JPS62123364A - 光学的電圧計 - Google Patents
光学的電圧計Info
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- JPS62123364A JPS62123364A JP60263008A JP26300885A JPS62123364A JP S62123364 A JPS62123364 A JP S62123364A JP 60263008 A JP60263008 A JP 60263008A JP 26300885 A JP26300885 A JP 26300885A JP S62123364 A JPS62123364 A JP S62123364A
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- Japan
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- light
- pockels
- pockels element
- voltage
- optical
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、高電圧を一次電気光学的効果(ポッケルス効
果)によって測定する光学的電圧計に係わり、特に測定
レンジの拡大化および測定精度の向上化を図れるように
した光学的電圧計に関する。
果)によって測定する光学的電圧計に係わり、特に測定
レンジの拡大化および測定精度の向上化を図れるように
した光学的電圧計に関する。
電力系統の高電圧化に伴い、電力機器の試験電圧は上昇
する傾向にある。またしゃ断器の開閉などによって系統
などにサージ電圧が発生するため、電力機器の絶縁を考
える上で、これらの高電圧(〜1000kV)、高周波
(〜10MH2)の電圧を測定する必要性がしばしば生
じている。
する傾向にある。またしゃ断器の開閉などによって系統
などにサージ電圧が発生するため、電力機器の絶縁を考
える上で、これらの高電圧(〜1000kV)、高周波
(〜10MH2)の電圧を測定する必要性がしばしば生
じている。
このような高電圧測定技術の一つとして、近年、ポッケ
ルス効果を用いた光学的電圧計が用いられるようになっ
てきた。この電圧計は、 ’L t NbO3,8i+2 S i 020. K
DPなどのボッケルス素子に電圧を印加した場合、ポッ
ケルス素子中を伝搬する光の2つの屈折率主軸方向の成
分光の光学的位相差が上記印加電圧に依存するというポ
ッケルス効果を応用したものである。この光学的電圧計
は、絶縁性に優れ、実際の電力系統において比較的容易
に高電圧を測定できるという利点がある。
ルス効果を用いた光学的電圧計が用いられるようになっ
てきた。この電圧計は、 ’L t NbO3,8i+2 S i 020. K
DPなどのボッケルス素子に電圧を印加した場合、ポッ
ケルス素子中を伝搬する光の2つの屈折率主軸方向の成
分光の光学的位相差が上記印加電圧に依存するというポ
ッケルス効果を応用したものである。この光学的電圧計
は、絶縁性に優れ、実際の電力系統において比較的容易
に高電圧を測定できるという利点がある。
第4図に基づきこの光学的電圧計の原理を更に詳細に説
明する。図示しないレーザ装置から光ファイバによって
導かれた光は偏光子1によって直線錫光IrJに変換さ
れる。この直aS光!0は、ポッケルス素子2にその偏
波面がポッケルス素子2の直交する2つの屈折率主軸方
向、すなわちX。
明する。図示しないレーザ装置から光ファイバによって
導かれた光は偏光子1によって直線錫光IrJに変換さ
れる。この直aS光!0は、ポッケルス素子2にその偏
波面がポッケルス素子2の直交する2つの屈折率主軸方
向、すなわちX。
Y軸方向に対して45°をなすようにZ軸方向に入射さ
れる。そして、上記ポッケルス素子2のX軸方向の両側
に配置された電極3.4に測定すべき電圧Vを印加する
と、ポッケルス素子2の出力光のX、Y成分の光学的位
相差Δφが変化する。
れる。そして、上記ポッケルス素子2のX軸方向の両側
に配置された電極3.4に測定すべき電圧Vを印加する
と、ポッケルス素子2の出力光のX、Y成分の光学的位
相差Δφが変化する。
このΔφの大きさは、
Δφ−(rλ/d)V ・・・(1)
で表わされる。ここで、rはポッケルス定数と光線方向
とポッケルス素子の方位によって決まるポッケルス効果
の大きさを示す係数、℃はポッケルス素子2の2方向の
長さ、dはX方向の厚さである。したがって、光学的位
相差Δφを測定することによって印加電圧Vを求めるこ
とができる。
で表わされる。ここで、rはポッケルス定数と光線方向
とポッケルス素子の方位によって決まるポッケルス効果
の大きさを示す係数、℃はポッケルス素子2の2方向の
長さ、dはX方向の厚さである。したがって、光学的位
相差Δφを測定することによって印加電圧Vを求めるこ
とができる。
そこで、ポッケルス素子2からの出力光を例えばウオラ
ストン・プリズム5によって入力光の偏波方向と直交す
る成分11と、同平行な成分■2とに分ける。ここで、
ウオラストン・プリズムのP、S方向とX、Y方向とを
一致させておくと、11、I2の各パワーはそれぞれ、 −I ロ (1−CO32(−+ Δ φ ) )−
10(1−5in2Δφ) ・(2)−IO(
1+ cos2 (−+Δcb ) )−I+ (1
+ 5in2Δφ) ・(3)と表わすこと
ができる。ここでIaは入力光のパワーである。
ストン・プリズム5によって入力光の偏波方向と直交す
る成分11と、同平行な成分■2とに分ける。ここで、
ウオラストン・プリズムのP、S方向とX、Y方向とを
一致させておくと、11、I2の各パワーはそれぞれ、 −I ロ (1−CO32(−+ Δ φ ) )−
10(1−5in2Δφ) ・(2)−IO(
1+ cos2 (−+Δcb ) )−I+ (1
+ 5in2Δφ) ・(3)と表わすこと
ができる。ここでIaは入力光のパワーである。
これらIt、I2をフォトデテクタで電気信号に変換し
、差動アンプで増幅すると、その出力Eは、 E−2I(15in2Δφ −(4)と
なる。ここでΔφ(1の範囲では、 E”F21 ロ 2Δφ +410 (r ffi/d ) V
−(5)となり、差動アンプの出力Eは、ポッケルス素
子2に印加した電圧■に比例した出力となる。
、差動アンプで増幅すると、その出力Eは、 E−2I(15in2Δφ −(4)と
なる。ここでΔφ(1の範囲では、 E”F21 ロ 2Δφ +410 (r ffi/d ) V
−(5)となり、差動アンプの出力Eは、ポッケルス素
子2に印加した電圧■に比例した出力となる。
ところが、このような光学式電圧計では、レーザから出
力される光の強度が変動することが多く、このため(5
)式におけるIoが変動し、結局、測定誤差が非常に大
きくなってしまうという問題があった。
力される光の強度が変動することが多く、このため(5
)式におけるIoが変動し、結局、測定誤差が非常に大
きくなってしまうという問題があった。
そこで、この誤差を除去するため、入力光のパワー10
を常時モニタし、1JEf器を用いて、差動増幅器の出
力を割ったり、あるいは、 (12−1里 )/(12+11> 坤2(r℃/d)V ・・・(■な
る演算を行なってIoの変動の影響を除去すること等が
行われていた。
を常時モニタし、1JEf器を用いて、差動増幅器の出
力を割ったり、あるいは、 (12−1里 )/(12+11> 坤2(r℃/d)V ・・・(■な
る演算を行なってIoの変動の影響を除去すること等が
行われていた。
しかし、この方法では、割算器の雑音によって電圧計の
測定下限が決定されてしまうという欠点や、割算器が1
0MHzの高周波数にまで応動できないという問題があ
った。
測定下限が決定されてしまうという欠点や、割算器が1
0MHzの高周波数にまで応動できないという問題があ
った。
また、従来の光学式電圧計では、Δφ(1の範囲でしか
線形性が補償されず、例えば Δφ−20°にもなると、測定誤差が約2%にも達する
。したがって、電圧測定範囲が狭いという欠点があった
。
線形性が補償されず、例えば Δφ−20°にもなると、測定誤差が約2%にも達する
。したがって、電圧測定範囲が狭いという欠点があった
。
さらには、ポッケルス素子として感度の高いLiNbO
3を用いた場合、温度による複屈折の影響を受け、温度
変化に伴ってrの値が変動するため、これによる測定誤
差も無視できなかった。
3を用いた場合、温度による複屈折の影響を受け、温度
変化に伴ってrの値が変動するため、これによる測定誤
差も無視できなかった。
本発明は、上記の諸問題を解決し、高周波成分を含んだ
高電圧の測定を広い測定範囲でかつ精度良く測定できる
光学的電圧計を提供することを目的とする。
高電圧の測定を広い測定範囲でかつ精度良く測定できる
光学的電圧計を提供することを目的とする。
本発明は、ポッケルス素子を挟むように添設されて一対
の電極に測定すべき電圧を印加するとともに、上記ポッ
ケルス素子にその直交屈折率主軸方向に対して45°を
なす直線偏光の光を電界方向とは直交する方向に入射し
、上記ポッケルス素子を透過した光のうち前記直線偏光
方向と平行な成分光および同直交する成分光を2つの光
電変換器でそれぞれ受光して、これら光電変換器の各出
力から前記電極に印加さ゛れた電圧値を測定するように
した光学的電圧計において、次の各手段を具備したこと
を特徴としている。
の電極に測定すべき電圧を印加するとともに、上記ポッ
ケルス素子にその直交屈折率主軸方向に対して45°を
なす直線偏光の光を電界方向とは直交する方向に入射し
、上記ポッケルス素子を透過した光のうち前記直線偏光
方向と平行な成分光および同直交する成分光を2つの光
電変換器でそれぞれ受光して、これら光電変換器の各出
力から前記電極に印加さ゛れた電圧値を測定するように
した光学的電圧計において、次の各手段を具備したこと
を特徴としている。
すなわち、本発明に係る光学的電圧計は、前記光電変換
器の各出力波形を記憶するウェーブメモリと、前記ポッ
ケルス素子の温度を測定する温度センサと、前記ウェー
ブメモリで記憶された上記二つの成分光の光mの差を上
記二つの成分光の光量の和で除した値と前記温度センサ
で検出された温度とから変換テーブルを用いて前記印加
電圧の大きざを求めるディジタル演算装置とを具備した
ものである。
器の各出力波形を記憶するウェーブメモリと、前記ポッ
ケルス素子の温度を測定する温度センサと、前記ウェー
ブメモリで記憶された上記二つの成分光の光mの差を上
記二つの成分光の光量の和で除した値と前記温度センサ
で検出された温度とから変換テーブルを用いて前記印加
電圧の大きざを求めるディジタル演算装置とを具備した
ものである。
本発明によれば、ウェーブメモリによって瞬時の電圧波
形に対する上記二つの成分光の光量波形を記憶し、従来
、割算器で行なっていた処理をディジタル演算器でディ
ジタル的に行なっているので、割算器を使用する必要が
なく、測定誤差を極めて少なくでき、割算器の処理速度
に起因した問題点も回避できる。
形に対する上記二つの成分光の光量波形を記憶し、従来
、割算器で行なっていた処理をディジタル演算器でディ
ジタル的に行なっているので、割算器を使用する必要が
なく、測定誤差を極めて少なくでき、割算器の処理速度
に起因した問題点も回避できる。
また、本発明では二つの成分光と温度センサのデータと
から変換テーブルを用いて電圧値を得るようにしている
ので、ポッケルス素子の透過光の直交屈折率主軸方向の
成分間の光学的位相差Δφが大きい場合でも、正確な変
換値を得ることができる。したがって、測定範囲をΔφ
(1の範囲に限定する必要はなく、測定範囲の拡大化を
図ることができる。
から変換テーブルを用いて電圧値を得るようにしている
ので、ポッケルス素子の透過光の直交屈折率主軸方向の
成分間の光学的位相差Δφが大きい場合でも、正確な変
換値を得ることができる。したがって、測定範囲をΔφ
(1の範囲に限定する必要はなく、測定範囲の拡大化を
図ることができる。
さらには、この発明によれば温度センサからの情報を用
いて測定値の温度補償を行なっているので、これによっ
ても測定精度の向上化が図れる。
いて測定値の温度補償を行なっているので、これによっ
ても測定精度の向上化が図れる。
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について説
明する。
明する。
第1図は本実施例に係る光学的電圧計の構成を示す図で
ある。図中11はレーザ装置であり、光出力部がマイク
ロレンズ付き光フアイバコネクタ12を介して光フアイ
バケーブル13の一端と接続されている。この光フアイ
バケーブル13の他端側はやはりマイクロレンズ付き光
フアイバコネクタ14を介して偏光子15の入射部に接
続されている。偏光子15は、入射された光を直線偏光
に変換する機能を有する。この偏光子15の出射部には
、ポッケルス素子16が接続されている。
ある。図中11はレーザ装置であり、光出力部がマイク
ロレンズ付き光フアイバコネクタ12を介して光フアイ
バケーブル13の一端と接続されている。この光フアイ
バケーブル13の他端側はやはりマイクロレンズ付き光
フアイバコネクタ14を介して偏光子15の入射部に接
続されている。偏光子15は、入射された光を直線偏光
に変換する機能を有する。この偏光子15の出射部には
、ポッケルス素子16が接続されている。
このポッケルス素子16と上記偏光子15とは、偏光子
15からの出力光の偏波面がポッケルス素子16の互い
に直交する2つの屈折率主軸、すなわちX軸とY軸とに
対して45″の角度をなすとともに、ポッケルス素子1
6に入射される光の光学軸が2軸と一致する関係に配置
される。ポッケルス素子16には、X軸方向にこれを挟
むように一対の電tii7.isが添設されており、こ
の電mi7.isに測定すべき電圧が印加されるように
なっている。このポッケルス素子16の出射端には、偏
光ビームスプリッタ19が接続されている。偏光ビーム
スプリッタ19は、その直交する2つの屈折率主軸方向
の少なくとも一方が前記偏光子15の屈折率主軸方向と
一致するように配置する。ビームスプリッタ19は、ポ
ッケルス素子16からの出力光を2つの主軸方向成分に
分離し2つの出射端から各成分光11.12を出射する
機能を有する。偏光ビームスプリッタ19の一方の出射
端にはマイクロレンズ付き光フアイバコネクタ20を介
して光フアイバケーブル21の一端が接続されており、
また他方の出射端には全反射ミラー22.マイクロレン
ズ付き光フアイバコネクタ23を介して光フアイバケー
ブル24の一端部が接続されている。これら2本の光フ
アイバケーブル21.24の各他端部は、それぞれマイ
クロレンズ付き光フアイバコネクタ25.26を介して
光電変換器27.28に接続されている。これら光電変
換器27.28は、例えば光電子増倍管、アバランシェ
フォトダイオードなどからなるものであり、光を電流に
変換する。これら光電変換器27.28からの出力はそ
れぞれ増幅器29゜30を介してウェーブメモリ31に
入力されている。ウェーブメモリ31からの出力は、演
算装置32に入力される。一方、ポッケルス素子16の
温度を測定するため、全反射ミラー22には温醜センサ
33が取付けられており、この温度センサ33からの出
力も上記演Il装置32に入力されている。さらにこの
演算装置32には、算出結果を表示するための表示gt
置34が接続されている。
15からの出力光の偏波面がポッケルス素子16の互い
に直交する2つの屈折率主軸、すなわちX軸とY軸とに
対して45″の角度をなすとともに、ポッケルス素子1
6に入射される光の光学軸が2軸と一致する関係に配置
される。ポッケルス素子16には、X軸方向にこれを挟
むように一対の電tii7.isが添設されており、こ
の電mi7.isに測定すべき電圧が印加されるように
なっている。このポッケルス素子16の出射端には、偏
光ビームスプリッタ19が接続されている。偏光ビーム
スプリッタ19は、その直交する2つの屈折率主軸方向
の少なくとも一方が前記偏光子15の屈折率主軸方向と
一致するように配置する。ビームスプリッタ19は、ポ
ッケルス素子16からの出力光を2つの主軸方向成分に
分離し2つの出射端から各成分光11.12を出射する
機能を有する。偏光ビームスプリッタ19の一方の出射
端にはマイクロレンズ付き光フアイバコネクタ20を介
して光フアイバケーブル21の一端が接続されており、
また他方の出射端には全反射ミラー22.マイクロレン
ズ付き光フアイバコネクタ23を介して光フアイバケー
ブル24の一端部が接続されている。これら2本の光フ
アイバケーブル21.24の各他端部は、それぞれマイ
クロレンズ付き光フアイバコネクタ25.26を介して
光電変換器27.28に接続されている。これら光電変
換器27.28は、例えば光電子増倍管、アバランシェ
フォトダイオードなどからなるものであり、光を電流に
変換する。これら光電変換器27.28からの出力はそ
れぞれ増幅器29゜30を介してウェーブメモリ31に
入力されている。ウェーブメモリ31からの出力は、演
算装置32に入力される。一方、ポッケルス素子16の
温度を測定するため、全反射ミラー22には温醜センサ
33が取付けられており、この温度センサ33からの出
力も上記演Il装置32に入力されている。さらにこの
演算装置32には、算出結果を表示するための表示gt
置34が接続されている。
このように構成された本実施例に係る光学的電圧計にお
いて、レーザ装!!11からの出力光は、光フアイバコ
ネクタ12で光フアイバケーブル13の内部に導かれ、
さらに光フアイバコネクタ14で平行光に整形されて偏
光子15に入射される。偏光子15で直線偏光に変換さ
れた光Inは、ポッケルス素子16にその主軸方向に対
して45°の角度で入射する。この時ポッケルス素子1
6に電圧が印加されていると、前述した(1)式で示し
たようにポッケルス素子16の出射端部で2つの直交偏
光成分間に光学的な位相差Δφが生じ、ポッケルス素子
16の出射端では楕円偏光となる。
いて、レーザ装!!11からの出力光は、光フアイバコ
ネクタ12で光フアイバケーブル13の内部に導かれ、
さらに光フアイバコネクタ14で平行光に整形されて偏
光子15に入射される。偏光子15で直線偏光に変換さ
れた光Inは、ポッケルス素子16にその主軸方向に対
して45°の角度で入射する。この時ポッケルス素子1
6に電圧が印加されていると、前述した(1)式で示し
たようにポッケルス素子16の出射端部で2つの直交偏
光成分間に光学的な位相差Δφが生じ、ポッケルス素子
16の出射端では楕円偏光となる。
偏光ビームスプリッタ19は、このポッケルス素子16
の出力光を、同人射光1oの偏波方向に対して直交する
成分光11と、同平行な成分光12とに分離する。これ
ら各成分光11.12は、光電変換器27.28でそれ
ぞれ光電変換される。
の出力光を、同人射光1oの偏波方向に対して直交する
成分光11と、同平行な成分光12とに分離する。これ
ら各成分光11.12は、光電変換器27.28でそれ
ぞれ光電変換される。
増幅器29.30は、N流−電圧変換を行なうもので、
例えば演譚増幅器で構成される。増幅器29.30の出
力は、ウェーブメモリ31に入力される。
例えば演譚増幅器で構成される。増幅器29.30の出
力は、ウェーブメモリ31に入力される。
ウェーブメモリ31は、例えば第2図に示すように構成
されている。すなわち、入力された各成分光の信号は、
入力アテネータ41および増幅器42を介してA/D変
換器43に入力され、所定のサンプルタイムでA/D変
換される。得られたディジタルデータは、記憶装置44
に所定のサンプルタイミングで記憶される。記憶114
4に記憶されたデータは、出力コントロール回路45を
介して所定のタイミングで出力される。なお、増幅器4
2の出力はトリガ回路46にも与えられている。このト
リが回路46は、サージ電圧等が印加された時にタイミ
ング制御回路47にトリガーパルスを出力し、該タイミ
ング制御回路47の動作を開始させる。タイミング制御
回路47は、所定のタイミングパルスをA/D変換器4
3、記憶装W144および出力コントロール回路45に
与え、これらを制御する。
されている。すなわち、入力された各成分光の信号は、
入力アテネータ41および増幅器42を介してA/D変
換器43に入力され、所定のサンプルタイムでA/D変
換される。得られたディジタルデータは、記憶装置44
に所定のサンプルタイミングで記憶される。記憶114
4に記憶されたデータは、出力コントロール回路45を
介して所定のタイミングで出力される。なお、増幅器4
2の出力はトリガ回路46にも与えられている。このト
リが回路46は、サージ電圧等が印加された時にタイミ
ング制御回路47にトリガーパルスを出力し、該タイミ
ング制御回路47の動作を開始させる。タイミング制御
回路47は、所定のタイミングパルスをA/D変換器4
3、記憶装W144および出力コントロール回路45に
与え、これらを制御する。
次に演Il装M32では、以下の処理を行なって、電極
17.18に印加された電圧値Vを演算する。
17.18に印加された電圧値Vを演算する。
先ず第3図に示すように、ウェーブメモリ31から各成
分光データ11.12を入力し、濃度センサ33から温
度データTを入力する(51)。
分光データ11.12を入力し、濃度センサ33から温
度データTを入力する(51)。
演算装置32では、
Ic= (12−It )/ (I2−Is )−5i
n2Δφ ・・・(7)なる演算を
行う(52)。この演算は割惇器ではなくディジタル的
に行なうので、測定誤差は専ら光電変換器27.28の
雑音等によって決定される。この雑音は、従来の割算器
の雑音よりも小さい。
n2Δφ ・・・(7)なる演算を
行う(52)。この演算は割惇器ではなくディジタル的
に行なうので、測定誤差は専ら光電変換器27.28の
雑音等によって決定される。この雑音は、従来の割算器
の雑音よりも小さい。
次に、予め記憶素子内に記憶されているrの特性表(変
換テーブル)から温度センサ33で検出された温度Tに
対応したrの値を読み出しく53)、変換テーブルを用
いて、 V−(d/(2rffi))sin’lc ・(s
)なる演算を行なって印加電圧■を求める(54)。
換テーブル)から温度センサ33で検出された温度Tに
対応したrの値を読み出しく53)、変換テーブルを用
いて、 V−(d/(2rffi))sin’lc ・(s
)なる演算を行なって印加電圧■を求める(54)。
ここではΔφ(1を仮定していないので、Δφ≦π/2
の範囲で正確な測定値を得ることができる。
の範囲で正確な測定値を得ることができる。
以上のようにして電圧■が求まったら、これを表示装置
134で表示する。
134で表示する。
上記の本実施例によれば、ウェーブメモリ31によって
瞬間的な電圧変動を正確にとらえ、さらに、このデータ
をディジタル演算してその電圧値Vを得るようにしてい
るので、前述したように広いレンジでかつ高精度の測定
が可能になる。
瞬間的な電圧変動を正確にとらえ、さらに、このデータ
をディジタル演算してその電圧値Vを得るようにしてい
るので、前述したように広いレンジでかつ高精度の測定
が可能になる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。
い。
上記実施例ではポッケルス素子16の出力光を各成分光
に分離するのに偏光ビームスプリッタを用いたが、これ
はウォラストンプリズムを用いるようにしても良い。ま
た、その他の光学的手段も本発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々変更して実施することができる。
に分離するのに偏光ビームスプリッタを用いたが、これ
はウォラストンプリズムを用いるようにしても良い。ま
た、その他の光学的手段も本発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々変更して実施することができる。
第1図は本発明の一実施例に係る光学的電圧計の構成を
示すブロック図、第2図は同電圧計におけるウェーブメ
モリの構成を示すブロック図、第3図は同電圧計におけ
る演算装置の処理の流れを示す流れ図、第4図はポッケ
ルス素子を用いた光学的電圧計の基本原理を説明するた
めの図である。 1.15・・・偏光子、2.16・・・ポッケルス素子
、3.4.17.18・・・電極、5・・・ウオラスト
ン・プリズム、11・・・レーザ装置、12.14.2
0゜23.25.26・・・光フアイバコネクタ、13
゜21.24・・・光フアイバケーブル、19・・・偏
光ビームスプリッタ、22・・・全反射ミラー、28.
29・・・光電変換器、33・・・温度センサ。 第3図 第4図
示すブロック図、第2図は同電圧計におけるウェーブメ
モリの構成を示すブロック図、第3図は同電圧計におけ
る演算装置の処理の流れを示す流れ図、第4図はポッケ
ルス素子を用いた光学的電圧計の基本原理を説明するた
めの図である。 1.15・・・偏光子、2.16・・・ポッケルス素子
、3.4.17.18・・・電極、5・・・ウオラスト
ン・プリズム、11・・・レーザ装置、12.14.2
0゜23.25.26・・・光フアイバコネクタ、13
゜21.24・・・光フアイバケーブル、19・・・偏
光ビームスプリッタ、22・・・全反射ミラー、28.
29・・・光電変換器、33・・・温度センサ。 第3図 第4図
Claims (1)
- ポッケルス素子と、このポッケルス素子を挟むように添
設されて測定すべき電圧が印加される一対の電極と、上
記ポッケルス素子にその直交屈折率主軸方向に対して4
5°をなす直線偏光の光を電界方向とは直交する方向に
入射する手段と、上記ポッケルス素子を透過した光のう
ち前記直線偏光方向と平行な成分光および同直交する成
分光をそれぞれ受光して光電変換する2つの光電変換器
とを備え、これら光電変換器の各出力から前記電極に印
加された電圧値を測定するようにした光学的電圧計にお
いて、前記光電変換器の各出力波形を記憶するウェーブ
メモリと、前記ポッケルス素子の温度を測定する温度セ
ンサと、前記ウェーブメモリで記憶された上記二つの成
分光の光量の差を上記二つの成分光の光量の和で除した
値と前記温度センサで検出された温度とから変換テーブ
ルを用いて前記印加電圧の大きさを求めるディジタル演
算装置とを具備したことを特徴とする光学的電圧計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60263008A JPS62123364A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 光学的電圧計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60263008A JPS62123364A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 光学的電圧計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62123364A true JPS62123364A (ja) | 1987-06-04 |
Family
ID=17383609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60263008A Pending JPS62123364A (ja) | 1985-11-22 | 1985-11-22 | 光学的電圧計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62123364A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5811867A (ja) * | 1981-07-14 | 1983-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光による電圧及び温度検出装置 |
JPS59147274A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-23 | Hitachi Ltd | 光方式電界測定装置 |
-
1985
- 1985-11-22 JP JP60263008A patent/JPS62123364A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5811867A (ja) * | 1981-07-14 | 1983-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光による電圧及び温度検出装置 |
JPS59147274A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-23 | Hitachi Ltd | 光方式電界測定装置 |
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