JPS62113010A - 広域スペクトルを有する光源の平均波長を安定化させるための装置および該装置を応用した光フアイバジヤイロ - Google Patents
広域スペクトルを有する光源の平均波長を安定化させるための装置および該装置を応用した光フアイバジヤイロInfo
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- JPS62113010A JPS62113010A JP61266490A JP26649086A JPS62113010A JP S62113010 A JPS62113010 A JP S62113010A JP 61266490 A JP61266490 A JP 61266490A JP 26649086 A JP26649086 A JP 26649086A JP S62113010 A JPS62113010 A JP S62113010A
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- light
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- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/58—Turn-sensitive devices without moving masses
- G01C19/64—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
- G01C19/72—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
- G01C19/721—Details
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- Remote Sensing (AREA)
- Gyroscopes (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、放射光の波長域が広い光源、特にレートジャ
イロに用いられる光源の平均波長を安定化させる装置に
関するものである。本発明はまた、該装置を応用した光
フアイバジャイロにも関するものである。
イロに用いられる光源の平均波長を安定化させる装置に
関するものである。本発明はまた、該装置を応用した光
フアイバジャイロにも関するものである。
従来の技術
光学系において、その出力が波長に依存する場合は、波
長が変化するとスケールファククが不安定になることが
知られている。擾乱の原因の最大のものは一般に温度変
化である。
長が変化するとスケールファククが不安定になることが
知られている。擾乱の原因の最大のものは一般に温度変
化である。
本発明が特に応用されろ分野の中にはレートジャイロお
よびそれに類する装置がある。
よびそれに類する装置がある。
ジャイロは一般にループ状の干渉計からなる。
ループ状干渉計すなわちサニヤック(Sagnac)干
渉計内で2つのビームが同一の光路を互いに反対方向に
伝搬して、この光路の出口で干渉する。光路内での擾乱
が伝搬の両方向に対して同じ性質をもっていてしかも光
の伝搬中にその性質が変化しない限りは、2つのビーム
は全(同じように擾乱を受けるため相対的な位相は変化
しない。このような擾乱を1相反的」と称する。干渉計
内の伝搬時間は一般に非常に短いため、この間の擾乱の
変化はまず無視できるぐらいに小さい。ただし、わざと
擾乱を与えた場合は別である。
渉計内で2つのビームが同一の光路を互いに反対方向に
伝搬して、この光路の出口で干渉する。光路内での擾乱
が伝搬の両方向に対して同じ性質をもっていてしかも光
の伝搬中にその性質が変化しない限りは、2つのビーム
は全(同じように擾乱を受けるため相対的な位相は変化
しない。このような擾乱を1相反的」と称する。干渉計
内の伝搬時間は一般に非常に短いため、この間の擾乱の
変化はまず無視できるぐらいに小さい。ただし、わざと
擾乱を与えた場合は別である。
これに対し、「非相反的」擾乱もある。この擾乱は伝搬
の2方向で振幅が異なる。この擾乱の方向が完全に決ま
ると、空間および媒質の対称性が乱れるという物理的効
果が現われる。
の2方向で振幅が異なる。この擾乱の方向が完全に決ま
ると、空間および媒質の対称性が乱れるという物理的効
果が現われる。
2つの効果がこの性質を有する。
ひとつはファラデー効果、すなわち、透過光の磁気光効
果である。この効果により、光学物質に磁場を印加する
と内部の電子のスピンがある特定の方向を向きやすくな
る。
果である。この効果により、光学物質に磁場を印加する
と内部の電子のスピンがある特定の方向を向きやすくな
る。
もうひとつはサニヤック効果、すなわち相対論的慣性効
果である。慣性座標系に対して干渉計が回転運動すると
伝搬時間の対称性が破れる。
果である。慣性座標系に対して干渉計が回転運動すると
伝搬時間の対称性が破れる。
慣性空間に対して回転をさせることにより光フアイバジ
ャイロを実現することができ、磁場を印加することによ
り電流測定あるいは磁気測定に基づく電流センサーを実
現することができる。
ャイロを実現することができ、磁場を印加することによ
り電流測定あるいは磁気測定に基づく電流センサーを実
現することができる。
近年の干渉計においては、ループはシングルモード光フ
ァイバを巻いてコイル状にしたものである。このように
して半径を小さくしている。しかし、光路長はコイルの
巻数に比例する。従って、占有体積は非常に小さくなっ
ても光路長は非常に長くすることが可能である。その長
さは普通IKmのオーダーである。
ァイバを巻いてコイル状にしたものである。このように
して半径を小さくしている。しかし、光路長はコイルの
巻数に比例する。従って、占有体積は非常に小さくなっ
ても光路長は非常に長くすることが可能である。その長
さは普通IKmのオーダーである。
このような干渉計は回転速度を測定するのに使用される
。この回転速度は、ループ内を互いに反対方向に伝搬す
る光の間の位相差を測定することにより求める。
。この回転速度は、ループ内を互いに反対方向に伝搬す
る光の間の位相差を測定することにより求める。
以下に詳しく記述するように、これら2つの光の間の位
相差は、その波長に比例する。さらに正確に述べるなら
ば波長の逆数に比例する。
相差は、その波長に比例する。さらに正確に述べるなら
ば波長の逆数に比例する。
光源からの同一の光ビームは分離されてループ内を伝搬
する。光源としては一般に半導体光源が用いられる。例
えば高性能発光ダイオードがあげられる。この光源から
は平均波長を中心として波長の拡がりをもった光が放射
される。ところで平均波長は今度は光源の温度に依存す
る。
する。光源としては一般に半導体光源が用いられる。例
えば高性能発光ダイオードがあげられる。この光源から
は平均波長を中心として波長の拡がりをもった光が放射
される。ところで平均波長は今度は光源の温度に依存す
る。
従来、光の放射を安定化させるためにさまざまな方法が
用いられていた。これらの方法に共通するのはフィード
バック回路を設けであることだが、そのことで複雑にな
るだけでなくいろいろと調整する必要がある。
用いられていた。これらの方法に共通するのはフィード
バック回路を設けであることだが、そのことで複雑にな
るだけでなくいろいろと調整する必要がある。
本発明はこのような問題点を解決することを目的とする
。
。
問題点を解決するための手段
従って、本発明によれば、広域スペクトルを有するビー
ムを放射する光源の放射ビームの平均波長を安定化させ
る装置であって、上記光源から放射されるビームのスペ
クトルの平均波長と同じ波長を中心とし、半値幅が該放
射ビームの半値幅よりも狭い帯域通過光学フィルタを該
放射ビームの通過経路内に備える装置が提供される。
ムを放射する光源の放射ビームの平均波長を安定化させ
る装置であって、上記光源から放射されるビームのスペ
クトルの平均波長と同じ波長を中心とし、半値幅が該放
射ビームの半値幅よりも狭い帯域通過光学フィルタを該
放射ビームの通過経路内に備える装置が提供される。
−実力1例
添付の図面を参照した以下の説明により、本発明がより
よ(理解できるようになるとともに本発明の特徴および
利点が明らかになろう。
よ(理解できるようになるとともに本発明の特徴および
利点が明らかになろう。
本発明を好ましい実施例、ずなわぢ光ファインくジャイ
ロに応用した場合について記述するが、このことにより
本発明が限定されるものではない。
ロに応用した場合について記述するが、このことにより
本発明が限定されるものではない。
まず最初に光ファイバジャイ11の主な特徴について復
習しておく。
習しておく。
第1図は、従来のループ状干渉計の一例の概略図である
。
。
この第1図においては、ループの部分はシングルモード
光ファイバ5で構成されているが、その他の部分には従
来通りの光学機器が用いられている。モードフィルタ3
が設けであることでこの干渉計が完全に相反的になって
いる。光源10からの入射ビート・11はモードフィル
タ3を通過した後、ハーフミラ−4により2つに分岐さ
れろ。−7jのビーム12はレンス旧を介して光ファイ
バ5に入射させる。このレンズ41はビーム12の焦点
4光ファイバ5の人I]50に合わせるためのものであ
る。他方のビーム13はやはりレンズ42を介して同じ
光ファイバ5に入射させる。レンズ42はビート13の
焦点を光ファイバ5の人]]51に合わせるためのもの
である。2つのビームは光ファイバ内を互いに逆方向に
伝搬して再びハーフミラ−4のところへ戻ってくる。2
つのビームは共にモードフィルタ3を通過した後、ハー
フミラ−2により人朗ビームと分離される。このハーフ
ミラ−2からはビームが一部出力部6に供給される。出
力部6に設置しである光検出器60により干渉信号が検
出される。
光ファイバ5で構成されているが、その他の部分には従
来通りの光学機器が用いられている。モードフィルタ3
が設けであることでこの干渉計が完全に相反的になって
いる。光源10からの入射ビート・11はモードフィル
タ3を通過した後、ハーフミラ−4により2つに分岐さ
れろ。−7jのビーム12はレンス旧を介して光ファイ
バ5に入射させる。このレンズ41はビーム12の焦点
4光ファイバ5の人I]50に合わせるためのものであ
る。他方のビーム13はやはりレンズ42を介して同じ
光ファイバ5に入射させる。レンズ42はビート13の
焦点を光ファイバ5の人]]51に合わせるためのもの
である。2つのビームは光ファイバ内を互いに逆方向に
伝搬して再びハーフミラ−4のところへ戻ってくる。2
つのビームは共にモードフィルタ3を通過した後、ハー
フミラ−2により人朗ビームと分離される。このハーフ
ミラ−2からはビームが一部出力部6に供給される。出
力部6に設置しである光検出器60により干渉信号が検
出される。
光路としてシングルモード光ファイバ5を用いたことで
光路長がきわめて長くなっている。もっとも光ファイバ
は、一般に巻いてコイル状にして用いる。従って、超高
感度ジャイロを実現することができる。
光路長がきわめて長くなっている。もっとも光ファイバ
は、一般に巻いてコイル状にして用いる。従って、超高
感度ジャイロを実現することができる。
しかし、ビートスプリッタを用いていることで損失が生
ずる。このため、そのようなディスクリート光学素子を
光集積回路で置換してエネルギ損失を改善することが提
案されている。しかし、このような観点は本発明とは関
係がない。
ずる。このため、そのようなディスクリート光学素子を
光集積回路で置換してエネルギ損失を改善することが提
案されている。しかし、このような観点は本発明とは関
係がない。
光検出器60にはこの光検出器の出力である電気信号を
処理する回路が接続されている。ただしこの回路は図に
は示していない。電気信号は出力部6を伝搬した後、光
検出器60で検出された複合ビームを光電変換したもの
である。
処理する回路が接続されている。ただしこの回路は図に
は示していない。電気信号は出力部6を伝搬した後、光
検出器60で検出された複合ビームを光電変換したもの
である。
2本のビーム12と13はそれぞれの位相の状態に応じ
て互いに干渉する。先に述べたように、2本のビームの
位相差はループ内を伝搬する光に及ぼされる非相反的擾
乱に依存する。
て互いに干渉する。先に述べたように、2本のビームの
位相差はループ内を伝搬する光に及ぼされる非相反的擾
乱に依存する。
位相差ΔΦは以下の式で与えられる。
この式において、
I−はループの長さ、すなわち光ファイバ5の長さであ
り、 Rはループの半径、すなわち光ファイバを巻いてコイル
にした場合の平均半径であり、λは光ファイバ5を伝搬
している光の真空における波長であり、 Cは真空中の光速であり、 Ωは回転速度の測定値である。
り、 Rはループの半径、すなわち光ファイバを巻いてコイル
にした場合の平均半径であり、λは光ファイバ5を伝搬
している光の真空における波長であり、 Cは真空中の光速であり、 Ωは回転速度の測定値である。
上記の式かられかるように、測定される位相差は波長λ
の逆数に比例する。この波長λが少しでも変化すると、
スケールファクタは影響が出る。
の逆数に比例する。この波長λが少しでも変化すると、
スケールファクタは影響が出る。
従って波長は光源lOの放射光の安定性に直接関わって
いる。
いる。
ところで、光源には半導体光源が一般に用いられている
が、その場合、他の半導体素子と同様温度変化により影
響を受けやすい。半導体光源からは平均波長λ。の光が
放射される。
が、その場合、他の半導体素子と同様温度変化により影
響を受けやすい。半導体光源からは平均波長λ。の光が
放射される。
本発明は、能動フィードバック素子を使用することなく
この平均波長を安定化させることを目的とする。
この平均波長を安定化させることを目的とする。
以下では放射光のスペクトルがガウス型分布であるとし
て話を進める。本発明はもちろんこれに限られろもので
はない。ガウス型分布では光エネルギの分布は波長の関
数として以下の式で表わされる。
て話を進める。本発明はもちろんこれに限られろもので
はない。ガウス型分布では光エネルギの分布は波長の関
数として以下の式で表わされる。
この式において、
λはスペクトル中の任意の波長であり、λ。は平均波長
であり、 Δλ8はスペクトルの半値幅である。
であり、 Δλ8はスペクトルの半値幅である。
第2図はそのようなスペクトルSPsを表わす図である
。
。
縦軸は任意の縮尺で表わした光のエネルギWであり、横
軸は波長λである。
軸は波長λである。
スペクトルS P sの半値幅ΔλSは、エネルギの最
大値を1とした場合にそのエネルギが1/eに等しくな
る両端の波長λ1.とλ2.の差として定義される。
大値を1とした場合にそのエネルギが1/eに等しくな
る両端の波長λ1.とλ2.の差として定義される。
第3図に概略を示したように、本発明においては上記の
スペクトルをもつ光を放射する光源Sに帯域通過光学フ
ィルタF1が接続されている。このフィルタのスペクト
ルの中心波長はやはりλ。
スペクトルをもつ光を放射する光源Sに帯域通過光学フ
ィルタF1が接続されている。このフィルタのスペクト
ルの中心波長はやはりλ。
となっているが帯域幅はスペクトルSPsよりも狭い。
このフィルタには干渉フィルタを用いることが好ましい
。
。
干渉フィルタは、ある帯域のスペクトルを通過させるあ
るいは反射させるのに干渉現象を利用したフィルタであ
る。このようなフィルタは、多数の薄膜からなり、各薄
膜の光学的厚さは中心波長のZあるいはその整数倍であ
る。薄膜を構成する物質の種類、薄膜の数、厚さ、およ
び薄膜の配列を変えることにより帯域幅を大きく変える
ことができるとともに、透過率や反射率を高くすること
ができる。
るいは反射させるのに干渉現象を利用したフィルタであ
る。このようなフィルタは、多数の薄膜からなり、各薄
膜の光学的厚さは中心波長のZあるいはその整数倍であ
る。薄膜を構成する物質の種類、薄膜の数、厚さ、およ
び薄膜の配列を変えることにより帯域幅を大きく変える
ことができるとともに、透過率や反射率を高くすること
ができる。
このようなフィルタは市販品として人手可能であり、構
成もさまざまなものがある。−例としてMDIと呼ばれ
る干渉フィルタがある。
成もさまざまなものがある。−例としてMDIと呼ばれ
る干渉フィルタがある。
これは、金属と誘電体からなる干渉フィルタ(金属−誘
電体干渉フィルタ)である。このようなフィルタは、半
透性の金属層と吸収のない誘電体層が交互に積層した構
成をもつ。誘電体層の厚さが最長波長を有する通過帯域
幅の波長λを決め1す るのに重要な役割を果たす。
電体干渉フィルタ)である。このようなフィルタは、半
透性の金属層と吸収のない誘電体層が交互に積層した構
成をもつ。誘電体層の厚さが最長波長を有する通過帯域
幅の波長λを決め1す るのに重要な役割を果たす。
たいていの場合、上記のタイプのフィルタが帯域通過フ
ィルタとして使われる。
ィルタとして使われる。
温度変化によってこのフィルタのスペクトルの波長がド
リフトするのは、主に幾何学的に形が変化したことによ
る。ドリフト係数は以下で記述するように一般に10−
6./lのオーダーであるが、光源のドリフトと比較す
れば無視できるぐらい小さい。
リフトするのは、主に幾何学的に形が変化したことによ
る。ドリフト係数は以下で記述するように一般に10−
6./lのオーダーであるが、光源のドリフトと比較す
れば無視できるぐらい小さい。
光源Sから放射されたビームF8は従って第2図に示し
たスペクトルSP、と同じ特徴をもつ。
たスペクトルSP、と同じ特徴をもつ。
この第2図には、フィルタF、の透過エネルギスペクト
ルも同時に示しである。
ルも同時に示しである。
スペクトルの半値幅Δλptは、スペクトルSPsの場
合と同様にして定義される2つの波長λ+piとλ2P
lの差である。従って、フィルタFlの透過係数を表わ
す式は以下のようになる。
合と同様にして定義される2つの波長λ+piとλ2P
lの差である。従って、フィルタFlの透過係数を表わ
す式は以下のようになる。
ここに、ΔλF1−ε△λS ・・(4
)(ただし、ε〈1)である。
)(ただし、ε〈1)である。
もし温度変化によりフィルタF+の出力でスペクトルS
P sが波長δλ。ずれたならば、ビームFFI (
第3図参照)は平均波長がδλ。゛ずれる。
P sが波長δλ。ずれたならば、ビームFFI (
第3図参照)は平均波長がδλ。゛ずれる。
この場合、λ。゛とλ。の間には以下の関係が成り立つ
。
。
ε2
λ。′−□λ0
1+62 ・・(5)εが1より
はるかに小さい値の場合には、λ。°−2λ0 となる。
はるかに小さい値の場合には、λ。°−2λ0 となる。
「光源SとフィルタF」からなる系の平均波長の変化は
、光源Sから放射されるビームの波長の変化よりもはる
かに小さくなり、本発明の目的が達成されることがわか
る。
、光源Sから放射されるビームの波長の変化よりもはる
かに小さくなり、本発明の目的が達成されることがわか
る。
もちろん、光検出器60(第1図)で検出される光のパ
ワーも係数εだけ減少するが、そのことから生ずるマイ
ナス面はεの値から予想されるほどには重大でない。
ワーも係数εだけ減少するが、そのことから生ずるマイ
ナス面はεの値から予想されるほどには重大でない。
実際、S/N比はフォトンノイズで決まる。この珪の値
は検出されたパワーの平方根に仕例する。
は検出されたパワーの平方根に仕例する。
従っで、S/N比は、確かに考慮すべき重要なパラメー
タであるが、係数17減少するだけである。
タであるが、係数17減少するだけである。
わかりやすくするた必実例をあげる。
光源として(まGa−Al−八S(カリウム−アルミニ
ウム−ヒ素)タイプの高性能発光ダイ」−ドを用いる。
ウム−ヒ素)タイプの高性能発光ダイ」−ドを用いる。
この光源は、中心波長がA。−830nmで半値幅が△
λs =lQnmのスペクトルをもつ光を放射する。
λs =lQnmのスペクトルをもつ光を放射する。
大まかに光源の温度制御をずろ、ずなわぢ1度のオーダ
ーの変化%認めて安定化させると比δλ。
ーの変化%認めて安定化させると比δλ。
/λ0は3X10’よりも小さくなる。
従ってフィルタに固有の波長のドリフ) (10−6/
1 )を無視した上記の例は充分意味がある。
1 )を無視した上記の例は充分意味がある。
光検出器の前段に半値幅がΔλF、=2nm、すなわち
ε−0,2のフィルタを設置すると、「光源−フィルタ
」系のゆらぎ(δλ0/λ。)は、係数62=0.04
だけ減少するたZ 3 Xl0−6より小さくなる。
ε−0,2のフィルタを設置すると、「光源−フィルタ
」系のゆらぎ(δλ0/λ。)は、係数62=0.04
だけ減少するたZ 3 Xl0−6より小さくなる。
J−れに対し、S/N比は係数(’T = 0.45
Lか小さくならない。
Lか小さくならない。
本発明によれば、スケールファクタの安定化と系の感度
という2つの両立しにくい要素をうまく妥協させる簡便
な方法が得られる。
という2つの両立しにくい要素をうまく妥協させる簡便
な方法が得られる。
本発明によれば、上記の安定化装置を、第1図に示した
タイプの干渉側を主体とする光ファイバ ゛ジャイ
ロに応用できる。この安定化装置はビーム12と13の
通過経路内に設置するが、その位置はど−AI2と13
が光ファイバ5から出て再結合した位置よりも後でしか
も光検出器60の前の位置である。
タイプの干渉側を主体とする光ファイバ ゛ジャイ
ロに応用できる。この安定化装置はビーム12と13の
通過経路内に設置するが、その位置はど−AI2と13
が光ファイバ5から出て再結合した位置よりも後でしか
も光検出器60の前の位置である。
図には示してないが、この安定化装置は第1図の干渉計
の出力部6に設置することが好ましい。
の出力部6に設置することが好ましい。
本発明は」1記特定の実施例のみに限られるものではな
い。本発明は、広域スペクトルを有する任意の光源に対
して適用可能である。
い。本発明は、広域スペクトルを有する任意の光源に対
して適用可能である。
」ニスの説明では透過型の帯域通過光学フィルタを仮定
したが、反射型のフィルタであってももちろんかまわな
い。ただし、反射光のスペクトルの中心波長がλ。で、
そのスペクトル幅が光源のスペクトル幅よりも狭いとい
う本発明の装置に課される条件を満たしている必要があ
る。
したが、反射型のフィルタであってももちろんかまわな
い。ただし、反射光のスペクトルの中心波長がλ。で、
そのスペクトル幅が光源のスペクトル幅よりも狭いとい
う本発明の装置に課される条件を満たしている必要があ
る。
第1図は従来の干渉計の一例を示す図であり、第2図は
光源の放射光のスペクトルおよび光学フィルタの透過ス
ペクトルを示す図であり、第3図は本発明の装置の概略
図である。 (主な参照番号) 2.4・・ハーフミラ−1 3・・モードフィルタ、
光源の放射光のスペクトルおよび光学フィルタの透過ス
ペクトルを示す図であり、第3図は本発明の装置の概略
図である。 (主な参照番号) 2.4・・ハーフミラ−1 3・・モードフィルタ、
Claims (5)
- (1)広域スペクトルを有するビームを放射する光源の
放射ビームの平均波長を安定化させる装置であって、上
記光源から放射されるビームのスペクトルの平均波長と
同じ波長を中心とし、半値幅が該放射ビームの半値幅よ
りも狭い帯域通過光学フィルタを該放射ビームの通過経
路内に備えることを特徴とする装置。 - (2)上記帯域通過光学フィルタは干渉フィルタである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の装置。 - (3)上記光源は、平均波長が830nmで半値幅が1
0nmのガリウム−アルミニウム−ヒ素タイプの高性能
発光ダイオードであることを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の装置。 - (4)上記帯域通過光学フィルタのスペクトル幅が1n
mであることを特徴とする特許請求の範囲第3項に記載
の装置。 - (5)ループ状の干渉計により構成されるジャイロであ
って、該ループを形成するシングルモード光ファイバと
、所定の平均波長を中心とした広いスペクトルを有する
ビームを放射する光源と、上記シングルモード光ファイ
バの両端に向かって同時に同じエネルギーの光を入力し
、該シングルモード光ファイバの両端から出た光を再結
合させる分離混合手段と、該再結合された光を検出する
手段と、上記光源から放射されるビームの、平均波長の
ゆらぎを安定化させる装置とを具備し、該装置が、上記
光検出手段の前段で、上記再結合された光の光路内に設
置された帯域通過光学フィルタを備えることを特徴とす
るジャイロ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8516601A FR2590035B1 (fr) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | Dispositif stabilisateur de la longueur d'onde moyenne d'une source a large spectre et application au gyrometre a fibre optique |
FR8516601 | 1985-11-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62113010A true JPS62113010A (ja) | 1987-05-23 |
JP2511813B2 JP2511813B2 (ja) | 1996-07-03 |
Family
ID=9324658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26649086A Expired - Fee Related JP2511813B2 (ja) | 1985-11-08 | 1986-11-08 | 広域スペクトルを有する光源を備える光フアイバジヤイロ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0227509A1 (ja) |
JP (1) | JP2511813B2 (ja) |
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- 1986-11-08 JP JP26649086A patent/JP2511813B2/ja not_active Expired - Fee Related
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