JPS61182348A - 余裕度試験方式 - Google Patents
余裕度試験方式Info
- Publication number
- JPS61182348A JPS61182348A JP2163585A JP2163585A JPS61182348A JP S61182348 A JPS61182348 A JP S61182348A JP 2163585 A JP2163585 A JP 2163585A JP 2163585 A JP2163585 A JP 2163585A JP S61182348 A JPS61182348 A JP S61182348A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- margin
- repeater
- error
- transmission line
- clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/24—Testing correct operation
- H04L1/241—Testing correct operation using pseudo-errors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はディジタル伝送路において中継器の余裕度を試
験し、予め特性の劣化した中継器を検知する方式に関す
る。
験し、予め特性の劣化した中継器を検知する方式に関す
る。
従来は添は文献の如くパルストリオなどによる余裕度試
験が行なわれていた。これはパルストリオの中継器が誤
動作するまで増加して行き、誤動作を生じたパルストリ
オの数により中継器の余裕度を判定するものである。し
かしながら、パルストリオは実際にはあり得ない信号パ
ルス列であり、−見回線を試験装置に切替えて行う関係
上、実用的稼動条件と異なるため必ずしも的確な試験結
果が得られなかった。すなわちパルストリオを用いて余
裕度が十分あると判定された場合でも実際の信号を通し
た場合には殆ど余裕度がなく、わずかな雑音により誤動
作をおこすこともあり得る。したがってなるべく使用状
態に近い条件で、またできれば稼動時における余裕度試
験を行うことが望まれていた。
験が行なわれていた。これはパルストリオの中継器が誤
動作するまで増加して行き、誤動作を生じたパルストリ
オの数により中継器の余裕度を判定するものである。し
かしながら、パルストリオは実際にはあり得ない信号パ
ルス列であり、−見回線を試験装置に切替えて行う関係
上、実用的稼動条件と異なるため必ずしも的確な試験結
果が得られなかった。すなわちパルストリオを用いて余
裕度が十分あると判定された場合でも実際の信号を通し
た場合には殆ど余裕度がなく、わずかな雑音により誤動
作をおこすこともあり得る。したがってなるべく使用状
態に近い条件で、またできれば稼動時における余裕度試
験を行うことが望まれていた。
本発明の目的は、より稼動状態に近い条件下で余裕度試
験を可能とする方式を提供することにある。
験を可能とする方式を提供することにある。
上記の目的を達成するために本発明では、各中継器のタ
イミング回路に周波数に応じて位相の変わる素子を設け
、送信側でクロック周波数を変化して各中継器における
符号誤り率を測定することにより余裕度の試験を行なう
。すなわち中継器が誤動作するまで送信のクロック周波
数をずらせて行き、誤りの生じたクロック周波数と基準
の（公称の）クロック周波数との差が大きい程、識別余
裕度が大であると判定する。
イミング回路に周波数に応じて位相の変わる素子を設け
、送信側でクロック周波数を変化して各中継器における
符号誤り率を測定することにより余裕度の試験を行なう
。すなわち中継器が誤動作するまで送信のクロック周波
数をずらせて行き、誤りの生じたクロック周波数と基準
の（公称の）クロック周波数との差が大きい程、識別余
裕度が大であると判定する。
以下本発明の一実施例を第１図〜第３図を用いて説明す
る。
る。
第１図において可変周波数回路１はクロック周波数を変
えるための発振器である。送信器２より信号パルス列を
伝送路３に送信するが、そのクロックレートが公称値よ
り可変に出来る。中継器４はクロックレートが公称値よ
り所定値以上ずれた場合、以下（第２図）で説明するご
とく符号誤りを発生するので、これを誤り測定器５で検
出し。
えるための発振器である。送信器２より信号パルス列を
伝送路３に送信するが、そのクロックレートが公称値よ
り可変に出来る。中継器４はクロックレートが公称値よ
り所定値以上ずれた場合、以下（第２図）で説明するご
とく符号誤りを発生するので、これを誤り測定器５で検
出し。
その結果を変調器６でしかるべく変調し、介在対ケーブ
ル７を介して余裕度試験器８へ送信する。
ル７を介して余裕度試験器８へ送信する。
第２図は余裕度劣化の原理を説明するものである。中継
器内の増幅器１１により所定のレベル増幅された信号か
らタイミング回路１２によりタイミング波がとり出され
る。これは周波数に依存して位相の変わる周波数依存性
移相回路１３を通った後、クロック成形回路１４により
クロックパルスとして成形され、識別回路１５でパルス
再生に用いられる。
器内の増幅器１１により所定のレベル増幅された信号か
らタイミング回路１２によりタイミング波がとり出され
る。これは周波数に依存して位相の変わる周波数依存性
移相回路１３を通った後、クロック成形回路１４により
クロックパルスとして成形され、識別回路１５でパルス
再生に用いられる。
クロックレートを公称値よりずらした場合に移相回路１
３により再生のタイミング位相がずれるため、正しく受
信パルスの中心をサンプリングすることが出来なくなり
、サンプリング点が中心からずれるほど波形ひずみの影
響をうけやすくなり識別の余裕度が劣化し１位相のずれ
が所定の量を越えると符号誤りを生ずる。
３により再生のタイミング位相がずれるため、正しく受
信パルスの中心をサンプリングすることが出来なくなり
、サンプリング点が中心からずれるほど波形ひずみの影
響をうけやすくなり識別の余裕度が劣化し１位相のずれ
が所定の量を越えると符号誤りを生ずる。
周波数依存性移相回路１３の典形的な例としてはＬＣ共
振回路があげられる。
振回路があげられる。
なお符号誤りは通常中継伝送に用いる伝送路符号の規則
性が符号誤りによって乱されるため生ずるバイオレーシ
ョンを用いて検出されるが、この場合各中継器における
符号誤りによるバイオレーションの累積が生ずる。これ
を避けるためには、第３図に示した如く、中継器４のあ
とに再符号器２１を挿入して、一旦原信号にもどした後
再び伝送路符号化することによりバイオレーションを解
消して送出してやれば、各中継区間の符号誤りのみを検
出することができる。
性が符号誤りによって乱されるため生ずるバイオレーシ
ョンを用いて検出されるが、この場合各中継器における
符号誤りによるバイオレーションの累積が生ずる。これ
を避けるためには、第３図に示した如く、中継器４のあ
とに再符号器２１を挿入して、一旦原信号にもどした後
再び伝送路符号化することによりバイオレーションを解
消して送出してやれば、各中継区間の符号誤りのみを検
出することができる。
以上本発明によれば第４図に示す如く、伝送路のクロッ
クレートを変えて各中継器の誤りを発生させ、この場合
の周波数ずれΔｆ！＋Δｆ２の大小により余裕度を判定
することが出来るため、伝送信号自体に特殊なものを用
いる必要がなく、稼動時に近い状態において試験を行う
ことが出来る。
クレートを変えて各中継器の誤りを発生させ、この場合
の周波数ずれΔｆ！＋Δｆ２の大小により余裕度を判定
することが出来るため、伝送信号自体に特殊なものを用
いる必要がなく、稼動時に近い状態において試験を行う
ことが出来る。
また稼動状態においてクロック周波数を変えてやり、使
用に耐える程度の符号誤り率を生ずる範囲内にクロック
の変動をとどめれば、稼動状態のまま余裕度を試験する
ことも出来る。
用に耐える程度の符号誤り率を生ずる範囲内にクロック
の変動をとどめれば、稼動状態のまま余裕度を試験する
ことも出来る。
第１〜第３図は本発明の一実施例であり、第４図はこれ
を説明する図である。 １：可変周波数発振器、２：送信器、３：伝送線路、４
：中継器、５：符号誤り検出器、６：変調器、７：介在
対ケーブル、８：余裕度試験器、１１：増幅器、１，２
：タイミング抽出回路、１３：周波数依存形移相器、１
４：クロック成形回路、１５ ：ｉｌｌ再再生回路２１
：再符号化回路。 第７図 躬２図 １ヤ ／ｚ ／ｊ ７嘔躬
３図 躬 ４図 周 液艮
を説明する図である。 １：可変周波数発振器、２：送信器、３：伝送線路、４
：中継器、５：符号誤り検出器、６：変調器、７：介在
対ケーブル、８：余裕度試験器、１１：増幅器、１，２
：タイミング抽出回路、１３：周波数依存形移相器、１
４：クロック成形回路、１５ ：ｉｌｌ再再生回路２１
：再符号化回路。 第７図 躬２図 １ヤ ／ｚ ／ｊ ７嘔躬
３図 躬 ４図 周 液艮
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、伝送路のクロックレートを変化させ、各中継器の符
号誤り率を測定することを特徴とする余裕度試験方式。 ２、特許請求の範囲第１項において、誤り検出可能な伝
送路符号を用い誤り率測定後の信号を符号誤りによるバ
イオレーションを除去すべく再符号化して送出すること
を特徴とする余裕度試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2163585A JPS61182348A (ja) | 1985-02-08 | 1985-02-08 | 余裕度試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2163585A JPS61182348A (ja) | 1985-02-08 | 1985-02-08 | 余裕度試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61182348A true JPS61182348A (ja) | 1986-08-15 |
Family
ID=12060527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2163585A Pending JPS61182348A (ja) | 1985-02-08 | 1985-02-08 | 余裕度試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61182348A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003007578A1 (fr) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Anritsu Corporation | Instrument de mesure de la resistance a la gigue et procede permettant une mesure efficace et une evaluation adequate de la caracteristique de resistance a la gigue. |
-
1985
- 1985-02-08 JP JP2163585A patent/JPS61182348A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003007578A1 (fr) * | 2001-07-13 | 2003-01-23 | Anritsu Corporation | Instrument de mesure de la resistance a la gigue et procede permettant une mesure efficace et une evaluation adequate de la caracteristique de resistance a la gigue. |
| US7245657B2 (en) | 2001-07-13 | 2007-07-17 | Anritsu Coporation | Jitter resistance measuring instrument and method for enabling efficient measurement of jitter resistance characteristic and adequate evaluation |
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