JPS61226619A - 積分球を用いる分光光度計 - Google Patents
積分球を用いる分光光度計Info
- Publication number
- JPS61226619A JPS61226619A JP6802785A JP6802785A JPS61226619A JP S61226619 A JPS61226619 A JP S61226619A JP 6802785 A JP6802785 A JP 6802785A JP 6802785 A JP6802785 A JP 6802785A JP S61226619 A JPS61226619 A JP S61226619A
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- JP
- Japan
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- sample
- light
- flux
- photometric
- integrating sphere
- Prior art date
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
光測定も行えるようにした二光束分光光度計に関する。
口 従来技術
分光光度計で積分球装置を用いて透明試料の透過光測定
或は任意試料の反射光測定を行う場合、積分球装置は高
価であるから、−個の積分球によって透過光も反射光も
測定できるようにすることが望まれる。
或は任意試料の反射光測定を行う場合、積分球装置は高
価であるから、−個の積分球によって透過光も反射光も
測定できるようにすることが望まれる。
光光度計の参照光束、Ｓは同じく試料光束であり、積分
球Ｉには参照光入射窓Ｗｒと試料光入射窓Ｗｓ１反射光
測定のための試料をセットする窓Ｗｄ。
球Ｉには参照光入射窓Ｗｒと試料光入射窓Ｗｓ１反射光
測定のための試料をセットする窓Ｗｄ。
標準反射板をセットする窓ｗｂ及び測定光取出窓Ｗｍの
５個の窓が設けられている。反射光測定の場合、窓Ｗｄ
に被測定試料をセットし、窓ｗｂにかれる。ｗｂは単に
反射光測定の場合の標準反射板セット用だけでなく透過
光測定の場合、試料光と参照光とを光学的に同一条件に
するのにも役立つている。
５個の窓が設けられている。反射光測定の場合、窓Ｗｄ
に被測定試料をセットし、窓ｗｂにかれる。ｗｂは単に
反射光測定の場合の標準反射板セット用だけでなく透過
光測定の場合、試料光と参照光とを光学的に同一条件に
するのにも役立つている。
このような積分球を用いて透過光測定を行う場合、試料
を置かないで試料光の測定を行って１００％透過率の測
定出力を求めておき、次に試料を置いて試料透過光の測
定を行う。こ＼で試料が平行平面板のようなものである
ときは、試料光束は試料を直進透過して窓Ｗｄにセット
された反射標準板に入射するので、積分球内での試料光
の条件は１００％透過率を測定するときと同じになり誤
差は生じない。所が図のようにレンズのような試料りの
透過率測定を行うような場合、１００％透過率測定時に
は試料光束は積分球の窓Ｗｄにセットされた反射標準板
にだけ直接入射するが、試料透過光束は図のように一旦
収束した後発散するので、試料透過光は積分球内で一部
が窓Ｗｄにセットされた反射標準板に入射し、一部が窓
Ｗｄの緑に光って反射され、残部は積分球内壁面に入射
する。所が積分球内壁面と窓Ｗｄにセットされた反射標
準板とでは反射率が異るので試料透過光の一部が積分球
内壁面基こ入射することは誤差の原因となる。例えば積
分球内壁面の方が反射標準板より反射率が低い場合、見
掛上１００％透過率に対する試料の透過率が低く測定さ
れることになる。この反射率の差異は０．５〜２．５％
程度であり経年的にも変化するものである。また窓Ｗｄ
にセットされる反射標準板は積分球内壁面の接平面にな
らず、窓Ｗｄの縁には段差があって、この段差の部分に
入射する試料透過光は反射標準板や積分球内壁面におけ
る反射とは非常に異なる反射の仕方をして、これも誤差
の原因になる。上述した現象は試料が向するような試料
でも起るものである。
を置かないで試料光の測定を行って１００％透過率の測
定出力を求めておき、次に試料を置いて試料透過光の測
定を行う。こ＼で試料が平行平面板のようなものである
ときは、試料光束は試料を直進透過して窓Ｗｄにセット
された反射標準板に入射するので、積分球内での試料光
の条件は１００％透過率を測定するときと同じになり誤
差は生じない。所が図のようにレンズのような試料りの
透過率測定を行うような場合、１００％透過率測定時に
は試料光束は積分球の窓Ｗｄにセットされた反射標準板
にだけ直接入射するが、試料透過光束は図のように一旦
収束した後発散するので、試料透過光は積分球内で一部
が窓Ｗｄにセットされた反射標準板に入射し、一部が窓
Ｗｄの緑に光って反射され、残部は積分球内壁面に入射
する。所が積分球内壁面と窓Ｗｄにセットされた反射標
準板とでは反射率が異るので試料透過光の一部が積分球
内壁面基こ入射することは誤差の原因となる。例えば積
分球内壁面の方が反射標準板より反射率が低い場合、見
掛上１００％透過率に対する試料の透過率が低く測定さ
れることになる。この反射率の差異は０．５〜２．５％
程度であり経年的にも変化するものである。また窓Ｗｄ
にセットされる反射標準板は積分球内壁面の接平面にな
らず、窓Ｗｄの縁には段差があって、この段差の部分に
入射する試料透過光は反射標準板や積分球内壁面におけ
る反射とは非常に異なる反射の仕方をして、これも誤差
の原因になる。上述した現象は試料が向するような試料
でも起るものである。
上述した問題は反射光測定専用と透過光測定専は積分球
を用いる測定を行うための用意に大へん費用がか＼るこ
とになる。
を用いる測定を行うための用意に大へん費用がか＼るこ
とになる。
ハ 発明が解決しようとする問題点
本発明は透過光測定と反射光測定とで積分球装置を共用
する場合において、上述した誤差原因を排除しようとす
るものである。
する場合において、上述した誤差原因を排除しようとす
るものである。
二 問題解決のための手段
第１図に示すように第４図における積分球の窓Ｗｄをな
くシ、測光回路において参照光信号と試料光信号とを交
換可能とした。即ち光束Ｒに対する測光信号を参照光信
号とし、光束Ｓに対する測光信号を試料光信号とするか
、光束Ｒに対する測光信号を試料光信号とし、光束Ｓに
対する測光信号を参照光信号とするかの切換えを可能と
した。
くシ、測光回路において参照光信号と試料光信号とを交
換可能とした。即ち光束Ｒに対する測光信号を参照光信
号とし、光束Ｓに対する測光信号を試料光信号とするか
、光束Ｒに対する測光信号を試料光信号とし、光束Ｓに
対する測光信号を参照光信号とするかの切換えを可能と
した。
ホ 作用
透過光測定の場合、第１図に示すように試料光束Ｓ中に
試料りを置く。積分球Ｉにおいて試料光入射窓Ｗｓと反
対側は積分球内壁面であるから、１００％透過率測定時
も試料を置いて光束が拡がっている図示の場合も積分球
に入射した試料光の積分球内面反射の条件は同じであり
前述した誤差原因は存在しなくなっている。次に反射光
測定の場合には第２図に示すように窓ｗｂに試料りをセ
ットし、光束Ｒを試料光、Ｓを参照光として信号処理を
すればよいのである。
試料りを置く。積分球Ｉにおいて試料光入射窓Ｗｓと反
対側は積分球内壁面であるから、１００％透過率測定時
も試料を置いて光束が拡がっている図示の場合も積分球
に入射した試料光の積分球内面反射の条件は同じであり
前述した誤差原因は存在しなくなっている。次に反射光
測定の場合には第２図に示すように窓ｗｂに試料りをセ
ットし、光束Ｒを試料光、Ｓを参照光として信号処理を
すればよいのである。
へ 実施例
第１図乃至第３図に本発明の一実施例を示す。
■は積分球で図は水平断面を示し、二つの光入射窓Ｗｓ
とＷｒ及びＷｒの略反対側に試料をセットする窓ｗｂが
設けられ、積分球の上面に点線で示すように測定先取出
窓Ｗｍが設けられ、このＷｍから出射した光を受光する
ように受光素子ＰＣ第３図参照）が配置されている。第
３図でＭはモノクロメータで、モノクロメータ出射光束
はビームスプリッタＢＳで二元束Ｒ，Ｓに分割され積分
球■に入射せ゛しぬられる。ＳｗはビームスプリッタＢ
Ｓの回転と同期して切換え動作を行うスイッチで光束Ｒ
が積分球に入射しているタイミングで接点ｌ側に接し、
光束Ｓが積分球に入射しているタイミングで接点２に接
するようになっている。ＳＣは手１ａＩ１２Ｊ換えスイ
ッチで図実線矢印のような接続ト点線ノような接続が切
換え選択できるようになっている。そして実線矢印の接
続の場合、光束Ｒの測光出力はスイッチｓｗから接点１
を経てコンパレータＣに入力され、コンパレータＣで基
準レベルと比較され、両者の差が高圧発生回路Ｈに入力
され、Ｈの出力高圧が受光素子ＰＣ光電子増倍管のダイ
ノード）にフィードバックされ、光束Ｒの測光信号が一
定となるように受光素子Ｐの感度が制御される。他方光
束Ｓの測光出力はスイッチＳｗから接点２を経て信号処
理回路Ｎに入力される。またスイッチＳＣを点線で示す
接続状態に切換えると、今度は光束Ｓの測光出力が一定
となるように受光素子Ｐの感度制御が行われ、光束Ｒの
測光出力が信号処理回路Ｎに入力されることになる。
とＷｒ及びＷｒの略反対側に試料をセットする窓ｗｂが
設けられ、積分球の上面に点線で示すように測定先取出
窓Ｗｍが設けられ、このＷｍから出射した光を受光する
ように受光素子ＰＣ第３図参照）が配置されている。第
３図でＭはモノクロメータで、モノクロメータ出射光束
はビームスプリッタＢＳで二元束Ｒ，Ｓに分割され積分
球■に入射せ゛しぬられる。ＳｗはビームスプリッタＢ
Ｓの回転と同期して切換え動作を行うスイッチで光束Ｒ
が積分球に入射しているタイミングで接点ｌ側に接し、
光束Ｓが積分球に入射しているタイミングで接点２に接
するようになっている。ＳＣは手１ａＩ１２Ｊ換えスイ
ッチで図実線矢印のような接続ト点線ノような接続が切
換え選択できるようになっている。そして実線矢印の接
続の場合、光束Ｒの測光出力はスイッチｓｗから接点１
を経てコンパレータＣに入力され、コンパレータＣで基
準レベルと比較され、両者の差が高圧発生回路Ｈに入力
され、Ｈの出力高圧が受光素子ＰＣ光電子増倍管のダイ
ノード）にフィードバックされ、光束Ｒの測光信号が一
定となるように受光素子Ｐの感度が制御される。他方光
束Ｓの測光出力はスイッチＳｗから接点２を経て信号処
理回路Ｎに入力される。またスイッチＳＣを点線で示す
接続状態に切換えると、今度は光束Ｓの測光出力が一定
となるように受光素子Ｐの感度制御が行われ、光束Ｒの
測光出力が信号処理回路Ｎに入力されることになる。
透過率測定
上述した装置で透過率測定を行う場合、第１図には反射
標準板Ｒ３をセットしておく。またスイッチＳＣを第３
図に実線矢印で示す接続に切換えておく。このようにす
ると上述したように光束Ｒが参照光束となって受光素子
Ｐの感度制御に作用し、光束Ｓの測光出力がデータ処理
回路Ｎに入力される。透過率を求めるにはまず試料りを
置かないで、光束Ｓを直接積分球■に入射させてそのと
きの光束Ｓの測光出力を１００％透過率Ｔｏとし、次に
試料りを置いてそのときの光束Ｓの測光出力をＴｓとす
るとζ透過率はＴＳ／ＴＯ×１００％で与えられる。
標準板Ｒ３をセットしておく。またスイッチＳＣを第３
図に実線矢印で示す接続に切換えておく。このようにす
ると上述したように光束Ｒが参照光束となって受光素子
Ｐの感度制御に作用し、光束Ｓの測光出力がデータ処理
回路Ｎに入力される。透過率を求めるにはまず試料りを
置かないで、光束Ｓを直接積分球■に入射させてそのと
きの光束Ｓの測光出力を１００％透過率Ｔｏとし、次に
試料りを置いてそのときの光束Ｓの測光出力をＴｓとす
るとζ透過率はＴＳ／ＴＯ×１００％で与えられる。
反射光測定
この場合、スイッチＳＣを第３図に点線で示す接続に切
換え、窓ｗｂに反射標準板Ｒ５と試料りを交互にセット
する。前述したようにスイッチＳＣを点線で示す接続に
切換えると光束Ｓが参照光束となって受光素子Ｐの感度
制御に作用し、光束Ｒが試料光束となって積分球Ｉの窓
Ｗｒから入射し、窓ｗｂにセットされた反射標準板Ｒ３
或は試料りを照射することになる。
換え、窓ｗｂに反射標準板Ｒ５と試料りを交互にセット
する。前述したようにスイッチＳＣを点線で示す接続に
切換えると光束Ｓが参照光束となって受光素子Ｐの感度
制御に作用し、光束Ｒが試料光束となって積分球Ｉの窓
Ｗｒから入射し、窓ｗｂにセットされた反射標準板Ｒ３
或は試料りを照射することになる。
ト 効果
本発明によれば上述したように一つの積分球を透過光測
定と反射光測定とに共用できて経済的であり、しかも積
分球において透過光測定の場合の試料光入射窓の反対側
には従来例のような窓がないから、誤差原因がなく、試
料透過後の光束が発散したり、偏移或は偏向するような
任意形状の試料、光散乱性の試料でも高精度で透過光の
測定ができる〇 なお上述実施例では光束Ｒは積分球Ｉの窓ｗｂの面に対
して斜め入射するように窓Ｗｒが設けられているが、こ
れは垂直入射になるようにしてもよいことは云うまでも
ない。
定と反射光測定とに共用できて経済的であり、しかも積
分球において透過光測定の場合の試料光入射窓の反対側
には従来例のような窓がないから、誤差原因がなく、試
料透過後の光束が発散したり、偏移或は偏向するような
任意形状の試料、光散乱性の試料でも高精度で透過光の
測定ができる〇 なお上述実施例では光束Ｒは積分球Ｉの窓ｗｂの面に対
して斜め入射するように窓Ｗｒが設けられているが、こ
れは垂直入射になるようにしてもよいことは云うまでも
ない。
第１図は本発明の一実施例における積分球の透過光測定
モードにおける水平断面、第２図は同じく反射光測定モ
ードにおける水平断面、第３図は同じく全体ｍ成を示す
ブロック図、第４図は従来例における積分球の水平断面
図である。 代理人 弁理士 昧 浩 介第３図
モードにおける水平断面、第２図は同じく反射光測定モ
ードにおける水平断面、第３図は同じく全体ｍ成を示す
ブロック図、第４図は従来例における積分球の水平断面
図である。 代理人 弁理士 昧 浩 介第３図
Claims (1)
- 二光束分光光度計の構成を有し、積分球には同分光光度
計の二光束に対応させて夫々の光束が入射する二つの光
入射窓と、これら二つの光入射窓の一方から入射した光
束が当る位置に反射測定用の試料をセットする窓と、別
の位置に受光素子へ光を取出す窓とを設け、もう一方の
光入射窓から入射した光束が当る部分は積分球内壁面と
するように積分球を構成し、測光回路には上記二光束の
測光信号のうち何れを参照光信号とし何れを試料光信号
とするかの切換え手段を設けたことを特徴とする積分球
を用いる分光光度計
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6802785A JPH0650261B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 積分球を用いる分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6802785A JPH0650261B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 積分球を用いる分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61226619A true JPS61226619A (ja) | 1986-10-08 |
| JPH0650261B2 JPH0650261B2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=13361916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6802785A Expired - Lifetime JPH0650261B2 (ja) | 1985-03-31 | 1985-03-31 | 積分球を用いる分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0650261B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62113033A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Shimadzu Corp | 複光束分光光度計 |
| JP2006138793A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Jasco Corp | 角度可変測定装置 |
| JP5406402B1 (ja) * | 2013-04-24 | 2014-02-05 | 日本分光株式会社 | 積分球、および、透過光の測定方法 |
-
1985
- 1985-03-31 JP JP6802785A patent/JPH0650261B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62113033A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Shimadzu Corp | 複光束分光光度計 |
| JP2006138793A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Jasco Corp | 角度可変測定装置 |
| JP4545559B2 (ja) * | 2004-11-15 | 2010-09-15 | 日本分光株式会社 | 角度可変測定装置 |
| JP5406402B1 (ja) * | 2013-04-24 | 2014-02-05 | 日本分光株式会社 | 積分球、および、透過光の測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0650261B2 (ja) | 1994-06-29 |
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