JPS6079653A - 電子顕微鏡等の対物レンズ - Google Patents

電子顕微鏡等の対物レンズ

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JPS6079653A
JPS6079653A JP58187392A JP18739283A JPS6079653A JP S6079653 A JPS6079653 A JP S6079653A JP 58187392 A JP58187392 A JP 58187392A JP 18739283 A JP18739283 A JP 18739283A JP S6079653 A JPS6079653 A JP S6079653A
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JP
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magnetic
excitation
magnetic pole
lens
excitation coil
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JP58187392A
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Katsushige Tsuno
勝重 津野
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Jeol Ltd
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Jeol Ltd
Nihon Denshi KK
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/10Lenses
    • H01J37/14Lenses magnetic
    • H01J37/141Electromagnetic lenses

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し発明の分野1 本発明は電子顕微鏡等に用いられる対物レンズに関し、
特に3個の11極)1を右ηる夕・j物しンスに関りる
を従来技術1 晶“:1分解能電子顕微鏡を透過像観察−[−ドC使用
りれば、原子の配列に関づる像が直接観察て゛き、複7
11な1用込をイjJる結晶の椙貼解1i手段としく利
用できる。一方、高分解OL電子顕微鏡を収兎電了線回
折モード(”使用すれば、試料の点fiYを決めること
が”(ぎるのC1両観察七−1〜を付用しく構)責解析
を行なうことが広く行なわれるJ、うになつノこ、。
このような両観察モードの1)1用をイj効に行なうた
めに1よ、試料の同一微小領域につい(の透過像と収束
電子綜目177像を得な)Jればなら4jい。しかしな
がら、試料の同一微小領域についC両像をi’、I J
、うとりると、観察モードの切換に伴つC試料の1方向
位買を移動ざぜなGプればならず、この移動Mの調整は
繁71[であるばかりでなく熟練と時間を要りる。、こ
のJ、うな欠点を解決Jるため、ヨークと、該」−りに
取りイ」りられI、:第1.第2.第3の磁極ハと、該
第1.第2の磁極片間にレンズ磁界を形成りるlこめの
第1の励磁コイルと、該第1の励磁二1イルに励磁電流
を供給Jるための第1の電源と、該第1の電源から第1
の励磁コイルに供給される励磁電流の向きを切換えるた
めの切換手段と、第2.第3の磁極H間に第2のレンズ
磁界を形成4るための第2の励磁コイルと、該第2の励
磁」イルに励磁電流を供給づるための第2の電源とを具
備し、第1の励磁電源の励磁電流の向きを切換えること
により、試料の位置を移動さぼることなく、観察セード
の切換えを行すい1qる対物レンズが提案されたく特願
昭58〜/l506/I号〉。このような3・]物レし
スにおいて、試料の位置と試料ステージの位置とをでき
るだ()近(=J I)゛〔、振動の影響をできるだり
受C)ないようにするためには、第2の磁極片の先端部
の下側(第3磁極片側)偵面の位置は、ぞの(R元側の
下側積面の位置以上1側に配置せざるを151ず、更に
、回IJr像取百の際に比較的細い集東電了線を17る
ためには、第2の磁極ハの先端部の1・側頭斜面の光軸
Oに対りる傾斜角θ2は60°乃至80’rな【プれば
ならない。
従つ−で、このJ、うな2つの角加条作を同時に満りた
め、第2の磁4417’lの根元部を薄く形成りるよう
にしくいた。そのため、第2の励1ili電源を逆極f
1励磁した際には、a12の磁極片には、第′1の励磁
コイルからの磁束と、第2の励磁=1イルからのIl1
束が加韓されて流れるため、第2の(6極j′1が磁気
飽和を起してしまう1.そのため、このまま′C′(よ
第2、第3の磁極片間のレンズ磁場強1哀が切換え1)
うJ、り小さくなってしまうため、イ)2.第3の14
11Ai片間にお(Jる磁場強1σを切換え前と略同−
に保つために、該切換えに伴っζ、り(2の励磁電源の
励磁強度を大幅に変化さt!(いる。ところが、この励
磁強度を大幅に変化ざけるのにイ゛1′なっC,漏洩磁
界強度6人さく変化りるため、従来におい(は、この切
(受えの都庶、非点収差補止レンズ等の補止゛電流を調
i1F+りる必要があり、面倒Cあった。
1光明の目的」 本発明(J、このJ、うな従来の欠点をM決し、観察モ
ードを切換え(も、非点収差?ili止レンズへの供給
7R流を調節りる必要の無い電了顕徽鏡等のヌ・]物レ
しズを1lfi供りることを目的としている。。
[発明の構成] 本発明);l El−りと、該ヨークに取り付()られ
た第1.第2.第3の磁極片と、該第1.第2の磁極ハ
間にレンズ磁界を形成りるlJめの第1の励磁二1イル
ど、該第1の励磁コイルに1カ磁電流を供給りるノこめ
の第1の電源と、該第1の電源から第1の励磁コイルに
供給される励磁電流の向きを1.lJ換えるための切換
手段と、第2.第3の磁極片間に第2のレンズ磁界を形
成ザるための第2の励磁コイルと、該第2の励磁コイル
に励Il電流を供給りるlζめの第2の電源とを具備し
、第2の磁極片の先端部の第31!極ハ側頂面の位置が
根元側の第3磁極片側頂面のイ装置以上第111極片側
にあり、月つ第2の磁極ハの先(、H,:;部の第3磁
(唄側(ば1斜面か光軸に対しく (30”乃〒80°
を成!l J、うにした夕・j物しンズにJ3い(、該
第2の磁J4ハの根元部分の厚さIは該第2の磁極ノ1
の先賜if t:l1分の19さよりJ9 <されCい
るとJ(に、該第2の磁i41’+の先端側の第3磁極
J“1側には環状の四部か形成され(いることを1.1
丁徴どしている。。
[実施例] 以下、図1mに早づさ本発明の実施例を計速りる。7第
1図は本発明の一実施例を示りlこめの60〕c、図中
、1はレンズY6界を形成りるl、−(V)の磁束の通
り道となる云1−り(あり、この−1−り1にはJ−1
414うi I’+ 2 、 II’ IG磁極”+ 
3 、 ’l・Mk 4Ji fl’lが取りfJりら
ねでいる。、5は1磁(セJ4’2と中磁極ハ3間(第
11゛17ツブG1)に第1のレンズ1ifik界を形
成りるための第1の励磁」イルCあり、この第1の励磁
:1イル5には第1の励磁電源6より切換器7を介しく
励磁電流か供給される。この切換器7 i、L、第1の
励磁コイル5に供給される励rD ?li流の向きを切
換えるためのものである。8は中磁極片3ど1磁(4(
R’ 4間(第2ギ1ノツプG2)に第2のレンズ磁界
を形成Jるi=めの第2の励磁コイルであり、この励磁
:Jイル8には第2の励磁電源9J、り励磁電流か供給
される。10.11は非磁性月利で形成されたスペーサ
ーである。12はトップエン]へり一型の試別傾斜装置
であり、この試別傾斜装置にJζす、試別13は中磁極
片3と下磁極r14の間に傾斜しく配置1りきれる。試
わ1傾斜装置12は略同11]状をしてd3す、この試
別傾斜装置12を挿入づるlこめ、上中下各磁仲J−i
’2,3.”Iの穴径す、、b2゜b3の間には、IT
 1>b 2 >ll 3なる関係が成立しでいる。又
、中磁極片3と下磁極)14どのギレッノ間隔を82.
下磁極F+’ 4の頂面の径をD3゜中1A極片3の−
1・側頭斜面ど下10極1”+ 4の上側傾斜面の光軸
Oにifりる1ハ1斜角を各々θ2.θ3とづると、球
面収差係数C3及び色収差係数CCを小さくづるため、
2個の磁極片を右りる通常の電子レンズにおい(公知で
ある条イ′1を適用して、b2>82 、 b 2 >
D3且つ、50” ≦03≦70゜なる関係が成)7し
ている。更に又、回折像取得の際の比較的細い収東電r
線を1“7るIごめの条(!1℃ある (50°≦02≦80”・・・・・・・・・(条(’+
 1 >が満されるようになっている。又、振動の影テ
コ;をできるだけ押えるため、中磁4〜J133の先端
部の[・側頂面T+4よその根元側のド側伯面1−2以
上−L 11111に配置6されている(条fl 2 
)。史に従来と異41す、前記頂面1−1の近傍に【ま
1磁(〜ハ4側に環状の四部1)が形成されC83す、
前記条(’+ (−1) 、(2)を満した上0.中磁
極片3の根元部の厚さが−ぞの先端部の厚さより(−1
くなるJ、うに1′j/、成されている1゜上述した構
成の3・1物レンスに115い(、加速型11を200
 K Vに設定し、第1の電源0より第1の励磁コイル
5に1iil+磁電流を供給しη第1ギt・ツゾ01の
励磁強電を第2ギ17ツゾ02ど同極性(・()o O
A−「だ【ノ励r4&りると共に、第2の励磁電源で〕
より第2の励磁−1イル8にmlJ磁電流を供給しく、
第2ギトツプG2の励磁強電を10 K A Tからゆ
化さVtこ場合、試料を透過した電子線が結像光flを
W4 !1’ /こめの試わ]位置Zoと試オ゛3;面
十で入剣電r線が結像されるための条件を満1位置Z+
(但し、lOとZi とは、下rtt極ハ4の頂面を基
準としでいる)がどのように変化づるか電子計算機で4
算したところ、loとZiは第2図において、各々実線
o、ir示りJ、うに変化り−ることが分った。
但し、第2し1におい(、横軸は第2の励111!:]
イル8の励磁強磨(KAT)を示しており、縦軸は、Z
o又はl、の位置(+nm)である。従つ−C1この図
J:り第2の励磁コイル8を約12,100A丁に励磁
した点AC承り状態においCは′、20ど71が共に2
 、2 In nlの位置Zになることが明らかである
。従って、この励磁条イ′1のしとでは、第3図(a)
に示りように第1のギャップG1に形成される第1のレ
ンズ1−1 に平行な電子!?IEBを入用させると、
電子線に13は第1のレンズL1と第2のギャップG2
に形成される第2のレンズL2により試料13の表面に
細く絞られて入射し、試別13を透過した電子線IE 
13は、第2のギャップG2に形成される第3のレンズ
L3により、遠方の中間レンズの物面に結像りるように
され、試It 13の収束電了綜目Jli像を観察りる
ことがぐさる1、ノ)、切換器7を切換えて第1の励磁
=1イル5の励磁極性を第2の励磁コイル8の励j!j
 4@44ど逆にりると、前述した試料を透過した電子
線を結像さける条件を渦J試わ1位置loど、試別に入
射りる電r線が試料面上(′結像さける条件を嵩り位置
Zl は、り!2図にJ3いて各々+:、を線o、iで
示りょうに変化Jることが分った。この点線C示された
1キ1性から、試お113を前記7の位置に配置した状
態にa3い−(、第2の励It=lイル8をわずかに 
1oo△−1だり1八(AC示された励磁強磨から増加
さ口(、第2図に、15(プるfa Bに対応し!、:
励磁強肛(即ら略12,200A −1)にりると、前
述した結像条イ11だりが満されることが分る。この場
合には、電子線はi′)3図(b)に示りJ、うに、前
段の収束レンズ(図小μリ−)にj、り一旦絞られた後
、前記第1のレンズ11にJ、り平Li L’ −1k
にされ(試T311ご31ご人則し、試別1:3を透過
した電子線[Bは、前記第J3のレンズ1.3にJ、り
遠方の中間レンズ(図示I!す゛)の物面にi+’1像
りるようにされる。従っ(、このIja 13に対応(
1る励磁にJ3いては、試料13の透過像が1″′tら
れることが分る。次に、第1の励磁コイル5の励磁強度
を第2 (7) l1III磁コイル8の励磁極性と同
一にした状態におい(、第2の励磁コイル8の励磁強度
を変化さulc際のレンズL+ 、L2 、l−3の合
成のJJi面収X係故C3及び色収差係数CCについて
、同様に電子SI算機にJ、る51算をしたところ、前
jホした112 >82 、 b2 >D3且つ、50
°≦03≦70°なる関係があるため、レンズL!、L
2゜L3合成の球面収差係aC8及び色収差係数CGの
人ささば、各々第4図におい(実線C′s 、 COC
示1、うに、全領域において小さ’、’c 1if1で
あることが分った。第1の励磁コイル5の励rj&強度
を相2の励磁」イル8と逆極性で励磁した状態で、第2
の励磁二1イル8の励磁強度を変化させた場合にし、こ
の特t(1ど略同様となり、実用上何等問題が無いこと
が分った。
従って、第1の励磁=1イル5を第2の励磁コイル8ど
同極性で励磁し、第2の励磁型11iii’9の出力電
流を調節りることにより、第2の点Aに対応した略12
、100Aiにすれば、試料13の集束電子線回折像を
観することがCさ、切19! +Vj 7を一ノ換えC
第1の励16 二I −(ルりを第2の励IllイルB
 ト逆lit 1’1ぐ励磁し、(の状態においc 、
4ii 2の励磁二1イル8を第2図にお(]るI;’
a 13に対応しIこ略12,2(10△1で励磁づれ
ば、集束電子綜目11T像を1“1(いた試1′:11
3の微小領域とlit同 領域の)舅過像を11iるこ
とか℃゛きるが、観察上−1〜の切換えに(1′って、
第2の励磁電源の励磁電流を殆んど小幅に変化さμるだ
1すで良い。
上)ホした実施例は、本発明の一実施例に過さ゛す“、
実施にあlCつ−(は、他の態様を取り得る。例えば1
.上述した実施例にJ3い(は、試1’Aを」〕jから
挿入したが、光l1lIllCに垂直な方向から仲人J
るJ、うにしくb良い。
[効果] 上jホしたJ、うに、本発明の対物レンズにJ3い(は
、第1の励磁電源から第1の励磁コイルに供給される励
磁電流の向きを切換え(、観察し一ドを切換える際に、
第2の1ifl極ハの根元部分が厚くされ(いるlこめ
、この部分で殆lυど磁気飽和を起さず、従っ(、第2
の励磁コイル供給する励磁電流を100A T程度のわ
ずかな量だけ変化さけるだりC良いため、イ8率が略一
定に保たれるばかりでなく、非点収差補正コイルへの供
給電流をこの切換えの都度調節りる必要が無くなり、操
作を簡単にりることがぐぎる。
【図面の簡単な説明】
第1図tよ本発明の一実施例を示すための図、第2図は
試別を透過した電子線が結像りるという条件をF2り試
料の1方向位置Zo と試別に入射する電子線が試料面
−L′c結像づるという条件を渦り位*iiの変化を、
第1のコイルの2通りの励磁極性に対し′C第2の励磁
コイルの励磁強度との関連においC示づだめの図、第3
図は収束電子綜目IJi1り(を1qる際の光学図と、
透過像を得る際の光学図を示づための図、第4図は第2
の励磁コイルの励1社強磨の変化に伴なう球面収差係数
Cs、角取X−係数Ccの変化を示り−ための図Cある
。 1ニー1−り、2:上11I!i片、3:中磁極片、4
:上till極j4.5,8:励磁−1イル、6,9:
励磁電源、7:切換器、10,11:スベーリー、12
:試料傾斜装置、13;試別、l’ + 、 ’l’2
 :頂面、U:凹部。 !16 ii1出願人 口木電子株式会社 代表者 9藤 −夫 第2図 8 F 10 // /L /3 (kAT) 第4図 (KAT)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ヨークと、該ヨークに取り付ルノられた第1.第2、第
    3の磁極片と、該第1.第2の磁極片間にレンズ磁界を
    形成りるための第1の励磁コイルと、該第1の励磁コイ
    ルに励磁電流を供給するだめの第1の電源と、該第1の
    電源から第1の励磁コイルに供給される励磁電流の向き
    を切換えるための切換手段と、第2.第3のI11!i
    片間に第゛2のレンズ磁界を形成づるlζめの第2の励
    磁コイルと、該第2の励磁コイルに励磁電流を供給する
    ための第2の電源とを具備し、第2の磁極片の先端部の
    第3磁極片側頂面の位置が根元側の第3磁極ハ側迫面の
    位置以上第1磁極片側にあり、且つ第2の磁極ハの先端
    部の第3F41極側傾斜面が光軸に対して60°乃至8
    06を戊づようにした対物レンズにおい(、該第2のv
    A磁極片根元部分の厚さは該第2の磁極)−1の先端部
    分の厚さより厚くされているとノ(に、該第2の磁極J
    1の先端側のり′;J3磁極ハ側には環状の凹部が形成
    されていることを’T+徴とりる電子顕微鏡等のλ・I
    物しンス、。
JP58187392A 1983-03-17 1983-10-06 電子顕微鏡等の対物レンズ Granted JPS6079653A (ja)

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US06/584,712 US4585942A (en) 1983-03-17 1984-02-29 Transmission electron microscope

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JPH02816B2 JPH02816B2 (ja) 1990-01-09

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2644930A1 (fr) * 1989-03-21 1990-09-28 Cameca Lentille electromagnetique composite a focale variable
WO2018189850A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 電子顕微鏡

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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FR2644930A1 (fr) * 1989-03-21 1990-09-28 Cameca Lentille electromagnetique composite a focale variable
WO2018189850A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 電子顕微鏡

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