JPS6117678U - 試験器 - Google Patents
試験器Info
- Publication number
- JPS6117678U JPS6117678U JP10173684U JP10173684U JPS6117678U JP S6117678 U JPS6117678 U JP S6117678U JP 10173684 U JP10173684 U JP 10173684U JP 10173684 U JP10173684 U JP 10173684U JP S6117678 U JPS6117678 U JP S6117678U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tester
- capacitance
- probe
- connects
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は本考案による試験器の一実施例を示す構成図、
第２図は従来の試験器の斜視図を示す。 図において、１はパッケージ、２，３はランド、４，５
はブローブ、６はテスタ、７はキャパシテイナータを示
す。
第２図は従来の試験器の斜視図を示す。 図において、１はパッケージ、２，３はランド、４，５
はブローブ、６はテスタ、７はキャパシテイナータを示
す。
Claims (1)
- テスタと、該テスタを被測定箇所に接続するブローブと
電気容量を測定するキャパシテイナータとを備えると共
に、該被測定箇所に当接された該ブローブが該キャパシ
ティナータに接続される切替スイッチを設けたことを特
徴とする試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10173684U JPS6117678U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10173684U JPS6117678U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 試験器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117678U true JPS6117678U (ja) | 1986-02-01 |
Family
ID=30661151
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10173684U Pending JPS6117678U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | 試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6117678U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002014134A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP10173684U patent/JPS6117678U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002014134A (ja) * | 2000-06-30 | 2002-01-18 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
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