JPS61226619A - 積分球を用いる分光光度計 - Google Patents
積分球を用いる分光光度計Info
- Publication number
- JPS61226619A JPS61226619A JP6802785A JP6802785A JPS61226619A JP S61226619 A JPS61226619 A JP S61226619A JP 6802785 A JP6802785 A JP 6802785A JP 6802785 A JP6802785 A JP 6802785A JP S61226619 A JPS61226619 A JP S61226619A
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- Japan
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- sample
- light
- flux
- photometric
- integrating sphere
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
光測定も行えるようにした二光束分光光度計に関する。
口 従来技術
分光光度計で積分球装置を用いて透明試料の透過光測定
或は任意試料の反射光測定を行う場合、積分球装置は高
価であるから、−個の積分球によって透過光も反射光も
測定できるようにすることが望まれる。
或は任意試料の反射光測定を行う場合、積分球装置は高
価であるから、−個の積分球によって透過光も反射光も
測定できるようにすることが望まれる。
光光度計の参照光束、Sは同じく試料光束であり、積分
球Iには参照光入射窓Wrと試料光入射窓Ws1反射光
測定のための試料をセットする窓Wd。
球Iには参照光入射窓Wrと試料光入射窓Ws1反射光
測定のための試料をセットする窓Wd。
標準反射板をセットする窓wb及び測定光取出窓Wmの
5個の窓が設けられている。反射光測定の場合、窓Wd
に被測定試料をセットし、窓wbにかれる。wbは単に
反射光測定の場合の標準反射板セット用だけでなく透過
光測定の場合、試料光と参照光とを光学的に同一条件に
するのにも役立つている。
5個の窓が設けられている。反射光測定の場合、窓Wd
に被測定試料をセットし、窓wbにかれる。wbは単に
反射光測定の場合の標準反射板セット用だけでなく透過
光測定の場合、試料光と参照光とを光学的に同一条件に
するのにも役立つている。
このような積分球を用いて透過光測定を行う場合、試料
を置かないで試料光の測定を行って100%透過率の測
定出力を求めておき、次に試料を置いて試料透過光の測
定を行う。こ\で試料が平行平面板のようなものである
ときは、試料光束は試料を直進透過して窓Wdにセット
された反射標準板に入射するので、積分球内での試料光
の条件は100%透過率を測定するときと同じになり誤
差は生じない。所が図のようにレンズのような試料りの
透過率測定を行うような場合、100%透過率測定時に
は試料光束は積分球の窓Wdにセットされた反射標準板
にだけ直接入射するが、試料透過光束は図のように一旦
収束した後発散するので、試料透過光は積分球内で一部
が窓Wdにセットされた反射標準板に入射し、一部が窓
Wdの緑に光って反射され、残部は積分球内壁面に入射
する。所が積分球内壁面と窓Wdにセットされた反射標
準板とでは反射率が異るので試料透過光の一部が積分球
内壁面基こ入射することは誤差の原因となる。例えば積
分球内壁面の方が反射標準板より反射率が低い場合、見
掛上100%透過率に対する試料の透過率が低く測定さ
れることになる。この反射率の差異は0.5〜2.5%
程度であり経年的にも変化するものである。また窓Wd
にセットされる反射標準板は積分球内壁面の接平面にな
らず、窓Wdの縁には段差があって、この段差の部分に
入射する試料透過光は反射標準板や積分球内壁面におけ
る反射とは非常に異なる反射の仕方をして、これも誤差
の原因になる。上述した現象は試料が向するような試料
でも起るものである。
を置かないで試料光の測定を行って100%透過率の測
定出力を求めておき、次に試料を置いて試料透過光の測
定を行う。こ\で試料が平行平面板のようなものである
ときは、試料光束は試料を直進透過して窓Wdにセット
された反射標準板に入射するので、積分球内での試料光
の条件は100%透過率を測定するときと同じになり誤
差は生じない。所が図のようにレンズのような試料りの
透過率測定を行うような場合、100%透過率測定時に
は試料光束は積分球の窓Wdにセットされた反射標準板
にだけ直接入射するが、試料透過光束は図のように一旦
収束した後発散するので、試料透過光は積分球内で一部
が窓Wdにセットされた反射標準板に入射し、一部が窓
Wdの緑に光って反射され、残部は積分球内壁面に入射
する。所が積分球内壁面と窓Wdにセットされた反射標
準板とでは反射率が異るので試料透過光の一部が積分球
内壁面基こ入射することは誤差の原因となる。例えば積
分球内壁面の方が反射標準板より反射率が低い場合、見
掛上100%透過率に対する試料の透過率が低く測定さ
れることになる。この反射率の差異は0.5〜2.5%
程度であり経年的にも変化するものである。また窓Wd
にセットされる反射標準板は積分球内壁面の接平面にな
らず、窓Wdの縁には段差があって、この段差の部分に
入射する試料透過光は反射標準板や積分球内壁面におけ
る反射とは非常に異なる反射の仕方をして、これも誤差
の原因になる。上述した現象は試料が向するような試料
でも起るものである。
上述した問題は反射光測定専用と透過光測定専は積分球
を用いる測定を行うための用意に大へん費用がか\るこ
とになる。
を用いる測定を行うための用意に大へん費用がか\るこ
とになる。
ハ 発明が解決しようとする問題点
本発明は透過光測定と反射光測定とで積分球装置を共用
する場合において、上述した誤差原因を排除しようとす
るものである。
する場合において、上述した誤差原因を排除しようとす
るものである。
二 問題解決のための手段
第1図に示すように第4図における積分球の窓Wdをな
くシ、測光回路において参照光信号と試料光信号とを交
換可能とした。即ち光束Rに対する測光信号を参照光信
号とし、光束Sに対する測光信号を試料光信号とするか
、光束Rに対する測光信号を試料光信号とし、光束Sに
対する測光信号を参照光信号とするかの切換えを可能と
した。
くシ、測光回路において参照光信号と試料光信号とを交
換可能とした。即ち光束Rに対する測光信号を参照光信
号とし、光束Sに対する測光信号を試料光信号とするか
、光束Rに対する測光信号を試料光信号とし、光束Sに
対する測光信号を参照光信号とするかの切換えを可能と
した。
ホ 作用
透過光測定の場合、第1図に示すように試料光束S中に
試料りを置く。積分球Iにおいて試料光入射窓Wsと反
対側は積分球内壁面であるから、100%透過率測定時
も試料を置いて光束が拡がっている図示の場合も積分球
に入射した試料光の積分球内面反射の条件は同じであり
前述した誤差原因は存在しなくなっている。次に反射光
測定の場合には第2図に示すように窓wbに試料りをセ
ットし、光束Rを試料光、Sを参照光として信号処理を
すればよいのである。
試料りを置く。積分球Iにおいて試料光入射窓Wsと反
対側は積分球内壁面であるから、100%透過率測定時
も試料を置いて光束が拡がっている図示の場合も積分球
に入射した試料光の積分球内面反射の条件は同じであり
前述した誤差原因は存在しなくなっている。次に反射光
測定の場合には第2図に示すように窓wbに試料りをセ
ットし、光束Rを試料光、Sを参照光として信号処理を
すればよいのである。
へ 実施例
第1図乃至第3図に本発明の一実施例を示す。
■は積分球で図は水平断面を示し、二つの光入射窓Ws
とWr及びWrの略反対側に試料をセットする窓wbが
設けられ、積分球の上面に点線で示すように測定先取出
窓Wmが設けられ、このWmから出射した光を受光する
ように受光素子PC第3図参照)が配置されている。第
3図でMはモノクロメータで、モノクロメータ出射光束
はビームスプリッタBSで二元束R,Sに分割され積分
球■に入射せ゛しぬられる。SwはビームスプリッタB
Sの回転と同期して切換え動作を行うスイッチで光束R
が積分球に入射しているタイミングで接点l側に接し、
光束Sが積分球に入射しているタイミングで接点2に接
するようになっている。SCは手1aI12J換えスイ
ッチで図実線矢印のような接続ト点線ノような接続が切
換え選択できるようになっている。そして実線矢印の接
続の場合、光束Rの測光出力はスイッチswから接点1
を経てコンパレータCに入力され、コンパレータCで基
準レベルと比較され、両者の差が高圧発生回路Hに入力
され、Hの出力高圧が受光素子PC光電子増倍管のダイ
ノード)にフィードバックされ、光束Rの測光信号が一
定となるように受光素子Pの感度が制御される。他方光
束Sの測光出力はスイッチSwから接点2を経て信号処
理回路Nに入力される。またスイッチSCを点線で示す
接続状態に切換えると、今度は光束Sの測光出力が一定
となるように受光素子Pの感度制御が行われ、光束Rの
測光出力が信号処理回路Nに入力されることになる。
とWr及びWrの略反対側に試料をセットする窓wbが
設けられ、積分球の上面に点線で示すように測定先取出
窓Wmが設けられ、このWmから出射した光を受光する
ように受光素子PC第3図参照)が配置されている。第
3図でMはモノクロメータで、モノクロメータ出射光束
はビームスプリッタBSで二元束R,Sに分割され積分
球■に入射せ゛しぬられる。SwはビームスプリッタB
Sの回転と同期して切換え動作を行うスイッチで光束R
が積分球に入射しているタイミングで接点l側に接し、
光束Sが積分球に入射しているタイミングで接点2に接
するようになっている。SCは手1aI12J換えスイ
ッチで図実線矢印のような接続ト点線ノような接続が切
換え選択できるようになっている。そして実線矢印の接
続の場合、光束Rの測光出力はスイッチswから接点1
を経てコンパレータCに入力され、コンパレータCで基
準レベルと比較され、両者の差が高圧発生回路Hに入力
され、Hの出力高圧が受光素子PC光電子増倍管のダイ
ノード)にフィードバックされ、光束Rの測光信号が一
定となるように受光素子Pの感度が制御される。他方光
束Sの測光出力はスイッチSwから接点2を経て信号処
理回路Nに入力される。またスイッチSCを点線で示す
接続状態に切換えると、今度は光束Sの測光出力が一定
となるように受光素子Pの感度制御が行われ、光束Rの
測光出力が信号処理回路Nに入力されることになる。
透過率測定
上述した装置で透過率測定を行う場合、第1図には反射
標準板R3をセットしておく。またスイッチSCを第3
図に実線矢印で示す接続に切換えておく。このようにす
ると上述したように光束Rが参照光束となって受光素子
Pの感度制御に作用し、光束Sの測光出力がデータ処理
回路Nに入力される。透過率を求めるにはまず試料りを
置かないで、光束Sを直接積分球■に入射させてそのと
きの光束Sの測光出力を100%透過率Toとし、次に
試料りを置いてそのときの光束Sの測光出力をTsとす
るとζ透過率はTS/TO×100%で与えられる。
標準板R3をセットしておく。またスイッチSCを第3
図に実線矢印で示す接続に切換えておく。このようにす
ると上述したように光束Rが参照光束となって受光素子
Pの感度制御に作用し、光束Sの測光出力がデータ処理
回路Nに入力される。透過率を求めるにはまず試料りを
置かないで、光束Sを直接積分球■に入射させてそのと
きの光束Sの測光出力を100%透過率Toとし、次に
試料りを置いてそのときの光束Sの測光出力をTsとす
るとζ透過率はTS/TO×100%で与えられる。
反射光測定
この場合、スイッチSCを第3図に点線で示す接続に切
換え、窓wbに反射標準板R5と試料りを交互にセット
する。前述したようにスイッチSCを点線で示す接続に
切換えると光束Sが参照光束となって受光素子Pの感度
制御に作用し、光束Rが試料光束となって積分球Iの窓
Wrから入射し、窓wbにセットされた反射標準板R3
或は試料りを照射することになる。
換え、窓wbに反射標準板R5と試料りを交互にセット
する。前述したようにスイッチSCを点線で示す接続に
切換えると光束Sが参照光束となって受光素子Pの感度
制御に作用し、光束Rが試料光束となって積分球Iの窓
Wrから入射し、窓wbにセットされた反射標準板R3
或は試料りを照射することになる。
ト 効果
本発明によれば上述したように一つの積分球を透過光測
定と反射光測定とに共用できて経済的であり、しかも積
分球において透過光測定の場合の試料光入射窓の反対側
には従来例のような窓がないから、誤差原因がなく、試
料透過後の光束が発散したり、偏移或は偏向するような
任意形状の試料、光散乱性の試料でも高精度で透過光の
測定ができる〇 なお上述実施例では光束Rは積分球Iの窓wbの面に対
して斜め入射するように窓Wrが設けられているが、こ
れは垂直入射になるようにしてもよいことは云うまでも
ない。
定と反射光測定とに共用できて経済的であり、しかも積
分球において透過光測定の場合の試料光入射窓の反対側
には従来例のような窓がないから、誤差原因がなく、試
料透過後の光束が発散したり、偏移或は偏向するような
任意形状の試料、光散乱性の試料でも高精度で透過光の
測定ができる〇 なお上述実施例では光束Rは積分球Iの窓wbの面に対
して斜め入射するように窓Wrが設けられているが、こ
れは垂直入射になるようにしてもよいことは云うまでも
ない。
第1図は本発明の一実施例における積分球の透過光測定
モードにおける水平断面、第2図は同じく反射光測定モ
ードにおける水平断面、第3図は同じく全体m成を示す
ブロック図、第4図は従来例における積分球の水平断面
図である。 代理人 弁理士 昧 浩 介第3図
モードにおける水平断面、第2図は同じく反射光測定モ
ードにおける水平断面、第3図は同じく全体m成を示す
ブロック図、第4図は従来例における積分球の水平断面
図である。 代理人 弁理士 昧 浩 介第3図
Claims (1)
- 二光束分光光度計の構成を有し、積分球には同分光光度
計の二光束に対応させて夫々の光束が入射する二つの光
入射窓と、これら二つの光入射窓の一方から入射した光
束が当る位置に反射測定用の試料をセットする窓と、別
の位置に受光素子へ光を取出す窓とを設け、もう一方の
光入射窓から入射した光束が当る部分は積分球内壁面と
するように積分球を構成し、測光回路には上記二光束の
測光信号のうち何れを参照光信号とし何れを試料光信号
とするかの切換え手段を設けたことを特徴とする積分球
を用いる分光光度計
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6802785A JPH0650261B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 積分球を用いる分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6802785A JPH0650261B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 積分球を用いる分光光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61226619A true JPS61226619A (ja) | 1986-10-08 |
JPH0650261B2 JPH0650261B2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=13361916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6802785A Expired - Lifetime JPH0650261B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 積分球を用いる分光光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0650261B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62113033A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Shimadzu Corp | 複光束分光光度計 |
JP2006138793A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Jasco Corp | 角度可変測定装置 |
JP5406402B1 (ja) * | 2013-04-24 | 2014-02-05 | 日本分光株式会社 | 積分球、および、透過光の測定方法 |
-
1985
- 1985-03-31 JP JP6802785A patent/JPH0650261B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62113033A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Shimadzu Corp | 複光束分光光度計 |
JP2006138793A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Jasco Corp | 角度可変測定装置 |
JP4545559B2 (ja) * | 2004-11-15 | 2010-09-15 | 日本分光株式会社 | 角度可変測定装置 |
JP5406402B1 (ja) * | 2013-04-24 | 2014-02-05 | 日本分光株式会社 | 積分球、および、透過光の測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0650261B2 (ja) | 1994-06-29 |
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