JPS61125028A - 半導体装置 - Google Patents
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- JPS61125028A JPS61125028A JP59245985A JP24598584A JPS61125028A JP S61125028 A JPS61125028 A JP S61125028A JP 59245985 A JP59245985 A JP 59245985A JP 24598584 A JP24598584 A JP 24598584A JP S61125028 A JPS61125028 A JP S61125028A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体装置、特に半導体装置内部の電極間結
線に適用して有効な技術に関するものである。
線に適用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術]
半導体装置では、リードまたはメタライズからなる内部
電極とベレットとの電気的接続がワイヤボンディングに
よって行われることが広く知られている。
電極とベレットとの電気的接続がワイヤボンディングに
よって行われることが広く知られている。
このとき、リードフレームを用いる半導体装置であれば
、インナーリード部分に金、恨、半田等のメッキが施さ
れることがある。
、インナーリード部分に金、恨、半田等のメッキが施さ
れることがある。
これは、ワイヤとリードの電気的接続を良好ならしめる
ためである。
ためである。
ところが、メッキを施す際にはインナーリード全体にメ
ッキを施すために、必要となるメッキ量も多く、特にメ
ッキ材料として導電性の良い金を用いた場合にはコスト
高となる。
ッキを施すために、必要となるメッキ量も多く、特にメ
ッキ材料として導電性の良い金を用いた場合にはコスト
高となる。
ここで、ボンディングに必要な部分にのみメッキを施す
、いわゆるポイントメッキにより、使用するメッキ材を
少量に抑えることが考えられる。
、いわゆるポイントメッキにより、使用するメッキ材を
少量に抑えることが考えられる。
しかし、ポイントメッキは被着面積が小さいため、メッ
キが剥がれ易いことが本発明者によって明らかにされた
。
キが剥がれ易いことが本発明者によって明らかにされた
。
このことから、メッキを用いずにワイヤとり−ドの電気
的接続を確実に行うことの出来る技術が必要であること
が、更に本発明者によって明らかにされたのである。
的接続を確実に行うことの出来る技術が必要であること
が、更に本発明者によって明らかにされたのである。
また、内部電極がセラミック等のパッケージ上に形成さ
れたメタライズによって形成されている半導体装置にお
いても同様に、電極とワイヤの電気的接続を良好に行う
ことのできる技術が必要であることが本発明者によって
明らかにされた。
れたメタライズによって形成されている半導体装置にお
いても同様に、電極とワイヤの電気的接続を良好に行う
ことのできる技術が必要であることが本発明者によって
明らかにされた。
なお、ワイヤを用いた電極間接続の技術として詳しく述
べである例としては、工業調査会、1980年1月15
日発行rlc化実装技術」、P99〜P103がある。
べである例としては、工業調査会、1980年1月15
日発行rlc化実装技術」、P99〜P103がある。
[発明の目的]
本発明の目的は、内部電極とワイヤとの電気的接続を確
実に行うことのできる技術を提供することにある。
実に行うことのできる技術を提供することにある。
本発明の他の目的は低コストで信鎖性の高い半導体装置
を提供することにある。
を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
[発明の概要]
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、ワイヤボンディングされる内部電極表面の長
さ方向に溝を設けることによって、咳溝にワイヤ先端部
を圧入して内部電極とワイヤとの電気的接続を行い、前
記目的を達成するものである。
さ方向に溝を設けることによって、咳溝にワイヤ先端部
を圧入して内部電極とワイヤとの電気的接続を行い、前
記目的を達成するものである。
[実施例1]
第1図は、本発明による一実施例である半導体装置のワ
イヤとリードの接合状態を示す第2図の1−1線拡大部
分断面図である。
イヤとリードの接合状態を示す第2図の1−1線拡大部
分断面図である。
第2図は、本実施例による半導体装置の全体を示す断面
図である。
図である。
本実施例の半導体装置1は、エポキシ樹脂等のレジン2
により封止されてなるいわゆるレジンモールド型の半導
体装置であって、たとえば42アロイや!1M(cu)
を含む合金からなるリードフレーム3の中央に形成され
たタブ4の上に/リコン(S i)からなるペレット5
がIN(Ag)ペースト6で取付けられている。該ペレ
ット5上にはアルミニウムからなるポンディングパッド
7が形成されている。
により封止されてなるいわゆるレジンモールド型の半導
体装置であって、たとえば42アロイや!1M(cu)
を含む合金からなるリードフレーム3の中央に形成され
たタブ4の上に/リコン(S i)からなるペレット5
がIN(Ag)ペースト6で取付けられている。該ペレ
ット5上にはアルミニウムからなるポンディングパッド
7が形成されている。
また、リードフレーム3のワイヤボンディング部である
内部リードを構成する各リード3aのタブ4よりの先端
にはリード3aの長さ方向に1118が設けられている
。咳溝8は溝幅がリード3a表面の開口部付近は狭く、
底部にいくに従って広(なるよう逆テーパ状に形成され
ている。かかる溝形状は凸面を有するパンチでまず溝を
形成した後に凹面のパンチで開口部を狭くプレスするこ
とにより容易に形成できるものである。
内部リードを構成する各リード3aのタブ4よりの先端
にはリード3aの長さ方向に1118が設けられている
。咳溝8は溝幅がリード3a表面の開口部付近は狭く、
底部にいくに従って広(なるよう逆テーパ状に形成され
ている。かかる溝形状は凸面を有するパンチでまず溝を
形成した後に凹面のパンチで開口部を狭くプレスするこ
とにより容易に形成できるものである。
この溝8とペレット5上のポンディングパッド7とは金
(Au)からなるワイヤ9により電気的に接続されてい
る。このワイヤ9による電気的接続は、まずペレット5
上のポンディングパッド7にポールボンディングを行い
、十分なループ高さをとった上でキャピラリ先端部(図
示せず)でワイヤ9の他端をリード3a上の該溝8部分
に加圧することによってワイヤ材料の一部を該溝8に圧
入して電気的導通を達成するものである。また、このと
きにワイヤ9の他端を加熱してその一部を溶融せしめて
該溝8との接合を行ってもよい。
(Au)からなるワイヤ9により電気的に接続されてい
る。このワイヤ9による電気的接続は、まずペレット5
上のポンディングパッド7にポールボンディングを行い
、十分なループ高さをとった上でキャピラリ先端部(図
示せず)でワイヤ9の他端をリード3a上の該溝8部分
に加圧することによってワイヤ材料の一部を該溝8に圧
入して電気的導通を達成するものである。また、このと
きにワイヤ9の他端を加熱してその一部を溶融せしめて
該溝8との接合を行ってもよい。
このように本実施例によれば、リード3aがワイヤ9を
咬持した状態で接続が行われているため、リード3a上
のワイヤ9との接続部分にメッキを施すことなく信頌性
の高い電気的接続を行うことができる。
咬持した状態で接続が行われているため、リード3a上
のワイヤ9との接続部分にメッキを施すことなく信頌性
の高い電気的接続を行うことができる。
[実施例2]
第3図は、本発明による他の実施例である半導体装置の
ワイヤとリードの接合状態を示す第4図のlll−11
1線拡大部分断面図である。
ワイヤとリードの接合状態を示す第4図のlll−11
1線拡大部分断面図である。
第4図は、本実施例による半導体装置の全体を示す断面
図である。
図である。
本実施例による半導体装置11は、バラケーン基板12
を低融点ガラス13を介してキャップI4で気密封止し
てなる、いわゆるチップキャリア型の半導体装置である
。
を低融点ガラス13を介してキャップI4で気密封止し
てなる、いわゆるチップキャリア型の半導体装置である
。
セラミックからなる断面コ字状のパッケージ基板12の
中央部のペレット取付は面にはベレット15が銀ペース
ト16で取付けられており、該ベレット】5上面にはア
ルミニウムからなる多数のポンディングフィツト17が
形成されている。
中央部のペレット取付は面にはベレット15が銀ペース
ト16で取付けられており、該ベレット】5上面にはア
ルミニウムからなる多数のポンディングフィツト17が
形成されている。
また、ペレット15周囲のバッケーノ基板12表面には
M基板12の壁面を貫通して該基板12の側面および裏
面まで延在されてなるメタライズ18が形成されており
、該メタライズ18のベレット15近傍には各メタライ
ズ18の長さ方向に溝19が設けられている。
M基板12の壁面を貫通して該基板12の側面および裏
面まで延在されてなるメタライズ18が形成されており
、該メタライズ18のベレット15近傍には各メタライ
ズ18の長さ方向に溝19が設けられている。
該溝19はパッケージ基板12の焼結前に形成しておい
てもよいし、また焼結後に該基板12の一部をエツチン
グ除去することにより形成してもよい。
てもよいし、また焼結後に該基板12の一部をエツチン
グ除去することにより形成してもよい。
なお、該11119の内面にもメタライズ18が形成さ
れている。
れている。
この溝19とペレット15上のポンディングパッド17
とは金(Au)からなるワイヤ20により電気的に接続
されている。このワイヤ20による電気的接続は、まず
ペレット15上のポンディングパッド17にウェッジポ
ンディングまたはポールポンディングを行い、十分なル
ープ高さをとった上でキャピラリもしくはウェッジの先
端部(図示せず)でワイヤ20の他端をメタライズ1日
上の該溝19部分に加圧することによってワイヤ材料の
一部を接溝19に正大して電気的導通を達成するもので
ある。また、このときにワイヤ20他端に超音波振動を
加えれば、メタライズ18との接合性をさらに高めるこ
とができる。
とは金(Au)からなるワイヤ20により電気的に接続
されている。このワイヤ20による電気的接続は、まず
ペレット15上のポンディングパッド17にウェッジポ
ンディングまたはポールポンディングを行い、十分なル
ープ高さをとった上でキャピラリもしくはウェッジの先
端部(図示せず)でワイヤ20の他端をメタライズ1日
上の該溝19部分に加圧することによってワイヤ材料の
一部を接溝19に正大して電気的導通を達成するもので
ある。また、このときにワイヤ20他端に超音波振動を
加えれば、メタライズ18との接合性をさらに高めるこ
とができる。
このように本実施例によれば、ワイヤ20とメタライズ
18との接触面積を大きくとることができるため、信頼
性の高い接続を行うことができ、さらに接合部の電気抵
抗の低減を図ることもできる。
18との接触面積を大きくとることができるため、信頼
性の高い接続を行うことができ、さらに接合部の電気抵
抗の低減を図ることもできる。
[効果]
(1j、内部電極の長さ方向に溝を設けることによって
、核溝部にワイヤ先端を正大して内部′r118iとワ
イヤとの電気的接続を行うことができ、信頼性の高い電
気的接続が可能となる。
、核溝部にワイヤ先端を正大して内部′r118iとワ
イヤとの電気的接続を行うことができ、信頼性の高い電
気的接続が可能となる。
(2)、溝を逆テーバ状の横断面形状とすることにより
、さらに接続強度の高い電気的接続を行うことができる
。
、さらに接続強度の高い電気的接続を行うことができる
。
(3)、リード上に溝を設けることにより、インナーリ
ード表面のメッキ処理を行うことな(ワイヤとの接続が
可能となり、材料の低減を図ることができる。
ード表面のメッキ処理を行うことな(ワイヤとの接続が
可能となり、材料の低減を図ることができる。
(41,メタライズ部を溝の内部にも設けることにより
、ワイヤとメタライズとの接触面積を太き(することが
でき、電気抵抗の低減を図ることができる。
、ワイヤとメタライズとの接触面積を太き(することが
でき、電気抵抗の低減を図ることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえば、実施例ではパッケージ構造としてレジンモー
ルド型およびチンプキャリア型についてのみ説明したが
、これに限るものでなく、ワイヤポンディングを行う半
導体装置であればいかなるパッケージ構造のものであっ
てもよい。
ルド型およびチンプキャリア型についてのみ説明したが
、これに限るものでなく、ワイヤポンディングを行う半
導体装置であればいかなるパッケージ構造のものであっ
てもよい。
また、ワイヤの材質についても金に限られず、銅もしく
はアルミニウム等であってもよい。
はアルミニウム等であってもよい。
第1図は、本発明による実施例Iである半導体装置のワ
イヤとリードの接合部を第2図の[−1線で切断した拡
大部分断面図、 第2図は、実施例1による半導体装置の全体を示す断面
図、 第3図は、本発明による実施例2である半導体装置のワ
イヤとリードの接合部を第4図のm−■線で切断した拡
大部分断面図、 第4図は、実施例2による半導体装置の全体を示す断面
図である。 1・・・半導体装置、2・・・レジン、3・・・リード
フレーム、3a・・・リード、4・・・タフ゛、5・・
・ベレット、6・・・1艮ペースト、7・ ・ ・ポン
ディングパッド、8・・ ・溝、9・・ ワイヤ、11
・・・半導体装置、I2・・・パッケージ基板、I3・
・・低融点ガラス、14・・・キャップ、15・・・ベ
レット、16・・・銀ペースト、17・・・ポンディン
グパッド、18・・・メタライズ、19・・・溝、2o
・・・ワイヤ。 第 1 図 第 2 図
イヤとリードの接合部を第2図の[−1線で切断した拡
大部分断面図、 第2図は、実施例1による半導体装置の全体を示す断面
図、 第3図は、本発明による実施例2である半導体装置のワ
イヤとリードの接合部を第4図のm−■線で切断した拡
大部分断面図、 第4図は、実施例2による半導体装置の全体を示す断面
図である。 1・・・半導体装置、2・・・レジン、3・・・リード
フレーム、3a・・・リード、4・・・タフ゛、5・・
・ベレット、6・・・1艮ペースト、7・ ・ ・ポン
ディングパッド、8・・ ・溝、9・・ ワイヤ、11
・・・半導体装置、I2・・・パッケージ基板、I3・
・・低融点ガラス、14・・・キャップ、15・・・ベ
レット、16・・・銀ペースト、17・・・ポンディン
グパッド、18・・・メタライズ、19・・・溝、2o
・・・ワイヤ。 第 1 図 第 2 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ワイヤボンディングされる内部電極表面の長さ方向
に溝が設けられていることを特徴とする半導体装置。 2、溝の開口部付近の横断面幅が溝底側の横断面幅より
も狭くなるように形成されていることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の半導体装置。 3、内部電極がパッケージ基板上のメタライズで形成さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
半導体装置。 4、内部電極がリードフレームの内部リードで形成され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59245985A JPS61125028A (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59245985A JPS61125028A (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61125028A true JPS61125028A (ja) | 1986-06-12 |
Family
ID=17141755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59245985A Pending JPS61125028A (ja) | 1984-11-22 | 1984-11-22 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61125028A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002073177A3 (en) * | 2001-03-09 | 2003-06-05 | Zellweger Analytics Ltd | Electrochemical gas sensor |
JP2005026691A (ja) * | 2003-07-01 | 2005-01-27 | Stmicroelectronics Inc | ボールボンディングにおいて小径ワイヤにより構成されたボンドの強度を増加するシステム及び方法 |
WO2008155726A2 (en) * | 2007-06-21 | 2008-12-24 | Nxp B.V. | A carrier for electric packages and a method of structuring a carrier |
-
1984
- 1984-11-22 JP JP59245985A patent/JPS61125028A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002073177A3 (en) * | 2001-03-09 | 2003-06-05 | Zellweger Analytics Ltd | Electrochemical gas sensor |
JP2005026691A (ja) * | 2003-07-01 | 2005-01-27 | Stmicroelectronics Inc | ボールボンディングにおいて小径ワイヤにより構成されたボンドの強度を増加するシステム及び方法 |
WO2008155726A2 (en) * | 2007-06-21 | 2008-12-24 | Nxp B.V. | A carrier for electric packages and a method of structuring a carrier |
WO2008155726A3 (en) * | 2007-06-21 | 2009-03-05 | Nxp Bv | A carrier for electric packages and a method of structuring a carrier |
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