネクタを複数個を設けて成る試験装置において、前
記試験槽の開放部に対する扉又は試験槽における他の側
面には、一つのテストボードを試験槽に対して出し入れ
するための出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設ける
と共に、該各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設
ける一方、前記試験槽内には、テストボードをコネクタ
に差し込む方向に押圧するための差し込み部材と、前記
テストボードをコネクタより引き抜く方向に押圧するた
めの引き抜き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設け
、該差し込み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対して
、当該小扉を開いたとき引き抜き部材がテストボードを
コネクタから引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたとき
差し込み部材がテストボードをコネクタに差し込む方向
に作動するように連動連結した構成にしたものである。
この構成において、複数個の電子部品を取付けたテスト
ボードを、各出入口より試験槽内に挿入したのち、当該
各出入口における小扉を閉じると、各出入口から挿入し
た各テストボードは、小扉に連動する差し込み部材によ
ってその各々のコネクタに対して自動的に差し込もこと
ができる。
ボードを、各出入口より試験槽内に挿入したのち、当該
各出入口における小扉を閉じると、各出入口から挿入し
た各テストボードは、小扉に連動する差し込み部材によ
ってその各々のコネクタに対して自動的に差し込もこと
ができる。
そして、試験槽内での耐候性能の試験が終わると、各出
入口の各々に対する小扉を開くと、試験槽内における各
テストボードは、各小扉に連動する引き抜き部材によっ
てコネクタから自動的に引き抜くことができ、以後テス
トボードを、各コネクタの箇所ごとにおける出入口より
出し入れすることができるから、複数枚のテストボード
を試験槽に対して出し入れするに際して、その都度、試
験槽の一側面における大きい扉を開閉する必要がないと
共に、テストボードをコネクタに差し込んだりコネクタ
から引き抜いたりする動作を、当該テストボードを試験
槽内に出入するための小扉の開閉に連動して自動的に行
うことができるのである。
入口の各々に対する小扉を開くと、試験槽内における各
テストボードは、各小扉に連動する引き抜き部材によっ
てコネクタから自動的に引き抜くことができ、以後テス
トボードを、各コネクタの箇所ごとにおける出入口より
出し入れすることができるから、複数枚のテストボード
を試験槽に対して出し入れするに際して、その都度、試
験槽の一側面における大きい扉を開閉する必要がないと
共に、テストボードをコネクタに差し込んだりコネクタ
から引き抜いたりする動作を、当該テストボードを試験
槽内に出入するための小扉の開閉に連動して自動的に行
うことができるのである。
=6−
〔実施例〕
以下本発明を実施例(耐熱検査装置)を図面について説
明すると、図において1は一側面を開放し、該開放部に
対して開閉自在な扉2を設けて成る箱型の試験槽を示し
、該試験槽1内の上部には当該試験槽1内の空気を所定
の温度に加熱し、且つ、加熱空気を循環するための加熱
循環装置3が設けられ(但し、耐寒試験の場合には、こ
の加熱循環装置3に代えて冷却循環装置を、耐湿試験の
場合には、調湿循環装置を使用する)、更に、試験槽1
内には、テストボード4を装着するためのコネクタ5が
、上下方向に適宜間隔で複数個設けられている。
明すると、図において1は一側面を開放し、該開放部に
対して開閉自在な扉2を設けて成る箱型の試験槽を示し
、該試験槽1内の上部には当該試験槽1内の空気を所定
の温度に加熱し、且つ、加熱空気を循環するための加熱
循環装置3が設けられ(但し、耐寒試験の場合には、こ
の加熱循環装置3に代えて冷却循環装置を、耐湿試験の
場合には、調湿循環装置を使用する)、更に、試験槽1
内には、テストボード4を装着するためのコネクタ5が
、上下方向に適宜間隔で複数個設けられている。
前記テストボード4の後端4aには、当該テストボード
4に取付けた多数個の電子部品6の各々に導通する端子
7を備えた差込み部4bを備え、該差込み部4bを前記
コネクタ5に差し込むように構成されている。
4に取付けた多数個の電子部品6の各々に導通する端子
7を備えた差込み部4bを備え、該差込み部4bを前記
コネクタ5に差し込むように構成されている。
前記試験槽1内には、前記テストボード4をコネクタ5
に対して差し込んだりコネクタ5から引き抜いたりする
方向にガイドするための左右一対のガイド部材8.8を
、前記各コネクタ5の箇所ごとに設ける。
に対して差し込んだりコネクタ5から引き抜いたりする
方向にガイドするための左右一対のガイド部材8.8を
、前記各コネクタ5の箇所ごとに設ける。
一方、前記試験槽1における開放部に対する扉2には、
一つのテストボード4を試験槽1に対して出し入れする
ための出入口9を前記各コネクタ5の箇所ごとに設ける
と共に、該各自入口9を各々閉鎖するための小扉10を
、ピン11にて開閉自在に枢着する。
一つのテストボード4を試験槽1に対して出し入れする
ための出入口9を前記各コネクタ5の箇所ごとに設ける
と共に、該各自入口9を各々閉鎖するための小扉10を
、ピン11にて開閉自在に枢着する。
なお、この各小扉10は、図示しない空気圧シリンダ又
は油圧シリンダ等により動力的に開閉作動するように構
成されている。
は油圧シリンダ等により動力的に開閉作動するように構
成されている。
図中符号12は、前記試験槽1内において前記各コネク
タ5の箇所ごとに設けたテストボード用抜き差し機構を
示し、該抜き差し機構12は、前記左右一対のガイド部
材8,8と直角方向に配設した前後一対の回転自在な軸
13.14を備え、該両軸13.14のうち前記コネク
タ5に近い部位に・おける後部軸14には、前記テスト
ボード4における後端4aに接当する左右一対の引き抜
き部材15.15を、前部軸13には、前記テストボー
ド4における前端4Cに接当する左右一対の差し込み部
材16.16を各々固着する一方、前部軸13と後部軸
14とを、その各々に固着したレバー17.18の先端
間をリンク杆19にて連結することにより、両軸13,
14が同時に同じ方向に回動するように連動連結する。
タ5の箇所ごとに設けたテストボード用抜き差し機構を
示し、該抜き差し機構12は、前記左右一対のガイド部
材8,8と直角方向に配設した前後一対の回転自在な軸
13.14を備え、該両軸13.14のうち前記コネク
タ5に近い部位に・おける後部軸14には、前記テスト
ボード4における後端4aに接当する左右一対の引き抜
き部材15.15を、前部軸13には、前記テストボー
ド4における前端4Cに接当する左右一対の差し込み部
材16.16を各々固着する一方、前部軸13と後部軸
14とを、その各々に固着したレバー17.18の先端
間をリンク杆19にて連結することにより、両軸13,
14が同時に同じ方向に回動するように連動連結する。
このとき、差し込み部材16.16がテストボード4に
おける前fi4cから離れる方向に逃げ回動すると引き
抜き部材15.15がテストボード4における後端4a
に接近する方向に回動し、逆に差し込み部材16.16
がテストボード4における前端4Cに接近する方向に回
動すると引き抜き部材15.15がテストボード4にお
ける後端4aから離れる方向に逃げ回動するように構成
する。なお、前記レバー17には、その回動位置に保持
するためのばね22を備えている。
おける前fi4cから離れる方向に逃げ回動すると引き
抜き部材15.15がテストボード4における後端4a
に接近する方向に回動し、逆に差し込み部材16.16
がテストボード4における前端4Cに接近する方向に回
動すると引き抜き部材15.15がテストボード4にお
ける後端4aから離れる方向に逃げ回動するように構成
する。なお、前記レバー17には、その回動位置に保持
するためのばね22を備えている。
そして、前記前部軸13におけるレバー17の他端に連
結したリンク杆20の先端を、前記小扉10に対して着
脱自在に構成したピン21にて連動連結することにより
、小扉10を閉じ回動すると、差し込み部材16.16
がテストボード4における前端4cに接近する方向に回
動し、逆に小扉10を開き回動すると、引き抜き部材1
5,15がテストボード4における後端4aに接近する
方向に回動するように構成する。
結したリンク杆20の先端を、前記小扉10に対して着
脱自在に構成したピン21にて連動連結することにより
、小扉10を閉じ回動すると、差し込み部材16.16
がテストボード4における前端4cに接近する方向に回
動し、逆に小扉10を開き回動すると、引き抜き部材1
5,15がテストボード4における後端4aに接近する
方向に回動するように構成する。
この構成において、予め多数個の電子部品6を取付けた
テストボード4を、小扉10を開いた状態でその出入口
9より試験槽1内に挿入し、次いで小扉10を閉じると
、出入口9が密閉されると同時に、小扉10の閉じ回動
に連動して、引き抜き部材15.15がテストボード4
における後端4aから離れる方向に逃げ回動すると共に
、差し込み部材16.16がテストボード4における前
端4Cに接近する方向に回動することにより、テストボ
ード4は、差し込み部材16.16の回動によって第1
図に矢印(A)で示すように後方に向って押圧移動され
て、当該テストボード4における差し込み部4bがコネ
クタ5に対して自動的に差し込まれることになる。
テストボード4を、小扉10を開いた状態でその出入口
9より試験槽1内に挿入し、次いで小扉10を閉じると
、出入口9が密閉されると同時に、小扉10の閉じ回動
に連動して、引き抜き部材15.15がテストボード4
における後端4aから離れる方向に逃げ回動すると共に
、差し込み部材16.16がテストボード4における前
端4Cに接近する方向に回動することにより、テストボ
ード4は、差し込み部材16.16の回動によって第1
図に矢印(A)で示すように後方に向って押圧移動され
て、当該テストボード4における差し込み部4bがコネ
クタ5に対して自動的に差し込まれることになる。
そして、耐熱性の試験後において、小扉10を開き回動
すると、これに連動して差し込み部材16.16がテス
トボード4における前端4Cから離れる方向に逃げ回動
すると同時に、引き抜き部材15.15がテストボード
4における後端4aに接近する方向に回動することによ
り、テストボード4は、引き抜き部材15.15の回動
によって第1図に矢印(B)で示すように前方の出入口
9に向って押圧移動してコネクタ5から自動的に引き抜
かれることになるから、以後は、出入口9からテストボ
ード4の出し入れを行うのである。
すると、これに連動して差し込み部材16.16がテス
トボード4における前端4Cから離れる方向に逃げ回動
すると同時に、引き抜き部材15.15がテストボード
4における後端4aに接近する方向に回動することによ
り、テストボード4は、引き抜き部材15.15の回動
によって第1図に矢印(B)で示すように前方の出入口
9に向って押圧移動してコネクタ5から自動的に引き抜
かれることになるから、以後は、出入口9からテストボ
ード4の出し入れを行うのである。
また、各小扉10と抜き差し機構12とを連結するため
の各ピン21を各々抜けば、各小扉10と抜き差し機構
12との連結状態が解除され、複数の小扉10が取付く
大きい扉2を開くことができるから、試験槽1内の全体
に対する修理等のメンテナンスが、大きい扉2を開いた
状態で容易に行うことができる。
の各ピン21を各々抜けば、各小扉10と抜き差し機構
12との連結状態が解除され、複数の小扉10が取付く
大きい扉2を開くことができるから、試験槽1内の全体
に対する修理等のメンテナンスが、大きい扉2を開いた
状態で容易に行うことができる。
なお、前記実施例は、試験槽1へのテストボード4の出
し入れ行うための各出入口9、及び該缶出入口9に対す
る小扉10を、前記試験槽1における大きい扉2に対し
て設けた場合を示したが、前記各出入口9及び小扉10
は、試験槽1における大きい扉2に対して設けることに
代えて、試験槽1を構成する他の側面に設けても良いの
であり、前記実施例は、耐熱試験の場合であったが、同
様にして耐寒試験又は耐湿試験の場合にも適用できるこ
とは言うまでもない。
し入れ行うための各出入口9、及び該缶出入口9に対す
る小扉10を、前記試験槽1における大きい扉2に対し
て設けた場合を示したが、前記各出入口9及び小扉10
は、試験槽1における大きい扉2に対して設けることに
代えて、試験槽1を構成する他の側面に設けても良いの
であり、前記実施例は、耐熱試験の場合であったが、同
様にして耐寒試験又は耐湿試験の場合にも適用できるこ
とは言うまでもない。
以上の通り本発明によると、試験槽に対するテストボー
ドの出し入れの都度、試験槽における大きい扉を開く必
要がなく、コネクタの箇所ダごとに設けた出入口からテ
ストボードの出し入れ行うことができて、テストボード
の出し入れに伴う熱気、冷気又は湿気の逃げを僅少に留
めることができるから、試験槽内を所定の温度又は湿度
にするまでの無駄な時間を短縮できると共に、消費電力
を節減することができ、しかも、作業者が浴びる熱気を
低減できるから、作業の安全性を向上できるのである。
ドの出し入れの都度、試験槽における大きい扉を開く必
要がなく、コネクタの箇所ダごとに設けた出入口からテ
ストボードの出し入れ行うことができて、テストボード
の出し入れに伴う熱気、冷気又は湿気の逃げを僅少に留
めることができるから、試験槽内を所定の温度又は湿度
にするまでの無駄な時間を短縮できると共に、消費電力
を節減することができ、しかも、作業者が浴びる熱気を
低減できるから、作業の安全性を向上できるのである。
その上、本発明によると、テストボードのコネクタに対
する差し込み、及びコネクタからの引き抜きを、前記出
入口に対する小扉の開閉に連動して自動的に行うことが
できるから、前記のように試験槽内を所定の温度又は湿
度にするまでの無駄な時間を短縮できるこ壱と相俟って
、試験の能率を著しく向上することができる。
する差し込み、及びコネクタからの引き抜きを、前記出
入口に対する小扉の開閉に連動して自動的に行うことが
できるから、前記のように試験槽内を所定の温度又は湿
度にするまでの無駄な時間を短縮できるこ壱と相俟って
、試験の能率を著しく向上することができる。
図面は本発明の実施例を示し、第1図は要部を示す縦断
正面図で第3図の1−■視拡大断面図、第2図は第1図
のu−n視断面図、第3図は全体の斜視図、第4図はテ
ストボードの抜き差し機構の斜視図である。 1・・・・試験槽、2・・・・扉、3・・・・加熱循環
装置、4・・・・テストボード、5・・・・コネクタ、
6・・・・電子部品、8・・・・ガイド部材、9・・・
・出入口、10・・・・小扉、12・・・・抜き差し機
構、13.14・・・・軸、15・・・・引き抜き部材
、16・・・・差し込み部材、17.1B・・・・レバ
ー、19.20・・・・リンク杆、21・・・・連結ピ
ン。
正面図で第3図の1−■視拡大断面図、第2図は第1図
のu−n視断面図、第3図は全体の斜視図、第4図はテ
ストボードの抜き差し機構の斜視図である。 1・・・・試験槽、2・・・・扉、3・・・・加熱循環
装置、4・・・・テストボード、5・・・・コネクタ、
6・・・・電子部品、8・・・・ガイド部材、9・・・
・出入口、10・・・・小扉、12・・・・抜き差し機
構、13.14・・・・軸、15・・・・引き抜き部材
、16・・・・差し込み部材、17.1B・・・・レバ
ー、19.20・・・・リンク杆、21・・・・連結ピ
ン。
Claims (1)
- (1)、少なくとも一側面を開放した箱型試験槽に、そ
の一側面における開放部を密閉するための扉を開閉自在
に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電子部品が取
付くテストボードを着脱自在に差し込むためのコネクタ
を複数個を設けて成る試験装置において、前記試験槽の
開放部に対する扉又は試験槽における他の側面には、一
つのテストボードを試験槽に対して出し入れするための
出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設けると共に、該
各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設ける一方、
前記試験槽内には、前記テストボードをコネクタに差し
込む方向に押圧するための差し込み部材と、テストボー
ドをコネクタより引き抜く方向に押圧するための引き抜
き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設け、該差し込
み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対して、当該小扉
を開いたとき引き抜き部材がテストボードをコネクタか
ら引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたとき差し込み部
材がテストボードをコネクタに差し込む方向に作動する
ように連動連結したことを特徴とする電子部品の耐候試
験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61141775A JPH0750148B2 (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | 電子部品の耐候試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61141775A JPH0750148B2 (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | 電子部品の耐候試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62298780A true JPS62298780A (ja) | 1987-12-25 |
JPH0750148B2 JPH0750148B2 (ja) | 1995-05-31 |
Family
ID=15299886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61141775A Expired - Lifetime JPH0750148B2 (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | 電子部品の耐候試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0750148B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011061202A (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-24 | Star Technologies Inc | 発光素子用試験装置 |
WO2016147533A1 (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-22 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 |
-
1986
- 1986-06-18 JP JP61141775A patent/JPH0750148B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011061202A (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-24 | Star Technologies Inc | 発光素子用試験装置 |
WO2016147533A1 (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-22 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置および電子部品検査装置 |
US10416231B2 (en) | 2015-03-16 | 2019-09-17 | Seiko Epson Corporation | Electronic component transport apparatus and electronic component inspection apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0750148B2 (ja) | 1995-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4683424A (en) | Apparatus for use in testing circuit boards | |
DE10245600B4 (de) | Kühlanordnung für eine Spannungsversorgung eines Generatormotors zum Betreiben eines Fahrzeugs | |
DE60124428T2 (de) | Lüftungsvorrichtung und verfahren zu dessen herstellung | |
JP7044915B2 (ja) | 環境試験装置及び環境試験方法 | |
JPS62298780A (ja) | 電子部品の耐候試験装置 | |
CN208042312U (zh) | 一种空调器 | |
CN116316211B (zh) | 一种防误开的电气设备用配电柜 | |
DE19537894A1 (de) | Vorrichtung zum Trocknen eines Luftleitkanals einer Fahrzeugklimaanlage | |
JP2786688B2 (ja) | 冷熱サイクル装置 | |
CN115487877B (zh) | 一种模拟环境试验箱 | |
DE2919434A1 (de) | Schrank fuer elektrische bauteile | |
CN214757392U (zh) | 工程机械用集成电气控制柜 | |
DE8532913U1 (de) | Einrichtung zur Simulation von Witterungsbedingungen | |
EP0875086B1 (de) | Klimatisierter schaltschrank | |
CN210217551U (zh) | 一种隧道巡检机器人通行专用防火门 | |
CN108988171A (zh) | 一种配电箱及其使用方法 | |
DE19954555A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Belüftung eines Raumes mit Wärmerückgewinnung | |
CN219433457U (zh) | 空调箱及其检修门 | |
CN217334661U (zh) | 一种便于固定线路的机电控制柜 | |
JPS637627B2 (ja) | ||
CN214757362U (zh) | 一种抽屉式电源分配装置 | |
CN206376681U (zh) | 小型环境舱用电动单开移门及气动平台 | |
CN108963801A (zh) | 一种预制舱服务器盘柜及使用该盘柜的预制舱 | |
CN216795502U (zh) | 一种建筑暖通空调设备的智能化电气控制柜 | |
CN214070484U (zh) | 一种具有风压监测功能的同步发电机励磁柜 |