JPS619614A - 顕微鏡 - Google Patents

顕微鏡

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JPS619614A
JPS619614A JP12920484A JP12920484A JPS619614A JP S619614 A JPS619614 A JP S619614A JP 12920484 A JP12920484 A JP 12920484A JP 12920484 A JP12920484 A JP 12920484A JP S619614 A JPS619614 A JP S619614A
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JP
Japan
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mirror
lens
sample
optical system
microscope
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JP12920484A
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Makoto Yoshinaga
吉永 允
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、大きな試料を検鏡し得るようにした小型の構
成の顕微鏡に関する。
従来技術 一般に顕微鏡は基本的には対物レンズ、接眼レンズ及び
試料を保持するための載物台等から構成されておシ、試
料の検鏡位置を変える場合には載物台上に保持された試
料または載物台自体を光軸に対して垂直な方向に移動さ
せていた。しかしな試料が多くなってきているので、こ
れらの大きな試料を観察する場合には該試料を載置した
載物台を広い範囲即ち第2図において観察すべき範囲A
の四倍の範囲Bに亘って移動しなければならず、そのた
め載物台を含む顕微鏡全体の強度が要求され且つ載物台
の移動機構も大きなものとなり、而も例えば観察すべき
試料の大きさが二倍になると載物台の移動範囲は四倍に
なることから、顕微鏡全体がますます大型になってしま
い、載物台自体の慣性も大きくなるため位置精度の制御
が一層困難になる。
これに対して、特開昭59−86020号公報によれば
、第一対物レンズ及び第二対物レンズを設け、該第一対
物レンズのみを光軸に対して垂直な方向に移動させるこ
とにより試料の検鏡位置を変える方法が提案されている
が、この方法により大きな試料の検鏡位置を広い範囲に
亘って変えるためには非常に大きな対物レンズが必要に
なり、而も対物レンズの倍率により観察可能な範囲が変
化してしまい、さらに接眼レンズの視野数によりあまり
大きな観察範囲が得られないという欠点があった。
目的 本発明は、以上の点に鑑み、大きな試料を検鏡する際に
試料の広い範囲に亘って検鏡位置を変え得るようにした
小型の構成の顕微鏡を提供することを目的としている。
概要 この目的は、観察光学系の一部がアフォーカル系として
構成されておシ、該アフォーカル系の一部が対物レンズ
の光軸に対して垂直に配設されていて且つその光路長が
伸縮可能であるようにして、対物レンズがその光軸に対
して垂直方向に移動可能に配設されていることを特徴と
する、顕微鏡ニより解決される。
実施例 以下図面に示した実施例に基づき本発明を説明すれば、
第1図において、1は顕微鏡の図示しない載物台上に載
置された観察すべき試料、2は無限遠対物レンズ、3は
ミラー、4はハーフミラ−15は結像レンズ、6は接眼
レンズ、7は照明光源、8はコレクターレンズであって
、対物レンズ2及びミラー3は、ミラー3とハーフミラ
−4との間の光軸に沿って進退可能に配設されている。
本案実施例は以上のように構成されているから、照明光
源から出た光は、コレクターレンズ8を介してハーフミ
ラ−4を透過し且つミラー3で反射されて対物レンズ2
によシ試料1を照明し、かくして照明された試料1から
出た光は対物レンズ2によりアフォーカルな光となりミ
ラー3.ハーフミラ−4で反射され結像レンズ5により
位置Pに結像し、この像が接眼レンズ6によって観察さ
れる。ここで、対物レンズ2.ミラー3.ハーフミラ−
4,結像レンズ5及び接眼レンズ6から成る観察光学系
は、対物レンズ2と結像レンズ5との間がアフォーカル
系になっており、対物レンズ2及びミラー3をミラー3
とハーフミラ−4との間の光軸に沿って進退させること
によシ、ミラー3とハーフミラ−4との間の光路長全変
更しても、位置Xにおける結像状態は変化せず、従って
試料1の任意の位置の観察を行なうことができる。この
場合対物レンズ2の移動範囲Cは第3図に示されている
ように観察すべき範囲Aと同じでよい。
第4図は本発明の第二の実際的な実施例を示しておシ、
10は対物レンズ2と共に例えば蟻接ぎ等のX軸ガイド
11に沿ってX軸方向に摺動可能に配設されている第一
のミラー、12は対物レンズ2.第一のミラー10及び
X軸ガイド11と一体的に該X軸ガイド11と同様に構
成されたY軸ガイド13に沿ってY軸方向に摺動可能に
配設されている第二のミラーで、第1図に示された実施
例と同様に試料1から出た光は対物レンズ2によシアフ
ォーカルな光となり第一のミラー10によりX軸方向に
反射し且つ第二のミラー12によりY軸方向に反射して
さらにハーフミラ−4で反射した後結像レンズ5により
結像し、この像が接眼レンズ6によって観察される。従
って第一のミラー10と第二のミラー12との間の光路
長−4x軸ガイド11により、第二のミラー12とハー
フミラ−4との間の光路長をY軸ガイド13によシ適宜
に調整することによって、結像状態を変化させることな
く対物レンズ2はX軸方向及びY軸方向に移動され得、
試料1の任意の位置の観察を行なうことができる。
発明の効果 以上述べたように本発明によれば、観察光学系の一部を
アフォーカル系として構成し、該アフォーカル系の一部
を対物レンズの光軸に対して垂直に配設し且つその光路
長を伸縮可能にして、対物レンズをその光軸に対して垂
直方向に移動可能に配設したから、対物レンズの移動範
囲は試料の観察範囲と同じでよいので、脳切片、大径の
シリコンウェハ等の大きな試料を検鏡する際に試料の広
い範囲に亘って検鏡位置を変え得ると共に顕微鏡全体を
小型に構成することができ、従って顕微鏡自体の製造コ
ストも低く而も省スペースの点からも非常に好ましい等
、極めて効果的な顕微鏡が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による顕微鏡の一実施例を示す概略図、
第2図は従来の載物台の移動範囲を示す図、第3図は本
発明による対物レンズの移動範囲を示す図、第4図は本
発明の第二の実施例を示す斜視図である。 1・・・・試料、2・・・・対物レンズ、3・・・・ミ
ラー、4・・・・ハーフミラ−15・・・・結像レンズ
、6・・・・接眼レンズ、7・・・・照明光源、8・・
・・コレクターレンズ、10・・・・第一のミラー、1
1・・・・X軸ガイド、12・°°°第二のミラー、1
3・・・・Y軸ガイド。 オn図 第2図 第4図 手続補正書(自発) 1.事件の表示 特願昭59−129204号2、発明
の名称 顕 微 鏡 4、代  理  人   〒105東京都港区新橋5の
19電話 東京(432) 4576 (6582)弁理士篠原泰司 5、補正の対象 明細書の特許請求の範囲の欄及び発明の詳細な説明の欄
。 6、補正の対象 (1)特許請求の範囲を別紙添付の通り訂正する。 (2)明細書第1頁13〜14行目の「大きな試料を・
・・・構成の」を「試料を広い範囲に二って検鏡し得る
ようにした」と訂正する。 (3)明細書筒3頁6〜8行目の「大きな試料を・・・
・構成の」を「試料を検鏡する際に試料の広い範囲に互
って検鏡位置を得るようにした」と訂正する。 (4)明細書第3頁11〜16行目の「観察光学系の・
・・・配設されている」を「観察光学系のうち、対物光
学系を視野平面に対して平行に移動し、接眼光学系を固
定した顕微鏡において、観察光学系の一部の光路長を伸
縮自在にした」と訂正する。 (5)明細書第6頁8〜19行目の「観察光学系の・・
・・好ましい等、」を「観察光学系のうち、対物光学系
を視野平面に対して平行に移動し、接眼光学系を固定し
た顕微鏡において、観察光学系の一部の光路長を伸縮自
在に構成したから、脳切片、大径のシリコンウェハ等の
大きな試料を検鏡する際に試料の広い範囲に互って検鏡
位置を変え得る、Jと訂正する。 特許請求の範囲 観察光学系のうち、対物光学系を視野平面に対して平行
に移動し、接眼光学系を固定した顕微鏡において、観察
光学系の一部の光路長を伸縮自在にしたことを特徴とす
る、顕微鏡。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 観察光学系の一部がアフオーカル系として構成されてお
    り、該アフオーカル系の一部が対物レンズの光軸に対し
    て垂直に配設されていて且つその光路長が伸縮可能であ
    るようにして、対物レンズがその光軸に対して垂直方向
    に移動可能に配設されていることを特徴とする、顕微鏡
JP59129204A 1984-06-25 1984-06-25 顕微鏡 Expired - Lifetime JP2501098B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59129204A JP2501098B2 (ja) 1984-06-25 1984-06-25 顕微鏡
AT85107775T ATE52347T1 (de) 1984-06-25 1985-06-23 Mikroskop.
DE8585107775T DE3577355D1 (de) 1984-06-25 1985-06-23 Mikroskop.
EP85107775A EP0169387B1 (en) 1984-06-25 1985-06-23 Microscope
US06/928,682 US4744642A (en) 1984-06-25 1986-11-07 Microscope

Applications Claiming Priority (1)

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JP59129204A JP2501098B2 (ja) 1984-06-25 1984-06-25 顕微鏡

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JPS619614A true JPS619614A (ja) 1986-01-17
JP2501098B2 JP2501098B2 (ja) 1996-05-29

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