JPS61173165A - 回転検出器 - Google Patents
回転検出器Info
- Publication number
- JPS61173165A JPS61173165A JP1620085A JP1620085A JPS61173165A JP S61173165 A JPS61173165 A JP S61173165A JP 1620085 A JP1620085 A JP 1620085A JP 1620085 A JP1620085 A JP 1620085A JP S61173165 A JPS61173165 A JP S61173165A
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- JP
- Japan
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- rotation
- signal
- light
- rotating body
- density
- Prior art date
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- Pending
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- Indicating Or Recording The Presence, Absence, Or Direction Of Movement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は彼測定物の回転数と回転方向を検出する装置
に関するものである。
に関するものである。
第3図に従来の回転検出器を示す。光源(2)の光はレ
ンズ(4)で集光されて、回転体たる回転円板(6)に
向けて照射される。回転円板(6)の回転に伴ってスリ
ット(8)が移動し、照射光は断続的に通過させられ、
受光器Qのに与えられる。受光器αQはこれを°眞気信
号に変換してパルス信号とする。該パルス信号は、盾号
処理部(2)で波形成形された後、パルス数が計数され
、回転円JF!L(6)の回転数が測定される。
ンズ(4)で集光されて、回転体たる回転円板(6)に
向けて照射される。回転円板(6)の回転に伴ってスリ
ット(8)が移動し、照射光は断続的に通過させられ、
受光器Qのに与えられる。受光器αQはこれを°眞気信
号に変換してパルス信号とする。該パルス信号は、盾号
処理部(2)で波形成形された後、パルス数が計数され
、回転円JF!L(6)の回転数が測定される。
ところが、従来の装置においては、回転円板(6)が正
方向α尋、逆方向QI!のいずれの方向に回転しても、
同じパルス波形が出力されるので、回転方向を検出でき
ないという問題点があった。
方向α尋、逆方向QI!のいずれの方向に回転しても、
同じパルス波形が出力されるので、回転方向を検出でき
ないという問題点があった。
この発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、回転数
のみならず回転方向をも検出しうる装置を提供すること
を目的とするものである。
のみならず回転方向をも検出しうる装置を提供すること
を目的とするものである。
この発明では、(イ)回転体にスリットもしくは反射面
を設け、(ロ)該スリットもしくは反射面を介して照射
手段の光を受光するよう受光手段を設けている。そして
、 ゛ ・・ ・ −t Qスリ
ットもしくは反射面を回転方向に関し非対称の密度で複
数(ム設けた。さらに、に)受光手段からのパルス信号
の数を計測する回転数計測手段を設け、に)パルス信号
の信号密度の変化に基づき回転方向を検出する回転方向
検出手段を設けている。
を設け、(ロ)該スリットもしくは反射面を介して照射
手段の光を受光するよう受光手段を設けている。そして
、 ゛ ・・ ・ −t Qスリ
ットもしくは反射面を回転方向に関し非対称の密度で複
数(ム設けた。さらに、に)受光手段からのパルス信号
の数を計測する回転数計測手段を設け、に)パルス信号
の信号密度の変化に基づき回転方向を検出する回転方向
検出手段を設けている。
スリットもしくは反射面は回転方向に関し非対称の密度
で複数個設けられているので、受光器から出力されるパ
ルス信号の信号密度は、正方向への回転と逆方向への回
転の場合で異なったものとなる。したがって、このパル
ス信号の信号密度変化に基づいて、回転方向を検出する
ことができる。
で複数個設けられているので、受光器から出力されるパ
ルス信号の信号密度は、正方向への回転と逆方向への回
転の場合で異なったものとなる。したがって、このパル
ス信号の信号密度変化に基づいて、回転方向を検出する
ことができる。
第1図はこの発明の一実施例を示す図である。
照射手段たる光源(2)の光はレンズ(4)で集光され
て、ビーム調整スリット(2)を通り、回転体たる回転
円板(6)に向けて照射される。回転円&(6)の回転
に伴ってスリット(8)が移動し照射光は断続的に通過
させられ、受光手段たる受光器Qlに与えられる。第2
図は回転円板(6)の詳細を示す図である。この実施例
では回転円板(6)は12個の角度区分(7)に分割さ
れている。スリット(8)の密度は各角度区分(7)に
おいて、密から疎に変化するように設けられている。
て、ビーム調整スリット(2)を通り、回転体たる回転
円板(6)に向けて照射される。回転円&(6)の回転
に伴ってスリット(8)が移動し照射光は断続的に通過
させられ、受光手段たる受光器Qlに与えられる。第2
図は回転円板(6)の詳細を示す図である。この実施例
では回転円板(6)は12個の角度区分(7)に分割さ
れている。スリット(8)の密度は各角度区分(7)に
おいて、密から疎に変化するように設けられている。
すなわち、回転方向に対して非対称の密度となるよう設
けられている。したがって、受光器αQは、正方向α◆
に回転する場合には第3図囚のようなパルス信号を生じ
る。また逆方向(至)に回転する場合には、第4図(4
)のようなパルス信号を生じる。図において(P) (
Qlは、第2図のψ)(Qlに対応している。
けられている。したがって、受光器αQは、正方向α◆
に回転する場合には第3図囚のようなパルス信号を生じ
る。また逆方向(至)に回転する場合には、第4図(4
)のようなパルス信号を生じる。図において(P) (
Qlは、第2図のψ)(Qlに対応している。
なお、第3図囚第4図囚は理想的な波形を示したもので
ある。この実施例では、ビーム調整スリット(ロ)が設
けられているので、パルス信号は理想波形に近いものと
なる。このパルス信号は、増幅器(1)で増幅された後
、平均値回路(2)に入力される。
ある。この実施例では、ビーム調整スリット(ロ)が設
けられているので、パルス信号は理想波形に近いものと
なる。このパルス信号は、増幅器(1)で増幅された後
、平均値回路(2)に入力される。
平均値回路(2)は、このパルス信号を時間的に平均化
して、パルス信号の信号密度を電圧値に変換する。その
出力をga図(6)第4図■に示す。第3図(6)は正
回転時、第4図(6)は逆回転時を示し、両者ともに、
回転円板(6)の一つの角度区分(7)に対応した周期
をもつ平均化信号となっている。この平均化信号を、回
転数計数手段である。カウンタ(2)で計数して回転数
を得る。なお、他の実施例として、第3弱い第4図(6
)のパルス信号を直接、カウンタ翰で計数することも可
能である。一方、平均化信号は微分回路(財)によって
微分され、正方向Q4回転の場合は第3図(Qに示す微
分信号が、逆方向(ト)回転の場合は第4図(Qに示す
微分信号が出力される。
して、パルス信号の信号密度を電圧値に変換する。その
出力をga図(6)第4図■に示す。第3図(6)は正
回転時、第4図(6)は逆回転時を示し、両者ともに、
回転円板(6)の一つの角度区分(7)に対応した周期
をもつ平均化信号となっている。この平均化信号を、回
転数計数手段である。カウンタ(2)で計数して回転数
を得る。なお、他の実施例として、第3弱い第4図(6
)のパルス信号を直接、カウンタ翰で計数することも可
能である。一方、平均化信号は微分回路(財)によって
微分され、正方向Q4回転の場合は第3図(Qに示す微
分信号が、逆方向(ト)回転の場合は第4図(Qに示す
微分信号が出力される。
この微分信号は整流器(至)によって、正成分・負成分
に分離して整流され、正信号・負信号とされる。コンパ
レータ(至)は正信号ヒ負信号のピーク値を比較し、正
信号が大きい場合にはハイレベルの出力を出し、負信号
が大きい場合にはローレベルの出力を出す。したがって
、コンパレータ(ホ)の出力がハイレベルの場合には正
方向α荀への回転、ローレベルの場合には逆方向(ト)
への回転であることが判別できる。すなわち、平均値回
路なυ、微分回路(ハ)、整流器(ホ)、コンパレータ
(2)によって、回転方向検出手段が構成されている。
に分離して整流され、正信号・負信号とされる。コンパ
レータ(至)は正信号ヒ負信号のピーク値を比較し、正
信号が大きい場合にはハイレベルの出力を出し、負信号
が大きい場合にはローレベルの出力を出す。したがって
、コンパレータ(ホ)の出力がハイレベルの場合には正
方向α荀への回転、ローレベルの場合には逆方向(ト)
への回転であることが判別できる。すなわち、平均値回
路なυ、微分回路(ハ)、整流器(ホ)、コンパレータ
(2)によって、回転方向検出手段が構成されている。
第1図に示す回転体は、円板状であったが、これを第6
図のように円柱状に形成し、円柱の側面上にスリット(
8)を設けてもよい。この場合には、受光器a0または
光源(2)を回転円柱(6)の内部に収納して保護でき
るという効果がある。
図のように円柱状に形成し、円柱の側面上にスリット(
8)を設けてもよい。この場合には、受光器a0または
光源(2)を回転円柱(6)の内部に収納して保護でき
るという効果がある。
次に、上記実施例のスリット(8)の代わりに反射面を
用いた実施例について第6図を用いて説明する。回転円
板(6)上には、反射体(ト)によって反射面が形成さ
れている。光源(2)の光はレンズ(4)を介して反射
体(7)で反射され受光器器DIで受光される。
用いた実施例について第6図を用いて説明する。回転円
板(6)上には、反射体(ト)によって反射面が形成さ
れている。光源(2)の光はレンズ(4)を介して反射
体(7)で反射され受光器器DIで受光される。
反射体四の密度は各角度区分(7)において疎から密に
変化するように設けられている。したがって、受光器Q
Qは第1図の実施例と同様、第3図面第4図(4)に示
すようなパルス信号を生じる。ただし、この実施例によ
る反射体(至)の密度変化は、第1図の実施例によるス
リット(8)の密度変化とは逆になっている。したがっ
て、正方向Q4回転時には、第4図囚のパルス信号が、
逆方向α・回転時には、第3図囚のパルス信号が生じる
。
変化するように設けられている。したがって、受光器Q
Qは第1図の実施例と同様、第3図面第4図(4)に示
すようなパルス信号を生じる。ただし、この実施例によ
る反射体(至)の密度変化は、第1図の実施例によるス
リット(8)の密度変化とは逆になっている。したがっ
て、正方向Q4回転時には、第4図囚のパルス信号が、
逆方向α・回転時には、第3図囚のパルス信号が生じる
。
また、第7図に示すように回転円柱(6)の側面に反射
面(至)を設けることもできる。この実施例では、光源
(2a)の光とファイバー(2b)で導き反射面(7)
に向けて照射している。反射光はファイバー(10b)
で受光され受光器(10a)に導びかれる。すなわち、
光源(2a)、ファイバー(2b)で照射手段を構成し
、ファイバー(10b)、受光器(10a)で受光手段
を構成している。この実施例にjれば、回転円柱(6)
の近傍にはファイバー(2b) (10b)を設けるだ
けでよいので、狭い場所での測定に有利である。また、
光源(2a)・受光器(10a)をカウンタ■や微分回
路(ハ)等と同一筐体に収納することもでき、保守が容
易となる。
面(至)を設けることもできる。この実施例では、光源
(2a)の光とファイバー(2b)で導き反射面(7)
に向けて照射している。反射光はファイバー(10b)
で受光され受光器(10a)に導びかれる。すなわち、
光源(2a)、ファイバー(2b)で照射手段を構成し
、ファイバー(10b)、受光器(10a)で受光手段
を構成している。この実施例にjれば、回転円柱(6)
の近傍にはファイバー(2b) (10b)を設けるだ
けでよいので、狭い場所での測定に有利である。また、
光源(2a)・受光器(10a)をカウンタ■や微分回
路(ハ)等と同一筐体に収納することもでき、保守が容
易となる。
以上、被測定対象物(イ)に測定用の回転体(6)を設
けた場合について説明したが、場合によっては被測定対
象物■に直接スリット(8)や反射面(至)を設けるこ
ともできる。
けた場合について説明したが、場合によっては被測定対
象物■に直接スリット(8)や反射面(至)を設けるこ
ともできる。
この発明によれば、スリットまたは反射体を回転方向に
関し非対称の密度で設けているので、正みならず回転方
向をも検出することができる。
関し非対称の密度で設けているので、正みならず回転方
向をも検出することができる。
第1図はスリットを用いた一実施例を示す図、第2図は
第1図のスリットの詳細を示す図、第3図(5)(B)
(C)第4図囚(6)(Qは第1図の実施例の動作を
示すためのタイムチャート、第5図はスリットを用いた
他の実施例を示す図、第6図は反射面を用いた一実施例
を示す図、第7図は反射面を用いた他の実施例を示す図
、第3図は従来の回転検出器を示す図である。(2)は
光源、(6)は回転円板、(8)はスリット、αQは受
光器、(2)はカウンタ、(財)は微分回路、(至)は
整流回路、(2)はコンパレータ、■は反射面である。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 弁理士 大 岩 増 雄 鰍[i]K徊 へりω0 第2図 第3g 第4図 第5図 第6g 30:及M杯
第1図のスリットの詳細を示す図、第3図(5)(B)
(C)第4図囚(6)(Qは第1図の実施例の動作を
示すためのタイムチャート、第5図はスリットを用いた
他の実施例を示す図、第6図は反射面を用いた一実施例
を示す図、第7図は反射面を用いた他の実施例を示す図
、第3図は従来の回転検出器を示す図である。(2)は
光源、(6)は回転円板、(8)はスリット、αQは受
光器、(2)はカウンタ、(財)は微分回路、(至)は
整流回路、(2)はコンパレータ、■は反射面である。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 弁理士 大 岩 増 雄 鰍[i]K徊 へりω0 第2図 第3g 第4図 第5図 第6g 30:及M杯
Claims (6)
- (1)回転体 回転体上に設けられ回転体の回転方向に関して非対称な
密度に配置された複数のスリットまたは反射面、 回転体が回転したときスリットまたは反射面が通過する
箇所を照射する照射手段、 スリットを通つた光源の光または反射面で反射された光
源の光を受光し、回転体の回転に応じてパルス信号を出
力する受光手段、 前記パルス信号の信号密度の変化に基づき回転体の回転
方向を検出する回転方向検出手段、前記パルス信号の数
を計数して回転体の回転数を計測する回転数計測手段、 を備えたことを特徴とする回転検出器。 - (2)照射手段は、光源であることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の回転検出器。 - (3)照射手段は、光源とファイバーからなることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の回転検出器。 - (4)受光手段は、受光器であることを特徴とする特許
請求の範囲第1項ない第3項のいずれか1つに記載の回
転検出器。 - (5)受光手段は、受光器と通過光または反射光を受光
器に伝達するファイバーからなることを特徴とする特許
請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか1つに記載の
回転検出器。 - (6)回転方向検出手段は、 前記パルス信号の信号密度に応じた電圧を出力する平均
値回路、 平均値回路の出力電圧を微分する微分回路、微分回路に
よつて微分された信号の正成分、負成分を分離ホールド
し、正信号、負信号として出力する整流回路、 前記正信号、負信号の絶対値を比較して回転方向信号を
出力するコンパレータ、 を備えたものであることを特徴とする特許請求の範囲第
1項ないし第5項のいずれか1つに記載の回転検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1620085A JPS61173165A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 回転検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1620085A JPS61173165A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 回転検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61173165A true JPS61173165A (ja) | 1986-08-04 |
Family
ID=11909864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1620085A Pending JPS61173165A (ja) | 1985-01-28 | 1985-01-28 | 回転検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61173165A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0191970U (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-16 | ||
JPH0450771A (ja) * | 1990-06-20 | 1992-02-19 | Hitachi Ltd | 速度検出器 |
-
1985
- 1985-01-28 JP JP1620085A patent/JPS61173165A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0191970U (ja) * | 1987-12-08 | 1989-06-16 | ||
JPH0450771A (ja) * | 1990-06-20 | 1992-02-19 | Hitachi Ltd | 速度検出器 |
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