JPS6067807A - 非接触形状測定における倣い動作の制御法 - Google Patents

非接触形状測定における倣い動作の制御法

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JPS6067807A
JPS6067807A JP17422883A JP17422883A JPS6067807A JP S6067807 A JPS6067807 A JP S6067807A JP 17422883 A JP17422883 A JP 17422883A JP 17422883 A JP17422883 A JP 17422883A JP S6067807 A JPS6067807 A JP S6067807A
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勇輔 高木
Yoshio Kojima
小島 吉夫
Norihisa Miyake
徳久 三宅
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、レーザ光等を利用した非接触センサにより物
体形状を測定する装置に係り、特に、物体形状の急激な
変化に迫るいできるセンサの倣い動作の制御法に関する
〔発明の背景〕
従来、機械加工物の三次元形状の測定には、一般に、触
針法が用いられてきた。本方法は高精度を期待できる反
面で、触針子の摩耗の管理が必要なこと、測定時間が長
いこと、また、柔らかい物体には適用できないという問
題があった。
このため、近時、光学式ないし電磁気式センサを用いた
非接触測定法が開発されつつある。このような非接触測
定法での最大の開発課題は、測定物体に対し2て、セン
サをいかに駆動して測定するか、というセンサの倣い動
作の制御法である。以下、従来の代表的な物体形状の非
接触測定装置並びにセンサの倣い動作の制御法例ついて
、センサとしてレーザ光による光学式変位計を用いた場
合を例にとり説明する。
第1図は、従来例の形状測定装置の全体構成を示す。固
定具1に固定された被測定物体2の上方には、レーザを
用いた変位計3が配置され、変位計3は角度変化機構4
を介して、1 クロスヘッド5に結合されている。クロ
スヘッド5は、三次元駆動装置のアーム6と滑合され、
ガイド部7と横送りネジ8及びモータ9によって左右(
図示のX軸方向)に駆動可能となっている。また、変位
計3の上、下方向(y軸方向)の駆動は、モータ10に
結合された縦送りネジ11と、アーム12に滑合された
ギアボックス13とにより行なわれる。
さらに、変位計の2軸方向の駆動は、基台14に載置さ
れた三次元駆動機構全体を、モータ15により行なう構
造となっている。従って、変位計3は被測定物体の周り
で、Xl y+ z軸方向に移動可能であり、角度変化
機構4により、被測定物体の形状に応じて、図中の破線
で示したレーザ光線の照射角を変更できるようになって
いる。
第2図は変位計3の概略構造を示す。レーザ光は光源2
1より射出され、照射レンズ22を通って照射光軸23
上を進み、被測定物体2の表面上の点Pを照射する。P
点からの拡散反射光は、照射光軸と角度rlなす軸線2
4上に配置された集光レンズ25により集光され、受光
器26により検出される。距離測定の原理は、被測定物
体2と変位計3との距離が変化すると、受光器26の受
光面に入射する反射光の位置が変化するので、この変化
を電気的に検出することによっている。ただし、受光面
の大きさの制約等から、距離の測定可能範囲には自ずと
制限があり、第2図においてP′〜P“間(距離りはL
min≦L≦Lmax )がその範囲となる。
また、第3図ないし第5図は、変位計の照射角αの測定
可能範囲を説明したものである。ここで、照射角αは、
物体2の表面の照射点Pにおける物体の接線Sと、照射
光軸23とのなす角度で定義する。捷ず、第3図は変位
計の受光光量が最大値となる位置関係を示す。この場合
の照射角α、とγとの間に77、=90 −−Hの関係
があるので、受光器26に向かう拡散反射光の光量が最
大となっている。一方、第4図及び第5図は、照射角α
の測定可能な下限及び上限を説明したものである。
両面から、照射角度αが過小もしくは過大になった場合
は、受光光軸24の方向に向かう拡散反射光の光量が減
少するため、受光器26で光量不足となることがわかる
。以下、この照射角αの下限及び上限をそれぞれαmi
n及びαmaxと呼ぶ。
さらに、第6図は従来の演算処理機構ケ示す。
変位計3から得られた距離りに関する情報は、増巾器3
0を経て演算制御装置31に入力される。
また、x、y、z+柚力方向駆動量に関する情報は、磁
気スケール32により測定され、増11】器33を経て
演算制御装置31に入力される。さらに、角度変化機構
4のロータリーエンコータ34からの角度情報は、増巾
器35を経て演算制御装置31に入力される。これらの
情報に基づいて、演算制御装置31では被測定物体表面
の照射点Pの座標(X、Y、Z)fc演算すると共に、
その結果を表示装置36に表示する。また、引続き次の
点を測定するため、演算制御装置31内で三次元駆動機
構の駆動量及び角度変化機構の駆動角度を演算によりめ
、これをそれぞれの駆動モータに指示して、変位計3全
物体周りに倣わせる。
次に、従来例における変位計の倣い動作の制御法につい
て説明する。なお、簡単のため、物体の二次元断面の形
状をめる場合を例にとる。第7図において、被測定断面
内の二点Pl −21P t −Hの座標は既に測定済
みであり、次の点P、の座標を測定する場合を考える。
その手順を示すと次のようになる。
(a) 既測定点PI−2,P+−+に結ぶ直線の延長
上に−P1−7から基準刻み巾Δlo だけ離れた点(
図中0印)をとり、これを目標点R1とする。
世)変位計を、照射光軸が目標点R+ を通り、かつR
lの照射角が基準照射角α。、また目標点R+ との距
離が基準検出距離り。となる位置に駆動する。ここに、
αo + Loはそれぞれの測定可能範囲内の値である
(c、) この状態で測定した物体表面との距離σ+P
+により、物体表面上の測定点P、の座標全計算する。
同様にすれば、既測定点PI−1,PIにより新たな測
定点P、+1 がまる。
しかし、この方法は、次のような問題点をもっているこ
とが明らかとなった。すなわち、物体の断面形状が比較
的緩やかに変化する場合には、本方法でも問題なく測定
を継続できるが、形状が急変する場合には、測定値がま
らない場合が起きる。第8図にその一例を示す。
物体のコーナ一部にさしかかった場合、刻み巾Δto 
が大き過ぎると、照射光軸上に物体が存在しないため、
図中X印で示すように測定点がまらない。
これ分避ける一方法として、第9図に示すように、基準
刻み巾Δlo kコーナ一部の曲率に見合うように減少
することが考えられる。しかし、この場合、コーナ一部
以外の場所でも小さな刻み巾で測定するため、計測の高
速化ができない。なお、測定作業の従事者が、コーナ一
部の有無、その曲率を判定し、その都度刻み巾Δlo 
の適切な値を指示する方法も考えられる。しかし、コー
ナ一部の曲率は測定の結果として得られる値であり、本
曲率に見合う刻み巾を測定前に指示することは、現実に
は不可能である。さらに、この方法では測定の自動化が
できないという大きな問題がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、形状測定を高速、かつ、自動的に行な
い得る変位計の倣い動作の制御法全提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明の要点は、下記に示すように、物体の形状に応じ
て刻み巾を自動的に変更できるようにしたことにある。
(a) 基準刻み巾Δ1−of、形状変化の緩やかな場
合に対応させて設定する。
(b) コーナ一部等の形状急変部において、上記Δt
oで測定値がまらない場合には、測定値がまるまで刻み
巾Δt’c所定のアルゴリズムで減少させる。
(C) 形状急変部を通過した場合には、刻み巾Δtが
基準刻み巾に自動的に復旧させる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明による変位計の倣い動作の制御法を、図面
全引用して説明する。第1O図において、物体2の断面
上の点’pl−,,plの座標の測定は既に済んでいる
ものとする。本発明では、これら既測定の二点から次の
測定点PI−1−+ 請求めるにあたり、途中までは従
来例の方法を踏襲する。すなわち、先ず、低測定点P+
−+ 、 P+ ’に結ぶ近似接線四ユ石、の延長上に
、目標点aL をP + Ro =Δto となるよう
に設定する。ここに、基準刻み巾Δtoは形状変化が比
較的緩やかな場合に対してめた、比較的大きな値である
。次いで変位針?、照射光軸が目標点R8をとおり、R
(1の照射角が基準照射角α。に、また、目標点R0と
の距離が基準検出距離り。となる位置にi動する。ここ
で、LO+ α0は共に変位計の距離と角度の測定可能
範囲の上、下限値の中心値Lo −T’ (L ma 
x+Lmin) α ==4 <αmax+αm1n)
とするのが好適である。なお図示例では、α。=90°
としている。ただし、LO及びαθを常にこのように選
定する必要はすく、物体形状に見合って適宜選定するこ
とができる。
さて、この状態でレーザ光を照射しても、図中X印で示
すように測定値がまらない。そこで、次に、近似接線痛
止にP + Rr =Δt、=%1.。
(ただしに、>1)なる点R,kとり、変位計の照射光
軸がこの目標点R,k通り、ROの照射角が基準照射角
α。に、また目標点R8との距離が基準検出距離り。と
なるように変位計を駆動する。
図示例では、この状態でも測定点がまらないので、さら
にP+R+上にPIR2=ij12=’t+K。
(ただしKt>11なる新たな目標点T3−t’c求め
、上記と同様の操作で変位計を駆動し、レーザ光を照射
して距離Q 2 P +++をめ、測定点P+++の座
標をめている。
一般に、同様の操作1j−i回行なっても測定点がまら
ない場合には、接線PIRJ−1上にj回目の目標点R
1全PIRj=Δ2.−リ1誌、 Kl>Il となるように設定し、変位計を同様な方法で駆動して測
定点R十+の座標をめればよい。ここで、1(jの値け
lより大きい適切な値とし得るが、図示例では全て2と
している。この場合、Δ石、=埠となり、目標点R,は
徐々にP5点に近づくことがわかる。
上述の方法により、第10図では計3回の操作で物体上
の測定点P+++ がまった。次いで、第11図から第
14図は、同様の操作により順次測定点P1+2〜P+
+5にめる過程を示す。ここで、第12図のP′点及び
第13図のP“及びP IIt点は、照射光軸と物体と
の交点であるが、変位計との距離りが検出可能範囲の上
限Lmaxe越えるため、測定値としてまらない場合を
示している。
この場合、本発明では照射光軸が物体と交わらない場合
と同様、刻み巾減少の操作が自動的に行なわれ、測定点
がめられる。なお、物体表面の傾斜角が犬きくで、物体
の照射角αが既述の測定可能範囲αmin〜αmax内
にない場合にも、測定値がまらないため、同様の刻み巾
減少の操作が自動的に行なわれる。
本実施例によれば、第10図に示すように測定の経路に
急激なコーナ一部があっても、コーナ一部の曲率に応じ
て刻み巾が所定のアルゴリズムで減少するので、第14
図に示すようにコーナ一部を越えての計測が可能となる
。捷だ、一旦コーナ一部を通過後は、外部から特に指示
しなくても、刻み巾が基準刻み巾711t0に自動的に
復帰するので、測定を高速で行なえる。
なお、本発明では刻み巾減少の操作回数jに、上限値n
′f:設け、j≦nの場合だけ刻み巾減少の操作を繰返
えすようにしている。これは、第15図のように、コー
ナ一部で接線の傾きが不連続となっている場合、本発明
の倣い動作の制御法では、刻み巾減少の操作ケいくら続
けても端点Cを越えての測定は不可能であり、この点を
考慮して、j>nとなった場合には、本操作金自動的に
イ亭止させるようにしたものである。
上述の実施例では、非接触センサとして光学式センサ?
用い、物体の形状測定装置金側にとり説明したが、本発
明は必ずしも上記例にのみその適用が限定されるもので
はない。例えば、非接触セ−ンサとして、光学式変位計
以外にも渦電流式、ないし、静電容量式等の電磁式セン
サを適用可能である。一方、作業の内容も、形状測定装
置用以外にも、溶接、塗装ロボットの作業経路の教示用
として用いられることは論を俟だない。
〔発明の効果〕
本発明によれば被測定物体が急激なコーナ一部をもつ場
合にも、測定の刻み巾をその曲率に応じて自動的に減少
し、コーナ一部の前後では大きな刻み巾で測定できるの
で、形状測定を高速かつ自動的にできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の形状測定装置の全体構造図、第2図は変
位計の構造図、第3図ないし第5図は変位計照射角の測
定限度を示す1f12明図、第6図は演算制御装置の説
明図、第7図ないし第9図は従来の倣い動作の制御方法
の説明図、第1O図は本発明の一実施例の説明図、第1
1図ないし第15図は本発明の実施例の効果を示す説明
図である。 l・・・固定具、2・・・被測定物体、3・・・変位計
、4・・・角度変化機構、25・・・集光レンズ、26
・・・受光器、30.33.35・・・増巾器、31・
・・演算制御装置、32・・・磁気スケール、34・・
・ロータリエンコーダ、36・・・表示装置。 代理人 弁理士 高橋明夫 第 l 口 第 2 l 第 3 凶 第 4 口 第 S 口 第 6 口 第 7 図 第 8 口 第 9 囚 QJす8 第 70 図 第 // 図 第 75 国

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、物体との距離を測定する変位計と、この変位計を取
    り付けてこれを三次元的に駆動する三次元駆動機構と、
    前記変位計の取り付は角度ケ変化させる角度変化機構と
    全備え、前記変位計による距離の測定値と前記三次元駆
    動機構の駆動量及び前記変位計の取り付は角度の各情報
    により、被測定物体の形状を測定する方法において、 最新の測定点P、とその直前の測定点P。の二点の座標
    から欠の点P2の座標をめる際、低測定の二点を結ぶ近
    似的な接線の延長−ヒに、点P。 から基準刻み巾Δtoだけ離れた目標点R6を、先づ設
    定し、前記変位計の距離測定の軸線が目標点Roft通
    り、かつ前記近似接線と距離測定の軸線とのなす角度が
    基準角α。に、また目標点Ro と前記変位計との距離
    が基準検出距離り。になる位置に前記変位計を駆動し、
    物体との距離を測定して次の測定点P2の座標をめ、変
    位計により距離の測定値がまらない場合には、K+ @
    1よりヵ。いヶヮよ、ア1.jヶウ’l” ’ lr 
    −広よ減少に1 させ、前記近似接線上で点P、からΔt、離れた目標点
    R,を再設定し、前記変位計の距離測定の軸線が目標点
    R,ヲとおり、かつ、近似接線と距離測定の軸線とのな
    す角度が基準角α0に、また目標点R7と前記変位計と
    の距離が基準検出距離Loになる位置に前記変位計を駆
    動し、物体との距離全測定して次の測定点P2の座標を
    めるが、これでも距離の実測値がまらない場合は、一般
    に、K、’f51より大きな係数としてj回目の操作の
    刻み巾Δ1jk、前回の刻み巾よりも減少させてΔt、
     == ’ 41−1とし、前記近似接線上に点P1J からΔ1.だけ離れた目標点Rje設定し、この目標点
    に対して目標点R1に対すると同様の方法で前記変位計
    を駆動して、物体上の次の測定点P2の座標をめ、引続
    きP3以降の測定点の座標をめる際には、最新の測定点
    とその直前の測定点とを用いて、上述と同様の操作を行
    なうこと全特徴とする非接触形状測定における倣い動作
    の制御法。 2、特許請求の範囲第1項において、 係数に、の値を2としたことを特徴とする非接触形状測
    定における倣い動作の制御法。 3、 9許請求の範囲第1項において、基準検出距離り
    。全前記変位計の距離の検出範囲の中心値に設定したこ
    とを特徴とする非接触形状測定における倣い動作の制御
    法。 4、特許請求の範囲第1項において、 刻み中減少の操作の回数jK上限値nを設け、操作回数
    jがnを越える場合には、倣い動作を停止させること全
    特徴とする非接触形状測定における倣い動作の制御法。 5、特許請求の範囲第1項において、 基準角αok、前記変位計の角度の検出範囲の中心値に
    設定したことを特徴とする非接触形状測定における倣い
    動作の制御法。
JP17422883A 1983-09-22 1983-09-22 非接触形状測定における倣い動作の制御法 Granted JPS6067807A (ja)

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JPH0475445B2 JPH0475445B2 (ja) 1992-11-30

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01112106A (ja) * 1987-07-31 1989-04-28 Hitachi Constr Mach Co Ltd 任意形状物体の倣い制御装置
JPH01112107A (ja) * 1987-07-31 1989-04-28 Hitachi Constr Mach Co Ltd 任意形状物体の倣い制御装置
JPH03264804A (ja) * 1990-03-15 1991-11-26 Anritsu Corp 表面形状測定装置

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JPH03264804A (ja) * 1990-03-15 1991-11-26 Anritsu Corp 表面形状測定装置

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