JPS61155863A - 表面電位測定装置 - Google Patents
表面電位測定装置Info
- Publication number
- JPS61155863A JPS61155863A JP59274911A JP27491184A JPS61155863A JP S61155863 A JPS61155863 A JP S61155863A JP 59274911 A JP59274911 A JP 59274911A JP 27491184 A JP27491184 A JP 27491184A JP S61155863 A JPS61155863 A JP S61155863A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface potential
- measured
- value
- potential
- potentiometer
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は、例えば電子複写機等に用いる感光体等の被
測定体の表面電位を測定する表面電位測定装置に関する
ものである。
測定体の表面電位を測定する表面電位測定装置に関する
ものである。
一般に、電子複写機等に使用される光導電物質を使用し
た感光体は、経時変化等による感度の変化が生じ易いた
め、感光体の表面電位を制御する手段を設けて表面電位
を常時一定範囲内に設定することが望ましい◎これを実
現するためＫは、感光体等の被測定−表面電位を正確に
測定するととが必要となる。
た感光体は、経時変化等による感度の変化が生じ易いた
め、感光体の表面電位を制御する手段を設けて表面電位
を常時一定範囲内に設定することが望ましい◎これを実
現するためＫは、感光体等の被測定−表面電位を正確に
測定するととが必要となる。
従来、表面電位を測定するものとしては、被測定体に対
向して電位測定電極を配し、この間に生じる電界を同期
的に遮蔽することで被測定体表面と測定電極との差電位
に比例した振幅を持つ交流信号を測定電極に誘起させ、
測定するものが知られている。これは、従来知られてい
るものに比べて比較的高精度の測定が可能であるとされ
ているが、これでも、なお測定値に誤差成分が含まれ、
未だ必要十分な精度を得るには至らなかった。この精度
の低下を招く誤差成分の殆どは、被測定体の表面電荷を
除去した時の表面電位測定値の誤差電位（以下オフセッ
ト電位と称す）であシ、このオフセット電位はその後の
測定値にも常に重畳されることとなる。
向して電位測定電極を配し、この間に生じる電界を同期
的に遮蔽することで被測定体表面と測定電極との差電位
に比例した振幅を持つ交流信号を測定電極に誘起させ、
測定するものが知られている。これは、従来知られてい
るものに比べて比較的高精度の測定が可能であるとされ
ているが、これでも、なお測定値に誤差成分が含まれ、
未だ必要十分な精度を得るには至らなかった。この精度
の低下を招く誤差成分の殆どは、被測定体の表面電荷を
除去した時の表面電位測定値の誤差電位（以下オフセッ
ト電位と称す）であシ、このオフセット電位はその後の
測定値にも常に重畳されることとなる。
この発明はオフセット電位が存在しても、その影響を受
けることなく正確に表面電位を測定することができる表
面電位測定装置の提供を目的とする。
けることなく正確に表面電位を測定することができる表
面電位測定装置の提供を目的とする。
以下、この発明の一実施例を図面に基づき説明する。
まず、第１図に基づきこの発明の表面電位測定手段とし
ての表面電位計Ａを説明する。図中、１は表面電位計の
外殻を成し、かつ外部からの外乱を防止する外部シール
ドで、複写機の感光体等の被測定体α表面に対向した位
置に開口部１ａが形成されている。２は前記外部シール
ド１の内側に設けられた内部シールドで、外部シールド
１の開口部１ａと対向する位置に同じく開口部２ａが形
成されておシ、この開口部２ａ中には測定電極３が設置
されている。４は前記外部シールド１の開口部１ａと測
定電極３との間に配設したチョッパー電極で、図中の矢
印に示す方向に同期的に振動する。またこのチョッパー
電極４はアースされている。５は一端が接地され、他端
が前記測定電極３に接続された検出抵抗、６はこの検出
抵抗の両端に表われる電圧を増幅する増幅器である。こ
のように構成された表面電位検出装置において、今、被
測定体Ａの表面がプラスに帯電しているとすると、開口
部１ａを介して被測定体Ａと測定電極３との間に電界が
生じる。この時、アースされたチョッパー電極４は周期
的に振動しているため、測定電極３上に作用する電界の
面積も周期的に変動する。従って測定電極３には検出抵
抗を介してアースよりマイナス電荷が周期的に出入する
ため検出抵抗５の両端には交流信号が誘起され、これを
増幅器５を介した後、出力端子６ａよシ表面電位検出信
号として出力する◇ ところで、上記検出抵抗５に誘起される交流信号の値は
極めて微小である。例えば検出抵抗５の値を２０ＭΩ程
度としても、被測定体Ａの表面電位が数１００Ｖであっ
た場合の誘起される交流信号は数、Ｖと極めて微小であ
シ、外部からの影響を受は易い。このため、被測定体α
と対向する部分以外は外部シールドで被い、測定に際し
て外部からの影響を受けないようになっておシ、さらに
、内部シールド２によって内部の雑音から測定系を保護
している。
ての表面電位計Ａを説明する。図中、１は表面電位計の
外殻を成し、かつ外部からの外乱を防止する外部シール
ドで、複写機の感光体等の被測定体α表面に対向した位
置に開口部１ａが形成されている。２は前記外部シール
ド１の内側に設けられた内部シールドで、外部シールド
１の開口部１ａと対向する位置に同じく開口部２ａが形
成されておシ、この開口部２ａ中には測定電極３が設置
されている。４は前記外部シールド１の開口部１ａと測
定電極３との間に配設したチョッパー電極で、図中の矢
印に示す方向に同期的に振動する。またこのチョッパー
電極４はアースされている。５は一端が接地され、他端
が前記測定電極３に接続された検出抵抗、６はこの検出
抵抗の両端に表われる電圧を増幅する増幅器である。こ
のように構成された表面電位検出装置において、今、被
測定体Ａの表面がプラスに帯電しているとすると、開口
部１ａを介して被測定体Ａと測定電極３との間に電界が
生じる。この時、アースされたチョッパー電極４は周期
的に振動しているため、測定電極３上に作用する電界の
面積も周期的に変動する。従って測定電極３には検出抵
抗を介してアースよりマイナス電荷が周期的に出入する
ため検出抵抗５の両端には交流信号が誘起され、これを
増幅器５を介した後、出力端子６ａよシ表面電位検出信
号として出力する◇ ところで、上記検出抵抗５に誘起される交流信号の値は
極めて微小である。例えば検出抵抗５の値を２０ＭΩ程
度としても、被測定体Ａの表面電位が数１００Ｖであっ
た場合の誘起される交流信号は数、Ｖと極めて微小であ
シ、外部からの影響を受は易い。このため、被測定体α
と対向する部分以外は外部シールドで被い、測定に際し
て外部からの影響を受けないようになっておシ、さらに
、内部シールド２によって内部の雑音から測定系を保護
している。
第２図は上記表面電位計Ａを用いたこの発明の一実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
図において、Ｂは被測定体αの表面に帯電している電荷
を取シ除く除電手段、Ｃは前記表面電位計ＡＫよシ測定
され九除電直後の被測定体αの表面電位値を保存する測
定値保存手段、Ｄは前記表面電位計Ａより出力される表
面電位値と、保存手段ＧＫ保存した表面電位値との差を
出力する補正手段としての差分演算回路である。
を取シ除く除電手段、Ｃは前記表面電位計ＡＫよシ測定
され九除電直後の被測定体αの表面電位値を保存する測
定値保存手段、Ｄは前記表面電位計Ａより出力される表
面電位値と、保存手段ＧＫ保存した表面電位値との差を
出力する補正手段としての差分演算回路である。
上記構成を有する表面電位測定装置において、次にその
動作を第３図のフローチャートに基づき。
動作を第３図のフローチャートに基づき。
説明する。
まず、ステップ１で装置の初期化を行ない、測定値保存
手段Ｃに保存されている値は「０」となる。この後、ス
テップ２で表面電位計ＡＫよシ被測定体αの表面電位が
測定されたか否かの判断を行ない、表面電位が測定され
ていなければＳまず被測定体αの表面に帯電している電
荷を除電手段Ｂによル除去する（ステップ３）。ステッ
プ４では、この状態における被測定体αの表面電位値−
すなわちオフセット電位値Ｖｏｆｆの測定を表面電位計
ＡＫよシ行ない、この値Ｖｏｆｆを測定値保存手段Ｃに
保存する。そして、再びステップ２の判断を行なった後
、ステップ５で所定の帯電手段によシ帯電させられた被
測定体αの表面電位値ｖｒｒｅＳを測定する。ステップ
６では、差分演算回路りによシこの表面電位値Ｖｍｅ
ｓから前記測定値保存手段Ｃに保存されている表面電位
値Ｖｏｆｆを減算する。これにより、オフセット電位値
を含まない正確な表面電位・値Ｖｍｅ ｓ ’が得られ
る。そして、この値ｖｈ１ｅｓ ’は所定の記憶手段に
格納される７Ｊλ、あるいは、表示手段によって表示さ
れる。なお、以上の動作が終了し、継続して被測定体α
の表面電位を測定する場合には、ステップ３，４を介さ
ずに測定動作が行なわれる。
手段Ｃに保存されている値は「０」となる。この後、ス
テップ２で表面電位計ＡＫよシ被測定体αの表面電位が
測定されたか否かの判断を行ない、表面電位が測定され
ていなければＳまず被測定体αの表面に帯電している電
荷を除電手段Ｂによル除去する（ステップ３）。ステッ
プ４では、この状態における被測定体αの表面電位値−
すなわちオフセット電位値Ｖｏｆｆの測定を表面電位計
ＡＫよシ行ない、この値Ｖｏｆｆを測定値保存手段Ｃに
保存する。そして、再びステップ２の判断を行なった後
、ステップ５で所定の帯電手段によシ帯電させられた被
測定体αの表面電位値ｖｒｒｅＳを測定する。ステップ
６では、差分演算回路りによシこの表面電位値Ｖｍｅ
ｓから前記測定値保存手段Ｃに保存されている表面電位
値Ｖｏｆｆを減算する。これにより、オフセット電位値
を含まない正確な表面電位・値Ｖｍｅ ｓ ’が得られ
る。そして、この値ｖｈ１ｅｓ ’は所定の記憶手段に
格納される７Ｊλ、あるいは、表示手段によって表示さ
れる。なお、以上の動作が終了し、継続して被測定体α
の表面電位を測定する場合には、ステップ３，４を介さ
ずに測定動作が行なわれる。
なお、上記実施例では表面電位測定手段とじて第１図に
示す表面電位計Ａを用いた場合を示したが、この発明は
上記実施例に限定されるものではなく、他の構成を有す
る表面電位計を用いても良い。 、 〔効果〕 以上説明したとおシこの発明によれば、オフセット電位
が存在しても、その影響を受けることなく正確に表面電
位を測定することができるという効果がある。
示す表面電位計Ａを用いた場合を示したが、この発明は
上記実施例に限定されるものではなく、他の構成を有す
る表面電位計を用いても良い。 、 〔効果〕 以上説明したとおシこの発明によれば、オフセット電位
が存在しても、その影響を受けることなく正確に表面電
位を測定することができるという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例に用いる表面電位計の概略
構成図、第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図
である。第３図は第２図に示したものの動作を示すフロ
ーチャートである。 Ａ・・・・・・表面電位測定手段としての表面電位計８
・・・・・・除電手段 Ｃ・・・・・・測定値保存手段 Ｄ・・・・・・補正手段としての差分演算手段第１ＷＪ 第２図 ｙ スデ・ンア７ ステッフ０７
構成図、第２図はこの発明の一実施例を示すブロック図
である。第３図は第２図に示したものの動作を示すフロ
ーチャートである。 Ａ・・・・・・表面電位測定手段としての表面電位計８
・・・・・・除電手段 Ｃ・・・・・・測定値保存手段 Ｄ・・・・・・補正手段としての差分演算手段第１ＷＪ 第２図 ｙ スデ・ンア７ ステッフ０７
Claims (1)
- 被測定体の表面電位を測定する表面電位測定手段と、前
記被測定体の表面に帯電している電荷を除電する除電手
段と、前記表面電位測定手段により除電直後に測定され
た被測定体の表面電位値を保存する測定値保存手段と、
前記表面電位測定手段より出力される表面電位値を前記
保存手段に保存した表面電位置により補正する補正手段
とを備えたことを特徴とする表面電位測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59274911A JPS61155863A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 表面電位測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59274911A JPS61155863A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 表面電位測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61155863A true JPS61155863A (ja) | 1986-07-15 |
Family
ID=17548246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59274911A Pending JPS61155863A (ja) | 1984-12-28 | 1984-12-28 | 表面電位測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61155863A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5761580A (en) * | 1995-09-26 | 1998-06-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Photoreceptor drum driving mechanism |
| US5927148A (en) * | 1995-03-07 | 1999-07-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus equipped with photoreceptor having an internal gear |
| US8244146B2 (en) | 2006-11-09 | 2012-08-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus and image forming method with error corrected potential measurements |
| JP2014173876A (ja) * | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Ebara Corp | 表面電位測定装置および表面電位測定方法 |
-
1984
- 1984-12-28 JP JP59274911A patent/JPS61155863A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5927148A (en) * | 1995-03-07 | 1999-07-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus equipped with photoreceptor having an internal gear |
| US6161446A (en) * | 1995-03-07 | 2000-12-19 | Sharp Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus provided with photoreceptor unit with internal gear unit, the photoreceptor unit with internal gear, and internal gear unit |
| US6188857B1 (en) | 1995-03-07 | 2001-02-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Imaging forming apparatus provided with photoreceptor unit with internal gear unit, the protector unit with internal gear, and internal gear unit |
| US5761580A (en) * | 1995-09-26 | 1998-06-02 | Sharp Kabushiki Kaisha | Photoreceptor drum driving mechanism |
| US8244146B2 (en) | 2006-11-09 | 2012-08-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus and image forming method with error corrected potential measurements |
| JP2014173876A (ja) * | 2013-03-06 | 2014-09-22 | Ebara Corp | 表面電位測定装置および表面電位測定方法 |
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