JPS6148994A - モジユ−ル基板 - Google Patents

モジユ−ル基板

Info

Publication number
JPS6148994A
JPS6148994A JP59170412A JP17041284A JPS6148994A JP S6148994 A JPS6148994 A JP S6148994A JP 59170412 A JP59170412 A JP 59170412A JP 17041284 A JP17041284 A JP 17041284A JP S6148994 A JPS6148994 A JP S6148994A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
repair
pad
lsi
pads
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59170412A
Other languages
English (en)
Inventor
雅一 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP59170412A priority Critical patent/JPS6148994A/ja
Priority to KR1019850005789A priority patent/KR860002214A/ko
Priority to EP85110103A priority patent/EP0171783A3/en
Publication of JPS6148994A publication Critical patent/JPS6148994A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5383Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5382Adaptable interconnections, e.g. for engineering changes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15192Resurf arrangement of the internal vias
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15312Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0286Programmable, customizable or modifiable circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、計算機用モジュール基板に係り、特に、高実
装密度化に好適な表面パターンを有するモジュール基板
に関する。
〔発明の背景〕
計算機用モジュール基板の一例が、特開昭56−745
7号公報に記載されている。このモジュール基板は、そ
の表面にLSI等を搭載するための半田パッドと技術変
更のためのパッド(補修パッド)が設けられており、技
術変更は、補修パッドの印刷パターンの切断および補修
線で行なえるようになっている。しかし、LSIの集積
度の増大とそれに伴う信号ピン数の増加を考えた場合に
、補修パッドを設ける面積が増加し、LSIの搭載ピッ
チが広くなるという点については配慮されていなかった
〔発明の目的〕
本発明の目的は、補修パッドエリアを最小にし得る表面
層パターンを有するモジュール基板を提供することにあ
る。
〔発明の概要〕
補修線を補修パッドに打つためには、通常ワイヤボンダ
が用いられるが、作業エリアラ(1■保するために、L
SIと補修パッドの間にある一定以上の間隔をおかなけ
ればならない。この場合、ボンディングの方向によって
5確保すべき間隔が大幅に変わる1本発明は、ボンディ
ングの方向を一方向に限定し、総合的にLSIの搭載ピ
ッチを縮めようとしたもので、ボンディング方向を限定
するための中間のパッドを設けたことに特徴がある。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を、第1図および第2図を用い
て説明する。第1図は1本発明のモジュール基板の全体
構成を示す斜視図であり、モジュール基板1の表面には
多数のLSI2が搭載され。
背面から多数の入出力ビン3が取り出されている。
第2図はこのモジュール基板1の表面パターンの一部分
を拡大して示す平面図である。モジュール基板の表面に
はLSI等の電子部品2が搭載される領域内に、LSI
と例えばCCB接続される電気的に接続するための半田
パッド4が多数形成されており、電子部品搭載領域の周
辺に補修パッド5が多数形成されている。さらにその周
辺には、ボンディング中継用のパッド6が複数設けられ
ている。中継パッド6は、いくつかの組となって接続パ
ターン7によって接続され、さらにスルーホに1個のも
のもあり、二九も接続パターン7及びスルーホール8に
より、内層の電源層に接続されている。いずれも中継パ
ッドは、接続パターン7をレーザー等により切断するこ
とにより、電気的に浮いた状態にすることができる。中
継パッド6゜6′の合計は、電子部品搭載領域の周辺に
設けられた補修パッドの内の最内列のパッド11と同数
設けられている。
第3図に補修111112を打つときのワイヤボンダの
ウェッジ13とLSI2と補修パッド5の相対的な位置
関係を示す、第3図(a)に示した第1のボンディング
と第3図(b)に示した第2のボンディングでは、補修
!!12を打つことができる補修パッド5の位置は、第
1のボンディングの場合のほうが、よりLSI2に近く
することができる。
すなわち、ウェッジ13とLSI2の距離は、第1のボ
ンディングの場合、ウェッジ13とLSI2との位置精
度のみを考慮すれば良いため、現在のワイヤボンダ装置
の性能がら見れば、L、=0.1 m程度である。一方
、第2のボンディングでは、補修線12がLSI2に触
れてはならず。
LSIの高さHと2、補修線12と基板1のなす角θで
決まる距離だけ離しておかなければならない。
通常Hは0.511I11程度であり、θは30” 〜
45@であるため、L2は、ウェッジ13.補修411
2の精度も含めて考えると、0.6〜1.0III11
程度必要になる。 補修は、基板自体の断線、ショート
のような故障の修復や、論理の変更のために行うもので
あり、その個所を予測することはできないため、すべて
の修復、変更が可能となるように設計しておく必要があ
る。このため、第3図に示したLSIに最も近い位置に
ある最内列の補修パッド5aは、常に第1のボンディン
グしか打てないため、補修が限定される。このように、
従来の構成では、補修パッドは、5bの位置までLSI
から離しておく必要があった。
本実施例では中継パッド6.6′を、LSI最内列の補
修パッド11に対応させて設けであるため、中継パッド
6.6′を利用して、常に、LSI最内列の補修パッド
11へは第1のボンディングとすることができる。以下
、その手順を示す。
本実施例では、第4図に概瑚的に示すように、最内列パ
ッド14と最内列パッド15を、補修線17によって接
続する場合、補修線17は、まずパッド14に第1のボ
ンディングされ、中継パッド16に第2のボンディング
された後、カッ]−される0次にパッド15に第1のボ
ンディングした後、中継パッドの領域上を通って、中継
パッド16に第2のボンディングされ、補修は完了する
これは補修線がLSIの上に乗ると、冷却不可能になる
ためである。ここで第4図中のX印はボンディング個所
を示している。なお、補修線が長い場合には、たるみが
過大にならないようにするため、途中のパッドに仮留め
してもよい。
本実施例によれば、最内列の補修パッドを必ず第1のボ
ンディングとすることができ、補修パッドをLSIのす
ぐ近くまで置くことができるという効果がある。また、
中継パッドの使用は、最内列パッド同志の補修時に限ら
れ使用頻度が小さいため、補修線の通る領域と中継パッ
ドの領域を兼用することができ、別に補修線の領域を設
けるのに比べLSIの搭載ピッチが小さくなるという効
果がある。さらに、本実施例によれば、中継パッドは使
用時にのみ電気的に浮いた状態にするため、基板製造時
には中継パッドは電源等に接続されている、このため、
電源用のI/119ピンを用いて電気めっきを行うこと
ができ、シアン等有毒メッキ液が必要な無電解メッキを
用いることなく、ボンディングに適した厚い金メッキを
つけることができる。
本発明の効果は、中継パッドの数が、最内列パッドの数
の半分になるまでは有効であることは、最内列パッド同
志の補修パッドに対応する中継パッドが、1個所あれば
良いことから明らかである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、補修パッドをLSI等の電子部品搭載
領域の極めて近傍の周辺に配設することができ、かつ、
補4Ii線を通すエリアを別に設ける必要がないので、
電子部品の搭載ピッチを補修線を通すエリアの分だけ小
さくすることができる。
これは、約50μmの補修線を10本通すとすると、0
.5 IのLSI距離低減に相当し、LSIピッチが約
ioamとして、長さで5%1面積にして10%の減少
であり、部品の搭載密度は、逆に10%向上したことに
相当する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のモジュール基板の一例を示す斜視図
、第2図は、このモジュール基板の表面パターンの一部
を示す平面図、第3図は、ワイヤボンディング時の状態
を示す断面図、第4図は、補修線の経路を示す模式図で
ある。 1・・・モジュール基板、2・・・LSI、3・・・入
出力ピン、4・・・半田パッド、5・・・補修パッド、
6.9・・・中継パッド、7・・・接続パターン、8.
10・・・スルーホール、11・・・LSIに最も近い
補修パッド、■ 1  図 第3図 (a−) (b)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、LSI等の部品を搭載するためのモジュール基板に
    おいて、その表面に、電気的に浮いた状態にすることが
    できる中継用のパッドを上記部品の搭載領域に最も近く
    設けられた技術変更パッドの数の少なくとも1/2以上
    設けたことを特徴とするモジュール基板。 2、上記中継パッドは、接続パターンを介してスルーホ
    ールにより内部に設けられた電源層に接続されているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のモジュール
    基板。
JP59170412A 1984-08-17 1984-08-17 モジユ−ル基板 Pending JPS6148994A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59170412A JPS6148994A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 モジユ−ル基板
KR1019850005789A KR860002214A (ko) 1984-08-17 1985-08-12 모듀울 기판 및 이를 사용한 모듀울
EP85110103A EP0171783A3 (en) 1984-08-17 1985-08-12 Module board and module using the same and method of treating them

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59170412A JPS6148994A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 モジユ−ル基板

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6148994A true JPS6148994A (ja) 1986-03-10

Family

ID=15904442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59170412A Pending JPS6148994A (ja) 1984-08-17 1984-08-17 モジユ−ル基板

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0171783A3 (ja)
JP (1) JPS6148994A (ja)
KR (1) KR860002214A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5508064A (en) * 1992-12-17 1996-04-16 Fuji Photo Films Co., Ltd. Method for matting a recording material and atomizing device therefor
CN101875145A (zh) * 2010-03-14 2010-11-03 苏州明富自动化设备有限公司 一种压板定位装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1315019C (en) * 1987-10-23 1993-03-23 Honeywell Inc. Universal semiconductor chip package
JP2592308B2 (ja) * 1988-09-30 1997-03-19 株式会社日立製作所 半導体パッケージ及びそれを用いたコンピュータ
JPH02148862A (ja) * 1988-11-30 1990-06-07 Hitachi Ltd 回路素子パッケージ、キャリヤ基板および製造方法
US5060116A (en) * 1990-04-20 1991-10-22 Grobman Warren D Electronics system with direct write engineering change capability

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4245273A (en) * 1979-06-29 1981-01-13 International Business Machines Corporation Package for mounting and interconnecting a plurality of large scale integrated semiconductor devices
JPS582055A (ja) * 1981-06-29 1983-01-07 Nec Corp 論理パツケ−ジの改造方法
JPS5871646A (ja) * 1981-10-24 1983-04-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5508064A (en) * 1992-12-17 1996-04-16 Fuji Photo Films Co., Ltd. Method for matting a recording material and atomizing device therefor
CN101875145A (zh) * 2010-03-14 2010-11-03 苏州明富自动化设备有限公司 一种压板定位装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR860002214A (ko) 1986-03-26
EP0171783A3 (en) 1987-04-22
EP0171783A2 (en) 1986-02-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6756663B2 (en) Semiconductor device including wiring board with three dimensional wiring pattern
KR910001422B1 (ko) 다중칩 모듈 구조체
US4706165A (en) Multilayer circuit board
JP2568748B2 (ja) 半導体装置
JPS6148994A (ja) モジユ−ル基板
JPS6022396A (ja) 回路基板
KR930000614B1 (ko) 반도체 집적회로장치
WO1996004682A1 (en) Electronic circuit package
US6501175B2 (en) Semiconductor device with semiconductor chip on flexible tape
US6020631A (en) Method and apparatus for connecting a bondwire to a bondring near a via
JP2712100B2 (ja) 多層配線基板
JPH0482244A (ja) 半導体集積回路装置およびその配線変更方法
JPS59143394A (ja) 多層配線基板
JP3127779B2 (ja) プリント基板
JPH0556862B2 (ja)
JPS5935461A (ja) Lsiの実装方式
JPH1032304A (ja) 半導体集積回路装置の実装におけるバス配線構造
JP2633889B2 (ja) 両面メモリーボード
JPH03219664A (ja) 薄膜配線基板
JP4889667B2 (ja) 半導体装置
JPH1070158A (ja) Tab実装半導体装置
JPH0714016B2 (ja) 半導体素子の搭載構造
JPH04250652A (ja) 配線基板の改造方法
JPS63102399A (ja) 多層プリント配線基板
JPH02246354A (ja) マスタースライス方式集積回路装置