JPS61201173A - 磁気デイスク特性測定装置 - Google Patents
磁気デイスク特性測定装置Info
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- JPS61201173A JPS61201173A JP4216585A JP4216585A JPS61201173A JP S61201173 A JPS61201173 A JP S61201173A JP 4216585 A JP4216585 A JP 4216585A JP 4216585 A JP4216585 A JP 4216585A JP S61201173 A JPS61201173 A JP S61201173A
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- Japan
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- pulse
- magnetic disk
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- signals
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、論理信号「1」及びrOJを交互に記憶する
書込み処理が行なわれた磁気ディスクに所定アナログ・
レベル以上の論理信号が記憶されているかによって、磁
気ディスクの特性を測定する磁気ディスク特性測定装置
に関する。
書込み処理が行なわれた磁気ディスクに所定アナログ・
レベル以上の論理信号が記憶されているかによって、磁
気ディスクの特性を測定する磁気ディスク特性測定装置
に関する。
ナログ・レベル以上で論理信号が記憶されているかを調
べる測定項目がある。この測定を行なうには、まず被測
定磁気ディスクに論理信号「1」及び「0」を交互に書
込み、次にこの磁気ディスクの記憶内容を順次読出す。
べる測定項目がある。この測定を行なうには、まず被測
定磁気ディスクに論理信号「1」及び「0」を交互に書
込み、次にこの磁気ディスクの記憶内容を順次読出す。
磁気ディスクが正常ならば、はぼ正弦波の所定振幅の読
出し信号が得られる。しかし、磁気ディスクに欠陥があ
ると、その欠陥部分に対応する読出し信号の振幅が所定
値以下になってしまう。この欠陥部分の位置を知る必要
がある。
出し信号が得られる。しかし、磁気ディスクに欠陥があ
ると、その欠陥部分に対応する読出し信号の振幅が所定
値以下になってしまう。この欠陥部分の位置を知る必要
がある。
この測定を行なう従来技術では、デジタル・オシロスコ
ープ、波形記憶装置等の測定器(入力信号をデジタル化
するA/D変換器、このA/D変換器のデジタル出力信
号を記憶するメモリ、メモリの記憶内容をアナログ化す
るD/A変換器、D/A変換器のアナログ出力信号を表
示する表示器を備えている)により被測定磁気ディスク
の読出し信号を表示器に表示して測定した。
ープ、波形記憶装置等の測定器(入力信号をデジタル化
するA/D変換器、このA/D変換器のデジタル出力信
号を記憶するメモリ、メモリの記憶内容をアナログ化す
るD/A変換器、D/A変換器のアナログ出力信号を表
示する表示器を備えている)により被測定磁気ディスク
の読出し信号を表示器に表示して測定した。
上述の従来技術においては、デジタル・オシロスコープ
等の高価な測定器が必要であるという欠点があった。ま
た、磁気ディスクの欠陥位置を調べるには、測定者が表
示器の表示波形の振幅の所定値以下の部分を探し、その
部分を時間軸から換算しなければならず面倒であった。
等の高価な測定器が必要であるという欠点があった。ま
た、磁気ディスクの欠陥位置を調べるには、測定者が表
示器の表示波形の振幅の所定値以下の部分を探し、その
部分を時間軸から換算しなければならず面倒であった。
更に、磁気ディスク駆動装置の特性及び被測定磁気ディ
スクの特性により、この磁気ディスクの読出し信号の周
期が一定でない場合がある。この場合に正確に欠陥位置
を求めるには、読出し信号の周期の数を計数しなければ
ならず、上述の従来技術では測定が一層面倒であった。
スクの特性により、この磁気ディスクの読出し信号の周
期が一定でない場合がある。この場合に正確に欠陥位置
を求めるには、読出し信号の周期の数を計数しなければ
ならず、上述の従来技術では測定が一層面倒であった。
このような場合、磁気ディスクの読出し信号をパルス化
してカウンタで計数することも考えられるが、欠陥位置
では読出し信号の振幅が小さ過ぎるか、まったくないの
で、パルス信号が発生せず、2番目以降の欠陥位置が求
められないという問題が生じる。
してカウンタで計数することも考えられるが、欠陥位置
では読出し信号の振幅が小さ過ぎるか、まったくないの
で、パルス信号が発生せず、2番目以降の欠陥位置が求
められないという問題が生じる。
本発明の磁気ディスク特性測定装置は、パルス信号を発
生するパルス発生器と、論理信号「1」及びrOJを交
互に記憶する書込み処理が行なわれた磁気ディスクをパ
ルス信号に同期して読出す駆動装置上、この駆動装置の
読出し出力信号の最大値及び最小値包絡線電圧を検出す
る包絡線電圧検出器と、との包絡線電圧検出器の検出し
た最大値包絡線電圧及び最小値包路線電圧の少なくとも
一方が所定電圧範囲内のとき出力信号を発生する比較回
路と、この比較回路が出力信号を発生している期間、パ
ルス発生器からのパルス信号に応じたパルスを計数する
第1カウンタと、比較回路が出力信号を発生している期
間パルス発生器からのパルス信号を選択し、その他の期
間駆動装置の読出し出力信号に同期したパルス信号を選
択するスイッチ回路と、このスイッチ回路の出力パルス
信号を計数する第2カウンタとを具え、第1及び第2カ
ウンタの計数内容により磁気ディスクの特性を測定する
。
生するパルス発生器と、論理信号「1」及びrOJを交
互に記憶する書込み処理が行なわれた磁気ディスクをパ
ルス信号に同期して読出す駆動装置上、この駆動装置の
読出し出力信号の最大値及び最小値包絡線電圧を検出す
る包絡線電圧検出器と、との包絡線電圧検出器の検出し
た最大値包絡線電圧及び最小値包路線電圧の少なくとも
一方が所定電圧範囲内のとき出力信号を発生する比較回
路と、この比較回路が出力信号を発生している期間、パ
ルス発生器からのパルス信号に応じたパルスを計数する
第1カウンタと、比較回路が出力信号を発生している期
間パルス発生器からのパルス信号を選択し、その他の期
間駆動装置の読出し出力信号に同期したパルス信号を選
択するスイッチ回路と、このスイッチ回路の出力パルス
信号を計数する第2カウンタとを具え、第1及び第2カ
ウンタの計数内容により磁気ディスクの特性を測定する
。
本発明によれば、包絡線電圧検出器が論理信号「1」に
対応する最大値包絡線電圧及び論理信号「0」に対応す
る最小値包絡線電圧を検出する。
対応する最大値包絡線電圧及び論理信号「0」に対応す
る最小値包絡線電圧を検出する。
比較回路はこれら検出した最大値及び最小値包絡線電圧
が所定電圧範囲のとき、即ちこれら包絡線電圧が夫々の
所定電圧に達しない磁気ディスクの欠陥部分の読出し信
号のとき出力信号を発生する。
が所定電圧範囲のとき、即ちこれら包絡線電圧が夫々の
所定電圧に達しない磁気ディスクの欠陥部分の読出し信
号のとき出力信号を発生する。
一方、そのときまで第2カウンタは駆動装置の読出し出
力信号に同期したパルス信号を計数しているので、磁気
ディスクの欠陥位置が正確に判る。
力信号に同期したパルス信号を計数しているので、磁気
ディスクの欠陥位置が正確に判る。
また、比較回路が出力信号を発生している期間、第1カ
ウンタは読出し動作に同期したパルス発生器からのパル
ス信号を計数するので、欠陥位置から読出せない論理信
号の数が判る。更だ、比較回路が出力信号を発生してい
る期間、第2カウンタはパルス発生器からのパルス信号
を計数するので、2番目以降の欠陥位置もほぼ正確に判
る。すなわち、駆動装置からの読出し信号に応じたパル
スを第1及び第2カウンタが常に計数するのが正確な測
定には望ましいが、本発明では駆動装置からの読出し信
号が異常な場合、測定が不能となるため、この場合のみ
パルス発生器からのパルス信号を代用して、より一層正
確な測定が行なえるようにしている。また、高価なデジ
タル・オシロスコープ等を使用しないので、構成が安価
となる。更K、包絡線電圧検出器の出力電圧は少なくと
も読出し信号の1サイクル中安定しているので、比較回
路に低速素子を利用できる。
ウンタは読出し動作に同期したパルス発生器からのパル
ス信号を計数するので、欠陥位置から読出せない論理信
号の数が判る。更だ、比較回路が出力信号を発生してい
る期間、第2カウンタはパルス発生器からのパルス信号
を計数するので、2番目以降の欠陥位置もほぼ正確に判
る。すなわち、駆動装置からの読出し信号に応じたパル
スを第1及び第2カウンタが常に計数するのが正確な測
定には望ましいが、本発明では駆動装置からの読出し信
号が異常な場合、測定が不能となるため、この場合のみ
パルス発生器からのパルス信号を代用して、より一層正
確な測定が行なえるようにしている。また、高価なデジ
タル・オシロスコープ等を使用しないので、構成が安価
となる。更K、包絡線電圧検出器の出力電圧は少なくと
も読出し信号の1サイクル中安定しているので、比較回
路に低速素子を利用できる。
第1図は本発明の好適な一実施例のブロック図である。
マイクロプロセッサ等の中央処理装置(CPU)12、
このCPU12を制御するプログラムを記憶したROM
14、CPU12の一時記憶装置として働<RAM16
は、バス(データ線、アドレス線、制御線を含む)10
に接続され、第1図に示す装置の制御手段として作用す
る。キーボード18は入力装置であり、表示器20は測
定結果を表示するものであり、これらはバス10に接続
される。
このCPU12を制御するプログラムを記憶したROM
14、CPU12の一時記憶装置として働<RAM16
は、バス(データ線、アドレス線、制御線を含む)10
に接続され、第1図に示す装置の制御手段として作用す
る。キーボード18は入力装置であり、表示器20は測
定結果を表示するものであり、これらはバス10に接続
される。
磁気ディスク駆動装置22はバス10からの制御信号及
びパルス発生器24からのパルス信号Hに応じて、被測
定ディスクに試験信号を書込んだシ、書込まれた試験信
号を読出す装置である。包絡線電圧検出器25は、駆動
装置22からの読出し信号Aの最大値包絡線電圧B及び
最小値包絡線電圧Cを検出する。この検出器25の構成
は、例えば特開昭58−94198号公報又は特願昭5
9−265960号に開示されたものでよい。比較器2
6は最大値包絡線電圧Bが所定電圧VH以下でないか、
即ち論理「1」の振幅(正電圧)が小さ過ぎないかを判
断し、小さ過ぎる場合に出力パルスDを発生する。一方
、比較器28は最小値包絡線電圧Cが所定電圧VL以上
でないか、即ち論理rOJの振幅(負電圧)が小さ過ぎ
ないかを判断し、小さ過ぎる場合に出力パルスEを発生
する。オア・ゲート30は出力パルスD及びEの少なく
とも一方が発生しているときに出力パルスFを発生する
。よって、比較器26.28及びオア・ゲート30は、
最大値及び最小値包絡線電圧の少なくとも一方が電圧V
L及びVHで決まる所定の異常電圧範囲内のとき出力信
号Fを発生する比較回路となる。
びパルス発生器24からのパルス信号Hに応じて、被測
定ディスクに試験信号を書込んだシ、書込まれた試験信
号を読出す装置である。包絡線電圧検出器25は、駆動
装置22からの読出し信号Aの最大値包絡線電圧B及び
最小値包絡線電圧Cを検出する。この検出器25の構成
は、例えば特開昭58−94198号公報又は特願昭5
9−265960号に開示されたものでよい。比較器2
6は最大値包絡線電圧Bが所定電圧VH以下でないか、
即ち論理「1」の振幅(正電圧)が小さ過ぎないかを判
断し、小さ過ぎる場合に出力パルスDを発生する。一方
、比較器28は最小値包絡線電圧Cが所定電圧VL以上
でないか、即ち論理rOJの振幅(負電圧)が小さ過ぎ
ないかを判断し、小さ過ぎる場合に出力パルスEを発生
する。オア・ゲート30は出力パルスD及びEの少なく
とも一方が発生しているときに出力パルスFを発生する
。よって、比較器26.28及びオア・ゲート30は、
最大値及び最小値包絡線電圧の少なくとも一方が電圧V
L及びVHで決まる所定の異常電圧範囲内のとき出力信
号Fを発生する比較回路となる。
駆動装置22からの読出し信号Aはコンデンサ32を介
して比較器34に供給され、接地レベルと比較される。
して比較器34に供給され、接地レベルと比較される。
よって、比較器34の出力信号Gは読出し信号Aのゼロ
クロスで変化するパルス信号である。アンド・ゲート3
6は、オア・ゲート30の出力信号Fが発生している期
間、パルス発生器24からのパルス信号Hを通過させる
。単安定マルチバイブレータ(モノマルチ)38及び4
0はアンド・ゲート36の出力パルスIの立上シ及び立
下りにより夫々トリガされ、出力パルスエの ′半周期
以下のパルス幅の出力パルスを発生する。
クロスで変化するパルス信号である。アンド・ゲート3
6は、オア・ゲート30の出力信号Fが発生している期
間、パルス発生器24からのパルス信号Hを通過させる
。単安定マルチバイブレータ(モノマルチ)38及び4
0はアンド・ゲート36の出力パルスIの立上シ及び立
下りにより夫々トリガされ、出力パルスエの ′半周期
以下のパルス幅の出力パルスを発生する。
これら出力パルスはオア・ゲート42を介してカウンタ
44のクロック端子Cに供給され、計数される。このカ
ウンタ44はバス10からの信号によりリセットされる
。
44のクロック端子Cに供給され、計数される。このカ
ウンタ44はバス10からの信号によりリセットされる
。
オア・ゲー)30の出力信号Fに制御されるマルチプレ
クサ等のスイッチ回路46は、出力信号Fが発生してい
る(論理「1」)とき比較器34の出カバスルGを選択
し、出力信号Fが発生していない(論理「0」)ときパ
ルス発生器24からのパルス信号Hを選択する。カウン
タ48はそのクロック端子Cにスイッチ回路46の出力
パルスJを受けてこれを計数すると共に、駆動装置22
からのインデックス・パルス又はバス10からの制御信
号によりリセットされる。このインデックス・パルスは
磁気ディスクの基準位置を示す信号である。RAM等の
メモリ50はアドレス端子A及びデータ端子りに夫々カ
ウンタ44及び48の計数値を受ける。メモリ50のア
ドレス端子A及びデータ端子りはバス10にも接続され
ている。異常が発生したときのみメモリ50を書込みモ
ードとするため、オア・ゲート42の出力信号を遅延5
2の遅延時間はカウンタ44の伝搬遅延時間に対応し、
モノマルチ54の出力パルス幅は読出し信号の半サイク
ル以下であるが、メモリ50の書込み動作には充分な期
間である。
クサ等のスイッチ回路46は、出力信号Fが発生してい
る(論理「1」)とき比較器34の出カバスルGを選択
し、出力信号Fが発生していない(論理「0」)ときパ
ルス発生器24からのパルス信号Hを選択する。カウン
タ48はそのクロック端子Cにスイッチ回路46の出力
パルスJを受けてこれを計数すると共に、駆動装置22
からのインデックス・パルス又はバス10からの制御信
号によりリセットされる。このインデックス・パルスは
磁気ディスクの基準位置を示す信号である。RAM等の
メモリ50はアドレス端子A及びデータ端子りに夫々カ
ウンタ44及び48の計数値を受ける。メモリ50のア
ドレス端子A及びデータ端子りはバス10にも接続され
ている。異常が発生したときのみメモリ50を書込みモ
ードとするため、オア・ゲート42の出力信号を遅延5
2の遅延時間はカウンタ44の伝搬遅延時間に対応し、
モノマルチ54の出力パルス幅は読出し信号の半サイク
ル以下であるが、メモリ50の書込み動作には充分な期
間である。
次に第2図の波形図を参照して第1図の動作を説明する
。まずキーボード18を操作して、試験パターン信号を
被測定磁気ディスクに書込む命令を入力する。この命令
によシ、CPU12は駆動装置22を制御し、パルス発
生器24からのパルス信号Hに同期して、論理信号「1
」及び「0」が交互に繰返す試験パターン信号を磁気デ
ィスクに書込む。キーボード18を介して測定命令が入
力されると、カウンタ44及び48をリセットすると共
に、駆動装置22をパルス信号Hに同期した読出しモー
ドとして磁気ディスクの所望のトラックを読出す。駆動
装置22の読出し信号Aが第2図に示す如く、振幅が小
さくなり、なくなった後、再び元に戻る場合、包絡線電
圧B及びCと所定室゛ 圧VI(及びVLとの関係は
第2図のようになる。なお、読出し信号Aが上述の理由
によりパルス信号Hに完全に同期していない点に留意さ
れたい。比較器26の出力パルスDは最大値包絡線電圧
Bが異常の時点T1及び14間で論理「1」となる。
。まずキーボード18を操作して、試験パターン信号を
被測定磁気ディスクに書込む命令を入力する。この命令
によシ、CPU12は駆動装置22を制御し、パルス発
生器24からのパルス信号Hに同期して、論理信号「1
」及び「0」が交互に繰返す試験パターン信号を磁気デ
ィスクに書込む。キーボード18を介して測定命令が入
力されると、カウンタ44及び48をリセットすると共
に、駆動装置22をパルス信号Hに同期した読出しモー
ドとして磁気ディスクの所望のトラックを読出す。駆動
装置22の読出し信号Aが第2図に示す如く、振幅が小
さくなり、なくなった後、再び元に戻る場合、包絡線電
圧B及びCと所定室゛ 圧VI(及びVLとの関係は
第2図のようになる。なお、読出し信号Aが上述の理由
によりパルス信号Hに完全に同期していない点に留意さ
れたい。比較器26の出力パルスDは最大値包絡線電圧
Bが異常の時点T1及び14間で論理「1」となる。
一方、比較器28の出力パルスEは最小値包絡線電圧C
が異常の時点T2及び13間で論理「1」となる。よっ
て、オア・ゲート30は包絡線電圧B及びCの少なくと
も一方が異常の時点T1及びT4で出力信号Fを発生す
る(論理「1」となる)。
が異常の時点T2及び13間で論理「1」となる。よっ
て、オア・ゲート30は包絡線電圧B及びCの少なくと
も一方が異常の時点T1及びT4で出力信号Fを発生す
る(論理「1」となる)。
時点T1以前において、スイッチ回路46が比較器34
の出力パルスGを選択するので、カウンタ48の計数値
はインデックス・パルスが発生してからの正確な位置を
読出し信号Aに同期したパルスの数で表わす。一方、カ
ウンタ44はリセットされたままである。読出し信号A
が異常となる時点T1以後、スイッチ回路46はパルス
信号Hを選択するので、カウンタ48の計数値は現在の
読出し信号Aの磁気ディスク上の疑似的な位置を示す。
の出力パルスGを選択するので、カウンタ48の計数値
はインデックス・パルスが発生してからの正確な位置を
読出し信号Aに同期したパルスの数で表わす。一方、カ
ウンタ44はリセットされたままである。読出し信号A
が異常となる時点T1以後、スイッチ回路46はパルス
信号Hを選択するので、カウンタ48の計数値は現在の
読出し信号Aの磁気ディスク上の疑似的な位置を示す。
しかし、パルス信号Hが読出し信号Aにほぼ同期してい
るので、カウンタ48が示す位置もほぼ正確である。一
方、アンド・ゲート36はパルス信号Hを通過させるの
で、モノマルチ38.40及びオア・ゲート42の作用
により、カウンタ44は読出し信号Aが異常期間の論理
「1」及び「0」の数を計数する。また、メモリ50が
一時的に書込みモードになるので、メモリ50のアドレ
ス1には磁気ディスクが最初に異常になった位置情報(
論理「]」又は「0」が記憶されている)が記憶され、
アドレス2には磁気ディスクの2番目の異常位置情報(
論理「0」又は「1」が記憶されている)が記憶される
。以下同様な動作を繰返す。
るので、カウンタ48が示す位置もほぼ正確である。一
方、アンド・ゲート36はパルス信号Hを通過させるの
で、モノマルチ38.40及びオア・ゲート42の作用
により、カウンタ44は読出し信号Aが異常期間の論理
「1」及び「0」の数を計数する。また、メモリ50が
一時的に書込みモードになるので、メモリ50のアドレ
ス1には磁気ディスクが最初に異常になった位置情報(
論理「]」又は「0」が記憶されている)が記憶され、
アドレス2には磁気ディスクの2番目の異常位置情報(
論理「0」又は「1」が記憶されている)が記憶される
。以下同様な動作を繰返す。
時点T4において、読出し信号Aが正常に戻ると、スイ
ッチ回路46はパルス信号Gを選択し、アンド・ゲート
36は閉じる。よって、時点T1以前と同様な動作をす
る。CPU12が駆動装置22からのインデックス・パ
ルスを監視し、磁気ディスクの被測定トラックの全記憶
内容を読出したことを検知すると、メモリ50への記録
が終わる。
ッチ回路46はパルス信号Gを選択し、アンド・ゲート
36は閉じる。よって、時点T1以前と同様な動作をす
る。CPU12が駆動装置22からのインデックス・パ
ルスを監視し、磁気ディスクの被測定トラックの全記憶
内容を読出したことを検知すると、メモリ50への記録
が終わる。
通常、メモリ50は読出しモードにあるので、次にCP
U12はメモリ50の内容を読出し、磁気ディスクのイ
ンデックス位置を基準とした欠陥位置を表示器20に表
示する。
U12はメモリ50の内容を読出し、磁気ディスクのイ
ンデックス位置を基準とした欠陥位置を表示器20に表
示する。
上述は本発明の好適な一実施例について説明したが、本
発明の要旨を逸脱することなく種々の変形及び変更が可
能である。例えば、アンド・ゲート36の出力パルスを
カウンタ44のクロック端子に直接供給してもよいし、
カウンタ44及び48の計数値をメモリ50のデータ端
子及びアドレス端子に夫々供給してもよい。
発明の要旨を逸脱することなく種々の変形及び変更が可
能である。例えば、アンド・ゲート36の出力パルスを
カウンタ44のクロック端子に直接供給してもよいし、
カウンタ44及び48の計数値をメモリ50のデータ端
子及びアドレス端子に夫々供給してもよい。
上述の如く本発明によれば、デジタル・オシロスコープ
等の高価な測定器を使用しないので構成が安価となる。
等の高価な測定器を使用しないので構成が安価となる。
また、磁気ディスクの読出し信号に応じたパルス信号を
計数しているので、最初の欠陥位置を正確に知ることが
できる。また、読出し信号が異常で読出し信号に応じた
パルス信号が得られないときは、読出し動作に用いるパ
ルス信号を引き続き計数するので、2番目以降の欠陥位
置もほぼ正確に知ることができる。更に包絡線電圧検出
器の出力信号は読出し信号の少なくとも1サイクル中安
定しているので、比較回路は安価な低速素子で構成でき
る。
計数しているので、最初の欠陥位置を正確に知ることが
できる。また、読出し信号が異常で読出し信号に応じた
パルス信号が得られないときは、読出し動作に用いるパ
ルス信号を引き続き計数するので、2番目以降の欠陥位
置もほぼ正確に知ることができる。更に包絡線電圧検出
器の出力信号は読出し信号の少なくとも1サイクル中安
定しているので、比較回路は安価な低速素子で構成でき
る。
第1図は本発明の好適な一実施例のブロック図、第2図
は第1図の動作を説明する波形図である。 図において、22は駆動装置、24はパルス発生器、2
5は包絡線電圧検出器、26.28及び30は比較回路
、44及び48はカウンタ、46はスイッチ回路である
。
は第1図の動作を説明する波形図である。 図において、22は駆動装置、24はパルス発生器、2
5は包絡線電圧検出器、26.28及び30は比較回路
、44及び48はカウンタ、46はスイッチ回路である
。
Claims (1)
- パルス信号を発生するパルス発生器と、論理信号「1」
及び「0」を交互に記憶する書込み処理が行なわれた磁
気ディスクを上記パルス信号に同期して読出す駆動装置
と、該駆動装置の読出し出力信号の最大値及び最小値の
包絡線電圧を検出する包絡線電圧検出器と、該包絡線電
圧検出器の検出した最大値包絡線電圧及び最小値包絡線
電圧の少なくとも一方が所定電圧範囲内のとき出力信号
を発生する比較回路と、該比較回路が出力信号を発生し
ている期間、上記パルス信号に応じたパルスを計数する
第1カウンタと、上記比較回路が出力信号を発生してい
る期間上記パルス信号を選択し、その他の期間上記駆動
装置の読出し出力信号に同期したパルス信号を選択する
スイッチ回路と、該スイッチ回路の出力パルス信号を計
数する第2カウンタとを具え、上記第1及び第2カウン
タの計数内容により上記磁気ディスクの特性を測定する
ことを特徴とする磁気ディスク特性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60042165A JPH0673227B2 (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 磁気デイスク特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60042165A JPH0673227B2 (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 磁気デイスク特性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61201173A true JPS61201173A (ja) | 1986-09-05 |
JPH0673227B2 JPH0673227B2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=12628347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60042165A Expired - Lifetime JPH0673227B2 (ja) | 1985-03-04 | 1985-03-04 | 磁気デイスク特性測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0673227B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03296931A (ja) * | 1990-04-17 | 1991-12-27 | Canon Inc | 情報記録媒体検査装置 |
US6754018B2 (en) | 1997-12-25 | 2004-06-22 | Fujitsu Limited | Magnetic disc device and error correction method therefor |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59157579A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-06 | Toshiba Corp | 磁気デイスク検査装置 |
JPS59186111A (ja) * | 1983-04-07 | 1984-10-22 | Akai Electric Co Ltd | デジタル信号再生装置 |
-
1985
- 1985-03-04 JP JP60042165A patent/JPH0673227B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59157579A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-06 | Toshiba Corp | 磁気デイスク検査装置 |
JPS59186111A (ja) * | 1983-04-07 | 1984-10-22 | Akai Electric Co Ltd | デジタル信号再生装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03296931A (ja) * | 1990-04-17 | 1991-12-27 | Canon Inc | 情報記録媒体検査装置 |
US6754018B2 (en) | 1997-12-25 | 2004-06-22 | Fujitsu Limited | Magnetic disc device and error correction method therefor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0673227B2 (ja) | 1994-09-14 |
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