JPS62145125A - 走査型放射温度計 - Google Patents
走査型放射温度計Info
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- JPS62145125A JPS62145125A JP60286169A JP28616985A JPS62145125A JP S62145125 A JPS62145125 A JP S62145125A JP 60286169 A JP60286169 A JP 60286169A JP 28616985 A JP28616985 A JP 28616985A JP S62145125 A JPS62145125 A JP S62145125A
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- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 20
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- 239000010959 steel Substances 0.000 description 16
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- 238000005098 hot rolling Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
- G01J2005/0029—Sheet
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/28—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using photoemissive or photovoltaic cells
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は被測温物から放射される放射エネルギーに基づ
いて温度を測定する放射温度計に係り、特に放射エネル
ギーを受光する受光素子が一直線に沿って複数配設され
ている走査型放射温度計に関するものである。
いて温度を測定する放射温度計に係り、特に放射エネル
ギーを受光する受光素子が一直線に沿って複数配設され
ている走査型放射温度計に関するものである。
従来技術
被測温物から放射される放射エネルギーに基づいて温度
を測定する放射温度計の一種に、走査型放射温度計と称
するものがある。これは、−ｉに、被測温物から放射さ
れる放射エネルギーを受光してその放射エネルギーに対
応した大きさの受光信号を出力する受光素子が一直線に
沿って複数配列された受光装置と、前記受光素子から出
力される前記受光信号に基づいて前記被測温物の温度を
決定する温度決定手段とを備えて構成される。
を測定する放射温度計の一種に、走査型放射温度計と称
するものがある。これは、−ｉに、被測温物から放射さ
れる放射エネルギーを受光してその放射エネルギーに対
応した大きさの受光信号を出力する受光素子が一直線に
沿って複数配列された受光装置と、前記受光素子から出
力される前記受光信号に基づいて前記被測温物の温度を
決定する温度決定手段とを備えて構成される。
そして、このような走査型放射温度計においては、前記
複数配列された受光素子のうちの一つを予め設定し、そ
の受光素子から出力された受光信号を取り出して前記温
度決定手段に供給するようにすれば、被測温物の前記−
直線上に結像された部分における任意の一点の温度を測
定することができる。例えば、熱間圧延等の加工を行う
ために被測温物が一方向へ移動させられる場合には、そ
の幅方向における任意の一点の温度を連続的に測定する
ことが可能なのである。
複数配列された受光素子のうちの一つを予め設定し、そ
の受光素子から出力された受光信号を取り出して前記温
度決定手段に供給するようにすれば、被測温物の前記−
直線上に結像された部分における任意の一点の温度を測
定することができる。例えば、熱間圧延等の加工を行う
ために被測温物が一方向へ移動させられる場合には、そ
の幅方向における任意の一点の温度を連続的に測定する
ことが可能なのである。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、このような従来の走査型放射温度計にお
いては、温度を決定すべき受光信号を出力する受光素子
が予め設定されているため、かかる走査型放射温度計と
被測温物との相対位置がずれると、それに伴って測温位
置までずれてしまい、正確な温度を測定し得なくなると
いう問題があった。例えば、上述したように一方向へ移
動させられる被測温物の幅方向における任意の一点の温
度を連続的に測定する場合には、移動に伴う振動等に起
因して被測温物が幅方向にふらつき、測温位置がずれて
しまうことがあったのである。
いては、温度を決定すべき受光信号を出力する受光素子
が予め設定されているため、かかる走査型放射温度計と
被測温物との相対位置がずれると、それに伴って測温位
置までずれてしまい、正確な温度を測定し得なくなると
いう問題があった。例えば、上述したように一方向へ移
動させられる被測温物の幅方向における任意の一点の温
度を連続的に測定する場合には、移動に伴う振動等に起
因して被測温物が幅方向にふらつき、測温位置がずれて
しまうことがあったのである。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するために為されたものであ
り、その要旨とするところは、前記受光装置と温度決定
手段とを備え、被測温物の受光素子が配列された一直線
上に結像された部分における任意の一点の温度を測定し
得る走査型放射温度計において、ｆａ）複数の受光素子
からそれぞれ出力される受光信号に基づいて被測温物の
端縁を検出する端縁検出手段と、（ｂ）その端縁検出手
段によって検出された端縁に対応する受光素子から予め
設定された素子数を隔てた位置における受光素子の受光
信号を取り出して前記温度決定手段に供給する選択手段
とを設けたことにある。
り、その要旨とするところは、前記受光装置と温度決定
手段とを備え、被測温物の受光素子が配列された一直線
上に結像された部分における任意の一点の温度を測定し
得る走査型放射温度計において、ｆａ）複数の受光素子
からそれぞれ出力される受光信号に基づいて被測温物の
端縁を検出する端縁検出手段と、（ｂ）その端縁検出手
段によって検出された端縁に対応する受光素子から予め
設定された素子数を隔てた位置における受光素子の受光
信号を取り出して前記温度決定手段に供給する選択手段
とを設けたことにある。
作用
このような走査型放射温度計においては、受光装置の複
数の受光素子からそれぞれ出力された受光信号は、先ず
、端縁検出手段および選択手段に供給される。端縁検出
手段においては、その供給された受光信号に基づいて被
測温物の端縁を検出する一方、選択手段においては、そ
の端縁検出手段によって検出された端縁に対応する受光
素子から予め設定された素子数を隔てた位置における受
光素子の受光信号を取り出して、その受光信号を温度決
定手段に供給する。そして、温度決定手段においては、
その供給された受光信号に基づいて被測温物の温度を決
定する。
数の受光素子からそれぞれ出力された受光信号は、先ず
、端縁検出手段および選択手段に供給される。端縁検出
手段においては、その供給された受光信号に基づいて被
測温物の端縁を検出する一方、選択手段においては、そ
の端縁検出手段によって検出された端縁に対応する受光
素子から予め設定された素子数を隔てた位置における受
光素子の受光信号を取り出して、その受光信号を温度決
定手段に供給する。そして、温度決定手段においては、
その供給された受光信号に基づいて被測温物の温度を決
定する。
ここで、上記選択手段に予め設定された素子数は、被測
温物の端縁から測温位置までの距離に対応するものであ
り、この素子数を適宜設定することにより、端縁から所
定の距離だけ離間した任意の位置における温度を測定す
ることができるのである。
温物の端縁から測温位置までの距離に対応するものであ
り、この素子数を適宜設定することにより、端縁から所
定の距離だけ離間した任意の位置における温度を測定す
ることができるのである。
発明の効果
このように、本発明の走査型放射温度計は、被測温物の
端縁を基準として測温位置が定められるようになってい
るため、受光素子が配列された一直線方向において温度
計と被測温物との相対位置がずれても、それに伴って測
温位置までずれてしまうことはなく、予め設定された素
子数に対応する任意の位置の温度を高い精度で測定する
ことができる。
端縁を基準として測温位置が定められるようになってい
るため、受光素子が配列された一直線方向において温度
計と被測温物との相対位置がずれても、それに伴って測
温位置までずれてしまうことはなく、予め設定された素
子数に対応する任意の位置の温度を高い精度で測定する
ことができる。
実施例
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第１図および第２図において、１０は被測温物としての
鋼材１２から放射される放射エネルギーを受光する受光
装置である。この受光装置１０は、鋼材１２の両側端縁
１４ａ、１４ｂと直角な方向に沿って配設されたライン
センサ１６と、そのラインセンサ１６上に放射エネルギ
ーを集光させるレンズ１８とを備えており、ラインセン
サＩＦ３は受光した放射エネルギーに対応した大きさの
受光信号ＳＳをそれぞれ出力する複数（例えば、数千個
）の光電素子２０から構成されている。これにより、ラ
インセンサ１６上に結像された部分、すなわち第１図に
おいて一点鎖線で示す直線部分における温度に対応する
多数の受光信号ＳＳが、そのラインセンサ１６から出力
されることとなる。
鋼材１２から放射される放射エネルギーを受光する受光
装置である。この受光装置１０は、鋼材１２の両側端縁
１４ａ、１４ｂと直角な方向に沿って配設されたライン
センサ１６と、そのラインセンサ１６上に放射エネルギ
ーを集光させるレンズ１８とを備えており、ラインセン
サＩＦ３は受光した放射エネルギーに対応した大きさの
受光信号ＳＳをそれぞれ出力する複数（例えば、数千個
）の光電素子２０から構成されている。これにより、ラ
インセンサ１６上に結像された部分、すなわち第１図に
おいて一点鎖線で示す直線部分における温度に対応する
多数の受光信号ＳＳが、そのラインセンサ１６から出力
されることとなる。
これ等の光電素子２０は受光素子を成している。
なお、鋼材１２は熱間圧延を施すためのもので、第２図
において矢印Ａで示される方向、すなわら側端縁１４ａ
、１４ｂと平行な方向へ連続的に移動させられるように
なっている。
において矢印Ａで示される方向、すなわら側端縁１４ａ
、１４ｂと平行な方向へ連続的に移動させられるように
なっている。
上記受光装置１０には、第３図のブロック線図に示され
ている電気回路が接続されており、ラインセンサ１６の
各光電素子２０から出力された受光信号ＳＳは、駆動制
御回路２２から供給される駆動パルスＭＰに従って順次
増幅器２４へ供給される。すなわち、駆動パルスＭＰは
、第４図に示されているスタートパルスＳＰとクロック
パルスＣＰとから成り、ラインセンサ１６においては、
スタートパルスＳＰが供給された後クロックパルスＣＰ
が供給される毎に、第２図において左端に位置する光電
素子２０の受光信号ＳＳから順番に増幅器２４へ供給す
る。
ている電気回路が接続されており、ラインセンサ１６の
各光電素子２０から出力された受光信号ＳＳは、駆動制
御回路２２から供給される駆動パルスＭＰに従って順次
増幅器２４へ供給される。すなわち、駆動パルスＭＰは
、第４図に示されているスタートパルスＳＰとクロック
パルスＣＰとから成り、ラインセンサ１６においては、
スタートパルスＳＰが供給された後クロックパルスＣＰ
が供給される毎に、第２図において左端に位置する光電
素子２０の受光信号ＳＳから順番に増幅器２４へ供給す
る。
増幅器２４において増幅された受光信号ＳＳは、その後
コンパレータ２６およびＡ／Ｄ変換器２８に供給される
。コンパレータ２６は、供給された受光信号ＳＳの信号
強度と端縁レベル設定器３０から供給される端縁レベル
信号ＳＬの信号強度とを比較し、端縁レベル信号ＳＬよ
りも受光信号ＳＳの信号強度の方が大きい場合に、出力
信号ＳＨをアンド回路３２に供給する。ここで、受光信
号ＳＳの信号強度は受光した放射エネルギーの大きさに
対応するものであり、その放射エネルギーの大きさは鋼
材１２の側端縁１４ａ、１４ｂを境として大きく変化す
る。したがって、上記端縁レベル信号ＳＬの信号強度を
、鋼材１２から放射された放射エネルギーを受光した光
電素子２０から出力される受光信号ＳＳの信号強度より
も僅かに小さい値に設定すれば、第２図において左端に
位置する光電素子２０から逐次供給される受光信号ＳＳ
の信号強度が端縁レベル信号ＳＬの信号強度よりも大き
くなり、上記コンパレータ２６から出力信号ＳＨが出力
されることにより、鋼材１２の一方の側端縁１４ａが検
出されることとなる。具体的には、第２図における光電
素子２０．、から出力された受光信号ＳＳがコンパレー
タ２６に供給された時、コンパレータ２６から出力信号
ＳＨが出力される。これ等コンパレータ２６および端縁
レベル設定器３０により端縁検出手段が構成されている
。
コンパレータ２６およびＡ／Ｄ変換器２８に供給される
。コンパレータ２６は、供給された受光信号ＳＳの信号
強度と端縁レベル設定器３０から供給される端縁レベル
信号ＳＬの信号強度とを比較し、端縁レベル信号ＳＬよ
りも受光信号ＳＳの信号強度の方が大きい場合に、出力
信号ＳＨをアンド回路３２に供給する。ここで、受光信
号ＳＳの信号強度は受光した放射エネルギーの大きさに
対応するものであり、その放射エネルギーの大きさは鋼
材１２の側端縁１４ａ、１４ｂを境として大きく変化す
る。したがって、上記端縁レベル信号ＳＬの信号強度を
、鋼材１２から放射された放射エネルギーを受光した光
電素子２０から出力される受光信号ＳＳの信号強度より
も僅かに小さい値に設定すれば、第２図において左端に
位置する光電素子２０から逐次供給される受光信号ＳＳ
の信号強度が端縁レベル信号ＳＬの信号強度よりも大き
くなり、上記コンパレータ２６から出力信号ＳＨが出力
されることにより、鋼材１２の一方の側端縁１４ａが検
出されることとなる。具体的には、第２図における光電
素子２０．、から出力された受光信号ＳＳがコンパレー
タ２６に供給された時、コンパレータ２６から出力信号
ＳＨが出力される。これ等コンパレータ２６および端縁
レベル設定器３０により端縁検出手段が構成されている
。
コンパレータ２６からの出力信号ＳＨが供給されるアン
ド回路３２には、フリップフロップ回路３４の出力信号
ＳＱＬが供給されるようになっている。フリ、プフロソ
プ回路３４は、前記駆動制御回路２２からスタートパル
スＳＰが供給されることにより、出力信号ＳＱＩを出力
するようになっており、コンパレータ２６から出力信号
ＳＨが出力される際には、アンド回路３２には既に出力
信号ＳＱＬが供給されている。したがって、アンド回路
３２においては、出力信号ＳＨが供給されることにより
直ちに出力信号ＳＡＩをフリップフロップ回路３６に出
力する。
ド回路３２には、フリップフロップ回路３４の出力信号
ＳＱＬが供給されるようになっている。フリ、プフロソ
プ回路３４は、前記駆動制御回路２２からスタートパル
スＳＰが供給されることにより、出力信号ＳＱＩを出力
するようになっており、コンパレータ２６から出力信号
ＳＨが出力される際には、アンド回路３２には既に出力
信号ＳＱＬが供給されている。したがって、アンド回路
３２においては、出力信号ＳＨが供給されることにより
直ちに出力信号ＳＡＩをフリップフロップ回路３６に出
力する。
フリップフロップ回路３６は、アンド回路３２から出力
信号ＳΔ１が供給されることにより、出力信号ＳＱ２を
出力するようになっており、その出力信号Ｓ’Ｑ ２は
アンド回路３８およびプリセットカウンタ４０に供給さ
れる。アンド回路３８には前記駆動制御回路２２から駆
動パルスＭＰが供給されるようになっており、出力信号
ＳＱ２が供給されることにより、以後、クロックパルス
ＣＰが供給される毎に出力信号ＳＡ２をプリセットカウ
ンタ４０に供給する。プリセットカウンタ４０において
は、前記出力信号ＳＱ２がリセット端子ＲＴに供給され
ることにより、測温位置設定器４２に予め設定された設
定値ａが読み込まれ、カウンタの内容がその設定値ａに
リセットされるとともに、アンド回路３８から出力信号
ＳＡ２が供給される毎にそのカウンタの内容を１ずつ減
算する。
信号ＳΔ１が供給されることにより、出力信号ＳＱ２を
出力するようになっており、その出力信号Ｓ’Ｑ ２は
アンド回路３８およびプリセットカウンタ４０に供給さ
れる。アンド回路３８には前記駆動制御回路２２から駆
動パルスＭＰが供給されるようになっており、出力信号
ＳＱ２が供給されることにより、以後、クロックパルス
ＣＰが供給される毎に出力信号ＳＡ２をプリセットカウ
ンタ４０に供給する。プリセットカウンタ４０において
は、前記出力信号ＳＱ２がリセット端子ＲＴに供給され
ることにより、測温位置設定器４２に予め設定された設
定値ａが読み込まれ、カウンタの内容がその設定値ａに
リセットされるとともに、アンド回路３８から出力信号
ＳＡ２が供給される毎にそのカウンタの内容を１ずつ減
算する。
そして、カウンタの内容がＯになると、キャリー信号Ｓ
Ｃを前記Ａ／Ｄ変換器２８．フリ、プフロソプ回路３４
および３６に供給し、Ａ／Ｄ変換器２８においてはデジ
タル信号に変換した受光信号ＳＳをＣＰＵ４４に供給す
る一方、フリップフロップ回路３４．３６においては出
力信号ＳＱＩ。
Ｃを前記Ａ／Ｄ変換器２８．フリ、プフロソプ回路３４
および３６に供給し、Ａ／Ｄ変換器２８においてはデジ
タル信号に変換した受光信号ＳＳをＣＰＵ４４に供給す
る一方、フリップフロップ回路３４．３６においては出
力信号ＳＱＩ。
ＳＣ２の出力をそれぞれ停止する。
ここで、前記受光装置１０からは、前記光電素子２０７
の受光信号ＳＳが出力された後も駆動制御回路２２から
供給されるクロックパルスＣＰに同期して、後続の光電
素子２０．、や、、２０．、。２゜・・・の受光信号Ｓ
Ｓが順次出力されるため、上記Ａ／Ｄ変、変器換器から
ＣＰＵ４４に供給される受光信号ＳＳは、光電素子２０
．から上記設定値ａと同じ素子数だけ隔てた位置にある
光電素子２０゜、ａから出力されたものとなる。換言す
れば、鋼材１２の側端縁１４ａから素子数ａに対応する
距離だけ離間した測温位置Ｘにおける温度を表す受光信
号ＳＳのみがＣＰＵ４４に供給されることとなるのであ
る。上記アンド回路３８．プリセットカウンタ４０．測
温位置設定器４２およびＡ／Ｄ変換器２８により選択手
段が構成されている。
の受光信号ＳＳが出力された後も駆動制御回路２２から
供給されるクロックパルスＣＰに同期して、後続の光電
素子２０．、や、、２０．、。２゜・・・の受光信号Ｓ
Ｓが順次出力されるため、上記Ａ／Ｄ変、変器換器から
ＣＰＵ４４に供給される受光信号ＳＳは、光電素子２０
．から上記設定値ａと同じ素子数だけ隔てた位置にある
光電素子２０゜、ａから出力されたものとなる。換言す
れば、鋼材１２の側端縁１４ａから素子数ａに対応する
距離だけ離間した測温位置Ｘにおける温度を表す受光信
号ＳＳのみがＣＰＵ４４に供給されることとなるのであ
る。上記アンド回路３８．プリセットカウンタ４０．測
温位置設定器４２およびＡ／Ｄ変換器２８により選択手
段が構成されている。
また、測温位置Ｘは３、ラインセンサ１６上に結像され
た部分において温度を測定すべき任意の一点に対応する
。なお、測温位置設定器４２に予林設定される設定値ａ
は、側端８！ １４ ａと所望する測温位置Ｘとの間の
距離を入力することにより、その距離に対応する光電素
子２０の数が自動的に設定されるようになっている。
た部分において温度を測定すべき任意の一点に対応する
。なお、測温位置設定器４２に予林設定される設定値ａ
は、側端８！ １４ ａと所望する測温位置Ｘとの間の
距離を入力することにより、その距離に対応する光電素
子２０の数が自動的に設定されるようになっている。
ＣＰＵ４４は、データバスラインを介して接続されたＲ
ＯＭ４６．ＲＡＭ４８と共に温度決定手段を成すマイク
ロコンピュータを構成しており、ＲＡＭ４８の一時記憶
機能を利用しつつＲＯＭ４６に予め設定されたプログラ
ムに従って受光信号ＳＳの信号処理を行うことにより、
例えばデータマツプ等から受光信号ＳＳの信号強度に対
応する温度を決定し、その温度を表す温度信号ＤＤをＤ
／Ａ変換器５０に供給する。Ｄ／Ａ変換器５０は、供給
された温度信号ＤＤをアナログ信号に変換した後、表示
記録装置５２に供給する。そして、表示記録装置５２に
おいては、供給された温度信号ＤＤが表す温度をブラウ
ン管等に表示するとともに、チャートに記録する。
ＯＭ４６．ＲＡＭ４８と共に温度決定手段を成すマイク
ロコンピュータを構成しており、ＲＡＭ４８の一時記憶
機能を利用しつつＲＯＭ４６に予め設定されたプログラ
ムに従って受光信号ＳＳの信号処理を行うことにより、
例えばデータマツプ等から受光信号ＳＳの信号強度に対
応する温度を決定し、その温度を表す温度信号ＤＤをＤ
／Ａ変換器５０に供給する。Ｄ／Ａ変換器５０は、供給
された温度信号ＤＤをアナログ信号に変換した後、表示
記録装置５２に供給する。そして、表示記録装置５２に
おいては、供給された温度信号ＤＤが表す温度をブラウ
ン管等に表示するとともに、チャートに記録する。
なお、駆動制御回路２２は、光電素子２０の個数に対応
する数のクロックパルスＣＰの出力を終了すると、再び
スタートパルスＳＰを出力した後クロックパルスＣＰを
順次出力する。これにより、上述した動作が繰り返され
、前記矢印Ａで示す方向へ移動する鋼材１２の側端縁１
４ａから素子数ａに対応する距離だけ離間した測温位置
Ｘにおける温度が連続的に測定される。
する数のクロックパルスＣＰの出力を終了すると、再び
スタートパルスＳＰを出力した後クロックパルスＣＰを
順次出力する。これにより、上述した動作が繰り返され
、前記矢印Ａで示す方向へ移動する鋼材１２の側端縁１
４ａから素子数ａに対応する距離だけ離間した測温位置
Ｘにおける温度が連続的に測定される。
このように、本実施例の走査型放射温度計は、先ず、鋼
材１２の一方の側端縁１４ａに対応する光電素子２０ｆ
ｉを検出し、その光電素子２０１から測温位置設定器４
２に設定された設定値ａと同じ故の素子数だけ隔たった
光電素子２０．。１の受光信号ＳＳに基づいて温度を決
定するようになっている。したがって、鋼材１２が矢印
Ａで示す方向へ移動する際に振動等に起因して幅方向へ
ずれても、側端縁１４ａから素子数ａに対応する距離だ
け離間した測温位置Ｘがずれることはなく、その測温位
置Ｘにおける温度を高い精度で測定することができるの
である。
材１２の一方の側端縁１４ａに対応する光電素子２０ｆ
ｉを検出し、その光電素子２０１から測温位置設定器４
２に設定された設定値ａと同じ故の素子数だけ隔たった
光電素子２０．。１の受光信号ＳＳに基づいて温度を決
定するようになっている。したがって、鋼材１２が矢印
Ａで示す方向へ移動する際に振動等に起因して幅方向へ
ずれても、側端縁１４ａから素子数ａに対応する距離だ
け離間した測温位置Ｘがずれることはなく、その測温位
置Ｘにおける温度を高い精度で測定することができるの
である。
以上、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明し
たが、本発明は他の態様で実施することもできる。
たが、本発明は他の態様で実施することもできる。
例えば、前記実施例では一つの測温位置Ｘにおける温度
を測定するようになっているが、プリセットカウンタ４
０を複数設けることにより、複数の位置の温度を併せて
測定し得るように構成することも可能である。
を測定するようになっているが、プリセットカウンタ４
０を複数設けることにより、複数の位置の温度を併せて
測定し得るように構成することも可能である。
また、前記実施例では端縁検出手段および選択手段がコ
ンパレータ２６．プリセットカウンタ４０等のハードロ
ジック回路にて構成されているが、温度決定手段を成す
マイクロコンピュータに端縁検出手段や選択手段の機能
を持たせることもできる一方、リニアライザ等を用いた
ハードロジック回路にて温度決定手段を構成することも
できる。
ンパレータ２６．プリセットカウンタ４０等のハードロ
ジック回路にて構成されているが、温度決定手段を成す
マイクロコンピュータに端縁検出手段や選択手段の機能
を持たせることもできる一方、リニアライザ等を用いた
ハードロジック回路にて温度決定手段を構成することも
できる。
また、前記実施例では測温位置設定器４２に予め設定さ
れた設定値ａに対応する測温位置Ｘにおける温度のみを
測定し得るようになっているが、切換スイッチ等の切換
操作により、ラインセンサ１６上に結像される部分、す
なわち第１図において一点鎖線で示されている部分の温
度分布をも測定し得るように構成することも可能である
。
れた設定値ａに対応する測温位置Ｘにおける温度のみを
測定し得るようになっているが、切換スイッチ等の切換
操作により、ラインセンサ１６上に結像される部分、す
なわち第１図において一点鎖線で示されている部分の温
度分布をも測定し得るように構成することも可能である
。
さらに、前記実施例では鋼材１２が矢印Ａで示す方向へ
移動させられることにより、側端縁１４ａから所定の距
離だけ離間した測温位置Ｘの温度を連続的に測定する場
合について説明したが、被測温物の種類や温度測定の目
的等により、温度計の方を移動するようにしたり、両者
を位置固定に配置して温度測定したりすることもできる
。
移動させられることにより、側端縁１４ａから所定の距
離だけ離間した測温位置Ｘの温度を連続的に測定する場
合について説明したが、被測温物の種類や温度測定の目
的等により、温度計の方を移動するようにしたり、両者
を位置固定に配置して温度測定したりすることもできる
。
また、前記実施例では受光信号ＳＳの信号強度が端縁レ
ベル信号ＳＬの信号強度よりも大きいか否かにより、側
端縁１４ａを検出するようになっているが、受光信号Ｓ
Ｓの信号強度の変化の大きさ等により側端ｉ＆１４ａを
検出するようにしても差支えない。
ベル信号ＳＬの信号強度よりも大きいか否かにより、側
端縁１４ａを検出するようになっているが、受光信号Ｓ
Ｓの信号強度の変化の大きさ等により側端ｉ＆１４ａを
検出するようにしても差支えない。
また、前記実施例ではラインセンサ１６がａ材１２の側
端縁１４ａに対して直交するように配設されているが、
少なくとも側端縁１４ａと交差するように設けられてお
れば良く、その場合には、両者の傾斜角度を考慮して設
定値ａを設定することとなる。なお、鋼材１２から放射
された放射エネルギーを、ミラー等により反射させてラ
インセンサ１６上に結像させる場合には、そのラインセ
ンサ１６上に結像された状態における鋼材１２の側端縁
１４ａとラインセンサ１６の向きとが交差するようにな
っておれば良い。
端縁１４ａに対して直交するように配設されているが、
少なくとも側端縁１４ａと交差するように設けられてお
れば良く、その場合には、両者の傾斜角度を考慮して設
定値ａを設定することとなる。なお、鋼材１２から放射
された放射エネルギーを、ミラー等により反射させてラ
インセンサ１６上に結像させる場合には、そのラインセ
ンサ１６上に結像された状態における鋼材１２の側端縁
１４ａとラインセンサ１６の向きとが交差するようにな
っておれば良い。
さらに、前記実施例では温度表示、記録をアナログ信号
に変換して行っているが、アナログ信号に変換すること
なくデジタル信号表示器によって行ってもよい。
に変換して行っているが、アナログ信号に変換すること
なくデジタル信号表示器によって行ってもよい。
その他−々例示はしないが、本発明はその精神を逸脱す
ることなく当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を
加えた態様で実施することができる。
ることなく当業者の知識に基づいて種々の変更、改良を
加えた態様で実施することができる。
第１図は本発明の一実施例である走査型放射温度計の受
光装置が鋼材上に配置された状態を示す斜視図である。 第２図は第１図の受光装置の構成を説明する図である。 第３図は第１図の受光装置に接続されている電気回路の
ブロック線図である。 第４図は第３図の駆動制御回路から出力されるスタート
パルスおよびクロックパルスのタイムチャートである。 １０：受光装置 １２：鋼材（被測温物）１４ａ
：側端縁（端縁） ２０：光電素子（受光素子） ２６：コンパレータ ２８ ： Ａ／Ｄ変換器３０：
端縁レベル設定器 ３８：アンド回ｉ ４０ニブリセットカウンタ４２
：測温位置設定器 ４４：ＣＰＵ ４６ ：ＲＯＭ ４８ ：ＲＡＭ５Ｓ：受光
信号 Ｘ；測温位置（任意の一点）
光装置が鋼材上に配置された状態を示す斜視図である。 第２図は第１図の受光装置の構成を説明する図である。 第３図は第１図の受光装置に接続されている電気回路の
ブロック線図である。 第４図は第３図の駆動制御回路から出力されるスタート
パルスおよびクロックパルスのタイムチャートである。 １０：受光装置 １２：鋼材（被測温物）１４ａ
：側端縁（端縁） ２０：光電素子（受光素子） ２６：コンパレータ ２８ ： Ａ／Ｄ変換器３０：
端縁レベル設定器 ３８：アンド回ｉ ４０ニブリセットカウンタ４２
：測温位置設定器 ４４：ＣＰＵ ４６ ：ＲＯＭ ４８ ：ＲＡＭ５Ｓ：受光
信号 Ｘ；測温位置（任意の一点）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測温物から放射される放射エネルギーを受光して該放
射エネルギーに対応した大きさの受光信号を出力する受
光素子が一直線に沿って複数配列された受光装置と、前
記受光素子から出力される前記受光信号に基づいて前記
被測温物の温度を決定する温度決定手段とを備え、該被
測温物の前記一直線上に結像された部分における任意の
一点の温度を測定し得る走査型放射温度計において、前
記複数の受光素子からそれぞれ出力される受光信号に基
づいて前記被測温物の端縁を検出する端縁検出手段と、 該端縁検出手段によって検出された端縁に対応する受光
素子から予め設定された素子数を隔てた位置における受
光素子の前記受光信号を取り出して前記温度決定手段に
供給する選択手段と を設けたことを特徴とする走査型放射温度計。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60286169A JPS62145125A (ja) | 1985-12-19 | 1985-12-19 | 走査型放射温度計 |
| US06/943,489 US4746224A (en) | 1985-12-19 | 1986-12-19 | Scanning type, radiant-energy responsive temperature measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60286169A JPS62145125A (ja) | 1985-12-19 | 1985-12-19 | 走査型放射温度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62145125A true JPS62145125A (ja) | 1987-06-29 |
Family
ID=17700834
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60286169A Pending JPS62145125A (ja) | 1985-12-19 | 1985-12-19 | 走査型放射温度計 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4746224A (ja) |
| JP (1) | JPS62145125A (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4840496A (en) * | 1988-02-23 | 1989-06-20 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Noncontact temperature pattern measuring device |
| US4831258A (en) * | 1988-03-04 | 1989-05-16 | Exergen Corporation | Dual sensor radiation detector |
| US5081359A (en) * | 1990-05-23 | 1992-01-14 | Exergen Corporation | Differential thermal sensor |
| US5085525A (en) * | 1990-10-19 | 1992-02-04 | Square D Company | Scanning infrared temperature sensor with sighting apparatus |
| US5094544A (en) * | 1990-10-19 | 1992-03-10 | Square D Company | Scanning infrared thermometer with DC offset and emissivity correction |
| US5255286A (en) * | 1991-05-17 | 1993-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Multi-point pyrometry with real-time surface emissivity compensation |
| US5219226A (en) * | 1991-10-25 | 1993-06-15 | Quadtek, Inc. | Imaging and temperature monitoring system |
| DE19940463A1 (de) * | 1999-08-26 | 2001-03-01 | Ruetgers Automotive Ag | Verfahren zum Bestimmen eines Abbilds einer Temperaturverteilung auf einer Reiboberfläche |
| JP4266878B2 (ja) * | 2004-04-22 | 2009-05-20 | Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 | 映像表示装置 |
| DE102004037575A1 (de) * | 2004-08-03 | 2006-03-16 | Daimlerchrysler Ag | Prüfvorrichtung und Prüfverfahren zur fertigungsintegrierbaren, zerstörungsfreien Prüfung insbesondere von Membran-Elektroden-Anordnungen zur Verwendung in Brennsoffzellen |
| US8536514B2 (en) * | 2008-02-01 | 2013-09-17 | Land Instruments International Limited | Method and apparatus for measuring the temperature of a sheet material |
| GB0801918D0 (en) * | 2008-02-01 | 2008-03-12 | Land Instr Int Ltd | Method and apparatus for measuring the temperature of a sheet material |
| CN103764867B (zh) * | 2011-08-26 | 2016-05-25 | 新日铁住金株式会社 | 合金化位置确定方法、合金化位置确定装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5017878A (ja) * | 1973-06-15 | 1975-02-25 | ||
| JPS5028381A (ja) * | 1973-07-13 | 1975-03-22 | ||
| JPS5494087A (en) * | 1978-01-05 | 1979-07-25 | Daido Steel Co Ltd | Temperature measuring instrument |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3044297A (en) * | 1960-09-15 | 1962-07-17 | Industrial Nucleonics Corp | Measuring system |
| US3688295A (en) * | 1969-10-21 | 1972-08-29 | John Tsoras | Electronic temperature monitoring system |
| IN141416B (ja) * | 1973-06-04 | 1977-02-26 | Svenska Rotor Maskiner Ab | |
| EP0057290A1 (en) * | 1981-02-02 | 1982-08-11 | Hoogovens Groep B.V. | Temperature scanner |
| US4559819A (en) * | 1983-05-17 | 1985-12-24 | Mannesmann Aktiengesellschaft | Selecting the cut-off end portion of rolled sheet stock |
-
1985
- 1985-12-19 JP JP60286169A patent/JPS62145125A/ja active Pending
-
1986
- 1986-12-19 US US06/943,489 patent/US4746224A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5017878A (ja) * | 1973-06-15 | 1975-02-25 | ||
| JPS5028381A (ja) * | 1973-07-13 | 1975-03-22 | ||
| JPS5494087A (en) * | 1978-01-05 | 1979-07-25 | Daido Steel Co Ltd | Temperature measuring instrument |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4746224A (en) | 1988-05-24 |
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