JPS6228675A - 抵抗測定方法 - Google Patents
抵抗測定方法Info
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- JPS6228675A JPS6228675A JP16837985A JP16837985A JPS6228675A JP S6228675 A JPS6228675 A JP S6228675A JP 16837985 A JP16837985 A JP 16837985A JP 16837985 A JP16837985 A JP 16837985A JP S6228675 A JPS6228675 A JP S6228675A
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- Japan
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- resistance
- bimorph
- voltage
- relay
- measured
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、被測定物の抵抗の測定方法に係り、特に、低
電圧の印加により当該被測定物を劣化させることなく、
その抵抗を測定できるようにした抵抗測定方法に関する
ものである。
電圧の印加により当該被測定物を劣化させることなく、
その抵抗を測定できるようにした抵抗測定方法に関する
ものである。
従来、被測定物の抵抗を測定するには、当該被測定物に
電圧を加え、流れる電流値によって抵抗値を知る方法が
とられている。これは電圧＝電流×抵抗というオームの
法則に基づいた手段である。
電圧を加え、流れる電流値によって抵抗値を知る方法が
とられている。これは電圧＝電流×抵抗というオームの
法則に基づいた手段である。
しかし、係る手段においては、抵抗値が極めて大きい場
合にあっては、電流値が極めて微少になり、その結果、
当該電流値を検知する検知回路に複雑且つ高精度が要求
され、このため、場合によっては検知不能となる等の問
題点があった。
合にあっては、電流値が極めて微少になり、その結果、
当該電流値を検知する検知回路に複雑且つ高精度が要求
され、このため、場合によっては検知不能となる等の問
題点があった。
然るに、係る問題点を解消するには、被測定物に印加す
る電圧を高くし、電流値を大きくすることが考えられる
。
る電圧を高くし、電流値を大きくすることが考えられる
。
しかしながら、これでは、被測定物としての被測定機器
を劣化させるという問題点がある。
を劣化させるという問題点がある。
従って、本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、被測定物に低電圧を供給、即ち微少電流を供
給するだけで、当該被測定物の抵抗を求めることができ
るようにした抵抗測定方法を提供するものである。
の目的は、被測定物に低電圧を供給、即ち微少電流を供
給するだけで、当該被測定物の抵抗を求めることができ
るようにした抵抗測定方法を提供するものである。
本発明は、バイモルフリレーに対し、被測定物を介して
電圧を印加した後、該バイモルフリレーが作動するまで
の時間を計時することにより、上肥液測定物の抵抗を求
めるようにしたものである。
電圧を印加した後、該バイモルフリレーが作動するまで
の時間を計時することにより、上肥液測定物の抵抗を求
めるようにしたものである。
バイモルフリレーが充電電圧に達するまでの時間、叩ち
充電時間を計時すれば、当該時間の長。
充電時間を計時すれば、当該時間の長。
短により、該バイモルフリレーに常時印加される電圧を
検出でき、従って、被測定物で常時消費される電圧を逆
算でき、これにより、該被測定物の抵抗を求めることが
できる。
検出でき、従って、被測定物で常時消費される電圧を逆
算でき、これにより、該被測定物の抵抗を求めることが
できる。
以下に、本発明の実施例を図面に基づき説明する。
先ず、第１図は本発明において用いられるバイモルフリ
レーＡの構成を示す。
レーＡの構成を示す。
第１図に於いて、１．１は互いに対向したバイモルフ構
造の圧電素子を示す。これら圧電素子１゜１の一端は全
屈等の導電性材料で作られた固定部材２に固定され、又
、他の自由端には接点３．４を有する接点ｔ＆５．６が
前記バイモルフ構造の構成部材の一つである電極７，８
，９，１０，１１゜１２とは絶縁されて固着されている
。
造の圧電素子を示す。これら圧電素子１゜１の一端は全
屈等の導電性材料で作られた固定部材２に固定され、又
、他の自由端には接点３．４を有する接点ｔ＆５．６が
前記バイモルフ構造の構成部材の一つである電極７，８
，９，１０，１１゜１２とは絶縁されて固着されている
。
かくして、以上の構成において電極８，１１及び７．１
０，９．１２を短絡し、その間に、図示するように直流
電圧Ｅを加えると、バイモルフ構造の圧電素子１は、そ
の自由端が互いに接近、耶ち、接点３．４が接触する方
向に歪曲し、接点３゜４は閉成する。その後、直流電圧
Ｅをとり除いても接点３，４はある時間だけ閉成状態を
維持する。
０，９．１２を短絡し、その間に、図示するように直流
電圧Ｅを加えると、バイモルフ構造の圧電素子１は、そ
の自由端が互いに接近、耶ち、接点３．４が接触する方
向に歪曲し、接点３゜４は閉成する。その後、直流電圧
Ｅをとり除いても接点３，４はある時間だけ閉成状態を
維持する。
又、上記バイモルフリレーＡの等価回路は第２図に示す
。
。
而して、圧電素子Ｊは、同図に示すように、コンデンサ
ＣＰと該コンデンサＣＰに並列接続された漏洩抵抗ＲＰ
と等価である。従って、スイッチＳ１を閉じ直流電圧Ｅ
が加わるとコンデンサＣＰは充電され、その結果、当該
充電、即ち上記コンデンサＣＰのエネルギーの蓄積によ
り圧電素子１はバイモルフ特有の歪曲現象を起こし、接
点３゜４が閉成することになる。ここで、接点３．４が
閉成するのに必要なバイモルフの歪曲の度合はコンデン
サＣＰに充電されるエネルギーに依存しており、接点３
．４が閉成する時のコンデンサＣＰの端子電圧は後述す
る所定値ＶＣである。一方、スイッチＳ１を開くとコン
デンサＣＰに充電されている電荷は漏洩抵抗ＲＰを介し
て放電され、それとともに、今まで閉成していた接点３
，４は開成する。
ＣＰと該コンデンサＣＰに並列接続された漏洩抵抗ＲＰ
と等価である。従って、スイッチＳ１を閉じ直流電圧Ｅ
が加わるとコンデンサＣＰは充電され、その結果、当該
充電、即ち上記コンデンサＣＰのエネルギーの蓄積によ
り圧電素子１はバイモルフ特有の歪曲現象を起こし、接
点３゜４が閉成することになる。ここで、接点３．４が
閉成するのに必要なバイモルフの歪曲の度合はコンデン
サＣＰに充電されるエネルギーに依存しており、接点３
．４が閉成する時のコンデンサＣＰの端子電圧は後述す
る所定値ＶＣである。一方、スイッチＳ１を開くとコン
デンサＣＰに充電されている電荷は漏洩抵抗ＲＰを介し
て放電され、それとともに、今まで閉成していた接点３
，４は開成する。
ところで、上記漏洩抵抗ＲＰは実１１によれば１０９〜
１０１ユΩという極めて大きな値であり、従って、前記
放電には長時間を要し、このため、スイッチＳ１を開い
てから接点３，４が開成するまでには長い時間的遅れが
生じるものであり、実験によれば、この時間的遅れは約
４０時間という値を得ている。一方、もし漏洩抵抗ＲＰ
の値を小さくすれば、前記遅延時間を小さくすることが
できる。このため、漏洩抵抗ＲＰと並列に別抵抗を接続
して、等測的に漏洩抵抗ＲＰの値を任意に変化させるこ
とができる。
１０１ユΩという極めて大きな値であり、従って、前記
放電には長時間を要し、このため、スイッチＳ１を開い
てから接点３，４が開成するまでには長い時間的遅れが
生じるものであり、実験によれば、この時間的遅れは約
４０時間という値を得ている。一方、もし漏洩抵抗ＲＰ
の値を小さくすれば、前記遅延時間を小さくすることが
できる。このため、漏洩抵抗ＲＰと並列に別抵抗を接続
して、等測的に漏洩抵抗ＲＰの値を任意に変化させるこ
とができる。
第３図は、本発明を適用するための回路構成を示す。
先ず、バイモルフリレーＡ、保護抵抗Ｒ１１スイッチＳ
２及び直流電源Ｅが直列接続され、これらにより測定用
回路１３が構成されている。Ｓ３は上記バイモルフリレ
ー八に並列接続されたスイッチを示す。
２及び直流電源Ｅが直列接続され、これらにより測定用
回路１３が構成されている。Ｓ３は上記バイモルフリレ
ー八に並列接続されたスイッチを示す。
又、Ｔｌ、Ｔ２は上記測定用回路１３の端子を示す。
而して、１４は被測定物で、該被測定物１４の測定方法
は以下に示す。
は以下に示す。
而して、被測定物１４を端子Ｔｌ、Ｔ２間に接続し、ス
イッチＳ２をＯＮにすると、バイモルフリレーＡには、
保護抵抗Ｒ１、及び被測定物１４の抵抗Ｒを通して、直
流電圧Ｅが加わり、その結果、第４図の破線に示すよう
に、バイモルフリレーＡの端子電圧は上昇していく。即
ち、等価コンデンサＣＰが充電されていく。ここで、バ
イモルフリレーＡを構成する圧電素子の歪曲の程度は加
えられた電圧、従って第４図の破線に示される値に比例
しており、電圧が所定値ＶＣに達した時、接点３，４が
閉成する。ここでスイッチＳ２をＯＮにしてから、等価
コンデンサＣＰの端子電圧が所定値ＶＣに達するまでの
時間ＴＣは、電圧Ｅ、保護抵抗Ｒ１、及び被測定物１４
の抵抗Ｒに依存しており、従って、電圧Ｅと保護抵抗Ｒ
ｉを固定すれば、被測定物１４の抵抗Ｒのみに依存する
ことになる。従ってあらかじめ、抵抗Ｒと時間ＴＣの関
係を調べておけば、時間ＴＣを知ることによって被測定
物１４の抵抗Ｒの値を知ることができる。ここで、所定
値ＶＣ＝３０で接点３．４が閉成するバイモルフリレー
Ａにおいて、実験によれば電圧Ｅ＝５０Ｖの時Ｒ＝ １
００ＭΩでＴＣ＝６．５ ｓ ｅ ｃ、 Ｒ＝５００Ｍ
ΩでＴＣ＝３０ｓｅｃという値を得ており、前述の論理
が確かめられている。これにより逆算すると、実験に用
いたバイモルフリレーＡの等価コンデンサＣＰの容量は
約０．０７μＦとなり、従って電圧Ｅ＝５０Ｖという低
電圧ともあいまって、被測定物１４には極めて微少な電
流が充電完了時点まで減衰しながら流れるだけで、それ
以後は電流は流れない。従って被測定物１４を測定によ
って劣化するようなこともない。測定終了後はスイッチ
Ｓ３によってＣＰを放電させ初期状態に戻すことができ
る。
イッチＳ２をＯＮにすると、バイモルフリレーＡには、
保護抵抗Ｒ１、及び被測定物１４の抵抗Ｒを通して、直
流電圧Ｅが加わり、その結果、第４図の破線に示すよう
に、バイモルフリレーＡの端子電圧は上昇していく。即
ち、等価コンデンサＣＰが充電されていく。ここで、バ
イモルフリレーＡを構成する圧電素子の歪曲の程度は加
えられた電圧、従って第４図の破線に示される値に比例
しており、電圧が所定値ＶＣに達した時、接点３，４が
閉成する。ここでスイッチＳ２をＯＮにしてから、等価
コンデンサＣＰの端子電圧が所定値ＶＣに達するまでの
時間ＴＣは、電圧Ｅ、保護抵抗Ｒ１、及び被測定物１４
の抵抗Ｒに依存しており、従って、電圧Ｅと保護抵抗Ｒ
ｉを固定すれば、被測定物１４の抵抗Ｒのみに依存する
ことになる。従ってあらかじめ、抵抗Ｒと時間ＴＣの関
係を調べておけば、時間ＴＣを知ることによって被測定
物１４の抵抗Ｒの値を知ることができる。ここで、所定
値ＶＣ＝３０で接点３．４が閉成するバイモルフリレー
Ａにおいて、実験によれば電圧Ｅ＝５０Ｖの時Ｒ＝ １
００ＭΩでＴＣ＝６．５ ｓ ｅ ｃ、 Ｒ＝５００Ｍ
ΩでＴＣ＝３０ｓｅｃという値を得ており、前述の論理
が確かめられている。これにより逆算すると、実験に用
いたバイモルフリレーＡの等価コンデンサＣＰの容量は
約０．０７μＦとなり、従って電圧Ｅ＝５０Ｖという低
電圧ともあいまって、被測定物１４には極めて微少な電
流が充電完了時点まで減衰しながら流れるだけで、それ
以後は電流は流れない。従って被測定物１４を測定によ
って劣化するようなこともない。測定終了後はスイッチ
Ｓ３によってＣＰを放電させ初期状態に戻すことができ
る。
〔発明の効果］
以上説明したように本発明によれば、バイモルフリレー
に対し、被測定物を介して電圧を印加した後、該バイモ
ルフリレーが作動するまでの時間を計時することにより
、上記被測定物の抵抗を求めるようにしたので、該被測
定物には低電圧、微少電流を供給するだけで済み、この
ため被測定物としての機器等を高電圧、大電流の供給に
より劣化させる等の問題点から回避できるだけでなく、
構造が複雑な抵抗計を用いることなく、測定を可能とし
、これにより実用的効果を奏する。
に対し、被測定物を介して電圧を印加した後、該バイモ
ルフリレーが作動するまでの時間を計時することにより
、上記被測定物の抵抗を求めるようにしたので、該被測
定物には低電圧、微少電流を供給するだけで済み、この
ため被測定物としての機器等を高電圧、大電流の供給に
より劣化させる等の問題点から回避できるだけでなく、
構造が複雑な抵抗計を用いることなく、測定を可能とし
、これにより実用的効果を奏する。
第１図は本発明に用いるバイモルフリレーの構成図、第
２図はバイモルフリレーの等価回路を示す回路構成図、
第３図は本発明を通用した回路構成図、第４図は作用を
説明する線図である。 １４・・・・・・被測定物、Ａ・・・・・・バイモルフ
リレー、Ｒ・・・・・・抵抗。 代理人 大音 増雄（ほか２名） ゾ 第 ２ｉ１ Δ 第４図
２図はバイモルフリレーの等価回路を示す回路構成図、
第３図は本発明を通用した回路構成図、第４図は作用を
説明する線図である。 １４・・・・・・被測定物、Ａ・・・・・・バイモルフ
リレー、Ｒ・・・・・・抵抗。 代理人 大音 増雄（ほか２名） ゾ 第 ２ｉ１ Δ 第４図
Claims (1)
- 充電電圧が所定値に達したときに作動するバイモルフリ
レーを具備し、上記バイモルフリレーに対し、被測定物
を介して電圧を印加した後、該バイモルフリレーが作動
するまでの時間を計時することにより上記被測定物の抵
抗を求めるようにしたことを特徴とする抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16837985A JPS6228675A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16837985A JPS6228675A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 抵抗測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6228675A true JPS6228675A (ja) | 1987-02-06 |
Family
ID=15867005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16837985A Pending JPS6228675A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 抵抗測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6228675A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6176080B1 (en) | 1997-09-10 | 2001-01-23 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Oxygen concentration sensor abnormality-detecting system for internal combustion engines |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP16837985A patent/JPS6228675A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6176080B1 (en) | 1997-09-10 | 2001-01-23 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Oxygen concentration sensor abnormality-detecting system for internal combustion engines |
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