JPS61217777A - Ｉｃ自動検査装置 - Google Patents
Ｉｃ自動検査装置Info
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- JPS61217777A JPS61217777A JP60058174A JP5817485A JPS61217777A JP S61217777 A JPS61217777 A JP S61217777A JP 60058174 A JP60058174 A JP 60058174A JP 5817485 A JP5817485 A JP 5817485A JP S61217777 A JPS61217777 A JP S61217777A
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- measuring device
- offset adjustment
- switch
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、電話機の受話レベル調整等に用いられるア
ナログＩＣのように、検査に先立ってオフセット調整や
バイアス調整などの電気的前提条件付与を行う必要がろ
るＩＣの自動検査装置の改良に関する。
ナログＩＣのように、検査に先立ってオフセット調整や
バイアス調整などの電気的前提条件付与を行う必要がろ
るＩＣの自動検査装置の改良に関する。
従来、オフセット調整が必要なＩＣＩを検査する装置と
しては、第８図のような検査装置が知られている。上記
工Ｃ１は、人手によりてＩＣソケット２に着脱される。
しては、第８図のような検査装置が知られている。上記
工Ｃ１は、人手によりてＩＣソケット２に着脱される。
ＩＣソケット２には、ＩＣ１の特性測定用の測定器３と
、ＩＣに電力を与える電源４と、オフセット８１４Ｍ！
用のボリウム５と、オフセット調整時に使用するレベル
計６とが接続されている。
、ＩＣに電力を与える電源４と、オフセット８１４Ｍ！
用のボリウム５と、オフセット調整時に使用するレベル
計６とが接続されている。
ＩＣＩの検査を行うときには、ＩＣソケット２にＩＣ１
ｆｔ装着し、電源４により電力を供給する。しかる後に
、ボリウム５を操作してレベル計６ｔ−目視しながら、
オフセット調整を行う。このオフセット調整が完了する
と、測定器３を用いてＩＣＩの特性測定を行う。
ｆｔ装着し、電源４により電力を供給する。しかる後に
、ボリウム５を操作してレベル計６ｔ−目視しながら、
オフセット調整を行う。このオフセット調整が完了する
と、測定器３を用いてＩＣＩの特性測定を行う。
従来の検査装置では、オフセット調整を人手によって行
なっていた九め、この調整時には測定器３によるＩＣＩ
の特性測定が行えず、高価な測定器の稼動率が低くなっ
ているという問題があった。
なっていた九め、この調整時には測定器３によるＩＣＩ
の特性測定が行えず、高価な測定器の稼動率が低くなっ
ているという問題があった。
本発明は、上記のような従来のＩＣ検査装置の欠点に鑑
みてなされたもので、その目的は、オフセラ）Ｍ整等の
ような電気的前提条件付与による時間ロスを抑制し、測
定器の稼動率を高め、全体として高速でＩＣ検査を可能
としたＩＣ自動検査装置を提供することである。
みてなされたもので、その目的は、オフセラ）Ｍ整等の
ような電気的前提条件付与による時間ロスを抑制し、測
定器の稼動率を高め、全体として高速でＩＣ検査を可能
としたＩＣ自動検査装置を提供することである。
そこで本発明では、検査に先立って電気的前提条件付与
を行う必要がるるＩＣがセットされる複数のＩＣソケッ
トと、このＩＣソケットにセットされたＩＣの特性測定
を行う測定器と、上記ＩＣソケットにセットされたＩＣ
の電気的前提条件付与を行う条件付与部と、工Ｃソケ、
トにセットされているＩＣの検査信号を上記測定器へ切
換伝達する切換器と、ＩＣがＩＣソケットにセットされ
ると上記条件付与部に電気的前提条件付与を行わせた後
、この電気的前提条件付与が終了したＩＣの特性測定を
上記測定器で可能となるように上記切換器を制御する制
御部とを具備させてＩＣ自動検査湊装を構成し、上記目
的を達成し友ものである。
を行う必要がるるＩＣがセットされる複数のＩＣソケッ
トと、このＩＣソケットにセットされたＩＣの特性測定
を行う測定器と、上記ＩＣソケットにセットされたＩＣ
の電気的前提条件付与を行う条件付与部と、工Ｃソケ、
トにセットされているＩＣの検査信号を上記測定器へ切
換伝達する切換器と、ＩＣがＩＣソケットにセットされ
ると上記条件付与部に電気的前提条件付与を行わせた後
、この電気的前提条件付与が終了したＩＣの特性測定を
上記測定器で可能となるように上記切換器を制御する制
御部とを具備させてＩＣ自動検査湊装を構成し、上記目
的を達成し友ものである。
渠１図は、２ｔ１：発明の一実施例を示している。同図
において、１００はＩＣ供給回収装置を示し、２００は
ＩＣ自ＩｉＪ検査装置を示す。ＩＣ供給回収装置１００
は、検査すべ！ＩＣｔｌ−ＩＣ的に供給し、検量終了後
の工Ｃｔ−良品と不要品とに分けて回収する装置でるる
。
において、１００はＩＣ供給回収装置を示し、２００は
ＩＣ自ＩｉＪ検査装置を示す。ＩＣ供給回収装置１００
は、検査すべ！ＩＣｔｌ−ＩＣ的に供給し、検量終了後
の工Ｃｔ−良品と不要品とに分けて回収する装置でるる
。
具体的には、第２図の如き、断面Ｈ状の長尺ケース１０
１に収納さｎている検査すべき複数個のＩＣ１０２ｆｔ
、傾斜されたレール１０３ｆｔ滑らせてＩＣソケット２
０１，２０２ の付近へ供給する機構と、図示せぬチャ
、り機構及びＩＣソケッ）２０１，２０２に装５ｆされ
たＩＣ１０２を上方へ押し上げるテコ機構により＠成さ
１ている。ＩＣ供給回収装置は、ＩＣ１０２がＩＣＣタ
ケ）２０１またはＩＣソケット２０２に装着された旨を
ケーブル３０１、後述のインタフェース３１７ｔ−介し
て制御部２０９へ伝え、制御５２０９からＩＣＣタケ
ト２０１，２０２Ｃ装看されたＩＣ１０２の検査終了及
び良・不良の旨を知らされる。
１に収納さｎている検査すべき複数個のＩＣ１０２ｆｔ
、傾斜されたレール１０３ｆｔ滑らせてＩＣソケット２
０１，２０２ の付近へ供給する機構と、図示せぬチャ
、り機構及びＩＣソケッ）２０１，２０２に装５ｆされ
たＩＣ１０２を上方へ押し上げるテコ機構により＠成さ
１ている。ＩＣ供給回収装置は、ＩＣ１０２がＩＣＣタ
ケ）２０１またはＩＣソケット２０２に装着された旨を
ケーブル３０１、後述のインタフェース３１７ｔ−介し
て制御部２０９へ伝え、制御５２０９からＩＣＣタケ
ト２０１，２０２Ｃ装看されたＩＣ１０２の検査終了及
び良・不良の旨を知らされる。
ＩＣソケット２０１． ２０２には、夫々、オフセット
調整用の可変抵抗部２０３，２０４が接続されるととも
に、切換器２０５が接続されている。切換器２０５には
、電源２０６．レベル計２０７．測定器２０Ｂが接続さ
ｎ、切換器２０５は制御部２０９による制御下でＩＣソ
ケット２０１． ２０２と電源２０６．レベル計２０７
．測定器２０８との接続切換えを行う。
調整用の可変抵抗部２０３，２０４が接続されるととも
に、切換器２０５が接続されている。切換器２０５には
、電源２０６．レベル計２０７．測定器２０Ｂが接続さ
ｎ、切換器２０５は制御部２０９による制御下でＩＣソ
ケット２０１． ２０２と電源２０６．レベル計２０７
．測定器２０８との接続切換えを行う。
第３図に、切換器２０５に関係する構成を示す。バス３
０２を介して、？ｔ制御部２０９はラッチ３０３へ選択
データを与える。う、チ３０３にはリレー３０５１〜３
０５−に対応してドライバ３０４１〜３０４＠が接続さ
ｔており、対応するドライバ３０４１〜３０４６に言号
が与えらｎるとリレー３０５１〜３０５・の働きによっ
てリレー接点３０６１〜３０６−が開閉さｎる。
０２を介して、？ｔ制御部２０９はラッチ３０３へ選択
データを与える。う、チ３０３にはリレー３０５１〜３
０５−に対応してドライバ３０４１〜３０４＠が接続さ
ｔており、対応するドライバ３０４１〜３０４６に言号
が与えらｎるとリレー３０５１〜３０５・の働きによっ
てリレー接点３０６１〜３０６−が開閉さｎる。
また制御部２０９は、夫々バス３０７，３０８を介して
可変抵抗部２０３，２０４の抵抗値を制御して、オフセ
ットＡ整金行う。第４図に可変抵抗部２０３゜２０４の
４成を示す。抵抗ＲＩＡ−ＲｎＡと抵抗ＲＩＢ〜ＲｎＢ
とｔ−直列接続し、各抵抗間＝、 ＋Ｊレー接点ＫＩＡ
−ＫｎＡとこｎと和衷に切換わるリレー接点ＫＩＢ−Ｋ
ｎＢとで開閉されるようにする。抵抗ＲＩＡ、ＲＩＢの
各抵抗値をＲ１とし、抵抗Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂの各抵抗値ヲ
Ｒ２とし、一般的に抵抗ＲｎＡ、 ＲｎＢの各抵抗値’
ｔ” Ｒｎとする。同図のようにリレー接点ＫＩＡ−Ｋ
ｎＡ 全開、リレー接点ＫＩＢ−ＫｎＢを閉とすると、
ＴＩＴｚ間の抵抗値Ａ ＝ Ｒｔ ＋ Ｒｚ ＋ ・＝
＋Ｒｎ −Ｔ２Ｔ３間の抵抗値Ｂ＝０となる。この状
態から、リレー接点ＲＩＡを閉、リレー接点ＲＩＢを開
とすると、ＴＩ ＴＩ間の抵抗値Ａ ＝ Ｒ２＋ −十
Ｒｎ 、 Ｔ２ ＴＩ間の抵抗値Ｂ ” Ｒｔとなるこ
とが判る。ここで、不実施例では、Ｒ１＝ ２ ＆＝
２”Ｒ３＝ −＝ ２ｎ−１Ｒｎとする。’このように
すると、ｎ＝８で２”＝２５６でるるから、本実施例の
可変抵抗部２０３，２０４は夫゛々２５６ステ、ブで抵
抗値を変化させ得る。尚、リレー接点ＲＩＡ−ＲｎＡ、
ＲＩＢ ＮＲｎＢを動作させる構成は、第３図に示した
構成と同様にラッチ、ドライバ、リレーでおるので省略
する。
可変抵抗部２０３，２０４の抵抗値を制御して、オフセ
ットＡ整金行う。第４図に可変抵抗部２０３゜２０４の
４成を示す。抵抗ＲＩＡ−ＲｎＡと抵抗ＲＩＢ〜ＲｎＢ
とｔ−直列接続し、各抵抗間＝、 ＋Ｊレー接点ＫＩＡ
−ＫｎＡとこｎと和衷に切換わるリレー接点ＫＩＢ−Ｋ
ｎＢとで開閉されるようにする。抵抗ＲＩＡ、ＲＩＢの
各抵抗値をＲ１とし、抵抗Ｒ２Ａ、Ｒ２Ｂの各抵抗値ヲ
Ｒ２とし、一般的に抵抗ＲｎＡ、 ＲｎＢの各抵抗値’
ｔ” Ｒｎとする。同図のようにリレー接点ＫＩＡ−Ｋ
ｎＡ 全開、リレー接点ＫＩＢ−ＫｎＢを閉とすると、
ＴＩＴｚ間の抵抗値Ａ ＝ Ｒｔ ＋ Ｒｚ ＋ ・＝
＋Ｒｎ −Ｔ２Ｔ３間の抵抗値Ｂ＝０となる。この状
態から、リレー接点ＲＩＡを閉、リレー接点ＲＩＢを開
とすると、ＴＩ ＴＩ間の抵抗値Ａ ＝ Ｒ２＋ −十
Ｒｎ 、 Ｔ２ ＴＩ間の抵抗値Ｂ ” Ｒｔとなるこ
とが判る。ここで、不実施例では、Ｒ１＝ ２ ＆＝
２”Ｒ３＝ −＝ ２ｎ−１Ｒｎとする。’このように
すると、ｎ＝８で２”＝２５６でるるから、本実施例の
可変抵抗部２０３，２０４は夫゛々２５６ステ、ブで抵
抗値を変化させ得る。尚、リレー接点ＲＩＡ−ＲｎＡ、
ＲＩＢ ＮＲｎＢを動作させる構成は、第３図に示した
構成と同様にラッチ、ドライバ、リレーでおるので省略
する。
更に、制御５２０９はケーブル３０９．３１０，３１１
を介して電［２０６，レベル計２０７．測定器２０８を
制御し、また、必要なデータを得ている。制御ｆｆｌ５
２０９ハマイクロプロセ、す３１２とメモリ３１３とイ
ンタフェース３１４〜３１７とからなる。マイクロブロ
セ、す３１２は、メモリ３１３内のプログラムに従って
、インタフェース３１４、ケーブル３０９を介して電源
２０６のオンオフを制御し、インタフェース３１５、ケ
ーブル３ｘ０１’ｉしてレベル計２０７からレベルデー
タを得るほか、インタフェース３１６．ケーブル３１１
を介して測定開始の指示データを送り、また、測定終了
とＩＣの良φ不良を示すデータを受取る。
を介して電［２０６，レベル計２０７．測定器２０８を
制御し、また、必要なデータを得ている。制御ｆｆｌ５
２０９ハマイクロプロセ、す３１２とメモリ３１３とイ
ンタフェース３１４〜３１７とからなる。マイクロブロ
セ、す３１２は、メモリ３１３内のプログラムに従って
、インタフェース３１４、ケーブル３０９を介して電源
２０６のオンオフを制御し、インタフェース３１５、ケ
ーブル３ｘ０１’ｉしてレベル計２０７からレベルデー
タを得るほか、インタフェース３１６．ケーブル３１１
を介して測定開始の指示データを送り、また、測定終了
とＩＣの良φ不良を示すデータを受取る。
次に、ＩＣ１０２の検査動作を第５１〜第７図のフロー
チャート’ｌ用いて説明する。
チャート’ｌ用いて説明する。
システムの電源が投入されると、電源２０６ｔ−オンと
した後、ＩＣ１０２をＩＣＣタケ ト２０１．２０２へ
装着する動作に入る。マイクロプロセ、す３１２は、Ｉ
Ｃソケット２０１が使用さｎていないことを確認しく４
０１Ａ）、ＩＣ供給回収装置１００へＩＣ１０２をＩＣ
ソケット２０１へ装着させる（４０２Ａ）。ＩＣ供給回
収装置１００では、ＩＣ１０２をＩＣソケット２０１゜
２０２の付近のレール１０３からチャック機構により取
上げてＩＣＣタケ）２０１へ装着し、装着終了信号を出
力する。この信号を受けて、マイクロプロセ、す３１２
はＩＣソケット２０１に装着されたＩＣ１０２のオフセ
ット調ａｔ−可としく４０３Ａ）、ＩＣソケット２０１
が使用さｎていること金示してお（（４０４Ａン。４０
１Ｂ〜４０４ＢはＩＣソケット２０２に関する部分であ
り、４０１Ａ〜４０４Ａに対応する。そして、４０５Ａ
（４０５Ｂ）において、ＩＣソケット２０１に装着さ
れているＩＣ１０２の取出しが必要でないことを確認し
、４０１Ｂ （４０１Ａ）へ移る。
した後、ＩＣ１０２をＩＣＣタケ ト２０１．２０２へ
装着する動作に入る。マイクロプロセ、す３１２は、Ｉ
Ｃソケット２０１が使用さｎていないことを確認しく４
０１Ａ）、ＩＣ供給回収装置１００へＩＣ１０２をＩＣ
ソケット２０１へ装着させる（４０２Ａ）。ＩＣ供給回
収装置１００では、ＩＣ１０２をＩＣソケット２０１゜
２０２の付近のレール１０３からチャック機構により取
上げてＩＣＣタケ）２０１へ装着し、装着終了信号を出
力する。この信号を受けて、マイクロプロセ、す３１２
はＩＣソケット２０１に装着されたＩＣ１０２のオフセ
ット調ａｔ−可としく４０３Ａ）、ＩＣソケット２０１
が使用さｎていること金示してお（（４０４Ａン。４０
１Ｂ〜４０４ＢはＩＣソケット２０２に関する部分であ
り、４０１Ａ〜４０４Ａに対応する。そして、４０５Ａ
（４０５Ｂ）において、ＩＣソケット２０１に装着さ
れているＩＣ１０２の取出しが必要でないことを確認し
、４０１Ｂ （４０１Ａ）へ移る。
マイクロプロセ、す３１２は、ＩＣソケット２０１に装
着されたＩＣ１０２のオフセット調整が可となりている
ことを確認すると（５０１Ａ） 、切換器２０５へ信号
を送り、リレー接点３０６１，３０６ｓを閉じ、バス３
０７から可変抵抗部２０３へ信号全速９レベル計２０７
からケーブル３１０．イ／タフエース３１５ｔ−介して
レベルデータを取込み、オフセット調整を行う（５０２
Ａ、５０３Ａ）。このようにして、オフセット調整が終
了すると、ＩＣソケット２０１に装着さＣているＩＣ１
，０２のオフセット１！ｌｊＭ終了を示しく５０４Ａ）
、切換器２０５へ有寸を送り、リレー接点３０６１を
開＜（５０５Ａ２＋次に、マイクロプロセッサ３１２は
、ＩＣソケット２０１に装着されたＩＣ１０２の測定が
可でめることを示しておく（５０６Ａ） 。 ５０１
Ｂ〜５０６Ｂは、 ＩＣンク°、 ト２０２に装着さ
扛たＩＣ１０２にこ関する部分を示し、５０１Ａ〜５０
６Ａに対（６している。５０１Ａ （５０１Ｂ）で、Ｉ
ｃｅ／ケット２０１ （２０２）にｖｅ、看さｎている
ＩＣ１０２のオフセット調整が可でなけｎば、 ５０１
Ｂ（５０１Ａ）へ移る。
着されたＩＣ１０２のオフセット調整が可となりている
ことを確認すると（５０１Ａ） 、切換器２０５へ信号
を送り、リレー接点３０６１，３０６ｓを閉じ、バス３
０７から可変抵抗部２０３へ信号全速９レベル計２０７
からケーブル３１０．イ／タフエース３１５ｔ−介して
レベルデータを取込み、オフセット調整を行う（５０２
Ａ、５０３Ａ）。このようにして、オフセット調整が終
了すると、ＩＣソケット２０１に装着さＣているＩＣ１
，０２のオフセット１！ｌｊＭ終了を示しく５０４Ａ）
、切換器２０５へ有寸を送り、リレー接点３０６１を
開＜（５０５Ａ２＋次に、マイクロプロセッサ３１２は
、ＩＣソケット２０１に装着されたＩＣ１０２の測定が
可でめることを示しておく（５０６Ａ） 。 ５０１
Ｂ〜５０６Ｂは、 ＩＣンク°、 ト２０２に装着さ
扛たＩＣ１０２にこ関する部分を示し、５０１Ａ〜５０
６Ａに対（６している。５０１Ａ （５０１Ｂ）で、Ｉ
ｃｅ／ケット２０１ （２０２）にｖｅ、看さｎている
ＩＣ１０２のオフセット調整が可でなけｎば、 ５０１
Ｂ（５０１Ａ）へ移る。
マイクロプロセッサ３１２は、ＩＣソケット２０１に装
着ざｎているＩＣ１０２の測定が可となっていることを
確認すると（６０１Ａ） 、切換器２０５へ信号を送り
、リレー接点３ｏｓｓｆｔ閉じ（６０２Ａ）、インタフ
ェース３１６、ケーブル３１１’ｉ介して測定器２０８
へ測定開始指示を行う（６０３Ａ）。こｎによって測定
器２０８では、ＩＣソケット２０１に装着さルているＩ
Ｃ１０２の測定を行い、測定終了とともに、その旨及び
ＩＣ１０２の良・不良全マイクロプロセッサ３１２へ知
らせる。これを受取っ九マイクログロセ、す３１２は、
切換器２０５へ１ぎ号を送り、リレー接点３０６３を開
き（６０４Ａ）、ＩＣソケット２０１に装着されている
ＩＣ１０２の測定が終了したこと及び、ＩＣソケット２
０１に装着されているＩＣ１０２Ｑ取外すべきことを示
しておく （６０５Ａ。
着ざｎているＩＣ１０２の測定が可となっていることを
確認すると（６０１Ａ） 、切換器２０５へ信号を送り
、リレー接点３ｏｓｓｆｔ閉じ（６０２Ａ）、インタフ
ェース３１６、ケーブル３１１’ｉ介して測定器２０８
へ測定開始指示を行う（６０３Ａ）。こｎによって測定
器２０８では、ＩＣソケット２０１に装着さルているＩ
Ｃ１０２の測定を行い、測定終了とともに、その旨及び
ＩＣ１０２の良・不良全マイクロプロセッサ３１２へ知
らせる。これを受取っ九マイクログロセ、す３１２は、
切換器２０５へ１ぎ号を送り、リレー接点３０６３を開
き（６０４Ａ）、ＩＣソケット２０１に装着されている
ＩＣ１０２の測定が終了したこと及び、ＩＣソケット２
０１に装着されているＩＣ１０２Ｑ取外すべきことを示
しておく （６０５Ａ。
６０６Ａ）。６０１Ｂ〜６０６Ｂは、ＩＣソケット２０
２に装着されているＩＣ１０２に関する部分でめ９．６
０１Ａ〜６０６Ａに対応している。上記の６０１Ａ（６
（ＩＩＢ）において、ＩＣソケット２０１ （２０２）
に装着さｎているＩＣ１０２が測定可能となっていなＶ
ｆＡは、６０１Ｂ （６０１Ａ）へ移る。
２に装着されているＩＣ１０２に関する部分でめ９．６
０１Ａ〜６０６Ａに対応している。上記の６０１Ａ（６
（ＩＩＢ）において、ＩＣソケット２０１ （２０２）
に装着さｎているＩＣ１０２が測定可能となっていなＶ
ｆＡは、６０１Ｂ （６０１Ａ）へ移る。
かくして測定が終了すると、第５図の４０５Ａで、ＩＣ
ソケット２０１に装着さｎているＩＣ１０２を取外すべ
きことを確認し、マイクロプロセッサ３１２はＩＣ供給
回収装置１００へＩＣソケット２０１のＩＣ１０２を回
収ざぞる命令及びそのＩＣ１０２の良・不良を知ぜ、Ｉ
Ｃ１０２＆取外さぜる（４０６Ａ）。これによって、Ｉ
Ｃ供給回収装置１００では、テコ機構によってＩＣソケ
ット２０１に＆看されているＩＣ１０２の腹部？上方に
押して、ｆｃ１０２ ｔ Ｉ Ｃソケット２０１から外
し、こｎｆチャック慎傳で取上げて、ＩＣ１０２の良・
不良データに基づき回収量構ｉ１：載せる。ここに回収
機構は、第２図の機構と反対にレールを滑ってＩＣ１０
２が下降し、回収ケースに入る工うしこなりたルートが
、良や不良のＩＣについて存在している。回収を終了す
ると、ＩＣ供給回収装置１００は、マイクロプロセッサ
３１２へ回収終了を通知する。これを受取ったマイクロ
プロセッサ３１２は、ＩＣソケット２０１に装看さｎて
いるＩＣ１０２の取外し不可としく４０７Ａ）、ＩＣソ
ケット２０１が使用されていないことを示して訃く（４
０８Ａ）。４０５Ｂ〜４０８Ｂは、ＩＣソケット２０２
のＩＣ１０２に関する部分でるる。
ソケット２０１に装着さｎているＩＣ１０２を取外すべ
きことを確認し、マイクロプロセッサ３１２はＩＣ供給
回収装置１００へＩＣソケット２０１のＩＣ１０２を回
収ざぞる命令及びそのＩＣ１０２の良・不良を知ぜ、Ｉ
Ｃ１０２＆取外さぜる（４０６Ａ）。これによって、Ｉ
Ｃ供給回収装置１００では、テコ機構によってＩＣソケ
ット２０１に＆看されているＩＣ１０２の腹部？上方に
押して、ｆｃ１０２ ｔ Ｉ Ｃソケット２０１から外
し、こｎｆチャック慎傳で取上げて、ＩＣ１０２の良・
不良データに基づき回収量構ｉ１：載せる。ここに回収
機構は、第２図の機構と反対にレールを滑ってＩＣ１０
２が下降し、回収ケースに入る工うしこなりたルートが
、良や不良のＩＣについて存在している。回収を終了す
ると、ＩＣ供給回収装置１００は、マイクロプロセッサ
３１２へ回収終了を通知する。これを受取ったマイクロ
プロセッサ３１２は、ＩＣソケット２０１に装看さｎて
いるＩＣ１０２の取外し不可としく４０７Ａ）、ＩＣソ
ケット２０１が使用されていないことを示して訃く（４
０８Ａ）。４０５Ｂ〜４０８Ｂは、ＩＣソケット２０２
のＩＣ１０２に関する部分でるる。
以上の各７０−チャートの動作では、マイクロプロセッ
サ３１２のオペレーティングシステムの制御下で適宜行
わｎてゆき、ＩＣソケｙｌ’２０１についてＩＣ１０２
が装着・外出し、オフセット調整が行わγしているとき
には、ＩＣソケット２０２のＩ Ｃ１０２の測定が行わ
れ、逆に、ＩＣソケット２０２についてＩＣ１０２が装
着中外出し、オフセットｒＡ贅が行われているときには
、ＩＣソケッ） ２０１のＩＣ１０２の測定が行わｎる
というように、各構成が最大の稼動率となるように動作
が進行する。
サ３１２のオペレーティングシステムの制御下で適宜行
わｎてゆき、ＩＣソケｙｌ’２０１についてＩＣ１０２
が装着・外出し、オフセット調整が行わγしているとき
には、ＩＣソケット２０２のＩ Ｃ１０２の測定が行わ
れ、逆に、ＩＣソケット２０２についてＩＣ１０２が装
着中外出し、オフセットｒＡ贅が行われているときには
、ＩＣソケッ） ２０１のＩＣ１０２の測定が行わｎる
というように、各構成が最大の稼動率となるように動作
が進行する。
例えば、測定時間が３０秒、オフセット調整時間が２０
秒、ＩＣの入替え時間（装着・外出し時間）を１０秒と
すると、本笑施例では１個のＩＣを３０秒で測定する間
に他のＩＣの入替えとオフセット調整とが可ｌＩ巨であ
り、測定器２０８の稼動率を高くでき得る。
秒、ＩＣの入替え時間（装着・外出し時間）を１０秒と
すると、本笑施例では１個のＩＣを３０秒で測定する間
に他のＩＣの入替えとオフセット調整とが可ｌＩ巨であ
り、測定器２０８の稼動率を高くでき得る。
尚、笑施例で用いた。ＩＣソケット、可変抵抗部、ノベ
ル計、測定器の数は、システムに応じて可変でるる。
ル計、測定器の数は、システムに応じて可変でるる。
以上説明したように本発明によれば、電気的前提条件付
与が行われている間に、ＩＣの測定が実行名几るので、
電気的前提条件付与による時間ロスがなく、測定器の稼
動率を高め、全体として高速でＩＣ検査が可能となるも
のでめる。
与が行われている間に、ＩＣの測定が実行名几るので、
電気的前提条件付与による時間ロスがなく、測定器の稼
動率を高め、全体として高速でＩＣ検査が可能となるも
のでめる。
＄１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は第１
図の要部の斜視図、第３図、第４図は第１図の要部の構
成図、累５図乃至第７図は不発明の一実施例の前作を説
明するためのフローチｆｆ−ト、第８図は従来例のブロ
ック図である。 １００・−Ｉ Ｃ供給回収装置 １０２・・・ＩＣ２０
１゜２０２・・・ＩＣＣタケ ト２０３．２０４・・・
可変抵抗部２０５・・・切換器 ２０６・・・電源 ２
０７・−・レベル計２０８・・・測定器 ２０９・・・
制御部代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか
１名） 第４図 ＴＩ Ｔ２ Ｔ３にＩＡに２
Ａ にｎＡに＋Ｂ Ｋ２Ｓ Ｋ７ＬＢ第８図 第５図 第６図
図の要部の斜視図、第３図、第４図は第１図の要部の構
成図、累５図乃至第７図は不発明の一実施例の前作を説
明するためのフローチｆｆ−ト、第８図は従来例のブロ
ック図である。 １００・−Ｉ Ｃ供給回収装置 １０２・・・ＩＣ２０
１゜２０２・・・ＩＣＣタケ ト２０３．２０４・・・
可変抵抗部２０５・・・切換器 ２０６・・・電源 ２
０７・−・レベル計２０８・・・測定器 ２０９・・・
制御部代理人 弁理士 則 近 憲 佑（ほか
１名） 第４図 ＴＩ Ｔ２ Ｔ３にＩＡに２
Ａ にｎＡに＋Ｂ Ｋ２Ｓ Ｋ７ＬＢ第８図 第５図 第６図
Claims (1)
- 検査に先立つて電気的前提条件付与を行う必要があるＩ
Ｃ自動検査装置において、前記ＩＣがセットされる複数
のＩＣソケットと、このＩＣソケットにセットされたＩ
Ｃの特性測定を行う測定器と、前記ＩＣソケットにセッ
トされたＩＣの電気的前提条件付与を行う条件付与部と
、ＩＣソケットにセットされているＩＣの検査信号を前
記測定器へ切換伝達する切換器と、ＩＣがＩＣソケット
にセットされると前記条件付与部に電気的前提条件付与
を行わせた後、この電気的前提条件付与が終了したＩＣ
の特性測定を前記測定器で可能となるように前記切換器
を制御する制御部とを具備したことを特徴とするＩＣ自
動検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60058174A JPS61217777A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Ｉｃ自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60058174A JPS61217777A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Ｉｃ自動検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61217777A true JPS61217777A (ja) | 1986-09-27 |
Family
ID=13076633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60058174A Pending JPS61217777A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Ｉｃ自動検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61217777A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273430A (ja) * | 1985-09-26 | 1987-04-04 | Canon Inc | 光情報記録再生装置 |
| CN104459219A (zh) * | 2013-11-05 | 2015-03-25 | 昆山西钛微电子科技有限公司 | 测试夹具 |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP60058174A patent/JPS61217777A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273430A (ja) * | 1985-09-26 | 1987-04-04 | Canon Inc | 光情報記録再生装置 |
| CN104459219A (zh) * | 2013-11-05 | 2015-03-25 | 昆山西钛微电子科技有限公司 | 测试夹具 |
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