JPS61275645A - Ｍｒｉ装置のデ−タ収集法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、ＭＲＩ装置（磁気共鳴映像装置）における
データ収集方法に関する。　　　　　゛従来の技術 従来、ＭＲＩ装置のデータ収集方法としてマルチスライ
ス方式の２ＤＦＦＴ法（２次元高速ツー。

リエ変換法）が多く用いられている（２ＤＦＦＴ法の一
例としてたとえば特開昭５４−１５８９８８号公報をあ
げることができる）、そこでのパルスシーケンスを第６
図に示す、ここでは簡単のため１スライスモードについ
て示した。

まず、Ｚ方向の勾配磁場Ｇｚをかけながら特定周波数の
９０°パルスを与え、これによりその周波数に相当する
Ｚ方向部分のみを選択的に励起し、Ｚ方向に直角な断層
面１の選択励起を行なう（第７図参照）、その後読み出
し勾配方向（Ｘ方向）に勾配磁場Ｇｘをかけ、１８０’
パルスを与える。このｔａｏ’パルスにより、上記の９
０゜パルスで９０°倒された磁化がさらに１８０°反転
させられ、一定時間ＴＥの後にスピンエコー信号が検出
される。このスピン二二−信号の検出時も勾配磁場Ｇｘ
をかけてＸ方向に位置情報を加える、こうしてｌライン
スキャンが行なわれるが、各ラインスキャンで異なる強
さのＹ方向勾配磁場ＧＶをかけてＹ方向の位相エンコー
ディングを行なう。

ここで、スピンエコ一時間ＴＥは約４０　ｍ５ｅｃ程度
であり、繰返し時間Ｔ、は回復時間に相当しおよそ２秒
である０画像のマトリクスを１２８×１２８とし、その
各点でのデータを収集するものとすると、Ｘ方向に１２
８の位置分解能を持たせたラインスキャンを１２８回繰
返す必要があるので、撮像時間は１２８Ｘ２秒、すなわ
ちおよそ４分程度となる。マルチスライス法ではこの時
間内に隣接する２０スライス程度の断層像が撮像される
。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような従来の方法では。

回復時間だけ待って１回のパルスシーケンスを繰返さな
ければならないので、１つの断層面については高Ｓ／Ｎ
のデータを短時間に収集することはできない。

この発明は、１つの断層面についての高Ｓ／Ｎのデータ
を短時間に収集することを可能とするＭＲＩ装置のデー
タ収集法を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 この発明によるＭＲＩ装置のデータ収集法では、撮像断
層面内を読み出し勾配方向に複数個に分割し、この各ス
トリップに関するデータ収集シーケンスを繰返し時間内
で時分割的に行なう。

そして、各ストリップについては、９０°パルスで１つ
のストリップを読み出し勾配方向に選択励起し、次に１
８０°パルスで断層面厚さ方向に選択励起し、その後−
１８０°パルスで隣接ストリップを読み出し勾配方向に
選択励起するといラシーケンスを行なう。

作　　　　用 最初に９０°パルスで読み出し勾配方向に選択励起して
、１つのストリップのみを励起する０次に、１８０°パ
ルスで断層面厚さ方向に選択励起することによって、断
層面内部分のみつまり上記ストリップに相当する断層面
内部分のみがスピンエコーを生じる状態とする。そして
、その後に。

−１８０°パルスで読み出し勾配方向に選択励起するこ
とによって、隣接ストリップのみを励起し、これにより
、隣接ストリップは熱平衡状態にされる。つまり上記１
８０°パルスにより隣接ストリップの磁化が反転するの
で、これを１８０’逆向きに反転させて熱平衡状態にす
るのである。

こうして、隣接ストリップは次のストリップに関するシ
ーケンスに備える。

したがって隣接ストリップは十分回復し、長い回復時間
（約２秒）の間に各ストリップに関するデータを順次時
分割的に得ることができ、短時間でより高Ｓ／Ｎの断層
像が得られる。

実施例 第１図に示すように、１つの繰返し時間Ｔ、内に各スト
リップ１．ＩＩ、■についてのパルスシーケンスが順次
繰返される。ここで、ストリップというのは第２図で示
すように、断層面１を読み出し勾配方向（Ｘ方向）に複
数個（ここでは３個）に分割したときのその１つずつの
片を指す・まずストリップＩに関するデータ収集期間で
は、最初に、このストリップＩをＸ方向に選択励起する
ための９０°パルスを与える。すなわち、勾配磁場Ｇｘ
をかけながら、ストリップエの相当する周波数の高周波
パルスが与えられる。これにより、第３図（＆）に示す
ように、被検体２のストリップ１部分の磁化方向が９０
°回転させられる０次に断層面ｌの厚さ方向（Ｚ方向）
に勾配磁場Ｇｚをかけながら断層面ｌに相当する周波数
の１８０°パルスを与えて、この断層面１の部分のみを
選択励起する。こうして、第３図（ｂ）のように、断層
面ｌの部分がその磁化方向を１８０゜反転される。した
がって、第３図（ａ）の９０゜励起範囲と（ｂ）の１８
０°励起範囲とが重なる部分、つまり断層面ｌのストリ
ップＩの部分のみがスピンエコー信号を発生する状態と
される。ところで、この状態では第３図（ｂ）に示すよ
うに断層面１の隣接ストリップＩＩ、■の部分の磁化方
向が反転しているので、直後に与える−１８０゜パルス
で、この部分の磁化方向が１８０’逆向きに反転するよ
う１選択励起する（第３図（Ｃ）参照）、こうして隣接
ストリップ■、■の部分を熱平衡状態にし１次の、スト
リップＨに関するシーケンスの開始に備える。

このようにして、順次、ストリップＩ、■、■での選択
励起Φスピンエコー信号の受信および隣接ストリップで
の回復を行なって、１回の繰返し期間Ｔ、な終了する。

したがって、１回の繰返し時間Ｔ、内に複数ストリップ
のデータを順次収集できるため、ストリップの数だけア
ベレージングしたデータと同様のＳ／Ｎを持つデータを
時間Ｔ、内で得ることができることになる。そのため、
たとえば１６ストリツプに分割した場合には４分の撮像
時間で従来の１６回アベレージング（８４分の撮像時間
）と同様の画質の断層像が得られる。マルチスライスは
得られないが、１つの断層面の高品質画像が得られ、し
かも断層面の厚さが薄い場合でもＳ／Ｎが高いので１診
断能力の大幅な向上が実現する。

なお、第４図および第５図に示すように、断層面１の厚
さ方向に拡張した３ＯＦＦＴ法（３次元高速フーリエ変
換法）にも適用できる。このＢＤＦＦＴ法では、Ｙ方向
への位相エンコーディングに加えＺ方向にも位相エンコ
ーディングするため、断層面１の数だけＺ方向の勾配磁
場Ｇｚを変えて繰返す必要がある分全体の撮像時間は長
くなる。

発明の効果 この発明によれば、１つの断層面については高Ｓ／Ｎの
データが短時間に収集でき、診断能力が大幅に向上する
。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例のパルスシーケンスを示す
タイムチャート、第２図はこの実施例での断層面および
被検体と各軸方向との関係を示す図、第３図（ａ）、（
ｂ）、（Ｃ）はそれぞれ磁化の様子を示す模式図、第４
図は変形例のパルスシーケンスを示すタイムチャート、
第５図はこの変形例での断層面および被検体と各軸方向
との関係を示す図、第６図は従来例のパルスシーケンス
を示すタイムチャート、第７図はこの従来例での断層面
および被検体と各軸方向との関係を示す図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）撮像断層面内を読み出し勾配方向に複数個に分割
   したときの各ストリップにつき、９０°パルスで１つの
   ストリップを読み出し勾配方向に選択励起し、次に１８
   ０°パルスで断層面厚さ方向に選択励起し、その後−１
   ８０°パルスで隣接ストリップを読み出し勾配方向に選
   択励起するというシーケンスを行なって、繰返し時間内
   で複数個のストリップに関するデータ収集シーケンスを
   時分割的に行なうことを特徴とするＭＲＩ装置のデータ
   収集法。