JPS61217777A - Ic自動検査装置 - Google Patents
Ic自動検査装置Info
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- JPS61217777A JPS61217777A JP60058174A JP5817485A JPS61217777A JP S61217777 A JPS61217777 A JP S61217777A JP 60058174 A JP60058174 A JP 60058174A JP 5817485 A JP5817485 A JP 5817485A JP S61217777 A JPS61217777 A JP S61217777A
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- Japan
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- measuring device
- offset adjustment
- switch
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、電話機の受話レベル調整等に用いられるア
ナログICのように、検査に先立ってオフセット調整や
バイアス調整などの電気的前提条件付与を行う必要がろ
るICの自動検査装置の改良に関する。
ナログICのように、検査に先立ってオフセット調整や
バイアス調整などの電気的前提条件付与を行う必要がろ
るICの自動検査装置の改良に関する。
従来、オフセット調整が必要なICIを検査する装置と
しては、第8図のような検査装置が知られている。上記
工C1は、人手によりてICソケット2に着脱される。
しては、第8図のような検査装置が知られている。上記
工C1は、人手によりてICソケット2に着脱される。
ICソケット2には、IC1の特性測定用の測定器3と
、ICに電力を与える電源4と、オフセット814M!
用のボリウム5と、オフセット調整時に使用するレベル
計6とが接続されている。
、ICに電力を与える電源4と、オフセット814M!
用のボリウム5と、オフセット調整時に使用するレベル
計6とが接続されている。
ICIの検査を行うときには、ICソケット2にIC1
ft装着し、電源4により電力を供給する。しかる後に
、ボリウム5を操作してレベル計6t−目視しながら、
オフセット調整を行う。このオフセット調整が完了する
と、測定器3を用いてICIの特性測定を行う。
ft装着し、電源4により電力を供給する。しかる後に
、ボリウム5を操作してレベル計6t−目視しながら、
オフセット調整を行う。このオフセット調整が完了する
と、測定器3を用いてICIの特性測定を行う。
従来の検査装置では、オフセット調整を人手によって行
なっていた九め、この調整時には測定器3によるICI
の特性測定が行えず、高価な測定器の稼動率が低くなっ
ているという問題があった。
なっていた九め、この調整時には測定器3によるICI
の特性測定が行えず、高価な測定器の稼動率が低くなっ
ているという問題があった。
本発明は、上記のような従来のIC検査装置の欠点に鑑
みてなされたもので、その目的は、オフセラ)M整等の
ような電気的前提条件付与による時間ロスを抑制し、測
定器の稼動率を高め、全体として高速でIC検査を可能
としたIC自動検査装置を提供することである。
みてなされたもので、その目的は、オフセラ)M整等の
ような電気的前提条件付与による時間ロスを抑制し、測
定器の稼動率を高め、全体として高速でIC検査を可能
としたIC自動検査装置を提供することである。
そこで本発明では、検査に先立って電気的前提条件付与
を行う必要がるるICがセットされる複数のICソケッ
トと、このICソケットにセットされたICの特性測定
を行う測定器と、上記ICソケットにセットされたIC
の電気的前提条件付与を行う条件付与部と、工Cソケ、
トにセットされているICの検査信号を上記測定器へ切
換伝達する切換器と、ICがICソケットにセットされ
ると上記条件付与部に電気的前提条件付与を行わせた後
、この電気的前提条件付与が終了したICの特性測定を
上記測定器で可能となるように上記切換器を制御する制
御部とを具備させてIC自動検査湊装を構成し、上記目
的を達成し友ものである。
を行う必要がるるICがセットされる複数のICソケッ
トと、このICソケットにセットされたICの特性測定
を行う測定器と、上記ICソケットにセットされたIC
の電気的前提条件付与を行う条件付与部と、工Cソケ、
トにセットされているICの検査信号を上記測定器へ切
換伝達する切換器と、ICがICソケットにセットされ
ると上記条件付与部に電気的前提条件付与を行わせた後
、この電気的前提条件付与が終了したICの特性測定を
上記測定器で可能となるように上記切換器を制御する制
御部とを具備させてIC自動検査湊装を構成し、上記目
的を達成し友ものである。
渠1図は、2t1:発明の一実施例を示している。同図
において、100はIC供給回収装置を示し、200は
IC自IiJ検査装置を示す。IC供給回収装置100
は、検査すべ!ICtl−IC的に供給し、検量終了後
の工Ct−良品と不要品とに分けて回収する装置でるる
。
において、100はIC供給回収装置を示し、200は
IC自IiJ検査装置を示す。IC供給回収装置100
は、検査すべ!ICtl−IC的に供給し、検量終了後
の工Ct−良品と不要品とに分けて回収する装置でるる
。
具体的には、第2図の如き、断面H状の長尺ケース10
1に収納さnている検査すべき複数個のIC102ft
、傾斜されたレール103ft滑らせてICソケット2
01,202 の付近へ供給する機構と、図示せぬチャ
、り機構及びICソケッ)201,202に装5fされ
たIC102を上方へ押し上げるテコ機構により@成さ
1ている。IC供給回収装置は、IC102がICCタ
ケ)201またはICソケット202に装着された旨を
ケーブル301、後述のインタフェース317t−介し
て制御部209へ伝え、制御5209からICCタケ
ト201,202C装看されたIC102の検査終了及
び良・不良の旨を知らされる。
1に収納さnている検査すべき複数個のIC102ft
、傾斜されたレール103ft滑らせてICソケット2
01,202 の付近へ供給する機構と、図示せぬチャ
、り機構及びICソケッ)201,202に装5fされ
たIC102を上方へ押し上げるテコ機構により@成さ
1ている。IC供給回収装置は、IC102がICCタ
ケ)201またはICソケット202に装着された旨を
ケーブル301、後述のインタフェース317t−介し
て制御部209へ伝え、制御5209からICCタケ
ト201,202C装看されたIC102の検査終了及
び良・不良の旨を知らされる。
ICソケット201. 202には、夫々、オフセット
調整用の可変抵抗部203,204が接続されるととも
に、切換器205が接続されている。切換器205には
、電源206.レベル計207.測定器20Bが接続さ
n、切換器205は制御部209による制御下でICソ
ケット201. 202と電源206.レベル計207
.測定器208との接続切換えを行う。
調整用の可変抵抗部203,204が接続されるととも
に、切換器205が接続されている。切換器205には
、電源206.レベル計207.測定器20Bが接続さ
n、切換器205は制御部209による制御下でICソ
ケット201. 202と電源206.レベル計207
.測定器208との接続切換えを行う。
第3図に、切換器205に関係する構成を示す。バス3
02を介して、?t制御部209はラッチ303へ選択
データを与える。う、チ303にはリレー3051〜3
05−に対応してドライバ3041〜304@が接続さ
tており、対応するドライバ3041〜3046に言号
が与えらnるとリレー3051〜305・の働きによっ
てリレー接点3061〜306−が開閉さnる。
02を介して、?t制御部209はラッチ303へ選択
データを与える。う、チ303にはリレー3051〜3
05−に対応してドライバ3041〜304@が接続さ
tており、対応するドライバ3041〜3046に言号
が与えらnるとリレー3051〜305・の働きによっ
てリレー接点3061〜306−が開閉さnる。
また制御部209は、夫々バス307,308を介して
可変抵抗部203,204の抵抗値を制御して、オフセ
ットA整金行う。第4図に可変抵抗部203゜204の
4成を示す。抵抗RIA−RnAと抵抗RIB〜RnB
とt−直列接続し、各抵抗間=、 +Jレー接点KIA
−KnAとこnと和衷に切換わるリレー接点KIB−K
nBとで開閉されるようにする。抵抗RIA、RIBの
各抵抗値をR1とし、抵抗R2A、R2Bの各抵抗値ヲ
R2とし、一般的に抵抗RnA、 RnBの各抵抗値’
t” Rnとする。同図のようにリレー接点KIA−K
nA 全開、リレー接点KIB−KnBを閉とすると、
TITz間の抵抗値A = Rt + Rz + ・=
+Rn −T2T3間の抵抗値B=0となる。この状
態から、リレー接点RIAを閉、リレー接点RIBを開
とすると、TI TI間の抵抗値A = R2+ −十
Rn 、 T2 TI間の抵抗値B ” Rtとなるこ
とが判る。ここで、不実施例では、R1= 2 &=
2”R3= −= 2n−1Rnとする。’このように
すると、n=8で2”=256でるるから、本実施例の
可変抵抗部203,204は夫゛々256ステ、ブで抵
抗値を変化させ得る。尚、リレー接点RIA−RnA、
RIB NRnBを動作させる構成は、第3図に示した
構成と同様にラッチ、ドライバ、リレーでおるので省略
する。
可変抵抗部203,204の抵抗値を制御して、オフセ
ットA整金行う。第4図に可変抵抗部203゜204の
4成を示す。抵抗RIA−RnAと抵抗RIB〜RnB
とt−直列接続し、各抵抗間=、 +Jレー接点KIA
−KnAとこnと和衷に切換わるリレー接点KIB−K
nBとで開閉されるようにする。抵抗RIA、RIBの
各抵抗値をR1とし、抵抗R2A、R2Bの各抵抗値ヲ
R2とし、一般的に抵抗RnA、 RnBの各抵抗値’
t” Rnとする。同図のようにリレー接点KIA−K
nA 全開、リレー接点KIB−KnBを閉とすると、
TITz間の抵抗値A = Rt + Rz + ・=
+Rn −T2T3間の抵抗値B=0となる。この状
態から、リレー接点RIAを閉、リレー接点RIBを開
とすると、TI TI間の抵抗値A = R2+ −十
Rn 、 T2 TI間の抵抗値B ” Rtとなるこ
とが判る。ここで、不実施例では、R1= 2 &=
2”R3= −= 2n−1Rnとする。’このように
すると、n=8で2”=256でるるから、本実施例の
可変抵抗部203,204は夫゛々256ステ、ブで抵
抗値を変化させ得る。尚、リレー接点RIA−RnA、
RIB NRnBを動作させる構成は、第3図に示した
構成と同様にラッチ、ドライバ、リレーでおるので省略
する。
更に、制御5209はケーブル309.310,311
を介して電[206,レベル計207.測定器208を
制御し、また、必要なデータを得ている。制御ffl5
209ハマイクロプロセ、す312とメモリ313とイ
ンタフェース314〜317とからなる。マイクロブロ
セ、す312は、メモリ313内のプログラムに従って
、インタフェース314、ケーブル309を介して電源
206のオンオフを制御し、インタフェース315、ケ
ーブル3x01’iしてレベル計207からレベルデー
タを得るほか、インタフェース316.ケーブル311
を介して測定開始の指示データを送り、また、測定終了
とICの良φ不良を示すデータを受取る。
を介して電[206,レベル計207.測定器208を
制御し、また、必要なデータを得ている。制御ffl5
209ハマイクロプロセ、す312とメモリ313とイ
ンタフェース314〜317とからなる。マイクロブロ
セ、す312は、メモリ313内のプログラムに従って
、インタフェース314、ケーブル309を介して電源
206のオンオフを制御し、インタフェース315、ケ
ーブル3x01’iしてレベル計207からレベルデー
タを得るほか、インタフェース316.ケーブル311
を介して測定開始の指示データを送り、また、測定終了
とICの良φ不良を示すデータを受取る。
次に、IC102の検査動作を第51〜第7図のフロー
チャート’l用いて説明する。
チャート’l用いて説明する。
システムの電源が投入されると、電源206t−オンと
した後、IC102をICCタケ ト201.202へ
装着する動作に入る。マイクロプロセ、す312は、I
Cソケット201が使用さnていないことを確認しく4
01A)、IC供給回収装置100へIC102をIC
ソケット201へ装着させる(402A)。IC供給回
収装置100では、IC102をICソケット201゜
202の付近のレール103からチャック機構により取
上げてICCタケ)201へ装着し、装着終了信号を出
力する。この信号を受けて、マイクロプロセ、す312
はICソケット201に装着されたIC102のオフセ
ット調at−可としく403A)、ICソケット201
が使用さnていること金示してお((404Aン。40
1B〜404BはICソケット202に関する部分であ
り、401A〜404Aに対応する。そして、405A
(405B)において、ICソケット201に装着さ
れているIC102の取出しが必要でないことを確認し
、401B (401A)へ移る。
した後、IC102をICCタケ ト201.202へ
装着する動作に入る。マイクロプロセ、す312は、I
Cソケット201が使用さnていないことを確認しく4
01A)、IC供給回収装置100へIC102をIC
ソケット201へ装着させる(402A)。IC供給回
収装置100では、IC102をICソケット201゜
202の付近のレール103からチャック機構により取
上げてICCタケ)201へ装着し、装着終了信号を出
力する。この信号を受けて、マイクロプロセ、す312
はICソケット201に装着されたIC102のオフセ
ット調at−可としく403A)、ICソケット201
が使用さnていること金示してお((404Aン。40
1B〜404BはICソケット202に関する部分であ
り、401A〜404Aに対応する。そして、405A
(405B)において、ICソケット201に装着さ
れているIC102の取出しが必要でないことを確認し
、401B (401A)へ移る。
マイクロプロセ、す312は、ICソケット201に装
着されたIC102のオフセット調整が可となりている
ことを確認すると(501A) 、切換器205へ信号
を送り、リレー接点3061,306sを閉じ、バス3
07から可変抵抗部203へ信号全速9レベル計207
からケーブル310.イ/タフエース315t−介して
レベルデータを取込み、オフセット調整を行う(502
A、503A)。このようにして、オフセット調整が終
了すると、ICソケット201に装着さCているIC1
,02のオフセット1!ljM終了を示しく504A)
、切換器205へ有寸を送り、リレー接点3061を
開<(505A2+次に、マイクロプロセッサ312は
、ICソケット201に装着されたIC102の測定が
可でめることを示しておく(506A) 。 501
B〜506Bは、 ICンク°、 ト202に装着さ
扛たIC102にこ関する部分を示し、501A〜50
6Aに対(6している。501A (501B)で、I
ce/ケット201 (202)にve、看さnている
IC102のオフセット調整が可でなけnば、 501
B(501A)へ移る。
着されたIC102のオフセット調整が可となりている
ことを確認すると(501A) 、切換器205へ信号
を送り、リレー接点3061,306sを閉じ、バス3
07から可変抵抗部203へ信号全速9レベル計207
からケーブル310.イ/タフエース315t−介して
レベルデータを取込み、オフセット調整を行う(502
A、503A)。このようにして、オフセット調整が終
了すると、ICソケット201に装着さCているIC1
,02のオフセット1!ljM終了を示しく504A)
、切換器205へ有寸を送り、リレー接点3061を
開<(505A2+次に、マイクロプロセッサ312は
、ICソケット201に装着されたIC102の測定が
可でめることを示しておく(506A) 。 501
B〜506Bは、 ICンク°、 ト202に装着さ
扛たIC102にこ関する部分を示し、501A〜50
6Aに対(6している。501A (501B)で、I
ce/ケット201 (202)にve、看さnている
IC102のオフセット調整が可でなけnば、 501
B(501A)へ移る。
マイクロプロセッサ312は、ICソケット201に装
着ざnているIC102の測定が可となっていることを
確認すると(601A) 、切換器205へ信号を送り
、リレー接点3ossft閉じ(602A)、インタフ
ェース316、ケーブル311’i介して測定器208
へ測定開始指示を行う(603A)。こnによって測定
器208では、ICソケット201に装着さルているI
C102の測定を行い、測定終了とともに、その旨及び
IC102の良・不良全マイクロプロセッサ312へ知
らせる。これを受取っ九マイクログロセ、す312は、
切換器205へ1ぎ号を送り、リレー接点3063を開
き(604A)、ICソケット201に装着されている
IC102の測定が終了したこと及び、ICソケット2
01に装着されているIC102Q取外すべきことを示
しておく (605A。
着ざnているIC102の測定が可となっていることを
確認すると(601A) 、切換器205へ信号を送り
、リレー接点3ossft閉じ(602A)、インタフ
ェース316、ケーブル311’i介して測定器208
へ測定開始指示を行う(603A)。こnによって測定
器208では、ICソケット201に装着さルているI
C102の測定を行い、測定終了とともに、その旨及び
IC102の良・不良全マイクロプロセッサ312へ知
らせる。これを受取っ九マイクログロセ、す312は、
切換器205へ1ぎ号を送り、リレー接点3063を開
き(604A)、ICソケット201に装着されている
IC102の測定が終了したこと及び、ICソケット2
01に装着されているIC102Q取外すべきことを示
しておく (605A。
606A)。601B〜606Bは、ICソケット20
2に装着されているIC102に関する部分でめ9.6
01A〜606Aに対応している。上記の601A(6
(IIB)において、ICソケット201 (202)
に装着さnているIC102が測定可能となっていなV
fAは、601B (601A)へ移る。
2に装着されているIC102に関する部分でめ9.6
01A〜606Aに対応している。上記の601A(6
(IIB)において、ICソケット201 (202)
に装着さnているIC102が測定可能となっていなV
fAは、601B (601A)へ移る。
かくして測定が終了すると、第5図の405Aで、IC
ソケット201に装着さnているIC102を取外すべ
きことを確認し、マイクロプロセッサ312はIC供給
回収装置100へICソケット201のIC102を回
収ざぞる命令及びそのIC102の良・不良を知ぜ、I
C102&取外さぜる(406A)。これによって、I
C供給回収装置100では、テコ機構によってICソケ
ット201に&看されているIC102の腹部?上方に
押して、fc102 t I Cソケット201から外
し、こnfチャック慎傳で取上げて、IC102の良・
不良データに基づき回収量構i1:載せる。ここに回収
機構は、第2図の機構と反対にレールを滑ってIC10
2が下降し、回収ケースに入る工うしこなりたルートが
、良や不良のICについて存在している。回収を終了す
ると、IC供給回収装置100は、マイクロプロセッサ
312へ回収終了を通知する。これを受取ったマイクロ
プロセッサ312は、ICソケット201に装看さnて
いるIC102の取外し不可としく407A)、ICソ
ケット201が使用されていないことを示して訃く(4
08A)。405B〜408Bは、ICソケット202
のIC102に関する部分でるる。
ソケット201に装着さnているIC102を取外すべ
きことを確認し、マイクロプロセッサ312はIC供給
回収装置100へICソケット201のIC102を回
収ざぞる命令及びそのIC102の良・不良を知ぜ、I
C102&取外さぜる(406A)。これによって、I
C供給回収装置100では、テコ機構によってICソケ
ット201に&看されているIC102の腹部?上方に
押して、fc102 t I Cソケット201から外
し、こnfチャック慎傳で取上げて、IC102の良・
不良データに基づき回収量構i1:載せる。ここに回収
機構は、第2図の機構と反対にレールを滑ってIC10
2が下降し、回収ケースに入る工うしこなりたルートが
、良や不良のICについて存在している。回収を終了す
ると、IC供給回収装置100は、マイクロプロセッサ
312へ回収終了を通知する。これを受取ったマイクロ
プロセッサ312は、ICソケット201に装看さnて
いるIC102の取外し不可としく407A)、ICソ
ケット201が使用されていないことを示して訃く(4
08A)。405B〜408Bは、ICソケット202
のIC102に関する部分でるる。
以上の各70−チャートの動作では、マイクロプロセッ
サ312のオペレーティングシステムの制御下で適宜行
わnてゆき、ICソケyl’201についてIC102
が装着・外出し、オフセット調整が行わγしているとき
には、ICソケット202のI C102の測定が行わ
れ、逆に、ICソケット202についてIC102が装
着中外出し、オフセットrA贅が行われているときには
、ICソケッ) 201のIC102の測定が行わnる
というように、各構成が最大の稼動率となるように動作
が進行する。
サ312のオペレーティングシステムの制御下で適宜行
わnてゆき、ICソケyl’201についてIC102
が装着・外出し、オフセット調整が行わγしているとき
には、ICソケット202のI C102の測定が行わ
れ、逆に、ICソケット202についてIC102が装
着中外出し、オフセットrA贅が行われているときには
、ICソケッ) 201のIC102の測定が行わnる
というように、各構成が最大の稼動率となるように動作
が進行する。
例えば、測定時間が30秒、オフセット調整時間が20
秒、ICの入替え時間(装着・外出し時間)を10秒と
すると、本笑施例では1個のICを30秒で測定する間
に他のICの入替えとオフセット調整とが可lI巨であ
り、測定器208の稼動率を高くでき得る。
秒、ICの入替え時間(装着・外出し時間)を10秒と
すると、本笑施例では1個のICを30秒で測定する間
に他のICの入替えとオフセット調整とが可lI巨であ
り、測定器208の稼動率を高くでき得る。
尚、笑施例で用いた。ICソケット、可変抵抗部、ノベ
ル計、測定器の数は、システムに応じて可変でるる。
ル計、測定器の数は、システムに応じて可変でるる。
以上説明したように本発明によれば、電気的前提条件付
与が行われている間に、ICの測定が実行名几るので、
電気的前提条件付与による時間ロスがなく、測定器の稼
動率を高め、全体として高速でIC検査が可能となるも
のでめる。
与が行われている間に、ICの測定が実行名几るので、
電気的前提条件付与による時間ロスがなく、測定器の稼
動率を高め、全体として高速でIC検査が可能となるも
のでめる。
$1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図の要部の斜視図、第3図、第4図は第1図の要部の構
成図、累5図乃至第7図は不発明の一実施例の前作を説
明するためのフローチff−ト、第8図は従来例のブロ
ック図である。 100・−I C供給回収装置 102・・・IC20
1゜202・・・ICCタケ ト203.204・・・
可変抵抗部205・・・切換器 206・・・電源 2
07・−・レベル計208・・・測定器 209・・・
制御部代理人 弁理士 則 近 憲 佑(ほか
1名) 第4図 TI T2 T3にIAに2
A にnAに+B K2S K7LB第8図 第5図 第6図
図の要部の斜視図、第3図、第4図は第1図の要部の構
成図、累5図乃至第7図は不発明の一実施例の前作を説
明するためのフローチff−ト、第8図は従来例のブロ
ック図である。 100・−I C供給回収装置 102・・・IC20
1゜202・・・ICCタケ ト203.204・・・
可変抵抗部205・・・切換器 206・・・電源 2
07・−・レベル計208・・・測定器 209・・・
制御部代理人 弁理士 則 近 憲 佑(ほか
1名) 第4図 TI T2 T3にIAに2
A にnAに+B K2S K7LB第8図 第5図 第6図
Claims (1)
- 検査に先立つて電気的前提条件付与を行う必要があるI
C自動検査装置において、前記ICがセットされる複数
のICソケットと、このICソケットにセットされたI
Cの特性測定を行う測定器と、前記ICソケットにセッ
トされたICの電気的前提条件付与を行う条件付与部と
、ICソケットにセットされているICの検査信号を前
記測定器へ切換伝達する切換器と、ICがICソケット
にセットされると前記条件付与部に電気的前提条件付与
を行わせた後、この電気的前提条件付与が終了したIC
の特性測定を前記測定器で可能となるように前記切換器
を制御する制御部とを具備したことを特徴とするIC自
動検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60058174A JPS61217777A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Ic自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60058174A JPS61217777A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Ic自動検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61217777A true JPS61217777A (ja) | 1986-09-27 |
Family
ID=13076633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60058174A Pending JPS61217777A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | Ic自動検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61217777A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6273430A (ja) * | 1985-09-26 | 1987-04-04 | Canon Inc | 光情報記録再生装置 |
CN104459219A (zh) * | 2013-11-05 | 2015-03-25 | 昆山西钛微电子科技有限公司 | 测试夹具 |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP60058174A patent/JPS61217777A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6273430A (ja) * | 1985-09-26 | 1987-04-04 | Canon Inc | 光情報記録再生装置 |
CN104459219A (zh) * | 2013-11-05 | 2015-03-25 | 昆山西钛微电子科技有限公司 | 测试夹具 |
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