JPS61211840A - デイスク装置 - Google Patents
デイスク装置Info
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- JPS61211840A JPS61211840A JP5373985A JP5373985A JPS61211840A JP S61211840 A JPS61211840 A JP S61211840A JP 5373985 A JP5373985 A JP 5373985A JP 5373985 A JP5373985 A JP 5373985A JP S61211840 A JPS61211840 A JP S61211840A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野1
この発明は、たとえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などのデ
ィスク装置に関する。
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などのデ
ィスク装置に関する。
[発明の技術的黄銅〕
近年、多聞に発生ずる文書などの画像情報を2次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーとして再生出力し得る画像
情報フ1イル装置が用いられている。
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーとして再生出力し得る画像
情報フ1イル装置が用いられている。
従来、このような光ディスク装置にあっては、スパイラ
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。
ル状に情報を記録する光ディスクが用いられ、この光デ
ィスクの半径方向にリニアモータで直線移動する光学ヘ
ッドにより情報の記録あるいは再生が行われるようにな
っている。
[背順技術の問題点]
しかしながら、上記のようなテ′イスクを用いた光デイ
スク装置では、光学ヘッドにおける対物レンズのフォー
力ツシングを行う場合、取付は誤差等により適正な位置
にビームが照射されないため、フォー力ッシング用の検
知信号を増幅する際に、バイアス電圧(オフセット電圧
)を印加することにより、焦点位置を補正するようにな
っている。
スク装置では、光学ヘッドにおける対物レンズのフォー
力ツシングを行う場合、取付は誤差等により適正な位置
にビームが照射されないため、フォー力ッシング用の検
知信号を増幅する際に、バイアス電圧(オフセット電圧
)を印加することにより、焦点位置を補正するようにな
っている。
しかし、上記ような補正は、取付は時(出荷時)に最適
調整位置つまりエラーレイト(誤差発生率)が最良とな
る位置が設定されているだけである。
調整位置つまりエラーレイト(誤差発生率)が最良とな
る位置が設定されているだけである。
このため、実際の可動によりずれ(温度、湿度、振動、
衝撃等による機械的ずれ)が生じた場合、最適調整位置
が異なってしまい、最良エラーレートが悪化してしまう
。また、調整位置からのずれにより、光デイスク同士の
ばらつきあるいは外部環境の変化による光軸ずれ、ある
いは光検出器の位置ずれ等に対するマージン(余裕)が
狭くなってしまっていた。
衝撃等による機械的ずれ)が生じた場合、最適調整位置
が異なってしまい、最良エラーレートが悪化してしまう
。また、調整位置からのずれにより、光デイスク同士の
ばらつきあるいは外部環境の変化による光軸ずれ、ある
いは光検出器の位置ずれ等に対するマージン(余裕)が
狭くなってしまっていた。
[発明の目的1
この発明は上記事情にもとづいて41された1〕ので、
その目的とするところは、焦点位■を常に適正な位置に
補正することができ、エラーレイ1〜が向上し、調整位
置ずれに対づるマージンを広く持つことができるディス
ク装量を提供J−ることにある。
その目的とするところは、焦点位■を常に適正な位置に
補正することができ、エラーレイ1〜が向上し、調整位
置ずれに対づるマージンを広く持つことができるディス
ク装量を提供J−ることにある。
[発明の1度要]
・ この発明は、上記目的を達成J−るために、集束光
を用いディスクに対して情報の記録あるいは再生を行う
ものにおいて、光源から発せられる光を集束手段を用い
て上記ディスク上に集束し、この集束手段によるディス
ク上での集束位置を変更し、この変更された種々の集束
位置でのエラーレートを判定し、この判定でtqられた
種々のエラーレ=1・を記憶し、この記憶したエラーレ
ー1へにより最適集束位置を判断Iノ、この判断結果に
対応した集束位置に上記集束1段を設定づるようにした
ものである。
を用いディスクに対して情報の記録あるいは再生を行う
ものにおいて、光源から発せられる光を集束手段を用い
て上記ディスク上に集束し、この集束手段によるディス
ク上での集束位置を変更し、この変更された種々の集束
位置でのエラーレートを判定し、この判定でtqられた
種々のエラーレ=1・を記憶し、この記憶したエラーレ
ー1へにより最適集束位置を判断Iノ、この判断結果に
対応した集束位置に上記集束1段を設定づるようにした
ものである。
[発明の実施例]
以下、この発明の一実施例を図面を参照しなか1う説明
する。
する。
第1図はこの発明に係わる画像情報記憶検索装置を示す
ものである。すなわち、11は主制御装置であり、各種
制御を11うCPU12、メインメモリ13、ベージバ
ッフ114、画像情報の圧縮(冗長爪を少なくする)お
よび伸長(少なくされた冗長度を元に戻ず)を行う圧縮
・伸長回路15、文字あるいは記号などのパターン情報
が格納されたパターンジェネレータ16、および表示用
インターフェイス17などから構成されている。20は
読取装置たとえば二次元走査装置で、原稿(文@)を2
1上をレーサ゛ビーム光で二次元走査することにより、
上記原稿21上の画像情報に応じた電気信号を1qるも
のである。22は光デイスク装置で、上記二次元走査装
置20で読取られて上記主制御a装置11を介して供給
される画像情報などを光ディスク19に順次記憶するも
のである。
ものである。すなわち、11は主制御装置であり、各種
制御を11うCPU12、メインメモリ13、ベージバ
ッフ114、画像情報の圧縮(冗長爪を少なくする)お
よび伸長(少なくされた冗長度を元に戻ず)を行う圧縮
・伸長回路15、文字あるいは記号などのパターン情報
が格納されたパターンジェネレータ16、および表示用
インターフェイス17などから構成されている。20は
読取装置たとえば二次元走査装置で、原稿(文@)を2
1上をレーサ゛ビーム光で二次元走査することにより、
上記原稿21上の画像情報に応じた電気信号を1qるも
のである。22は光デイスク装置で、上記二次元走査装
置20で読取られて上記主制御a装置11を介して供給
される画像情報などを光ディスク19に順次記憶するも
のである。
上記光ディスク1つは第2図に示すように、たとえばガ
ラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された縦
板の表面にテルルあるいはヒスマスなどの金属被膜層が
1−一ナツ形にコープrンクされ−Cおり、その金属被
膜層の中心部近1号1: 1.L IJI欠部つより基
準位置で−ク19+か股1ノられている。また、上記光
デイスク19土は基準位置マーク191を「O−1とし
て10〜255Jの256セクタに分割されるJ:うに
なっている。
ラスあるいはプラスチックスなどで円形に形成された縦
板の表面にテルルあるいはヒスマスなどの金属被膜層が
1−一ナツ形にコープrンクされ−Cおり、その金属被
膜層の中心部近1号1: 1.L IJI欠部つより基
準位置で−ク19+か股1ノられている。また、上記光
デイスク19土は基準位置マーク191を「O−1とし
て10〜255Jの256セクタに分割されるJ:うに
なっている。
上記光ディスク19に(ユ可変長の情報(画像り報)が
複数の71コツク(こわた)て記憶ざtiる」、うにな
っており、光ティスフ19上の36.000トラックに
30万フロツクの情報が記憶されるようになっているつ
なJノ、上記光ディスク1つにおける1ブロツクのセク
タ数はたとえは内側で40セクタになり、夕1測でfJ
20セクタに1.蒙るようになっている。また、各フ
ロックがセクタの切換え位置で終了しない場合、第2図
に示す第1)ブロックと第n+1ブロックとC゛示づ゛
ように、ブロックギャップを設置ノ、各ブロックが必ず
セクタの切換え位置から始まるようになっている。上記
ブロックの開始f1Z置にはブロック番号、トランク番
号などからなるブロックヘッダ(ブリへツタ)八がたと
えば光ディスク19の製造詩に記録されるようになって
いる。
複数の71コツク(こわた)て記憶ざtiる」、うにな
っており、光ティスフ19上の36.000トラックに
30万フロツクの情報が記憶されるようになっているつ
なJノ、上記光ディスク1つにおける1ブロツクのセク
タ数はたとえは内側で40セクタになり、夕1測でfJ
20セクタに1.蒙るようになっている。また、各フ
ロックがセクタの切換え位置で終了しない場合、第2図
に示す第1)ブロックと第n+1ブロックとC゛示づ゛
ように、ブロックギャップを設置ノ、各ブロックが必ず
セクタの切換え位置から始まるようになっている。上記
ブロックの開始f1Z置にはブロック番号、トランク番
号などからなるブロックヘッダ(ブリへツタ)八がたと
えば光ディスク19の製造詩に記録されるようになって
いる。
また、上記光ディスク19には、たとえば最内周にフォ
ーカス状態チェック用のデータがあらかじめ記録されで
いるフォー7Jスチエソクエリアaか設けられている。
ーカス状態チェック用のデータがあらかじめ記録されで
いるフォー7Jスチエソクエリアaか設けられている。
このフA−ノjスチェック]リアaに記録されるデータ
として1j、エラーの発生し易いデータが記録されるも
ので、たとえばランダムなデータ、最少ピッデビット(
2ビノヂ)で変化するデータ、あるいは最大ピッデビッ
ト(7ピツヂ)で変化するデータが記録されるようにな
っている。上記フi−カスヂエツタエリアaは複数の1
〜ラツクで構成されている。
として1j、エラーの発生し易いデータが記録されるも
ので、たとえばランダムなデータ、最少ピッデビット(
2ビノヂ)で変化するデータ、あるいは最大ピッデビッ
ト(7ピツヂ)で変化するデータが記録されるようにな
っている。上記フi−カスヂエツタエリアaは複数の1
〜ラツクで構成されている。
一方、23はキーボードで、画像情報に対応する固有の
検索コードおよび各種動作指令などを入力するだめのも
のである。24は出力装置たとえば表示部であるところ
の陰極線管表示装置(以下CRTディスプレイ装置と称
する)で二次元走査装置20で読取られて主制御装置′
11を介しで供給される画像情報あるいは光う′イック
8厘22 /Jlら続出されτ主制御技ば11を介して
供給される画像情報などを表示づる已のであり、主制御
装置11における表示用インターンrイス′17どて大
きな意味の画像情報表示装置を構成している。
検索コードおよび各種動作指令などを入力するだめのも
のである。24は出力装置たとえば表示部であるところ
の陰極線管表示装置(以下CRTディスプレイ装置と称
する)で二次元走査装置20で読取られて主制御装置′
11を介しで供給される画像情報あるいは光う′イック
8厘22 /Jlら続出されτ主制御技ば11を介して
供給される画像情報などを表示づる已のであり、主制御
装置11における表示用インターンrイス′17どて大
きな意味の画像情報表示装置を構成している。
25は記録装置で、E次元走査装置20で読取られて主
制御装置11をftシて1共給される画1象情報あるい
(」光デイスク装置22から読出さt′(て主制御装置
′1′1を介(]て供佑6れる画像情tiFiなどをハ
ードコピー26どして出力Jるものである。27(ま磁
気デ(ス・ン装置で、」二記A−小−1−23iこJ−
り入力された倹@ :q −+・とこの検索]−1,に
対応する1件分の画像情pノのりイスと画像16報が記
憶される光ディスク19−f二の記憶アトL/スからな
る検索データを磁気ディスク28に1(!1−分の画1
象1^報ことに記憶りるものである。
制御装置11をftシて1共給される画1象情報あるい
(」光デイスク装置22から読出さt′(て主制御装置
′1′1を介(]て供佑6れる画像情tiFiなどをハ
ードコピー26どして出力Jるものである。27(ま磁
気デ(ス・ン装置で、」二記A−小−1−23iこJ−
り入力された倹@ :q −+・とこの検索]−1,に
対応する1件分の画像情pノのりイスと画像16報が記
憶される光ディスク19−f二の記憶アトL/スからな
る検索データを磁気ディスク28に1(!1−分の画1
象1^報ことに記憶りるものである。
hg[!検索データ(ユ、複数の検索キーからなる。検
索コード(画像名)と、この検Z(コー1〜に対応−4
る画像情報の光デ、rスク19にお1)る画(砲格納λ
頭ブロック番号、画1象記憶ブロック数(両1絵のHさ
)とからなっている。
索コード(画像名)と、この検Z(コー1〜に対応−4
る画像情報の光デ、rスク19にお1)る画(砲格納λ
頭ブロック番号、画1象記憶ブロック数(両1絵のHさ
)とからなっている。
次に、第3図おJ:び第4図を用いて光デイスク装置2
2の要部の構成を説明する。すなわち、光ディスク1つ
は、七−夕30によって光学l\ラッド1に対して、線
速一定で回転駆動されるようになっている。上記モーフ
30の軸32には、信号発生用マークが一定間隔で設け
られている円板33が固定されていて、この円板33の
マークを発光ダイオードと受光素子とからなる検出器3
4により光学的に検出するようになっている。また、上
記光ディスク19の下方には前記基準位置マーク191
を光学的に検出する発光ダイオードと受光素子とからな
る検出器35が段(プられている。
2の要部の構成を説明する。すなわち、光ディスク1つ
は、七−夕30によって光学l\ラッド1に対して、線
速一定で回転駆動されるようになっている。上記モーフ
30の軸32には、信号発生用マークが一定間隔で設け
られている円板33が固定されていて、この円板33の
マークを発光ダイオードと受光素子とからなる検出器3
4により光学的に検出するようになっている。また、上
記光ディスク19の下方には前記基準位置マーク191
を光学的に検出する発光ダイオードと受光素子とからな
る検出器35が段(プられている。
上記検出器34の出力つまり受光素子の出力(j増幅部
36を介してセクタカウンタ37のクロックパルス入力
端に供給され、このセクタカウンタ37のリセッ1へ入
力端には上記検出器35の出力が増幅部38を介して供
給される。
36を介してセクタカウンタ37のクロックパルス入力
端に供給され、このセクタカウンタ37のリセッ1へ入
力端には上記検出器35の出力が増幅部38を介して供
給される。
また、上記光ディスク1の裏側には、情報の記録、再生
を行うための光学ヘッド31が設けられている。この光
学ヘット・331は、次のように構成される。寸なわら
、4111半導体レーリー(光aQ)であり、この半導
体レーザ41から;J発散性の1.・−ザ光した発生さ
f′(る。この場合、14報を1記光デイスク19の記
録膜19 a 1:…き込む(記録〕に際しでは、書き
込むべき情報に応じてその光強度が変調されたし〜ザ光
りか5@生され、IR報を光ディスク19の記録IQ
19 aから読み出す(再生)際には、一定の光強度を
有するしノー号光りが発生される。そして、半導体し〜
ザ41から光iさ1′1だ発散性のレーザ光りは、コリ
メータレンズ43によンて平行光束に変換され、偏光ビ
ームスプリッタ44に導かれる。この開先ビームスプリ
ッタ44に導かれたレーザ光りは、この偏光ビームスプ
リッタ44を通過した後、1 ′4波長板45を通過し
て対物レンズ46に入射され、この対物レンズ46によ
って光ディスク19の記録膜19 aに向けて集束され
る。ここで、対物レンズ46は、その光軸方向および光
軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支持されており
、対物レンズ46が所定位置に位置されると、この対物
レンズ46h)ら発せられた集束性のルーず光しのビー
ムウェストが光ティスフ19の記録Bダ19aの表面−
1−にj体側され、最小じ一ムスポッ]・が光ディス′
719の記録部I 9 aの表面−Lに形成さねる。こ
の1に態(・二おいて、対物レンズ46は合焦状態およ
び帛トラック状態に保たれ、清報の書き込みおよび読み
出しが可能となる。
を行うための光学ヘッド31が設けられている。この光
学ヘット・331は、次のように構成される。寸なわら
、4111半導体レーリー(光aQ)であり、この半導
体レーザ41から;J発散性の1.・−ザ光した発生さ
f′(る。この場合、14報を1記光デイスク19の記
録膜19 a 1:…き込む(記録〕に際しでは、書き
込むべき情報に応じてその光強度が変調されたし〜ザ光
りか5@生され、IR報を光ディスク19の記録IQ
19 aから読み出す(再生)際には、一定の光強度を
有するしノー号光りが発生される。そして、半導体し〜
ザ41から光iさ1′1だ発散性のレーザ光りは、コリ
メータレンズ43によンて平行光束に変換され、偏光ビ
ームスプリッタ44に導かれる。この開先ビームスプリ
ッタ44に導かれたレーザ光りは、この偏光ビームスプ
リッタ44を通過した後、1 ′4波長板45を通過し
て対物レンズ46に入射され、この対物レンズ46によ
って光ディスク19の記録膜19 aに向けて集束され
る。ここで、対物レンズ46は、その光軸方向および光
軸と直交する方向にそれぞれ移動可能に支持されており
、対物レンズ46が所定位置に位置されると、この対物
レンズ46h)ら発せられた集束性のルーず光しのビー
ムウェストが光ティスフ19の記録Bダ19aの表面−
1−にj体側され、最小じ一ムスポッ]・が光ディス′
719の記録部I 9 aの表面−Lに形成さねる。こ
の1に態(・二おいて、対物レンズ46は合焦状態およ
び帛トラック状態に保たれ、清報の書き込みおよび読み
出しが可能となる。
また、光デfスク19の記録Mu 19 aから反1]
さねI−弁数1牛のレ−1f>にLは、合焦詩には対物
レンズ!16によっで平1テ光栄に変換され、再び1′
4波長阪45を通過して隔光ビームスプリッタ4 l>
に戻される。レーザ光1−が1 ′4波長板45を往復
することにJ−)て、このルーリ゛光りは鍋光ヒームス
ブリッタ44を通過した際に比べて喝波面が90喰回転
してaヅリ、この90度だ1ノ1編ン皮而か回転したル
ー1f光りは、Q光ヒ゛−ムスプリツタ44を通過せず
に、この偏光ビームスブ′リッタ44で反射される。そ
して、1営光ビーl\スプリツタ44で反引したレーザ
光りはハーフミラ−47(ごよ・)−C2系1充(ご分
1)られ、その−n (h園)ツタずれ検出系)のし・
−」j−ヒ−!、1は第1の投用し/ンズ/18によつ
C第1の)し検出器4911.二照射さ↑(る。この第
1の九検出器49(1、第1の1シq1し0、・ズ4
Bによって結峯jざねる光を、電気1シ号に変換する)
5 険ujセル49 ;3 、71r) [) 1.:
r −、> (+A成g tlηいる。これらの光検
出eルー’I 9 a 、 −40bに]って出力され
る信号とl、て(、、i、それぞれ7′1店号、δ信号
が出力されるJ、うになっている。
さねI−弁数1牛のレ−1f>にLは、合焦詩には対物
レンズ!16によっで平1テ光栄に変換され、再び1′
4波長阪45を通過して隔光ビームスプリッタ4 l>
に戻される。レーザ光1−が1 ′4波長板45を往復
することにJ−)て、このルーリ゛光りは鍋光ヒームス
ブリッタ44を通過した際に比べて喝波面が90喰回転
してaヅリ、この90度だ1ノ1編ン皮而か回転したル
ー1f光りは、Q光ヒ゛−ムスプリツタ44を通過せず
に、この偏光ビームスブ′リッタ44で反射される。そ
して、1営光ビーl\スプリツタ44で反引したレーザ
光りはハーフミラ−47(ごよ・)−C2系1充(ご分
1)られ、その−n (h園)ツタずれ検出系)のし・
−」j−ヒ−!、1は第1の投用し/ンズ/18によつ
C第1の)し検出器4911.二照射さ↑(る。この第
1の九検出器49(1、第1の1シq1し0、・ズ4
Bによって結峯jざねる光を、電気1シ号に変換する)
5 険ujセル49 ;3 、71r) [) 1.:
r −、> (+A成g tlηいる。これらの光検
出eルー’I 9 a 、 −40bに]って出力され
る信号とl、て(、、i、それぞれ7′1店号、δ信号
が出力されるJ、うになっている。
一方、ハーフミラ−47によ′)(タンけられjこ(1
11方(焦点はけ検出系)のルーリーヒ−!、 1.、
+よ、ブでノエツヂf光汲出し部(イ)50にj゛・
)て光軸/)自ら離間したfa l或を通過する成分の
み1に出され、第2の投)ルンス51を通過lノた棲第
2の尤検出器52上に照射される。この第2の)V核出
器52は、第2の投射レンズ5′1にJ:って結1象ざ
ilる光を、電気信号に変換する光検出セル52.i、
52bによつで偶成されている。これらのソを検出セル
。
11方(焦点はけ検出系)のルーリーヒ−!、 1.、
+よ、ブでノエツヂf光汲出し部(イ)50にj゛・
)て光軸/)自ら離間したfa l或を通過する成分の
み1に出され、第2の投)ルンス51を通過lノた棲第
2の尤検出器52上に照射される。この第2の)V核出
器52は、第2の投射レンズ5′1にJ:って結1象ざ
ilる光を、電気信号に変換する光検出セル52.i、
52bによつで偶成されている。これらのソを検出セル
。
52a、521〕にJ、)で出力される15号どしては
、それぞれα信号、β1言号が出力されシ、ようになプ
ている。
、それぞれα信号、β1言号が出力されシ、ようになプ
ている。
旧訳光学l\ノド30の出力つまり各光検出セル49a
、491)、52a、52bの出力は、それぞれ増幅器
6’l、62.71.72に供給されるゎ上記増幅器6
1の出力IJ: II1幅器63をfl−シて減算回路
としての差動増幅器68の非反転入力端に供給される。
、491)、52a、52bの出力は、それぞれ増幅器
6’l、62.71.72に供給されるゎ上記増幅器6
1の出力IJ: II1幅器63をfl−シて減算回路
としての差動増幅器68の非反転入力端に供給される。
また、上記J!4@器62の出力は差動増幅器64の非
反転入力端に供給され、この差動増幅器64の反転入力
端には基準信8光生回路65からバイアス電圧(オフセ
ット電圧)が供給される。上記基準信号発生回路65は
制御回路82から供給される信号(ディジタル(g号)
に応じて種々の基準信号としてのバイアス電圧(アナロ
グ信号)を出力するものである。このM車信号発生回路
65ば、記録部、および再生時に対物レンズ16による
ビームスポットが最適位置となるようにするだめの、M
車信号としてのバイアス電圧を出力するものである。ま
た、上記基準信号発生回路65は、エラーレートの検出
時に対物レンズ16によるビームスポットを移動するた
めの、バ−(アス電圧を出力づるらのである。Iことえ
は、−1−記星if、信@光生回路651.を制御回路
82かtし供白される信号により一10ボルト、一つボ
ルト、−+ 10ポル1・のハイ戸ス電I王を出力りる
」うにl了)でいる。
反転入力端に供給され、この差動増幅器64の反転入力
端には基準信8光生回路65からバイアス電圧(オフセ
ット電圧)が供給される。上記基準信号発生回路65は
制御回路82から供給される信号(ディジタル(g号)
に応じて種々の基準信号としてのバイアス電圧(アナロ
グ信号)を出力するものである。このM車信号発生回路
65ば、記録部、および再生時に対物レンズ16による
ビームスポットが最適位置となるようにするだめの、M
車信号としてのバイアス電圧を出力するものである。ま
た、上記基準信号発生回路65は、エラーレートの検出
時に対物レンズ16によるビームスポットを移動するた
めの、バ−(アス電圧を出力づるらのである。Iことえ
は、−1−記星if、信@光生回路651.を制御回路
82かtし供白される信号により一10ボルト、一つボ
ルト、−+ 10ポル1・のハイ戸ス電I王を出力りる
」うにl了)でいる。
また、上記停動1!!i幅器64の出力は季動11コ幅
器6Bの反転入力端に供給される1、これに」:す、隆
動増幅器68は光検出セル52aからの検出1占号ど、
光検出ヒル52 bからの検出信号(こAフレッ1〜電
圧をLIDえた信号との差を取ることにより、1r点ぼ
けに応じた信号を出力するものである。上記差動増幅器
68の出力は、波形整形回路09で整形され、駆動回路
70に供給されろ。この駆動回路70は、波形整形回路
6つからfat #Aされる信号に応じて、前記対物レ
ンズ46を光ディスク19の記録部19aに幻しC垂直
方向に駆動する」イル54に対応する′it流を供給−
づることににす、対物レンズ4Gを駆動するものである
。
器6Bの反転入力端に供給される1、これに」:す、隆
動増幅器68は光検出セル52aからの検出1占号ど、
光検出ヒル52 bからの検出信号(こAフレッ1〜電
圧をLIDえた信号との差を取ることにより、1r点ぼ
けに応じた信号を出力するものである。上記差動増幅器
68の出力は、波形整形回路09で整形され、駆動回路
70に供給されろ。この駆動回路70は、波形整形回路
6つからfat #Aされる信号に応じて、前記対物レ
ンズ46を光ディスク19の記録部19aに幻しC垂直
方向に駆動する」イル54に対応する′it流を供給−
づることににす、対物レンズ4Gを駆動するものである
。
また、−上記増幅器71の出力は増幅器73を介しく減
算回路どしての差動増幅器76の非反転入万端に供給さ
れる。また、上記増幅器72の出力は差動増幅器74の
非反転入力端に供給され、この差動増幅器74の反転入
力端には基準信号発生回路75からバイアス電圧(オフ
レゾ1〜電圧)が供給される。−[記基準信号発生回路
75は、記録I1..5a5よび再生時に対物レンズ1
6によるビームスボッ1〜が最適位冒となるようにする
ための、基準信号としてのバイアス電圧を出力するもの
であり、その値は装置への設定時にレッティングされる
J:うになっている。
算回路どしての差動増幅器76の非反転入万端に供給さ
れる。また、上記増幅器72の出力は差動増幅器74の
非反転入力端に供給され、この差動増幅器74の反転入
力端には基準信号発生回路75からバイアス電圧(オフ
レゾ1〜電圧)が供給される。−[記基準信号発生回路
75は、記録I1..5a5よび再生時に対物レンズ1
6によるビームスボッ1〜が最適位冒となるようにする
ための、基準信号としてのバイアス電圧を出力するもの
であり、その値は装置への設定時にレッティングされる
J:うになっている。
また、上記差動増幅器74の出力は差動増幅器76の反
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器78は
光検出セル/I9aからの検出信号と、光検出セル49
bからの検出信号にオフセット電圧を加えた信号との差
を取ることにより、通常の1〜ラッキング時の1へラッ
クずれに応じた信号を出力するものである。F記差動増
幅器76の出力は、波形整形回路77で整形され、駆動
回路78に供給される。この駆動回路78は、波形整形
回路77から供給される信号に応じて、前記対物レンズ
46を光ディスク19の記録面19aに対して水平方向
に駆動づる一]イル533に3・j応りる電流を供給り
−ることにより、対物レンズ46を駆動するものである
。
転入力端に供給される。これにより、差動増幅器78は
光検出セル/I9aからの検出信号と、光検出セル49
bからの検出信号にオフセット電圧を加えた信号との差
を取ることにより、通常の1〜ラッキング時の1へラッ
クずれに応じた信号を出力するものである。F記差動増
幅器76の出力は、波形整形回路77で整形され、駆動
回路78に供給される。この駆動回路78は、波形整形
回路77から供給される信号に応じて、前記対物レンズ
46を光ディスク19の記録面19aに対して水平方向
に駆動づる一]イル533に3・j応りる電流を供給り
−ることにより、対物レンズ46を駆動するものである
。
また、上記増幅器71の出ノJおよび上記1i!]6i
ii器72の出力は加算回路79に供給される。この加
算回路79は、それらの信号を1」11算した結果をb
先取信号どして後述する2値化回路80に出力σるもの
て゛ある。
ii器72の出力は加算回路79に供給される。この加
算回路79は、それらの信号を1」11算した結果をb
先取信号どして後述する2値化回路80に出力σるもの
て゛ある。
また、前記光学ヘッド30の出力つまり加鳴回路79の
出力は2111!化回路80に供給され、この2値化回
路80で2値化された信号は復調回路81で復調され−
C1lIII■回路82に11(給されるとともに、(
、RCチ■ンク回路87に11ξ給される。1記復調回
路81は再生データの復調を行うもの(゛ある。上記制
御回路82は外部装置つまり前記CP U ’121)
”うの信号に応じて装[a全体を制1211りるbので
ある。V開制御回路82は、たとえば配録あるいは再生
を(iうブロック番号か供給された時、図示しない変換
テーブル部に記憶されでいる変換テーブルに応じてアク
セスするトラック番号、開始セクタ番号を算出するもの
である。また、上記制御回路82は、1〜ラック番号を
算出した時、その1−ラック番号をスケール値に変換し
、このスケール値と図示しない位置検出器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
83を駆動制御するようになっている。このリニアモー
タドライバ83は、制御回路82の制御によりリニアモ
ータ機構84で光学ヘッド31を移動せしめ、光学l\
ラッド1のビーム光が所定のトラックを照射せしめるよ
うになっている。上記リニアモータ機構84は、光学ヘ
ッド31を光デイスク19上における半径方向に移動さ
せるものである。また、制御回路82は上記アクセス時
の目的のトラックに光学ヘッド31が対応したとき、開
始セクタと前記セクタカウンタ37のカウント値が一致
i〕だときに、光学ヘッド31の記録、再生動作を開始
せしめるものである。
出力は2111!化回路80に供給され、この2値化回
路80で2値化された信号は復調回路81で復調され−
C1lIII■回路82に11(給されるとともに、(
、RCチ■ンク回路87に11ξ給される。1記復調回
路81は再生データの復調を行うもの(゛ある。上記制
御回路82は外部装置つまり前記CP U ’121)
”うの信号に応じて装[a全体を制1211りるbので
ある。V開制御回路82は、たとえば配録あるいは再生
を(iうブロック番号か供給された時、図示しない変換
テーブル部に記憶されでいる変換テーブルに応じてアク
セスするトラック番号、開始セクタ番号を算出するもの
である。また、上記制御回路82は、1〜ラック番号を
算出した時、その1−ラック番号をスケール値に変換し
、このスケール値と図示しない位置検出器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
83を駆動制御するようになっている。このリニアモー
タドライバ83は、制御回路82の制御によりリニアモ
ータ機構84で光学ヘッド31を移動せしめ、光学l\
ラッド1のビーム光が所定のトラックを照射せしめるよ
うになっている。上記リニアモータ機構84は、光学ヘ
ッド31を光デイスク19上における半径方向に移動さ
せるものである。また、制御回路82は上記アクセス時
の目的のトラックに光学ヘッド31が対応したとき、開
始セクタと前記セクタカウンタ37のカウント値が一致
i〕だときに、光学ヘッド31の記録、再生動作を開始
せしめるものである。
また、上記制御回路82は前記ページバッファ14から
の記録データを変調回路85で変調してルーナドライバ
86に供給する。上記変調回路85は制御回路82かう
供給される記録データの変調を行うものである。上記ル
ーIJ″ドライバ86は供給される変調信号に応じて光
学ヘラ1−31内の半導体レーザ41を駆動”づること
により、データの記録を行うしのである。
の記録データを変調回路85で変調してルーナドライバ
86に供給する。上記変調回路85は制御回路82かう
供給される記録データの変調を行うものである。上記ル
ーIJ″ドライバ86は供給される変調信号に応じて光
学ヘラ1−31内の半導体レーザ41を駆動”づること
により、データの記録を行うしのである。
上記CRCチェック(量ナイフリック リタンタンシイ
チェック)回路87は、復調回路81から供給される
復調信号により、たとえば16バイトごとのデータとC
RCコードとにより周期冗長検査を行う回路である。こ
のCRCチェック回路87によるチェック結果は制御回
路82を介してカウンタ88に供給される。このカウン
タ88は供給されるエラー数を引数するものである。−
F記制御回路82は、■ラージ−1〜チエツクモート時
、個々のバイアス電圧ごとに11へラックに対してカウ
ンタ88から供給されるカウンI〜数(エラーレート)
を記憶回路89に記憶するようになっている。
チェック)回路87は、復調回路81から供給される
復調信号により、たとえば16バイトごとのデータとC
RCコードとにより周期冗長検査を行う回路である。こ
のCRCチェック回路87によるチェック結果は制御回
路82を介してカウンタ88に供給される。このカウン
タ88は供給されるエラー数を引数するものである。−
F記制御回路82は、■ラージ−1〜チエツクモート時
、個々のバイアス電圧ごとに11へラックに対してカウ
ンタ88から供給されるカウンI〜数(エラーレート)
を記憶回路89に記憶するようになっている。
次に、このような構成において動作を説明する。
たとえば今、光デイスク装置22に光ディスク19を設
定する。すると、CPU12はエラーレートチェックモ
ードと判断し、その信号を制御回路82に出力する。こ
れにより、制(社)回路82は図示しない変換テーブル
部を用いてフォーカスチェックエリアaの開始トラック
番号と開始セクタとを算出する。このl・ラック番号に
より、制御回路82はそのトラック番号をスケール値に
変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出力
により検出される位置とが一致するまでリニアモータド
ライバ83を駆動ゼしめる。ついで、制御回路82はセ
クタカウンタ37のカウンl〜値と上記開始セクタとが
一致した際、フォーカスチェックエリアaに対するデー
タの再生を開始する。この場合、制御回路82はまず基
準信号発生回路65から発生されるバイアス電圧がOポ
ル1〜となる信号を基準信号発生回路65に出力する。
定する。すると、CPU12はエラーレートチェックモ
ードと判断し、その信号を制御回路82に出力する。こ
れにより、制(社)回路82は図示しない変換テーブル
部を用いてフォーカスチェックエリアaの開始トラック
番号と開始セクタとを算出する。このl・ラック番号に
より、制御回路82はそのトラック番号をスケール値に
変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出力
により検出される位置とが一致するまでリニアモータド
ライバ83を駆動ゼしめる。ついで、制御回路82はセ
クタカウンタ37のカウンl〜値と上記開始セクタとが
一致した際、フォーカスチェックエリアaに対するデー
タの再生を開始する。この場合、制御回路82はまず基
準信号発生回路65から発生されるバイアス電圧がOポ
ル1〜となる信号を基準信号発生回路65に出力する。
このような状態において、半導体レーザ41から発生さ
れた発散性の偏光度のレーザ光束(再生ビーム光)は、
コリメータレンズ43によって平行光束に変換され、偏
光ビームスプリッタ44に導かれる。この偏光ビームス
プリッタ44に導かれたレーザ光1−は、この陽光ビー
ムスプリッタ44を通過した後、1,74波長板45を
通過して対物レンズ46に入用され、この対物レンズ4
6によって光ディスク1つの記録膜19aに向けて集束
される。この状態におい°C1この再生ビーム光に対4
−る光デ、fスク19からの反射光は、対物レンズ46
によって平行光束に変換され、再び1774波長板45
を通過して偏光ビームスプリッタ44に戻される。レー
ザ光1−が1/4波長板45を往復することによって、
このレーザ光りは偏光ビームスプリッタ44を通過した
際に比べて偏波面が90度回転しており、この90度だ
()偏波面が回転したレーザ光L−は、偏光ビームスプ
リッタ44を通過せずに、この偏光ヒームスプリツタ4
4で反射される。そして、偏光ビームスプリッタ44で
反射したレーザ光しはハーフミラ−47によって2系統
に分けられ、その一方(1〜ラツクずれ検出系)のし〜
ザビームLは第1の投射レンズ48によって第1の光検
出器49上に照射される。一方、ハーフミラ−47によ
って分けられた他方(焦点ぼ(プ検出系)のレーザビー
ムしは、ナイフエッチ(光抜出し部材)50によって光
軸から離間した領域を通過する成分のみ抜出され、第2
の投射レンズ51を通過した後筒2の光検出器52上に
照射される。したがって、光検出セル52a、52b、
49a、49bから照射光に応じた信号が出力され、そ
れらの信号がそれぞれ増幅器61.62.71.72に
供給される。
れた発散性の偏光度のレーザ光束(再生ビーム光)は、
コリメータレンズ43によって平行光束に変換され、偏
光ビームスプリッタ44に導かれる。この偏光ビームス
プリッタ44に導かれたレーザ光1−は、この陽光ビー
ムスプリッタ44を通過した後、1,74波長板45を
通過して対物レンズ46に入用され、この対物レンズ4
6によって光ディスク1つの記録膜19aに向けて集束
される。この状態におい°C1この再生ビーム光に対4
−る光デ、fスク19からの反射光は、対物レンズ46
によって平行光束に変換され、再び1774波長板45
を通過して偏光ビームスプリッタ44に戻される。レー
ザ光1−が1/4波長板45を往復することによって、
このレーザ光りは偏光ビームスプリッタ44を通過した
際に比べて偏波面が90度回転しており、この90度だ
()偏波面が回転したレーザ光L−は、偏光ビームスプ
リッタ44を通過せずに、この偏光ヒームスプリツタ4
4で反射される。そして、偏光ビームスプリッタ44で
反射したレーザ光しはハーフミラ−47によって2系統
に分けられ、その一方(1〜ラツクずれ検出系)のし〜
ザビームLは第1の投射レンズ48によって第1の光検
出器49上に照射される。一方、ハーフミラ−47によ
って分けられた他方(焦点ぼ(プ検出系)のレーザビー
ムしは、ナイフエッチ(光抜出し部材)50によって光
軸から離間した領域を通過する成分のみ抜出され、第2
の投射レンズ51を通過した後筒2の光検出器52上に
照射される。したがって、光検出セル52a、52b、
49a、49bから照射光に応じた信号が出力され、そ
れらの信号がそれぞれ増幅器61.62.71.72に
供給される。
これにより、上記増幅器61からの信号は増幅器63で
増幅され差動増幅器68に供給される。
増幅され差動増幅器68に供給される。
また、増幅器62からの出力は差動増幅器64に供給さ
れる。このとき、基準信号発生回路66は「0」ボルト
のバイアス電圧を差動増幅器64に供給している。これ
により、差動増幅器64は増幅器62から供給される信
号にバイアス電圧(OV)を加えた信号を差動増幅器6
8に出力する。したがって、差動増幅器68は光検出セ
ル52aからの検出信号と、光検出セル52bからの検
出信号にバイアス電圧(OV)を加えた信号との差を取
ることにより得られる信号を、波形整形回路69を介し
て駆動回路70に出力する。これにJ:す、駆動回路7
0は波形整形回路69からの信号に応じてコイル54に
所定の電流を供給し、 ・対物レンズ46を垂
直方向に駆動して、フォーカス位置を移動する。
れる。このとき、基準信号発生回路66は「0」ボルト
のバイアス電圧を差動増幅器64に供給している。これ
により、差動増幅器64は増幅器62から供給される信
号にバイアス電圧(OV)を加えた信号を差動増幅器6
8に出力する。したがって、差動増幅器68は光検出セ
ル52aからの検出信号と、光検出セル52bからの検
出信号にバイアス電圧(OV)を加えた信号との差を取
ることにより得られる信号を、波形整形回路69を介し
て駆動回路70に出力する。これにJ:す、駆動回路7
0は波形整形回路69からの信号に応じてコイル54に
所定の電流を供給し、 ・対物レンズ46を垂
直方向に駆動して、フォーカス位置を移動する。
このような状態において、増幅器71.72の出力は加
算回路79で加算され、2値化回路8゜に供給される。
算回路79で加算され、2値化回路8゜に供給される。
ついで、イの2値化回路80で2値化されたデータは復
調回路81で復調され、制御回路82およびCRCチェ
ック回路87に供給される。これにより、制御回路82
は対応するトラックのプリヘッダを判断した場合、その
ヘッダに続【プて読出されるデータに対するCRCチェ
ック回路87のチェック結果を、カウンタ88で計数す
る。そして、1トラック分に対するチェックが行われた
時、制御回路82はカウンタ88の内容をバイアス「O
V」に対するエラー数として記憶回路89に記憶すると
ともに、カウンタをクリアする。
調回路81で復調され、制御回路82およびCRCチェ
ック回路87に供給される。これにより、制御回路82
は対応するトラックのプリヘッダを判断した場合、その
ヘッダに続【プて読出されるデータに対するCRCチェ
ック回路87のチェック結果を、カウンタ88で計数す
る。そして、1トラック分に対するチェックが行われた
時、制御回路82はカウンタ88の内容をバイアス「O
V」に対するエラー数として記憶回路89に記憶すると
ともに、カウンタをクリアする。
ついで、制御回路82は基準信号発生回路65からの発
生されるバイアス電圧が+1ポル1へとなる信号を基準
信号発生回路65に出力する。これにより、上記増幅器
61からの信号は増幅器63で増幅され差動増幅器68
に供給される。また、増幅器62からの出力は差動増幅
器64に供給される。このとき、基準信号発生回路66
は「+1」ボルトのバイアス電圧を差動増幅器64に供
給している。これにより、差動増幅器64は増幅器62
から供給される信号にバイアス電圧(+I V )を加
えた信号を差動増幅器68に出力する。したがって、差
動増幅器68は光検出セル52aからの検出信号と、光
検出セル52bからの検出信号にバイアス電圧(+1v
>を加えた信号との差を取ることにより得られる、信号
を波形整形回路69を介して駆動回路70に出力する。
生されるバイアス電圧が+1ポル1へとなる信号を基準
信号発生回路65に出力する。これにより、上記増幅器
61からの信号は増幅器63で増幅され差動増幅器68
に供給される。また、増幅器62からの出力は差動増幅
器64に供給される。このとき、基準信号発生回路66
は「+1」ボルトのバイアス電圧を差動増幅器64に供
給している。これにより、差動増幅器64は増幅器62
から供給される信号にバイアス電圧(+I V )を加
えた信号を差動増幅器68に出力する。したがって、差
動増幅器68は光検出セル52aからの検出信号と、光
検出セル52bからの検出信号にバイアス電圧(+1v
>を加えた信号との差を取ることにより得られる、信号
を波形整形回路69を介して駆動回路70に出力する。
これにより、駆動回路70は波形整形回路69からの信
号に応じてコイル54に所定の電流を供給し、対物レン
ズ46を垂直方向に駆動して、フォーカス位置を移動す
る。
号に応じてコイル54に所定の電流を供給し、対物レン
ズ46を垂直方向に駆動して、フォーカス位置を移動す
る。
このような状態において、増幅器71.72の出力は加
算回路79で加算され、2値化回路80に供給される。
算回路79で加算され、2値化回路80に供給される。
ついで、その2値化回路80で2値化されたデータは復
調回路81で復調され、制御回路82およびCRCチェ
ック回路87に供給される。これにより、制御回路82
は対応する1〜ラツクのプリヘッダを判断した場合、そ
のヘッダに続けて読出されるデータに対するCRCチェ
ック回路87のチェック結果を、カウンタ88で計数す
る。そして、11〜ラツク分に対するチェックが行われ
た時、制御回路82はカウンタ88の内容をバイアスr
+IVJに対づるエラー数として記憶回路89に記憶す
るとともに、カウンタをクリアづ−る。
調回路81で復調され、制御回路82およびCRCチェ
ック回路87に供給される。これにより、制御回路82
は対応する1〜ラツクのプリヘッダを判断した場合、そ
のヘッダに続けて読出されるデータに対するCRCチェ
ック回路87のチェック結果を、カウンタ88で計数す
る。そして、11〜ラツク分に対するチェックが行われ
た時、制御回路82はカウンタ88の内容をバイアスr
+IVJに対づるエラー数として記憶回路89に記憶す
るとともに、カウンタをクリアづ−る。
ざらに、制御回路82は基準信号発生回路65からの発
生されるバイアス電圧が1ホル1〜ずつ加えた電圧とな
る信号を基準信号発生回路65に順次出力し、上記同様
に動作することにより、それぞれのバイアス電圧(IV
〜+nv>に対するエラー数を求め記憶回路89に記憶
する。
生されるバイアス電圧が1ホル1〜ずつ加えた電圧とな
る信号を基準信号発生回路65に順次出力し、上記同様
に動作することにより、それぞれのバイアス電圧(IV
〜+nv>に対するエラー数を求め記憶回路89に記憶
する。
そして、ブリへツタがトラッキングエラー、フォーカス
異常等にJ:り読取れないバイアス電圧となった場合、
制御回路82は基準信号発生回路65からの発生される
バイアス電圧が一1ボルトから1ボルトずつ引いた電圧
となる信号を基準信号発生回路65に順次出力し、上記
同様に動作することにより、それぞれのバイアス電圧(
−1V〜−nV)に対するエラー数を求め記憶回路89
に記憶する。
異常等にJ:り読取れないバイアス電圧となった場合、
制御回路82は基準信号発生回路65からの発生される
バイアス電圧が一1ボルトから1ボルトずつ引いた電圧
となる信号を基準信号発生回路65に順次出力し、上記
同様に動作することにより、それぞれのバイアス電圧(
−1V〜−nV)に対するエラー数を求め記憶回路89
に記憶する。
そして、プリヘッダがトラッキングエラー、フォーカス
異常等により読取れないバイアス電圧となった場合、制
御回路82は記憶回路89に記憶した各バイアス電圧に
対するエラー数(エラーレート)から最適バイアスを求
め、この求めたバイアスに対応する信号を基準信号発生
回路65に出力する。たとえば、第5図に示すように、
バイアス電圧が一2ボルトと+6ボルトの時、エラーレ
ートが10−”(エラー数的50)、バイアス電圧が一
1ボルトと+5ボルトの時、エラーレートが10瘍(エ
ラー数的5)、バイアス電圧がOポルI〜〜+4ポルI
〜の時、エラーレートが10″&(エラー数O)、とい
うエラールー1〜か得られた場合、最適なバイアス電圧
は+2ポル1−と判断され、基準信号発生回路65から
+2ボルトのバイアス電圧が発生されるようにする。こ
れにより、対物レンズ46を最良の位置に設定すること
ができ、取付は位置ずれに対するマージンも広く取る゛
ことができる。
異常等により読取れないバイアス電圧となった場合、制
御回路82は記憶回路89に記憶した各バイアス電圧に
対するエラー数(エラーレート)から最適バイアスを求
め、この求めたバイアスに対応する信号を基準信号発生
回路65に出力する。たとえば、第5図に示すように、
バイアス電圧が一2ボルトと+6ボルトの時、エラーレ
ートが10−”(エラー数的50)、バイアス電圧が一
1ボルトと+5ボルトの時、エラーレートが10瘍(エ
ラー数的5)、バイアス電圧がOポルI〜〜+4ポルI
〜の時、エラーレートが10″&(エラー数O)、とい
うエラールー1〜か得られた場合、最適なバイアス電圧
は+2ポル1−と判断され、基準信号発生回路65から
+2ボルトのバイアス電圧が発生されるようにする。こ
れにより、対物レンズ46を最良の位置に設定すること
ができ、取付は位置ずれに対するマージンも広く取る゛
ことができる。
つぎに、上記のようにして最適フォーカス位置への設定
が終了した状態において、データの記録を説明する。た
とえば今、前記主制御I波装置1のCPU12から記録
を行う(アクセスする)ブロック番号が制御回路82に
供給されたとする。Jると、制御回路82は図示しない
変換テーブル部を用いて目的のブロックに対するトラッ
ク番号と開始セクタとを算出する。この1〜ラツク番号
により、制御回路82はそのトラック番号をスケール値
に変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出
力により検出される位置とが一致するまてリニアモータ
[・ライバ83を駆動せしめる。ついで、制御回路82
はセクタカウンタ37のカラン1〜値と上記開始セクタ
どが一致した際、光ディスク19に対するデータの記録
を開始刃−る。このとき、制御回路82からの記録デー
タは変調回路85で変調され、レーザドライバ86へ供
給される。これにより、レーザドライバ86は供給され
る変調信号に応じて光学ヘッド31内の半導体レーザ4
1を駆動ブることにより、データの記録を行う。
が終了した状態において、データの記録を説明する。た
とえば今、前記主制御I波装置1のCPU12から記録
を行う(アクセスする)ブロック番号が制御回路82に
供給されたとする。Jると、制御回路82は図示しない
変換テーブル部を用いて目的のブロックに対するトラッ
ク番号と開始セクタとを算出する。この1〜ラツク番号
により、制御回路82はそのトラック番号をスケール値
に変換し、このスケール値と図示しない位置検出器の出
力により検出される位置とが一致するまてリニアモータ
[・ライバ83を駆動せしめる。ついで、制御回路82
はセクタカウンタ37のカラン1〜値と上記開始セクタ
どが一致した際、光ディスク19に対するデータの記録
を開始刃−る。このとき、制御回路82からの記録デー
タは変調回路85で変調され、レーザドライバ86へ供
給される。これにより、レーザドライバ86は供給され
る変調信号に応じて光学ヘッド31内の半導体レーザ4
1を駆動ブることにより、データの記録を行う。
また、データの再生について説明する。たとえば勺、前
記1−制御装置11のCPU12から再生を行う(アク
セスする)ブIコック番号が制御回路82に供給された
とづる。すると、制御回路82は図示しない変換テーブ
ル部を用いて目的のブロックに対するトラック番号と開
始セクタどを算出覆る。このトラック番号により、制御
回路82はそのI−ラック番号をスケール値に変換し、
このスケール値と図示しない位置検8」器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
83を駆動ぜしめる。ついて、制御711回路82はセ
クタカウンタ37のカウント舶と十nL niI始レク
しどか−+’tした際、光ディスク19に対Jるj−タ
の再生を開始Jる。このとき、光学l\ツ(・31の読
取信号は2稙化回路80に供給きれ、この2値化回路8
0で2値化された信号は(り調回路81に供給される、
この復調回路81は、2伯化回路80から供給される信
号を復調し、この復調した再生データを制御回路82へ
出力する。づると、制御回路821まイの再住データを
前記主制御j11装置11内のページバッファ14に出
力覆る。
記1−制御装置11のCPU12から再生を行う(アク
セスする)ブIコック番号が制御回路82に供給された
とづる。すると、制御回路82は図示しない変換テーブ
ル部を用いて目的のブロックに対するトラック番号と開
始セクタどを算出覆る。このトラック番号により、制御
回路82はそのI−ラック番号をスケール値に変換し、
このスケール値と図示しない位置検8」器の出力により
検出される位置とが一致するまでリニアモータドライバ
83を駆動ぜしめる。ついて、制御711回路82はセ
クタカウンタ37のカウント舶と十nL niI始レク
しどか−+’tした際、光ディスク19に対Jるj−タ
の再生を開始Jる。このとき、光学l\ツ(・31の読
取信号は2稙化回路80に供給きれ、この2値化回路8
0で2値化された信号は(り調回路81に供給される、
この復調回路81は、2伯化回路80から供給される信
号を復調し、この復調した再生データを制御回路82へ
出力する。づると、制御回路821まイの再住データを
前記主制御j11装置11内のページバッファ14に出
力覆る。
すなわち、半導体レーザ41から発q:された発散性の
レーザ光1−は、]リメータレンズ43にJ、って平行
光束に変換され、偏光ビームスブリック71I4に導か
れる。この偏光ビームスプリッタ7′I4に導かれたレ
ーザ光りは、この偏光ビームスプリッタ44を通過した
後、174波長板455を通過してλ1物lノンズ46
に大剣され、この対物レンズ46によって光ディスク1
9の記録II! 19 aに向1プて集束される。この
状態にa5いて、情報の記録を行う際には、強光度のレ
ーザ光束(記録ビーム光)の照射によって、光デイスク
19上のトラックにビットが形成され、記録ビーム光の
照射を行う際以外および情報の再生を行う際には、弱光
型のレーザ光束(再生ビーム光)が照射される。この再
生ビーム光に対づる光ディスク19からの反射光は、対
物レンズ46によって平行光束に変換され、再び1/4
1波長板45を通過して偏光ビームスプリッタ44に戻
される。レーザ光りが1/4波長板45を往復すること
によって、このレーザ光りは偏光ビームスプリンタ44
を通過した際に比べて偏波面が90度回転しており、こ
の90度だけ偏波面が回転したレーザ光1−は、偏光ビ
ームスプリッタ44を通過せずに、この偏光ビームスプ
リッタ44で反則される。そして、偏光ビームスプリッ
タ44で反射したレーザ光りはハーフミラ−47によっ
て2系統に分(プられ、その一方(トラックずれ検出系
)のレーザビームLは第1の投射レンズ48によって第
1の光検出器49上に照射される。一方、ハーフミラ−
47によって分(プられた他方(焦点ぼけ検出系)のレ
ーザじ−ムLは、ナイフ]−ツヂ(光仇出し部+4 )
50によって光軸から#1間した領域を通過する成分
のみ1h出され、第2の投射レンズ51を通過した後、
第2の光検出器52上に照射される。したがって、光検
出セル52a、52b、49a、49bから照射光(、
こ応じた信号が出力され、それらの信号かイれぞれ増幅
器61.62.71.72に供給される。これにより、
増幅器71.72の出力は加算回路79により加算され
、この加算結果が読取信号(再生信号)として211化
回路80に供給されるわ このような状態において、情報の記録時および再生詩に
お()るフォー力ツシング動作について説明する。ずな
わら、上記増幅器61からの信号は増幅器63で増幅さ
れ差動増幅器68に供給される。また、増幅器62から
の出力は差動増幅器64に供給される。このとき、基準
信号発生回路66には制御回路82から前述したエラー
シー1−チェックモードで得られた信号が供給されてい
る、このため、基準信号発生回路66はたとえは基準信
号として1−2ボルトのバイアス電圧を差動増幅器64
に供給している。これにより、差動増幅器64は増幅器
62から供給される信号にバイアス電圧を力Iえた信号
を差動増幅器68に出力する。
レーザ光1−は、]リメータレンズ43にJ、って平行
光束に変換され、偏光ビームスブリック71I4に導か
れる。この偏光ビームスプリッタ7′I4に導かれたレ
ーザ光りは、この偏光ビームスプリッタ44を通過した
後、174波長板455を通過してλ1物lノンズ46
に大剣され、この対物レンズ46によって光ディスク1
9の記録II! 19 aに向1プて集束される。この
状態にa5いて、情報の記録を行う際には、強光度のレ
ーザ光束(記録ビーム光)の照射によって、光デイスク
19上のトラックにビットが形成され、記録ビーム光の
照射を行う際以外および情報の再生を行う際には、弱光
型のレーザ光束(再生ビーム光)が照射される。この再
生ビーム光に対づる光ディスク19からの反射光は、対
物レンズ46によって平行光束に変換され、再び1/4
1波長板45を通過して偏光ビームスプリッタ44に戻
される。レーザ光りが1/4波長板45を往復すること
によって、このレーザ光りは偏光ビームスプリンタ44
を通過した際に比べて偏波面が90度回転しており、こ
の90度だけ偏波面が回転したレーザ光1−は、偏光ビ
ームスプリッタ44を通過せずに、この偏光ビームスプ
リッタ44で反則される。そして、偏光ビームスプリッ
タ44で反射したレーザ光りはハーフミラ−47によっ
て2系統に分(プられ、その一方(トラックずれ検出系
)のレーザビームLは第1の投射レンズ48によって第
1の光検出器49上に照射される。一方、ハーフミラ−
47によって分(プられた他方(焦点ぼけ検出系)のレ
ーザじ−ムLは、ナイフ]−ツヂ(光仇出し部+4 )
50によって光軸から#1間した領域を通過する成分
のみ1h出され、第2の投射レンズ51を通過した後、
第2の光検出器52上に照射される。したがって、光検
出セル52a、52b、49a、49bから照射光(、
こ応じた信号が出力され、それらの信号かイれぞれ増幅
器61.62.71.72に供給される。これにより、
増幅器71.72の出力は加算回路79により加算され
、この加算結果が読取信号(再生信号)として211化
回路80に供給されるわ このような状態において、情報の記録時および再生詩に
お()るフォー力ツシング動作について説明する。ずな
わら、上記増幅器61からの信号は増幅器63で増幅さ
れ差動増幅器68に供給される。また、増幅器62から
の出力は差動増幅器64に供給される。このとき、基準
信号発生回路66には制御回路82から前述したエラー
シー1−チェックモードで得られた信号が供給されてい
る、このため、基準信号発生回路66はたとえは基準信
号として1−2ボルトのバイアス電圧を差動増幅器64
に供給している。これにより、差動増幅器64は増幅器
62から供給される信号にバイアス電圧を力Iえた信号
を差動増幅器68に出力する。
したがって、差動増幅器68は光検出セル52aからの
検出信号と、光検出しル52bからの検出信号にバイア
ス電U−(オフpツ1へ電圧)を加えた信号との差を取
ることにより得られる、焦点は()に応じた信号を波形
整形回路69を介して駆動回路70に出力Jる。これに
より、駆動回路70は波形整形回路6つからの信号に応
じてコイル54に所定の電流を供給し、対物レンズ46
を垂直方向に駆動して、記録時にお【JるフA−力ツシ
ングを行う。この結果、記録時におIJる対物レンズ4
6にJ:るビームスボッ1〜が、対物レンズ46の機構
的位置ずれが生じていたどしても、上記バイアス電圧に
より補正することにより、最適位置とすることができる
。
検出信号と、光検出しル52bからの検出信号にバイア
ス電U−(オフpツ1へ電圧)を加えた信号との差を取
ることにより得られる、焦点は()に応じた信号を波形
整形回路69を介して駆動回路70に出力Jる。これに
より、駆動回路70は波形整形回路6つからの信号に応
じてコイル54に所定の電流を供給し、対物レンズ46
を垂直方向に駆動して、記録時にお【JるフA−力ツシ
ングを行う。この結果、記録時におIJる対物レンズ4
6にJ:るビームスボッ1〜が、対物レンズ46の機構
的位置ずれが生じていたどしても、上記バイアス電圧に
より補正することにより、最適位置とすることができる
。
また、他の光ディスク19をか(プかえた際、あるいは
オープン峙に、」=記のJ、うに最適調整IQ[θにり
J物しンスによる焦点!il 昭を変更Jるよう(こし
ても良い。
オープン峙に、」=記のJ、うに最適調整IQ[θにり
J物しンスによる焦点!il 昭を変更Jるよう(こし
ても良い。
上記したように、光ディスク19の光ディスク装置22
への設定(か(Jかえ)時に、最適調整位置に対物1ノ
ンズによる焦点位置を変更7ることかでき、またJシー
レイ1〜が最良の位置に設定覆ることができ、調整位置
ずれに対重るマージンも仏画を常に最適調整位置に補正
づることができ、]−ラーレイ1へか向上し、調整位置
fねに対重るマージンを広く持つことができるディスク
装置を提供できる。
への設定(か(Jかえ)時に、最適調整位置に対物1ノ
ンズによる焦点位置を変更7ることかでき、またJシー
レイ1〜が最良の位置に設定覆ることができ、調整位置
ずれに対重るマージンも仏画を常に最適調整位置に補正
づることができ、]−ラーレイ1へか向上し、調整位置
fねに対重るマージンを広く持つことができるディスク
装置を提供できる。
図面はこの発明の一実施例を示4もので、第1図は画像
情報記憶検索装置の構成を示ゴブ〔jツク図、第2図は
光ディスクの(R成を説明づるための平面図、第3図お
よび第4図はディスク装置の構成を概略的に示す図、第
5図はバイアス電圧と工う−ルー1〜の関係を説明する
ための図である。 19・・・光ディスク(ディスク)、a・・・フォー力
スチェックエリア、22・・・光デイスク装置、31・
・・光学ヘッド、41・・・光源(半導体レーザ)、4
6・・・対物レンズ、52・・・第2の光検出器、52
a、52b・・・光検出セル、61.62・・・増幅器
、63.64.68・・・差動増幅器、65・・・基準
信号発生回路、69・・・波形整形回路、70・・・駆
動回路、80・・・2値化回路、81・・・復調回路、
82・・・制御回路、87・・・CRCチェック回路、
88・・・カウンタ、89・・・記憶回路。
情報記憶検索装置の構成を示ゴブ〔jツク図、第2図は
光ディスクの(R成を説明づるための平面図、第3図お
よび第4図はディスク装置の構成を概略的に示す図、第
5図はバイアス電圧と工う−ルー1〜の関係を説明する
ための図である。 19・・・光ディスク(ディスク)、a・・・フォー力
スチェックエリア、22・・・光デイスク装置、31・
・・光学ヘッド、41・・・光源(半導体レーザ)、4
6・・・対物レンズ、52・・・第2の光検出器、52
a、52b・・・光検出セル、61.62・・・増幅器
、63.64.68・・・差動増幅器、65・・・基準
信号発生回路、69・・・波形整形回路、70・・・駆
動回路、80・・・2値化回路、81・・・復調回路、
82・・・制御回路、87・・・CRCチェック回路、
88・・・カウンタ、89・・・記憶回路。
Claims (3)
- (1)集束光を用いディスクに対して情報の記録あるい
は再生を行うディスク装置において、光源と、この光源
から発せられる光を前記ディスク上に集束する集束手段
と、この集束手段によるディスク上での集束位置を変更
する変更手段と、この変更手段により変更された種々の
集束位置でのエラーレートを判定する判定手段と、この
判定手段で得られた種々のエラーレートを記憶する記憶
手段と、この記憶手段に記憶したエラーレートにより最
適集束位置を判断する判断手段と、この判断手段の判断
結果に対応した集束位置に前記集束手段を設定する手段
とを具備したことを特徴とするディスク装置。 - (2)前記集束手段の適正位置への設定が、ディスクの
設定時に行われることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載のデイスク装置。 - (3)前記エラーレートの判定が、ディスクにあらかじ
め設けられているフォーカスチェックエリアを用いて行
うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のディス
ク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5373985A JPS61211840A (ja) | 1985-03-18 | 1985-03-18 | デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5373985A JPS61211840A (ja) | 1985-03-18 | 1985-03-18 | デイスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61211840A true JPS61211840A (ja) | 1986-09-19 |
Family
ID=12951190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5373985A Pending JPS61211840A (ja) | 1985-03-18 | 1985-03-18 | デイスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61211840A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02246024A (ja) * | 1989-03-17 | 1990-10-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 焦点位置の調整方法および焦点制御装置 |
JPH03160623A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-10 | Ricoh Co Ltd | フォーカスオフセット補正方法 |
US7281175B1 (en) * | 1999-02-26 | 2007-10-09 | Sony Corporation | Readout controlling apparatus, reproducing apparatus, recording apparatus, and readout controlling method |
-
1985
- 1985-03-18 JP JP5373985A patent/JPS61211840A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02246024A (ja) * | 1989-03-17 | 1990-10-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 焦点位置の調整方法および焦点制御装置 |
JPH03160623A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-10 | Ricoh Co Ltd | フォーカスオフセット補正方法 |
US7281175B1 (en) * | 1999-02-26 | 2007-10-09 | Sony Corporation | Readout controlling apparatus, reproducing apparatus, recording apparatus, and readout controlling method |
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