JPS62185128A - 測光・測色装置 - Google Patents
測光・測色装置Info
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- JPS62185128A JPS62185128A JP61027407A JP2740786A JPS62185128A JP S62185128 A JPS62185128 A JP S62185128A JP 61027407 A JP61027407 A JP 61027407A JP 2740786 A JP2740786 A JP 2740786A JP S62185128 A JPS62185128 A JP S62185128A
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/51—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors using colour filters
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は光源による照度(光源によって照明された被照
面の照度)や光源の分光分布・輝度・色度、ならびに光
源によって照明された物体表面の輝度・色度を高精度に
測定し得る測光・測色装置に関する。
面の照度)や光源の分光分布・輝度・色度、ならびに光
源によって照明された物体表面の輝度・色度を高精度に
測定し得る測光・測色装置に関する。
(従来の技術)
光源による照度は、一般的には照度計を用いて41す定
される。しかして計量法によって規定される照度計の規
格では、分光応答度の特性に対する許容誤差に相当する
色補正係数の範囲は、波長400〜700 nmの範囲
において、0.98〜1.02とされている。
される。しかして計量法によって規定される照度計の規
格では、分光応答度の特性に対する許容誤差に相当する
色補正係数の範囲は、波長400〜700 nmの範囲
において、0.98〜1.02とされている。
このように分光応答度の許容誤差を小さく規定していな
い背景には、その分光応答度をCIE標準比視感度V(
λ)に合せる為の視感度補正フィルタの分光透過率の問
題がある。
い背景には、その分光応答度をCIE標準比視感度V(
λ)に合せる為の視感度補正フィルタの分光透過率の問
題がある。
この為、このような値(特性)を満たすだけの照度計を
用いて光源の照度を測定すると、光源の分光分布の異な
りによって数%の測定誤差を生じることが否めない。つ
まり測光の観点からすれば、十分な測定精度が得られな
いと云う問題がある。
用いて光源の照度を測定すると、光源の分光分布の異な
りによって数%の測定誤差を生じることが否めない。つ
まり測光の観点からすれば、十分な測定精度が得られな
いと云う問題がある。
さて第4図は従来一般的な照度計の概略構成を示すもの
で、受光素子1の前面に入射光を拡散し、且つ斜め方向
からの入射光に対する補正、つまり色補正を行う為の、
例えば乳白板からなる透過拡散板2、および視感度補正
フィルタ3を配置して構成される。
で、受光素子1の前面に入射光を拡散し、且つ斜め方向
からの入射光に対する補正、つまり色補正を行う為の、
例えば乳白板からなる透過拡散板2、および視感度補正
フィルタ3を配置して構成される。
この視感度補正フィルタ3は、通常、複数枚の色ガラス
フィルタを重ねて構成される。そしてその分光透過率は
、該視感度補正フィルタ3を前記透過拡散板2と共に受
光索子1に重ね合せたとき、照度計全体としての分光応
答度が前記CIE標阜比現感度V(λ)に近似するよう
に定められる。
フィルタを重ねて構成される。そしてその分光透過率は
、該視感度補正フィルタ3を前記透過拡散板2と共に受
光索子1に重ね合せたとき、照度計全体としての分光応
答度が前記CIE標阜比現感度V(λ)に近似するよう
に定められる。
尚、この視感度補正フィルタ3の分光透過率の設定は、
その色フィルタの肉厚をそれぞれ調整することによって
行われる。
その色フィルタの肉厚をそれぞれ調整することによって
行われる。
ところがこのようにして上記各色フィルタの肉厚を調整
しても、これによって実現される照度系の分光応答度は
、例えば第5図中破線すに示す如き特性となるだけであ
り、同図中実線aで示すCIE標準比視感度V(λ)と
の間に誤差が生じることが否めない。この誤差は、前記
色フィルタの肉厚に対する分光透過率の変化に起因する
ものであり、その程度は上記分光透過率の特性によって
制限を受ける。
しても、これによって実現される照度系の分光応答度は
、例えば第5図中破線すに示す如き特性となるだけであ
り、同図中実線aで示すCIE標準比視感度V(λ)と
の間に誤差が生じることが否めない。この誤差は、前記
色フィルタの肉厚に対する分光透過率の変化に起因する
ものであり、その程度は上記分光透過率の特性によって
制限を受ける。
一方、このような照度計を用いることなく照度をJul
定する方法がある。即ち、分光測光法と称される方法で
あって、例えば第6図(a)に示すように入射スリット
4を介して入力された光を分散プリズム5にて分光し、
射出スリット6を介して選択的に取出される所定波長の
光だけを受光器7により受光して測光するものである。
定する方法がある。即ち、分光測光法と称される方法で
あって、例えば第6図(a)に示すように入射スリット
4を介して入力された光を分散プリズム5にて分光し、
射出スリット6を介して選択的に取出される所定波長の
光だけを受光器7により受光して測光するものである。
また第6図(b)に示すように、入射スリット4を介し
て入力された光を回折格子8により分光し、これを複数
の受光素子を配列してなる受光器9により、互いに異な
る波長の光をそれぞれ受光検出して測光するものである
。
て入力された光を回折格子8により分光し、これを複数
の受光素子を配列してなる受光器9により、互いに異な
る波長の光をそれぞれ受光検出して測光するものである
。
このような方法によれば、試料光源に対する各測定波長
における光電出力を、分光照度標準光源の各波長におけ
る光電出力と比較することによりて、上記試料光源によ
る照度を求めることが可能となる。即ち、試料光源によ
る照度を求めようとする受光面において、波長λにおけ
る分光放射照度標準光源の分光放射照度をE (λ)、
それに対する光電出力をi (λ)とするとき、試料
光源に対する光電出力がi (λ)であれば、その試
料光源による照度E は となる。しかし、一般的にはスリット波長幅Δλを、波
長によらず一定とし、それと等しい波長間隔でそのAp
l光が行われる。この為、実用的には試料光源による照
度E は として近似的に求められる。
における光電出力を、分光照度標準光源の各波長におけ
る光電出力と比較することによりて、上記試料光源によ
る照度を求めることが可能となる。即ち、試料光源によ
る照度を求めようとする受光面において、波長λにおけ
る分光放射照度標準光源の分光放射照度をE (λ)、
それに対する光電出力をi (λ)とするとき、試料
光源に対する光電出力がi (λ)であれば、その試
料光源による照度E は となる。しかし、一般的にはスリット波長幅Δλを、波
長によらず一定とし、それと等しい波長間隔でそのAp
l光が行われる。この為、実用的には試料光源による照
度E は として近似的に求められる。
(発明が解決しようとする問題点)
ところが第6図(a)に示す構成の分光a1光装置にあ
っては、射出スリット6を介して選択的に取出される光
の波長は、分散プリズム5の回転角度により決定される
。しかし、選択的に取出される波長と分散プリズム5の
回転角度との対応関係を高精度に規定することが非常に
困難であった。
っては、射出スリット6を介して選択的に取出される光
の波長は、分散プリズム5の回転角度により決定される
。しかし、選択的に取出される波長と分散プリズム5の
回転角度との対応関係を高精度に規定することが非常に
困難であった。
また第6図(b)に示す分光測光装置にあっては、回折
格子8によって回折される光の波長と、その回折光が入
射する受光素子との位置関係を高精度に定めることが非
常に困難であった。
格子8によって回折される光の波長と、その回折光が入
射する受光素子との位置関係を高精度に定めることが非
常に困難であった。
つまり第6図に示されるような従来の分光測光装置にあ
っては、その光学系と機械系とをそれぞれ高精度に調整
することが必要であり、装置が大掛りな構成となること
が否めない。これ故、その可搬性にも問題があった。し
かも、例えば頻繁に場所を変えて測光するような場合、
その都度、その調整が正しくなされているか否かを確認
することが必要となり、取扱い性の点でも問題があった
。
っては、その光学系と機械系とをそれぞれ高精度に調整
することが必要であり、装置が大掛りな構成となること
が否めない。これ故、その可搬性にも問題があった。し
かも、例えば頻繁に場所を変えて測光するような場合、
その都度、その調整が正しくなされているか否かを確認
することが必要となり、取扱い性の点でも問題があった
。
またこのような不具合は、輝度計や色彩計にあっても同
様に存在している。
様に存在している。
[発明の構成]
(問題点を解決する為の手段)
本発明はこのような問題点を解消するべく、被測定物か
らの光を光束積分球、透過拡散板、または反射拡散板に
て拡散し、この拡散された光を、互いに異なる波長域の
光成分をそれぞれ選択的に透過する光学フィルタ層をそ
の受光面の前面に設けた1夏数の単位受光器にてそれぞ
れ受光するようにし、これらの各単位受光器の光電出力
のレベルをJ、!J 直して、前記被測定物からの光を
測定するようにしたものである。
らの光を光束積分球、透過拡散板、または反射拡散板に
て拡散し、この拡散された光を、互いに異なる波長域の
光成分をそれぞれ選択的に透過する光学フィルタ層をそ
の受光面の前面に設けた1夏数の単位受光器にてそれぞ
れ受光するようにし、これらの各単位受光器の光電出力
のレベルをJ、!J 直して、前記被測定物からの光を
測定するようにしたものである。
(作用)
このように構成された測光・測色装置によれば、各14
位受光器は拡散された光から光学フィルタ層を介してそ
れぞれ抽出される特定波長域の光成分をそれぞれ検出す
ることになり、またその光電出力はレベル調整されて取
出される。
位受光器は拡散された光から光学フィルタ層を介してそ
れぞれ抽出される特定波長域の光成分をそれぞれ検出す
ることになり、またその光電出力はレベル調整されて取
出される。
従って、例えば等エネルギ白色光に対する前記各単位受
光器の光電出力レベルを、全体としてCIE標阜比視感
度またはCIE等色関数を近似するように設定すれば、
これによって光源による照度、光源の輝度・色度、また
光源によって照明された物体表面の輝度・色度をそれぞ
れ高精度に/IJl定することが可能となる。
光器の光電出力レベルを、全体としてCIE標阜比視感
度またはCIE等色関数を近似するように設定すれば、
これによって光源による照度、光源の輝度・色度、また
光源によって照明された物体表面の輝度・色度をそれぞ
れ高精度に/IJl定することが可能となる。
また等エネルギ白色光に対する前記各単位受光器の光電
出力レベルを、全体として所望の波長域に亙って等しく
設定することによって、光源の分光分布を高精度に測定
することが可能となる。
出力レベルを、全体として所望の波長域に亙って等しく
設定することによって、光源の分光分布を高精度に測定
することが可能となる。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例につき説明する。
第1図は第1の実施例装置の概略構成を示すもので、(
a)はその全体図、(b)は受光器部の構成、そして(
c)(d)は受光器部を構成する単位受光器の構造を示
している。
a)はその全体図、(b)は受光器部の構成、そして(
c)(d)は受光器部を構成する単位受光器の構造を示
している。
この装置は、第1図(a)に示すように光源、または光
源により照明された物体表面からの被71?1定光を受
光する受光箱11と、この受光箱11に設けられた受光
器部12を構成する複数の単位受光器からの各光電出力
をレベル調整して演算する演算部13、この演算部13
の出力を受けて表示部14を駆動し、前記被測定光に対
する測光・測色結果を表示させる表示駆動部15によっ
て構成される。
源により照明された物体表面からの被71?1定光を受
光する受光箱11と、この受光箱11に設けられた受光
器部12を構成する複数の単位受光器からの各光電出力
をレベル調整して演算する演算部13、この演算部13
の出力を受けて表示部14を駆動し、前記被測定光に対
する測光・測色結果を表示させる表示駆動部15によっ
て構成される。
受光箱11は、その内面を電解研磨したA、l?面で構
成した筒体17の一方の開口端に透過拡散板IBを装管
し、被測定光の導入面としている。そしてこの透過拡散
板16を介して受光箱11の内部に導入し、且つ拡散し
た光を上記AI!面にて多重反射しながら筒体17の他
端部に導き、そこに装着された前記受、゛―器部12を
構成する複数の単位受光器18にそれぞれ均一に導入し
ている。
成した筒体17の一方の開口端に透過拡散板IBを装管
し、被測定光の導入面としている。そしてこの透過拡散
板16を介して受光箱11の内部に導入し、且つ拡散し
た光を上記AI!面にて多重反射しながら筒体17の他
端部に導き、そこに装着された前記受、゛―器部12を
構成する複数の単位受光器18にそれぞれ均一に導入し
ている。
IV数の単位受光器18によって構成される受光器部1
2は、第1図(b)に示すように、例えば32個の単位
受光器18−0.18−1.18−2.〜18−31を
、その受光面を前記透過拡散板IB側に向けて配列した
もので、前述した拡散光をそれぞれ受光するものとなっ
ている。
2は、第1図(b)に示すように、例えば32個の単位
受光器18−0.18−1.18−2.〜18−31を
、その受光面を前記透過拡散板IB側に向けて配列した
もので、前述した拡散光をそれぞれ受光するものとなっ
ている。
これらの単位受光器18−j (j−0,1,2,〜3
1)は、例えば第1図(c)(d)に示すように3つの
受光素子21a、21b、21cを一体化し、これらの
各受光素子21a、21b、21cの光電出力の和を、
その単位受光器18−j (1−0,1,2,〜31)
の光電出力として求めるようにそれぞれ構成されている
。そして単位受光器18−Oは、第1図(c)に示すよ
うにその受光素子21a、21b、21cの前面全体を
黒色の遮光膜22にて覆って構成され、また残りの単位
受光器1g−j(j=l、2.〜31)は、第1図(d
)に示すようにその受光素子21a、21b、21cの
前面全体を、例えば金属干渉フィルタからなる色フィル
タ層23にてそれぞれ覆って構成されている。
1)は、例えば第1図(c)(d)に示すように3つの
受光素子21a、21b、21cを一体化し、これらの
各受光素子21a、21b、21cの光電出力の和を、
その単位受光器18−j (1−0,1,2,〜31)
の光電出力として求めるようにそれぞれ構成されている
。そして単位受光器18−Oは、第1図(c)に示すよ
うにその受光素子21a、21b、21cの前面全体を
黒色の遮光膜22にて覆って構成され、また残りの単位
受光器1g−j(j=l、2.〜31)は、第1図(d
)に示すようにその受光素子21a、21b、21cの
前面全体を、例えば金属干渉フィルタからなる色フィル
タ層23にてそれぞれ覆って構成されている。
これらの色フィルタ層23の分光透過率は、例えば第2
図に示すように各単位受光器 18−j(j−1,2,
〜31)毎に相互に異ならせて設定されており、400
,410,420.〜700 nmを中心とする半値幅
が略10r++nの各波長域の光成分をそれぞれ選択的
に透過するものとなっている。従って前記各単位受光器
18−j (j=1.2.〜31)は、それぞれ400
,410゜420、〜70011111を中心とする半
値幅が略10nIIIの各波長域の光成分をそれぞれ選
択的に受光検出、その光電出力i、(j=1.2.〜3
1)を得るようになっている。
図に示すように各単位受光器 18−j(j−1,2,
〜31)毎に相互に異ならせて設定されており、400
,410,420.〜700 nmを中心とする半値幅
が略10r++nの各波長域の光成分をそれぞれ選択的
に透過するものとなっている。従って前記各単位受光器
18−j (j=1.2.〜31)は、それぞれ400
,410゜420、〜70011111を中心とする半
値幅が略10nIIIの各波長域の光成分をそれぞれ選
択的に受光検出、その光電出力i、(j=1.2.〜3
1)を得るようになっている。
尚、前記単位受光器18−0は、その受光素子21a。
21b、21cの前面全体を覆う黒色の遮光膜22にて
前述した拡散光を遮光するものとなっているから、受光
索子21a、21b、21cの暗電流に相当した出力t
oを得ることになる。
前述した拡散光を遮光するものとなっているから、受光
索子21a、21b、21cの暗電流に相当した出力t
oを得ることになる。
このような複数の単位受光器 18−j(j”o、l、
2.〜31)からの光電出力i。
2.〜31)からの光電出力i。
(j−0,1,2,〜31)をそれぞれ入力する前記演
算部13は、拡散光を受光してなる各単位受光器18−
j(j−1,2,〜31)からの光電出力i、(j−1
,2,〜31)から、前記単位受光器18−0から求め
られる光電出力−。に所定の比例係数kjを乗じた値を
差引き、(i、−に、 ・to) j として、各単位受光器18−j (j=1.2.〜31
)の光電変換特性のばらつきをそれぞれ補正している。
算部13は、拡散光を受光してなる各単位受光器18−
j(j−1,2,〜31)からの光電出力i、(j−1
,2,〜31)から、前記単位受光器18−0から求め
られる光電出力−。に所定の比例係数kjを乗じた値を
差引き、(i、−に、 ・to) j として、各単位受光器18−j (j=1.2.〜31
)の光電変換特性のばらつきをそれぞれ補正している。
つまり上記比例係数に、は、前記被測定物からの入射光
(被測定光)を遮断したとき、 (i、−に、 ◆to) J を零とする為の光電変換特性補正係数である。この補正
処理によって、前記各単位受光器18−J(j−1,2
,〜31)の光電出力i、 (j−1,2,〜31)
に含まれる、主として熱擾乱に起因する雑音成分(暗電
流成分)が除去される。
(被測定光)を遮断したとき、 (i、−に、 ◆to) J を零とする為の光電変換特性補正係数である。この補正
処理によって、前記各単位受光器18−J(j−1,2
,〜31)の光電出力i、 (j−1,2,〜31)
に含まれる、主として熱擾乱に起因する雑音成分(暗電
流成分)が除去される。
しかして演算部13は、雑音成分を除去した前記各単位
受光器18−j (j−1,2,〜31)からの光電出
力(i、−に、 φi ) ;j−1,2,〜
31J J O に対して、それらが全体として等エネルギ白色光を受光
したとき、CIE標準比視感度を近似する分光特性とな
るような重み係数W、をそれぞれ乗じてレベル調整し、
その総和Iを次のように求めている。
受光器18−j (j−1,2,〜31)からの光電出
力(i、−に、 φi ) ;j−1,2,〜
31J J O に対して、それらが全体として等エネルギ白色光を受光
したとき、CIE標準比視感度を近似する分光特性とな
るような重み係数W、をそれぞれ乗じてレベル調整し、
その総和Iを次のように求めている。
1= −X−w、(i、−に、−to)j、4
J J J このようにして演算部L3にて求められた値Iが、前述
した表示部14にて、前記被測定光に対する照度の測定
結果として出力表示される。
J J J このようにして演算部L3にて求められた値Iが、前述
した表示部14にて、前記被測定光に対する照度の測定
結果として出力表示される。
このように本装置によれば、被測定光は透過拡散板16
にて拡散され、複数の単位受光器18−j(j=1.2
.〜31)にてそれぞれ均一に受光され、且つ各単位受
光器18−j (j=1.2.〜31)にて波長半値幅
を等しくしながら波長域選択されてそれぞれ受光される
。
にて拡散され、複数の単位受光器18−j(j=1.2
.〜31)にてそれぞれ均一に受光され、且つ各単位受
光器18−j (j=1.2.〜31)にて波長半値幅
を等しくしながら波長域選択されてそれぞれ受光される
。
その上で上述したように雑音成分が除去され、重み係数
W、の乗算によってレベル調整されて、その全体に亙る
分光特性がCIE標準比視感度を近似するように定めら
れた後に加算されるので、これによって直ちに、しかも
高精度に光源による照度の測定値を上記演算値Iとして
得ることが可能となる。
W、の乗算によってレベル調整されて、その全体に亙る
分光特性がCIE標準比視感度を近似するように定めら
れた後に加算されるので、これによって直ちに、しかも
高精度に光源による照度の測定値を上記演算値Iとして
得ることが可能となる。
ちなみに本発明者等の実験によれば、光度標準電球を用
いて本装置を校正し、つまり比例係数に1、および重み
係数W、をそれぞれ設定し、しJ
Jかる後、各種の傾向ランプ
による照度を計測したところ、分光測光値からのずれ量
が± 0.1%以内であり、実用上十分な精度でその測
光を行い得ることが確認された。
いて本装置を校正し、つまり比例係数に1、および重み
係数W、をそれぞれ設定し、しJ
Jかる後、各種の傾向ランプ
による照度を計測したところ、分光測光値からのずれ量
が± 0.1%以内であり、実用上十分な精度でその測
光を行い得ることが確認された。
さて第3図は本発明の別の実施例を示す図である。
この実施例装置は、例えばレンズやミラー等によって構
成される光学系30を介して光源がらの光を積分球3I
の内壁面に導いて拡散し、その射出窓32から取出され
る拡散光をレンズ33、ビームスプリッタ34a、34
b 、および全反射プリズム35を介して3つの受光器
部38a、 38b、 36cにそれぞれ導くようにし
て構成される。
成される光学系30を介して光源がらの光を積分球3I
の内壁面に導いて拡散し、その射出窓32から取出され
る拡散光をレンズ33、ビームスプリッタ34a、34
b 、および全反射プリズム35を介して3つの受光器
部38a、 38b、 36cにそれぞれ導くようにし
て構成される。
これらの受光器部3Ba、 3[ib 、 3Bcは、
前述した第1図(b)〜(d)に示すものと同様に複数
の単位受光器18−j (j=0.1,2.〜31)に
よってそれぞれ構成されている。また前記積分球31の
射出窓32は、上記各受光器部36a、3(fb、3B
cの受光面形状に合せて、第3図(b)に示すように矩
形状に形成されている。
前述した第1図(b)〜(d)に示すものと同様に複数
の単位受光器18−j (j=0.1,2.〜31)に
よってそれぞれ構成されている。また前記積分球31の
射出窓32は、上記各受光器部36a、3(fb、3B
cの受光面形状に合せて、第3図(b)に示すように矩
形状に形成されている。
しかしてこの装置における演算部13は、受光器部3[
ia、 3Gb、 38cにおける各単位受光器 18
−j(j=1,2.〜31)の光電出力i、を、単位受
光器18−0の光電出力i。にて (i、 −に、 ・ i ) ;j−1
,2,〜31JJ O としてそれぞれ補正している。
ia、 3Gb、 38cにおける各単位受光器 18
−j(j=1,2.〜31)の光電出力i、を、単位受
光器18−0の光電出力i。にて (i、 −に、 ・ i ) ;j−1
,2,〜31JJ O としてそれぞれ補正している。
そして第1の受光器部36aの雑音成分が除去された各
単位受光器18−j (j=1,2.〜31)からの光
電出力に対して、それらが全体として、等エネルギ白色
光を受光したときのCIE等色関数Y(λ)を近似した
分光特性となるようにその重み係数W t =を設定し
、その重み係数wljに従ってレベル調整してその総和
11を 1− Σ w (i、−に、 oio)1 j
、1 1J J Jとして求めている。
単位受光器18−j (j=1,2.〜31)からの光
電出力に対して、それらが全体として、等エネルギ白色
光を受光したときのCIE等色関数Y(λ)を近似した
分光特性となるようにその重み係数W t =を設定し
、その重み係数wljに従ってレベル調整してその総和
11を 1− Σ w (i、−に、 oio)1 j
、1 1J J Jとして求めている。
また第2および第3の受光器部3Bb、36cについて
は、その雑音成分が除去された各単位受光器18−j
(j=1,2.〜31)からの光電出力に対して、それ
らが全体として、等エネルギ白色光を受光したときのC
IE等色関数7(λ)、T(λ)を近似した分光特性と
なるようにその重み係数 W 2 j。
は、その雑音成分が除去された各単位受光器18−j
(j=1,2.〜31)からの光電出力に対して、それ
らが全体として、等エネルギ白色光を受光したときのC
IE等色関数7(λ)、T(λ)を近似した分光特性と
なるようにその重み係数 W 2 j。
W 、を設定し、同様にしてその総和1 、I を
J23 求めている。
J23 求めている。
このようにして求められる値1 、I 、1は、そ
れぞれ三刺激値x、y、zに対応したものとなり、従っ
てこれらの各位1 、I 、I から、光源の色
度座標x、yを x −X/(X+Y+Z) −■ /(■1+12+13) ■ Y −Y/ (X十Y+Z) −I2/(11+12+■3) を直ちに求め、これを前記表示部14にて表示すること
が可能となる。
れぞれ三刺激値x、y、zに対応したものとなり、従っ
てこれらの各位1 、I 、I から、光源の色
度座標x、yを x −X/(X+Y+Z) −■ /(■1+12+13) ■ Y −Y/ (X十Y+Z) −I2/(11+12+■3) を直ちに求め、これを前記表示部14にて表示すること
が可能となる。
本発明者等の実験によれば、このように構成された装置
において、分布温度約2856にの光度標章電球を測色
標準として校正し、各種の蛍光ランプの色度座標X+
yについてそれぞれ測定したところ、分光測色値から
のずれ量は±o、oot程度であり、極めて高精度な測
定を行い得ることが確認された。
において、分布温度約2856にの光度標章電球を測色
標準として校正し、各種の蛍光ランプの色度座標X+
yについてそれぞれ測定したところ、分光測色値から
のずれ量は±o、oot程度であり、極めて高精度な測
定を行い得ることが確認された。
尚、本発明は上述した各実施例にのみ限定されるもので
はない。
はない。
例えば等エネルギ白色光を用いることができない場合に
おいても、分光分布が既知の電球を測定したときの前記
各単位受光器の出力を、該電球の分光分布となるように
前述した各単位受光器の光電出力に対する比例係数に、
および加重係数W。
おいても、分光分布が既知の電球を測定したときの前記
各単位受光器の出力を、該電球の分光分布となるように
前述した各単位受光器の光電出力に対する比例係数に、
および加重係数W。
J Jを設定す
れば、所謂分光放射計として十分に利用できる。
れば、所謂分光放射計として十分に利用できる。
また実施例では、透過拡散板、光束積分球を用いて被測
定光を拡散したが、反射拡散板を用いることも可能であ
り、またこれらを組合わせて被測定光を拡散することも
可能である。また単位受光器を3つの受光素子を用いて
それぞれ構成したが、1つの受光素子だけで構成するこ
とも勿論可能であり、更に多くの受光素子を組合わせて
実現することも可能である。
定光を拡散したが、反射拡散板を用いることも可能であ
り、またこれらを組合わせて被測定光を拡散することも
可能である。また単位受光器を3つの受光素子を用いて
それぞれ構成したが、1つの受光素子だけで構成するこ
とも勿論可能であり、更に多くの受光素子を組合わせて
実現することも可能である。
またここでは、単位受光器に対する分光透過率を400
,410.〜700 nmとしたが、必ずしもこのよう
に区分する必要はなく、またその波長域の半値幅も測定
目的に応じて設定すれば良いものである。
,410.〜700 nmとしたが、必ずしもこのよう
に区分する必要はなく、またその波長域の半値幅も測定
目的に応じて設定すれば良いものである。
また色フィルタ層についても、金属干渉フィルタのみな
らず、非金属干渉フィルタや色ガラスフィルタ、色プラ
スティックフィルタ等の波長選択性のフィルタ、更には
これらを組合わせたものであっても良い。この場合、例
えば1つのまたは複数の単位受光器を、等エネルギ白色
光に対してCIE標準比視感度を近似するようにその色
フィルタの特性を設定し、他の1つまたは複数の単位受
光器については、前述した第5図に示す分光応答性から
のずれを補正するようなフィルタ特性に設定するように
すれば好都合である。
らず、非金属干渉フィルタや色ガラスフィルタ、色プラ
スティックフィルタ等の波長選択性のフィルタ、更には
これらを組合わせたものであっても良い。この場合、例
えば1つのまたは複数の単位受光器を、等エネルギ白色
光に対してCIE標準比視感度を近似するようにその色
フィルタの特性を設定し、他の1つまたは複数の単位受
光器については、前述した第5図に示す分光応答性から
のずれを補正するようなフィルタ特性に設定するように
すれば好都合である。
その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形
して実施することが可能である。
して実施することが可能である。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、従来装置のように
光学系や機械系を調整する必要かなく、装置構成を部品
化してその可搬性を高めることができる。しかも、単位
受光器の全体に亙る特性をCIE標準比視感度、または
CIE等色関数に設定できるので、光源による照度、光
源の輝度・色度、または光源によって照明された物体表
面の輝度・色度、更には光源の分光分布等をそれぞれ高
精度に、且つ簡易に高速に計測することができる等の実
用上絶大なる効果が奏せられる。
光学系や機械系を調整する必要かなく、装置構成を部品
化してその可搬性を高めることができる。しかも、単位
受光器の全体に亙る特性をCIE標準比視感度、または
CIE等色関数に設定できるので、光源による照度、光
源の輝度・色度、または光源によって照明された物体表
面の輝度・色度、更には光源の分光分布等をそれぞれ高
精度に、且つ簡易に高速に計測することができる等の実
用上絶大なる効果が奏せられる。
第1図は本発明の第1の実施例装置の概略構成図、第2
図は実施例装置における複数の単位受光器に対した設定
される分光透過率を示す図、第3図は本発明の第2の実
施例装置を示す概略構成図、第4図は従来の照度計の概
略構成を示す図、第5図は従来の照度計の分光分布特性
を示す図、第6図は従来の一般的な分光測光装置の概略
構成を示す図である。 11・・・受光箱、12・・・受光器部、13・・・演
算部、14・・・表示部、15・・・表示駆動部、16
・・・透過拡散板、17・・・筒体、18・・・単位受
光器、21a、21b、21c・・・受光素子、22・
・遮光板、23・・・色フィルタ層、31・・・光束積
分球、32・・・射出窓、34a、34b・・・ビーム
スプリ・ツタ、35・・・全反射プリズム、30a、3
Bb、3Gc・・・受光器部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (a) 第2図 (a) (b) 第3図
図は実施例装置における複数の単位受光器に対した設定
される分光透過率を示す図、第3図は本発明の第2の実
施例装置を示す概略構成図、第4図は従来の照度計の概
略構成を示す図、第5図は従来の照度計の分光分布特性
を示す図、第6図は従来の一般的な分光測光装置の概略
構成を示す図である。 11・・・受光箱、12・・・受光器部、13・・・演
算部、14・・・表示部、15・・・表示駆動部、16
・・・透過拡散板、17・・・筒体、18・・・単位受
光器、21a、21b、21c・・・受光素子、22・
・遮光板、23・・・色フィルタ層、31・・・光束積
分球、32・・・射出窓、34a、34b・・・ビーム
スプリ・ツタ、35・・・全反射プリズム、30a、3
Bb、3Gc・・・受光器部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (a) 第2図 (a) (b) 第3図
Claims (5)
- (1)被測定物からの光を拡散する手段と、この拡散さ
れた光を受光する1つまたは複数の単位受光器と、1つ
または複数の単位受光器の前面に設けられた特定の波長
域の光成分を選択的に透過する光学フィルタ層と、上記
各単位受光器の光電出力のレベルをそれぞれ可変する手
段とを具備したことを特徴とする測光・測色装置。 - (2)複数の単位受光器の前面にそれぞれ設けられる光
学フィルタ層は、互いに異なる波長域の光成分をそれぞ
れ透過するものである特許請求の範囲第1項記載の測光
・測色装置。 - (3)複数の単位受光器の前面にそれぞれ設けられる光
学フィルタ層がそれぞれ透過する波長域の半値幅は、ほ
ぼ等しく設定されたものである特許請求の範囲第1項記
載の測光・測色装置。 - (4)光学フィルタ層は、色ガラスフィルタ、色プラス
ティックフィルタ、金属干渉フィルタ、および非金属干
渉フィルタの1つ、またはその組合せとして構成されさ
るものである特許請求の範囲第1項記載の測光・測色装
置。 - (5)光を拡散する手段は、光束積分球、透過拡散板、
または反射拡散板からなるものである特許請求の範囲第
1項記載の測光・測色装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61027407A JPS62185128A (ja) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | 測光・測色装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61027407A JPS62185128A (ja) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | 測光・測色装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62185128A true JPS62185128A (ja) | 1987-08-13 |
Family
ID=12220223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61027407A Pending JPS62185128A (ja) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | 測光・測色装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62185128A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04106733U (ja) * | 1991-02-27 | 1992-09-14 | スタンレー電気株式会社 | 色度測定装置 |
JP2009043987A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
JP2010112807A (ja) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Hioki Ee Corp | 光パワーメータ |
JP2010112808A (ja) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Hioki Ee Corp | 光パワーメータ |
JP2010133833A (ja) * | 2008-12-04 | 2010-06-17 | Hioki Ee Corp | 測光装置 |
JP2010537363A (ja) * | 2007-08-13 | 2010-12-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 適応性がある色を有する照明装置 |
JP2012018118A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Seiko Epson Corp | 測色装置、及び測色方法 |
JP2013029322A (ja) * | 2011-07-26 | 2013-02-07 | Olympus Corp | 波長分布測定装置 |
WO2015173943A1 (ja) * | 2014-05-16 | 2015-11-19 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光源評価装置、光源評価方法およびプログラム |
-
1986
- 1986-02-10 JP JP61027407A patent/JPS62185128A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04106733U (ja) * | 1991-02-27 | 1992-09-14 | スタンレー電気株式会社 | 色度測定装置 |
JP2553516Y2 (ja) * | 1991-02-27 | 1997-11-05 | スタンレー電気株式会社 | 色度測定装置 |
JP2009043987A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
JP2013093611A (ja) * | 2007-08-09 | 2013-05-16 | Toyota Motor Corp | 太陽電池モジュールの故障診断装置 |
JP2010537363A (ja) * | 2007-08-13 | 2010-12-02 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 適応性がある色を有する照明装置 |
JP2010112807A (ja) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Hioki Ee Corp | 光パワーメータ |
JP2010112808A (ja) * | 2008-11-05 | 2010-05-20 | Hioki Ee Corp | 光パワーメータ |
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JP2013029322A (ja) * | 2011-07-26 | 2013-02-07 | Olympus Corp | 波長分布測定装置 |
WO2015173943A1 (ja) * | 2014-05-16 | 2015-11-19 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光源評価装置、光源評価方法およびプログラム |
JPWO2015173943A1 (ja) * | 2014-05-16 | 2017-04-20 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 光源評価装置 |
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