JPS61100664A - 瞬時充電測定モ−ドの自動切替え形絶縁抵抗計 - Google Patents
瞬時充電測定モ−ドの自動切替え形絶縁抵抗計Info
- Publication number
- JPS61100664A JPS61100664A JP22266284A JP22266284A JPS61100664A JP S61100664 A JPS61100664 A JP S61100664A JP 22266284 A JP22266284 A JP 22266284A JP 22266284 A JP22266284 A JP 22266284A JP S61100664 A JPS61100664 A JP S61100664A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は測定用標準抵抗の他に充電用低抵抗を組込んで
充電時間を大幅に短縮すると共に、充電と測定との両モ
ードの切替えにょシ自動的に充電電流を検知し、モード
表示を行う瞬時充電測定モード自動切替え形絶縁抵抗計
に関する。
充電時間を大幅に短縮すると共に、充電と測定との両モ
ードの切替えにょシ自動的に充電電流を検知し、モード
表示を行う瞬時充電測定モード自動切替え形絶縁抵抗計
に関する。
（従来の技術）
第５図は従来技術による絶縁抵抗計の測定回路の一例を
示す回路図であり、第５図において１は試験電圧源（Ｅ
ｏ）、２は測定スイッチ（ｓｌ ）、５は被測定試料（
ＣＸ ＃ Ｒｘ ）、４は標準抵抗（Ｒｓ）、５は増幅
器（Ａ）、６は電圧計（Ｍ）である。
示す回路図であり、第５図において１は試験電圧源（Ｅ
ｏ）、２は測定スイッチ（ｓｌ ）、５は被測定試料（
ＣＸ ＃ Ｒｘ ）、４は標準抵抗（Ｒｓ）、５は増幅
器（Ａ）、６は電圧計（Ｍ）である。
第５図において、測定は被測定試料（ＲＸ ） ３が標
準抵抗（ＲＢ ）４と直列に接続された形で行われる。
準抵抗（ＲＢ ）４と直列に接続された形で行われる。
このとき、標準抵抗（ＲＢ）４の両端に発生する電圧降
下ａｙは次式によって与えられる。
下ａｙは次式によって与えられる。
すなわち、
ｅｖ＝Ｅ□Ｒ８／（Ｒ，Ｘ＋Ｒ８） −・・ ｔ１＋Ｒ
ｘ＝ＥｏＲ８／ｅｖ−８日 ・・・・ （２）電圧計
（Ｍ）６は第（１）式および第（２）式をこより校正さ
れているものとする。
ｘ＝ＥｏＲ８／ｅｖ−８日 ・・・・ （２）電圧計
（Ｍ）６は第（１）式および第（２）式をこより校正さ
れているものとする。
ところが、第（１）式および第（２）式から明らかなよ
うに、標準抵抗（Ｒｅ）４の値が小さいと検出される電
圧ｅｙが小さくなるため、増幅器（Ａ）５の増幅度をあ
げると安定度が低下し、高い測定確度を得ることが困難
になる。このため、通常、標準抵抗（Ｒｓ）４の値は被
測定試料３の抵抗値ＲＸの１／１００程度の値に選んで
いる。
うに、標準抵抗（Ｒｅ）４の値が小さいと検出される電
圧ｅｙが小さくなるため、増幅器（Ａ）５の増幅度をあ
げると安定度が低下し、高い測定確度を得ることが困難
になる。このため、通常、標準抵抗（Ｒｓ）４の値は被
測定試料３の抵抗値ＲＸの１／１００程度の値に選んで
いる。
（発明が解決しようとする問題点）
第５図に示す従来の方式による測定では、測定スイッチ
（Ｓｓ）２が閉じてオンになると試験電圧源（１０）１
から標準抵抗（Ｒ８）４に向って充１ｉ流ｌが流れる。
（Ｓｓ）２が閉じてオンになると試験電圧源（１０）１
から標準抵抗（Ｒ８）４に向って充１ｉ流ｌが流れる。
被測定試料（ＣＸ ｅ ＲＸ ）己が並列容量Ｃｘを有
するので、充電電流ｉは次式で与えられる。すなわち、 Ｏ １＝□・ｅ ｘ ｐ ＋ −）−・・― （３）Ｒ８Ｃ
ＸＲ８ 第（３）式において容量Ｃｘの値が大きいと充電が完了
して抵抗値が指示されるまでの時間が長くなるという欠
点があった。
するので、充電電流ｉは次式で与えられる。すなわち、 Ｏ １＝□・ｅ ｘ ｐ ＋ −）−・・― （３）Ｒ８Ｃ
ＸＲ８ 第（３）式において容量Ｃｘの値が大きいと充電が完了
して抵抗値が指示されるまでの時間が長くなるという欠
点があった。
充ａｍ流ｉが初期値（ｌ０＝ＥＯ／Ｒｅ）の１／１００
０となる時間を充電完了と考えれば、充電完了時間ｔは
第（４）式で与えられる。
０となる時間を充電完了と考えれば、充電完了時間ｔは
第（４）式で与えられる。
ｔ＝０．９１ＣｘＲ８嗜・働−１４１
第６図は、標準抵抗（Ｒｅ）４の抵抗値、および被測定
コンデンサ（ＣＩ）３の容量値、ならびに充電完了時間
ｔの相互関係を示す説明図である。
コンデンサ（ＣＩ）３の容量値、ならびに充電完了時間
ｔの相互関係を示す説明図である。
被測定容量（ＣＸ）が大容量であるか、あるいは絶縁抵
抗測定用の標準抵抗（ＲＢ）４の値が高い場合には、充
電完了時間ｔは長くとる必要があるという欠点があった
。充電完了の判定も、電圧計（Ｍ）６の振れが安定する
のを目視で観察することによって行う手動方式であるた
め、充電モードから測定モードへの切替えも手動で行う
必要がめるという欠点があった。
抗測定用の標準抵抗（ＲＢ）４の値が高い場合には、充
電完了時間ｔは長くとる必要があるという欠点があった
。充電完了の判定も、電圧計（Ｍ）６の振れが安定する
のを目視で観察することによって行う手動方式であるた
め、充電モードから測定モードへの切替えも手動で行う
必要がめるという欠点があった。
本発明の目的は、測定用標準抵抗の他に充電用の低抵抗
を組込み、充電は低抵抗により瞬時に行い、充電完了の
判定は可変基準電圧と、比較器と、ドライブ用トランジ
スタと、リレーとによシ充電電流を自動的に検知するこ
とによシ行い、充電と測定との両モード間の切替えも自
動的に行うことによって上記欠点を除去し、瞬時充電測
定モードの自動切替え形絶縁抵抗計を提供することにあ
る。
を組込み、充電は低抵抗により瞬時に行い、充電完了の
判定は可変基準電圧と、比較器と、ドライブ用トランジ
スタと、リレーとによシ充電電流を自動的に検知するこ
とによシ行い、充電と測定との両モード間の切替えも自
動的に行うことによって上記欠点を除去し、瞬時充電測
定モードの自動切替え形絶縁抵抗計を提供することにあ
る。
（問題点を解決するための手段）
本発明による瞬時充電測定モードの自動切替え形絶縁抵
抗計は充電用の低抵抗と、測定用の標準抵抗キ、コンパ
レータと、可変基準電圧源と、ＳＺＲ形フリフリップフ
ロップ測定手段とを具備して構成したものである。
抗計は充電用の低抵抗と、測定用の標準抵抗キ、コンパ
レータと、可変基準電圧源と、ＳＺＲ形フリフリップフ
ロップ測定手段とを具備して構成したものである。
充電用の低抵抗は、測定に先立って被測定用試料を充電
するため被測定試料に直列接続できるものである。
するため被測定試料に直列接続できるものである。
測定用の高抵抗は、測定において抵抗の標章値を与える
ため、被測定試料に直列接続することができるものであ
る。
ため、被測定試料に直列接続することができるものであ
る。
コンパレータは、被測定試料に充電された電圧を測定す
るためのものである。
るためのものである。
可変基準電圧源は、コンパレータに参照電圧を与えるた
めのものである。
めのものである。
Ｓ／Ｒ形フリフリップフロップクリア人力に対して遅延
してクリアが行われるように遅延回路を付加し、コンパ
レータの出力によって充電の終了を検知するためにセッ
トされるものである。
してクリアが行われるように遅延回路を付加し、コンパ
レータの出力によって充電の終了を検知するためにセッ
トされるものである。
測定手段は、Ｓ／Ｒ形フリフリップフロップの出力によ
り充電の終了を検知し、充電用の低抵抗から測定用の高
抵抗へ自動的に切替えて測定を行うためのリレー、発光
ダイオード、増幅器、ならびにメータを含むものである
。
り充電の終了を検知し、充電用の低抵抗から測定用の高
抵抗へ自動的に切替えて測定を行うためのリレー、発光
ダイオード、増幅器、ならびにメータを含むものである
。
（実施例）
次に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は、本発明による瞬時充電測定モードの自動切替
え形絶縁抵抗計の一実施例を示す回路図である。第１図
において、７は基準試験電圧源（Ｅｏ）、８は被測定試
料（Ｏｘ）、９は測定用の切替えスイッチ（２ａ〜２ｄ
）、１０は可変基準電圧源（Ｅｘ）、１１は比較器、１
２はＳ／Ｒ形フリフリップフロップ６は遅延回路、１４
はリレ−ドライブ用トランジスタ、１５はＬＥＤ、１６
はリレー、１７は充電用低抵抗（Ｒ工）、１Ｂは絶縁測
定用抵抗（Ｒｓ）、１９は増幅器（Ａ）、２０は電圧計
（Ｍ）である。
え形絶縁抵抗計の一実施例を示す回路図である。第１図
において、７は基準試験電圧源（Ｅｏ）、８は被測定試
料（Ｏｘ）、９は測定用の切替えスイッチ（２ａ〜２ｄ
）、１０は可変基準電圧源（Ｅｘ）、１１は比較器、１
２はＳ／Ｒ形フリフリップフロップ６は遅延回路、１４
はリレ−ドライブ用トランジスタ、１５はＬＥＤ、１６
はリレー、１７は充電用低抵抗（Ｒ工）、１Ｂは絶縁測
定用抵抗（Ｒｓ）、１９は増幅器（Ａ）、２０は電圧計
（Ｍ）である。
第２図は、第１図における充電特性を表わす説明図であ
り、第２図（Ａ）は切替えスイッチ９が閉じた時にＳ／
Ｒ形フリフリップフロップ１２リア端子（ＣＬＲ）に加
えられる電圧特性を示し、第２図（Ｂ）は被測定試料８
の充ｔｔ流（Ｉ）を示し、第２図（Ｃ）は比較器１１の
入力電圧（Ｖ）を示す図である＠ 第８図は、第１図における比較器１１の出力レベルを表
わすレベル遷移図でおる。
り、第２図（Ａ）は切替えスイッチ９が閉じた時にＳ／
Ｒ形フリフリップフロップ１２リア端子（ＣＬＲ）に加
えられる電圧特性を示し、第２図（Ｂ）は被測定試料８
の充ｔｔ流（Ｉ）を示し、第２図（Ｃ）は比較器１１の
入力電圧（Ｖ）を示す図である＠ 第８図は、第１図における比較器１１の出力レベルを表
わすレベル遷移図でおる。
本発明の一実施例を示す第１図において、切替えスイッ
チ９を開放するとリレードライブ用トランジスタ１４は
電源が切断されるため、リレー１６は充電用低抵抗１７
の側に倒れる。次に、切゛ 替えスイッチ９を閉じると
被測定試料８の側の接点２ａｓ可変基準電圧源１０の側
の接点２ｂ、遅延回路１ろの側の接点２ｃｂｔＪレード
ライブ用トランジスタ１４の接点２ｄがそれぞれ接続さ
れる。
チ９を開放するとリレードライブ用トランジスタ１４は
電源が切断されるため、リレー１６は充電用低抵抗１７
の側に倒れる。次に、切゛ 替えスイッチ９を閉じると
被測定試料８の側の接点２ａｓ可変基準電圧源１０の側
の接点２ｂ、遅延回路１ろの側の接点２ｃｂｔＪレード
ライブ用トランジスタ１４の接点２ｄがそれぞれ接続さ
れる。
このとき、被測定試料８には基準試験電圧源７から充電
用低抵抗１７に充電電流が流れ込む。
用低抵抗１７に充電電流が流れ込む。
このとき、第２図（Ａ）に示す時間ｔ。ＬＲまではフリ
ップフロップ１２のクリア端子（ＣＬＲ）の入力は１Ｌ
ｌレベルのためＱ出力は１Ｌルベルとなり、リレードラ
イブ用トランジスタ１４はオフになってリレー１６は動
作せず、充電用低抵抗（Ｒ工）１７がリレー１６によっ
て選択されているＯ 次に、第２図（Ｂ）に示すようにｔ＝ｔｘ１になると充
電電流が減少するため、充電用低抵抗（Ｒ工）１７の両
端の電圧が減少して可変基準電圧源（Ｅｚ）１０の値に
等しくなる。このとき、比較器１１の出力は反転し、Ｓ
／Ｒ形フリフリップフロップ１２入力端子には正のパル
スが入力されるため、Ｑ出力は％Ｈｌレベルとなシ、ド
ライブ用トランジスタ１４がオンになってリレー１６は
反転し、被測定試料（ＣＩ ）８は絶縁抵抗測定用抵抗
（Ｒｓ）１Ｂに接続される。このとき、絶縁抵抗測定用
の高抵抗（Ｒｓ）１８の値は充電用の低抵抗（ＲＸ）１
７の値よシも大きい。このため、時間１２．において比
較器１１の反転入力電圧は非反転入力電圧よりも大きく
なシ、比較器１１の出力は＃、８図に示すように％Ｌｌ
レベルに移行するが、Ｓ／Ｒ形フリフリップフロップ１
２較器１１の％Ｈｔ−＋％Ｌｌの変化に対しては応答し
ない。したがって、Ｑ出力は％Ｈｌレベルに維持されて
いる。
ップフロップ１２のクリア端子（ＣＬＲ）の入力は１Ｌ
ｌレベルのためＱ出力は１Ｌルベルとなり、リレードラ
イブ用トランジスタ１４はオフになってリレー１６は動
作せず、充電用低抵抗（Ｒ工）１７がリレー１６によっ
て選択されているＯ 次に、第２図（Ｂ）に示すようにｔ＝ｔｘ１になると充
電電流が減少するため、充電用低抵抗（Ｒ工）１７の両
端の電圧が減少して可変基準電圧源（Ｅｚ）１０の値に
等しくなる。このとき、比較器１１の出力は反転し、Ｓ
／Ｒ形フリフリップフロップ１２入力端子には正のパル
スが入力されるため、Ｑ出力は％Ｈｌレベルとなシ、ド
ライブ用トランジスタ１４がオンになってリレー１６は
反転し、被測定試料（ＣＩ ）８は絶縁抵抗測定用抵抗
（Ｒｓ）１Ｂに接続される。このとき、絶縁抵抗測定用
の高抵抗（Ｒｓ）１８の値は充電用の低抵抗（ＲＸ）１
７の値よシも大きい。このため、時間１２．において比
較器１１の反転入力電圧は非反転入力電圧よりも大きく
なシ、比較器１１の出力は＃、８図に示すように％Ｌｌ
レベルに移行するが、Ｓ／Ｒ形フリフリップフロップ１
２較器１１の％Ｈｔ−＋％Ｌｌの変化に対しては応答し
ない。したがって、Ｑ出力は％Ｈｌレベルに維持されて
いる。
次に、第２図（Ｂ）においてｔ＝ｔｚｓに到達すると、
さらに充１Ｗ流が減少するため、絶縁抵抗測定用の高抵
抗（Ｒ８）１８の両端の電圧は可変基準電圧源（ＥＸ）
１０の電圧値以下になり、比較器１１の出力は％’Ｌｌ
→１Ｈｌに移行する。
さらに充１Ｗ流が減少するため、絶縁抵抗測定用の高抵
抗（Ｒ８）１８の両端の電圧は可変基準電圧源（ＥＸ）
１０の電圧値以下になり、比較器１１の出力は％’Ｌｌ
→１Ｈｌに移行する。
これはＳ／Ｒ形フリフリップフロップ１２出力を％１１
の状態にするものであるため、ドライブ用トランジスタ
１４はオンに維持されている。
の状態にするものであるため、ドライブ用トランジスタ
１４はオンに維持されている。
時間ｔ＞ｔｚｍの範囲では、常に比較器１１の反転入力
は非反転入力より小さいため、ＳＺＲ形フリフリップフ
ロップ１２入力端子の状態は％Ｈ１とな）、ドライブ用
トランジスタ１４はオン状態（こ維持されている。
は非反転入力より小さいため、ＳＺＲ形フリフリップフ
ロップ１２入力端子の状態は％Ｈ１とな）、ドライブ用
トランジスタ１４はオン状態（こ維持されている。
絶縁抵抗測定モードにおいては、ＬＥＤ１５は点燈シ、
充電モードから測定モードに切替わったことが外部に表
示される。
充電モードから測定モードに切替わったことが外部に表
示される。
次に、測定モードが完了した時には、切替えスイッチ９
を開放することにより、接点２ａは接地側に倒れるため
、被測定容量（ＣＸ）８の電荷は充電用の低抵抗（Ｊ）
１７を介して瞬間的に放電する。また、遅延回路１３の
コンデンサに充電されていた電荷も放電するため、フリ
ップフロップ１２のクリア入力端子（ＣＬＲ）は％Ｌ〃
レベルにセットされる。これにより、瞬時充電測定モー
ドの自動切替え形絶縁抵抗計はＳ／Ｒ形フリフリップフ
ロップ１２めてすべて初期状態に復帰する。
を開放することにより、接点２ａは接地側に倒れるため
、被測定容量（ＣＸ）８の電荷は充電用の低抵抗（Ｊ）
１７を介して瞬間的に放電する。また、遅延回路１３の
コンデンサに充電されていた電荷も放電するため、フリ
ップフロップ１２のクリア入力端子（ＣＬＲ）は％Ｌ〃
レベルにセットされる。これにより、瞬時充電測定モー
ドの自動切替え形絶縁抵抗計はＳ／Ｒ形フリフリップフ
ロップ１２めてすべて初期状態に復帰する。
次に、切替えスイッチ９を測定モードにセットすれば、
以上と同じ動作によシ充電モードから測定モードに移行
する。
以上と同じ動作によシ充電モードから測定モードに移行
する。
第４図は、以上の動作の流れをマトリクス形式で表わし
た説明図である。
た説明図である。
（発明の効果）
以上説明したように本発明では、測定用の標準抵抗の他
に充電用の低抵抗を組込み、さらに可変基準電圧と、比
較器と、遅延回路を備えたＳ／Ｒ形フリフリップフロッ
プ発光ダイオードと、リレーとによシ自動的に充電電流
を検知することにより、大幅に充電時間が短縮され、し
かも充電モードから測定モードへ自動的に移行させ、Ｌ
ＥＤ表示により測定モードを識別することが可能になる
という効果がある＠
に充電用の低抵抗を組込み、さらに可変基準電圧と、比
較器と、遅延回路を備えたＳ／Ｒ形フリフリップフロッ
プ発光ダイオードと、リレーとによシ自動的に充電電流
を検知することにより、大幅に充電時間が短縮され、し
かも充電モードから測定モードへ自動的に移行させ、Ｌ
ＥＤ表示により測定モードを識別することが可能になる
という効果がある＠
第１図は、本発明による瞬時充電測定モードの自動切替
え影線縁抵抗計の一実施例を示す回路図である。 第２図は、第１図における試料の充電特性を表わす動作
の説明図である。 第３図は、第１図における比較器１１の出力レベルを表
わすレベル遷移図である。 第４図は、第１〜第８図の動作の流れを示す説明図でら
る。 第５図は、従来技術による絶縁抵抗計の測定回路の一例
を示す回路図である。 第６図は、第５図における標準抵抗の抵抗値、被測定コ
ンデンサの容量値、ならびに充電完了時間の相互関係を
示す説明図である。 １．７．１０・・・電圧源 ２．９・・・・拳・スイッチ ３．８・・・・・・試料 ４ 、１．７ 、１８・・・抵抗 ５．１９・・・・・増幅器 ６．２０・Ｏ・・・電圧計 １１・・・・・・・比較器 １２・・・・ｅ・・Ｓ ／Ｒ形ラフリップフロップ１３
・・・・・・遅延回路 １４−・・優φ・榔トランジスタ １５・・・・φ・・ＬＥＤ １６・争・・・・ ・リレー
え影線縁抵抗計の一実施例を示す回路図である。 第２図は、第１図における試料の充電特性を表わす動作
の説明図である。 第３図は、第１図における比較器１１の出力レベルを表
わすレベル遷移図である。 第４図は、第１〜第８図の動作の流れを示す説明図でら
る。 第５図は、従来技術による絶縁抵抗計の測定回路の一例
を示す回路図である。 第６図は、第５図における標準抵抗の抵抗値、被測定コ
ンデンサの容量値、ならびに充電完了時間の相互関係を
示す説明図である。 １．７．１０・・・電圧源 ２．９・・・・拳・スイッチ ３．８・・・・・・試料 ４ 、１．７ 、１８・・・抵抗 ５．１９・・・・・増幅器 ６．２０・Ｏ・・・電圧計 １１・・・・・・・比較器 １２・・・・ｅ・・Ｓ ／Ｒ形ラフリップフロップ１３
・・・・・・遅延回路 １４−・・優φ・榔トランジスタ １５・・・・φ・・ＬＥＤ １６・争・・・・ ・リレー
Claims (1)
- 測定に先立って被測定試料を充電するため前記被測定試
料に直列接続することができる充電用の低抵抗と、前記
測定において抵抗の標準値を与えるため前記被測定試料
に直列接続することができる測定用の高抵抗と、前記被
測定試料に充電された電圧を測定するためのコンパレー
タと、前記コンパレータに参照電圧を与えるための可変
基準電圧源と、クリア入力に対して遅延してクリアが行
われるように遅延回路を付加し、前記コンパレータの出
力によって前記充電の終了を検知するためにセットされ
るＳ／Ｒ形フリップフロップと、前記Ｓ／Ｒ形フリップ
フロップの出力により前記充電の終了を検知し、前記充
電用の低抵抗から前記測定用の高抵抗へ自動的に切替え
て測定を行うためのリレー、発光ダイオード、増幅器、
ならびにメータを含む測定手段とを具備して構成したこ
とを特徴とする瞬時充電測定モード自動切替え形絶縁抵
抗計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22266284A JPS61100664A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 瞬時充電測定モ−ドの自動切替え形絶縁抵抗計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22266284A JPS61100664A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 瞬時充電測定モ−ドの自動切替え形絶縁抵抗計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100664A true JPS61100664A (ja) | 1986-05-19 |
Family
ID=16785959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22266284A Pending JPS61100664A (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 瞬時充電測定モ−ドの自動切替え形絶縁抵抗計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61100664A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01170860A (ja) * | 1987-12-26 | 1989-07-05 | Fujitsu Ltd | プリント配線板の試験装置 |
| CN104614591A (zh) * | 2015-03-04 | 2015-05-13 | 无锡韩光电器股份有限公司 | 自动转换开关回路电阻测试仪 |
-
1984
- 1984-10-23 JP JP22266284A patent/JPS61100664A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01170860A (ja) * | 1987-12-26 | 1989-07-05 | Fujitsu Ltd | プリント配線板の試験装置 |
| CN104614591A (zh) * | 2015-03-04 | 2015-05-13 | 无锡韩光电器股份有限公司 | 自动转换开关回路电阻测试仪 |
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