JPS61242090A - 半導体レ−ザ - Google Patents

半導体レ−ザ

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Publication number
JPS61242090A
JPS61242090A JP60083742A JP8374285A JPS61242090A JP S61242090 A JPS61242090 A JP S61242090A JP 60083742 A JP60083742 A JP 60083742A JP 8374285 A JP8374285 A JP 8374285A JP S61242090 A JPS61242090 A JP S61242090A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
superlattice
active layer
semiconductor laser
diffraction grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60083742A
Other languages
English (en)
Inventor
Mototsugu Ogura
基次 小倉
Tomoaki Uno
智昭 宇野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP60083742A priority Critical patent/JPS61242090A/ja
Publication of JPS61242090A publication Critical patent/JPS61242090A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光通信用に用いられる分布反射型の半導体レー
ザに関するものである。
従来の技術 光通信用の半導体レーザとして開発しているタイプの大
半はプロセスが簡単ということもあって、へき開面を共
振器面とするいわゆるファブリペロ型半導体レーザであ
る。しかしこのタイプでは、CW動作時には単−縦モー
ド発振するが、高速変調時にはモード数が増加して多縦
モード発振し、光フアイバ内で波長分散するという欠点
があった。
そこで高速変調時にも縦単一モード発振が可能な分布反
射型レーザが開発された。第3図に分布反射型レーザの
一例であるdistributed feedback
laser (D F Bレーザ)の概略図を示す。n
型InP基板1の表面上に周期構造のピッチがたとえば
1976人の第1次の回折格子2をホログラフィック露
光技術で形成する。ホトレジストを除去した後、たとえ
ば液相成長法で回折格子の形状を保存したままで光の導
波層3(λ9=1.1.camのInGaAsP層)、
活性層4(λ9=1.3μmのInGaAsP層)、ク
ラッド層5(p型InP)、キャップ層6(p型InG
aAsP 層)を順次成し、その後メサエッチを施し2
回目の液相成長法で屈折率導波型の埋め込み構造(BH
)とし、BH−DFB レーザが製作されるO 発明が解決しようとする問題点 DFBレーザにおいては共振状態を形成する回折格子の
形状が重要である。液相成長法では通常エピタキシャル
成長層を形成する前にはメルトバックを行ない基板表面
を少し溶かす工程がとられるが、この回折格子上のエピ
タキシャル成長においては、このメルトバック工程がと
ることができず(回折格子の形状を保存するため)、そ
れ故、この上のエピタキシャル層には、回折格子表面か
らの欠陥が活性層のエピタキシャル成長層まで伸び、半
導体レーザの特性に悪影響を及ぼす。
問題点を解決するだめの手段 本発明は上記問題点を解決するため、回折格子上の導波
層を薄膜多層からなる超格子層で形成し、回折格子から
の導入欠陥がこの超格子層でストップされ、活性層まで
導入されることなく活性層の結晶性を良好にする0すな
わち本発明は周期構造の溝を有する半導体基板表面上に
ヘテロ接合からなる薄膜多層の超格子層、活性層、この
活性層より屈折率の小さいクラッド層を含んだ積層構造
とする0 作  用 ヘテロ接合界面には少なからずひずみ場のエネルギーが
存在し、基板側からエビ層へと導入してきた欠陥はヘテ
ロ界面に沿って外へと逃げてゆくため、超格子のような
多数のヘテロ接合界面を有する場合は、はとんど活性層
までは欠陥は導入されず、それ故良好なりFBレーザが
得られる。
実施例 第1図に本発明の実施例の概略図を示す。第3図と同一
構成部分には同一番号を付して説明を省略する。(10
o)n型InP基板上の回折格子上の光導波層としては
超格子層7を用いる。超格子層7はλ9で1.1μm程
度のIn1−xGarASyP1−ア(O≦xく1.o
<、y<1)とInlgGaAAsB PlB(O≦A
く1.O≦Bく1)のヘテロ接合で各膜厚はドブロイ波
長以下、あるいは100人程度でもよい。格子整合度合
としては不整合のほうがひずみのエネルギーが大きいの
でΔa/aは10−3のオーダ程度がよい。その上にス
ペーサ層としてのごく薄い(〜100o人)、InP層
を形成してもよいが、活性層としては、0.2μm厚程
度のλ9=1.3μmのInGaAsP 層を用いる。
尚、更に半導体レーザの低しきい値化、大出力化、偏波
面保存等を考えると活性層も量子井戸型活性層8とする
ことが有望である。この場合は最適設計をすることによ
り多重量子井戸型(MQW)でも単一量子井戸型(SC
H)でもいずれでもよい。
第2図に超格子層7と、量子井戸型活性層8の詳細な一
例を示す。超格子層7はIn。、 92Ga0.08A
so、16P0.84(x=O1o8.y=0.16)
と””0.77Gao、23As、 4.Po、64(
A=o、 23 、 B=o、 46 )の各々100
人の積層構造からなり、又、量子井戸型活性層8はIn
0.73”0.27As0.57P0.43と工”0.
86Ga0.14”0.3I Po、 69 ノ各々2
oo入の積層構造からなっている。
超格子層や量子井戸型活性層のような薄膜多層領域は液
相成長法でも形成可能であるが、格子不整合が10 オ
ーダ、薄膜制御の観点から考えると有機金属気相成長法
で行なうのがよい。
発明の効果 本発明によれば、回折格子上の光導波層に超格子層を用
いることにより、回折格子からの欠陥の活性層への貫通
導入を超格子層でしゃ断することができ、半導体レーザ
の寿命を伸ばすことが可能どなる。超格子層は通常の平
坦な基板上へのエビタキシャル成長の第1バツクア層と
して用いられることがあるが、本発明のように回折格子
上のエピタキシャル層に用いることにより、極めて大き
な効果をあげることができる。有機金属気相成長法によ
り簡単かつ組成膜厚制御可能な超格子層を得ることがで
きる。又、活性層を量子井戸型層とすることによりレー
ザの低しきい値化、大出力化もはかれることができ、本
発明は、高速変調時においても単−縦モード発振する分
布反射型レーザの長寿命化には欠くことのできないもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における半導体レーザの構造
を示す図、第2図は同レーザに用いる超格子層を示す図
、第3図は従来の半導体レーザの構造を示す図である。 2・・・・・・回折格子、7・・・・・・超格子層、8
・・・・・・量子井戸型活性層。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)周期構造の溝を有する半導体基板表面上にヘテロ
    接合からなる薄膜多層の超格子層、活性層、この活性層
    より屈折率の小さいクラッド層を含んだ積層構造からな
    る半導体レーザ。
  2. (2)薄膜多層の超格子の各薄膜の膜厚はドブロイ波長
    以下であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の半導体レーザ。
  3. (3)ヘテロ接合からなる薄膜多層は、これらの薄膜多
    層間の格子整合度合が10^−^3のオーダであること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体レーザ
  4. (4)活性層が量子井戸型構造であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の半導体レーザ。
  5. (5)半導体基板が(100)面のn型InP基板であ
    り、薄膜多層の超格子はIn_1_−_xGa_xAs
    _yP_1_−_y(0≦x≦1、0≦y≦1)と1n
    _1_−_AGa_AAs_BP_1_−_B(0≦A
    ≦1、0≦B≦1)のヘテロ接合からなり、活性層は1
    .3μm帯あるいは1.55μm帯のInGaAsPで
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導
    体レーザ。
  6. (6)薄膜多層の超格子層をはじめとする上記の各層は
    有機金属気相成長法で形成することを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の半導体レーザ。
JP60083742A 1985-04-19 1985-04-19 半導体レ−ザ Pending JPS61242090A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62291190A (ja) * 1986-06-11 1987-12-17 Fujitsu Ltd 半導体発光装置
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JPH04230090A (ja) * 1990-06-13 1992-08-19 American Teleph & Telegr Co <Att> 半導体レーザからなる製品の製造方法
US5309472A (en) * 1991-06-24 1994-05-03 Sharp Kabushiki Kaisha Semiconductor device and a method for producing the same
US6704335B1 (en) * 1998-12-17 2004-03-09 Seiko Epson Corporation Light-emitting device
KR100638819B1 (ko) 2005-05-19 2006-10-27 삼성전기주식회사 광추출효율이 개선된 수직구조 질화물 반도체 발광소자

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