JPS62108669A - レ−ザビ−ム記録装置 - Google Patents

レ−ザビ−ム記録装置

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JPS62108669A
JPS62108669A JP60248239A JP24823985A JPS62108669A JP S62108669 A JPS62108669 A JP S62108669A JP 60248239 A JP60248239 A JP 60248239A JP 24823985 A JP24823985 A JP 24823985A JP S62108669 A JPS62108669 A JP S62108669A
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laser
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Takashi Naito
隆 内藤
Noboru Yagi
昇 八木
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Panasonic System Solutions Japan Co Ltd
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Matsushita Graphic Communication Systems Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーーリ−を光源にし、画像信号2ヘ
ー。
により点滅する走査ビームを記録媒体上に結像し画情報
を記録するレーザビーム記録装置に関する。
従来の技術 従来のレーザビーム記録装置の一例を第3図に示す。こ
のレーザビーム記録装置は、画情報に応じたレーザビー
ムを照射する半導体レーザ2と、半導体レーザ2に対応
して設け、上記レーザビームを平行光とするコリメータ
レンズ3と、上記レーザビームを走査し、記録媒体上に
結像・記録する走査手段等より構成されている。走査手
段は、コリメータレンズ3のレーザビームを受は走査毎
に対応面を替える回転多面鏡6、回転多面鏡6からのレ
ーザビームを通過させるfθレンズ5、fθレンズ5か
らのレーザビームを結像する感光体ドラム1より構成さ
れ、それぞれ光学的に配置されている。又、反射鏡6が
感光体ドラム1の近傍に設置されfθレンズ5のレーザ
ビームの一部を受光し、反射鏡6と光学的に設置された
受光素子7へ反射している。
コリメータレンズ3と半導体レーザ2とは所定3 へ− 距離を有し共通の保持部旧25に固定されている。
回転多面鏡4は矢印81方向に、又、峰光体ドラム1は
矢印S2方向に所定速度で回転駆動され、それぞれ主走
査、副走査を行なっている。半導体レーザ2で発するレ
ーザビームI」は、コリメータレンズ3により平行光に
され、回転多面鏡4により感光体ドラム1の1111方
向S3に偏光され、fθレンズ5を介して感光体ドラム
1に結像される。又、受光素子7が反射鏡6を介してレ
ー→J−ヒームを受けることにより、レーザビーフ1走
査同期信号を発生し、この同期信号により半導体レーザ
2の画像信号の変調開始のタイミンクをとっている。
ここで、半導体レーザの特性について、第4図、第5図
、第6図を基に説明する。
第4図(ajは、半導体レー=リ−の出力波形を示す図
であり、発光面2aより発せられたレーザビーム14の
拡り方を示す。第4図(1))は同図(a)に示すレー
ザビーム14の光軸15に対する垂直方向波り角θv1
水平水平方向角θHをパラメータにしたときのレーザビ
ーム強度分布を示す。16は垂直方向波り角θVに対す
る1/−ザビーム強度、17は水平方向拡り角θHに対
するレーザビーム強度である。
このように、半導体レーザ2の出力波形は大小2種類の
拡り角θV、θHを有する楕円形状となるため、レーザ
ビームがコリメータレンズ3、fθレンズ5を通過した
後の感光ドラム1上の結像スポットの形状も楕円形とな
る。
第5図は、結像スポット位置を横軸としたレーザビーム
の強度を示す図である。曲線19は、半導体レーザ2の
発振点がコリメータレンズ3の焦点深度に入るようにコ
リメータレンズ3との距離lが調整されているときの結
像スポットのレーザビーム強度分布を示す。感光体ドラ
ム1上に記録画像を得るために必要なレーザビーム強度
である感光しきい値18よりレーザビーム強度が大きい
部分は結像スポットAとして表わせる。曲線20は、距
離lが所定量変化した場合の結像スポットのレーザビー
ム強度特性を示す。この時、結像スポット径はBで表わ
され結像スポット径Aよりも大きく、画像の劣化を生じ
る。
5 べ−7 第6図は、結像スポット径と距離lとの関係を示す図で
ある。距離lOは定常温度における距離を表わし、この
時、最小スボッ]・径φOが得られる。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、コリメータレンズ3の焦点深度は極めて
浅く、通常その値は+3.1tm〜土4μmである。こ
のため、半導体レーザ2とコリメータレンズ3との距離
lは高精度に設定されなければならない。
しかし、半導体レーザ2とコリメータレンズ3を固定す
る保持部材25は半導体レーザ2の発する熱または周囲
温度の変化等により熱膨張を起こし、距離lが変化する
。この結果、レーザビームの焦点位置がずれ、走査結像
スボッ]・径が増し、画像の劣化を生ずるという問題が
あった。
この問題に対して、半導体レーザ2とコリメータレンズ
3の位置関係に応じて、適当な値の熱膨張係数を有する
保持部材を使用することにより、温度変化にかかわらず
距離lを一定に保つことが6 ベーン 考えられる。しかしながら、半導体レーザ2、コリメー
タレンズ3それぞれの保持部材の形状は複雑であり、単
に材質の熱膨張係数から保持部材を選定しても、温度変
化に対して距離lを一定に保つように保持部材を製作す
ることは難しい。又、たとえ前記条件に合致した保持部
材を製作しえたとしても、半導体レーザ、コリメータレ
ンズの種類が変わるごとに、保持部材の材質・寸法など
を変える必要があり、非常に不便であり、又、コスト高
になるという問題を生じる。本発明は、半導体レーザと
コリメータレンズを配置する保持部材の温度に応じ半導
体レーザの出力強度を調整し、安定した画像を記録する
ことのできるレーザブーム記録装置を提供することを目
的とする。
問題点を解決するための手段 本発明は、画情報に応じたレーザ光を照射する半導体レ
ーザと、この半導体レーザに対応して設は上記レーザ光
を平行光とするコリメータレンズと、コリメータレンズ
と光学的に配置され上記レーザ光を走査し、記録媒体上
に結像・記録する走7 へ− 査手段と、半導体レーザ吉コリメータレンズについて所
定距離を有して固定する保持部材とを有するレーザビー
ム記録装置にあって、保持部利近傍に設置して当該部の
温度を検出し、この検出温度とあらかじめ設定したフ1
1準温度との間の温度差をとって出力する温度検出手段
と、半導体レーザおよび温度検出手段と接続し、温度検
出手段の出力信号に基づいて半導体レーザの光出力を制
御する手段とを具備したものである。
作    用 したがって、本発明は保持部材に対する温度を検出し、
あらかじめ設定した基準温度との間の差をとって出力す
る温度検出手段と、この温度検出手段の出力信号に基づ
き半導体レーザの出力を制御する手段とによって、保持
部材の温度に応じて半導体レーザの出力強度を調整し、
結像スポット径を定常温度時の値とすることができるも
のである。
実施例 本発明の一実施例について図面を基に説明する。
第1図は本発明の一実施例によるレーザビーム記録装置
の構成図である。このレーザビーム記録装置は、画情報
に応じたレーザビームを照射する半導体レーザ102と
、半導体レーザ102に対応して設け、上記レーザビー
ムを平行光とするコリメータレンズ103と、半導体レ
ーザ102とコリメータレンズ103について所定距離
lを有して固定する保持部材1.25と、上記レーザビ
ームを走査し、記録媒体上に結像・記録する走査手段1
26と、保持部材125の近傍に設置した温度検出手段
124と、温度検出手段124の出力信号によりレーザ
出力を調整する制御手段である電流制御回路112と、
電流の値で出力を変更する半導体レーザ102に印加電
流を供給するレーザ駆動用電源127等より構成されて
いる。走査手段126は、コリメータレンズ103から
のレーザビームについて走査毎に対応面を替えて受光・
反射する回転多面鏡104、回転多面鏡104で反射す
るレーザビームを通過させるfθレンズ105、fθレ
ンズ105からのレーザビームを結像する感光体ドラム
101より構成され、それぞ9 へ− れ光学的に配置されている。又、反射鏡106が感光体
ドラム101の近傍に設置され、fθレンズ105のレ
ーザビームの一部を受光し、反射鏡106と光学的に設
置された受光素子107へ反射している。
温度検出手段124は、保持部材125に取付けられ尚
核部の温度を検出するサーミスタ109と、この検出温
度を入力し、あらかじめ設定された基準温度(本実施例
では20℃吉する)と比べ、比較信号a吉して出力する
温度検出回路110とより構成されている。
電流制御回路112は、受光素子107からの信号を入
力する同期信号発生回路111からの同期信号41画情
報入力端子113からの画情報信号C1温度検出回路1
10からの比較信号aを入力し、半導体レーザ102に
対するレー→ノー駆動用電源127の印加電流値を設定
する信号1)を出力する。
コリメータレンズ103と半導体レーザ102とは所定
距1IIlo(定常温度時)を有し共通の保持部材]2
5に固着されている。回転多面鏡104は矢印5110
 ページ 方向に、又、感光体ドラム1は矢印S2方向に所定速度
で回転駆動され、それぞれ主走査、副走査を行なってい
る。半導体レーザ102で発するレーザビームは、コリ
メータレンズ103により平行光にされ、回転多面鏡1
04により感光体ドラム101の軸方向S3に偏光され
、fθレンズ105を介して感光体ドラム101に結像
される。又、同期信号dに対応して電流制御回路1.1
2はレーザビームの変調のタイミングをきり、画像の位
置を合わせる。
次に上述したレーザビーム記録装置の動作について説明
する。保持部材125の温度はサーミスタ109によっ
て検出され、温度検出回路110により検出温度とあら
かじめ設定された基準値である20℃との温度差を比較
信号aとして電流制御回路112へ出力する。レーザ駆
動用電源127は半導体レーザ102に印加電流を供給
しレーザを出力させる。保持部材125の温度が基準値
との間で差があると、レーザ光強度が第2図に示す曲線
20のようになり、結像スポット径が結像スポットAよ
り大きくなる。この時、比較信号aを入力する電流】1
 へ−1・ 制御回路112がレーザ駆動用電源127を制御し、半
導体レーザ102への印加電流を小さい値とする。
所定の印加電流を設定し、半導体レーザ102の出力強
度を曲線21になるようにする。この時、結像スポット
径は、半導体レーザ102とコリメータレンズ103と
の距離が焦点深度内の時の結像スポット径Aに一致する
。このにうにして、保持部材125に温度変化があり、
半導体レーザ102とコリメータレンズ103との距離
が変動する場合、半導体レーザ]02の出力を低減し、
結像スポット径を定常温度時の値となるように調整する
発明の効果 本発明によれば、保持部]旧こ対する温IWを検出し、
あらかじめ設定した基準温度との間の差をとって出力す
る温度検出手段と、温度検出手段の出力信号に基づき半
導体レーザの出力を制御する手段とを有しており保持部
材の温度に応じ半導体レーザの出力強度を調整し、結像
スポット径を定常温度時の値とすることができ、安定し
た画像を記録することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるレーザビーム記録装置
の構成図、第2図は第1図に示すレーザビーム記録装置
によるレーザ光強度の特性図である。第3図は従来のレ
ーザビーム記録装置の構成図、第4図は半導体レーザ゛
の出力特性図、第5図は温度変化(こよる結像スポット
の強度分布図、第6図は半導体レーザとコリメータレン
ズ間の距離と結像スポット径の関係を示す特性図である
。 101  感光体ドラム、102・・・半導体レーザ、
103・・・コリメータレンズ、109・・・サーミス
タ、110・・温度検出回路、112・・・電流制御回
路(半導体レーザ出力制御手段)、124・・・温度検
出手段、125  ・保持部材、126・・・走査手段
。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はか1名第2
図 2  第5図 第4図 (αン /Φ (b〕

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 画情報に応じたレーザ光を照射する半導体レーザと、こ
    の半導体レーザと光学的に設置し、上記レーザ光を平行
    光とするコリメータレンズと、コリメータレンズと光学
    的に設置され、上記レーザ光を走査し記録媒体上に結像
    ・記録する走査手段と、半導体レーザとコリメータレン
    ズについて所定距離を有して固定する保持部材と、保持
    部材近傍に設置し、当該部の温度を検出し、この検出温
    度とあらかじめ設定した基準温度との間の温度差をとる
    温度検出手段と、半導体レーザおよび温度検出手段と接
    続し、温度検出手段の出力信号に基づいて半導体レーザ
    の光出力を制御する手段とを有するレーザビーム記録装
    置。
JP60248239A 1985-11-06 1985-11-06 レ−ザビ−ム記録装置 Expired - Lifetime JPH0722321B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60248239A JPH0722321B2 (ja) 1985-11-06 1985-11-06 レ−ザビ−ム記録装置

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JP60248239A JPH0722321B2 (ja) 1985-11-06 1985-11-06 レ−ザビ−ム記録装置

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JPS62108669A true JPS62108669A (ja) 1987-05-19
JPH0722321B2 JPH0722321B2 (ja) 1995-03-08

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JP60248239A Expired - Lifetime JPH0722321B2 (ja) 1985-11-06 1985-11-06 レ−ザビ−ム記録装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3906086A1 (de) * 1988-02-29 1989-08-31 Mitsubishi Electric Corp Laserdrucker
US7716828B2 (en) 2004-05-31 2010-05-18 Aisan Kogyo Kabushiki Kaisha Method of manufacturing throttle body, and throttle body

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3906086A1 (de) * 1988-02-29 1989-08-31 Mitsubishi Electric Corp Laserdrucker
US7716828B2 (en) 2004-05-31 2010-05-18 Aisan Kogyo Kabushiki Kaisha Method of manufacturing throttle body, and throttle body
US7770557B2 (en) 2004-05-31 2010-08-10 Aisan Kogyo Kabushiki Kaisha Throttle body, method of adjusting opening of opener, and method of manufacturing throttle body

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JPH0722321B2 (ja) 1995-03-08

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