JPS61265731A - Optical head - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To adjust simply the tilt of an optical axis of an objective lens simply by using an adjusting screw so as to correct the tilt of the light axis of the objective lens. CONSTITUTION:The light axis of the objective lens 8 is corrected to be perpendicularly to the recording face of an optical disc 1 by tightening tilt adjusting screws 28a, ... to tilt a base 21 in the direction A or C, by tightening screws 29a, ... to tilt the base 21 in the direction B or D. When the light axis of the objective lens 8 is tilted in the radial directin of an optical disc even if an optical head corresponds to any position of the optical disc, the light axis is corrected perpendicularly to the recording face of the optical disc by tightening the tilt adjusting screws 28a, ... or the fixed screws 29a, ....

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ この発明は、たとえば光デイスク装置に用いられる光学
ヘッドに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an optical head used in, for example, an optical disk device.

［発明の技術的背景１ 従来、光学ヘッドに必って、その内部で用いられる対物
レンズは、第８図（ａ）（ｂ）に示すような、対物レン
ズ駆動装置によって駆動されるようになっている。すな
わち、対物レンズ７１は、２枚の平行板バネ７２．７３
で支持されている。[Technical Background of the Invention 1 Conventionally, an objective lens used inside an optical head has been driven by an objective lens drive device as shown in FIGS. 8(a) and 8(b). ing. That is, the objective lens 71 consists of two parallel plate springs 72 and 73.
It is supported by

これらの板バネ７２．７３は中間支持金具７４に固着さ
れ、この中間支持金具７４は２枚のダイヤフラムバネ７
５．７６で支持されるようになっている。そして、コイ
ル７７とマグネット１８とにより形成される磁気回路に
より、中間支持金具つまり対物レンズ７１が上下方向（
矢印に、１方向）に駆動されることにより、フォー力ッ
シングが行われるようになっている。また、コイル７９
と鉄片８０とにより構成される磁気回路によって、対物
レンズ７１を左右方向く矢印ｍ、ｎ方向）に駆動される
ことにより、トラッキングが行われるようになっている
。These leaf springs 72 and 73 are fixed to an intermediate support fitting 74, and this intermediate support fitting 74 is connected to two diaphragm springs 7.
5.76 is now supported. A magnetic circuit formed by the coil 77 and the magnet 18 causes the intermediate support fitting, that is, the objective lens 71 to move in the vertical direction (
Forcing is performed by being driven in one direction (as shown by the arrow). In addition, coil 79
Tracking is performed by driving the objective lens 71 in the left and right directions (directions of arrows m and n) by a magnetic circuit constituted by the iron piece 80 and the iron piece 80.

［背景技術の問題点］ しかしながら、上記のような光学ヘッドでは、光ディス
クが傾くことにより、対物レンズの光軸と光ディスクの
記録面とが垂直からずれた場合、それを補正することが
できなかった。このため、対物レンズの光軸と光ディス
クの記録面とが垂直からずれると、対物レンズによって
光デイスク上に集光したスポットの形が悪くなり、光デ
ィスクの記録面上にきれいなビットを形成できなかった
。[Problems in the Background Art] However, in the optical head as described above, it is not possible to correct the deviation of the optical axis of the objective lens from the recording surface of the optical disc from perpendicularity due to the tilting of the optical disc. . For this reason, if the optical axis of the objective lens and the recording surface of the optical disk deviate from perpendicular, the shape of the spot focused on the optical disk by the objective lens becomes poor, making it impossible to form clean bits on the recording surface of the optical disk. .

この結果、光デイスク上のデータが読取り難くなる等の
不具合が生じた。As a result, problems such as difficulty in reading data on the optical disk occurred.

上記の不具合を解決するために、光ディスクの傾きに強
い光学系を採用し、対物レンズ駆動装置と光学系の基板
の間にスペーサーを挟む等で、対物レンズを傾は対物レ
ンズの光軸と光ディスクの記録面が垂直となるようにし
ていた。しかし、厳密な意味で対物レンズの光軸と光デ
ィスクの記録面が光デイスク全面にわたって垂直でない
という欠点があった。また、作業性が悪く、微調整がで
きないという欠点があった。In order to solve the above problem, we adopted an optical system that is resistant to tilting of the optical disk, and by inserting a spacer between the objective lens drive device and the optical system board, we can prevent the objective lens from tilting between the optical axis of the objective lens and the optical disk. The recording surface was vertical. However, in a strict sense, the optical axis of the objective lens and the recording surface of the optical disk are not perpendicular to each other over the entire surface of the optical disk. Further, there was a drawback that workability was poor and fine adjustment was not possible.

［発明の目的］ この発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目
的とするところは、対物レンズの光軸の傾きを簡単に微
調整することができる光学ヘッドを提供することにある
。[Object of the Invention] This invention was made in view of the above circumstances, and its object is to provide an optical head that can easily finely adjust the inclination of the optical axis of an objective lens. .

［発明の概要］ この発明は、上記目的を達成するために、対物レンズを
固定する保持部材を左右あるいは上下に移動することに
より、対象物体上に適正なビーム光を照射するものにお
いて、対物レンズの光軸の傾きを調整ねじで補正するよ
うにしたものである。[Summary of the Invention] In order to achieve the above object, the present invention irradiates an appropriate beam of light onto a target object by moving a holding member that fixes the objective lens left and right or up and down. The tilt of the optical axis of the lens is corrected using an adjustment screw.

［発明の実施例］ 以下、この発明の一実施例について、図面を参照して説
明する。[Embodiment of the Invention] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第１図は、この発明の光学ヘッドの概略構成を示すもの
である。すなわち、光ディスク（対象物体）１は、モー
タ（図示しない）によって光学ヘッド３に対して、線速
一定で回転駆動されるようになっている。上記光ディス
ク１は、たとえばガラスあるいはプラスチックスなどで
円形に形成された基板の表面に、テルルあるいはビスマ
スなどの金属被膜層が、ドーナツ形にコーティングされ
ている。上記光ディスク１の裏側には、情報の記憶、再
生を行うための光学ヘッド３が設けられている。この光
学ヘッド３は、半導体レーザ発振器４、凸レンズ５、偏
光ビームスプリッタ６、λ／４板７、対物レンズ８、ハ
ーフミラ−９、集光レンズ１０．１１、トラックずれ検
出用の光検出器１２、焦点ぼけ検出用の光検出器１３に
よって構成されている。また、上記ハーフミラ一つと集
光レンズ１１との間には、先広出用の遮光板１６が設け
られている。上記光検出器１２は、集光レンズ１０によ
って結像される光を、電気信号に変換する光検出セル１
２ａ、１２ｂによって構成されている。これらの光検出
セル１２ａ、１２ｂによって出力される信号としては、
それぞれγ信号、δ信号が出力されるようになっている
。上記光検出器１３は、集光レンズ１１によって結像さ
れる光を、電気信号に変換する光検出セル１３ａ。FIG. 1 shows a schematic configuration of an optical head of the present invention. That is, the optical disk (target object) 1 is rotated by a motor (not shown) with respect to the optical head 3 at a constant linear velocity. The optical disc 1 has a donut-shaped metal coating layer such as tellurium or bismuth coated on the surface of a circular substrate made of glass or plastic, for example. An optical head 3 for storing and reproducing information is provided on the back side of the optical disc 1. This optical head 3 includes a semiconductor laser oscillator 4, a convex lens 5, a polarizing beam splitter 6, a λ/4 plate 7, an objective lens 8, a half mirror 9, a condenser lens 10, 11, a photodetector 12 for detecting track deviation, It is composed of a photodetector 13 for detecting defocus. Further, a light shielding plate 16 for widening the front is provided between the half mirror and the condensing lens 11. The photodetector 12 includes a photodetection cell 1 that converts the light imaged by the condenser lens 10 into an electrical signal.
2a and 12b. The signals output by these photodetection cells 12a and 12b are as follows:
A γ signal and a δ signal are output, respectively. The photodetector 13 is a photodetection cell 13a that converts the light imaged by the condenser lens 11 into an electrical signal.

１３ｂによって構成されている。これらの光検出セル１
３ａ、１３ｔ）によって出力される信号としては、それ
ぞれα信号、β信号が出力されるようになっている。13b. These photodetection cells 1
3a and 13t), an α signal and a β signal are output, respectively.

上記対物レンズ８は、第２図から第７図に示す、対物レ
ンズ駆動装置２０によって駆動されるようになっている
。すなわち、基板２１上の上方には、これに垂直な中心
軸を有して、円筒上の保持枠２２が設けられている。こ
の保持枠２２内には、中心軸に沿って支持軸２３が配設
されており、この支持軸２３は圧電樹脂として、後述す
るピエゾ素子（ピエゾ抵抗効果素子）２４ａ、２４ｂ、
２４Ｇ、２４ｄによって保持枠２２に支持されている。The objective lens 8 is driven by an objective lens driving device 20 shown in FIGS. 2 to 7. That is, a cylindrical holding frame 22 is provided above the substrate 21 with a central axis perpendicular thereto. A support shaft 23 is arranged along the central axis within this holding frame 22, and this support shaft 23 is made of piezoelectric resin and includes piezo elements (piezoresistance effect elements) 24a, 24b, which will be described later.
It is supported by the holding frame 22 by 24G and 24d.

この支持軸２３の上下両端部から、後述する圧電樹脂と
してのバイモルフ素子２５．２６が、互いに平行に同方
向に延出して設けられている。Bimorph elements 25 and 26, which are piezoelectric resins to be described later, are provided extending parallel to each other in the same direction from both upper and lower ends of the support shaft 23.

このバイモルフ素子２５．２６の先端部には、上記対物
レンズ８が保持されているレンズ保持枠２７が取付けら
れている。このレンズ保持枠２７の側面には、内側が空
洞の四角柱形のボビン６０．６０が基板２１に平行に設
けられている。このボビン６０にはコイル６１が外回さ
れており、このコイル６１の上面にはコイル６１に対し
て垂直にコイル６２が固着されている。また、上記基板
２１上にはコの字形状のヨーク６３．６３が固定されて
いる。このヨーク６３．６３の中途部にはそれぞれ四角
柱形の永久磁石６４．６４が設けられ、この磁石６４は
上記ボビン６０の空洞部に緩挿されるようになっている
。上記ヨーク６３の端部６５．６６はそれぞれ上記ボビ
ン６０の端部に対向するようになっている。A lens holding frame 27 in which the objective lens 8 is held is attached to the tip of the bimorph element 25,26. On the side surface of this lens holding frame 27, a rectangular prism-shaped bobbin 60, 60 with a hollow inside is provided parallel to the substrate 21. A coil 61 is wound around the bobbin 60, and a coil 62 is fixed to the upper surface of the coil 61 perpendicularly to the coil 61. Further, a U-shaped yoke 63, 63 is fixed on the substrate 21. Square columnar permanent magnets 64 and 64 are provided in the middle of the yokes 63 and 63, respectively, and these magnets 64 are loosely inserted into the hollow portion of the bobbin 60. The ends 65 and 66 of the yoke 63 are arranged to face the ends of the bobbin 60, respectively.

これにより、コイル６１．６２は、共に永久磁石６４お
よびヨーク６３による磁界Ｂｇの中に位置している。た
とえば、第５図に示すように、コイル６２にｑ方向の電
流を流すと、コイル６２はｈ方向に力を受け、この力が
ボビン６ｏを介してし・ンズ保持枠２７に伝えられる。Thereby, both the coils 61 and 62 are located in the magnetic field Bg generated by the permanent magnet 64 and the yoke 63. For example, as shown in FIG. 5, when a current is passed through the coil 62 in the q direction, the coil 62 receives a force in the h direction, and this force is transmitted to the lens holding frame 27 via the bobbin 6o.

この結果、対物レンズ８は矢印ｅ％ｆ方向に移動される
ことにより、フォー力ツシングが行われるようになって
いる。また、Ｗ４図に示すように、コイル６１に１方向
の電流を流すと、コイル６１はｊ方向に力を受け、この
力がボビン６０を介してレンズ保持枠２７に伝えられる
。この結果、対物レンズ８は矢印ｃ、ｄ方向に移動され
ることにより、トラッキングが行われるようになってい
る。このように、同一の磁気回路によって対物レンズ８
を上下、左右の２方向へ駆動できるようになっている。As a result, the objective lens 8 is moved in the direction of the arrow e%f, thereby performing the force shifting. Furthermore, as shown in diagram W4, when a current is applied in one direction to the coil 61, the coil 61 receives a force in the j direction, and this force is transmitted to the lens holding frame 27 via the bobbin 60. As a result, the objective lens 8 is moved in the directions of arrows c and d, thereby performing tracking. In this way, the objective lens 8 is
can be driven in two directions: up and down and left and right.

上記バイモルフ素子２５．２６は、第６図（ａ）（ｂ）
（Ｃ）に示すように、それぞれ２枚のピエゾ素子２５ａ
、２５ｂ、２６ａ、２６ｂを上下に貼合わせたものであ
り、２枚のピエゾ素子の一方が縮み、他方が伸びること
により、レンズ保持枠２７が上下つまり矢印ｅ、ｆ方向
に移動するのに追従できるようになっている。たとえば
、レンズ保持枠２７つまり対物レンズ８が第６図（ｂ）
に示すように、同図（ａ）の状態からｅ方向へ移動する
ことによりバイモルフ素子２５．２６が下方に屈曲し、
ピエゾ素子２５ａ、２６ａが縮み、ピエゾ素子２５ｂ、
２６ｂが伸びるようになっている。また、レンズ保持枠
２７つまり対物レンズ８が第６図（Ｃ）に示すように、
同図（ａ）の状態からｆ方向へ移動することにより、バ
イモルフ素子２５．２６が上方に屈曲し、ピエゾ素子２
５ａ１２６ａが伸び、ピエゾ素子２５ｂ、２６ｂが縮む
ようになっている。The bimorph elements 25 and 26 are shown in FIGS. 6(a) and 6(b).
As shown in (C), two piezo elements 25a each
, 25b, 26a, and 26b are pasted vertically.One of the two piezo elements contracts and the other expands, so that the lens holding frame 27 follows the movement up and down, that is, in the directions of arrows e and f. It is now possible to do so. For example, the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8 is shown in FIG. 6(b).
As shown in FIG. 2, the bimorph elements 25 and 26 are bent downward by moving in the direction e from the state shown in FIG.
Piezo elements 25a and 26a contract, piezo element 25b,
26b is designed to extend. Further, as shown in FIG. 6(C), the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8,
By moving in the direction f from the state shown in FIG.
5a126a extends, and piezo elements 25b and 26b contract.

これにより、上記バイモルフ素子２５の上側のピエゾ素
子２５ａ、２６ａ１下側のピエゾ素子２５ｂ、２６ｂの
電圧値を出力することにより、レンズ保持枠２７のｅ、
ｆ方向の移動位置つまり対物レンズ８の移動位置に応じ
た検出信号を出力するものである。これらの上側のピエ
ゾ素子２５ａ、２６ａ、下側のピエゾ素子２５ｂ、２６
ｂによって出力される信号としては、それぞれη信号、
ε信号が出力されるようになっている。As a result, by outputting the voltage values of the piezo elements 25a, 26a1 on the upper side of the bimorph element 25 and the piezo elements 25b, 26b on the lower side, e of the lens holding frame 27,
It outputs a detection signal according to the movement position in the f direction, that is, the movement position of the objective lens 8. These upper piezo elements 25a, 26a, lower piezo elements 25b, 26
The signals output by b are the η signal and
The ε signal is output.

このように構成すると、レンズ保持枠２７が適正な位置
、つまり上側のピエゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエ
ゾ素子２５ｂ、２６ｂとが基板２１に対して平行に位置
する場合、上記上側のピエゾ素子２５ａ、２６ａと下側
のピエゾ素子２５ｋ）、２６ｂとからそれぞれ同じ値の
η信号、ε信号が出力される。また、レンズ保持枠２７
が適正な位置より下側にずれている場合、上記上側のピ
エゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエゾ素子２５１）、
２６ｂとからそれぞれ「η信号くε信号」という関係の
η信号、ε信号が出力される。また、レンズ保持枠２７
が適正な位置より上側にずれている場合、上記上側のピ
エゾ素子２５ａ、２６ａと下側のピエゾ素子２５ｂ、２
６ｂとからそれぞれ「η信号〉ε信号」という関係のη
信号、ε信号が出力される。With this configuration, when the lens holding frame 27 is in a proper position, that is, when the upper piezo elements 25a, 26a and the lower piezo elements 25b, 26b are located parallel to the substrate 21, the upper piezo elements The same values of η and ε signals are output from the lower piezo elements 25a and 26a and the lower piezo elements 25k) and 26b, respectively. In addition, the lens holding frame 27
is shifted below the proper position, the upper piezo elements 25a, 26a and the lower piezo element 251),
26b outputs an η signal and an ε signal in a relationship of "η signal - ε signal", respectively. In addition, the lens holding frame 27
is shifted above the proper position, the upper piezo elements 25a, 26a and the lower piezo elements 25b, 2
6b, respectively, η of the relationship “η signal>ε signal”
signal and ε signal are output.

上記支持軸２３には、第７図（ａ）（ｂ）（ｃ）に示す
ように、中心から等角度で設けられている４枚のビニ／
素子２４ａ、２４ｂ、２４ｃ１２４ｄが設けられており
、これらのピエゾ素子２４ａ、・・・によって支持軸２
３が保持枠２２に支持されている。これにより、ピエゾ
素子２４ａ１・・・がレンズ保持枠２７、つまり対物レ
ンズ８が矢印Ｃ方向へ移動することにより縮んだ場合、
第７図（ｂ）に示すように、同図（ａ）の状態から矢印
ａ方向に、支持軸２３が微少角度回動するようになって
いる。この回動により、ピエゾ素子２４ａ１・・・から
その移動量に応じた電圧信号つまりε信号が出力される
ようになっている。また、ピエゾ素子２４ａ、・・・が
レンズ保持枠２７、つまり対物レンズ８が矢印ｄ方向へ
移動することによリ、伸びた場合、第７図（Ｃ）に示す
ように、同図（ａ）の状態から矢印す方向に、支持軸２
３が微少角度回動するようになっている。上記の場合、
対物レンズ８の移動量（変位量）は大きなものであるが
バイモルフ素子２５が一種の、てこの腕として作用し、
支持軸２３の回動量は微少となる。As shown in FIGS. 7(a), 7(b), and 7(c), the support shaft 23 has four vinyl discs installed at equal angles from the center.
Elements 24a, 24b, 24c124d are provided, and these piezo elements 24a, . . .
3 is supported by the holding frame 22. As a result, when the piezo elements 24a1... contract as the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8 moves in the direction of arrow C,
As shown in FIG. 7(b), the support shaft 23 rotates by a small angle in the direction of arrow a from the state shown in FIG. 7(a). Due to this rotation, the piezo elements 24a1... output a voltage signal, that is, an ε signal according to the amount of movement thereof. Furthermore, when the piezo elements 24a, . ), move the support shaft 2 in the direction of the arrow.
3 is designed to rotate by a small angle. In the above case,
Although the amount of movement (displacement) of the objective lens 8 is large, the bimorph element 25 acts as a kind of lever arm.
The amount of rotation of the support shaft 23 is minute.

したがって、上記バイモルフ素子２５によって、対物レ
ンズ８の大きな変位がピエゾ素子２４の小変位となって
伝わっている。上記ピエゾ素子２４ａ・・・のａ、ｂ方
向の移動により、前記光ディスク１に対するトラッキン
グ方向の移動が検出されるようになっている。これによ
り、上記ピエゾ素子２４ａ、・・・の電圧値を出力する
ことにより、レンズ保持枠２７のｃ、ｄ方向の移動位置
つまり対物レンズ８の移動位置に応じた検出信号を出力
するものである。Therefore, the bimorph element 25 transmits a large displacement of the objective lens 8 as a small displacement to the piezo element 24. Movement in the tracking direction with respect to the optical disc 1 is detected by movement of the piezo elements 24a in the directions a and b. Thereby, by outputting the voltage values of the piezo elements 24a, . . . , a detection signal corresponding to the movement position of the lens holding frame 27 in the c and d directions, that is, the movement position of the objective lens 8 is output. .

なお、上記ピエゾ素子２４ａ・・・、２５ａ、２５ｂ、
２６ａ、２６ｂは、たとえば１０ミクロン程度変位した
場合、その電圧が７００ボルト変化するようになってい
る。Note that the piezo elements 24a..., 25a, 25b,
When the voltages 26a and 26b are displaced by about 10 microns, for example, the voltage changes by 700 volts.

また、上記基板２１には光学ヘッド３を光ディスク１の
半径方向に移動する移動機構としてのりニアモータ２９
との位置関係を変更する傾き調整ねじ２８ａ、２８ｂ、
２８．ｃ、固定ねじ２９ａ。Further, a near motor 29 is mounted on the substrate 21 as a moving mechanism for moving the optical head 3 in the radial direction of the optical disk 1.
Tilt adjustment screws 28a, 28b, which change the positional relationship with
28. c. Fixing screw 29a.

２９ｂ、２９Ｃが設けられている。これらの傾き調整ね
じ２８ａ、・・・を締めることにより光学ヘッド３全体
が持ち上がり、固定ねじ２９ａ、・・・を締めることに
より光学ヘッド３全体が下がるように補正（微調整）で
きるようになっている。たとえば、傾き調整ねじ２８ａ
を締めつけた場合、第３□図（ｂ）に示すように、同図
（ａ）の状態から基板２１の右側が矢印六方向つまり上
方に移動するようになっている。また、固定ねじ２９ａ
を締めつけた場合、第３図（Ｃ）に示すように、同図（
ａ）の状態から基板２１の右側が矢印Ｂ方向つまり下方
に移動するようになっている。29b and 29C are provided. Tightening these tilt adjustment screws 28a, . . . lifts the entire optical head 3, and tightening fixing screws 29a, . . . makes it possible to correct (finely adjust) the entire optical head 3 to lower. There is. For example, the tilt adjustment screw 28a
When tightened, as shown in FIG. 3(b), the right side of the board 21 moves in the direction of the arrow six, that is, upward, from the state shown in FIG. 3(a). In addition, the fixing screw 29a
When tightened, as shown in Figure 3 (C), the same figure (
From the state a), the right side of the substrate 21 moves in the direction of arrow B, that is, downward.

前記光学ヘッド３の出力つまり各光検出セル１２ａ、１
２ｂ、１３ａ、１３ｂの出力は、それぞれ増幅器３０．
３１，３４．３５に供給される。The output of the optical head 3, that is, each photodetection cell 12a, 1
The outputs of 2b, 13a, and 13b are sent to amplifiers 30.2b, 13a, and 13b, respectively.
31, 34.35.

また、前記バイモルフ素子２５．２６の各ピエゾ素子２
５ａ、２６ａと２５ｂ、２６ｂの出力は、それぞれ増幅
器３２．３３に供給される。さらに、前記ピエゾ素子２
４ａ・・・の出力は増幅器５２に供給される。上記増幅
器３０，３１の出力は、それぞれ減算回路３６、加算回
路３７に供給される。In addition, each piezo element 2 of the bimorph elements 25 and 26
The outputs of 5a, 26a and 25b, 26b are fed to amplifiers 32, 33, respectively. Furthermore, the piezo element 2
The outputs of 4a... are supplied to an amplifier 52. The outputs of the amplifiers 30 and 31 are supplied to a subtraction circuit 36 and an addition circuit 37, respectively.

上記増幅器３２．３３の出力は減算回路３８に供給され
る。上記増幅器３４．３５の出力は、それぞれ減算回路
３９、加算回路４０に供給される。The outputs of the amplifiers 32 and 33 are supplied to a subtraction circuit 38. The outputs of the amplifiers 34 and 35 are supplied to a subtraction circuit 39 and an addition circuit 40, respectively.

上記増幅器５２の出力は、比較回路５３に供給される。The output of the amplifier 52 is supplied to a comparison circuit 53.

上記減算回路３６は、光検出セル１２ａ、１２ｂからの
検出信号の差（γ信号−δ信号）を取ることにより、通
常のトラッキング時のトラックずれに応じた信号を出力
するものである。上記加算回路３７は、光検出セル１２
ａ、１２ｂからの検出信号の和を取ることにより、読取
信号として出力するものである。上記減算回路３８は、
ピエゾ素子２５ａ、２６ａと２５ｂ、２６ｋ）からの検
出信号の差（η信号−θ信号）を取ることにより、高速
アクセス時における対物レンズ８の位置ずれ（ｅｌ、　
ｆ方向）に応じた信号を出力するものである。The subtraction circuit 36 outputs a signal corresponding to the track deviation during normal tracking by taking the difference (γ signal - δ signal) between the detection signals from the photodetection cells 12a and 12b. The addition circuit 37 includes the photodetection cell 12
The sum of the detection signals from a and 12b is output as a read signal. The subtraction circuit 38 is
The positional deviation (el,
f direction).

上記比較回路５３は、増幅器５２からの値が所定値より
大か小かに応じて、対物レンズ８の位置ずれ（ｃ、ｄ方
向）に応じた信号を出力するものである。この所定値は
、対物レンズ８が定位置となっている際に、増幅器５２
から得られる値と等しいものとなっている。上記減算回
路３９は、光検出セル１３ａ、１３ｂからの検出信号の
差（α信号−β信号）を取ることにより、焦点ぼけに応
じた信号を出力するものである。上記加算回路４０は、
光検出セル１３ａ、１３ｂからの検出信号の和を取るこ
とにより、読取信号として出力するものである。The comparison circuit 53 outputs a signal corresponding to the positional deviation (c, d direction) of the objective lens 8, depending on whether the value from the amplifier 52 is larger or smaller than a predetermined value. This predetermined value is determined by the amplifier 52 when the objective lens 8 is in a fixed position.
It is equal to the value obtained from . The subtraction circuit 39 outputs a signal corresponding to defocus by taking the difference (α signal - β signal) between the detection signals from the photodetection cells 13a and 13b. The addition circuit 40 is
The sum of the detection signals from the photodetection cells 13a and 13b is output as a read signal.

上記減算回路３６．３９の出力および加算回路３７．４
０の出力は、ＣＰＵ４１に供給される。Output of the above subtraction circuit 36.39 and addition circuit 37.4
The output of 0 is supplied to the CPU 41.

このＣＰＵ４１は、光ディスク１全体を制御するもので
ある。このＣＰＵ４１は、イニシャル時、スイッチング
回路４２に対してイニシャル引込信号を出力するととも
に、スイッチング回路４２を切換え、そのイニシャル引
込信号が出力されるようにするものである。また、ＣＰ
ｔＪ４１は、高速アクセスを判断している時、スイッチ
ング回路４２．４３に対して切換信号を出力するように
なっている。This CPU 41 controls the entire optical disc 1. At the time of initialization, the CPU 41 outputs an initial pull-in signal to the switching circuit 42 and switches the switching circuit 42 so that the initial pull-in signal is output. Also, C.P.
tJ41 outputs a switching signal to the switching circuits 42 and 43 when high-speed access is being determined.

上記減算回路３９の出力は、波形整形回路４４で整形さ
れ、上記スイッチング回路４２に供給される。上記減、
１１回路３９の出力は、波形整形回路５４で整形され、
上記スイッチング回路４２に供給される。上記減算回路
３６の出力は１．波形整形回路４５で整形され、上記ス
イッチング回路４３に供給される。上記比較回路５３の
出力は、波形整形回路５１で整形され、上記スイッチン
グ回路４３に供給される。これにより、スイッチング回
路４２は、ＣＰＵ４１からの切換信号により、イニシャ
ル時、ＣＰＵ４１から供給されるイニシャル引込信号を
、駆動回路４６へ出力し、通常時、波形整形回路４４か
ら供給される信号を、駆動回路４６へ出力し、高速アク
セス時、波形整形回路５４からの信号を駆動回路４６へ
出力するようになっている。また、スイッチング回路４
３は、通常時、上記波形整形回路４５から供給される信
号を、駆動回路４７へ出力し、上記ＣＰＵ４１から切換
信号が供給されている時（高速アクセス時）、上記波形
整形回路５１から供給される信号を、駆動回路４７へ出
力するようになっている。The output of the subtraction circuit 39 is shaped by a waveform shaping circuit 44 and supplied to the switching circuit 42. The above decrease,
The output of the 11 circuit 39 is shaped by a waveform shaping circuit 54,
The signal is supplied to the switching circuit 42. The output of the subtraction circuit 36 is 1. The signal is shaped by a waveform shaping circuit 45 and supplied to the switching circuit 43. The output of the comparison circuit 53 is shaped by a waveform shaping circuit 51 and supplied to the switching circuit 43. As a result, the switching circuit 42 outputs the initial pull-in signal supplied from the CPU 41 to the drive circuit 46 in response to the switching signal from the CPU 41 at the initial time, and drives the signal supplied from the waveform shaping circuit 44 at the normal time. The signal from the waveform shaping circuit 54 is output to the drive circuit 46 during high-speed access. In addition, the switching circuit 4
3 outputs the signal supplied from the waveform shaping circuit 45 to the drive circuit 47 in normal times, and when the switching signal is supplied from the CPU 41 (during high-speed access), the signal supplied from the waveform shaping circuit 51 is output. A signal is output to the drive circuit 47.

上記駆動回路４６は、スイッチング回路４２から供給さ
れる信号に応じて、前記コイル６２・・・に対応する電
流を供給するようになっている。上記駆動回路４７は、
スイッチング回路４３から供給される信号に応じて、前
記コイル６１・・・に対応する電流を供給するようにな
っている。The drive circuit 46 is adapted to supply a corresponding current to the coils 62 . . . in response to a signal supplied from the switching circuit 42 . The drive circuit 47 is
According to a signal supplied from the switching circuit 43, a corresponding current is supplied to the coils 61.

次に、このような構成において動作を説明する。Next, the operation in such a configuration will be explained.

たとえば今、半導体レーザ発擾器４から発せられるレー
ザ光束は、凸レンズ５によって平行光束にされ、偏光ビ
ームスプリッタ６に導かれる。この偏光ビームスプリッ
タ６に導かれた光束は、反射されたのち、λ／４板７を
介して対物レンズ８に入射され、この対物レンズ８によ
って光デイスク１上に集束される。この状態において、
情報の記憶を行う際には、強光度のレーザ光束（記憶ビ
ーム光）の照射によって、光デイスク１上のトラックに
ビットが形成され、情報の再生を行う際には、弱光度の
レーザ光束（再生ビーム光）が照射される。この再生ビ
ーム光に対する光ディスク１からの反射光は、対物レン
ズ８によって平行光束に変換され、λ／４板７を介して
偏光ビームスプリッタ６に導かれる。このとき、偏光ビ
ームスプリッタ６に導かれたレーザ光束は、λ／４板７
を往復しており、偏光ビームスプリッタ６で反射された
際に比べて偏波面が９０度回転している。これにより、
そのレーザ光束は、偏光ビームスプリッタ６で反射され
ずに通過し、ハーフミラ−９に導かれる。このハーフミ
ラ−９を通過するレーザ光束は、集光レンズ１０を介し
て光検出器１２、つまり光検出セル１２ａ、１２ｂに照
射される。また、上記ハーフミラ−９で反射されたレー
ザ光束は、集光レンズ１１を介して光検出器１３つまり
光検出セル１３ａ、１３ｂに照射される。したがって、
光検出セル１２ａ、１２ｂ、１３ａ、１３ｂから照射光
に応じた信号が出力され、それらの信号はそれぞれ増幅
器３０．３１．３４．３５を介して出力される。これに
より、加算回路３７は、光検出セル１２ａ、１２ｂから
の検出信号の和を取ることにより、読取信号としてＣＰ
Ｕ４１へ出力する。この結果、ＣＰＵ４１は、加算回路
３７からの読取信号によりデータの読取を行うようにな
っている。For example, the laser beam emitted from the semiconductor laser oscillator 4 is made into a parallel beam by the convex lens 5 and guided to the polarizing beam splitter 6. The light beam guided to the polarizing beam splitter 6 is reflected, then enters the objective lens 8 via the λ/4 plate 7, and is focused onto the optical disk 1 by the objective lens 8. In this state,
When storing information, bits are formed on tracks on the optical disk 1 by irradiation with a laser beam of high intensity (storage beam), and when reproducing information, a laser beam of low intensity (storage beam) is irradiated. (reproduction beam light) is irradiated. The reflected light from the optical disk 1 for this reproduction beam light is converted into a parallel light beam by the objective lens 8 and guided to the polarizing beam splitter 6 via the λ/4 plate 7. At this time, the laser beam guided to the polarizing beam splitter 6 is
The plane of polarization is rotated by 90 degrees compared to when it is reflected by the polarization beam splitter 6. This results in
The laser beam passes through the polarizing beam splitter 6 without being reflected, and is guided to the half mirror 9. The laser beam passing through the half mirror 9 is irradiated onto the photodetector 12, that is, the photodetection cells 12a and 12b, via the condenser lens 10. Further, the laser beam reflected by the half mirror 9 is irradiated onto the photodetector 13, that is, the photodetection cells 13a and 13b, via the condenser lens 11. therefore,
Signals corresponding to the irradiated light are output from the photodetection cells 12a, 12b, 13a, and 13b, and these signals are output via amplifiers 30, 31, 34, and 35, respectively. As a result, the adder circuit 37 calculates the sum of the detection signals from the photodetection cells 12a and 12b, and outputs the CP as a read signal.
Output to U41. As a result, the CPU 41 reads data using the read signal from the adder circuit 37.

上記のような状態において、フォー力ツシング動作につ
いて説明する。すなわち、イニシャル時、ＣＰＵ４１は
、イニシャル引込信号をスイッチング回路４２を介して
駆動回路４６に供給する。これにより、駆動回路４６は
コイル６２に所定の電流を供給し、レンズ保持枠２７つ
まり対物レンズ８をｅあるいはｆ方向へ移動する。そし
て、ＣＰＵ４１は、減算回路３６の減算結果が「±Ｏ」
となったとき、対物レンズ８が適正焦点位置に対応した
と判断し、スイッチング回路４２を切換える。これによ
り、減算回路３９から出力される焦点ぼけに応じた信号
、つまり光検出セル１３ａ１１３ｂからの検出信号の差
を取ることにより得られる信号が、波形整形回路４４、
及びスイッチング回路４２を介して、駆動回路４６に供
給される。In the above state, the force pulling operation will be explained. That is, at the initial time, the CPU 41 supplies an initial pull-in signal to the drive circuit 46 via the switching circuit 42. Thereby, the drive circuit 46 supplies a predetermined current to the coil 62, and moves the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8, in the e or f direction. Then, the CPU 41 determines that the subtraction result of the subtraction circuit 36 is "±O".
When this happens, it is determined that the objective lens 8 corresponds to the proper focal position, and the switching circuit 42 is switched. Thereby, the signal corresponding to the defocus output from the subtraction circuit 39, that is, the signal obtained by taking the difference between the detection signals from the photodetection cells 13a113b, is transmitted to the waveform shaping circuit 44,
and is supplied to the drive circuit 46 via the switching circuit 42.

これにより、駆動回路４６は、波形整形回路４４からの
信号に応じてコイル６２に所定の電流を供給し、レンズ
保持枠２７つまり対物レンズ８をｅあるいはｆ方向へ移
動し、通常のフォー力ツシングを行う。As a result, the drive circuit 46 supplies a predetermined current to the coil 62 in accordance with the signal from the waveform shaping circuit 44, moves the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8 in the e or f direction, and performs normal force twisting. I do.

ついで、トラッキング動作について説明する。Next, the tracking operation will be explained.

すなわち、減算回路３６からの通常のトラッキング時の
トラックずれに応じた信号、つまり光検出セル１２ａ、
１２ｂからの検出信号の差を取ることにより得られる信
号が、波形整形回路４５およびスイッチング回路４３を
介して駆動回路４７に供給される。これにより、駆動回
路４７は、波形整形回路４５からの信号に応じてコイル
６１に対応する電流を供給し、レンズ保持枠２７つまり
対物レンズ８がＣあるいはｄ方向へ移動され、通常のト
ラッキングが行われる。That is, the signal corresponding to the track deviation during normal tracking from the subtraction circuit 36, that is, the photodetection cell 12a,
A signal obtained by taking the difference between the detection signals from 12b is supplied to the drive circuit 47 via the waveform shaping circuit 45 and the switching circuit 43. As a result, the drive circuit 47 supplies a corresponding current to the coil 61 in accordance with the signal from the waveform shaping circuit 45, and the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8, is moved in the direction C or d, and normal tracking is performed. be exposed.

ついで、高速アクセス時の動作について説明する。すな
わち、ＣＰＵ４１により高速アクセスが判断された場合
、ＣＰＵ４１は、スイッチング回路４３を切換える。こ
れにより、比較回路５３からの対物レンズ８の位置ずれ
（ｃ、ｄ方向）に応じた信号、つまりピエゾ素子２４ａ
、・・・からの得られる信号が所定値よりも大か小かに
応じた信号が、スイッチング回路４３を介して駆動回路
４７に供給される。これにより、駆動回路４７は、比較
回路５３からの信号に応じてコイル６１に対応する電流
を供給し、レンズ保持枠２７つまり対物レンズ８を、定
位置となるようにＣあるいはｄ方向へ移動する。たとえ
ば比較回路５３の出力が正のとき、レンズ保持枠２７を
Ｃ方向に移動し、比較回路５３の出力が負のとき、レン
ズ保持枠２７をｄ方向に移動する。Next, the operation during high-speed access will be explained. That is, when the CPU 41 determines high-speed access, the CPU 41 switches the switching circuit 43. As a result, a signal corresponding to the positional deviation (c, d direction) of the objective lens 8 from the comparator circuit 53, that is, the piezo element 24a
, . . . is supplied to the drive circuit 47 via the switching circuit 43. Thereby, the drive circuit 47 supplies a corresponding current to the coil 61 in accordance with the signal from the comparison circuit 53, and moves the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8, in the C or d direction so as to be in the home position. . For example, when the output of the comparison circuit 53 is positive, the lens holding frame 27 is moved in the C direction, and when the output of the comparison circuit 53 is negative, the lens holding frame 27 is moved in the d direction.

また、ＣＰＬＩ４１により高速アクセスが判断された場
合、ＣＰＵ４１は、スイッチング回路４２を切換える。Further, when high-speed access is determined by the CPLI 41, the CPU 41 switches the switching circuit 42.

これにより、波形整形回路５４からの対物レンズ８の位
置ずれ（ｅ、ｆ方向）に応じた信号、つまりバイモルフ
素子２５．２６のピエゾ素子２５ａ、２６ａ、と２５ｂ
、２６ｂとの差を取ることにより得られる信号が、スイ
ッチング回路４２を介して駆動回路４６に供給される。As a result, a signal corresponding to the positional deviation (e, f direction) of the objective lens 8 from the waveform shaping circuit 54, that is, the piezo elements 25a, 26a, and 25b of the bimorph element 25.26 is generated.
, 26b is supplied to the drive circuit 46 via the switching circuit 42.

これにより、駆動回路４６は、波形整形回路５４からの
信号に応じてコイル６２に対応する電流を供給し、レン
ズ保持枠２７つまり対物レンズ８を、定位置となるよう
にｅあるいはｆ方向へ移動する。As a result, the drive circuit 46 supplies a corresponding current to the coil 62 in accordance with the signal from the waveform shaping circuit 54, and moves the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8, in the e or f direction so as to be in a home position. do.

たとえば波形整形回路５４の出力が大のとき、レンズ保
持枠２７をｆ方向に移動し、波形整形回路５４の出力が
小のとき、レンズ保持枠２７をＣ方向に移動する。For example, when the output of the waveform shaping circuit 54 is large, the lens holding frame 27 is moved in the direction f, and when the output of the waveform shaping circuit 54 is small, the lens holding frame 27 is moved in the direction C.

したがって、高速アクセス時に、レンズ保持枠２７つま
り対物レンズ８が振動している場合、その対物レンズ８
に対する適正位置への移動制御（ｃ、ｄ方向、ｅ、ｆ方
向）が行われる。つまり、トラックジャンプによる残留
振動を短時間で減衰（安定化）させることができる。Therefore, if the lens holding frame 27, that is, the objective lens 8 is vibrating during high-speed access, the objective lens 8
Movement control (c, d directions, e, f directions) to appropriate positions is performed. In other words, residual vibrations caused by track jumps can be attenuated (stabilized) in a short time.

ついで、対物レンズ８の光軸の補正について説明する。Next, correction of the optical axis of the objective lens 8 will be explained.

たとえば、傾き調整ねじ２８ａ、・・・を締めることに
より、基板２１をＡあるいはＣ方向に傾け、また固定ね
じ２９ａ、・・・を締めることにより、基板２１を８あ
るいはＤ方向に傾け、対物レンズ８の光軸が光ディスク
１の記録面に垂直となるように補正（微調整）される。For example, by tightening the tilt adjustment screws 28a, . . . , the substrate 21 is tilted in the direction A or C, and by tightening the fixing screws 29a, . 8 is corrected (finely adjusted) so that it is perpendicular to the recording surface of the optical disc 1.

したがって、上記のように、光ディスクのどの位置に対
応している場合でも、対物レンズ８の光軸が光ディスク
の半径方向に傾いた際、その傾き量に応じて傾き調整ね
じ２８ａ、・・・あるいは固定ねじ２９ａ、・・・を締
付けることにより、その光軸が光ディスク１の記録面に
対して垂直になるように補正することができる。Therefore, as described above, when the optical axis of the objective lens 8 is tilted in the radial direction of the optical disc, no matter which position on the optical disc it corresponds to, the tilt adjusting screw 28a... or By tightening the fixing screws 29a, . . . , the optical axis can be corrected to be perpendicular to the recording surface of the optical disc 1.

なお、前記実施例では、光ディスクの半径方向に対する
対物レンズの光軸の傾きを補正する場合について説明し
たが、これに限らず、光ディスクのトラック方向に対す
る対物レンズの光軸の傾きを補正する場合であっても良
い。In the above embodiment, a case has been described in which the inclination of the optical axis of the objective lens with respect to the radial direction of the optical disc is corrected, but the present invention is not limited to this, and the present invention is applicable to the case where the inclination of the optical axis of the objective lens with respect to the track direction of the optical disc is corrected. It's okay.

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、対物レンズの光
軸の傾きを簡単に微調整することができる光学ヘッドを
提供できる。[Effects of the Invention] As detailed above, according to the present invention, it is possible to provide an optical head that can easily finely adjust the inclination of the optical axis of an objective lens.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第１図から第７図はこの発明の一実施例を示すもので、
第１図は光学ヘッドの概略構成図、第２図から第４図は
対物レンズ駆動装置の構成を示す斜視図、第５図はレン
ズ保持枠の移動方向を説明するためのボビンの側面図、
第６図はバイモルフ素子と対物レンズとの関係を示す図
、第７図はピエゾ素子と支持軸との関係を示す図であり
、第８図は従来の対物レンズ駆動装置を示す図である。 １・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、６・・・偏
光ビームスプリッタ、７・・・λ／４板、８・・・対物
レンズ、９・・・ハーフミラ−１１０，１１・・・集光
レンズ、１２．１３、−・・光検出器、１２ａ、１２ｂ
。 １３ａ、１３ｂ・・・光検出セル、２０・・・対物レン
ズ駆動装置、２１・・・基板、２２・・・保持枠、２３
・・・支持軸、２４ａ、２４ｂ、２４Ｇ、２４ｄ−・・
ピエゾ素子、２５．２６・・・バイモルフ素子、２５ａ
、２５ｂ、２６ａ、２６　ｂ−・・ピエゾ素子、２７　
・・・レンズ保持枠、２８ａ、〜・・・傾き調整ねじ、
２９ａ。 〜・・・固定ねじ。 第２Ｆ１１ 第３図 ！ｈ３図 第４図 加 第５図 ２ム 第７図 （ａ） （ｂ）　　　　　　　　　（Ｃ’） 第８図 （ａ） （ｂ）Figures 1 to 7 show an embodiment of this invention.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of the optical head, FIGS. 2 to 4 are perspective views showing the configuration of the objective lens drive device, and FIG. 5 is a side view of the bobbin for explaining the moving direction of the lens holding frame.
FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the bimorph element and the objective lens, FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the piezo element and the support shaft, and FIG. 8 is a diagram showing a conventional objective lens driving device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Optical disk, 3... Optical head, 6... Polarizing beam splitter, 7... λ/4 plate, 8... Objective lens, 9... Half mirror 110, 11... Collection Optical lens, 12.13, ---Photodetector, 12a, 12b
. 13a, 13b... Photodetection cell, 20... Objective lens drive device, 21... Substrate, 22... Holding frame, 23
...Support shaft, 24a, 24b, 24G, 24d-...
Piezo element, 25.26... Bimorph element, 25a
, 25b, 26a, 26 b--piezo element, 27
...Lens holding frame, 28a, ~...Tilt adjustment screw,
29a. ~...Fixing screw. 2nd F11 Figure 3! h3 Figure 4 Addition Figure 5 Figure 2 M Figure 7 (a) (b) (C') Figure 8 (a) (b)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] （１）対物レンズを固定する保持部材を左右あるいは上
下に移動することにより、対象物体上に適正なビーム光
を照射する光学ヘッドにおいて、前記対物レンズの光軸
傾きを補正する補正手段を設けたことを特徴とする光学
ヘッド。(1) In an optical head that irradiates an appropriate beam of light onto a target object by moving a holding member that fixes the objective lens left and right or up and down, a correction means is provided for correcting the optical axis tilt of the objective lens. An optical head characterized by: （２）前記補正手段が、保持部材に設けられた調整ねじ
により保持部材を支える基板の傾きを変更することによ
り、対物レンズの光軸を補正することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の光学ヘッド。(2) The correction means corrects the optical axis of the objective lens by changing the inclination of the substrate that supports the holding member using an adjustment screw provided on the holding member. Optical head as described.