JPS62119739A - 光ディスク装置のトラッキング方法 - Google Patents
光ディスク装置のトラッキング方法Info
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- JPS62119739A JPS62119739A JP25853385A JP25853385A JPS62119739A JP S62119739 A JPS62119739 A JP S62119739A JP 25853385 A JP25853385 A JP 25853385A JP 25853385 A JP25853385 A JP 25853385A JP S62119739 A JPS62119739 A JP S62119739A
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- guide groove
- offset
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、光ディスクのトラッキング方式に係り、特に
ディスク面が傾斜してトラッキングにオフセットが生ず
るのを補正するに好適な光ディスク傾斜補正方式に関す
る。
ディスク面が傾斜してトラッキングにオフセットが生ず
るのを補正するに好適な光ディスク傾斜補正方式に関す
る。
従来の装置は、特開昭59−19250号に記載のよう
に光ディスクのピット(信号)あるいは案内溝のない所
(鏡面部)の反射光を利用して光ディスクの面の傾きを
検出し、案内溝トラッキングのオフセットを補正する方
式が提案されている。しかし、この方式においては鏡面
部と案内溝部からの反射光の光強度分布が異なることに
よって生じるオフセクト補正量の誤差については、特定
の動作範囲では誤差量が小さいので無視していた。
に光ディスクのピット(信号)あるいは案内溝のない所
(鏡面部)の反射光を利用して光ディスクの面の傾きを
検出し、案内溝トラッキングのオフセットを補正する方
式が提案されている。しかし、この方式においては鏡面
部と案内溝部からの反射光の光強度分布が異なることに
よって生じるオフセクト補正量の誤差については、特定
の動作範囲では誤差量が小さいので無視していた。
本発明の目的は、上記の誤差を除き、正しくトラッキン
グのオフセットが補正される方式を提供することにある
。
グのオフセットが補正される方式を提供することにある
。
本発明の原理を第4図に示す構成をした光ディスクの光
学系で説明する。ディスク1上には、アドレス信号等の
入った案内溝2が設けである。光ヘッドは、目標とする
アドレストラックへ位置決めされ信号3の記録、再生を
行う、信号3の記録再生を行うためには目標とする案内
溝2をトラッキングする必要がある。トラッキング提携
を、第5図に示す。案内溝2からのレーザスポットのず
れは、光の回折によって生じる±1次回折光の光量を受
光面が2分割された光検出器7上で検出し。
学系で説明する。ディスク1上には、アドレス信号等の
入った案内溝2が設けである。光ヘッドは、目標とする
アドレストラックへ位置決めされ信号3の記録、再生を
行う、信号3の記録再生を行うためには目標とする案内
溝2をトラッキングする必要がある。トラッキング提携
を、第5図に示す。案内溝2からのレーザスポットのず
れは、光の回折によって生じる±1次回折光の光量を受
光面が2分割された光検出器7上で検出し。
その差動出力をトラッキング信号としている。この方式
では、案内溝2からのレーザスポットのずれとディスク
1が傾斜したことによるずれとは光検出器7上では同じ
現象として現われ、その区別は出来ない。これを区別す
る手段として、ディスクの鏡面部8、すなわち信号(ピ
ット)3や案内溝2のない領域からの反射光を利用して
ディスク1の傾斜のみを検出する方法が提案されてしす
る。
では、案内溝2からのレーザスポットのずれとディスク
1が傾斜したことによるずれとは光検出器7上では同じ
現象として現われ、その区別は出来ない。これを区別す
る手段として、ディスクの鏡面部8、すなわち信号(ピ
ット)3や案内溝2のない領域からの反射光を利用して
ディスク1の傾斜のみを検出する方法が提案されてしす
る。
しかし、この方式においては、案内溝部2と鏡面部8で
は反射光の光強度分布が異なるため、案内溝部2のディ
スク傾きと、鏡面部8のディスク傾きは、光検出器7上
では同一にならず1gt面部8の信号で案内溝部2のデ
ィスク傾きを検出すると誤差を生じる。
は反射光の光強度分布が異なるため、案内溝部2のディ
スク傾きと、鏡面部8のディスク傾きは、光検出器7上
では同一にならず1gt面部8の信号で案内溝部2のデ
ィスク傾きを検出すると誤差を生じる。
この誤差は光検出器面上でのスポットの移動量が小さい
(すなわちディスク傾き量、ディスク面上でのスポット
移動量が小さい)ときには、絶対値が小さいため問題と
はならず、従来例では無視していた。しかし、本方式の
適用範囲を拡大することを考えると、この誤差の絶対値
が無視できなくなり、適当な修正を行う必要がでてきた
。
(すなわちディスク傾き量、ディスク面上でのスポット
移動量が小さい)ときには、絶対値が小さいため問題と
はならず、従来例では無視していた。しかし、本方式の
適用範囲を拡大することを考えると、この誤差の絶対値
が無視できなくなり、適当な修正を行う必要がでてきた
。
本発明は、この誤差を補正係数によって修正しディスク
傾きによるトラッキングオフセットを簡単な構成でなく
することを特徴としている。
傾きによるトラッキングオフセットを簡単な構成でなく
することを特徴としている。
第6図に案内溝部2と鏡面部8よりの反射光の光強度分
布を示す、ディスク1が傾斜すると、それぞれの反射光
は図の破線のように片側にシフトし、光検出器7の出力
にはアンバランスが生じ。
布を示す、ディスク1が傾斜すると、それぞれの反射光
は図の破線のように片側にシフトし、光検出器7の出力
にはアンバランスが生じ。
トラッキングオフセットが生じる。それぞれの反射光に
ついて、ディスク1の傾斜角とトラッキングオフセット
量を求めると第7図に示すようになる。傾斜角とトラッ
キングオフセット量の関係は案内溝形状及び入射レーザ
光線によって異なるが。
ついて、ディスク1の傾斜角とトラッキングオフセット
量を求めると第7図に示すようになる。傾斜角とトラッ
キングオフセット量の関係は案内溝形状及び入射レーザ
光線によって異なるが。
鏡面部8の信号レベルに対して例えば、0.7〜0.8
倍したものとなる。
倍したものとなる。
第8図には、案内溝2と鏡面部8を再生した時の再生波
形の様子を示す。案内溝部で反射光が弱くなるため、鏡
面部8に比べ信号レベルは0.7〜0.8倍小さくなる
。この係数は、第7図に示すオフセット量の係数とほぼ
同じである。これはトラックオフや小量が光検出器面上
の分布の移動によって生じ、分布の全光量と移動量に比
例する関係があるためである。従って分布の全光量を別
の手段で検出して割算してやれば光検出器面上の移動量
を求めることができる。従って、案内溝形状2が変わっ
た時の係数は、案内溝2を再生し鏡面部8との比を求め
ればよい。
形の様子を示す。案内溝部で反射光が弱くなるため、鏡
面部8に比べ信号レベルは0.7〜0.8倍小さくなる
。この係数は、第7図に示すオフセット量の係数とほぼ
同じである。これはトラックオフや小量が光検出器面上
の分布の移動によって生じ、分布の全光量と移動量に比
例する関係があるためである。従って分布の全光量を別
の手段で検出して割算してやれば光検出器面上の移動量
を求めることができる。従って、案内溝形状2が変わっ
た時の係数は、案内溝2を再生し鏡面部8との比を求め
ればよい。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。図に
おいて、レーザ6から出たビーム10はレンズ11によ
り平行光となり、プリズム12゜λ/4板13.絞込レ
ンズ5を通って情報トラック(案内溝)2を有するディ
スク1上に直径1μm程度のスポットに収束する。ディ
スク1上には、反射膜あるいは記録膜4が蒸着してあり
、情報トラック2に入射したビーム10は反射され、再
び絞込レンズ5.λ/4板13.プリズム12を通って
信号検出系へ導かれる。信号検出系(自動焦点検出系は
図示せず)は集束レンズ14とトラック信号を検出する
2分割光検出器7とからなる。
おいて、レーザ6から出たビーム10はレンズ11によ
り平行光となり、プリズム12゜λ/4板13.絞込レ
ンズ5を通って情報トラック(案内溝)2を有するディ
スク1上に直径1μm程度のスポットに収束する。ディ
スク1上には、反射膜あるいは記録膜4が蒸着してあり
、情報トラック2に入射したビーム10は反射され、再
び絞込レンズ5.λ/4板13.プリズム12を通って
信号検出系へ導かれる。信号検出系(自動焦点検出系は
図示せず)は集束レンズ14とトラック信号を検出する
2分割光検出器7とからなる。
2分割光検出器7での各信号を差動アンプ15で差動す
ることによりトラック信号が得られる。2分割光検出器
7の出力を和動アンプ16で和動することにより情報信
号が得られる。
ることによりトラック信号が得られる。2分割光検出器
7の出力を和動アンプ16で和動することにより情報信
号が得られる。
第2図に示すような鏡面部8(8a、8b)を持つ案内
溝2において、アドレスを示すセクタマーク23(23
a、23b・・・)により、各セクタの先頭が示される
。同期信号検出器17を通じ、情報信号よりセクタマー
ク部23を抽出する。セクタマーク部23より一定時間
経過した所で同期信号検出器17よりタイミングパルス
が入力され、−鏡面部8におけるトラック信号をサンプ
ルホールド回路19に入力し、ディスク傾き、スポット
移動によるトラッキングオフセットを検出して、保持す
る。一方、サンプルホールド回路30では回路19を制
御する信号と同一の信号を入力し、回路19のサンプル
とホールド動作を逆にした動作を行わせ、トラック信号
の中の鏡面部の信号が表られれないようにする。
溝2において、アドレスを示すセクタマーク23(23
a、23b・・・)により、各セクタの先頭が示される
。同期信号検出器17を通じ、情報信号よりセクタマー
ク部23を抽出する。セクタマーク部23より一定時間
経過した所で同期信号検出器17よりタイミングパルス
が入力され、−鏡面部8におけるトラック信号をサンプ
ルホールド回路19に入力し、ディスク傾き、スポット
移動によるトラッキングオフセットを検出して、保持す
る。一方、サンプルホールド回路30では回路19を制
御する信号と同一の信号を入力し、回路19のサンプル
とホールド動作を逆にした動作を行わせ、トラック信号
の中の鏡面部の信号が表られれないようにする。
トラッキングオフセット量は修正回路20によつて、例
えば0.7〜0.8倍される。この修正されたトラッキ
ングオフセット量は、差動アンプ21によってト・ラッ
ク信号と差動され、差動アンプ21の出力にディスク傾
きによるオフセットを補正したトラック信号が得られる
。このトラック信号をトラックサーボ回路22に入力し
、案内溝2からのずれを追跡するための1例えばガルバ
ノミラ−等のトラッキングアクチュエータ9を駆動し、
ディスク傾きに影響されない正確な案内溝2のトラッキ
ングを可能とする。修正回路20における係数は可変抵
抗器等によって設定でき、案内溝2の形状等によって適
切な値が人力される。
えば0.7〜0.8倍される。この修正されたトラッキ
ングオフセット量は、差動アンプ21によってト・ラッ
ク信号と差動され、差動アンプ21の出力にディスク傾
きによるオフセットを補正したトラック信号が得られる
。このトラック信号をトラックサーボ回路22に入力し
、案内溝2からのずれを追跡するための1例えばガルバ
ノミラ−等のトラッキングアクチュエータ9を駆動し、
ディスク傾きに影響されない正確な案内溝2のトラッキ
ングを可能とする。修正回路20における係数は可変抵
抗器等によって設定でき、案内溝2の形状等によって適
切な値が人力される。
第3図は本発明の他の実施例を示す図である。
この場合は、和動アンプ16によって得られた情報信号
を同期信号検出器17に入力し、セクタマーク23を検
出する。セクタマーク23の検出より一定時間経った所
でタイミングパルスをサンプルホールド回路24に入力
し、案内溝部2より反射光信号レベルを抽出する。更に
一定時間経った所でタイミングパルスをサンプルホール
ド回路25に入力し、鏡面部8よりの反射光信号レベル
を抽出する。このそれぞれのサンプルホールドされた値
を割算器26に入力し、案内溝部2と鏡面部8との反射
光量の比を求める。この値を、第1図と同様のトラッキ
ングオフセット補正回路の中の l修正回路20に入力する。この方式によれば案内溝2
の形状が及びレンズ入射ビーム光分布が異なった場合に
も自動的に修正係数が求まりトラッキングオフセットの
補正が容易になる。
を同期信号検出器17に入力し、セクタマーク23を検
出する。セクタマーク23の検出より一定時間経った所
でタイミングパルスをサンプルホールド回路24に入力
し、案内溝部2より反射光信号レベルを抽出する。更に
一定時間経った所でタイミングパルスをサンプルホール
ド回路25に入力し、鏡面部8よりの反射光信号レベル
を抽出する。このそれぞれのサンプルホールドされた値
を割算器26に入力し、案内溝部2と鏡面部8との反射
光量の比を求める。この値を、第1図と同様のトラッキ
ングオフセット補正回路の中の l修正回路20に入力する。この方式によれば案内溝2
の形状が及びレンズ入射ビーム光分布が異なった場合に
も自動的に修正係数が求まりトラッキングオフセットの
補正が容易になる。
ここでサンプルホールド回路31は、割算器26の値が
定ったところの値をサンプルし、次のセクタ一部までの
その値をホールドする。このタイミングをタイミング発
生器17より出力する。
定ったところの値をサンプルし、次のセクタ一部までの
その値をホールドする。このタイミングをタイミング発
生器17より出力する。
以上説明したように1本発明によるとディスク傾きを案
内溝からのずれのそれぞれによって生じるトラッキング
オフセットの量を正確に分離し。
内溝からのずれのそれぞれによって生じるトラッキング
オフセットの量を正確に分離し。
ディスク傾きによって生じるトラッキングオフセットを
零にし、正確に案内溝のトラッキングすることを可能と
するものである。
零にし、正確に案内溝のトラッキングすることを可能と
するものである。
なお、本発明の実施例においては、オフセット補榛回路
は一つのものについてのみ説明したが、回路構成は他の
ものでも、本発明の本質を損うことなく適用できるもの
である。例えば、ディスクの内周等の傷などのない所で
、案内溝部と鏡面部の反射光量の比を求め、この値を修
正回路に入力し以降は、この値を用いれば、その都度反
射光量の比を測定しなくてもよく、又傷、ゴミ等によっ
て反射光量の比が変動することを防ぐことが出来る。ま
た、修正係数は特定の数値に限定するものではなく、案
内溝の形状及び入射レーザ光分布によって異なる。また
、修正係数を回路的に求める方法についても限定するも
のではない。
は一つのものについてのみ説明したが、回路構成は他の
ものでも、本発明の本質を損うことなく適用できるもの
である。例えば、ディスクの内周等の傷などのない所で
、案内溝部と鏡面部の反射光量の比を求め、この値を修
正回路に入力し以降は、この値を用いれば、その都度反
射光量の比を測定しなくてもよく、又傷、ゴミ等によっ
て反射光量の比が変動することを防ぐことが出来る。ま
た、修正係数は特定の数値に限定するものではなく、案
内溝の形状及び入射レーザ光分布によって異なる。また
、修正係数を回路的に求める方法についても限定するも
のではない。
例えば、修正する場合に割算回路があったが、これでは
、ディスクにあるキズ、ゴミ等によって総光量が大きく
変動すると割算の結果さらに影響が大きくなる。そこで
、割算器の入力のリミッタを挿入して振幅制限を行う、
または修正係数の変化が1に比較して小さいならば、差
動アンプの電流コンダクタンスを変化せしめて、利得を
変えるような構成にしても良い。なお、トラッキングの
検出光学系については、第4図に示す光学系を用いて行
ったが、他の光学系にも本発明は、その本質を損うこと
なく適用できるものである0例えば、総光量の代りに特
開昭58−056236に述べた三分割センサのそれぞ
れの和を用いることもできるし。
、ディスクにあるキズ、ゴミ等によって総光量が大きく
変動すると割算の結果さらに影響が大きくなる。そこで
、割算器の入力のリミッタを挿入して振幅制限を行う、
または修正係数の変化が1に比較して小さいならば、差
動アンプの電流コンダクタンスを変化せしめて、利得を
変えるような構成にしても良い。なお、トラッキングの
検出光学系については、第4図に示す光学系を用いて行
ったが、他の光学系にも本発明は、その本質を損うこと
なく適用できるものである0例えば、総光量の代りに特
開昭58−056236に述べた三分割センサのそれぞ
れの和を用いることもできるし。
光量の一番大きな真中のセンサの出力だけを用いること
もできる。
もできる。
本発明を用いることにより、従来のオフセット補正より
も、ディスク傾き、ディスク面上でのスポットの移動量
の許容値が2倍以上拡大される。
も、ディスク傾き、ディスク面上でのスポットの移動量
の許容値が2倍以上拡大される。
また、ディスク溝形状、光学系による対物レンズ入射光
分布等が変動しても、誤差の少ないオフセット修正がで
きる。従って、本発明は、ディスクや装置の大量生産に
適したオフセット補正方法となっている。
分布等が変動しても、誤差の少ないオフセット修正がで
きる。従って、本発明は、ディスクや装置の大量生産に
適したオフセット補正方法となっている。
第1図及び第3図は本発明の一実施例を示すブロック図
、第2図は鏡面部付案内溝の説明図、第4図は光ディス
クの光学系の説明図、第5図はトラッキング機端の説明
図、第6図は案内溝部と鏡面部よりの反射光の光強度分
布を示す説明図、第7図はディスク傾斜角とトラッキン
グオフセット量の関係を示す説明図、第8図はピット部
と鏡面部を再生した時の再生波形の様子を示す説明図で
・ある。 1・・・ディスク、2・・・案内溝、3・・・信号(ピ
ット)、4・・・記録膜、5・・・絞込レンズ、6・・
・レーザ、7・・・2分割光検出器、8・・・鏡面部、
9・・・トラッキングアクチュエータ、10・・・ビー
ム、11・・・レンズ、12・・・プリズム、13・・
・λ/4板、14・・・集束レンズ、15・・・差動ア
ンプ、16・・・和動アンプ。 17・・・同期信号検出器、19・・・サンプルホール
ド回路、20・・・修正回路、21・・・差動アンプ、
22・・・トラックサーボ回路、23・・・セクタマー
ク。 24・・・サンプルホールド回路、25・・・サンプル
ホールド回路、26・・・割算器、30・・・サンプル
ホー葛 1 図 12図 ¥ 3 図 富 4 図
、第2図は鏡面部付案内溝の説明図、第4図は光ディス
クの光学系の説明図、第5図はトラッキング機端の説明
図、第6図は案内溝部と鏡面部よりの反射光の光強度分
布を示す説明図、第7図はディスク傾斜角とトラッキン
グオフセット量の関係を示す説明図、第8図はピット部
と鏡面部を再生した時の再生波形の様子を示す説明図で
・ある。 1・・・ディスク、2・・・案内溝、3・・・信号(ピ
ット)、4・・・記録膜、5・・・絞込レンズ、6・・
・レーザ、7・・・2分割光検出器、8・・・鏡面部、
9・・・トラッキングアクチュエータ、10・・・ビー
ム、11・・・レンズ、12・・・プリズム、13・・
・λ/4板、14・・・集束レンズ、15・・・差動ア
ンプ、16・・・和動アンプ。 17・・・同期信号検出器、19・・・サンプルホール
ド回路、20・・・修正回路、21・・・差動アンプ、
22・・・トラックサーボ回路、23・・・セクタマー
ク。 24・・・サンプルホールド回路、25・・・サンプル
ホールド回路、26・・・割算器、30・・・サンプル
ホー葛 1 図 12図 ¥ 3 図 富 4 図
Claims (1)
- 光ディスク面の傾きを検出し、該面の傾きによつて生じ
るトラッキングのオフセットを補正する方式において、
検出したトラックオフセットを修正する手段を設け、こ
の手段によつて修正した値を用いて、トラックオフセッ
ト補正することを特徴とする光ディスク傾斜補正方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60258533A JPH0736237B2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 光ディスク装置のトラッキング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60258533A JPH0736237B2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 光ディスク装置のトラッキング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62119739A true JPS62119739A (ja) | 1987-06-01 |
JPH0736237B2 JPH0736237B2 (ja) | 1995-04-19 |
Family
ID=17321539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60258533A Expired - Fee Related JPH0736237B2 (ja) | 1985-11-20 | 1985-11-20 | 光ディスク装置のトラッキング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0736237B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS641131A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-05 | Sony Corp | Tracking servo system for optical disk device |
EP0303936A2 (en) * | 1987-08-19 | 1989-02-22 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for optical recording and reproduction |
JP2007218616A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Seiko Instruments Inc | 自動薄切装置、自動薄切片標本作製装置及び自動薄切方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5919250A (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 情報の記録再生装置 |
-
1985
- 1985-11-20 JP JP60258533A patent/JPH0736237B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5919250A (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 情報の記録再生装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS641131A (en) * | 1987-06-24 | 1989-01-05 | Sony Corp | Tracking servo system for optical disk device |
EP0303936A2 (en) * | 1987-08-19 | 1989-02-22 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for optical recording and reproduction |
JP2007218616A (ja) * | 2006-02-14 | 2007-08-30 | Seiko Instruments Inc | 自動薄切装置、自動薄切片標本作製装置及び自動薄切方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0736237B2 (ja) | 1995-04-19 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |