JPS62168125A - ビジヨンシステム用の対象物照明装置 - Google Patents

ビジヨンシステム用の対象物照明装置

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JPS62168125A
JPS62168125A JP61268462A JP26846286A JPS62168125A JP S62168125 A JPS62168125 A JP S62168125A JP 61268462 A JP61268462 A JP 61268462A JP 26846286 A JP26846286 A JP 26846286A JP S62168125 A JPS62168125 A JP S62168125A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はビジョンシステムのための対象物照明装置並び
にその方法に関する。
許容誤差の極めて小さい機械部品から微細な超LSI半
導体製品に至る精密製品を、自動的に測定するための自
動測定技術が、急速に発展してきている。それに伴い、
斯かる精密部品や精密製品の自動検査装置が多く製造さ
れている。それらの自動検査装置においては、検査すべ
き、または測定すべき部品の影像が、通常は高倍率の拡
大光学系を介して1例えばビデコンやCCDアレイやそ
の他の映像−信号変換装置から成る、電子撮像装置上に
、撮像される。影像信号は、適切なソフトウェアと、マ
イクロプロセッサないしミニコンピユータとを用いて、
影像、並びに該影像の特定の部分の解析のために処理さ
れる0画像処理技術を用いてこの影像に1回転、ズーミ
ング、平行移動の各処理を施すことが可能であり、パタ
ーン識別技術を使用してこの影像を所定の基準パターン
と比較することが可能であり、また、欠陥の識別。
寸法、間隔の測定が可能である。これらの諸機能は、影
像が適正に形成されているならば、エラーを生じること
なく高い信頼性で実行することができる。
しかしながら、光学像を走査して得られる信号は被検対
象物の物理的特性や光学的特性に影響される0人間の目
は、色や表面状態における相違を容易に認識することが
でき、また光の反射やその他の影響に対する調節をも行
なうことができるため、人間のオペレータであれば総て
を知覚した上で調節を行なうことが可能である。これに
対して上記影像信号の処理は、本質的に、該影像信号の
変化の状態に基づくものである。−例として、ある表面
の縁部の正確な位置を決定するには、該表面とその背景
との間に高い信号コントラストが存在することが必要で
ある。別の例として、開口の直径を測定するに際しては
、信号の強度が急激に変化すれば、ビジョンシステムを
用いて、オペレータの判断を必要とするようないかなる
種類の装置よりもはるかに迅速で、正確で、信頼性の高
い寸法の読み取りをすることが可能となる。しかしなが
ら精密部品は本来の性質が3次元のものであって、しか
も異なった高さにおける特定部分の寸法形状を検査ない
し測定することがしばしば望まれる。例えば、テーパの
ついた孔があり、この孔が垂直軸に対して同君である場
合には、孔の一端における直径と他端における直径とを
読み取ることによりそのテーパを正確に決定することが
できるのであるが、そのような測定のためには一様な照
明は最適とは言えない、このことは、検査ないし測定す
べき特徴部分や表面が、ハイライトとシャドウとを利用
すれば最も良く表し得るような状yムで、被検対象物を
照明する際の、佇遍的な問題点を示している。
本明細書中で説明される種類のビジョンシステムの好例
として、ヴユーエンジニアリング社製1200型モデル
(View Engineering Model 1
200)が挙げられる。この装置は、複雑な部品をおお
よそ0.00025インチの精度で非接触3次元測定す
る。マイクロプロセッサにより作動するシステムである
。このシステムにおいては、対象物の照明はカメラの拡
大用光学系の対物レンズの周りに配設した光源によって
行なうこともでき、また、該対物レンズを通して同君的
に照明することもできる。しかしながら個々の場合に応
じて種々の特徴部分を強調する能力は、夫々の光源を具
体的な場合に応じて使い分けることにより得られるだけ
の限られた有用性を除けば、限界がある。
様々な制御可ず駈な照明の仕方で被検対象物を照明する
、効率的で低コストの照明装置の利用範囲は、上記に概
要を説明した種類のシステムに限られるものではない、
斯かる照明装置は、顕微鏡観察、WJ微微測測定顕微鏡
撮影ギにも利用することができ、それらの利用分野にお
いては、対象部分がかなりの高倍率で観察され、しかも
個々の目的に適合した影像の強調が望まれるからである
本発明に係る装置並びに方法は、中空円筒シート形状の
発散光束を発生する光源と、一対のリング形湾曲反射体
を用いる。一方の反射体は円筒シート形状の光束を集光
して平行光束とし、これを横方向に展がる扇状光束とし
て、湾曲反射面を有する隣接する反射体リングへと向け
る。この第2の反射体による光路の方向変換の角爪によ
り、円錐形の光束が形成され、該円錐形光束の入射角は
1両リングの相対位置に応じて変化する。2つの反射体
リングを異った速度で対象物へ接近、または対象物から
離間するように移動させることにより1円錐形の照明光
束が所望の点に焦点を合わせつづけ、しかしながら同時
にこの円錐の夾角が変化し、それによって#像中のハイ
ライト部分。
シャドウ部分、それにコントラストの巾広い変化が得ら
れる0本発明の特徴の1つに焦点位置を広範囲に変化し
得ることがある。更に利点として。
シート形状の光束を発生するリング形光源装置が個別の
円弧部分に分割されていることがあり、それらの円弧部
分を種々の組合せで発光せしめることにより、影像を提
供する上での利用範囲を一層広げることができる。
本発明に係る装置の一実施例によれば、ビジョンシステ
ムは光軸を有し、この光軸に沿って、カメラが対象物を
拡大光学系を介して観察する。また、カメラと被検対象
物との間の相対的なX軸、Y軸、並びに2軸方向の位置
決めが行なわれる。
円筒形状に束ねられ、その円筒形の4分の1円に相当す
る部分毎に発光可能な光ファイバから成るリング形光源
装貯が、前記光軸と同君に配設されており、該リング形
光源がレンズで構成された拡大光学系を囲繞している。
リング形光源装置の光ファイバは個々に光線を放射し、
それらの光線が集って、下方へ、被検対象物の方へと向
けられた中空円筒シート形状の光束を形成する。この光
束は内側の反射体リングの、断面形状が放物線形の反射
面で反射され、そこから略々径方向外側へ。
第2の反射体である外側の反射体リングの湾曲反射面へ
と、反射される。この反射面(第2反射面)は円環形状
(トロイダル形状)の一部分に相当する形状であり、即
ち該反射面の断面形状は円弧形状であり、該反射面が、
該反射面上の光束が当たる位置に応じて、該光束を下方
の共通焦点位こへと向ける。差動駆動装置がZ軸方向キ
ャリッジに連結されて第1反射体リング及び第2反射体
リングを同一方向に、しかしながら異なった速度で移動
し、その際、入射角の変化に伴って焦点距離が変化し、
焦点位置が固定されたままとなるように、移動が行なわ
れる。この駆動装置はカメラの合焦動作とは独立して移
動動作を行ない、それによってこのシステムの適用用途
が広がっている0以上の構成において、差動運動は望ま
しくは複式ラック機構により発生され、該機構の各ラッ
クは互いに平行に配設されている。これらのラックを対
向させてそれらの間に適当な駆動ギア機構とアイドルギ
アとを配設することにより、それら2つのラックを1つ
のモータで所定の速度比で移動させることができ、しか
も外部のベアリングを不要にしている。
以下に添付図面を参照しつつ本発明の好適実施例を説1
!1する。それらの説明から、本発明をより良く理解す
ることができよう、 第1図及び第2図に示す如く、本
発明に拠れば、ビジョンシステム10は、温度変化に対
して安定な御影石製のテーブル13を備えた固定基台1
2を含む。テーブル131:には、駆動機構15の制御
のもとにY軸方向に移動自在な載置台14が装着されて
いる。駆!l!!+機構15はモータと送りネジとを含
んで成り、また載置台14は、観察ゾーン内の所定位置
において検査される製品16(ここでは−例を概略的に
示す)をa置するものである。縦向きに装着されたカメ
ラ17が、拡大レンズ系を介して下方を、m察ゾーンを
見上している。カメラ17はモータ(Z軸モータ)20
により垂直方向(Z軸方向)に駆動されるZ軸支持体1
9に装着され、これにより所望の領域や表面に焦点を合
わせることができる。カメラ17とZ軸支持体19とは
、X軸方向キャリッジ22に安定するように装着され、
X軸方向キャリッジ22は載置台14の上方に、観察ゾ
ーンをまたぐように架設された、固定防振ブリッジ23
に装着されている。X軸方向キャリッジ22は、モータ
と送りネジとを含んで成る駆動機構24により水平面内
を平行移動する。2つの駆動装2115と24、それに
Z軸モータ20は、プロセッサ25からの信号により制
御される。このプロセッサ25は1例えば、カメラl7
に対する製品16の相対的な位置を所与のX軸方向位置
とY軸方向位置とに位置決めすると共に、対象物である
製品16上の特定の高さに焦点位鐙を合わせるように、
プログラムされたものである。照明装置30が、カメラ
17及びレンズ系18と組合されてZ軸支持体19上に
装着されており、照明装置30の構成部品は光軸と同君
的に配設されている。
第1図に加えて第2図乃至第5図にも示すように、照明
装置30は遠隔光源32を基台上に備えている。遠隔光
源32は多数本の個別の光ファイバから成るフレキシブ
ル光ファイバハーネス34を介して、ライドリング36
に連結されており、このライドリング36は、レンズ系
18の下縁の付近に光軸に対し同君的に配設されている
。第3図の断面図から判るように、個々の光ファイバ3
8の末端部は、平行に束ねられた芯部から扇状に延出さ
れて円筒形状をなすよう配列され、この円筒形状の配列
中の各光ファイバは互いに平行に、円筒づたいに並設さ
れている。各光ファイバ38の端部から照射される光は
集って中空円筒形状の、換言すれば筒形状の、下方へ、
製品16へと向かう光束を形成する。しかしながら、そ
の際に、各光ファイバの端面から照射される光は、約6
2度の角度で発散し、この角度は光ファイバの端面の平
坦度により変化する。この実施例においては、遠隔光源
32は4つの別個の光源を含んでおり、それらの各々は
、照明型2i30のライドリングの各4分の1円に相当
する部分へ送られる光を制御すると共に、一方、プロセ
ッサ25により制御されている。
ライドリング36の下方には光軸に沿って移動自在な第
1の反射体リング42が配設され、該反射体リング42
は断面が放物線形の第1の反射面を備えている。この放
物面の焦点は、光ファイバから放出される光の発散角度
に応じて、その光を略々平行化するように、位tが選択
されている。
この放物反射面44は下方に向けて放射される円筒形状
の光束の光路中に位lしているため、この光束を該反射
面の周辺部から径方向外方へと反射し、扇状光束とも言
うべき、カメラの光軸と同君の光束を形成する。即ち、
第1反射体リング42は放物面を備えているため、集光
器として機能すると共に光路方向変換器としても機能し
ている。
第1反射体リング42は回転面形状に形成され、そのボ
ディ部分にはライドリング36が嵌装されるくびれ部が
形成されている。
径方向外方へ向かう光束は第1反射体リング42の外側
に配設された第2反射体リング46へ入射する。この第
2反射体リング46は、第1反射体リングに対して相対
的に、Z軸方向に移動自在である。第3図に示すように
、第2反射体リング46の反射面48は断面が円弧形状
である。
円弧形状、即ち球面の一部を成す形状は本発明にの目的
に適合した形状であるが、より良い精度が必要な場合で
あれば、双曲線断面とすることが望ましい。断面が曲面
として形成された第2反射体リングの第2反射面48上
の、第1反射体リング42からの略々水平な扇状光束が
入射する位置に応じて、光束が下方へ、焦点へと向けら
れるときの角度が決り、これが角度形成器として機能す
る。前記放物線形反射面44は光ファイバ38から放射
される光束を略々平行化し、平行化された光束がこの湾
曲反射面48へと扇形に拡がって行くのである。
第2図、第4図、及び第5図に示すように、差動駆動装
置50がX軸方向キャリッジ22に装着されている。こ
の差動駆動装置50は従ってカメラ17及びレンズ系1
8のZ軸方向位置とは独立している。モータ52(第2
図)が駆動機構50を独立的に駆動して第2反射体リン
グの位置を制御している。2つの反射体リング42と4
6の夫々の位置の変化は1合焦状態を保持し得る特定の
比例関係で同時平行的に、しかも入射角が変化するよう
に、行なわれる。そのような移動を行なうために、2組
のラックピニオン機構が並列して配設されている。これ
らのラックピニオン機構において、第1のラック54が
直角ブラケット55を介して第2反射体リング46に連
結され、第2ラツク56がが延長アーム57を介して第
1反射体リング42に連結されている。これらのラック
54.56は、それらを囲繞する。Z軸支持体19(第
1図)に取付けられたハウジング内59内に、隣接面越
しにオフセットされて配設されている。これらのラック
間のモ行は、駆動ギアとアイドルギアとによって保持さ
れ、それらのギアはハウジング内部のはなれた場所に取
付けられている。第4図及び第5図に示す如く、駆動ギ
アのうちには、モータ52のシャフトに連結されて第1
ラツクと噛合する第1ギアが含まれている。この第1ギ
ア62は、同一平面内にあって隣接している第2ギア6
4を駆動し、該第2ギア64は第3ギア66と固定連結
されており、該第3ギア66は、第2ラツク56と同一
平面内に配設されて第2ラツクと噛合している。第3ギ
アの直径は第2ギアの直径より大きく、それ故、第3ギ
アの周速は第1ギアの周速に対し所定の比となり、しか
も第1ギアの周速より太さい、従って、これらのギアと
噛合した2つのラック54.56は所定の比の差動運動
を発生し、第2ラツク56の移動速度は第1ラツク54
の移動速度より大きい、2つのアイドルギア68.69
が、ラック54.56と噛合してベアリングを用いるこ
となくラックのト行を保っている。以上の構成により、
ラック54と56はハウジング59内を往復動し、必要
な運動がベアリング等の支持体を要することなく得られ
ている。第5図に示した如く、これらのラック54.5
6はハウジング59内に嵌装されたブツシュ72内を摺
動するスライダロッド70に取付けられている。
以下に、第1図に示すシステムの作用を説明する。製品
16の検査のための一連の作業手順は、−例として、最
初にオペレータの制御によりY軸方向に移動自在なai
台14とX軸方向キャリッジ22との位置決めがなされ
て製品16の種々の部分の観測が行なわれ、これらの操
作手順と制御位置とはプロセッサのメモリに記憶される
。各々の制御位tにおいて、レンズ系18とカメラ17
が焦点を合わせるべき焦点平面の位置が、Z軸支持体1
9の位置決めにより選択され、次に照明装fi30から
入射する光束の望ましい入射角が選択される。各々の制
御位置に必要な設定点がオペレータにより次々と選択さ
れるに従い、上記製品16を検査するための作業手順が
メモリに格納される。互いに相似な製品16が載置台1
4上の検査位置に儀71されると、このビジョンシステ
ムのソフトウェアが従来の方法で、上記手順に沿って走
り、検査部品上の選択位置乃至選択領域に焦点を合わせ
ると共に照明を行なう、製品16の孔のテーパを測定す
る場合には、直径の大なる方を上面側に、小なる方を下
面側にする0次にカメラ17とレンズ系18の焦点をい
ずれかの端部に合わせ、照明装置30を移動して孔の内
径部分とその周囲の1−!景となる部分との間において
、一方から他方に遷移するときに先着がシャープなコン
トラストで変化するような、良好な入射角が11#られ
るようにする。次に孔の他端を同様に検査し、その際に
は焦点位置と入射角とを、1−記のような遷移箇所が明
瞭に示されるように、変化させる。
第6図に示すように、ライドリング36の光ファイバ3
8の端縁からの照明光は、360度の閉じた箱形状の光
束を形成し、しかしながらこの光束は幾分発散している
。従って第1反射体リングの断面放物線系の第1反射面
44がこの光束を集光して実質的に平行化し、それを第
2反射体リングの光束角度形成反射面である第2反射面
48へと向ける。この第2反射面48から、光束は円錐
形となるように、焦点へと向けられる。入射角を変化す
る際には2つの反射体リング42.46を共に、しかし
ながらそれらの間の間隔を変化させつつ移動する。これ
により集光面である第1反射面44からの光束が、角度
発生器である、曲面に形成された第2反射面48七の異
った部分領域に入射し、同一の焦点位置を保持しつつ入
射角が変化される。
遠隔光源32を制御してライドリング36に沿った4分
の1円に相当する光ファイバ38の部分束のうちの、種
々の部分束に照明させることにより、製品16を種々の
角度から照明し得ることに加えて種々の側面から照暉1
することもr+(能となリ、システムの用途の多様性を
高めている。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る照明装置を備えたビジョンシステ
ムの斜視図であり、一部を断面とした図、第2図は第1
図のシステムの一部分をなす構造示す部分斜視図、第3
図は第2図に示す構造の一部分を示す断面側面図、第4
図は第2図、第3図の構造に用いられている差動駆動装
置の一部分を示す部分図、第5図は第4図に示された構
造を端面から見た図、そして第6図は第1図乃至第5図
のシステムにおいて1反射体を種々の位置に置いたとき
の入射角の変化を示す概略図である。 図面中、10はビジョンシステム、16は被検対象物、
17はカメラ、30は照明装置、36はリングライト、
42は第1反射体リング、44は第1反射面、46は第
2反射体リング、48は第2反射面、50は反射体リン
グ駆動装置である。 特許出願人 ヴイユー エンジニアリングインコーボレ
ーテッド

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)システムの光軸上に位置する対象物を検査し、測
    定し、もしくはその影像を記録するビジョンシステムに
    用いる、照明装置であって、 前記光軸と同芯で且つ前記対象物へと向けられた中空円
    筒形の照明光束を発生する、光束発生手段と、 前記円筒形光束を反射して方向変換する前記光軸と同芯
    な第1湾曲反射面を有する、第1リング部材と、 前記第1反射面からの反射光束を反射して方向変換し、
    円錐形の照明光束とする第2湾曲反射面を有する、第2
    リング部材と、 前記第1リング部材と前記第2リング部材とをZ軸に沿
    って差動運動せしめるリング部材駆動手段とから成る、
    照明装置。
  2. (2)前記第1反射面が放物線形の断面を有し、前記第
    2反射面が略々円弧形状の断面を有し、前記リング部材
    駆動手段が、前記第1リング部材を前記第2リング部材
    より大なる速度で移動するよう、構成され、これにより
    前記第2反射面で反射された前記円錐形光束が、その焦
    点を同一位置に保持しつつ入射角を変化するようにした
    ことを特徴とする、特許請求の範囲第1項に記載の照明
    装置。
  3. (3)前記円筒形光束発生手段が複数の光ファイバを含
    んで成り、該光ファイバが、前記光軸と同芯「円形状に
    配設されると共にその端部が互いに平行に配列されてい
    ることを特徴とする、特許請求の範囲第2項に記載の照
    明装置。
  4. (4)前記第1反射面が前記第2反射面より小径に形成
    され、前記リング部材駆動手段が、歯を対向させて平行
    に配設された一対のラックと、それらのラックの間に配
    設されそれらの歯と噛合する駆動ギア手段と、該駆動ギ
    ア手段に連結された駆動モータ手段とから成ることを特
    徴とする、特許請求の範囲第3項に記載の照明装置。
  5. (5)前記円筒形光束発生手段が、円弧形部分に分割さ
    れた、光ファイバ部材から成るリングと、該リングの該
    円弧形部分を個々に発光せしめる手段とを含み、これに
    より前記対象物を種々の異った方向から、並びに全方向
    から、照明し得るようにした、特許請求の範囲第1項に
    記載の照明装置。
  6. (6)前記円筒形光束発生手段が、光ファイバ部材から
    成るリングを含んで成り、前記ビジョンシステムが、前
    記光軸に沿って前記対象物へと向けられた撮像カメラを
    含んで成り、該撮像カメラが、前記円筒形光束発生手段
    の前記光ファイバ部材リングと同芯に配設されているこ
    とを特徴とする、特許請求の範囲第1項に記載の照明装
    置。
  7. (7)前記円筒形照明光束が、所定角度内で発散する発
    散光からなり、前記第1反射面の焦点が、この発散円筒
    形光束を平行化し得る位置に設定されており、前記第2
    リング部材が、平行化された光束を径方向内側へ、前記
    光軸へと向けて反射するように構成され、前記リング部
    材駆動手段が、所定の移動比で前記両リング部材を移動
    することにより光軸へ向けて反射された前記光束が所定
    の焦点平面上に合焦するように構成されていることを特
    徴とする、特許請求の範囲第2項に記載の照明装置。
  8. (8)前記ビジョンシステムが、 上面が水平に形成された固定基台と、 該基台の該上面を跨いでX軸に沿って架設された、該基
    台上の観察ゾーンの上方を延伸する固定ブリッジと、 前記対象物を載置すべく前記基台の前記上面上に設けら
    れた載置台手段であって、Y軸方向の水平移動を生ぜし
    めるY軸方向駆動手段を備えた、載置台手段と、 前記ブリッジに装着され、X軸方向の水平移動を生ぜし
    めるX軸方向駆動手段を備えた、X軸方向キャリッジ手
    段と、 該X軸方向キャリッジ手段に装着され、垂直方向の移動
    を生ぜしめるZ軸方向駆動手段を備えた、Z軸方向キャ
    リッジ手段と、 拡大手段を備えた電子式カメラ手段であって、前記Z軸
    方向キャリッジ手段に装着され、光軸に沿って前記観察
    ゾーンを観察し得る向きに配設された、電子式カメラ手
    段と、を含んで成り、前記円筒形光束発生手段が、前記
    対象物上に前記円錐形光束を照射し得るよう、前記電子
    式カメラ手段と前記光軸とに対し同芯に配設されており
    、 前記リング部材駆動手段が、前記Z軸方向キャリッジ手
    段に装着されていることを特徴とする、特許請求の範囲
    第1項に記載の照明装置。
  9. (9)前記ビジョンシステムがプロセッサ手段を含み、
    該プロセッサ手段が、前記X軸方向駆動手段、前記Y軸
    方向駆動手段、前記Z軸方向駆動手段、並びに前記リン
    グ部材駆動手段を所定の順序で設定された所定の諸位置
    へと制御し、また前記カメラ手段を前記対象物上の所定
    の諸位置に合焦せしめ、且つそれと並行して前記対象物
    を望ましい入射角の光束で照明するよう、構成されてい
    ることを特徴とする、特許請求の範囲第8項に記載の照
    明装置。
  10. (10)ビジョンシステムを用いて対象物の検査を行な
    う際に、該対象物の、自動測定ないし自動同定すべき特
    徴的部分の、自動認識を強化する方法であって、 前記ビジョンシステムの光軸と同芯で前記対象物の解析
    すべき所定箇所に合焦せしめられた円錐鞘形状の光束に
    より、前記対象物を照明するステップと、 該円錐鞘形状の光束を、その焦点を前記所定箇所に保持
    しつつ、その入射角を変化させるステップとからなる、
    方法。
  11. (11)前記対象物の解析すべき前記所定箇所を変更す
    るステップと、それと並行して前記円錐鞘形状の光束の
    入射角と焦点位置とを、良好な照明がなされるように変
    更するステップとを含んで成ることを特徴とする、特許
    請求の範囲第10項に記載の方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324450A (ja) * 2000-03-06 2001-11-22 View Engineering Inc 異なる投射角で焦点を合わせた光で物体を照明する方法とシステム及びこれに用いられる多色光源
EP1962125A1 (en) 2007-02-20 2008-08-27 Mitutoyo Corporation Illumination device and vision measuring instrument

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5133019A (en) * 1987-12-03 1992-07-21 Identigrade Systems and methods for illuminating and evaluating surfaces
DE3834117A1 (de) * 1988-10-07 1990-04-12 Zeiss Carl Fa Koordinatenmessgeraet mit einem optischen tastkopf
US6067379A (en) * 1988-12-09 2000-05-23 Cognex Corporation Method and apparatus for locating patterns in an optical image
DE8915535U1 (de) * 1989-03-02 1990-10-25 Carl Zeiss, 89518 Heidenheim Auflicht-Objektbeleuchtungseinrichtung
US5143436A (en) * 1991-03-06 1992-09-01 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Ringlight for use in high radiation
KR970003328B1 (ko) * 1991-07-12 1997-03-17 오므론 가부시끼가이샤 화상 처리 시스템에 있어서, 알맞은 조명조건, 촬영조건등을 결정 및 설정하기 위한 또는 결정 및 설정을 지원하기 위한 장치 및 방법
US5430634A (en) * 1992-08-03 1995-07-04 Cogent Light Technologies, Inc. Concentrating and collecting optical system using concave toroidal reflectors
US6186648B1 (en) 1992-08-03 2001-02-13 Cogent Light Technologies, Inc. Concentrating and collecting optical system using concave toroidal reflectors
US5367439A (en) * 1992-12-24 1994-11-22 Cognex Corporation System for frontal illumination
US5652658A (en) * 1993-10-19 1997-07-29 View Engineering, Inc. Grid array inspection system and method
US5831738A (en) * 1994-01-11 1998-11-03 Hine Design Inc. Apparatus and methods for viewing identification marks on semiconductor wafers
US6026176A (en) 1995-07-25 2000-02-15 Cognex Corporation Machine vision methods and articles of manufacture for ball grid array inspection
JP3365598B2 (ja) * 1995-08-31 2003-01-14 富士通株式会社 光モジュール組立体の製造方法および製造装置
US5820250A (en) * 1995-10-24 1998-10-13 Dolan-Jenner Industries, Inc. Dark field illuminator ringlight adaptor
US5872870A (en) * 1996-02-16 1999-02-16 Cognex Corporation Machine vision methods for identifying extrema of objects in rotated reference frames
US5909504A (en) * 1996-03-15 1999-06-01 Cognex Corporation Method of testing a machine vision inspection system
US6259827B1 (en) 1996-03-21 2001-07-10 Cognex Corporation Machine vision methods for enhancing the contrast between an object and its background using multiple on-axis images
US6298149B1 (en) 1996-03-21 2001-10-02 Cognex Corporation Semiconductor device image inspection with contrast enhancement
US5978502A (en) * 1996-04-01 1999-11-02 Cognex Corporation Machine vision methods for determining characteristics of three-dimensional objects
US6137893A (en) * 1996-10-07 2000-10-24 Cognex Corporation Machine vision calibration targets and methods of determining their location and orientation in an image
US5960125A (en) 1996-11-21 1999-09-28 Cognex Corporation Nonfeedback-based machine vision method for determining a calibration relationship between a camera and a moveable object
US5953130A (en) * 1997-01-06 1999-09-14 Cognex Corporation Machine vision methods and apparatus for machine vision illumination of an object
US6075881A (en) * 1997-03-18 2000-06-13 Cognex Corporation Machine vision methods for identifying collinear sets of points from an image
US5974169A (en) * 1997-03-20 1999-10-26 Cognex Corporation Machine vision methods for determining characteristics of an object using boundary points and bounding regions
US6141033A (en) * 1997-05-15 2000-10-31 Cognex Corporation Bandwidth reduction of multichannel images for machine vision
US6608647B1 (en) 1997-06-24 2003-08-19 Cognex Corporation Methods and apparatus for charge coupled device image acquisition with independent integration and readout
US7038398B1 (en) 1997-08-26 2006-05-02 Color Kinetics, Incorporated Kinetic illumination system and methods
US20030133292A1 (en) 1999-11-18 2003-07-17 Mueller George G. Methods and apparatus for generating and modulating white light illumination conditions
US5978080A (en) * 1997-09-25 1999-11-02 Cognex Corporation Machine vision methods using feedback to determine an orientation, pixel width and pixel height of a field of view
US7598686B2 (en) 1997-12-17 2009-10-06 Philips Solid-State Lighting Solutions, Inc. Organic light emitting diode methods and apparatus
US6025854A (en) * 1997-12-31 2000-02-15 Cognex Corporation Method and apparatus for high speed image acquisition
US6236769B1 (en) 1998-01-28 2001-05-22 Cognex Corporation Machine vision systems and methods for morphological transformation of an image with zero or other uniform offsets
US6282328B1 (en) 1998-01-28 2001-08-28 Cognex Corporation Machine vision systems and methods for morphological transformation of an image with non-uniform offsets
US6381375B1 (en) 1998-02-20 2002-04-30 Cognex Corporation Methods and apparatus for generating a projection of an image
US6215915B1 (en) 1998-02-20 2001-04-10 Cognex Corporation Image processing methods and apparatus for separable, general affine transformation of an image
US6687402B1 (en) 1998-12-18 2004-02-03 Cognex Corporation Machine vision methods and systems for boundary feature comparison of patterns and images
US6381366B1 (en) 1998-12-18 2002-04-30 Cognex Corporation Machine vision methods and system for boundary point-based comparison of patterns and images
US6441367B1 (en) 1999-06-02 2002-08-27 Mitutoyo Corporation Control systems and methods for diffuse illumination
US6334699B1 (en) 1999-04-08 2002-01-01 Mitutoyo Corporation Systems and methods for diffuse illumination
US6633338B1 (en) 1999-04-27 2003-10-14 Gsi Lumonics, Inc. Programmable illuminator for vision system
US6525303B1 (en) 1999-09-23 2003-02-25 Mitutoyo Corporation Control systems and methods for synchronizing diffuse illumination with a camera
US6684402B1 (en) 1999-12-01 2004-01-27 Cognex Technology And Investment Corporation Control methods and apparatus for coupling multiple image acquisition devices to a digital data processor
US6748104B1 (en) 2000-03-24 2004-06-08 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision inspection using single and multiple templates or patterns
US7042172B2 (en) 2000-09-01 2006-05-09 Color Kinetics Incorporated Systems and methods for providing illumination in machine vision systems
US7006669B1 (en) 2000-12-31 2006-02-28 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for thresholding images of non-uniform materials
US6614596B2 (en) 2001-07-25 2003-09-02 Mitutoyo Corporation Systems and methods for increasing illumination density within a field of view of an imaging system
JP3889992B2 (ja) 2002-05-17 2007-03-07 株式会社ミツトヨ リング照明装置
US7344273B2 (en) 2005-03-22 2008-03-18 Binary Works, Inc. Ring light with user manipulable control
US7315361B2 (en) * 2005-04-29 2008-01-01 Gsi Group Corporation System and method for inspecting wafers in a laser marking system
US7639861B2 (en) 2005-09-14 2009-12-29 Cognex Technology And Investment Corporation Method and apparatus for backlighting a wafer during alignment
US8111904B2 (en) 2005-10-07 2012-02-07 Cognex Technology And Investment Corp. Methods and apparatus for practical 3D vision system
DE102006018410A1 (de) * 2006-04-20 2007-10-25 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Einrichtung zur Kontraststeigerung für Ringlichtbeleuchtungen
US8162584B2 (en) 2006-08-23 2012-04-24 Cognex Corporation Method and apparatus for semiconductor wafer alignment
US8085295B2 (en) * 2007-10-26 2011-12-27 Mitutoyo Corporation Controllable micro light assembly
CN106736869B (zh) * 2016-12-09 2018-10-16 大连理工大学 一种机械加工中高速显微摄影的观测方法
JP6976914B2 (ja) * 2018-09-14 2021-12-08 株式会社東芝 光学検査装置
WO2020109237A1 (en) * 2018-11-26 2020-06-04 Zkw Group Gmbh Vehicle vision system with adaptive reversing light
IT201900005534A1 (it) * 2019-04-10 2020-10-10 Doss Visual Solution S R L Illuminatore per un gruppo di visione di una macchina di ispezione ottica per il controllo qualità di pezzi
WO2021083803A1 (en) * 2019-10-28 2021-05-06 Signify Holding B.V. Color mixing with total internal reflector and ring reflector
FR3108965B1 (fr) * 2020-04-07 2022-04-29 Arteffect Dispositif lumineux à ouverture étendue

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4321353Y1 (ja) * 1965-09-18 1968-09-07
JPS5557816A (en) * 1978-07-27 1980-04-30 Zeiss Jena Veb Carl Microscope illuminating reflector
JPS55167221U (ja) * 1979-05-18 1980-12-01
JPS566169U (ja) * 1979-06-27 1981-01-20

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3506836A (en) * 1966-08-23 1970-04-14 Amp Inc Optical programmer with optic fiber means for indicating operating intelligence for equipment controlling means
DE1913711A1 (de) * 1968-03-19 1969-10-09 Olympus Optical Co Beleuchtungssystem fuer optische Instrumente
US3770342A (en) * 1971-05-07 1973-11-06 R Dudragne Device for lighting and examining a cavity
JPS566169B2 (ja) * 1972-10-25 1981-02-09
US4037096A (en) * 1974-08-09 1977-07-19 American Sterilizer Company Illuminator apparatus using optical reflective methods
US4109304A (en) * 1976-02-23 1978-08-22 Khvalovsky Vladimir Vasilievic Device for coherent lighting of objects
US4288844A (en) * 1978-08-24 1981-09-08 American Sterilizer Company Electrically focused surgical light
DE2854684C2 (de) * 1978-12-18 1980-10-30 Original Hanau Heraeus Gmbh, 6450 Hanau Lichtleiter, insbesondere für Operations- oder Untersuchungsleuchten
BE875482A (nl) * 1979-04-11 1979-10-11 Chandesais Jean L J Verbeterde ringverlichting voor mikroskopen
DD145805B1 (de) * 1979-08-27 1982-06-30 Johannes Grosser Beleuchtungsanordnung fuer mikroskope
DE3012340C2 (de) * 1980-03-29 1984-06-20 W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau Operationsleuchte
US4392182A (en) * 1981-06-12 1983-07-05 Solid Photography, Inc. Arrangement for scanning points in space
US4494868A (en) * 1982-08-18 1985-01-22 Eastman Kodak Company Rangefinder device with focused elongated light source
US4529316A (en) * 1982-10-18 1985-07-16 Robotic Vision Systems, Inc. Arrangement of eliminating erroneous data in three-dimensional optical sensors
FR2548796B1 (fr) * 1983-07-08 1985-11-22 Comp Generale Electricite Dispositif optique pour determiner la position et la forme de la surface d'un objet
US4530036A (en) * 1984-01-20 1985-07-16 Conti Mario W Object illumination apparatus
US4617619A (en) * 1985-10-02 1986-10-14 American Sterilizer Company Reflector for multiple source lighting fixture

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4321353Y1 (ja) * 1965-09-18 1968-09-07
JPS5557816A (en) * 1978-07-27 1980-04-30 Zeiss Jena Veb Carl Microscope illuminating reflector
JPS55167221U (ja) * 1979-05-18 1980-12-01
JPS566169U (ja) * 1979-06-27 1981-01-20

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001324450A (ja) * 2000-03-06 2001-11-22 View Engineering Inc 異なる投射角で焦点を合わせた光で物体を照明する方法とシステム及びこれに用いられる多色光源
EP1962125A1 (en) 2007-02-20 2008-08-27 Mitutoyo Corporation Illumination device and vision measuring instrument
US8033673B2 (en) 2007-02-20 2011-10-11 Mitutoyo Corporation Illumination device and vision measuring instrument

Also Published As

Publication number Publication date
DE3686861T2 (de) 1993-04-15
EP0223556A2 (en) 1987-05-27
US4706168A (en) 1987-11-10
DE3686861D1 (de) 1992-11-05
CA1293232C (en) 1991-12-17
EP0223556A3 (en) 1989-04-12
EP0223556B1 (en) 1992-09-30
JPH039445B2 (ja) 1991-02-08

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