JPS62217144A - 化学分析用測光部 - Google Patents
化学分析用測光部Info
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- JPS62217144A JPS62217144A JP6187086A JP6187086A JPS62217144A JP S62217144 A JPS62217144 A JP S62217144A JP 6187086 A JP6187086 A JP 6187086A JP 6187086 A JP6187086 A JP 6187086A JP S62217144 A JPS62217144 A JP S62217144A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の分野)
本発明は、試料を収容してなる化学分析スライドの測定
面に照射光を照射し、該測定面から反射された反射光を
光センサで受光して該測定面の反射濃度の測定を行なう
化学分析用測光部に関し、特に詳細には、組み立てを容
易に行なうことのできる化学分析用測光部に関するもの
である。
面に照射光を照射し、該測定面から反射された反射光を
光センサで受光して該測定面の反射濃度の測定を行なう
化学分析用測光部に関し、特に詳細には、組み立てを容
易に行なうことのできる化学分析用測光部に関するもの
である。
(発明の挟術的背mおよび先行技術)
近年、例えば血液や尿等の試料液の小滴を点着供給する
だけで該試料液中に含まれている特定の化学成分または
有形成分を定量分析することのできるドライタイプの化
学分析スライドが開発され(特公昭53−2167γ号
、持聞昭55−16435PQ等)、実用化されている
。
だけで該試料液中に含まれている特定の化学成分または
有形成分を定量分析することのできるドライタイプの化
学分析スライドが開発され(特公昭53−2167γ号
、持聞昭55−16435PQ等)、実用化されている
。
このような化学分析スライドを用いる試料液中の化学成
分等の分析は、試料液を化学分析スライドに点着供給し
た後、これをインキュベータ(恒温機)内で所定時間恒
温保持(インキュベージコン)して呈色反応(色素生成
反応)させ、その呈色光学!1度を光学的に測定し、即
ち、試料液中の被測定成分と化学分析スライドの試薬層
に含まれる試薬との組み合わせにより予め選定された波
長゛を含む測定用照射光をこの化学分析スライドに照射
してその反射光学濃度を測定し、これにより主どして比
色法の原理により被測定物質の含有量を定量分析するこ
とにより行なわれる。
分等の分析は、試料液を化学分析スライドに点着供給し
た後、これをインキュベータ(恒温機)内で所定時間恒
温保持(インキュベージコン)して呈色反応(色素生成
反応)させ、その呈色光学!1度を光学的に測定し、即
ち、試料液中の被測定成分と化学分析スライドの試薬層
に含まれる試薬との組み合わせにより予め選定された波
長゛を含む測定用照射光をこの化学分析スライドに照射
してその反射光学濃度を測定し、これにより主どして比
色法の原理により被測定物質の含有量を定量分析するこ
とにより行なわれる。
インキュベーションが終了した後に行なわれる、上記反
!)j 6度測定は化学分析用測光部により行なわれる
。上記測光部は、化学分析スライドの測定面に照射光を
照射する光源および測定面により反射された照射光の反
射光を受光する光センサを備えてなり、この先センサの
出力によって測定面の濃度を測定するようになっている
。
!)j 6度測定は化学分析用測光部により行なわれる
。上記測光部は、化学分析スライドの測定面に照射光を
照射する光源および測定面により反射された照射光の反
射光を受光する光センサを備えてなり、この先センサの
出力によって測定面の濃度を測定するようになっている
。
上記測光部において正確な1濃度測定を行なうためには
、照射光が所望の位置に入射し、かつ照射光の反射光が
光センサにより良好に受光されるように、光源および光
センサの位置決めを精度良く行なわなければならない。
、照射光が所望の位置に入射し、かつ照射光の反射光が
光センサにより良好に受光されるように、光源および光
センサの位置決めを精度良く行なわなければならない。
しかしながら、各測光部について1つずつ光源および光
センサの高精度な位置決めを行なう作業は煩雑であり、
かかる位置決めのために測光部の組立て時の作業性を思
うように高めることができないという問題がある。
センサの高精度な位置決めを行なう作業は煩雑であり、
かかる位置決めのために測光部の組立て時の作業性を思
うように高めることができないという問題がある。
(発明の目的)
本発明は上記のような問題点に鑑みてなされたものであ
り、光源と光センサの位置決めが容易に行なわれ、組立
作業性を向上させることのできる化学分析用測光部を提
供することを目的とするものである。
り、光源と光センサの位置決めが容易に行なわれ、組立
作業性を向上させることのできる化学分析用測光部を提
供することを目的とするものである。
(発明の構成)
本発明の化学分析用測光部は、前述した光源および光セ
ンサが単一のブロックに嵌め込まれてユニット化されて
なることを特徴とするものである。
ンサが単一のブロックに嵌め込まれてユニット化されて
なることを特徴とするものである。
すなわち、本発明の測光部によれば、光源および光セン
サはブロックに嵌め込まれるようになっているので、予
め光源J3よび光センサとの嵌合部を備えたブロックを
作っておけば、光源および光センサをブロックに嵌め込
むだけで組立てが完了し、各測光部について光源および
光センサの位置決めを行なう必要がなくなる。
サはブロックに嵌め込まれるようになっているので、予
め光源J3よび光センサとの嵌合部を備えたブロックを
作っておけば、光源および光センサをブロックに嵌め込
むだけで組立てが完了し、各測光部について光源および
光センサの位置決めを行なう必要がなくなる。
(実施態様)
以下、図面を参照して本発明の実77I!i態様につい
て説明する。
て説明する。
第1A図および第1B図は本発明の一実施態様による化
学分析用測光部の作用を説明するだめの概略側面図であ
る。
学分析用測光部の作用を説明するだめの概略側面図であ
る。
測光部1は単一のブロック2に光源3および複数の光セ
ンサ4が嵌め込まれてなり、支持部材6により、上面を
露出させて支持されている。上記測光部1により温度測
定が行なわれる化学分析用スライド5は、第2図に示す
ように、枠部5A内に、支持体、試′Ji1層、展開層
を積層してなる乾式多層フィルム5Bが収容されてなり
、裏面(図中上面)に測定面5aが形成されている。こ
のスライド5は表面に設けられた円孔(図示せず)から
前記フィルム5B上に尿、血液等の試料(被測定物質)
を所定量滴下された後、所定時間恒温保持゛ (インキ
ュベーション)されて呈色反応せしめられる。またスラ
イド5の裏面にはバーコード5bが記載されている。こ
のスライド5は裏面が前記支持部材6と接するように支
持部材上にU置される。
ンサ4が嵌め込まれてなり、支持部材6により、上面を
露出させて支持されている。上記測光部1により温度測
定が行なわれる化学分析用スライド5は、第2図に示す
ように、枠部5A内に、支持体、試′Ji1層、展開層
を積層してなる乾式多層フィルム5Bが収容されてなり
、裏面(図中上面)に測定面5aが形成されている。こ
のスライド5は表面に設けられた円孔(図示せず)から
前記フィルム5B上に尿、血液等の試料(被測定物質)
を所定量滴下された後、所定時間恒温保持゛ (インキ
ュベーション)されて呈色反応せしめられる。またスラ
イド5の裏面にはバーコード5bが記載されている。こ
のスライド5は裏面が前記支持部材6と接するように支
持部材上にU置される。
上記測光部1上には、第1A図に示すようにスライド5
の測光に先立って、スライド5の反射濃度測定値の誤差
を修正するための基準白板7Wおよび基準黒板7Bがレ
バー8によって移動せしめられ、測光部1はこれらの基
準白板7Wおよび基準黒板7Bの反射濃度を測定する。
の測光に先立って、スライド5の反射濃度測定値の誤差
を修正するための基準白板7Wおよび基準黒板7Bがレ
バー8によって移動せしめられ、測光部1はこれらの基
準白板7Wおよび基準黒板7Bの反射濃度を測定する。
続いて測光部1上にはスライド5がレバー8に押されて
移動せしめられるが、このスライド5は反gA濃度の測
定が行なわれる前に、支持部材6内に設けられたバーコ
ード読取手段9により、裏面に付されたバーコード5b
の読み取りが行なわれる。バーコード5bの読取りが終
了すると、第1B図に示すようにスライド5は、測光部
1上に移動せしめられて測定面5aの反射ff1lI!
l[測定が行なわれる。以下、第3図および第4図を参
照して本実施態様の測光部の構造について更に説明する
。
移動せしめられるが、このスライド5は反gA濃度の測
定が行なわれる前に、支持部材6内に設けられたバーコ
ード読取手段9により、裏面に付されたバーコード5b
の読み取りが行なわれる。バーコード5bの読取りが終
了すると、第1B図に示すようにスライド5は、測光部
1上に移動せしめられて測定面5aの反射ff1lI!
l[測定が行なわれる。以下、第3図および第4図を参
照して本実施態様の測光部の構造について更に説明する
。
第3図J3よび第4図はそれぞれ測光部1のブロック2
の断面図および底面図である。ブロック2にはその下部
の中央に光源用嵌合孔2Δが、その周囲に一例として4
つの光センサ用嵌合孔2Bが形成されている。タングス
テンランプ等の光源3および4つの光センサ4はそれぞ
れ前記光源用嵌合孔2Aおよび光センサ用嵌合孔2Bに
嵌め込まれてブロック2に取り付けられる。光源3はス
ライド5の測定に適した照射光を発し、この照射光は、
ブロック2内の照射光通路2Cを通過してスライド5の
測定部5aに、該測定面に垂直に入射する。測定部5a
により反射された照射光の反射光は、ブロック2内に形
成された反射光通路2Dを通過して各光センサ4に向か
う。ところで、光lI!3は、比較的広い波長領域に亘
る光を発するものであるが、測定に有効な波長は、スラ
イド5内の試料中の、測定が行なわれる成分によって異
なったものとなる。すなわち、ある測定成分の濃度が変
化した場合に測定面からの反射光の光量が最も顕著に変
化する波長の光は測定成分毎に異なっている。
の断面図および底面図である。ブロック2にはその下部
の中央に光源用嵌合孔2Δが、その周囲に一例として4
つの光センサ用嵌合孔2Bが形成されている。タングス
テンランプ等の光源3および4つの光センサ4はそれぞ
れ前記光源用嵌合孔2Aおよび光センサ用嵌合孔2Bに
嵌め込まれてブロック2に取り付けられる。光源3はス
ライド5の測定に適した照射光を発し、この照射光は、
ブロック2内の照射光通路2Cを通過してスライド5の
測定部5aに、該測定面に垂直に入射する。測定部5a
により反射された照射光の反射光は、ブロック2内に形
成された反射光通路2Dを通過して各光センサ4に向か
う。ところで、光lI!3は、比較的広い波長領域に亘
る光を発するものであるが、測定に有効な波長は、スラ
イド5内の試料中の、測定が行なわれる成分によって異
なったものとなる。すなわち、ある測定成分の濃度が変
化した場合に測定面からの反射光の光量が最も顕著に変
化する波長の光は測定成分毎に異なっている。
例えばグルコースの測定に対しては510rv *後の
光が最も有効である。従って光センサ4は測定項目に応
じて上記特定波長の光のみを選択的に受光すれば、測定
を行なうべき成分の濃度を最も効果的に測定することが
できる。光センサ4に特定の波長の反射光のみを入射さ
せるためには光センサ4の受光面上に、特定の波長の光
のみを選択的に入射させる干渉フィルタを形成すればよ
いが、測定を行なう項目は複数種類あり、測定項目が変
化するために、測定項目に応じた、特性の異なる干渉フ
ィルタを付は替えることは非常に面倒である。
光が最も有効である。従って光センサ4は測定項目に応
じて上記特定波長の光のみを選択的に受光すれば、測定
を行なうべき成分の濃度を最も効果的に測定することが
できる。光センサ4に特定の波長の反射光のみを入射さ
せるためには光センサ4の受光面上に、特定の波長の光
のみを選択的に入射させる干渉フィルタを形成すればよ
いが、測定を行なう項目は複数種類あり、測定項目が変
化するために、測定項目に応じた、特性の異なる干渉フ
ィルタを付は替えることは非常に面倒である。
そこで、上記測光部1は4つの光センサ4の各受光面上
に互いに選択的に透過する光の波長の異なる干渉フィル
タ10を設け、測定項目に応じて所望の特性の干渉フィ
ルタ10を有する光センサ4のみを用いて検出を行なう
ようになっている。このような測光部を用いれば各光セ
ンサ4の出力を電気的に切り換えるだけで項目に応じた
高精度な測定を容易に行なうことができる。このように
4つの光センサのうちの、選択された光センサからの出
力は、第1B図に示すように増幅器13およびA/D変
換器14へ送られた後、cpu c中央処理装置)15
に送られて処理され、このように測定された成分の濃度
は、必要に応じて外部の表示装置(図示せず)に表示さ
れたりする。なお、上記実施態様の測光部は1つの光源
3から射出された照射光の反射光を効率的に複数の位置
にある光センサ4に入射させることができるように、ス
ライド5に対向して配されているので、光源3による熱
がスライド5に影響することのないよう、スライド5の
測定面5aに対向する部分に断熱フィルタ11が設けら
れている。
に互いに選択的に透過する光の波長の異なる干渉フィル
タ10を設け、測定項目に応じて所望の特性の干渉フィ
ルタ10を有する光センサ4のみを用いて検出を行なう
ようになっている。このような測光部を用いれば各光セ
ンサ4の出力を電気的に切り換えるだけで項目に応じた
高精度な測定を容易に行なうことができる。このように
4つの光センサのうちの、選択された光センサからの出
力は、第1B図に示すように増幅器13およびA/D変
換器14へ送られた後、cpu c中央処理装置)15
に送られて処理され、このように測定された成分の濃度
は、必要に応じて外部の表示装置(図示せず)に表示さ
れたりする。なお、上記実施態様の測光部は1つの光源
3から射出された照射光の反射光を効率的に複数の位置
にある光センサ4に入射させることができるように、ス
ライド5に対向して配されているので、光源3による熱
がスライド5に影響することのないよう、スライド5の
測定面5aに対向する部分に断熱フィルタ11が設けら
れている。
ところで、スライド5の所望の位置に照射光が入射し、
光センサにより照射光の反射光が効率的に検出されるよ
うにするためには、光源および光センサの位置決めを正
確に行なう必要がある。これらの部材の正確な位置決め
を各測定部毎に行なうことは非常に煩雑な作業であり、
特に上記実施態様の測光部1のように、複数の光センサ
が設けられている場合にはその位置決めは一層面倒なも
のとなる。そこで、本実施態様の測光部1は、前述のよ
うに光源3および光センサ4がブロック2に嵌め込まれ
てユニット化されてJ3す、煩雑な位置決めを行なう必
要のないものとなっている。前記ブロック2には前記光
源用嵌合孔2八および光センサ用嵌合孔2Bが形成され
ているので、測光部1を組み立てる際には光源3.15
よび光センサ4を各嵌合孔に沿ってブロック2に1■合
させることによって容易に正確な位置に配置せしめるこ
とができる。従って同一形状のブロックを多数作成して
おけば、各ブロックに光源および光センサを嵌め込むだ
けで、複雑な位′a調整を行なうことなく極めて容易に
高精度な測光部を多数組み立てることができる。
光センサにより照射光の反射光が効率的に検出されるよ
うにするためには、光源および光センサの位置決めを正
確に行なう必要がある。これらの部材の正確な位置決め
を各測定部毎に行なうことは非常に煩雑な作業であり、
特に上記実施態様の測光部1のように、複数の光センサ
が設けられている場合にはその位置決めは一層面倒なも
のとなる。そこで、本実施態様の測光部1は、前述のよ
うに光源3および光センサ4がブロック2に嵌め込まれ
てユニット化されてJ3す、煩雑な位置決めを行なう必
要のないものとなっている。前記ブロック2には前記光
源用嵌合孔2八および光センサ用嵌合孔2Bが形成され
ているので、測光部1を組み立てる際には光源3.15
よび光センサ4を各嵌合孔に沿ってブロック2に1■合
させることによって容易に正確な位置に配置せしめるこ
とができる。従って同一形状のブロックを多数作成して
おけば、各ブロックに光源および光センサを嵌め込むだ
けで、複雑な位′a調整を行なうことなく極めて容易に
高精度な測光部を多数組み立てることができる。
なJ3、ブロック2は、光WA3および光センサ4を確
実に支持することのできるものであれば任意の材質によ
り形成することができるが、ブロック2を金属等、熱伝
導性の高いものにより形成すれば、光IQ3は前述のよ
うに熱を発するものであるので、光a3の熱を利用して
測光部をインキュベータとしても用いることができる。
実に支持することのできるものであれば任意の材質によ
り形成することができるが、ブロック2を金属等、熱伝
導性の高いものにより形成すれば、光IQ3は前述のよ
うに熱を発するものであるので、光a3の熱を利用して
測光部をインキュベータとしても用いることができる。
すなわち、第1B図に示されるように測光部1上に配さ
れたスライド5は外部のインキュベータにより既に恒温
保持されたものであってもよいが、ブロック2が金属等
により形成されている場合には測光部1上でインキュベ
ーションが行なわれてもよい。測光部1上でインキュベ
ーションを行なう場合には、例えばブロック2内に温度
センサを設置プるとともに、この温度センサからの出力
に応じて光源3を点滅させてスライド5を保持する温度
を一定に保つ制御回路(前記CP U 15であっても
よい)を設けてスライド5を所定時間恒温保持する。こ
のインキュベーションが終了した債、光源3を前述した
ような本来の照射光照射用として用い、光センサを作動
させて!1度測定を行なうようにする。このように光源
をブロックに嵌め込めば、測光部上においてインキュベ
ーションを完了することも可能となり、別途インキュベ
ータを設ける必要が無くなるのでシステム全体を小型化
、簡略化させることができるという効果も奏する。この
場合には前記支持部材6は、測光部1に至る前のスライ
ドに熱の影響が及ばないようにまた無駄な放熱を防ぐた
めに断熱材により形成されることが望ましい。
れたスライド5は外部のインキュベータにより既に恒温
保持されたものであってもよいが、ブロック2が金属等
により形成されている場合には測光部1上でインキュベ
ーションが行なわれてもよい。測光部1上でインキュベ
ーションを行なう場合には、例えばブロック2内に温度
センサを設置プるとともに、この温度センサからの出力
に応じて光源3を点滅させてスライド5を保持する温度
を一定に保つ制御回路(前記CP U 15であっても
よい)を設けてスライド5を所定時間恒温保持する。こ
のインキュベーションが終了した債、光源3を前述した
ような本来の照射光照射用として用い、光センサを作動
させて!1度測定を行なうようにする。このように光源
をブロックに嵌め込めば、測光部上においてインキュベ
ーションを完了することも可能となり、別途インキュベ
ータを設ける必要が無くなるのでシステム全体を小型化
、簡略化させることができるという効果も奏する。この
場合には前記支持部材6は、測光部1に至る前のスライ
ドに熱の影響が及ばないようにまた無駄な放熱を防ぐた
めに断熱材により形成されることが望ましい。
なお、本発明の測光部にJ3ける光源および光センサの
数および配置は上述した実施態様にJ3いて示したもの
に限られるものではなく、良好にブロックに嵌め込まれ
ることのできるものであれば任意に設定することができ
る。
数および配置は上述した実施態様にJ3いて示したもの
に限られるものではなく、良好にブロックに嵌め込まれ
ることのできるものであれば任意に設定することができ
る。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明の化学分析用測光部によれ
ば光源および光センサがブロックに嵌め込まれてユニッ
ト化されていることにより、測光部毎に光源および光セ
ンサの正確な位置決めを行なう必要が無くなり、組立作
業性を大きく向上させることができる。またブロックの
材質を熱伝導性の高いものにすれば測光部をインキュベ
ータとして用いることも可能となる。
ば光源および光センサがブロックに嵌め込まれてユニッ
ト化されていることにより、測光部毎に光源および光セ
ンサの正確な位置決めを行なう必要が無くなり、組立作
業性を大きく向上させることができる。またブロックの
材質を熱伝導性の高いものにすれば測光部をインキュベ
ータとして用いることも可能となる。
第1A図および第1B図は本発明の一実施態様による化
学分析用測光部の作用を説明する概略側面図、 第2図は化学分析スライドを示す斜視図、第3図は上記
実施態様による化学分析用測光部のブロックの断面図、 第4図は上記ブロックの底面図である。 1・・・化学分析用測光部 2・・・ブロック3・・・
光源 4・・・光センサ5・・・化学分析
スライド 5a・・・測定面第1Aj!! 第七図 第2図
学分析用測光部の作用を説明する概略側面図、 第2図は化学分析スライドを示す斜視図、第3図は上記
実施態様による化学分析用測光部のブロックの断面図、 第4図は上記ブロックの底面図である。 1・・・化学分析用測光部 2・・・ブロック3・・・
光源 4・・・光センサ5・・・化学分析
スライド 5a・・・測定面第1Aj!! 第七図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)試料を収容してなる化学分析スライドの測定面に照
射光を照射する光源、および前記測定面により反射され
た照射光の反射光を受光する光センサを備え、該光セン
サの出力により前記測定面の濃度測定を行なう化学分析
用測光部において、前記光源および光センサが単一のブ
ロックに嵌め込まれてユニット化されてなることを特徴
とする化学分析用測光部。 2)前記光源が前記測定面の配される位置に対向して設
けられ、前記光センサが前記反射光を受光可能な位置に
複数個設けられていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の化学分析用測光部。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6187086A JPS62217144A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | 化学分析用測光部 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6187086A JPS62217144A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | 化学分析用測光部 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62217144A true JPS62217144A (ja) | 1987-09-24 |
Family
ID=13183588
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6187086A Pending JPS62217144A (ja) | 1986-03-19 | 1986-03-19 | 化学分析用測光部 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62217144A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11326192A (ja) * | 1998-04-20 | 1999-11-26 | Bayer Corp | 光成形板を備えた測光式読取りヘッド |
JP2019078720A (ja) * | 2017-10-27 | 2019-05-23 | 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及びモニタリングシステム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5240193A (en) * | 1975-09-25 | 1977-03-28 | Toshiba Betsukuman Kk | Dividing lens and automatic analysis device with it |
JPS546387A (en) * | 1977-06-16 | 1979-01-18 | Aroozu Kk | Reflecting oximeter |
JPS5555233A (en) * | 1978-10-13 | 1980-04-23 | Tobias Philip E | Scanning head which irradiates white light upon region of sheettlike piece |
-
1986
- 1986-03-19 JP JP6187086A patent/JPS62217144A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5240193A (en) * | 1975-09-25 | 1977-03-28 | Toshiba Betsukuman Kk | Dividing lens and automatic analysis device with it |
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JP2019078720A (ja) * | 2017-10-27 | 2019-05-23 | 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及びモニタリングシステム |
US11635373B2 (en) | 2017-10-27 | 2023-04-25 | Japan Aerospace Exploration Agency | Information processing apparatus, information processing method, program, and monitoring system |
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