JPS6214195A - Elパネルのエ−ジング方法 - Google Patents

Elパネルのエ−ジング方法

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Publication number
JPS6214195A
JPS6214195A JP15286585A JP15286585A JPS6214195A JP S6214195 A JPS6214195 A JP S6214195A JP 15286585 A JP15286585 A JP 15286585A JP 15286585 A JP15286585 A JP 15286585A JP S6214195 A JPS6214195 A JP S6214195A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
panel
circuit
pulse
aging
electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP15286585A
Other languages
English (en)
Inventor
高原 和博
哲也 小林
片山 良志郎
佐藤 精威
泰史 大川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP15286585A priority Critical patent/JPS6214195A/ja
Publication of JPS6214195A publication Critical patent/JPS6214195A/ja
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  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 マトリックス電極が配列された表示パネルの製造に係り
、パネル内の絶縁破壊を最小限度に抑止して、該パネル
特性の安定化を図るエージング方法について提示するも
のである。
〔産業上の利用分野〕
本発明は表示パネルに適用されるEL (Electr
o−1uminescence)パネルのエージング方
法に関する。
パネル基板上に透明電極、誘電体1発光層、及び背面電
極を形成せる例えばマトリックス構成EL表示パネルの
製造において、パネル面内配列になる無数の発光セルに
対してエージング処理をするのが一般的である。
係るエージング処理時、特に絶縁破壊などが生じた際、
破壊による電極損傷を最小限度に抑えることが不可欠と
なる。
〔従来の技術〕
第6図は透明基板上に薫着等の手段により電極。
発光層、誘電体層、などを積層する薄膜ELパネル部分
的断面図である。図に従ってパネルの一構成例を説明す
る。
ガラス基板1には、マトリックス回路構成の一方電極(
例えばX電極)として導電性ITOv電極2が°形成さ
れる。ITO膜電極2の表面は誘電体層3と1発光層4
.更に発光層の上に誘電体層5゜を順次積層した後、光
反射率の大きい他方のY電極6が被着される。
前記構成になるパネル組立が完了した基板はパネル特性
を安定化するためXとY電極間に例えば。
1(1011zの交流パルス電圧を1(10〜2(10
時間にわたり印加してエージングがされる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、前記エージング処理中において、誘電体層3
及び5に例えば、ピンホールなどによる層欠陥があった
とすれば、誘電体層の絶縁破壊が電極損傷となる。更に
、絶縁破壊の状態のままパルス電圧を印加し続けると、
欠陥周辺部の温度が上昇し電極1員傷は印加電力に比例
して大きい痕跡となり、逐には電極の断線に発展するこ
ととなり。
ディスプレイパネルとして致命的欠陥に繋がると云う問
題がある。
又、印加電圧のパルス幅を狭くして破壊痕跡を小さくし
ようとしても周期、1(1011zで連続的に印加され
るため破壊が連続的に起ごり痕跡が拡大することが屡で
ある。
〔問題点を解決するための手段] 第1図は、前記エージング処理時における絶縁破壊によ
るパネル損傷を最小に抑えるため設けられた本発明の絶
縁破壊検出回路と該検出回路の出力により表示パネルの
駆動を一定時間停止させるものである。
表示パネル】Oの絶縁破壊を検出する回路12または1
4は、共に該パネルに印加される高圧パルス波形に発生
する歪を、コンパレータで検知するようにしたものであ
る。
そして前記コンパレータ12または14の出力19また
は20によってワンショットマルチハイブレーク回路2
4を起動せしめて、複数のタイミングパルス発生回路2
1と22を一定時間停止させ該時間経過後。
再び前記パルス発生回路21と22を動作させるもので
ある。
〔作 用〕
前記Et、パネルのエージング手段は、前記交流パルス
による絶縁破壊の有無を常時、コンパレータ12または
14により監視させるものである。
絶縁破壊時は、パルス波形が歪んで例えば第2図回路中
に示される波形17となることから、これを基準側のパ
ルス波形18と比較して検出、該検出出力19 (また
は20)を用いて、論理和素子23を介してワンショッ
トマルチハイブレーク24 (図中、O/Sと記された
回路素子)を起動させる。
かくして、破壊発生の初期、0/S素子内部の回路定数
で決まる一定時間、タイミングパルス発生回路を停止さ
せる制御が可能となり、欠陥周辺部の熱的上昇を抑えパ
ネル欠陥部の破壊損傷を最小限に抑止しうる。
〔実施例〕
以下1本発明エージング方法実施例を示す第1図乃至第
3図に従って本発明の詳細な説明する。
第1図は不発1ガエージング手段を説明する回路実施例
図、第2図は前回の破壊検出要部手段を説明する図、及
び第3図は前記破壊検出に続いてタイミング発生回路を
一定時間(′r)停止させる動作波形タイミング図であ
る。
第1図図中1回路構成要部の符号は次の通り。
CLKはパネル駆動用の共通タイミング発生回路。
P (Xe)はパネルのX側電極2を駆動する高圧パル
スXeのタイミング発生回路21.  P (Ye)は
同パネルのY側電極5を駆動する高圧パルスYeのタイ
ミング発生回路22である。
P (Xr)は破壊検出手段に使用するX(!!lI基
準パルスXrの発生回路、  P (Yr)は破壊検出
手段に使用するY側基単パルスYrの発生回路である。
前記X (!1.!I電橿(またはY (ljll電極
)に印加する高圧パルスXe (またはYe)は、パネ
ルドライバ回路11(または13)を介してELパネル
10に供給される。
前記パネルドライバ回路11(または13)のXeパル
スまたはYeパルスは、それぞれ対応する比較基準パル
スXrとYrと共に、それぞれXコンパレータ12、−
及びYコンパレータ14に入力される。
又1図中10/Sと記す回路素子24はワンショットマ
ルチハイブレークである。該回路素子24は。
前記X、  Yコンパレータ12.14の何れか側から
のリセットパルス19または20で動作するように論理
和素子23が挿入される。
パネル10印加のYe高圧パルス波形は、常時、破壊検
出のため設けられた基準パルスYrにより監視され、も
しkTh!破壊等の異常があれば、パネルlO内の該当
電極に印加される高圧ドライバパルスYeの波形が歪む
ことから、該歪みをコンパレータ14で検出する。そし
て前記検出のコンパレータ14からはりセントパルス2
0が出力される。
第2図は、絶縁破壊により、X側の高圧パルスXeと、
 Xeと比較する基準パルスXr、相互のコンパレータ
12の入力波形17及び18の違いを図式的に示し、こ
れからX側リセットパルス19が出される前記破壊検出
要部回路図である。
同図コンパレータ12の比較パルスXeとXrそれぞれ
は、直列容量からなる入力端子の分割回路15と16が
設けられる。
前記X側すセントパルス19出力により起動されたO/
S回路素子24は、該素子の回路定数で決まるある時間
(第3図の最下段に示す”P停止”信号のT時間)、複
数のタイミングパルス発生回路P (Xe)とP (Y
e)に対してその動作を停止させる。従って、バ♀ル駆
動のそれぞれの高圧ドライバパルスXeとYeも断状態
となる。
このようにELパネルの絶縁破壊検出と該検出後におけ
るタイミングパルス発生回路を停止せしめる本発明の主
要回路部の動作タイミング波形は第3図に示される。
更に、第4図は、一定時間Tの間、前記”P停止”をな
すパネル駆動波形が示される。
第5図falは従来のエージング駆動電源回路によるE
しパネルのセル部の電極損傷、及びtb1図は本発明の
エージング駆動電源回路による表示セルの電極損傷3相
互の比較をしたセル正面図である。
前記実施例では、パネルの絶縁破壊時における電圧波形
の歪を検出する例を示したが、これは破壊時の電流波形
で検出することも可能である。
(発明の効果〕 以上説明のように本発明のエージング駆動電源回路によ
れば、 ELパネルの絶縁破壊によるパネル電極の損傷
が最小限に抑えられることとなり、結果的には該パネル
の破壊に対して信頼性の高いエージング処理が施行され
ることとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のエージング回路実施例図。 第2図は前回の破壊検出要部手段を説明する図。 第3図は絶縁破壊検出とパネル駆動停止する動作波形の
タイミング図。 第4図はP停止時のパネル駆動波形図。 第5図(alと(b)はそれぞれ表示セルの電極損傷を
比較するセル正面図。 第6図はELパネルの断面図である。 図中、10は表示パネル。 12と14は絶縁破壊を検出する回路。 19と20はそれぞれ検出回路12.14の出力。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 表示パネル(10)の絶縁破壊を検出する回路(12)
    〔または(14)〕と、前記検出回路(12)〔または
    (14)〕の出力(19)〔または(20)〕によって
    表示パネル(10)を駆動する複数のタイミングパルス
    発生回路(21)と(22)の出力信号を一定時間停止
    せしめる回路(24)、を備えてなすことを特徴とする
    ELパネルのエージング方法。
JP15286585A 1985-07-11 1985-07-11 Elパネルのエ−ジング方法 Pending JPS6214195A (ja)

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JPS6214195A true JPS6214195A (ja) 1987-01-22

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10501446B2 (en) 2003-07-01 2019-12-10 Transitions Optical, Inc. Photochromic compounds

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10501446B2 (en) 2003-07-01 2019-12-10 Transitions Optical, Inc. Photochromic compounds
US10532997B2 (en) 2003-07-01 2020-01-14 Transitions Optical, Inc. Photochromic compounds
US10532998B2 (en) 2003-07-01 2020-01-14 Transitions Optical, Inc. Photochromic compounds

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