JPS62125313A - 顕微鏡の照明装置 - Google Patents

顕微鏡の照明装置

Info

Publication number
JPS62125313A
JPS62125313A JP26480785A JP26480785A JPS62125313A JP S62125313 A JPS62125313 A JP S62125313A JP 26480785 A JP26480785 A JP 26480785A JP 26480785 A JP26480785 A JP 26480785A JP S62125313 A JPS62125313 A JP S62125313A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
sample
illumination
slit
field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26480785A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisafumi Iwata
岩田 尚史
Yukio Matsuyama
松山 幸雄
Hitoshi Kubota
仁志 窪田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP26480785A priority Critical patent/JPS62125313A/ja
Publication of JPS62125313A publication Critical patent/JPS62125313A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の利用分野〕 本発明は、光学顕微鏡による拡大像を蓄積型1次元セン
サで検出する場合、蓄積時間ご短縮し高速駆動が可能で
ある高照度な顕微鏡の照明装置に関するものである。
〔発明の背景〕
通常、LSI等の外観検査では、微細なパターンご高倍
率に拡大して高速に検出Tる必要があり、また多結晶シ
リコン等の低反射率な物質で作られたパターンも検査の
対象となる。
このためキセノンランプ、超高圧水銀−灯などを光源と
して光源像をコンデンサーレンズの入射瞳に作り、照明
むらのないケーラー照明による公知の照明法では、蓄積
型1次センサを用い拡大像を検出する場合、単位面積光
りの光量が不足するため1蓄積時間を短縮して高速に信
号を検出することができなかった。
顕微鏡の照明において照度ごあげるには、光源のエネル
ギーを効率よく対物レンズに伝達するか、又は光源のエ
ネルギーを必要な照明範囲に集中する必要がある。仮り
にランプを大出力のものと交換しても、エネルギーの密
度は変らないため、効率が低下するばかりでなく照度も
上がらず・大出力のランプを使用するから熱の問題が発
生ずる恐れがある。
一方、従来のキセノンランプ等を光源とした照明では、
効率を飛躍的に向上させることが困難であり、又光源が
ある大きさを持っているため、光源のエネルギーを集中
することができない0 ざらに、ケーラー照明光学系に関連Tるものとして、特
開昭59−7325号公報に記載されているものが提案
されている。該提案は照明光路上に光束分割手段を設け
、照明光束を互に異なる所定の方向に偏向して複数の光
束に分割し、コンデンサレンズの瞳位置近傍の同一平面
上に複数の光源像を形成させるようにしたものである。
このような提案によれば、いかなる対物レンズに対して
も視野内をむらなく照明することができるが、光量を飛
躍的に向上させることはできない。
〔発明の目的〕 本発明は上記のような従来技術の問題点を解消し、レー
ザー光で試料をスリット状に高照度に照明することによ
り、蓄積型1次元センサーの高速駆動を可能にする顕微
鏡の照明装置を提供することを目的とするものである。
〔発明の概要〕
本発明は上記目的を達成するためにル−ザ光源、全反射
平面ミラー、凹面と凸面の各シリンドリカルレンズ又は
凸面シリンドリカルレンズ、フィールドレンズ、ハーフ
ミラ−及び対物レンズな順次に配置してなる照明光学系
と、該対物レンズ、投影レンズ及び蓄積型1次レンズを
順次に配置してなる検出糸とからなり、前記照明光学系
により試料をスリット状に照明するようにしたことを特
徴とする。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面について説明する0 第1図および第2図(5)■は本発明の照明装置を落射
照明顕微鏡に適用した第1実施例を示したもので1第1
図は構成図、第2図(A■は照明系光路の正面図および
平面図である。
第1図において、照明光学系Aは、レーザービームを発
光するレーザ光源1、光路変更用の全反射平面ミラー2
.2’、スリット光形成用の凹面シリンドリカルレンズ
3(焦点距離ハ)、同凸面シリンドリカルレンズ4(焦
点距離f4)、フィールドレンズ6、ハーフミラ−7及
び対物ルンズ8を順次に配置して構成されている。一方
、検出系Bは、該対物レンズ8、投影レンズ9及び蓄積
型1次元レンズ10を順次に配置して構成されており、
該対物レンズ8と対向して試料11が設置されている。
試料11の表面には、微細なパターンが形成されている
上記照明光学系Aの詳細を第2図(α)(bfついて説
明する。
凹面シリンドリカルレンズ3及び凸面シリンドリカルレ
ンズ4は、−万にだけガリレオ型のビームエキスパンダ
ーとなるように配置されている。フィールドレンズ6は
対物レンズ8の胴付面8α(第2図)から光学的鏡筒長
りだけ離れた位置、すなわち視野絞り位置に設置されて
いるO このように構成することにより、レーザ光源1から発光
された発光ビームは、全反射平面ミラー2.2’ (第
1図)により光路を曲げられ)凹面シリンドリカルレン
ズ3に入射する0該入射ビームは両シリンドリカルレン
ズ3,4により、一方にだけf=lf& 倍に拡大され
たシート状の平行ビームとな−る0芸子行ビームの全部
は、フィールドレンズ6により対物レンズ8の射出瞳内
に入射される。該対物レンズ8は、視野絞り位置におけ
るフィールドレンズ6により形成されるシート状平行ビ
ームの断面(以降−スリットと称す)を試料11上に縮
小して投影するので、試料11の表面をスリット状に照
明することができる〇 上述した照明光学系Aでは、ハーフミラ−7の通過分を
除けば為該ミラー7面及び各レンズ3、4.6面におけ
る反射及び吸収による損失があるだけで、レーザ光源1
から発光されたビームのエネルギーを効率よく照明のエ
ネルギーとして利用し、高照度の照明3行うことができ
る。
またスリット状に照明された試料11上の微細なパター
ンは、対物レンズ8と投影レンズ9により2段階に拡大
され、蓄積型1次元センサ10の光電変換面上に結像す
る。図示されないステージにおいて、試料11コ照明ス
リツトの長手方向と垂直方向に定速度で動かせば、2次
元の画像を得ることができる。
一方、試料11の表面付近では、照明光が該試料11に
対してほぼ垂直に入射するため、試料11面が上下方向
に動いても照明度の変化は少ない。
またビーム強度がガウス分布状のレーザご用いた場合の
蓄積型1次元センサ10方向の照明度変化(シェーディ
ング)は、シリンドリカルレンズ3,4を適当に組合わ
せることにより、該1次元センサ10の検出領域に対し
て十分に長いスリットを形成し、該スリットの中央部で
検出すれば1シェーディング企小さくすることが可能で
ある。
上述した第1実施例では、フィールドレンズ6分視野絞
り位置においたが、対物レンズ8の射出瞳にすべての平
行ビームを入射させることができ、かつ蓄積型1次元セ
ンサ1oの検出領域に対して十分に長いスリットコ形成
することができれば、他の位置に配置してもよい。又前
述したように焦点距離f5の凹面シリンドリカルレンズ
3と同f4の凸面シリンドリカルレンズ4(第2図(α
))を使用する代りに、焦点距離f′5.f′4の凸面
シリンドリカルレンズ3’、 4’ (第2図(b”l
 )を使用しても同様な効果を得ることができる。
第3図及び第4図(α) (b) (c)に示す第2実
施例は、前記第1実施例の照明光学系に焦点距離f5の
凸面シリンドリカルレンズ5B、同f4又はf;の凸面
シリンドリカルレンズ4,4′とフィールドレンズ6と
の間に、かつ該フィールドレンズ乙の配置された視野絞
り位置から15離れた位置に、しかも該レンズ5の円筒
面の軸線方向がシリンドリカルレンズ3,4又は5: 
a’の軸線を含む平面と直交する方向に配置するように
した点が異なり、その他の構成は同様であるから説明を
省略Tる。
このように構成すれば、シリンドリカルレンズ3,4又
はs: 4’により形成されたシート状の平行ビームは
、シリンドリカルレンズ5に入射し、さらに視野絞り位
置で幅方向が最も集中した平行ビームとなる。該視野絞
り位置に配設されたフィールドレンズ6はスリット光の
長手方向にだけ作用し、視野絞り位置でスリット状に集
束したレーザービームをすべて対物レンズ8の射出瞳内
に入射させる。シリンドリカルレンズ5を使用Tること
により、視野絞り位置におけるスリット幅が細くなり、
対物レンズ8を介して試料11上に縮小投影したスリッ
トの幅も細くなる。このため第2実施例によれば、スリ
ット内におG−するエネルギー密度が高くなるので、よ
り高照度な照明を得ることができる。
上述の第2実施例では、フィールドレンズ6を視野絞り
位置に設置していたか、シリアトリカルレンズ5の位置
2前後に移動させてスリット光の集光位置を調整すれは
、フィールドレンズ6′?r:他の位tr<に配置して
もよい。又シート状の平行ビームを凹面と凸面の各シリ
ンドリカルレンズ3.4を各1枚ずつ用いてガリレオ型
のビームエキスパンダーを形成していたが、これに代り
第4図<b)に示すように、凸面シリンドリカルレンズ
3: 4’の2枚により構成するケブラー型のビームエ
キスパンダーを使用してもよい。
上記の第1.第2実施例は、落射照明顕微源を対照とし
たものであったが、本発明は透過照明にも適用すること
ができる。第5図は第1図に示T第1実施例を透過照明
顕微鏡に適用した第3実施例企示したものである。該第
5実施例は第1図に示す照明光学系におけるハーフミラ
−7の代りに全反射平面ミラー121−用いると共に、
腰ミラー12と光を通過する透明な試料11′との間に
コンデンサーレンズ13ヲ配置するようにした点が異な
り、その他の構成は同様であるから説明を省略する。こ
のような第3実施例は第1笑施例と同様な作用を行い、
同様な効果を発揮する。又前記第2実施例も第3実施例
と同様に透過照明顕微鏡に適用可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、レーザ光で試料
をスリット状に高照度に照明することにより、蓄積型1
次元センサを容易に高速駆動できるため、微細なパター
ンを検出する場合に短時間で画像入力が可能となるので
、微細パターンの拡大画像を利用した検査装置の検査時
間を大幅に短縮することかできる。
【図面の簡単な説明】
(al(b)ヒ(c) 第1図および第2図輯≠#棹は本発明に係わる顕微鏡の
照明装置の第1笑施例を示す構成図および照明光学系の
光路の正面図と平面図、第3図および第4図4は本発明
の第2実施例を示す構成図および照明光学系の光路の正
面図と平面図、第5図は本発明の第3実施例を示す構成
図である。 1・・・レーザ光源。 2.2’、12・・・全反射平面ミラー。 6・・・凹面シリンドリカルレンズ !l、 4.4.5・・・凸面シリンドリカルレンズ6
・・・フィールドレンズ。 8・・・対物レンズ。 9・・・投影レンズ。 10・・・蓄積型1次元レンズ。 11.11’・・・試料。 13・・・コンデンサーレンズ A・・・照明光学系 B・・・検出系

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、レーザ光源、全反射平面ミラー、凹面と凸面の各シ
    リンドリカルレンズ又は凸面シリンドリカルレンズ、フ
    ィールドレンズ、ハーフミラー及び対物レンズを順次に
    配置してなる照明光学系と、該対物レンズ、投影レンズ
    及び蓄積型1次元レンズを順次に配置してなる検出系と
    からなり、前記照明光学系により試料をスリット状に照
    明するようにしたことを特徴とする顕微鏡の照明装置。 2、上記照明光学系は、レーザ光源、凹面と凸面の各シ
    リンドリカルレンズ、又は凸面シリンドリカルレンズ、
    フィールドレンズ、全反射平面ミラー及びコンデンサー
    レンズからなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の顕微鏡の照明装置。
JP26480785A 1985-11-27 1985-11-27 顕微鏡の照明装置 Pending JPS62125313A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26480785A JPS62125313A (ja) 1985-11-27 1985-11-27 顕微鏡の照明装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26480785A JPS62125313A (ja) 1985-11-27 1985-11-27 顕微鏡の照明装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62125313A true JPS62125313A (ja) 1987-06-06

Family

ID=17408486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26480785A Pending JPS62125313A (ja) 1985-11-27 1985-11-27 顕微鏡の照明装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62125313A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0533621U (ja) * 1991-10-03 1993-04-30 日本オートマチツクマシン株式会社 電線ストリツプ装置
JP2003004625A (ja) * 2001-06-15 2003-01-08 Sysmex Corp フローサイトメータ
JP2019053036A (ja) * 2017-07-06 2019-04-04 セントレ ナショナル デテュッド スパティアレCentre National D‘Etudes Spatiales 広帯域ハイパースペクトル分光光度計
JP2023513729A (ja) * 2020-02-12 2023-04-03 深▲セン▼華大智造科技股▲ふん▼有限公司 光学結像系及びそれを適用した生化物質検出系

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0533621U (ja) * 1991-10-03 1993-04-30 日本オートマチツクマシン株式会社 電線ストリツプ装置
JP2003004625A (ja) * 2001-06-15 2003-01-08 Sysmex Corp フローサイトメータ
JP2019053036A (ja) * 2017-07-06 2019-04-04 セントレ ナショナル デテュッド スパティアレCentre National D‘Etudes Spatiales 広帯域ハイパースペクトル分光光度計
JP2023513729A (ja) * 2020-02-12 2023-04-03 深▲セン▼華大智造科技股▲ふん▼有限公司 光学結像系及びそれを適用した生化物質検出系

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0880690B1 (en) Fluorescence imaging system compatible with macro and micro scanning objectives
US5672880A (en) Fluoresecence imaging system
TWI247972B (en) Illuminating method, exposing method, and device for therefor
JP3385432B2 (ja) 検査装置
JPH06214318A (ja) 反射型ホモジナイザーおよび反射型照明光学装置
JPH05142159A (ja) 光学検査装置
KR102242926B1 (ko) 웨이퍼 검사를 위한 렌즈 어레이 기반 조명
GB1266971A (ja)
JPH0545605A (ja) 照明光学装置
US6903869B2 (en) Illumination system for microscopy and observation or measuring method using the same
JP2019508746A (ja) 源自己蛍光を低減させ、均一性を改良するための散乱を伴う撮像システムおよび方法
JPS63141013A (ja) 鏡面対物レンズ並びに2個の鏡面対物レンズを用いる光学装置
JP4717731B2 (ja) 照明装置及びそれを用いた物体表面検査装置
JPS62125313A (ja) 顕微鏡の照明装置
JPH05159999A (ja) 投影露光装置
JP4172212B2 (ja) 顕微鏡標本の照明方法とこれを用いた照明装置を有する顕微鏡
JPH0629189A (ja) 投影式露光装置およびその方法並びに照明光学装置
JP2696360B2 (ja) 照明光学装置
CN101154054B (zh) 基板曝光装置及照明装置
JPH08203803A (ja) 露光装置
JP3388285B2 (ja) 検査装置
US4306783A (en) Scattered-light imaging system
JPH0744141B2 (ja) 照明光学装置
JP2003083723A (ja) 3次元形状測定光学系
JPH10186673A (ja) 露光装置