JPS6113130A - 光フアイバ集合体の検査装置 - Google Patents
光フアイバ集合体の検査装置Info
- Publication number
- JPS6113130A JPS6113130A JP59134182A JP13418284A JPS6113130A JP S6113130 A JPS6113130 A JP S6113130A JP 59134182 A JP59134182 A JP 59134182A JP 13418284 A JP13418284 A JP 13418284A JP S6113130 A JPS6113130 A JP S6113130A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- fiber assembly
- projector
- distance
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は一次元ないしは二次元に配列された光フアイバ
集合体を構成する光ファイバの光伝送損失後を検査する
装置に関するものである。
集合体を構成する光ファイバの光伝送損失後を検査する
装置に関するものである。
一次元ないしは二次元に配列された光フアイバ集合体の
光伝送損失を該光ファイバの形態を破壊することなく測
定することは光の迷光等のため、従来測定が非常に困難
であった。そこで光フアイバ集合体の両端を単一光ファ
イバに分離して光伝送損失後を測定する方法がとられて
いたが、この方法は該光フアイバ集合体を構成する単一
光ファイバの数量が多くなると各光ファイバを１本ずつ
に分離するために多大の時間を費すと共に１本ずつに分
離する際にステップインデックス型光ファイバにおいて
は、その界面を破壊する虞があり、また１本１本の光フ
ァイバの端面を測定誤差が大きくならないように同じ状
態に仕上げるのは非常に困難であった。
光伝送損失を該光ファイバの形態を破壊することなく測
定することは光の迷光等のため、従来測定が非常に困難
であった。そこで光フアイバ集合体の両端を単一光ファ
イバに分離して光伝送損失後を測定する方法がとられて
いたが、この方法は該光フアイバ集合体を構成する単一
光ファイバの数量が多くなると各光ファイバを１本ずつ
に分離するために多大の時間を費すと共に１本ずつに分
離する際にステップインデックス型光ファイバにおいて
は、その界面を破壊する虞があり、また１本１本の光フ
ァイバの端面を測定誤差が大きくならないように同じ状
態に仕上げるのは非常に困難であった。
本発明が解決しようとする問題点は一次元ないしは二次
元に配列された光フアイバ集合体の構成光ファイバの光
伝送損失斑を効率よくしかも高精度で測定できる検査装
置を提供することにある。
元に配列された光フアイバ集合体の構成光ファイバの光
伝送損失斑を効率よくしかも高精度で測定できる検査装
置を提供することにある。
本発明の光フアイバ集合体の検査装置は一次元ないしは
二次元に配列された光フアイバ集合体（１）の両端部を
対応させて把持する把持装置（２１と該把持装置を光フ
アイバ集合体の構成光フアイバ単位毎に移動しうる移動
機構（５）と該光フアイバ集合体の対応する両端面の距
離に等しく配置された投光器（３）および受光器（４）
からなり、該投光器（３）は少なくとも構成光フアイバ
ー本分に相当する光束となるような絞り機構を有するこ
とを特徴とするものである。
二次元に配列された光フアイバ集合体（１）の両端部を
対応させて把持する把持装置（２１と該把持装置を光フ
アイバ集合体の構成光フアイバ単位毎に移動しうる移動
機構（５）と該光フアイバ集合体の対応する両端面の距
離に等しく配置された投光器（３）および受光器（４）
からなり、該投光器（３）は少なくとも構成光フアイバ
ー本分に相当する光束となるような絞り機構を有するこ
とを特徴とするものである。
以下、本発明の光フアイバ集合体の検査装置の構成につ
き図面により説明する。
き図面により説明する。
第１図は本発明の光フアイバ集合体の検査装置の一例を
示す斜視図である。本検査装置を構成する投光器（３）
の構成を第２図にもとづき説明する。定電圧装置（３７
）を介して点灯されたランプ（３］）から発した光は集
光レンズ（３２）により視野絞り（３３）の位置に集光
されてからコリメーターレンズ（３８）により平行光に
され、対物レンズ（３５）で再び集光され被測定単一光
ファイバに照射される。この視野絞り（３３）を操作す
ることによって被測定光ファイバ集合体（１）への光の
照射面積を変えることができる。
示す斜視図である。本検査装置を構成する投光器（３）
の構成を第２図にもとづき説明する。定電圧装置（３７
）を介して点灯されたランプ（３］）から発した光は集
光レンズ（３２）により視野絞り（３３）の位置に集光
されてからコリメーターレンズ（３８）により平行光に
され、対物レンズ（３５）で再び集光され被測定単一光
ファイバに照射される。この視野絞り（３３）を操作す
ることによって被測定光ファイバ集合体（１）への光の
照射面積を変えることができる。
また、光が平行光で進行する途中に絞り機構（３９）を
挿入して開口数を変化させることができるが、これは対
物レンズ（３５）を焦点距離の異なるものに交換するこ
とでも可能である。
挿入して開口数を変化させることができるが、これは対
物レンズ（３５）を焦点距離の異なるものに交換するこ
とでも可能である。
また、開口絞り（３９）と対物レンズ（３５）の間には
ハーフミラ−（３４）が設ゆられ、被測定光ファイバの
端面での光の照射具合を肉眼により確認できる構造とな
っている。
ハーフミラ−（３４）が設ゆられ、被測定光ファイバの
端面での光の照射具合を肉眼により確認できる構造とな
っている。
本光学的構成は一般に金属顕微鏡に使用されているもの
である。
である。
次に受光器（４）の構成につき第３図により説明すると
、受光器（４）は光電変換素子（４］）および電圧計（
４２）又は電流計で構成される。光電変換素子（４Ｊ）
として一般にはフォトダイオード及びフォトマルチプラ
イヤ−が使用されるが要は被測定光ファイバの開口数と
出射端面がらの距離によって決定される照射面積よりも
広ければよく、又受光面は感度斑のできるだけ少ないも
のが望ましい。なお、装置の周辺からの迷光が入らない
よう測定は暗室で行なうのが好ましい。
、受光器（４）は光電変換素子（４］）および電圧計（
４２）又は電流計で構成される。光電変換素子（４Ｊ）
として一般にはフォトダイオード及びフォトマルチプラ
イヤ−が使用されるが要は被測定光ファイバの開口数と
出射端面がらの距離によって決定される照射面積よりも
広ければよく、又受光面は感度斑のできるだけ少ないも
のが望ましい。なお、装置の周辺からの迷光が入らない
よう測定は暗室で行なうのが好ましい。
把持装置（２）は光フアイバ集合体の構成光ファイバの
両端面の間隔が各党ファイバ毎に同間隔に配置できうる
構造となっており移動機構（５）に固定されている。ま
た、入射端と出射端の間には遮光部品（６）があり、入
射側の光の反射による光電変換素子への入射を防いで測
定誤差を少なくしている。また、この把持装置（２）は
移動機構（５）への着脱が容易な構造が望ましく、光フ
ァイバをセットして研磨するのにも利用される。ここで
集合体を同条件で研磨するので端面の仕上がり状態がほ
ぼ等しいものが得られる。
両端面の間隔が各党ファイバ毎に同間隔に配置できうる
構造となっており移動機構（５）に固定されている。ま
た、入射端と出射端の間には遮光部品（６）があり、入
射側の光の反射による光電変換素子への入射を防いで測
定誤差を少なくしている。また、この把持装置（２）は
移動機構（５）への着脱が容易な構造が望ましく、光フ
ァイバをセットして研磨するのにも利用される。ここで
集合体を同条件で研磨するので端面の仕上がり状態がほ
ぼ等しいものが得られる。
実際に光フアイバ集合体の光伝送損失斑を測定する手順
について記す、まず被測定光ファイバ集合体（１）をそ
の両端面の位置関係が等しく、かつ対物レンズと光電変
換素子の距離に等しくなるように把持装置（２）に固定
する。固定するためには接着剤を用いてもよいが、単に
ボルトナツトの機械的な締め付けでもよい。次に両端面
を研磨して移動機構（５）にセットしたのちハーフミラ
−を利用した光学系を利用して入射側端面を肉眼で確認
しながら移動機構（５）を作動させ、順次測定を行う。
について記す、まず被測定光ファイバ集合体（１）をそ
の両端面の位置関係が等しく、かつ対物レンズと光電変
換素子の距離に等しくなるように把持装置（２）に固定
する。固定するためには接着剤を用いてもよいが、単に
ボルトナツトの機械的な締め付けでもよい。次に両端面
を研磨して移動機構（５）にセットしたのちハーフミラ
−を利用した光学系を利用して入射側端面を肉眼で確認
しながら移動機構（５）を作動させ、順次測定を行う。
測定に際し、測定しようとする単一光ファイバ以外の光
ファイバに光が照射しないように照射光を絞る必要があ
る。
ファイバに光が照射しないように照射光を絞る必要があ
る。
以上の測定でアウトプットされたデータは手書きで記録
してもよいが、マイコンに接続してインプットしておく
とデータの整理が容易になり、また、グラフ状にデータ
を書き直すのにも都合が良く便利である。
してもよいが、マイコンに接続してインプットしておく
とデータの整理が容易になり、また、グラフ状にデータ
を書き直すのにも都合が良く便利である。
光フアイバ集合体を検査するには従来技術で述べたよう
に、今までは多大の時間を費やしていたが、今回光フア
イバ集合体の両端部を対応させて把持し、しかも対応す
る両端部の距離が投光器と受光器の距離に等しくなるよ
うな把持部と又照射する光をコントロールする光学系及
び肉眼で確認できうる機構にすることによってスピーデ
ィに光フアイバ集合体の光伝送損失斑を測定することが
可能になった。
に、今までは多大の時間を費やしていたが、今回光フア
イバ集合体の両端部を対応させて把持し、しかも対応す
る両端部の距離が投光器と受光器の距離に等しくなるよ
うな把持部と又照射する光をコントロールする光学系及
び肉眼で確認できうる機構にすることによってスピーデ
ィに光フアイバ集合体の光伝送損失斑を測定することが
可能になった。
第１図は本発明の光フアイバ集合体の検査装置の一例を
示す斜視図、第２図は投光器の構成の説明図、第３図は
受光器の構成の説明図である。 （１）光フアイバ集合体 （２）把持装置 （３）投光器 （４） 受光器 （５）移動機構 （６） 遮光板 （３３） 視野絞り （３４） ハーフミラ− （３５） 対物レンズ （３６） 接眼レンズ （３９） 開口絞り 峙 １ 図 −＋２図
示す斜視図、第２図は投光器の構成の説明図、第３図は
受光器の構成の説明図である。 （１）光フアイバ集合体 （２）把持装置 （３）投光器 （４） 受光器 （５）移動機構 （６） 遮光板 （３３） 視野絞り （３４） ハーフミラ− （３５） 対物レンズ （３６） 接眼レンズ （３９） 開口絞り 峙 １ 図 −＋２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）一次元ないしは二次元に配列された光フアイバ集合
体（１）の両端部を対応させて把持する把持装置（２）
と該把持装置を光フアイバ集合体の構成光フアイバ単位
毎に移動しうる移動機構（５）と該光フアイバ集合体の
対応する両端面の距離に等しく配置された投光器（３）
および受光器（４）からなり、該投光器（３）は少なく
とも構成光フアイバー本分に相当する光束となるような
絞り機構を有する光フアイバ集合体の検査装置。 ２）投光器（３）が入射側端面の光照射の状態がハーフ
ミラーを介して肉眼により確認できる光学系を有する特
許請求の範囲第１項記載の光フアイバ集合体の検査装置
。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134182A JPS6113130A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光フアイバ集合体の検査装置 |
| US06/749,422 US4639130A (en) | 1984-06-29 | 1985-06-27 | Inspection apparatus for optical fiber assembly |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59134182A JPS6113130A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光フアイバ集合体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113130A true JPS6113130A (ja) | 1986-01-21 |
| JPH0522860B2 JPH0522860B2 (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=15122353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59134182A Granted JPS6113130A (ja) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | 光フアイバ集合体の検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4639130A (ja) |
| JP (1) | JPS6113130A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02310441A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | クロストーク測定機 |
| CN107219559A (zh) * | 2017-05-24 | 2017-09-29 | 西安工业大学 | 适合用于高精度、需探测微小物体场合的光电传感器 |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3735399A1 (de) * | 1987-10-20 | 1989-05-03 | Philips Patentverwaltung | Messanordnung zur pruefung einer mehrzahl von lichtwellenleitern |
| US4830446A (en) * | 1987-11-03 | 1989-05-16 | Photon Devices, Ltd. | Production initializer for fiber optic document scanner |
| US4812646A (en) * | 1987-11-03 | 1989-03-14 | Photon Devices, Ltd. | Optical fiber initialization method and apparatus |
| US5127725A (en) * | 1990-09-24 | 1992-07-07 | Photon Kinetics, Inc. | Method and apparatus for testing multiple optical fibers |
| US5347698A (en) * | 1991-07-15 | 1994-09-20 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method for assembly and inspection of optical fiber connectors |
| ATE161950T1 (de) * | 1992-10-20 | 1998-01-15 | Siemens Ag | Verfahren und einrichtung für messungen an mehreren lichtwellenleitern |
| JPH07234341A (ja) * | 1994-02-23 | 1995-09-05 | Nec Corp | 半導体レーザと光ファイバの結合構造 |
| US6369883B1 (en) * | 2000-04-13 | 2002-04-09 | Amherst Holding Co. | System and method for enhanced mass splice measurement |
| US7448991B2 (en) * | 2002-11-14 | 2008-11-11 | Philip Morris Usa Inc. | Process and system for monitoring a continuous element being incorporated within a cigarette filter |
| US8908167B2 (en) * | 2010-05-05 | 2014-12-09 | Afl Telecommunications Llc | Fiber optic connector inspection microscope with integral optical power measurement |
| KR20140103237A (ko) * | 2011-12-22 | 2014-08-26 | 허니웰 인터내셔널 인코포레이티드 | 섬유 투명도 시험 방법 및 장치 |
| CN110967164B (zh) * | 2018-09-28 | 2021-07-20 | 梅州达士通精密工业有限公司 | 一种网线故障检测分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5744831A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Device for exciting multiple core optical fiber |
| JPS58205118A (ja) * | 1982-05-26 | 1983-11-30 | Nec Corp | 光伝送体接続端末部材形状測定方法及び装置 |
-
1984
- 1984-06-29 JP JP59134182A patent/JPS6113130A/ja active Granted
-
1985
- 1985-06-27 US US06/749,422 patent/US4639130A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02310441A (ja) * | 1989-05-26 | 1990-12-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | クロストーク測定機 |
| CN107219559A (zh) * | 2017-05-24 | 2017-09-29 | 西安工业大学 | 适合用于高精度、需探测微小物体场合的光电传感器 |
| CN107219559B (zh) * | 2017-05-24 | 2023-03-03 | 西安工业大学 | 适合用于高精度、需探测微小物体场合的光电传感器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4639130A (en) | 1987-01-27 |
| JPH0522860B2 (ja) | 1993-03-30 |
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