JPH02254635A - プリグルーブ横断信号検出装置 - Google Patents
プリグルーブ横断信号検出装置Info
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- JPH02254635A JPH02254635A JP7392089A JP7392089A JPH02254635A JP H02254635 A JPH02254635 A JP H02254635A JP 7392089 A JP7392089 A JP 7392089A JP 7392089 A JP7392089 A JP 7392089A JP H02254635 A JPH02254635 A JP H02254635A
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Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、光ディスク等の光記録媒体に半導体レーザ
ー、ガスレーザー等の集束光を照射させて光学的に情報
の記録・再生、あるいは記録・再生・消去を行う光学的
記録再生装置に使用されるプリグルーブ横断信号検出!
装置に関する。
ー、ガスレーザー等の集束光を照射させて光学的に情報
の記録・再生、あるいは記録・再生・消去を行う光学的
記録再生装置に使用されるプリグルーブ横断信号検出!
装置に関する。
[従来の技術]
従来、上記光学的記録再生vi置に使用される光記録媒
体としては、例えば第6図に示すようなものがある。こ
の光記録媒体100は、片面側に記録層を備えるタイプ
のものであり、プリグルーブ101が施された透明基板
102と、この透明基板102の全面に設けられた記録
層103と、この記録層103の全面に設けられた保護
層104とでその主要部が構成されている。図中、10
5はビットを示している。
体としては、例えば第6図に示すようなものがある。こ
の光記録媒体100は、片面側に記録層を備えるタイプ
のものであり、プリグルーブ101が施された透明基板
102と、この透明基板102の全面に設けられた記録
層103と、この記録層103の全面に設けられた保護
層104とでその主要部が構成されている。図中、10
5はビットを示している。
上記光記録媒体100に記録された情報を再生するには
、第7図に示すように、再生用集光108を光記録媒体
100の記録面に照射し、この反射光を光ダイオード等
の受光素子へ入力させて記録情報の再生を行う。
、第7図に示すように、再生用集光108を光記録媒体
100の記録面に照射し、この反射光を光ダイオード等
の受光素子へ入力させて記録情報の再生を行う。
ところで、上記光記録媒体の目的のトラックを呼出し、
その目的のトラックのプリグルーブに記録された記録情
報を再生する場合には、第8図に示すように、光学ヘッ
ド106をブリグループ101を横切るように移動させ
、再生用集光108がプリグルーブ101を横断する信
号を検出する。そして、このプリグルーブ横断信号の数
を計数し、光学ヘッド106を目的のプリグルーブ10
1に移動させる。
その目的のトラックのプリグルーブに記録された記録情
報を再生する場合には、第8図に示すように、光学ヘッ
ド106をブリグループ101を横切るように移動させ
、再生用集光108がプリグルーブ101を横断する信
号を検出する。そして、このプリグルーブ横断信号の数
を計数し、光学ヘッド106を目的のプリグルーブ10
1に移動させる。
このプリグルーブ横断信号を検出するための装置としC
は、第9図に示すようなものがある。すなわち、このプ
リグルーブ横断信号検出装置は、半導体レーザー110
から出射されたレーザービームをコリメータレンズ11
1によって平行光に変換し、この平行光化されたビーム
をビーム整形プリズム112によって円形のビームに整
形する。
は、第9図に示すようなものがある。すなわち、このプ
リグルーブ横断信号検出装置は、半導体レーザー110
から出射されたレーザービームをコリメータレンズ11
1によって平行光に変換し、この平行光化されたビーム
をビーム整形プリズム112によって円形のビームに整
形する。
そして、この円形ビームをビームスプリッタ113及び
1/4波長板114を通して対物レンズ115によって
、第10図に示すように、プリグルーブ101の幅より
やや大きい直径の円形のビームに絞って光記録媒体10
0に照射する。
1/4波長板114を通して対物レンズ115によって
、第10図に示すように、プリグルーブ101の幅より
やや大きい直径の円形のビームに絞って光記録媒体10
0に照射する。
次に、光記録媒体100からの反射光を上記と同じ光路
を通して戻し、ビームスプリッタ113によって側方に
反射して、この反射されたビームをレンズ116及びシ
リンドリカルレンズ117を介して四分割受光素子11
8上に照射する。そして、この四分割受光素子118か
らの出力信号を処理した信号は、第11図に示すように
、光学ヘッド106がプリグルーブ101を横断するこ
とによる反射光量の変化に応じて変化した信号119と
なる。
を通して戻し、ビームスプリッタ113によって側方に
反射して、この反射されたビームをレンズ116及びシ
リンドリカルレンズ117を介して四分割受光素子11
8上に照射する。そして、この四分割受光素子118か
らの出力信号を処理した信号は、第11図に示すように
、光学ヘッド106がプリグルーブ101を横断するこ
とによる反射光量の変化に応じて変化した信号119と
なる。
そのため、上記信号119を、第12図に示すように、
コンパレータ120によって基準電圧VRと比較して、
光学ヘッド106がプリグルーブ101を横切るときに
発生するプリグルーブ横断信号121を検出し、この検
出されたプリグルーブ横断信号121の個数をカウント
して、光学ヘッド106の位置を制御する方法がとられ
ている。
コンパレータ120によって基準電圧VRと比較して、
光学ヘッド106がプリグルーブ101を横切るときに
発生するプリグルーブ横断信号121を検出し、この検
出されたプリグルーブ横断信号121の個数をカウント
して、光学ヘッド106の位置を制御する方法がとられ
ている。
しかし、この場合には、光記録媒体100のプリグルー
ブ101からの反射光を四分割受光素子118によって
電気信号119に変換し、この信号119をvンバレ−
’1120’QN準’af圧VRト比較してプリグルー
ブ横断信号121を検出するものであるため、光記録媒
体100の反射率にばらつきがあったり半導体レーIf
−110の強度等が変動した場合には、光記録媒体10
0からの反射光の強度が変化する。そのため、四分割受
光素子118からの出力信号119が1.第13図に示
すように、基準電圧VRよりも低下した場合には、この
信号119をコンパレータ120を通し又もプリグルー
ブ横断信号121が得られなくなり、光学ヘッド106
によってプリグルーブ101の横断を検出することがで
きないという問題点があった。
ブ101からの反射光を四分割受光素子118によって
電気信号119に変換し、この信号119をvンバレ−
’1120’QN準’af圧VRト比較してプリグルー
ブ横断信号121を検出するものであるため、光記録媒
体100の反射率にばらつきがあったり半導体レーIf
−110の強度等が変動した場合には、光記録媒体10
0からの反射光の強度が変化する。そのため、四分割受
光素子118からの出力信号119が1.第13図に示
すように、基準電圧VRよりも低下した場合には、この
信号119をコンパレータ120を通し又もプリグルー
ブ横断信号121が得られなくなり、光学ヘッド106
によってプリグルーブ101の横断を検出することがで
きないという問題点があった。
そこで、この問題点を解決し得るものとしては、特開昭
60−171637号公報に開示されたようなものがあ
る(同公報の第3図)。これは、二分割受光素子の和の
出力信号をそのままコンパレータによって基準電圧と比
較するのではなく、二分割受光素子の和の出力信号をピ
ークホルダ回路を通してそのピーク値を求めるとともに
、この二分割受光素子の和の出力信号のピーク値と二分
割受光素子の和の出力信号そのものとの差分信号を求め
る。そしで、この差分信号を」ンパレータによって基準
電圧と比較づることによって、光記録媒体の反射率等が
変動した場合でも、プリグルーブの横開信号を確実に検
出することができるようにしたものである。
60−171637号公報に開示されたようなものがあ
る(同公報の第3図)。これは、二分割受光素子の和の
出力信号をそのままコンパレータによって基準電圧と比
較するのではなく、二分割受光素子の和の出力信号をピ
ークホルダ回路を通してそのピーク値を求めるとともに
、この二分割受光素子の和の出力信号のピーク値と二分
割受光素子の和の出力信号そのものとの差分信号を求め
る。そしで、この差分信号を」ンパレータによって基準
電圧と比較づることによって、光記録媒体の反射率等が
変動した場合でも、プリグルーブの横開信号を確実に検
出することができるようにしたものである。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、上記従来技術の場合には、次に示すような問題
点を有している。すなわち、二分割受光素子の和の出力
信号のピーク値と二分割受光素子の和の出力信号そのも
のとの差分信号を求めているため、二分割受光素子の和
の出力信号のピーク値に対応した光記録媒体の反射強度
の大きい部分を基準として、二分割受光素子の和の出力
信号の変化を検出することができる。そのため、光記録
媒体の反射強度にばらつきがあったり、光記録媒体に照
射される光の強度が変動した場合でも、ある程度は対応
することができるものの、光記録媒体に照射される光の
強度が大幅に変動した場合など、二分割受光素子の和の
出力信号のピーク値と二分割受光素子の和の出力信号そ
のものとの差分信号が、基準電圧より低くなる場合があ
り、やはりプリグルーブの横断信号を正確に検出するこ
とができないという問題点があった。
点を有している。すなわち、二分割受光素子の和の出力
信号のピーク値と二分割受光素子の和の出力信号そのも
のとの差分信号を求めているため、二分割受光素子の和
の出力信号のピーク値に対応した光記録媒体の反射強度
の大きい部分を基準として、二分割受光素子の和の出力
信号の変化を検出することができる。そのため、光記録
媒体の反射強度にばらつきがあったり、光記録媒体に照
射される光の強度が変動した場合でも、ある程度は対応
することができるものの、光記録媒体に照射される光の
強度が大幅に変動した場合など、二分割受光素子の和の
出力信号のピーク値と二分割受光素子の和の出力信号そ
のものとの差分信号が、基準電圧より低くなる場合があ
り、やはりプリグルーブの横断信号を正確に検出するこ
とができないという問題点があった。
[課題を解決するための手段]
そこで、この発明は、上記従来技術の問題点を解決づる
ためになされたもので、イの目的とするところは、光記
録媒体の反射率にばらつきがあったり、光記録媒体に照
射される光源の光量が大きく変動した場合でも、プリグ
ルーブ横断信号を確実に検出することが可能なプリグル
ーブ横断信号検出giI!を提供することにある。
ためになされたもので、イの目的とするところは、光記
録媒体の反射率にばらつきがあったり、光記録媒体に照
射される光源の光量が大きく変動した場合でも、プリグ
ルーブ横断信号を確実に検出することが可能なプリグル
ーブ横断信号検出giI!を提供することにある。
すなわち、この発明は、光記録媒体に集束光を照射して
、この光記録媒体からの反則光を光学系を介して受光素
子によって受光し、この受光素子からの出力信号によっ
て、上記集束光がプリグルーブを横断するときの信号を
検出するプリグルーブ横断信号検出装置において、上記
受光素子からの出力信号の平均値を検出する平均値検出
手段と。
、この光記録媒体からの反則光を光学系を介して受光素
子によって受光し、この受光素子からの出力信号によっ
て、上記集束光がプリグルーブを横断するときの信号を
検出するプリグルーブ横断信号検出装置において、上記
受光素子からの出力信号の平均値を検出する平均値検出
手段と。
この平均値検出手段によって検出された平均値と上記受
光素子からの出力信号とを比較する比較手段とを具備す
るように構成されている。
光素子からの出力信号とを比較する比較手段とを具備す
るように構成されている。
上記平均値検出手段としては、例えば受光素子からの出
力信号の最大値と最小値をそれぞれ求めるサンプルホー
ルド回路と、このサンプルホールド回路の出力信号から
平均値を求める平均値演算回路とからなるものが用いら
れる。しかし、これに限定されるものではなく、この平
均値検出手段としては、受光素子からの出力信号の直流
成分、すなわち平均値を求めるローパスフィルタなどを
用いても良い。
力信号の最大値と最小値をそれぞれ求めるサンプルホー
ルド回路と、このサンプルホールド回路の出力信号から
平均値を求める平均値演算回路とからなるものが用いら
れる。しかし、これに限定されるものではなく、この平
均値検出手段としては、受光素子からの出力信号の直流
成分、すなわち平均値を求めるローパスフィルタなどを
用いても良い。
また、上記比較手段としては、例えば通常のコンパレー
タが用いられる。
タが用いられる。
[作用コ
この発明においては、受光素子からの出力信号の平均値
を検出する平均値検出手段と、この平均値検出手段によ
って検出された平均値と上記受光素子の出力信号とを比
較づる比較手段とを具備するようにしたので、受光素子
からの出力信号を常にその平均値と比較して、プリグル
ーブ横断信号を求めることができ、光記録媒体の反射率
や光記録媒体に照射される集束光の光量が大きく変動し
た場合でも、常に正確にプリグルーブ横断信号を求める
ことができる。
を検出する平均値検出手段と、この平均値検出手段によ
って検出された平均値と上記受光素子の出力信号とを比
較づる比較手段とを具備するようにしたので、受光素子
からの出力信号を常にその平均値と比較して、プリグル
ーブ横断信号を求めることができ、光記録媒体の反射率
や光記録媒体に照射される集束光の光量が大きく変動し
た場合でも、常に正確にプリグルーブ横断信号を求める
ことができる。
[実施例1
以下にこの発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第3図はこの発明に係るプリグルーブ横断信号検出装置
を適用した光学的記録再生装置を示すものである。
を適用した光学的記録再生装置を示すものである。
この光学的記録再生装置1は、半導体レーザー2と、こ
の半導体レーザー2から出射された楕円形状のビームL
Bを平行光に変換するコリメータレンズ3と、このレー
ザービームL8を断面円形状の光に整形するビーム整形
プリズム4と、ビームLBを分割するビームスプリッタ
5と、直線偏光の光と円偏光の光を相互に変換する1/
4波長板6と、対物レンズ7と、ビームスプリッタ5に
よって分離されたビームを集光する集光レンズ8と、シ
リンドリカルレンズSLと、四つの受光素子9a、9b
、9C19dに分割された四分割受光素子9とから構成
されている。
の半導体レーザー2から出射された楕円形状のビームL
Bを平行光に変換するコリメータレンズ3と、このレー
ザービームL8を断面円形状の光に整形するビーム整形
プリズム4と、ビームLBを分割するビームスプリッタ
5と、直線偏光の光と円偏光の光を相互に変換する1/
4波長板6と、対物レンズ7と、ビームスプリッタ5に
よって分離されたビームを集光する集光レンズ8と、シ
リンドリカルレンズSLと、四つの受光素子9a、9b
、9C19dに分割された四分割受光素子9とから構成
されている。
上記光学的記録再生装置a1によって情報の記録・再生
が行われる光記録媒体としての光ディスク10は、第4
図に示Jように、プリグルーブ11が施された透明基板
12と、この透明基板12の全面に設けられた記録に4
13と、この記録層13の全面に設けられた保護層14
とでその主要部が構成されている。
が行われる光記録媒体としての光ディスク10は、第4
図に示Jように、プリグルーブ11が施された透明基板
12と、この透明基板12の全面に設けられた記録に4
13と、この記録層13の全面に設けられた保護層14
とでその主要部が構成されている。
そして、上記装置1においては、半導体レーザー2から
出射された楕円形状のレーザービームL8が、コリメー
タレンズ3によって平行光化された後、ビーム整形プリ
ズム4によって円形のビームIBに成形される。その後
、このビームLBは、ビームスプリッタ5及び1/4波
良根6を通り、対物レンズ7によって絞られて光ディス
ク10に照射される。
出射された楕円形状のレーザービームL8が、コリメー
タレンズ3によって平行光化された後、ビーム整形プリ
ズム4によって円形のビームIBに成形される。その後
、このビームLBは、ビームスプリッタ5及び1/4波
良根6を通り、対物レンズ7によって絞られて光ディス
ク10に照射される。
この光ディスク10からの反射光は、上記と同じ光路を
戻り、ビームスプリッタ5で反射されて集光レンズ8に
よって、二分割受光素子9上に結像される。
戻り、ビームスプリッタ5で反射されて集光レンズ8に
よって、二分割受光素子9上に結像される。
この光学ヘッドHは、目的のトラックに光学ヘッドHを
移動させるシーク動作時には、光ディスク10のプリグ
ルーブ11を横切るように移動する。
移動させるシーク動作時には、光ディスク10のプリグ
ルーブ11を横切るように移動する。
第1図はプリグルーブ横断信号検出装置の電気回路を示
すものである。図において、15は四分割受光素子9の
四つの受光素子9a、9b、9c。
すものである。図において、15は四分割受光素子9の
四つの受光素子9a、9b、9c。
9dのうち、隣合う二つの受光素子9a、9bと90.
9dのそれぞれ和をとった信号同志の差信号を増幅する
差動増幅器、16は差動増幅器15からの出力信号の最
大値を検出するためのサンプルホールド回路、17は差
動増幅器15からの出力信号の最小値を検出するための
サンプルホールド回路、18は両サンプルホールド回路
16.17にホールドされた四分割受光素子9からの出
力信号の差信号の最大値及び最小値から平均値を演算す
る平均値演算回路、19は平均値演算回路18によって
演算された四分割受光素子9からの出力信号の差信号の
平均値と、四分割受光素子9からの出力信号の差信号そ
のものとを比較するコンパレータ、20は四分割受光素
子9からの出力信号の差分信号であるトラッキングエラ
ー信号がOレベルを通過するタイミングを検出するため
のコンパレータ、21はコンパレータ2oからの出力信
号の立上がりを検出し、サンプルホールド回路16によ
ってサンプルホールドするタイミングを検出して、短い
幅のパルスを出力するためのモノマルチバイブレータ、
22はコンパレータ20からの出力信号の立下がりを検
出し、サンプルホールド回路17によってサンプルホー
ルドするタイミングを検出して、短い幅のパルスを出力
するためのモノマルチバイブレータである。
9dのそれぞれ和をとった信号同志の差信号を増幅する
差動増幅器、16は差動増幅器15からの出力信号の最
大値を検出するためのサンプルホールド回路、17は差
動増幅器15からの出力信号の最小値を検出するための
サンプルホールド回路、18は両サンプルホールド回路
16.17にホールドされた四分割受光素子9からの出
力信号の差信号の最大値及び最小値から平均値を演算す
る平均値演算回路、19は平均値演算回路18によって
演算された四分割受光素子9からの出力信号の差信号の
平均値と、四分割受光素子9からの出力信号の差信号そ
のものとを比較するコンパレータ、20は四分割受光素
子9からの出力信号の差分信号であるトラッキングエラ
ー信号がOレベルを通過するタイミングを検出するため
のコンパレータ、21はコンパレータ2oからの出力信
号の立上がりを検出し、サンプルホールド回路16によ
ってサンプルホールドするタイミングを検出して、短い
幅のパルスを出力するためのモノマルチバイブレータ、
22はコンパレータ20からの出力信号の立下がりを検
出し、サンプルホールド回路17によってサンプルホー
ルドするタイミングを検出して、短い幅のパルスを出力
するためのモノマルチバイブレータである。
以上の構成において、この実施例に係るプリグルーブ横
断信号検出装置においては、次のようにして、プリグル
ーブ横断信号の検出が行われる。
断信号検出装置においては、次のようにして、プリグル
ーブ横断信号の検出が行われる。
すなわち、目的のトラックに光学ヘッドHを移動させる
シーク動作時には、第3図に示すように、光学ヘッドH
を図示しない駆動手段によって光ディスク10の半径方
向外側から内側へ向けて、あるいは半径方向内側から外
側へ向けて移動させる。
シーク動作時には、第3図に示すように、光学ヘッドH
を図示しない駆動手段によって光ディスク10の半径方
向外側から内側へ向けて、あるいは半径方向内側から外
側へ向けて移動させる。
このとき、光ディスク10は、回転しているため、光デ
イスク10上に固定した座標から見た場合、光学ヘッド
Hは、第5図に示すように、光ディスク13に形成され
たプリグルーブ11を斜めに横切ることになる。図中、
pはプリグルーブ11内に記録されたビットを示してい
る。
イスク10上に固定した座標から見た場合、光学ヘッド
Hは、第5図に示すように、光ディスク13に形成され
たプリグルーブ11を斜めに横切ることになる。図中、
pはプリグルーブ11内に記録されたビットを示してい
る。
このように、光学ヘッドHが光ディスク10のプリグル
ーブ11を横切る際に、第3図に示すように、半導体レ
ーザー2からプリグルーブ横断信号を検出するためのレ
ーザービームL8が出射される。この半導体レーザー2
から出射されたビームLBは、コリメータレンズ3によ
って平行光束となり、この平行光束となったビームLB
は、ビーム整形プリズム4によって断面円形状のビーム
に整形される。その後、この円形ビームLBは、ビーム
スプリッタ5及び1/4波長板6を介して、対物レンズ
7により集束されて光ディスク10に照射される。
ーブ11を横切る際に、第3図に示すように、半導体レ
ーザー2からプリグルーブ横断信号を検出するためのレ
ーザービームL8が出射される。この半導体レーザー2
から出射されたビームLBは、コリメータレンズ3によ
って平行光束となり、この平行光束となったビームLB
は、ビーム整形プリズム4によって断面円形状のビーム
に整形される。その後、この円形ビームLBは、ビーム
スプリッタ5及び1/4波長板6を介して、対物レンズ
7により集束されて光ディスク10に照射される。
そして、光ディスク10からの反射光は、第3図に示す
ように、対物レンズ7によって集光され、上記と同じ経
路を通り、ビームスプリッタ5により四分割受光素子9
上に照射され、この四分割受光素子9によって電気信号
に変換される。
ように、対物レンズ7によって集光され、上記と同じ経
路を通り、ビームスプリッタ5により四分割受光素子9
上に照射され、この四分割受光素子9によって電気信号
に変換される。
上記四分割受光素子9の四つの受光素子9a。
9b、9c、9dからの出力信号のうち、隣合う二つの
受光素子9a、9bと9c、9dのそれぞれ和をとった
信号同志の差信号は、第1図に示すように、差動増幅器
15によってそれぞれの差の信号a〈第2図(a))が
求められる。
受光素子9a、9bと9c、9dのそれぞれ和をとった
信号同志の差信号は、第1図に示すように、差動増幅器
15によってそれぞれの差の信号a〈第2図(a))が
求められる。
そして、この四分割受光素子9からの出力信号の差の信
号aは、サンプルホールド回路16.17によってそれ
ぞれ最大値と最小値がサンプルホールドされる。このサ
ンプルホールド動作は、次のようにして行なわれる。
号aは、サンプルホールド回路16.17によってそれ
ぞれ最大値と最小値がサンプルホールドされる。このサ
ンプルホールド動作は、次のようにして行なわれる。
すなわち、四分割受光素子9からの出力信号の差分信号
であるトラッキングエラー信号iは、第2図(f)に示
すように、四分割受光索子9からの出力信号の差信号a
と位相が90度異なり、しかもゼロ点をクロスする信号
である。そのため、四分割受光素子9からの出力信号の
差分信号であるトラッキングエラー信号iは、第1図に
示すように、コンパレータ2oに入力されて、このコン
パレータ20によって0■と比較される。そして、コン
パレータ20からは、第2図(0)に示すように、トラ
ッキングエラー信号iがマイナスからプラスへゼロ点を
クロスする時に立上がり、トラッキングエラー信号iが
プラスからマイナスへゼロ点をクロスする時に立下がる
パルス信号jIfi得られる。
であるトラッキングエラー信号iは、第2図(f)に示
すように、四分割受光索子9からの出力信号の差信号a
と位相が90度異なり、しかもゼロ点をクロスする信号
である。そのため、四分割受光素子9からの出力信号の
差分信号であるトラッキングエラー信号iは、第1図に
示すように、コンパレータ2oに入力されて、このコン
パレータ20によって0■と比較される。そして、コン
パレータ20からは、第2図(0)に示すように、トラ
ッキングエラー信号iがマイナスからプラスへゼロ点を
クロスする時に立上がり、トラッキングエラー信号iが
プラスからマイナスへゼロ点をクロスする時に立下がる
パルス信号jIfi得られる。
このコンパレータ20の出力信号jは、モノマルチバイ
ブレータ21.22にそれぞれ入力される。モノマルチ
バイブレータ21は、第2図(h)に示すように、コン
パレータ20の出力信@jの立上がりによってトリガさ
れ、短い幅のタイミングパルスkを出力する。このタイ
ミングパルスkが出力されるタイミングは、第2図(f
)に示ずように、トラッキングエラー信号iがマイナス
からプラスに変化するタイミングと一致しており、この
タイミングは、第2図(a)から明らかなように、トラ
ッキングエラー信号iと90度位相が異なる四分割受光
素子9からの出力信号の差信号aのピーク位置すなわち
最大値の位置に対応している。
ブレータ21.22にそれぞれ入力される。モノマルチ
バイブレータ21は、第2図(h)に示すように、コン
パレータ20の出力信@jの立上がりによってトリガさ
れ、短い幅のタイミングパルスkを出力する。このタイ
ミングパルスkが出力されるタイミングは、第2図(f
)に示ずように、トラッキングエラー信号iがマイナス
からプラスに変化するタイミングと一致しており、この
タイミングは、第2図(a)から明らかなように、トラ
ッキングエラー信号iと90度位相が異なる四分割受光
素子9からの出力信号の差信号aのピーク位置すなわち
最大値の位置に対応している。
また、モノマルチバイブレータ22は、第2図(i)に
示すように、コンパレータ20の出力信号jの立下がり
によってトリガされ、短い幅のタイミングパルス1を出
力する。このタイミングパルス1が出力されるタイミン
グは、第2図(f)に示すように、トラッキングエラー
信号1がプラスからマイナスに変化するタイミングと一
致しており、このタイミングは、第2図(a)から明ら
かなように、トラッキングエラー信号iと90度位相が
異なる四分割受光素子9からの出力信号の差信号aのボ
トム位置すなわち最小値の位jδに対応している。
示すように、コンパレータ20の出力信号jの立下がり
によってトリガされ、短い幅のタイミングパルス1を出
力する。このタイミングパルス1が出力されるタイミン
グは、第2図(f)に示すように、トラッキングエラー
信号1がプラスからマイナスに変化するタイミングと一
致しており、このタイミングは、第2図(a)から明ら
かなように、トラッキングエラー信号iと90度位相が
異なる四分割受光素子9からの出力信号の差信号aのボ
トム位置すなわち最小値の位jδに対応している。
従って、モノマルチバイブレータ2ゴ、22によってそ
れぞれサンプリングのタイミングが決定されるサンプル
ホールド回路16.17は、第2図(b)、(C)に示
すように、四分割受光素子9からの出力信号の差信号a
の最大値及び最小値の値をホールドすることになる。
れぞれサンプリングのタイミングが決定されるサンプル
ホールド回路16.17は、第2図(b)、(C)に示
すように、四分割受光素子9からの出力信号の差信号a
の最大値及び最小値の値をホールドすることになる。
上記サンプルホールド回路16.17からの出力信号e
、fは、平均値演算回路18によって平均値が演算され
る。
、fは、平均値演算回路18によって平均値が演算され
る。
この平均値演算回路18からの出力信号qは、第1図に
示すように、コンパレータ19によって四分割受光素子
9からの出力信号の差信号aそのものと比較され、コン
パレータ19からは、第2図(e)に示すように、プリ
グルーブ横断信号りが得られる。
示すように、コンパレータ19によって四分割受光素子
9からの出力信号の差信号aそのものと比較され、コン
パレータ19からは、第2図(e)に示すように、プリ
グルーブ横断信号りが得られる。
このように、四分割受光素子9からの出力信号の差信号
の平均値qを求め、この四分割受光素子9からの出力信
号の差信@aの平均figと四分割受光索子9からの出
力信号の差信号aそのものとをコンパレータ19によっ
て比較して、プリグルーブ横断信号りを検出するように
構成されている。
の平均値qを求め、この四分割受光素子9からの出力信
号の差信@aの平均figと四分割受光索子9からの出
力信号の差信号aそのものとをコンパレータ19によっ
て比較して、プリグルーブ横断信号りを検出するように
構成されている。
そのため、光ディスク10の反射率にばらつきがあった
り、半導体レーザー2から出射されるレーザービームL
[3の強度が大きく変動した場合でも、四分割受光素子
9からの出力信号aは、常にその平均fliQと比較さ
れるため、1ノーザービームLE3が光ディスク10の
プリグルーブ11を横断する時に周期的に変動する信号
aから、正確にプリグルーブ横断信号りを検出すること
ができる。
り、半導体レーザー2から出射されるレーザービームL
[3の強度が大きく変動した場合でも、四分割受光素子
9からの出力信号aは、常にその平均fliQと比較さ
れるため、1ノーザービームLE3が光ディスク10の
プリグルーブ11を横断する時に周期的に変動する信号
aから、正確にプリグルーブ横断信号りを検出すること
ができる。
また、このように、平均値検出手段として、受光素子か
らの出力信号の最大値と最小値をそれぞれ求めるサンプ
ルホールド回路と、このサンプルホールド回路の出力信
号から平均値を求める平均値演算回路とからなるものを
用いた場合には、応答が速く、平均値検出手段としてロ
ーパスフィルタなどを用いた場合のように、CR定数の
値による時間的な遅れを考慮する必要もない。
らの出力信号の最大値と最小値をそれぞれ求めるサンプ
ルホールド回路と、このサンプルホールド回路の出力信
号から平均値を求める平均値演算回路とからなるものを
用いた場合には、応答が速く、平均値検出手段としてロ
ーパスフィルタなどを用いた場合のように、CR定数の
値による時間的な遅れを考慮する必要もない。
[発明の効果]
この発明は以上のように、受光素子からの出力信号の平
均値を検出する平均値検出手段と、この平均値検出手段
によって検出された平均値と上記受光素子の出力信号と
を比較する比較手段とを具備するように構成したので、
光記録媒体の反射率にばらつきがあったり、光記録媒体
に照射される光源の光量が大きく変動した場合でも、ブ
リグル−ブ横断信号を確実に検出することができる。
均値を検出する平均値検出手段と、この平均値検出手段
によって検出された平均値と上記受光素子の出力信号と
を比較する比較手段とを具備するように構成したので、
光記録媒体の反射率にばらつきがあったり、光記録媒体
に照射される光源の光量が大きく変動した場合でも、ブ
リグル−ブ横断信号を確実に検出することができる。
第1図はこの発明に係るプリグルーブ横断信号検出装置
の一実施例を示す回路図、第2図(a)〜(i)はそれ
ぞれ動作を示す波形図、第3図はこの発明に係るプリグ
ルーブ横断信号検出装置を適用し得る光学的記録再生装
置を示す構成図、第4図は光ディスクを示す説明図、第
5図は光学ヘッドの移動経路を示ず説明図、第6図は光
記録媒体を示す説明図、第7図は光記録媒体に照射され
るビームを示す斜視図、第8図は再生動作を示す斜視説
明図、第9図は従来のプリグルーブ横断信号検出装置を
示す構成図、第10図は光記録媒体を示す説明図、第1
1図(a)、(b)は従来のプリグルーブ横断信号検出
装置の動作をそれぞれ示す波形図、第12図は従来のプ
リグルーブ横断信号検出装置を示す回路図、第13図(
a)、(b)はプリグルーブ横断信号の検出状態のそれ
ぞれ異なった状態を示す波形図である。 [符号の説明] 9・・・四分割受光素子 10・・・光ディスク 11・・・プリグルーブ 15・・・加算増幅器 16.17・・・サンプルホールド回路18・・・平均
値演算回路 19・・・コンパレータ LB・・・レーザービーム 許 理 出 願 人 富士ゼロックス株式会社人 弁理士
中村 智廣(外1名) 第 図 第 図 口 レーザービーム 第 図 第 図 第 7図 第 図 第10図 第 図 第12 図 第13 図
の一実施例を示す回路図、第2図(a)〜(i)はそれ
ぞれ動作を示す波形図、第3図はこの発明に係るプリグ
ルーブ横断信号検出装置を適用し得る光学的記録再生装
置を示す構成図、第4図は光ディスクを示す説明図、第
5図は光学ヘッドの移動経路を示ず説明図、第6図は光
記録媒体を示す説明図、第7図は光記録媒体に照射され
るビームを示す斜視図、第8図は再生動作を示す斜視説
明図、第9図は従来のプリグルーブ横断信号検出装置を
示す構成図、第10図は光記録媒体を示す説明図、第1
1図(a)、(b)は従来のプリグルーブ横断信号検出
装置の動作をそれぞれ示す波形図、第12図は従来のプ
リグルーブ横断信号検出装置を示す回路図、第13図(
a)、(b)はプリグルーブ横断信号の検出状態のそれ
ぞれ異なった状態を示す波形図である。 [符号の説明] 9・・・四分割受光素子 10・・・光ディスク 11・・・プリグルーブ 15・・・加算増幅器 16.17・・・サンプルホールド回路18・・・平均
値演算回路 19・・・コンパレータ LB・・・レーザービーム 許 理 出 願 人 富士ゼロックス株式会社人 弁理士
中村 智廣(外1名) 第 図 第 図 口 レーザービーム 第 図 第 図 第 7図 第 図 第10図 第 図 第12 図 第13 図
Claims (1)
- 光記録媒体に集束光を照射して、この光記録媒体からの
反射光を光学系を介して受光素子によつて受光し、この
受光素子からの出力信号によつて、上記集束光がプリグ
ルーブを横断するときの信号を検出するプリグルーブ横
断信号検出装置において、上記受光素子からの出力信号
の平均値を検出する平均値検出手段と、この平均値検出
手段によつて検出された平均値と上記受光素子からの出
力信号とを比較する比較手段とを具備したことを特徴と
するプリグルーブ横断信号検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7392089A JPH02254635A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | プリグルーブ横断信号検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7392089A JPH02254635A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | プリグルーブ横断信号検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02254635A true JPH02254635A (ja) | 1990-10-15 |
Family
ID=13532077
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7392089A Pending JPH02254635A (ja) | 1989-03-28 | 1989-03-28 | プリグルーブ横断信号検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02254635A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0490298U (ja) * | 1990-12-18 | 1992-08-06 | ||
JPH0527816U (ja) * | 1991-03-26 | 1993-04-09 | 三洋電機株式会社 | トラツク通過信号検出回路 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60191482A (ja) * | 1984-03-09 | 1985-09-28 | Mitsubishi Electric Corp | 情報記憶再生装置のサ−ボ方式 |
JPS6190376A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-08 | Mitsubishi Electric Corp | トラツキングサ−ボ回路のル−プゲイン調整回路 |
JPS61210525A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-18 | Canon Inc | 光学式情報記録再生装置 |
JPS62222B2 (ja) * | 1983-03-19 | 1987-01-06 | Tohoku Metal Ind Ltd | |
JPS6224444A (ja) * | 1985-07-25 | 1987-02-02 | Pioneer Electronic Corp | トラック横切り方向検出装置 |
JPH0266735A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-06 | Nec Corp | 横断トラックカウント装置 |
JPH02232822A (ja) * | 1989-03-07 | 1990-09-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | トラッキングサーボ装置 |
JPH02246058A (ja) * | 1989-03-17 | 1990-10-01 | Seiko Epson Corp | ヘッド位置決め方法 |
-
1989
- 1989-03-28 JP JP7392089A patent/JPH02254635A/ja active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62222B2 (ja) * | 1983-03-19 | 1987-01-06 | Tohoku Metal Ind Ltd | |
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JPS61210525A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-18 | Canon Inc | 光学式情報記録再生装置 |
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JPH0266735A (ja) * | 1988-09-01 | 1990-03-06 | Nec Corp | 横断トラックカウント装置 |
JPH02232822A (ja) * | 1989-03-07 | 1990-09-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | トラッキングサーボ装置 |
JPH02246058A (ja) * | 1989-03-17 | 1990-10-01 | Seiko Epson Corp | ヘッド位置決め方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0490298U (ja) * | 1990-12-18 | 1992-08-06 | ||
JPH0527816U (ja) * | 1991-03-26 | 1993-04-09 | 三洋電機株式会社 | トラツク通過信号検出回路 |
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