JPS6095096A - ベンチカツト工法におけるさく孔方式 - Google Patents
ベンチカツト工法におけるさく孔方式Info
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- JPS6095096A JPS6095096A JP20227183A JP20227183A JPS6095096A JP S6095096 A JPS6095096 A JP S6095096A JP 20227183 A JP20227183 A JP 20227183A JP 20227183 A JP20227183 A JP 20227183A JP S6095096 A JPS6095096 A JP S6095096A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、ベンチカット工法におけるさく孔に関し、
特に、自動的に所定のさく孔位置にさく孔板を位置付け
てさく孔することができるようなベンチカット工法にお
けるさく孔方式に関する。
特に、自動的に所定のさく孔位置にさく孔板を位置付け
てさく孔することができるようなベンチカット工法にお
けるさく孔方式に関する。
ダムや道路工事等の材料を採取するための採石や鉱山に
おける石灰石の採石を始めとして、各種原石の採取、そ
して、基礎岩盤掘削、トンネル掘削、地下発電所の下堀
り、ダム等や道路工事等の掘削にベンチカット工法が広
く活用されている。
おける石灰石の採石を始めとして、各種原石の採取、そ
して、基礎岩盤掘削、トンネル掘削、地下発電所の下堀
り、ダム等や道路工事等の掘削にベンチカット工法が広
く活用されている。
ベンチカット工法では、さく孔過程において***地区の
岩質やその硬軟を的確に把握して、得られるロックの粒
径を適切な範囲にコントロールすることが行われる。そ
のため、岩質やベンチの高低に応じて適切な孔間隔の選
定が必要となる。
岩質やその硬軟を的確に把握して、得られるロックの粒
径を適切な範囲にコントロールすることが行われる。そ
のため、岩質やベンチの高低に応じて適切な孔間隔の選
定が必要となる。
このような点からベンチカット工法におけるさく孔作業
にあっては、１本乃至２本のさく孔ごとに自走式のさく
孔板を移動して、オペレータの運転操作により、適切な
さく孔を行っている。そこで、トンネル掘削のための、
いわゆるドリルジャンボのごときさく孔板にあっては、
各種の自動化がなされ、その作業の無人化も進んでいる
が、このようなベンチカット工法におけるさく孔板及び
そのさく孔作業については、トンネル掘削工法に見るよ
うな自動化、無人化が行われていないのが現状である。
にあっては、１本乃至２本のさく孔ごとに自走式のさく
孔板を移動して、オペレータの運転操作により、適切な
さく孔を行っている。そこで、トンネル掘削のための、
いわゆるドリルジャンボのごときさく孔板にあっては、
各種の自動化がなされ、その作業の無人化も進んでいる
が、このようなベンチカット工法におけるさく孔板及び
そのさく孔作業については、トンネル掘削工法に見るよ
うな自動化、無人化が行われていないのが現状である。
まは、ベンチカットを行う場合、ベンチの縁からの最小
抵抗線の位置に所定間隔でマーキングなどの目印をして
、これをさく孔位置としてさく孔作業が行われるが、こ
の場合、自走式のさく孔装置に搭載されたさく孔板をマ
ーキング位置に合うように、正確に位置付けることは、
難しく、手間もかかり、さく孔装置そのものを方位等を
含め、さく孔板を正しいさく孔位置、さく孔角度、さく
孔方向、さく孔深さなどを設定してさく孔作業を行うこ
とは非常に熟練を要する欠点がある。
抵抗線の位置に所定間隔でマーキングなどの目印をして
、これをさく孔位置としてさく孔作業が行われるが、こ
の場合、自走式のさく孔装置に搭載されたさく孔板をマ
ーキング位置に合うように、正確に位置付けることは、
難しく、手間もかかり、さく孔装置そのものを方位等を
含め、さく孔板を正しいさく孔位置、さく孔角度、さく
孔方向、さく孔深さなどを設定してさく孔作業を行うこ
とは非常に熟練を要する欠点がある。
特に、さく孔方位が偏ると、死灰やさく孔間隔に大きな
誤差を生じ、折角、所定の装薬量を選定して、ベンチ発
破を行っても、正しいベンチカットができず、さらには
、残存する岩石等を再度さく孔して、発破を行う必要が
生じ、作業能率が低下するという不具合が生じる。
誤差を生じ、折角、所定の装薬量を選定して、ベンチ発
破を行っても、正しいベンチカットができず、さらには
、残存する岩石等を再度さく孔して、発破を行う必要が
生じ、作業能率が低下するという不具合が生じる。
この発明は、このような欠点及び不具合にかんがみてな
されたものであって、このような欠点又は不具合を解消
するとともに、熟練を要することなく、自動的に所定の
さく孔位置にさく孔板を位置付けることができ、さらに
、その死灰を揃えることもできるようなベンチカット工
法におけるさく孔方式を提供することを目的とする。
されたものであって、このような欠点又は不具合を解消
するとともに、熟練を要することなく、自動的に所定の
さく孔位置にさく孔板を位置付けることができ、さらに
、その死灰を揃えることもできるようなベンチカット工
法におけるさく孔方式を提供することを目的とする。
［発明の要点〕
このような目的を達成するためのこの発明のさく孔方式
の特徴は、処理装置と、メモリと、さく孔板と、距離測
定機とを備えるさく孔装置をベン゛チ上に設置して、こ
のベンチ上の任意の位置に第１及び第２の基準点を設け
て行うものであって、距離測定機によりこの第１及び第
２の基準点とさく孔装置若しくはさく孔板との距離をそ
れぞれ検出して、この検出した距離の情報に基づき処理
装置により、ベンチにおける所定の位置を基準とした座
標系におけるさく孔板の位置を算出し、この所定の位置
と所定の関係で表わされたベンチの壁ノル状についての
形状情報若しくはこのベンチの壁の形状に対応して設定
される複数のさく死点のそれぞれの位置情報を含むさく
孔情報をメモリに記憶するか又は入力装置を介して入力
し、メモリに記憶され又は入力された前記形状情報若し
くはさく死点についての所定の位置情報と前記算出した
位置についての情報とに基づき、この所定のさく孔位置
に前記さく孔板を位置付けてさく孔するというものであ
る。
の特徴は、処理装置と、メモリと、さく孔板と、距離測
定機とを備えるさく孔装置をベン゛チ上に設置して、こ
のベンチ上の任意の位置に第１及び第２の基準点を設け
て行うものであって、距離測定機によりこの第１及び第
２の基準点とさく孔装置若しくはさく孔板との距離をそ
れぞれ検出して、この検出した距離の情報に基づき処理
装置により、ベンチにおける所定の位置を基準とした座
標系におけるさく孔板の位置を算出し、この所定の位置
と所定の関係で表わされたベンチの壁ノル状についての
形状情報若しくはこのベンチの壁の形状に対応して設定
される複数のさく死点のそれぞれの位置情報を含むさく
孔情報をメモリに記憶するか又は入力装置を介して入力
し、メモリに記憶され又は入力された前記形状情報若し
くはさく死点についての所定の位置情報と前記算出した
位置についての情報とに基づき、この所定のさく孔位置
に前記さく孔板を位置付けてさく孔するというものであ
る。
このように構成することにより、ベンチ上の所定の位置
に正確にさく孔装置を位置付けなくても、そのさく孔板
を所定のさく孔位置に正確に位置付けることができ、さ
らに、あらかしめ設定されたさく孔する方位情報をその
位置及びさく孔装置のずれ分に相当する角度を考慮して
修正すれば、死灰を合わせて正確にさく孔することが可
能となる。
に正確にさく孔装置を位置付けなくても、そのさく孔板
を所定のさく孔位置に正確に位置付けることができ、さ
らに、あらかしめ設定されたさく孔する方位情報をその
位置及びさく孔装置のずれ分に相当する角度を考慮して
修正すれば、死灰を合わせて正確にさく孔することが可
能となる。
以下、この発明の一実施例について、図面を用いて説明
する。
する。
第１図は、この発明を適用したベンチカソト工法におけ
るさく孔方式の作業状態を説明するための断面図、第２
図は、その平面図、第３図は、さく孔方位の修正処理の
説明図、そして、第４図は、この発明のベンチカソト工
法におけるさく孔方式を適用した制御システムのブロッ
ク図である。
るさく孔方式の作業状態を説明するための断面図、第２
図は、その平面図、第３図は、さく孔方位の修正処理の
説明図、そして、第４図は、この発明のベンチカソト工
法におけるさく孔方式を適用した制御システムのブロッ
ク図である。
第１図において、１は、その高さがＨのベンチであって
、ベンチ１には、クローラドリルやロータリドリル等を
装着した自走式のさく孔装置２が設置され、さく孔装置
２は、最小抵抗線Ｗの位置にある、ｉ番目のさく孔位置
Ｄｉ （第２図参照。
、ベンチ１には、クローラドリルやロータリドリル等を
装着した自走式のさく孔装置２が設置され、さく孔装置
２は、最小抵抗線Ｗの位置にある、ｉ番目のさく孔位置
Ｄｉ （第２図参照。
ただし、ｉは、１”ｎまでのうちの整数、ｎは、さく孔
総数）をさく孔板３によりさく孔する。ここでαは、さ
く孔周であり、そのさく孔深さは、Ｈａである。また、
４は、さく孔板３に装着されたドリルロンドであり、岩
壁５に沿ってこれによりさく孔するものである。そして
、６は、さく孔装置２の所定位置に搭載された距離測定
機である。
総数）をさく孔板３によりさく孔する。ここでαは、さ
く孔周であり、そのさく孔深さは、Ｈａである。また、
４は、さく孔板３に装着されたドリルロンドであり、岩
壁５に沿ってこれによりさく孔するものである。そして
、６は、さく孔装置２の所定位置に搭載された距離測定
機である。
ここで、第２図に見るごとく、自走式さく孔装置２は、
ベンチ１の岩壁５に沿って得られる、最小抵抗線Ｗに沿
ったあるさく孔パターンＤＩ、Ｄ２、Ｄ３． ・−・、
Ｄｉ、・・・、Ｄｎ （ただし、ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．
・・・、Ｄｉ、−、Ｄｎは、各さく死点を示す）に従っ
て、これらの位置に位置付けられて順次さく孔して行く
。
ベンチ１の岩壁５に沿って得られる、最小抵抗線Ｗに沿
ったあるさく孔パターンＤＩ、Ｄ２、Ｄ３． ・−・、
Ｄｉ、・・・、Ｄｎ （ただし、ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．
・・・、Ｄｉ、−、Ｄｎは、各さく死点を示す）に従っ
て、これらの位置に位置付けられて順次さく孔して行く
。
ここで、さく孔の深さＨａは、
Ｈａ ≧□
ｓｉｎ α
の関係で決定される。
また、さく孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄ
ｉ、・・・、Ｄｎにおける方位くさく孔方向とさく孔周
α）は、各さく死点Ｄｉ、Ｄ２．Ｄ３、・・・、Ｄｉ、
・・・、Ｄｎにおいて平行であることが必要であり、さ
らに、これは、ベンチ１の掘削壁面形状にも平行である
必要がある。
ｉ、・・・、Ｄｎにおける方位くさく孔方向とさく孔周
α）は、各さく死点Ｄｉ、Ｄ２．Ｄ３、・・・、Ｄｉ、
・・・、Ｄｎにおいて平行であることが必要であり、さ
らに、これは、ベンチ１の掘削壁面形状にも平行である
必要がある。
そこで、さく孔装置２が各さく孔パターンＤＩ。
Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄｉ、−＝、Ｄｎの付近に任意
の角度でそれぞれ設置されている場合でも、所定のさく
孔位置Ｄｉに正しくさく孔板を位置付け、さらに、その
さく孔方位をあらかじめ定められた一定方向Ｄｉ−Ｄｉ
’方向に一致するように制御する必要がある。
の角度でそれぞれ設置されている場合でも、所定のさく
孔位置Ｄｉに正しくさく孔板を位置付け、さらに、その
さく孔方位をあらかじめ定められた一定方向Ｄｉ−Ｄｉ
’方向に一致するように制御する必要がある。
そのため、第２図に見るごとく、ベンチ１上の所定個所
には、第１の基準点０１及び第２の基準′点０２が設置
され、これら基準点０１’、０２にはボールを立て、そ
こに、さく孔装置２の位置を測定するための基準点を示
すものとして反射鏡を設置する。なお、この反射鏡は、
光学的な距離測定機６の基準点となるものであって、モ
ータにより駆動され、回転運動を揺動運動に変える機構
を介して、一定の周期で所定範囲の回動運動をしている
。
には、第１の基準点０１及び第２の基準′点０２が設置
され、これら基準点０１’、０２にはボールを立て、そ
こに、さく孔装置２の位置を測定するための基準点を示
すものとして反射鏡を設置する。なお、この反射鏡は、
光学的な距離測定機６の基準点となるものであって、モ
ータにより駆動され、回転運動を揺動運動に変える機構
を介して、一定の周期で所定範囲の回動運動をしている
。
ここで、第１．第２の基準点０１，０２の距離をＸｏと
し、第１の基準点０１を原点とした座標系Ｘ−Ｙを設定
する。なお、この距離Ｘｏは、任意に設定することがで
きる。
し、第１の基準点０１を原点とした座標系Ｘ−Ｙを設定
する。なお、この距離Ｘｏは、任意に設定することがで
きる。
一方、さく孔装置２には、この座標系Ｘ−Ｙにおけるさ
く孔装置２の位置と角度とを測定するために１、例えば
、レーザー等を用いた光学的な距離測定機６がさく孔装
置２の点Ａに設置されているものとする。
く孔装置２の位置と角度とを測定するために１、例えば
、レーザー等を用いた光学的な距離測定機６がさく孔装
置２の点Ａに設置されているものとする。
ここで、あるさく孔位置Ｄｉ−１のさく孔を終了して、
次のさく孔位置Ｄｉの近傍にさく孔装置２が移動して設
置されたとすると、この地点で、さく孔装置２は、光学
的な距離測定機６を回転させて、走査することにより、
各第１．第２の基準点０１．０２の距離と角度とを測定
するものである。
次のさく孔位置Ｄｉの近傍にさく孔装置２が移動して設
置されたとすると、この地点で、さく孔装置２は、光学
的な距離測定機６を回転させて、走査することにより、
各第１．第２の基準点０１．０２の距離と角度とを測定
するものである。
このようにして測定された第１．第２の基準点０１．０
２とさく孔装置２との距離をＡＯｌ 、ＡＯ２。
２とさく孔装置２との距離をＡＯｌ 、ＡＯ２。
角度、角０１ Ａ−０２−ことする。
この距離Ａ Ｏｌ＋ Ａ Ｏ２と角度ζ、そして第１゜
第２の基準点０１，０２の距離ＸＯ又は第２の基準点０
２の座標情報とから、三角測量法に基づき、Ａ点を基準
としたさく孔装置２の原点０１からのＸ座標値＝Ｘａ及
びＹ座標値−Ｙａを算出する。
第２の基準点０１，０２の距離ＸＯ又は第２の基準点０
２の座標情報とから、三角測量法に基づき、Ａ点を基準
としたさく孔装置２の原点０１からのＸ座標値＝Ｘａ及
びＹ座標値−Ｙａを算出する。
なお、この場合、さく孔板３の座標として、Ｘ座標値−
Ｘ’ａ及びＹ座標値−Ｙａを算出するようにしてもよい
。
Ｘ’ａ及びＹ座標値−Ｙａを算出するようにしてもよい
。
一方、さく孔装置２の″制御部のメモリにはあらかじめ
ベンチ１上の所定の点を基準として、測量された結果の
さく孔パターンＤｉ、Ｄ２．Ｄ３゜・・・＋ Ｄｔ ＋
・・・、Ｄｎの位置情報ｄｉ、ｄ２、ｄ３．・・・＋
ｄｌ、・・・＋ｄｎが記憶されている。
ベンチ１上の所定の点を基準として、測量された結果の
さく孔パターンＤｉ、Ｄ２．Ｄ３゜・・・＋ Ｄｔ ＋
・・・、Ｄｎの位置情報ｄｉ、ｄ２、ｄ３．・・・＋
ｄｌ、・・・＋ｄｎが記憶されている。
そこで、さく孔位置Ｄｉの位置情報ｄｉをメモリから読
出して、前記原点０．に関する位置情報に変換する。こ
の場合に算出された位置情報ｄｉの原点０１を基準とし
た座標として、Ｘ座標値−Ｘｉ及びＹ座標値−Ｙｉを得
たとする。
出して、前記原点０．に関する位置情報に変換する。こ
の場合に算出された位置情報ｄｉの原点０１を基準とし
た座標として、Ｘ座標値−Ｘｉ及びＹ座標値−Ｙｉを得
たとする。
なお、メモリには、さく孔情報として、さく孔パターン
Ｄｉ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・＋ Ｄｉ、・・・、Ｄｎの
さく孔位置情報ｄｘ、ｄ２．ｄｘ、−・・、ｄｉ、・・
・、ａｎの他、さく孔方向を示す情報とさく孔周α、さ
らに、さく孔深さの情報が記憶されている。ここで、さ
く孔方位は、さく孔方向を示す情報とさく孔周αとによ
り決定されることになる。
Ｄｉ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・＋ Ｄｉ、・・・、Ｄｎの
さく孔位置情報ｄｘ、ｄ２．ｄｘ、−・・、ｄｉ、・・
・、ａｎの他、さく孔方向を示す情報とさく孔周α、さ
らに、さく孔深さの情報が記憶されている。ここで、さ
く孔方位は、さく孔方向を示す情報とさく孔周αとによ
り決定されることになる。
さて、さく孔装置２の位置を示す座標値（Ｘａ 。
Ｙａ ）とこのさく孔位置Ｄｉの座標値（Ｘｉ 、 Ｙ
ｉ）とから所定の演算処理をすることによりさく孔装置
２に搭載されているさく孔板３の位置決め量を算出する
ことができ、さく孔板３を正確にさく孔位置Ｄｉに位置
つけることができる。
ｉ）とから所定の演算処理をすることによりさく孔装置
２に搭載されているさく孔板３の位置決め量を算出する
ことができ、さく孔板３を正確にさく孔位置Ｄｉに位置
つけることができる。
次に、さく孔周度についてであるが、さく孔装置２が設
定された座標系において、第１．第２の基準点０１．
０２に対し、現在角この傾きがある場合に、さく孔方位
を修正する必要がある。このさく孔方位の修正について
次に説明する。
定された座標系において、第１．第２の基準点０１．
０２に対し、現在角この傾きがある場合に、さく孔方位
を修正する必要がある。このさく孔方位の修正について
次に説明する。
第３図は、あるさく孔位置Ｄｉにおけるさく孔板３のあ
るさく孔方向における任意の方位Ｄｉ−Ｆに対して、正
しい方位をＤｉ−Ｈとすると、任意のさく孔方位Ｄｉ−
Ｆのさく孔周度α（角Ｆ−Ｄｉ−Ｅ）は、正しい方位の
さく孔周度β（角Ｈ−Ｄｉ−Ｇ）となる。なお、θ（角
Ｅ−Ｄｉ−Ｇ）は、さく孔方向のずれ量である。
るさく孔方向における任意の方位Ｄｉ−Ｆに対して、正
しい方位をＤｉ−Ｈとすると、任意のさく孔方位Ｄｉ−
Ｆのさく孔周度α（角Ｆ−Ｄｉ−Ｅ）は、正しい方位の
さく孔周度β（角Ｈ−Ｄｉ−Ｇ）となる。なお、θ（角
Ｅ−Ｄｉ−Ｇ）は、さく孔方向のずれ量である。
さて、さく孔方向については、さく孔板３の方位Ｄｉ−
Ｆを、任意の方位Ｄｉ−Ｆと正しい方位Ｄｉ−Ｈとのな
す角度θの方向だけ修正する必要がある。
Ｆを、任意の方位Ｄｉ−Ｆと正しい方位Ｄｉ−Ｈとのな
す角度θの方向だけ修正する必要がある。
すなわち、修正後の正しいさく孔方向をλとし、設定さ
れたさく孔方向を角γとすると、λ＝γ−θ で修正される。
れたさく孔方向を角γとすると、λ＝γ−θ で修正される。
次に、さく孔周αの修正であるが、ここで、さく孔装置
２の基準軸が、原点０１とさく孔装置２の距離測定機６
が設置されている点Ａとを結ぶ直線とのなす角をφとし
、さく孔位置Ｄｉにおけるさく孔方位の方向と原点０１
とさく孔位置Ｄｉ とを結ぶ直線とのなす角を角δとし
てこれらの関係を式で示すと、 ｔａｎβ−ｔａｎα／ｌａｎθ、ただしθ−δ−φなお
、角φは、第１の基準点０１ く原点）からさく孔装置
２の基準点まで距離測定機６を回転した角度として得ら
れ、角δは、さく孔位置Ｄｉの座標値（Ｘｉ 、 Ｙｉ
）と設定されたさく孔方向角γとから算出される。
２の基準軸が、原点０１とさく孔装置２の距離測定機６
が設置されている点Ａとを結ぶ直線とのなす角をφとし
、さく孔位置Ｄｉにおけるさく孔方位の方向と原点０１
とさく孔位置Ｄｉ とを結ぶ直線とのなす角を角δとし
てこれらの関係を式で示すと、 ｔａｎβ−ｔａｎα／ｌａｎθ、ただしθ−δ−φなお
、角φは、第１の基準点０１ く原点）からさく孔装置
２の基準点まで距離測定機６を回転した角度として得ら
れ、角δは、さく孔位置Ｄｉの座標値（Ｘｉ 、 Ｙｉ
）と設定されたさく孔方向角γとから算出される。
また、さく孔装置２の位置を示す座標値（Ｘａ。
Ｙａ）とこのさく孔位置Ｄｉの座標値（Ｘｉ、Ｙｉ）と
の距離（Ｘ、Ｙ）は、 Ｘ＝Ｘａ −Ｘｉ ＝Ｌｓｉｎ θ Ｙ＝Ｙａ −Ｙｉ −Ｌｃｏｓ θ の関係でめることができる。なお、Ｌは、さく孔装置２
における距離測定ｔａ６の基準位置Ａとさく孔板３の基
準位置Ｂとのずれ量を示す距離である。また、座標（Ｘ
ａ 、 Ｙａ ）をさく孔板３の基準点の座標値として
算出した場合には、上記式の第３項のＬ ｓｉｎ θ、
Ｌｃｏｓ θは不必要となる。
の距離（Ｘ、Ｙ）は、 Ｘ＝Ｘａ −Ｘｉ ＝Ｌｓｉｎ θ Ｙ＝Ｙａ −Ｙｉ −Ｌｃｏｓ θ の関係でめることができる。なお、Ｌは、さく孔装置２
における距離測定ｔａ６の基準位置Ａとさく孔板３の基
準位置Ｂとのずれ量を示す距離である。また、座標（Ｘ
ａ 、 Ｙａ ）をさく孔板３の基準点の座標値として
算出した場合には、上記式の第３項のＬ ｓｉｎ θ、
Ｌｃｏｓ θは不必要となる。
第４図は、この発明を適用したベンチカソト工法におけ
るさく孔方式の制御システムを示すブロック図である。
るさく孔方式の制御システムを示すブロック図である。
さく孔装置２に搭載された距離測定機６は、レーザ測距
装置７と旋回角度検出器８とを備えて、旋回駆動機構９
により、所定の速度で所定の角度の範囲で旋回される。
装置７と旋回角度検出器８とを備えて、旋回駆動機構９
により、所定の速度で所定の角度の範囲で旋回される。
旋回駆動機構９により旋回されて、レーザ測距装置７の
レーザ発生器から照射されたレーザビームは、所定の旋
回位置で、第１の基準点Ｏ１に設けられた、所定周期で
回動する反射鏡１２により反射され、その反射光がレー
ザ測距装置７の受光器にて受光される。なお、ここで、
第１の基準点０１に設けられた、反射鏡１２が回動する
ことにより、さく孔装置２が第２図に示す座標系のどの
位置にあっても、反射光を受光できるものである。
レーザ発生器から照射されたレーザビームは、所定の旋
回位置で、第１の基準点Ｏ１に設けられた、所定周期で
回動する反射鏡１２により反射され、その反射光がレー
ザ測距装置７の受光器にて受光される。なお、ここで、
第１の基準点０１に設けられた、反射鏡１２が回動する
ことにより、さく孔装置２が第２図に示す座標系のどの
位置にあっても、反射光を受光できるものである。
レーザ測距装置７は、測定した距離のデータをインタフ
ェース回路１ｏを介して処理装置１１に送出するととも
に、レーザ測距装置７の受光器が反射光を受光した時点
で、旋回角度検出器８に受光信号を送出する。旋回角度
検出器８は、この検出信号に応じて、その時の旋回角度
位置を旋回駆動機構９から検出して、それをＡ／Ｄ変換
して、インタフェース回路１ｏを介し、処理装置１１に
送出する。
ェース回路１ｏを介して処理装置１１に送出するととも
に、レーザ測距装置７の受光器が反射光を受光した時点
で、旋回角度検出器８に受光信号を送出する。旋回角度
検出器８は、この検出信号に応じて、その時の旋回角度
位置を旋回駆動機構９から検出して、それをＡ／Ｄ変換
して、インタフェース回路１ｏを介し、処理装置１１に
送出する。
また、旋回駆動機構９は、レーザ測距装置７のレーザビ
ーム位置がさく孔装置２の基準軸位置に一致したときに
、基準位置信号を旋回角度検出器８に送出する。旋回角
度検出器８は、この信号を受けて、このときの旋回角度
位置をインタフェース回路１０を介して処理装置１１に
送出する。
ーム位置がさく孔装置２の基準軸位置に一致したときに
、基準位置信号を旋回角度検出器８に送出する。旋回角
度検出器８は、この信号を受けて、このときの旋回角度
位置をインタフェース回路１０を介して処理装置１１に
送出する。
さらに、レーザ測距装置７が旋回されて、そのレーザビ
ームが第２の基準点０２に設けられた、所定周期で回動
する反射鏡１２によりそれぞれ反射され、それぞの反射
光がレーザ測距装置７の受光器にて受光されと、前記と
同様に、レーザ測距装置７は、測定した距離のデータを
インクフェース回路１０を介して処理装置１１に送出す
るとともに、レーザ測距装置７の受光器が受光した時点
で、旋回角度検出器８に受光信号を送出する。旋回角度
検出器８は、この検出信号に応じて、その時の旋回角度
位置を旋回駆動機構９から検出して、それをＡ／Ｄｉｍ
して、インタフェース回路１０を介し、処理装置１１に
送出する。
ームが第２の基準点０２に設けられた、所定周期で回動
する反射鏡１２によりそれぞれ反射され、それぞの反射
光がレーザ測距装置７の受光器にて受光されと、前記と
同様に、レーザ測距装置７は、測定した距離のデータを
インクフェース回路１０を介して処理装置１１に送出す
るとともに、レーザ測距装置７の受光器が受光した時点
で、旋回角度検出器８に受光信号を送出する。旋回角度
検出器８は、この検出信号に応じて、その時の旋回角度
位置を旋回駆動機構９から検出して、それをＡ／Ｄｉｍ
して、インタフェース回路１０を介し、処理装置１１に
送出する。
なお、前記と同様に、第２の基準点０２に設けられた、
反射鏡１２が回動することにより、さく孔装置２が第２
図に示す座標系のどの位置にあっても、反射光を受光で
きる。
反射鏡１２が回動することにより、さく孔装置２が第２
図に示す座標系のどの位置にあっても、反射光を受光で
きる。
ここに、処理装置１１は、レーザ測距装置７からの測距
情報と旋回角度検出器８からの角度情報をメ舌す１３の
所定領域に記憶する。第１．第２の基準点０１１０２と
の距離と、角度情報を得た時点で、処理装置１１は、前
記さく孔装置２の位置を示す座標値（Ｘａ 、 Ｙａ
）を算出し、さらに、メモリ１２の所定領域に記憶され
ているさく孔パターンＤｉ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄ
ｉ、・・・。
情報と旋回角度検出器８からの角度情報をメ舌す１３の
所定領域に記憶する。第１．第２の基準点０１１０２と
の距離と、角度情報を得た時点で、処理装置１１は、前
記さく孔装置２の位置を示す座標値（Ｘａ 、 Ｙａ
）を算出し、さらに、メモリ１２の所定領域に記憶され
ているさく孔パターンＤｉ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄ
ｉ、・・・。
Ｄｎの位置情報をアクセスして、今回、さく孔対象とな
っている対応する第１番目（ｉは、１〜ｎまでの整数で
、順次、更新される）のさく孔位置情報と方位情報とを
読出し、これの情報からこのさく孔位置Ｄｉの座標値（
Ｘｉ 、 Ｙｉ ）を算出して、前述した、各式により
、さく孔方位として、角度λ、θ、さく孔板３の位置決
め座標（Ｘ、 Ｙ）、修正角度βをめて、これらの情報
と、さく孔位置２の座標位置、例えば、座標値（’Ｘａ
、 Ｙａ ）からさく孔板３の位置を算出した情報、
さく孔位置Ｄｉの座標値（Ｘｉ 、 Ｙｉ ）等に関す
る情報を表示器１４に送出して表示するとともに、ブー
ム等の所定の制御装置１５に送出して、さく孔板３を位
置決めして、さく孔する。
っている対応する第１番目（ｉは、１〜ｎまでの整数で
、順次、更新される）のさく孔位置情報と方位情報とを
読出し、これの情報からこのさく孔位置Ｄｉの座標値（
Ｘｉ 、 Ｙｉ ）を算出して、前述した、各式により
、さく孔方位として、角度λ、θ、さく孔板３の位置決
め座標（Ｘ、 Ｙ）、修正角度βをめて、これらの情報
と、さく孔位置２の座標位置、例えば、座標値（’Ｘａ
、 Ｙａ ）からさく孔板３の位置を算出した情報、
さく孔位置Ｄｉの座標値（Ｘｉ 、 Ｙｉ ）等に関す
る情報を表示器１４に送出して表示するとともに、ブー
ム等の所定の制御装置１５に送出して、さく孔板３を位
置決めして、さく孔する。
そして、このさく孔が終了すると、ｉ番目を１つ更新し
て、必要に応じて、ｉ＋１番目のさく孔位置に移動して
同様な処理をし、順次、さく孔パターンＤｉ、Ｄ２．Ｄ
３． ・・・、Ｄｉ、・・・。
て、必要に応じて、ｉ＋１番目のさく孔位置に移動して
同様な処理をし、順次、さく孔パターンＤｉ、Ｄ２．Ｄ
３． ・・・、Ｄｉ、・・・。
Ｄｎに応じて、さく孔をして行くものである。
なお、この実施例において、第１の基準点０１゜０２の
距１ｔｌｔｔ Ｘ ｏを測定れていれば、角度ζは、検
出する必要がない。
距１ｔｌｔｔ Ｘ ｏを測定れていれば、角度ζは、検
出する必要がない。
ここで、図中、■６は、各種のデータを入力するための
キーボード等からなる入力装置である。
キーボード等からなる入力装置である。
以上、説明してきたが、実施例においては、さく孔装置
からの距離の測定装置として、レーザ測距装置を用いて
いるが、これは、電波測距装置でもよく、また、音波測
距器でもよい。いわゆるさく孔装置と基準点との間の距
離を測定できるものならばどのような装置であってもよ
い。
からの距離の測定装置として、レーザ測距装置を用いて
いるが、これは、電波測距装置でもよく、また、音波測
距器でもよい。いわゆるさく孔装置と基準点との間の距
離を測定できるものならばどのような装置であってもよ
い。
また、実施例では、方位についても修正するようにして
いるが、方位については、手動により行い、さく孔位置
にさく孔板を位置決めする場合だけ自動にするようにし
てもよいことはもちろ゛んである。
いるが、方位については、手動により行い、さく孔位置
にさく孔板を位置決めする場合だけ自動にするようにし
てもよいことはもちろ゛んである。
さらに、実施例では、あらかじめさく孔パターンＤｉ、
Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄｉ、−、Ｄｎのさく孔情報と
して、位置情報及び方位情報を記憶するようにしている
が、これは、ベンチの壁の形状情報を記憶しておき、こ
の情報から最小抵抗線Ｗをめ、所定間隔でその都度、各
さく孔位置ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．−．Ｄｉ、・・・＋ Ｄ
ｎの位置座標とさく孔方位をめるようにしてもよい。さ
らに、これらの位置座標情報等は、その都度、入出力装
置からオペレータにより入力されて、演算処理するよう
にしてもよい。なお、さく孔位置にさく孔板を位置決め
する場合だけ自動にするような場合には、さく孔情報は
、さく孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．・・・、Ｄｉ、−
・−、Ｄｎの位置情報を記憶すればよい。
Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄｉ、−、Ｄｎのさく孔情報と
して、位置情報及び方位情報を記憶するようにしている
が、これは、ベンチの壁の形状情報を記憶しておき、こ
の情報から最小抵抗線Ｗをめ、所定間隔でその都度、各
さく孔位置ＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．−．Ｄｉ、・・・＋ Ｄ
ｎの位置座標とさく孔方位をめるようにしてもよい。さ
らに、これらの位置座標情報等は、その都度、入出力装
置からオペレータにより入力されて、演算処理するよう
にしてもよい。なお、さく孔位置にさく孔板を位置決め
する場合だけ自動にするような場合には、さく孔情報は
、さく孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．・・・、Ｄｉ、−
・−、Ｄｎの位置情報を記憶すればよい。
また、実施例では、第１の基準点を原点としているが、
さく孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄｉ、・
・・、Ｄｎのさく孔情報（位置情報等）は、この原点に
一致するデータとして、入力又は記憶されてもよく、こ
れとは別にベンチ上に設定した点を基準点に採ったデー
タでもよい。このように、距離測定機の基準点と、さく
孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．−．Ｄｉ、・・・、Ｄｎ
の情報の基準点とが相違する場合には、処理装置におい
て、これらが一致するような演算処理をして、各情報を
とり扱うことになる。この意味で、実施例における座標
系は、ベンチ上の所定の位置を基準として設定されれば
よいものである。
さく孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・、Ｄｉ、・
・・、Ｄｎのさく孔情報（位置情報等）は、この原点に
一致するデータとして、入力又は記憶されてもよく、こ
れとは別にベンチ上に設定した点を基準点に採ったデー
タでもよい。このように、距離測定機の基準点と、さく
孔パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３．−．Ｄｉ、・・・、Ｄｎ
の情報の基準点とが相違する場合には、処理装置におい
て、これらが一致するような演算処理をして、各情報を
とり扱うことになる。この意味で、実施例における座標
系は、ベンチ上の所定の位置を基準として設定されれば
よいものである。
以上の説明から理解できるように、この発明は、処理装
置と、メモリと、さく孔板と、距離測定機とを備えるさ
く孔装置をベンチ上に設置して、このベンチ上の任意の
位置に第１及び第２の基準点を設けて行うものであって
、距離測定機によりこの第１及び第２の基準点とさく孔
装置若しくはさく孔板との距離をそれぞれ検出して、こ
の検出した距離の情報に基づき処理装置により、ベンチ
における所定の位置を基準とした座標系におけるさく孔
板の位置を算出し、この所定の位置と所定の関係で表わ
されたベンチの壁の形状についての形状情報若しくはこ
のベンチの壁の形状に対応して設定される複数のさく死
点の蕃れぞれの位置情報を含むさく孔情報をメモリに記
憶するか又は入力装置を介して入力し、メモリに記憶さ
れ又は入力された前記形状情報若しくはさく死点につい
ての所定の位置情報と前記算出した位置についての情報
とに基づき、この所定のさく孔位置に前記さく孔板を位
置付けてさく孔するようにしているので、所定のさく孔
パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・。
置と、メモリと、さく孔板と、距離測定機とを備えるさ
く孔装置をベンチ上に設置して、このベンチ上の任意の
位置に第１及び第２の基準点を設けて行うものであって
、距離測定機によりこの第１及び第２の基準点とさく孔
装置若しくはさく孔板との距離をそれぞれ検出して、こ
の検出した距離の情報に基づき処理装置により、ベンチ
における所定の位置を基準とした座標系におけるさく孔
板の位置を算出し、この所定の位置と所定の関係で表わ
されたベンチの壁の形状についての形状情報若しくはこ
のベンチの壁の形状に対応して設定される複数のさく死
点の蕃れぞれの位置情報を含むさく孔情報をメモリに記
憶するか又は入力装置を介して入力し、メモリに記憶さ
れ又は入力された前記形状情報若しくはさく死点につい
ての所定の位置情報と前記算出した位置についての情報
とに基づき、この所定のさく孔位置に前記さく孔板を位
置付けてさく孔するようにしているので、所定のさく孔
パターンＤＩ、Ｄ２．Ｄ３． ・・・。
Ｄｉ、・・・、Ｄｎに従った正しいさく孔位置にさく孔
板を自動的に位置決めできる。しかも、その方位につい
ての情報も記憶しておき、これを修正してさく孔するよ
うにすれば、死屍の揃ったさく孔が可能となる。
板を自動的に位置決めできる。しかも、その方位につい
ての情報も記憶しておき、これを修正してさく孔するよ
うにすれば、死屍の揃ったさく孔が可能となる。
その結果、熟練者でなくても、さく孔作業に手間がかか
らず、さく孔装置に搭載されたさく孔板を正しいさく孔
位置を設定してさく孔作業を行うことができる。
らず、さく孔装置に搭載されたさく孔板を正しいさく孔
位置を設定してさく孔作業を行うことができる。
しかも、さく孔方位が偏っても、方位修正を採用すれば
、死屍のさく孔間隔に誤差を生じることが少なく、所定
の装薬量に適合した、正しいベンチカットができ、発破
の能率ｐ良くなる。
、死屍のさく孔間隔に誤差を生じることが少なく、所定
の装薬量に適合した、正しいベンチカットができ、発破
の能率ｐ良くなる。
第１図は、この発明を適用したベンチカソト工法におけ
るさく孔方式の作業状態を説明するための断面図、第２
図は、その平面図、第３図は、さく孔方位の修正処理の
説明図、そして、第４図は、この発明のベンチカソト工
法におけるさく孔方式を適用した制御システムのブロッ
ク図である。 １はベンチ、２はさく孔装置、３はさく孔板。 ４はドリルロンド、５は岩壁、６は距離測定機。 ７はレーザ測距装置、８は旋回角度検出器。 ９は旋回駆動機構５１０はイ゛ンタフェース回路。 １１は処理装置、１２は反射鏡。 １３はメモリ、１４は表示装置、１５は制御装置である
。 特許出願人 古河鉱業株式会社 代理人 弁理士 森 哲也 弁理士 内藤 嘉昭 弁理士 清水 正 弁理士 提出 信是 手続補正書く自発） １ 事件の表示 昭和５８年特許願第２０２２７１号 ２ 発明の名称 ベンチカソト工法におけるさく孔方式 ３ 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 古河鉱業株式会社 ４ 代理人 住所 東京都千代田区丸の内−丁目４番２号東銀ビルヂ
ング９階 ９１７区 ５ 補正の対象 な説明の欄 ６ 補正の内容 （１）明細書の第８ページ、第３行目の「小抵抗線Ｗに
沿った」を「小抵抗線Ｗの等しい」と訂正する。 （２）明細書の第１７ページ、第３行目の「メモリ１２
」を「メモリ１３」と訂正する。 （３）特許請求の範囲を別紙の通りに訂正する。 以上 特許請求の範囲 （１）処理装置と、メモリと、さく孔板と、距離測定機
とを備えるさく孔装置をベンチ上に設置し、このベンチ
上の任意の位置に第１及び第２の基準点を設け、前記距
離測定機によりこの第１及び第２の基準点と前記さく孔
装置若しくは前記さく孔板との距離をそれぞれ検出して
、この検出した距離の情報に基づき前記処理装置により
、前記ベンチにおける所定の位置を基準とした座標系に
おけるさく孔板の位置を算出し、この所定の位置と所定
の関係で表わされた前記ベンチの壁の形状についての形
状情報若しくはこのベンチの壁の形状に対応して設定さ
れる複数のさく死点のそれぞれの位置情報を含むさく孔
情報を前記メモリに記憶するか又は入力装置を介して入
力し、前記メモリに記憶され又は入力された前記形状情
報若しくはさく死点についての所定の位置情報と前記算
出した位置についての情報とに基づき、この所定のさく
孔位置に前記さく孔板を位置付けてさく孔することを特
徴とするベンチカット工法におけるさく孔方式。 （２）さく孔情報は、所定の位置を基準とした座標系に
おける各さく孔位置についての位置情報及びさく孔方位
情報とを有し、距離測定機は、第１及び第２の基準点と
前記さく孔装置若しくは前記さく孔板との距離をそれぞ
れ検出しかつ前記座標系における前記さく孔装置の方向
を検出して、処理装置により算出した位置についての情
報と前記さく孔情報の所定のさく孔位置の位置情報とに
基づき、ベンチ上に設定された所定のさく孔位置に前記
さく孔板を位置付け、前記の方位情報と前記さく孔装置
の方向についての清報とに基づき、設定されている方向
を算出して、さく孔することを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載のベンチカント工法におけるさく孔方式。
るさく孔方式の作業状態を説明するための断面図、第２
図は、その平面図、第３図は、さく孔方位の修正処理の
説明図、そして、第４図は、この発明のベンチカソト工
法におけるさく孔方式を適用した制御システムのブロッ
ク図である。 １はベンチ、２はさく孔装置、３はさく孔板。 ４はドリルロンド、５は岩壁、６は距離測定機。 ７はレーザ測距装置、８は旋回角度検出器。 ９は旋回駆動機構５１０はイ゛ンタフェース回路。 １１は処理装置、１２は反射鏡。 １３はメモリ、１４は表示装置、１５は制御装置である
。 特許出願人 古河鉱業株式会社 代理人 弁理士 森 哲也 弁理士 内藤 嘉昭 弁理士 清水 正 弁理士 提出 信是 手続補正書く自発） １ 事件の表示 昭和５８年特許願第２０２２７１号 ２ 発明の名称 ベンチカソト工法におけるさく孔方式 ３ 補正をする者 事件との関係 特許出願人 名称 古河鉱業株式会社 ４ 代理人 住所 東京都千代田区丸の内−丁目４番２号東銀ビルヂ
ング９階 ９１７区 ５ 補正の対象 な説明の欄 ６ 補正の内容 （１）明細書の第８ページ、第３行目の「小抵抗線Ｗに
沿った」を「小抵抗線Ｗの等しい」と訂正する。 （２）明細書の第１７ページ、第３行目の「メモリ１２
」を「メモリ１３」と訂正する。 （３）特許請求の範囲を別紙の通りに訂正する。 以上 特許請求の範囲 （１）処理装置と、メモリと、さく孔板と、距離測定機
とを備えるさく孔装置をベンチ上に設置し、このベンチ
上の任意の位置に第１及び第２の基準点を設け、前記距
離測定機によりこの第１及び第２の基準点と前記さく孔
装置若しくは前記さく孔板との距離をそれぞれ検出して
、この検出した距離の情報に基づき前記処理装置により
、前記ベンチにおける所定の位置を基準とした座標系に
おけるさく孔板の位置を算出し、この所定の位置と所定
の関係で表わされた前記ベンチの壁の形状についての形
状情報若しくはこのベンチの壁の形状に対応して設定さ
れる複数のさく死点のそれぞれの位置情報を含むさく孔
情報を前記メモリに記憶するか又は入力装置を介して入
力し、前記メモリに記憶され又は入力された前記形状情
報若しくはさく死点についての所定の位置情報と前記算
出した位置についての情報とに基づき、この所定のさく
孔位置に前記さく孔板を位置付けてさく孔することを特
徴とするベンチカット工法におけるさく孔方式。 （２）さく孔情報は、所定の位置を基準とした座標系に
おける各さく孔位置についての位置情報及びさく孔方位
情報とを有し、距離測定機は、第１及び第２の基準点と
前記さく孔装置若しくは前記さく孔板との距離をそれぞ
れ検出しかつ前記座標系における前記さく孔装置の方向
を検出して、処理装置により算出した位置についての情
報と前記さく孔情報の所定のさく孔位置の位置情報とに
基づき、ベンチ上に設定された所定のさく孔位置に前記
さく孔板を位置付け、前記の方位情報と前記さく孔装置
の方向についての清報とに基づき、設定されている方向
を算出して、さく孔することを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載のベンチカント工法におけるさく孔方式。
Claims (2)
- （１）処理装置と、メモリと、さく孔機と、距離測定機
とを備えるさく孔装置をベンチ上に設置し、このベンチ
上の任意の位置に第１及び第２の基準点を設け、前記距
離測定機によりこの第１及び第２の基準点と前記さく孔
装置若しくは前記さく孔機との距離をそれぞれ検出して
、この検出した距離の情報に基づき前記処理装置により
、前記ベンチにおける所定の位置を基準とした座標系に
おけるさく孔機の位置を算出し、この所定の位置と所定
の関係で表わされた前記ベンチの壁の形状についての形
状情報若しくはこの鏝ンチの壁の形状に対応して設定さ
れる複数のさく死点のそれぞれの位置情報を含むさく孔
情報を前記メモリに記憶するか又は入力装置を介して入
力し、前記メモリに記憶され又は入力された前記形状情
報若しくはさく死点についての所定の位置情報と前記算
出した位置についての情報とに基づき、この所定のさく
孔位置に前記さく孔機を位置付けてさく孔することを特
徴とするベンチカント工法におけるさく孔方式。 - （２）さく孔情報は、所定の位置を基準とした座標系に
おけ°る各さく孔位−についての位置情報及びさく方位
情報とを有し、距離測定機は、第１及び第２の基準点と
前記さく孔装置若しくは前記さく孔機との距離をそれぞ
れ検出しかつ前記座標系における前記さく孔装置の方向
を検出して、処理装置により算出した位置についての情
報と前記さく孔情報の所定のさく孔位置の位置情報とに
基づき、ベンチ上に設定された所定のさく孔位置に前記
さく孔機を位置付け、前記の方位情報と前記さく孔装置
の方向についての情報とに基づき、設定されている方向
を算出して、さく孔することを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載のベンチカント工法におけるさく孔方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20227183A JPS6095096A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | ベンチカツト工法におけるさく孔方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20227183A JPS6095096A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | ベンチカツト工法におけるさく孔方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6095096A true JPS6095096A (ja) | 1985-05-28 |
| JPH0358039B2 JPH0358039B2 (ja) | 1991-09-04 |
Family
ID=16454770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20227183A Granted JPS6095096A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | ベンチカツト工法におけるさく孔方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6095096A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2022044154A1 (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-03 | ||
| WO2022044153A1 (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-03 | ヤマモトロックマシン株式会社 | 多連式油圧ビッガー割岩装置 |
-
1983
- 1983-10-28 JP JP20227183A patent/JPS6095096A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2022044154A1 (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-03 | ||
| WO2022044154A1 (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-03 | 株式会社石本建設 | 多連式油圧ビッガー割岩工法 |
| WO2022044153A1 (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-03 | ヤマモトロックマシン株式会社 | 多連式油圧ビッガー割岩装置 |
| JPWO2022044153A1 (ja) * | 2020-08-26 | 2022-03-03 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0358039B2 (ja) | 1991-09-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |