JPS62119739A

JPS62119739A - 光ディスク装置のトラッキング方法

Info

Publication number: JPS62119739A
Application number: JP25853385A
Authority: JP
Inventors: Fumio Hara; 文夫原; Toshimitsu Kaku; 敏光賀来; Takeshi Maeda; 武志前田; Shigeru Nakamura; 滋中村
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1985-11-20
Filing date: 1985-11-20
Publication date: 1987-06-01
Anticipated expiration: 2010-04-19
Also published as: JPH0736237B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の利用分野〕本発明は、光ディスクのトラッキング方式に係り、特に
ディスク面が傾斜してトラッキングにオフセットが生ず
るのを補正するに好適な光ディスク傾斜補正方式に関す
る。

〔発明の背景〕

従来の装置は、特開昭５９−１９２５０号に記載のよう
に光ディスクのピット（信号）あるいは案内溝のない所
（鏡面部）の反射光を利用して光ディスクの面の傾きを
検出し、案内溝トラッキングのオフセットを補正する方
式が提案されている。しかし、この方式においては鏡面
部と案内溝部からの反射光の光強度分布が異なることに
よって生じるオフセクト補正量の誤差については、特定
の動作範囲では誤差量が小さいので無視していた。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記の誤差を除き、正しくトラッキン
グのオフセットが補正される方式を提供することにある
。

〔発明の概要〕

本発明の原理を第４図に示す構成をした光ディスクの光
学系で説明する。ディスク１上には、アドレス信号等の
入った案内溝２が設けである。光ヘッドは、目標とする
アドレストラックへ位置決めされ信号３の記録、再生を
行う、信号３の記録再生を行うためには目標とする案内
溝２をトラッキングする必要がある。トラッキング提携
を、第５図に示す。案内溝２からのレーザスポットのず
れは、光の回折によって生じる±１次回折光の光量を受
光面が２分割された光検出器７上で検出し。

その差動出力をトラッキング信号としている。この方式
では、案内溝２からのレーザスポットのずれとディスク
１が傾斜したことによるずれとは光検出器７上では同じ
現象として現われ、その区別は出来ない。これを区別す
る手段として、ディスクの鏡面部８、すなわち信号（ピ
ット）３や案内溝２のない領域からの反射光を利用して
ディスク１の傾斜のみを検出する方法が提案されてしす
る。

しかし、この方式においては、案内溝部２と鏡面部８で
は反射光の光強度分布が異なるため、案内溝部２のディ
スク傾きと、鏡面部８のディスク傾きは、光検出器７上
では同一にならず１ｇｔ面部８の信号で案内溝部２のデ
ィスク傾きを検出すると誤差を生じる。

この誤差は光検出器面上でのスポットの移動量が小さい
（すなわちディスク傾き量、ディスク面上でのスポット
移動量が小さい）ときには、絶対値が小さいため問題と
はならず、従来例では無視していた。しかし、本方式の
適用範囲を拡大することを考えると、この誤差の絶対値
が無視できなくなり、適当な修正を行う必要がでてきた
。

本発明は、この誤差を補正係数によって修正しディスク
傾きによるトラッキングオフセットを簡単な構成でなく
することを特徴としている。

第６図に案内溝部２と鏡面部８よりの反射光の光強度分
布を示す、ディスク１が傾斜すると、それぞれの反射光
は図の破線のように片側にシフトし、光検出器７の出力
にはアンバランスが生じ。

トラッキングオフセットが生じる。それぞれの反射光に
ついて、ディスク１の傾斜角とトラッキングオフセット
量を求めると第７図に示すようになる。傾斜角とトラッ
キングオフセット量の関係は案内溝形状及び入射レーザ
光線によって異なるが。

鏡面部８の信号レベルに対して例えば、０．７〜０．８
倍したものとなる。

第８図には、案内溝２と鏡面部８を再生した時の再生波
形の様子を示す。案内溝部で反射光が弱くなるため、鏡
面部８に比べ信号レベルは０．７〜０．８倍小さくなる
。この係数は、第７図に示すオフセット量の係数とほぼ
同じである。これはトラックオフや小量が光検出器面上
の分布の移動によって生じ、分布の全光量と移動量に比
例する関係があるためである。従って分布の全光量を別
の手段で検出して割算してやれば光検出器面上の移動量
を求めることができる。従って、案内溝形状２が変わっ
た時の係数は、案内溝２を再生し鏡面部８との比を求め
ればよい。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。図に
おいて、レーザ６から出たビーム１０はレンズ１１によ
り平行光となり、プリズム１２゜λ／４板１３．絞込レ
ンズ５を通って情報トラック（案内溝）２を有するディ
スク１上に直径１μｍ程度のスポットに収束する。ディ
スク１上には、反射膜あるいは記録膜４が蒸着してあり
、情報トラック２に入射したビーム１０は反射され、再
び絞込レンズ５．λ／４板１３．プリズム１２を通って
信号検出系へ導かれる。信号検出系（自動焦点検出系は
図示せず）は集束レンズ１４とトラック信号を検出する
２分割光検出器７とからなる。

２分割光検出器７での各信号を差動アンプ１５で差動す
ることによりトラック信号が得られる。２分割光検出器
７の出力を和動アンプ１６で和動することにより情報信
号が得られる。

第２図に示すような鏡面部８（８ａ、８ｂ）を持つ案内
溝２において、アドレスを示すセクタマーク２３（２３
ａ、２３ｂ・・・）により、各セクタの先頭が示される
。同期信号検出器１７を通じ、情報信号よりセクタマー
ク部２３を抽出する。セクタマーク部２３より一定時間
経過した所で同期信号検出器１７よりタイミングパルス
が入力され、−鏡面部８におけるトラック信号をサンプ
ルホールド回路１９に入力し、ディスク傾き、スポット
移動によるトラッキングオフセットを検出して、保持す
る。一方、サンプルホールド回路３０では回路１９を制
御する信号と同一の信号を入力し、回路１９のサンプル
とホールド動作を逆にした動作を行わせ、トラック信号
の中の鏡面部の信号が表られれないようにする。

トラッキングオフセット量は修正回路２０によつて、例
えば０．７〜０．８倍される。この修正されたトラッキ
ングオフセット量は、差動アンプ２１によってト・ラッ
ク信号と差動され、差動アンプ２１の出力にディスク傾
きによるオフセットを補正したトラック信号が得られる
。このトラック信号をトラックサーボ回路２２に入力し
、案内溝２からのずれを追跡するための１例えばガルバ
ノミラ−等のトラッキングアクチュエータ９を駆動し、
ディスク傾きに影響されない正確な案内溝２のトラッキ
ングを可能とする。修正回路２０における係数は可変抵
抗器等によって設定でき、案内溝２の形状等によって適
切な値が人力される。

第３図は本発明の他の実施例を示す図である。

この場合は、和動アンプ１６によって得られた情報信号
を同期信号検出器１７に入力し、セクタマーク２３を検
出する。セクタマーク２３の検出より一定時間経った所
でタイミングパルスをサンプルホールド回路２４に入力
し、案内溝部２より反射光信号レベルを抽出する。更に
一定時間経った所でタイミングパルスをサンプルホール
ド回路２５に入力し、鏡面部８よりの反射光信号レベル
を抽出する。このそれぞれのサンプルホールドされた値
を割算器２６に入力し、案内溝部２と鏡面部８との反射
光量の比を求める。この値を、第１図と同様のトラッキ
ングオフセット補正回路の中のｌ修正回路２０に入力する。この方式によれば案内溝２
の形状が及びレンズ入射ビーム光分布が異なった場合に
も自動的に修正係数が求まりトラッキングオフセットの
補正が容易になる。

ここでサンプルホールド回路３１は、割算器２６の値が
定ったところの値をサンプルし、次のセクタ一部までの
その値をホールドする。このタイミングをタイミング発
生器１７より出力する。

以上説明したように１本発明によるとディスク傾きを案
内溝からのずれのそれぞれによって生じるトラッキング
オフセットの量を正確に分離し。

ディスク傾きによって生じるトラッキングオフセットを
零にし、正確に案内溝のトラッキングすることを可能と
するものである。

なお、本発明の実施例においては、オフセット補榛回路
は一つのものについてのみ説明したが、回路構成は他の
ものでも、本発明の本質を損うことなく適用できるもの
である。例えば、ディスクの内周等の傷などのない所で
、案内溝部と鏡面部の反射光量の比を求め、この値を修
正回路に入力し以降は、この値を用いれば、その都度反
射光量の比を測定しなくてもよく、又傷、ゴミ等によっ
て反射光量の比が変動することを防ぐことが出来る。ま
た、修正係数は特定の数値に限定するものではなく、案
内溝の形状及び入射レーザ光分布によって異なる。また
、修正係数を回路的に求める方法についても限定するも
のではない。

例えば、修正する場合に割算回路があったが、これでは
、ディスクにあるキズ、ゴミ等によって総光量が大きく
変動すると割算の結果さらに影響が大きくなる。そこで
、割算器の入力のリミッタを挿入して振幅制限を行う、
または修正係数の変化が１に比較して小さいならば、差
動アンプの電流コンダクタンスを変化せしめて、利得を
変えるような構成にしても良い。なお、トラッキングの
検出光学系については、第４図に示す光学系を用いて行
ったが、他の光学系にも本発明は、その本質を損うこと
なく適用できるものである０例えば、総光量の代りに特
開昭５８−０５６２３６に述べた三分割センサのそれぞ
れの和を用いることもできるし。

光量の一番大きな真中のセンサの出力だけを用いること
もできる。

〔発明の効果〕

本発明を用いることにより、従来のオフセット補正より
も、ディスク傾き、ディスク面上でのスポットの移動量
の許容値が２倍以上拡大される。

また、ディスク溝形状、光学系による対物レンズ入射光
分布等が変動しても、誤差の少ないオフセット修正がで
きる。従って、本発明は、ディスクや装置の大量生産に
適したオフセット補正方法となっている。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第３図は本発明の一実施例を示すブロック図
、第２図は鏡面部付案内溝の説明図、第４図は光ディス
クの光学系の説明図、第５図はトラッキング機端の説明
図、第６図は案内溝部と鏡面部よりの反射光の光強度分
布を示す説明図、第７図はディスク傾斜角とトラッキン
グオフセット量の関係を示す説明図、第８図はピット部
と鏡面部を再生した時の再生波形の様子を示す説明図で
・ある。１・・・ディスク、２・・・案内溝、３・・・信号（ピ
ット）、４・・・記録膜、５・・・絞込レンズ、６・・
・レーザ、７・・・２分割光検出器、８・・・鏡面部、
９・・・トラッキングアクチュエータ、１０・・・ビー
ム、１１・・・レンズ、１２・・・プリズム、１３・・
・λ／４板、１４・・・集束レンズ、１５・・・差動ア
ンプ、１６・・・和動アンプ。１７・・・同期信号検出器、１９・・・サンプルホール
ド回路、２０・・・修正回路、２１・・・差動アンプ、
２２・・・トラックサーボ回路、２３・・・セクタマー
ク。２４・・・サンプルホールド回路、２５・・・サンプル
ホールド回路、２６・・・割算器、３０・・・サンプル
ホー葛　１　　図１２図￥　３　図富　４　　図

Claims

【特許請求の範囲】

光ディスク面の傾きを検出し、該面の傾きによつて生じ
るトラッキングのオフセットを補正する方式において、
検出したトラックオフセットを修正する手段を設け、こ
の手段によつて修正した値を用いて、トラックオフセッ
ト補正することを特徴とする光ディスク傾斜補正方式。