JPS6228675A - 抵抗測定方法 - Google Patents
抵抗測定方法Info
- Publication number
- JPS6228675A JPS6228675A JP16837985A JP16837985A JPS6228675A JP S6228675 A JPS6228675 A JP S6228675A JP 16837985 A JP16837985 A JP 16837985A JP 16837985 A JP16837985 A JP 16837985A JP S6228675 A JPS6228675 A JP S6228675A
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- JP
- Japan
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- resistance
- bimorph
- voltage
- relay
- measured
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、被測定物の抵抗の測定方法に係り、特に、低
電圧の印加により当該被測定物を劣化させることなく、
その抵抗を測定できるようにした抵抗測定方法に関する
ものである。
電圧の印加により当該被測定物を劣化させることなく、
その抵抗を測定できるようにした抵抗測定方法に関する
ものである。
従来、被測定物の抵抗を測定するには、当該被測定物に
電圧を加え、流れる電流値によって抵抗値を知る方法が
とられている。これは電圧=電流×抵抗というオームの
法則に基づいた手段である。
電圧を加え、流れる電流値によって抵抗値を知る方法が
とられている。これは電圧=電流×抵抗というオームの
法則に基づいた手段である。
しかし、係る手段においては、抵抗値が極めて大きい場
合にあっては、電流値が極めて微少になり、その結果、
当該電流値を検知する検知回路に複雑且つ高精度が要求
され、このため、場合によっては検知不能となる等の問
題点があった。
合にあっては、電流値が極めて微少になり、その結果、
当該電流値を検知する検知回路に複雑且つ高精度が要求
され、このため、場合によっては検知不能となる等の問
題点があった。
然るに、係る問題点を解消するには、被測定物に印加す
る電圧を高くし、電流値を大きくすることが考えられる
。
る電圧を高くし、電流値を大きくすることが考えられる
。
しかしながら、これでは、被測定物としての被測定機器
を劣化させるという問題点がある。
を劣化させるという問題点がある。
従って、本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、そ
の目的は、被測定物に低電圧を供給、即ち微少電流を供
給するだけで、当該被測定物の抵抗を求めることができ
るようにした抵抗測定方法を提供するものである。
の目的は、被測定物に低電圧を供給、即ち微少電流を供
給するだけで、当該被測定物の抵抗を求めることができ
るようにした抵抗測定方法を提供するものである。
本発明は、バイモルフリレーに対し、被測定物を介して
電圧を印加した後、該バイモルフリレーが作動するまで
の時間を計時することにより、上肥液測定物の抵抗を求
めるようにしたものである。
電圧を印加した後、該バイモルフリレーが作動するまで
の時間を計時することにより、上肥液測定物の抵抗を求
めるようにしたものである。
バイモルフリレーが充電電圧に達するまでの時間、叩ち
充電時間を計時すれば、当該時間の長。
充電時間を計時すれば、当該時間の長。
短により、該バイモルフリレーに常時印加される電圧を
検出でき、従って、被測定物で常時消費される電圧を逆
算でき、これにより、該被測定物の抵抗を求めることが
できる。
検出でき、従って、被測定物で常時消費される電圧を逆
算でき、これにより、該被測定物の抵抗を求めることが
できる。
以下に、本発明の実施例を図面に基づき説明する。
先ず、第1図は本発明において用いられるバイモルフリ
レーAの構成を示す。
レーAの構成を示す。
第1図に於いて、1.1は互いに対向したバイモルフ構
造の圧電素子を示す。これら圧電素子1゜1の一端は全
屈等の導電性材料で作られた固定部材2に固定され、又
、他の自由端には接点3.4を有する接点t&5.6が
前記バイモルフ構造の構成部材の一つである電極7,8
,9,10,11゜12とは絶縁されて固着されている
。
造の圧電素子を示す。これら圧電素子1゜1の一端は全
屈等の導電性材料で作られた固定部材2に固定され、又
、他の自由端には接点3.4を有する接点t&5.6が
前記バイモルフ構造の構成部材の一つである電極7,8
,9,10,11゜12とは絶縁されて固着されている
。
かくして、以上の構成において電極8,11及び7.1
0,9.12を短絡し、その間に、図示するように直流
電圧Eを加えると、バイモルフ構造の圧電素子1は、そ
の自由端が互いに接近、耶ち、接点3.4が接触する方
向に歪曲し、接点3゜4は閉成する。その後、直流電圧
Eをとり除いても接点3,4はある時間だけ閉成状態を
維持する。
0,9.12を短絡し、その間に、図示するように直流
電圧Eを加えると、バイモルフ構造の圧電素子1は、そ
の自由端が互いに接近、耶ち、接点3.4が接触する方
向に歪曲し、接点3゜4は閉成する。その後、直流電圧
Eをとり除いても接点3,4はある時間だけ閉成状態を
維持する。
又、上記バイモルフリレーAの等価回路は第2図に示す
。
。
而して、圧電素子Jは、同図に示すように、コンデンサ
CPと該コンデンサCPに並列接続された漏洩抵抗RP
と等価である。従って、スイッチS1を閉じ直流電圧E
が加わるとコンデンサCPは充電され、その結果、当該
充電、即ち上記コンデンサCPのエネルギーの蓄積によ
り圧電素子1はバイモルフ特有の歪曲現象を起こし、接
点3゜4が閉成することになる。ここで、接点3.4が
閉成するのに必要なバイモルフの歪曲の度合はコンデン
サCPに充電されるエネルギーに依存しており、接点3
.4が閉成する時のコンデンサCPの端子電圧は後述す
る所定値VCである。一方、スイッチS1を開くとコン
デンサCPに充電されている電荷は漏洩抵抗RPを介し
て放電され、それとともに、今まで閉成していた接点3
,4は開成する。
CPと該コンデンサCPに並列接続された漏洩抵抗RP
と等価である。従って、スイッチS1を閉じ直流電圧E
が加わるとコンデンサCPは充電され、その結果、当該
充電、即ち上記コンデンサCPのエネルギーの蓄積によ
り圧電素子1はバイモルフ特有の歪曲現象を起こし、接
点3゜4が閉成することになる。ここで、接点3.4が
閉成するのに必要なバイモルフの歪曲の度合はコンデン
サCPに充電されるエネルギーに依存しており、接点3
.4が閉成する時のコンデンサCPの端子電圧は後述す
る所定値VCである。一方、スイッチS1を開くとコン
デンサCPに充電されている電荷は漏洩抵抗RPを介し
て放電され、それとともに、今まで閉成していた接点3
,4は開成する。
ところで、上記漏洩抵抗RPは実11によれば109〜
101ユΩという極めて大きな値であり、従って、前記
放電には長時間を要し、このため、スイッチS1を開い
てから接点3,4が開成するまでには長い時間的遅れが
生じるものであり、実験によれば、この時間的遅れは約
40時間という値を得ている。一方、もし漏洩抵抗RP
の値を小さくすれば、前記遅延時間を小さくすることが
できる。このため、漏洩抵抗RPと並列に別抵抗を接続
して、等測的に漏洩抵抗RPの値を任意に変化させるこ
とができる。
101ユΩという極めて大きな値であり、従って、前記
放電には長時間を要し、このため、スイッチS1を開い
てから接点3,4が開成するまでには長い時間的遅れが
生じるものであり、実験によれば、この時間的遅れは約
40時間という値を得ている。一方、もし漏洩抵抗RP
の値を小さくすれば、前記遅延時間を小さくすることが
できる。このため、漏洩抵抗RPと並列に別抵抗を接続
して、等測的に漏洩抵抗RPの値を任意に変化させるこ
とができる。
第3図は、本発明を適用するための回路構成を示す。
先ず、バイモルフリレーA、保護抵抗R11スイッチS
2及び直流電源Eが直列接続され、これらにより測定用
回路13が構成されている。S3は上記バイモルフリレ
ー八に並列接続されたスイッチを示す。
2及び直流電源Eが直列接続され、これらにより測定用
回路13が構成されている。S3は上記バイモルフリレ
ー八に並列接続されたスイッチを示す。
又、Tl、T2は上記測定用回路13の端子を示す。
而して、14は被測定物で、該被測定物14の測定方法
は以下に示す。
は以下に示す。
而して、被測定物14を端子Tl、T2間に接続し、ス
イッチS2をONにすると、バイモルフリレーAには、
保護抵抗R1、及び被測定物14の抵抗Rを通して、直
流電圧Eが加わり、その結果、第4図の破線に示すよう
に、バイモルフリレーAの端子電圧は上昇していく。即
ち、等価コンデンサCPが充電されていく。ここで、バ
イモルフリレーAを構成する圧電素子の歪曲の程度は加
えられた電圧、従って第4図の破線に示される値に比例
しており、電圧が所定値VCに達した時、接点3,4が
閉成する。ここでスイッチS2をONにしてから、等価
コンデンサCPの端子電圧が所定値VCに達するまでの
時間TCは、電圧E、保護抵抗R1、及び被測定物14
の抵抗Rに依存しており、従って、電圧Eと保護抵抗R
iを固定すれば、被測定物14の抵抗Rのみに依存する
ことになる。従ってあらかじめ、抵抗Rと時間TCの関
係を調べておけば、時間TCを知ることによって被測定
物14の抵抗Rの値を知ることができる。ここで、所定
値VC=30で接点3.4が閉成するバイモルフリレー
Aにおいて、実験によれば電圧E=50Vの時R= 1
00MΩでTC=6.5 s e c、 R=500M
ΩでTC=30secという値を得ており、前述の論理
が確かめられている。これにより逆算すると、実験に用
いたバイモルフリレーAの等価コンデンサCPの容量は
約0.07μFとなり、従って電圧E=50Vという低
電圧ともあいまって、被測定物14には極めて微少な電
流が充電完了時点まで減衰しながら流れるだけで、それ
以後は電流は流れない。従って被測定物14を測定によ
って劣化するようなこともない。測定終了後はスイッチ
S3によってCPを放電させ初期状態に戻すことができ
る。
イッチS2をONにすると、バイモルフリレーAには、
保護抵抗R1、及び被測定物14の抵抗Rを通して、直
流電圧Eが加わり、その結果、第4図の破線に示すよう
に、バイモルフリレーAの端子電圧は上昇していく。即
ち、等価コンデンサCPが充電されていく。ここで、バ
イモルフリレーAを構成する圧電素子の歪曲の程度は加
えられた電圧、従って第4図の破線に示される値に比例
しており、電圧が所定値VCに達した時、接点3,4が
閉成する。ここでスイッチS2をONにしてから、等価
コンデンサCPの端子電圧が所定値VCに達するまでの
時間TCは、電圧E、保護抵抗R1、及び被測定物14
の抵抗Rに依存しており、従って、電圧Eと保護抵抗R
iを固定すれば、被測定物14の抵抗Rのみに依存する
ことになる。従ってあらかじめ、抵抗Rと時間TCの関
係を調べておけば、時間TCを知ることによって被測定
物14の抵抗Rの値を知ることができる。ここで、所定
値VC=30で接点3.4が閉成するバイモルフリレー
Aにおいて、実験によれば電圧E=50Vの時R= 1
00MΩでTC=6.5 s e c、 R=500M
ΩでTC=30secという値を得ており、前述の論理
が確かめられている。これにより逆算すると、実験に用
いたバイモルフリレーAの等価コンデンサCPの容量は
約0.07μFとなり、従って電圧E=50Vという低
電圧ともあいまって、被測定物14には極めて微少な電
流が充電完了時点まで減衰しながら流れるだけで、それ
以後は電流は流れない。従って被測定物14を測定によ
って劣化するようなこともない。測定終了後はスイッチ
S3によってCPを放電させ初期状態に戻すことができ
る。
〔発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、バイモルフリレー
に対し、被測定物を介して電圧を印加した後、該バイモ
ルフリレーが作動するまでの時間を計時することにより
、上記被測定物の抵抗を求めるようにしたので、該被測
定物には低電圧、微少電流を供給するだけで済み、この
ため被測定物としての機器等を高電圧、大電流の供給に
より劣化させる等の問題点から回避できるだけでなく、
構造が複雑な抵抗計を用いることなく、測定を可能とし
、これにより実用的効果を奏する。
に対し、被測定物を介して電圧を印加した後、該バイモ
ルフリレーが作動するまでの時間を計時することにより
、上記被測定物の抵抗を求めるようにしたので、該被測
定物には低電圧、微少電流を供給するだけで済み、この
ため被測定物としての機器等を高電圧、大電流の供給に
より劣化させる等の問題点から回避できるだけでなく、
構造が複雑な抵抗計を用いることなく、測定を可能とし
、これにより実用的効果を奏する。
第1図は本発明に用いるバイモルフリレーの構成図、第
2図はバイモルフリレーの等価回路を示す回路構成図、
第3図は本発明を通用した回路構成図、第4図は作用を
説明する線図である。 14・・・・・・被測定物、A・・・・・・バイモルフ
リレー、R・・・・・・抵抗。 代理人 大音 増雄(ほか2名) ゾ 第 2i1 Δ 第4図
2図はバイモルフリレーの等価回路を示す回路構成図、
第3図は本発明を通用した回路構成図、第4図は作用を
説明する線図である。 14・・・・・・被測定物、A・・・・・・バイモルフ
リレー、R・・・・・・抵抗。 代理人 大音 増雄(ほか2名) ゾ 第 2i1 Δ 第4図
Claims (1)
- 充電電圧が所定値に達したときに作動するバイモルフリ
レーを具備し、上記バイモルフリレーに対し、被測定物
を介して電圧を印加した後、該バイモルフリレーが作動
するまでの時間を計時することにより上記被測定物の抵
抗を求めるようにしたことを特徴とする抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16837985A JPS6228675A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 抵抗測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16837985A JPS6228675A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 抵抗測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6228675A true JPS6228675A (ja) | 1987-02-06 |
Family
ID=15867005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16837985A Pending JPS6228675A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 抵抗測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6228675A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6176080B1 (en) | 1997-09-10 | 2001-01-23 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Oxygen concentration sensor abnormality-detecting system for internal combustion engines |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP16837985A patent/JPS6228675A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6176080B1 (en) | 1997-09-10 | 2001-01-23 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Oxygen concentration sensor abnormality-detecting system for internal combustion engines |
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