JPS61107646A - 電子ビ−ム加工機 - Google Patents

電子ビ−ム加工機

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Publication number
JPS61107646A
JPS61107646A JP22848584A JP22848584A JPS61107646A JP S61107646 A JPS61107646 A JP S61107646A JP 22848584 A JP22848584 A JP 22848584A JP 22848584 A JP22848584 A JP 22848584A JP S61107646 A JPS61107646 A JP S61107646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
circuit
electron gun
tension
electron beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22848584A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisanao Kita
喜多 久直
Shinji Yamazaki
信二 山崎
Takamitsu Nakasaki
中崎 隆光
Kiichi Tokunaga
紀一 徳永
Masakazu Midorikawa
正和 緑川
Takeo Uehara
上原 壮夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP22848584A priority Critical patent/JPS61107646A/ja
Publication of JPS61107646A publication Critical patent/JPS61107646A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/24Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
    • H01J37/241High voltage power supply or regulation circuits

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は電子ビーム加工機に係り、特に電子銃内で生じ
る放電を防止し、さらに耐圧を考慮した高圧電源の改造
を必唆としない点において従来機への適用に好適な電子
ビーム制御装置に関する。
〔発明の背景〕
本発明の最も近い公知例は特公昭48−27278号で
あ纂。この技術は電子銃内で放電が生じた場合、その高
圧側回路電流を検知し、この値が例えば、0.6人の制
限電流以上になると、電子銃を25マイクロ秒より少な
い時間で遮断(ターンオフ)、35ミリ秒経過後復帰(
ター/オン)することができる高圧回路の制御装置を設
けて、過負荷に起因する装置の保護を目的に開発された
ものである。
この従来例には3点の問題点がある。
第1には、高圧回路においては各装置のアースに対する
耐圧が大きな問題となる。この従来技術を既存の電子ビ
ーム加工機に適用する場合、原理的には高圧電源のマイ
ナス側と電子銃間に直列に電子ビームの遮断および制御
を行なう装置を配置することは遮断装置の制御回路自身
の耐圧の問題から困難であり、高圧電源のプラス側とア
ース間に直列に制御装置を配置せざるを得ない。しかし
ながら、この場合高圧電源に電源電圧以上の耐圧を持た
せる必要が生じ、高圧電源の大幅な改造もしくは交換が
要求されることになる。
第2には、本技術を用いた場合加速電圧30kV以上の
電子ビーム加工機においてターンオフ時間が25マイク
ロ秒以下ではサージ電圧が大となシ、電子制御回路の亀
子部品等が高圧回路のLによるサージにより破壊する。
第3には、本技術の遮断経過時間35ミリ秒では、例え
ば100 ミIJ厚の横向き貫通溶接で溶接の連続性が
保持できずボイド欠陥が発生してしまう。
以上のことより現状では従来機への適用において大幅な
高圧電源の改造が必要であり、さらに溶接においては放
電が生じることによシ溶接部に発生するボイド等の溶接
欠陥を防止することはできない。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を解決して電
子ビーム加工において、電子銃内で放電が生じないよう
にし、良好な加工結果が得られ、かつ既存の電子ビーム
加工機に容易に適用可能な電子ビーム制御装置Ct−提
供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、かかる目的を達成するために、電子ビーム加
工機の高圧電源および該″@、#tの負荷である゛電子
銃で構成される高圧電気回路に2いて、回路内に流れる
電流、前記負荷に印加される電圧を検知し、例えば光フ
ァイバーを用いることによってアースに対して絶縁され
た状態で高圧遮断装置の制御回路からアースに対して電
位差の大きい高圧遮断装置に該検知信号を伝達すること
により、高圧電気回路を選定せる任意の時間遮断し、電
子銃の作動を停止する遮断および制1111機構を、間
圧電源のマイナス側と該電源の負荷である電子銃間に配
置可能とした。
〔発明の冥電例〕
以下、不発明を図示の実施例に基づき、詳細に説明する
。第1図は本発明の一実喝例の構成図である。同図にお
いて、電子ビーム加工機は、高圧電源1、電子銃2、高
圧遮断装置3が高圧主回路を構成している。高圧遮断装
置3は制御回路4の信号により高圧主回路のターンオン
およびターンオフを行なう。制御回路4から高圧遮断装
置3への4H号の伝達はここでは光ファイバー5を用い
ている。また制御回路4に送られてくる信号は、高圧!
、源1とアース間に直列に配置されるビーム電流検知回
路6、高圧主回路と並列に配置される加速電圧検知回路
7から送られてくる。
電流検知回路6および鑞圧検知回w!r7の信号により
制御回路4が駆動する場合の具体例を第2図に示す。
第2図は高圧電源1、電子銃2および高圧半導体モジュ
ール9をN個直列に連結して構成される高圧遮断装#、
3を高圧主回路としている。それぞれの高圧半導体モジ
ュール9はサージ吸収器10によってサージから保護さ
れている。高圧半導体モジュール9の駆動電源は絶縁ト
ランス11よシインバータ12を介して送られてくる。
絶縁トランス11は51.流鴫源13から゛電力を供給
される。
また高圧半導体モジュール9のターンオン・ターンオフ
はLED発信回路14によって制御され、LED発信回
路14内のLED15から元ファイバー5を通って光ト
リガーが筒圧半碑体モジュール9円の受光ダイオード1
6に伝送される。
LED発信回路14に送られてくる信号は、本実施例で
は、ビーム電流検知回路6および加速電圧検知回路7よ
り発せられる。
以下本実施例を用いた電子ビーム溶接時の放電制御につ
いて説明する。
放電の発生しない定常状態における高圧遮断装置3は導
通の状態であり、LED%伯回路14よシターンオンの
信号が送られている。電子Vcz内で異常放電が生じる
とビーム電流検知回路6および電圧検知回路7の出力電
圧が変化する。ビーム電流検出回路6の出力電圧の変化
は電圧設定器17の設定電圧とビーム電流比較回路18
で比較され直流の出力信号を出す。又、加速電圧検知回
W&7の出力電圧の変化は電圧設定器19の設定電圧と
加速電圧比較回路20で比較され直流の出力信号を出す
。マルチバイブレータ21の出力信号は上記出力信号の
いずれかを選択することによシ発せられ、フォトカプラ
22を動作させLED発信回路14内のNOT回路23
によシ信号が逆転されトランジスタ24をオフする。こ
れによりLE]J15は発光をやめ光ファイバー5を通
して高圧半導体モジュール9内の受光ダイオード16が
トランジスタ17のベース11tR,をl;FJシMO
8FET260ゲート電圧をカットオフ電圧以下にし、
第6図に示す原理で高圧半導体モジュール9内の全MO
8FETをターンオフする。この動作はN個の高圧半導
体モジュール9について同時に行なわれることによって
高圧遮断装置3は高圧回路を遮断することができる。遮
断後、設定した時間の後マルチバイブレータ21の出力
信号が0となり、再び高圧遮断装置t3は導通状態とな
り電子銃の運転を再開する。
第3図は、上記した回路の#作をより詳細に表わしたも
のである。
定常状態では電子銃にビーム加速電圧V、が印加されて
電子ビーム溶接が行なわれている。しかし、溶接中、溶
接金属から放出される金属蒸気等が、電子銃内に侵入す
ると高圧(陰極−陽極間、又は、バイアス−陽慢閣)の
絶縁破壊が生じ、電子銃内で放電が生ずる。
このため、加速電圧V、が低下し、ビーム電流工、が増
加する。しかしながら、放・亀の程度により加速電圧の
低下およびビーム磁流の増加の程度は異なる。放電が生
じ、ビーム電流がI=(Is=LI1.)となるとすな
わち点35から点36に増加したとき前記のビーム電流
検知回路6と電圧設定器17の出力電圧を比較するビー
ム′)h、流比較回路18が作動しマルチバイブレータ
21を動作させLED発光回路14内のNOT回路23
により信号を逆転されその信号によりLED15はオフ
され島田遮断装置i3は遮断動作にはいる。この間ビー
ム電流は点36から点37に増加するがこの時間1oは
数マイクロ秒以下で十分無視できる時間である。このL
ED15のオフにより1゜秒でビーム電流は点37から
点38(零アンペア)になるように高圧遮断装置3のア
ノード・カソード間に電圧が印加される。これに伴って
、ビーム電流の低下とともに加速電圧も低下し、点27
から点28、点29そして点30(零電位)になる。
この時、点28すなわちVb(Vb=0.9v、)にな
ると、前記した加速電圧比較回路から直流電圧が出力さ
れ、マルチバイブレータにON信号が与えられる。この
時、ビーム電流は零でめるため、前記したビーム電流比
較回路の出力は1.秒後に零になっている。しかしなが
らマルチバイブレータは前記したようにビーム電流検知
回路と加速電圧検知回路の出力信号のいずれかを選択す
るためマルチバイブレータの出力により制圧遮断回路の
アノード・カソード間に電圧が印加される。またマルチ
バイブレータの出力はt1秒間保持するよ。
うにセットされており、従って13秒後マルチバイブレ
ータの出力がオフされるとLEDは発光を開始し、高圧
半導体モジュールのMOSFETにター/オン信号を送
り筒圧半導体モジュールはターンオンされ高圧遮断装置
のアノード・カソード間。
電圧は工4秒後に零となる。これに伴なって、電子銃の
加速電圧は点30から点31を経て、最初に設定され九
V、値となシ、ビーム′亀流も同様に点3Bから点39
を経て点40の工、値にもどり、再び連続した電子ビー
ム溶接が可能である。
また、放電が生じ、ビーム電流が大きく変化せず、加速
電圧のみが低下し、Vb  (Vb =0.9V−)と
なった論合は、前記したように、加速電圧比較回路から
直流電圧が出力され、直ちにマルチバイブレータがON
し、同様の動作をし、@ 、 −)−t z +t3+
ta秒後に定常状態に復帰し連続した電子ビーム溶接が
可能となる。
さらに、本装置においては、加速電圧の再点弧に失敗し
た場合、マルチバイブレータが点31よJtl+ts秒
後再び前記した動作を行ない、加速電圧を点33よシ回
復し、点34で正常に回復する機能を有している。この
場合の各要素への動作例を一点鎖線で示している。さら
に、加速電圧の再点弧時に過大なビーム電流(≧より)
が流れた場合は前記した動作を行ない、正常に回復する
機能を有している。以上の各要素の動作で最も重要す4
 ツカ、Ib 、 Vb 、 t2 、 t3  およ
びt4である。これらの具体的設定値とその結果を以下
に示す。
t、とt4は装置の保護的な面より500マイクロ秒か
ら1ミリ秒に設定すべきである。
これは高圧回路に存在するインダクタンスLにより急激
な回路遮断でのサージ電圧が発生し、電子部品が破損す
るためである。実験的には、加速電圧30kVで100
mAのビーム電流のとき、t2が100マイクロ秒以下
で前記破損が発生した。このため使用するビームtR,
に応じて500マイクロ秒から1ミリ秒の間で設定する
ことが効果的であることが判明した。
■−は30〜50ミリ秒間で20%程度の降下で溶接に
対して問題ないため、その半分の10%に設定した。さ
らに、Ibについて30〜50ミリ秒で、20%程度の
増加は溶接にtWないことを確認しているため、その半
分の10%に設定した。
t3は溶接の連続性を保持する上で、すなわち健全な溶
接部を得るために紋も重要な値である。
板厚100W級を負通して溶接速度100wR/分で電
子ビーム浴接した結果、tz+t、+t4が12ミリ秒
以下では良好な結果が得られたが、これを越えると、急
速な復帰にも拘らずボイド欠陥が発生した。この状況を
第4図、第5図に示す。
第4図は板厚100mの被加工材41.42を突合せ溶
接し、前記した゛電子銃内で発生する放電の復帰を、1
.+1.+1.を12ミリ秒以下に設定して電子ビーム
溶接した結果であり、溶接部の横断面を(a)、そのA
−A断面すなわち縦断面を(b)に示している。溶接金
属43はいずれの断面とも欠陥のない良好な品質を示し
た。また、裏ビード44も均一で良好な形状を示してい
る。これに対して、12ミリ秒以上では、第5図にその
縦断面を示すが、ビード表面に凹み46および裏面に芙
起47が生じ、一部にボイド45が発生している。
さらに、板厚9.3〜30.9■の薄板についても同様
の結束が得られた。
以上のことよりt3は10ミリ秒以下が望ましい。
以上、本発明の実施例を示した。さらに本実施例による
多大な効果は既設設備に付加する際に、高圧電源の大幅
表改造を考慮する必要がない点である。第1図において
、従来技術では回路のプラス側49において、アース5
0とビーム電流検知回路6との間に遮断装置、例えば真
空管を配置することになり、放電発生時はこの真空看に
より遮断動作が行なわれ、高圧電源のプラス端子はアー
スに対して電源電圧に相当する電圧がかかった状態にな
る。すなわち、安全の為に高圧電源の外箱をアースして
おくものとすれば、高圧電源装置の外箱とプラス側端子
およびプラス側回路は電源電圧に応じて絶縁しなければ
ならない。ところが遮断装置を持たない高圧電源のプラ
ス側端子と外箱は一般にアースされておシ、本発明によ
る遮断回路をプラス側49に挿入する場合には、高圧電
源の改造が必要になシ、必要な耐電圧間隙を取るため外
箱を大きくせねばならず深刻な問題となる。
一方、本実施例においては、第1図の該当位置の状態か
ら明らかなように、尚圧電源の対アース電位は、定常加
速電圧印加時、放電による高圧主回路遮断時ともに変動
する仁となく零ボルトである。すなわち高圧電源につい
て耐電圧を考慮する必要がなく(設計上要求される必要
最小限、の耐電圧は考慮されてよい)、高圧電源装置の
小を化が可能であり、さらに電子ビーム加工機自身の小
を化につながり、高い経済性を有する装置となる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、電子ビーム溶接において、電子銃内で
発生する放電に起因した溶接欠陥をなくすことが可能で
ある。また、放電により生じるサージに起因する装置の
電子部品の破損をなくすことが可能となる。さらに従来
の電子ビーム加工機に、高圧電源の耐圧の問題において
大幅な改造あるいは交換を必要とすることなく本装置を
適用することか可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図はその具体
例、第3図は制御装置の作動を示す線図、第4図(a)
は本装置による被加工材の溶接部横断面図、第4図(b
)は第4図(a)のA−A線断面図、第5図は本発明以
外の方法による被加工材の溶接部欠陥発生状況説明図で
ある。 1・・・高圧電源、2・・・電子銃、3・・・高圧遮断
装置、4・・・制御回路、5・・・光ファイバー、6・
・・ビーム電流検知回路、7・・・加速電圧検知回路、
8・・・電子銃内真空度検知回路、9・・・高圧半導体
モジュール、10・・・サージ吸収器、11・・・絶縁
トランス、12・・・インバータ、13・・・交流電源
、14・・・LED発信回路、15・・・LED、16
・・・受光ダイオード、17・・・電圧設定器、18・
・・ビーム電流比較回路、19・・・電圧設定器、20
・・・加速電圧比較回路、衰 21・・・マルチバイブレータ、22・・・7オトカブ
ラ、23・・・NOT回路、24・・・トランジスタ、
25・・・トランジスタ、26・・・MOSFET、2
7〜34・・・加速電圧の変化状況を説明する走めの点
を示す、35〜40・・・ビームを流の変化状況を説明
するための点を示す、41.42・・・被加工材、43
・・・溶接金属、44・・・裏ビード、45・・・ボイ
ド欠陥、46・・・表ビード凹み、47・・・裏ビード
突起、48・・・回路のマイナス側、49・・・回路の
プラス側(アース側)、50・・・アース。 箪 T 図 ! ′43国 時間 → 箪4 品 扇 5 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電子ビーム加工機の高圧電源および該電源の負荷で
    ある電子銃で構成される高圧電気回路で回路内に流れる
    ビーム電流、前記負荷に印加される加速電圧を検知し、
    該検知信号を高圧遮断装置の制御回路から高圧遮断装置
    に絶縁された信号で伝達することにより高圧電気回路を
    選定せる任意の時間遮断し、電子銃の作動を停止する遮
    断および制御機構において、高圧電源の耐圧を考慮しな
    くても良いように高圧電源のマイナス側と該電源の負荷
    である電子銃間に配置可能としたことを特徴とする電子
    ビーム加工機。 2、電子銃の作動を停止する時間が10ミリ秒以下でか
    つターンオン、ターンオフ時間を500マイクロ秒から
    1ミリ秒で制御することを特徴とする特許請求の範囲第
    1項に係る電子ビーム加工機。
JP22848584A 1984-10-30 1984-10-30 電子ビ−ム加工機 Pending JPS61107646A (ja)

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JP22848584A JPS61107646A (ja) 1984-10-30 1984-10-30 電子ビ−ム加工機

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JP22848584A JPS61107646A (ja) 1984-10-30 1984-10-30 電子ビ−ム加工機

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JPS61107646A true JPS61107646A (ja) 1986-05-26

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ID=16877202

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007311149A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Jeol Ltd 電子ビーム発生装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007311149A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Jeol Ltd 電子ビーム発生装置

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