JPS6123813Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6123813Y2 JPS6123813Y2 JP6345078U JP6345078U JPS6123813Y2 JP S6123813 Y2 JPS6123813 Y2 JP S6123813Y2 JP 6345078 U JP6345078 U JP 6345078U JP 6345078 U JP6345078 U JP 6345078U JP S6123813 Y2 JPS6123813 Y2 JP S6123813Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- impedance
- oscillation
- winding
- control winding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 22
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000009774 resonance method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この実用新案は電気的に無接触で被測定回路の
インピーダンス検出を行う為に、磁気的に同一の
磁心を媒介して被測定回路のインピーダンスを、
やはり同一の磁心を媒介してなる帰還発振回路の
発振勢力としてとらえ、この発振勢力を検知して
被測定回路のインピーダンスを検出することを特
徴とするものであつて、その実施例につき図面と
ともに説明すると次の通りである。
インピーダンス検出を行う為に、磁気的に同一の
磁心を媒介して被測定回路のインピーダンスを、
やはり同一の磁心を媒介してなる帰還発振回路の
発振勢力としてとらえ、この発振勢力を検知して
被測定回路のインピーダンスを検出することを特
徴とするものであつて、その実施例につき図面と
ともに説明すると次の通りである。
本考案の構成は第1図に示す通りであつて、同
一の磁心1に、入力巻線2、出力巻線3、および
制御巻線4を巻き、前述の入力巻線2と前述の出
力巻線3と増幅器5とによつて帰還発振器を構成
し、さらに前述の帰還発振器の発振勢力検知器6
を設け、前述の制御巻線4の回路インピーダンス
7の値によつて前述の帰還発振器の発振勢力を制
御し、前述の発振勢力検知器6によつて前述の制
御巻線4の回路インピーダンスを電気的に無接触
で検知することを特徴とするものである。第1図
における制御巻線4の回路インピーダンスZ7、
の大きさと、前述の帰還発振器の発振勢力Aとの
関係を第2図に示す。この図において、aは発振
勢力の遮断領域、bはその遷移領域、cはその飽
和領域を示している。
一の磁心1に、入力巻線2、出力巻線3、および
制御巻線4を巻き、前述の入力巻線2と前述の出
力巻線3と増幅器5とによつて帰還発振器を構成
し、さらに前述の帰還発振器の発振勢力検知器6
を設け、前述の制御巻線4の回路インピーダンス
7の値によつて前述の帰還発振器の発振勢力を制
御し、前述の発振勢力検知器6によつて前述の制
御巻線4の回路インピーダンスを電気的に無接触
で検知することを特徴とするものである。第1図
における制御巻線4の回路インピーダンスZ7、
の大きさと、前述の帰還発振器の発振勢力Aとの
関係を第2図に示す。この図において、aは発振
勢力の遮断領域、bはその遷移領域、cはその飽
和領域を示している。
まず、第2図の遷移領域bをとつて実施例を述
べる。従来、インピーダンスを測定する方法とし
て共振法やインピーダンスブリツジ法などがある
が、これらはいずれも回路構成が複雑となつたり
面倒な計算を必要としたりする傾向があつた。
べる。従来、インピーダンスを測定する方法とし
て共振法やインピーダンスブリツジ法などがある
が、これらはいずれも回路構成が複雑となつたり
面倒な計算を必要としたりする傾向があつた。
ところが、第1図に示す本考案によれば、従来
の面倒が軽減され、容易にインピーダンスの大き
さを検出することが可能となる。第2図の遷移領
域bにおいては、kを比例定数として Z≒kA が成り立つ。従つて第1図において発振勢力を検
知することにより、制御巻線4の回路インピーダ
ンス7をリニアに直続することができる。特に制
御巻線4に接続する外部回路の被測定インピーダ
ンスが、制御巻線4のインピーダンスに比較して
十分大きければ、測定値はそのまま前述の外部回
路の被測定インピーダンスとみなすことができ
る。第3図はこの実施回路例である。この図にお
いて8は電源、9は発振周波数制御コンデンサ
ー、11は増幅用トランジスタ、12は直流阻止
用コンデンサ、13,14はバイアス抵抗であ
る。ここでは発振勢力検知器6、すなわちインピ
ーダンス検知器として交流電圧計(または電流
計)を用いた場合を示している。無論、前述の発
振勢力検知器は整流検知器と直流電圧計(または
電流計)などを用いても差しつかえない。こうし
てこの考案によれば従来の面倒が軽減され、電気
的に無接触でインピーダンスの大きさを検出する
ことが可能となる。
の面倒が軽減され、容易にインピーダンスの大き
さを検出することが可能となる。第2図の遷移領
域bにおいては、kを比例定数として Z≒kA が成り立つ。従つて第1図において発振勢力を検
知することにより、制御巻線4の回路インピーダ
ンス7をリニアに直続することができる。特に制
御巻線4に接続する外部回路の被測定インピーダ
ンスが、制御巻線4のインピーダンスに比較して
十分大きければ、測定値はそのまま前述の外部回
路の被測定インピーダンスとみなすことができ
る。第3図はこの実施回路例である。この図にお
いて8は電源、9は発振周波数制御コンデンサ
ー、11は増幅用トランジスタ、12は直流阻止
用コンデンサ、13,14はバイアス抵抗であ
る。ここでは発振勢力検知器6、すなわちインピ
ーダンス検知器として交流電圧計(または電流
計)を用いた場合を示している。無論、前述の発
振勢力検知器は整流検知器と直流電圧計(または
電流計)などを用いても差しつかえない。こうし
てこの考案によれば従来の面倒が軽減され、電気
的に無接触でインピーダンスの大きさを検出する
ことが可能となる。
次に第2図の遮断領域aから、飽和領域cまで
をとつて実施例を述べる。この場合、第1図の制
御巻線4の回路インピーダンス7の変化によつて
発振勢力が前述の遮断領域aから遷移領域bを経
て飽和領域cまで変化する。ここで遮断領域aを
論理“0”(または“1”)、飽和領域cを論理
“1”(または“0”)とすれば、前述の制御巻線
4の回路インピーダンス7の変化を通じてその回
路インピーダンス状態を電気的に無接触てオン・
オフ検知、すなわちデイジタル的に検知すること
が可能となる。ところで、回路電圧V、電流Iと
インピーダンスZとは Z=V/I の関係にあるから、被測定回路の電圧Vと電流I
を知ればその回路のインピーダンスZの状態を知
ることができる。
をとつて実施例を述べる。この場合、第1図の制
御巻線4の回路インピーダンス7の変化によつて
発振勢力が前述の遮断領域aから遷移領域bを経
て飽和領域cまで変化する。ここで遮断領域aを
論理“0”(または“1”)、飽和領域cを論理
“1”(または“0”)とすれば、前述の制御巻線
4の回路インピーダンス7の変化を通じてその回
路インピーダンス状態を電気的に無接触てオン・
オフ検知、すなわちデイジタル的に検知すること
が可能となる。ところで、回路電圧V、電流Iと
インピーダンスZとは Z=V/I の関係にあるから、被測定回路の電圧Vと電流I
を知ればその回路のインピーダンスZの状態を知
ることができる。
従来、この電流を検出する手段として、回路の
一部にその電流によつて生じる磁界をホール素子
や磁気抵抗素子で検知する方法がある。然しなが
らこれらの感応素子は回路電流が特に大きいとき
すなわち強磁界下では単体で使用可能であるが、
通常使用される弱ないし中磁界下では透磁率の大
きい磁心の一部に空隙を設けて、そこへ前述の感
応素子を挿入し感度を補つていた。従つて硬い磁
性材料を加工したり、また機械的強度も空隙のな
い磁心に較べて劣るなどの欠点があつた。
一部にその電流によつて生じる磁界をホール素子
や磁気抵抗素子で検知する方法がある。然しなが
らこれらの感応素子は回路電流が特に大きいとき
すなわち強磁界下では単体で使用可能であるが、
通常使用される弱ないし中磁界下では透磁率の大
きい磁心の一部に空隙を設けて、そこへ前述の感
応素子を挿入し感度を補つていた。従つて硬い磁
性材料を加工したり、また機械的強度も空隙のな
い磁心に較べて劣るなどの欠点があつた。
ところが第1図に示す本考案によれば、前述の
電流検知によるインピーダンスの検出を行う方法
と同様に磁心を用いるのであるが、ホール素子や
磁気抵抗素子が不要になるばかりでなく、透磁率
の大きい磁性材料を空隙を設けるなどの加工なく
そのまま使用することができる。従つて磁気的に
安定であり、機械的強度も保たれ、磁気抵抗も低
くできるので前述の磁心1の巻線の空間形状のバ
ラツキによる影響もほとんどなく、電気的に無接
触でインピーダンスの高低状態の測定が可能であ
る。
電流検知によるインピーダンスの検出を行う方法
と同様に磁心を用いるのであるが、ホール素子や
磁気抵抗素子が不要になるばかりでなく、透磁率
の大きい磁性材料を空隙を設けるなどの加工なく
そのまま使用することができる。従つて磁気的に
安定であり、機械的強度も保たれ、磁気抵抗も低
くできるので前述の磁心1の巻線の空間形状のバ
ラツキによる影響もほとんどなく、電気的に無接
触でインピーダンスの高低状態の測定が可能であ
る。
しかも前述の制御巻線4の被測定回路が直流電
源を含むオン・オフ動作であつても、被測定回路
がオン状態においては第1図の発振勢力は前述の
遮断領域aにあるので、本考案のインピーダンス
検出装置が被測定回路に与える影響は前述の制御
巻線4(磁心を貫通させるだけでもよい)の直流
抵抗値のみである。逆に被測定回路がオフ状態・
すなわち開路状態においては前述の発振勢力は前
述の飽和領域cにあるが、制御巻線回路が開いて
いるので前述の発振勢力は前述の制御巻線回路に
影響を及ぼさない。従つて被測定回路がオン・オ
フいずれの状態にあつても本考案のインピーダン
ス検出回路が被測定回路に与える影響は皆無に近
い。
源を含むオン・オフ動作であつても、被測定回路
がオン状態においては第1図の発振勢力は前述の
遮断領域aにあるので、本考案のインピーダンス
検出装置が被測定回路に与える影響は前述の制御
巻線4(磁心を貫通させるだけでもよい)の直流
抵抗値のみである。逆に被測定回路がオフ状態・
すなわち開路状態においては前述の発振勢力は前
述の飽和領域cにあるが、制御巻線回路が開いて
いるので前述の発振勢力は前述の制御巻線回路に
影響を及ぼさない。従つて被測定回路がオン・オ
フいずれの状態にあつても本考案のインピーダン
ス検出回路が被測定回路に与える影響は皆無に近
い。
他方、前述の被測定回路が交流電源を含むオ
ン・オフ動作回路であつても、前述の制御巻線4
のインピーダンスが問題とならないほど小さけれ
ば前述の直流電源の場合と同様に被測定回路に与
える影響は無視できる。
ン・オフ動作回路であつても、前述の制御巻線4
のインピーダンスが問題とならないほど小さけれ
ば前述の直流電源の場合と同様に被測定回路に与
える影響は無視できる。
第4図は第2図の遮断領域aから飽和領域cま
でをとつて具体化した回路例であり、ランプの寿
命測定器として応用した場合を示している。第4
図において10は電源、15は直流阻止用コンデ
ンサー、16,17,18は検波整流回路、19
は増幅トランジスター、20は出力用リレーであ
る。ランプ寿命のように負荷寿命が印加電圧の僅
かな変化によつて1012〜1013倍という大きな影響
を受けるときには、電源と被測定回路の間に電気
的に挿入されて被測定回路に影響を与えるものは
全く存在しないことが望ましい。従来はメータ・
リレーや低抵抗を回路の一部に挿入したり、感温
素子や感光素子を近づけて回路状態を検知してい
たが、それぞれ被測定回路に影響を及ぼしたり、
高価であつたり応答速度や周囲の光雑音等の問題
があつた。ところが本考案によれば前述の問題を
すべて解決することができ、被測定回路にほとん
ど影響なく、低価格で高速応答、広い有効温度領
域、光雑音の影響皆無などの利点を活用すること
ができる。
でをとつて具体化した回路例であり、ランプの寿
命測定器として応用した場合を示している。第4
図において10は電源、15は直流阻止用コンデ
ンサー、16,17,18は検波整流回路、19
は増幅トランジスター、20は出力用リレーであ
る。ランプ寿命のように負荷寿命が印加電圧の僅
かな変化によつて1012〜1013倍という大きな影響
を受けるときには、電源と被測定回路の間に電気
的に挿入されて被測定回路に影響を与えるものは
全く存在しないことが望ましい。従来はメータ・
リレーや低抵抗を回路の一部に挿入したり、感温
素子や感光素子を近づけて回路状態を検知してい
たが、それぞれ被測定回路に影響を及ぼしたり、
高価であつたり応答速度や周囲の光雑音等の問題
があつた。ところが本考案によれば前述の問題を
すべて解決することができ、被測定回路にほとん
ど影響なく、低価格で高速応答、広い有効温度領
域、光雑音の影響皆無などの利点を活用すること
ができる。
第1図は本考案の磁気式帰還発振型無接触イン
ピーダンス検出装置の構成図、第2図はその制御
巻線の回路インピーダンスZと帰還発振回路の発
振勢力Aとの関係図、第3図は第2図の遷移領域
bを用いたリニア的な実施回路例、第4図は第2
図の遮断領域aから飽和領域cまでを用いたデイ
ジタル的な実施回路例。
ピーダンス検出装置の構成図、第2図はその制御
巻線の回路インピーダンスZと帰還発振回路の発
振勢力Aとの関係図、第3図は第2図の遷移領域
bを用いたリニア的な実施回路例、第4図は第2
図の遮断領域aから飽和領域cまでを用いたデイ
ジタル的な実施回路例。
Claims (1)
- 同一の磁心に、入力巻線、出力巻線、および制
御巻線を巻き、前述の入力巻線と前述の出力巻線
と増幅器とによつて帰還発振器を構成し、さらに
前述の帰還発振器の発振勢力検知器を設け、前述
の制御巻線の回路インピーダンスの値によつて前
述の帰還発振器の発振勢力を制御し、前述の発振
勢力検知器によつて前述の制御巻線の回路インピ
ーダンスを電気的に無接触で検知することを特徴
とする磁気式帰還発振型無接触インピーダンス検
出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6345078U JPS6123813Y2 (ja) | 1978-05-12 | 1978-05-12 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6345078U JPS6123813Y2 (ja) | 1978-05-12 | 1978-05-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54166377U JPS54166377U (ja) | 1979-11-22 |
JPS6123813Y2 true JPS6123813Y2 (ja) | 1986-07-16 |
Family
ID=28966643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6345078U Expired JPS6123813Y2 (ja) | 1978-05-12 | 1978-05-12 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6123813Y2 (ja) |
-
1978
- 1978-05-12 JP JP6345078U patent/JPS6123813Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54166377U (ja) | 1979-11-22 |
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