JPS6220340U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6220340U JPS6220340U JP11110585U JP11110585U JPS6220340U JP S6220340 U JPS6220340 U JP S6220340U JP 11110585 U JP11110585 U JP 11110585U JP 11110585 U JP11110585 U JP 11110585U JP S6220340 U JPS6220340 U JP S6220340U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- calculation
- comparing
- signal
- temperature sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
第1図は本考案の全体のブロツク図、第2図は
一実施例を示す機能ブロツク図、第3図は他の実
施例を示す機能ブロツク図である。 1……第1の温度検出器、2……第2の温度検
出器、3……演算手段、4……設定手段、5……
比較手段。
一実施例を示す機能ブロツク図、第3図は他の実
施例を示す機能ブロツク図である。 1……第1の温度検出器、2……第2の温度検
出器、3……演算手段、4……設定手段、5……
比較手段。
Claims (1)
- 所定箇所の温度を検出する第1の温度検出器と
、該所定箇所と同一の箇所の温度を検出する第2
の温度検出器と、該第1及び第2の温度検出器か
らの検出信号が入力される演算手段と、所定の設
定値が設定された設定手段と、該演算手段からの
出力された演算値と該設定手段に設定された設定
値とを比較する比較手段とを具備し、前記演算手
段によつて前記第1の温度検出器からの信号と前
記第2の温度検出器からの信号との信号差を演算
し、その演算して得られた演算値と設定手段に設
定された設定値とを比較手段によつて比較するこ
とにより前記第1の温度検出器の劣化を検出する
ことを特徴とする温度検出器の劣化検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11110585U JPS6220340U (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11110585U JPS6220340U (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6220340U true JPS6220340U (ja) | 1987-02-06 |
Family
ID=30990719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11110585U Pending JPS6220340U (ja) | 1985-07-22 | 1985-07-22 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6220340U (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02195217A (ja) * | 1989-01-25 | 1990-08-01 | Ohkura Electric Co Ltd | 温度検出器劣化補正装置 |
JPH02194410A (ja) * | 1989-01-24 | 1990-08-01 | Ohkura Electric Co Ltd | センサ特性補償形温度制御方法及び装置 |
JP2010256166A (ja) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Chino Corp | 温度センサ |
JP2016102688A (ja) * | 2014-11-27 | 2016-06-02 | セイコーエプソン株式会社 | 電子部品搬送装置、電子部品検査装置および電子部品押圧装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4895279A (ja) * | 1972-03-17 | 1973-12-06 | ||
JPS5110112A (ja) * | 1974-07-16 | 1976-01-27 | Sumitomo Chemical Co | Aruminiumudenkairono yokyokusochi |
JPS5376876A (en) * | 1976-12-20 | 1978-07-07 | Fujitsu Ltd | Measuring mthod for deterioration of thermocouple |
-
1985
- 1985-07-22 JP JP11110585U patent/JPS6220340U/ja active Pending
Patent Citations (3)
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